JP2901608B2 - Ring oscillation circuit - Google Patents

Ring oscillation circuit

Info

Publication number
JP2901608B2
JP2901608B2 JP63009484A JP948488A JP2901608B2 JP 2901608 B2 JP2901608 B2 JP 2901608B2 JP 63009484 A JP63009484 A JP 63009484A JP 948488 A JP948488 A JP 948488A JP 2901608 B2 JP2901608 B2 JP 2901608B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
fet
voltage
inverter
delay circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP63009484A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH01186011A (en
Inventor
真理子 高野
隆章 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP63009484A priority Critical patent/JP2901608B2/en
Publication of JPH01186011A publication Critical patent/JPH01186011A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2901608B2 publication Critical patent/JP2901608B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 CMOS構成の電圧制御型発振器(Voltage−controlled
oscillator以下VCOと称す)の回路に関し、特にPLL(Ph
ase−Locked−Loop)回路に用いて好適なリングオシレ
ータ型の発振回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] A CMOS-structured voltage-controlled oscillator (Voltage-controlled oscillator)
Oscillator, hereinafter referred to as VCO) circuit, especially PLL (Ph
The present invention relates to a ring oscillator type oscillation circuit suitable for use in an ase-locked-loop circuit.

〔発明の概要〕[Summary of the Invention]

CMOS構成の遅延回路を正帰還ループ内に挿入したリン
グオシレータ型VCOにおいて、周波数制御に際して電源
−接地間に大電流が流れずノイズにも強い回路。前記遅
延回路の第1のFETのゲートに入力信号を、第2のFETの
ゲートに制御信号を、共通ドレインと基準電位(接地)
間にキャパシターを接続し、共通ドレインからバッファ
回路を経て出力信号を得る遅延回路を用いる。
In a ring oscillator type VCO with a CMOS delay circuit inserted in the positive feedback loop, a circuit that is resistant to noise without large current flowing between the power supply and ground during frequency control. An input signal is supplied to a gate of a first FET of the delay circuit, a control signal is supplied to a gate of a second FET, and a common drain is connected to a reference potential (ground).
A capacitor is connected therebetween, and a delay circuit that obtains an output signal from a common drain through a buffer circuit is used.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

CMOS構成のVCO回路には大別して、マルチバイブレー
タ型とリングオシレータ型とがある。第2図はマルチバ
イブレータ型の従来例で、a)は回路図、b)は状態
1、c)は状態2を示す。第2図a)の回路において、
P1、P2はPチャンネルMOS型FET、N1、N2はNチャンネル
MOS型FETを示す。A点、B点は各々のFETのソース側が
接続されている。他にキャパシターC1、インバータ1、
2、バッファアンプ3、AND回路4、NOR回路5、6等か
ら構成されており、NOR回路5及び6はラッチ回路10を
構成している。
VCO circuits having a CMOS configuration are roughly classified into a multivibrator type and a ring oscillator type. FIG. 2 shows a conventional example of a multivibrator type, in which a) shows a circuit diagram, b) shows a state 1, and c) shows a state 2. In the circuit of FIG.
P 1 and P 2 are P-channel MOS FETs, N 1 and N 2 are N-channel
This shows a MOS type FET. At points A and B, the source side of each FET is connected. Besides, capacitor C 1 , inverter 1,
2, a buffer amplifier 3, an AND circuit 4, NOR circuits 5, 6, etc. The NOR circuits 5 and 6 constitute a latch circuit 10.

ここでC点がHレベルのときD点はLレベルをとり、
P1がON状態、N1がOFF状態、P2がOFF状態、N2がON状態と
なり、B点が発振制御電源に接続される。従って、C)
図に示す状態2となってキャパシターC1の充電が開始さ
れ、B点の電圧インバータ1が反転増幅するレベルを越
えると、NOR5が反転し、C点がLになり、b)図の状態
1に移る。このように状態1と2とが入れかわる動作を
繰り返して発振が行われる。
Here, when the point C is at the H level, the point D takes the L level,
P 1 is ON, N 1 is the OFF state, P 2 is the OFF state, N 2 is turned ON, B point is connected to the oscillation control power. Therefore, C)
Is charged beginning of capacitor C 1 in the state 2 illustrated in FIG., The voltage inverter 1 at the point B exceeds the level of the inverting amplifier, NOR5 is inverted, it becomes point C in L, b) showing a state 1 Move on to Oscillation is performed by repeating the operation in which the states 1 and 2 are interchanged in this manner.

ここでキャパシターC1が所定値まで充電されないうち
にノイズなどの外乱が入ると、例えばインバータ1が反
転増幅するレベルを越えてラッチ回路10が反転して安定
してしまい、発振周期が短くなる場合がある。
Here, when the capacitor C 1 enters disturbance such as noise before it is charged to a predetermined value, would be inverted latch circuit 10 stably exceed levels that for example, an inverter 1 is inverted amplifying, if the oscillation period is shortened There is.

このように、マルチバイブレータ型はノイズに弱いと
いう欠点がある。
Thus, the multivibrator type has a drawback that it is susceptible to noise.

第3図はリングオシレータ型の従来例である。CMOS構
成のインバータを縦続的に奇数段接続して正帰還をかけ
て構成されている。それぞれのインバータは例えば第3
図点線で囲まれた301のように構成され、インバータ301
の電源電圧Vcを制御して発振周波数を制御している。
FIG. 3 shows a conventional example of a ring oscillator type. It is constructed by connecting odd-numbered stages of CMOS inverters in cascade and applying positive feedback. Each inverter is, for example, a third
The inverter 301 is configured as shown by 301 surrounded by a dotted line.
The oscillation frequency is controlled by controlling the power supply voltage Vc.

従って、発振周波数を制御する際に、インバータ各段
の電源と、接地(GND)との間に大電流が流れてしまう
欠点がある。
Therefore, when controlling the oscillation frequency, there is a disadvantage that a large current flows between the power supply of each stage of the inverter and the ground (GND).

実際には、リングオシレータ型VCOのインバータ各段
にCR時定数を設けて、少ないインバータ段数で長周期の
発振を可能とするのが通例であり、例えば特公昭59−15
212に従来技術として紹介されている(第4図)。その
例においてはエンハンスメント型MOSFETのソース・ドレ
イン間を純抵抗として用いて、キャパシターの容量と組
み合わせて時定数としている。そして前記エンハンスメ
ント型MOSFETのゲートをCMOSインバータの電源に接続
し、該電源電圧を制御して発振周波数を制御している。
一方、前記特公昭59−15212に開示された発明の要旨
は、前記CR時定数を充電時と放電時とで異ならせること
によりduty cycle50%未満の発振器を得るところにあっ
た。そのため、前記FETをデプレッション型FETに置き換
え、そのゲートをソースまたはドレインに接続する手段
を用いている(第5図)。
In practice, it is customary to provide a CR time constant for each stage of the ring oscillator type VCO inverter to enable long period oscillation with a small number of inverter stages.
212 as a prior art (FIG. 4). In that example, the time constant is used in combination with the capacitance of the capacitor, using the space between the source and drain of the enhancement type MOSFET as a pure resistance. The gate of the enhancement type MOSFET is connected to the power supply of the CMOS inverter, and the power supply voltage is controlled to control the oscillation frequency.
On the other hand, the gist of the invention disclosed in Japanese Patent Publication No. 59-15212 is to obtain an oscillator having a duty cycle of less than 50% by making the CR time constant different between charge and discharge. Therefore, the FET is replaced with a depletion-type FET, and means for connecting the gate to the source or drain is used (FIG. 5).

しかしながら、リングオシレータ型VCOの従来技術に
おいて、duty cycle50%を含めた一般的な発振器を得る
ためには、周波数可変手段はインバータ回路の電源電圧
制御に依存しており、リングオシレータ型の前記欠点は
解決されていない。
However, in the related art of the ring oscillator type VCO, in order to obtain a general oscillator including a duty cycle of 50%, the frequency variable means depends on the power supply voltage control of the inverter circuit. Not resolved.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

本発明においては、マルチバイブレータ型がノイズに
弱い欠点と、リングオシレータ型が周波数制御に際して
電源−GND間に大電流が流れる欠点とを両方とも解決す
る手段と広範囲に発振周波数を可変する手段を提供しよ
うとするものである。
In the present invention, a multivibrator type is provided with a means for solving both a disadvantage that it is susceptible to noise, and a ring oscillator type with a means for solving the disadvantage that a large current flows between a power supply and GND during frequency control, and a means for varying the oscillation frequency over a wide range. What you want to do.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

CMOS構成のリングオシレータ型VCOにおいて、遅延回
路を1個又は複数個縦続接続して正帰還ループ内に挿入
し、前記遅延回路を以下の構成とする。即ち、前記遅延
回路のCMOSを構成する第1の電界効果型トランジスタ
(FET)のゲートを入力端子とし、第2のFETのゲートに
制御信号を印加し、第1と第2のFETの共通接続された
ドレインと基準電位(第1のFETのソース)との間にキ
ャパシターを接続し、前記ドレインからしきい値を有す
る電圧増幅用バッファ回路を経て出力信号を得る構成と
する。前記しきい値を有する電圧増幅用バッファ回路は
例えばインバータ2段を縦続接続して構成する。
In a ring oscillator type VCO having a CMOS configuration, one or a plurality of delay circuits are cascaded and inserted into a positive feedback loop, and the delay circuit has the following configuration. That is, a gate of a first field-effect transistor (FET) constituting the CMOS of the delay circuit is used as an input terminal, a control signal is applied to a gate of a second FET, and a common connection between the first and second FETs is performed. A capacitor is connected between the drain and the reference potential (source of the first FET), and an output signal is obtained from the drain through a voltage amplification buffer circuit having a threshold. The voltage amplifying buffer circuit having the threshold value is formed, for example, by cascade-connecting two stages of inverters.

〔作用〕[Action]

本発明の遅延回路はCMOS構成となっているが、従来例
とは原理的に異なる動作をする。
Although the delay circuit of the present invention has a CMOS configuration, it operates in principle different from the conventional example.

即ち、従来例(特公昭59−15212)においては、CMOS
を構成する2個のFETは単にインバータ回路として動作
し、CR時定数のRとして純抵抗動作をするFETを印加し
て構成されているが、本発明においてはCMOSを構成する
2個のFETの各ゲートを入力端子とするNAND回路として
動作し、周波数可変のための制御信号が入力されるFET
は電流制御素子としても機能している。
That is, in the conventional example (Japanese Patent Publication No. 59-15212), CMOS
Are operated simply as an inverter circuit, and are configured by applying FETs that perform a pure resistance operation as R of the CR time constant. In the present invention, however, the two FETs of the CMOS FET that operates as a NAND circuit with each gate as an input terminal and receives a control signal for frequency variation
Also functions as a current control element.

その結果、前記電流制御素子によってCMOS回路に流れ
る電流を変化させても電源−基準電位(入力信号が入力
されるFETのソース電位。例えば接地)間の電圧を変化
させる必要が無く、従ってそのために電源−基準電位間
に大電流が流れることはない。
As a result, even if the current flowing through the CMOS circuit is changed by the current control element, it is not necessary to change the voltage between the power supply and the reference potential (the source potential of the FET to which the input signal is input; for example, the ground). No large current flows between the power supply and the reference potential.

また、容量の充電時間を利用して周波数制御してお
り、前記充電時間はキャパシターの容量に比例し、前記
電流制御素子によって制御される電流の大きさに反比例
する関係にあるが、充電途中でノイズが入ってもこの関
係が乱されることは少なく、出力端子との間にしきい値
を有する電圧増幅用バッファ回路が接続されて安定に所
定レベルの出力電圧が得られ、前記しきい値を有する電
圧増幅用バッファ回路はラッチなどのマルチバイブレー
タ回路を持っていないので不意に反転することはなく、
従ってノイズにも強い。さらに、しきい値を有する電圧
増幅用バッファ回路を遅延回路に配設しているので遅延
量を大きく設定でき、発振周波数の可変範囲を広くする
ことができる。
Further, the frequency is controlled using the charging time of the capacity, and the charging time is proportional to the capacity of the capacitor and inversely proportional to the magnitude of the current controlled by the current control element. This relationship is rarely disturbed by noise, and a voltage amplifying buffer circuit having a threshold is connected between the output terminal and the output terminal to stably obtain an output voltage of a predetermined level. Since the buffer circuit for voltage amplification does not have a multivibrator circuit such as a latch, it does not unexpectedly reverse.
Therefore, it is strong against noise. Further, since the voltage amplifying buffer circuit having the threshold value is provided in the delay circuit, the delay amount can be set large, and the variable range of the oscillation frequency can be widened.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は実施例で、a)は実施例の回路図、b)は遅
延回路100の細部、c)は遅延回路の細部のタイムチャ
ート、d)は遅延回路13のタイムチャートである。
FIG. 1 shows an embodiment, in which a) is a circuit diagram of the embodiment, b) is a detail of the delay circuit 100 , c) is a time chart of details of the delay circuit, and d) is a time chart of the delay circuit 13 .

第1図a)の実施例は遅延回路100がN段(Nは正の
整数。正帰還ループ内のN及び他の反転回路の段数の和
が奇数)の縦続接続された遅延回路列13と、スイッチ回
12を有するインバータ11と、帰還回路14と、スイッチ
回路入力端子(EN)15、制御信号源16、インバータ17、
発振出力端子18とを有して構成している。
In the embodiment shown in FIG. 1A), the delay circuit 100 includes N stages (N is a positive integer; the sum of N and the number of stages of the other inverting circuits in the positive feedback loop is an odd number) connected to a cascaded delay circuit array 13 . An inverter 11 having a switch circuit 12 , a feedback circuit 14, a switch circuit input terminal (EN) 15, a control signal source 16, an inverter 17,
An oscillation output terminal 18 is provided.

スイッチ回路入力端子(EN)15がハイレベル(H)の
とき、スイッチ回路12は電源とインバータ11の出力端子
の間に接続されたPチャンネルトランジスタはTr1がOFF
状態、インバータ11のNチャンネルトランジスタTr4
ソースと接地間に接続されたNチャンネルトランジスタ
Tr2はON状態となり、インバータ11の共通ドレイン20の
電圧はインバータ17で反転増幅されて発振出力端子18へ
出力される。
When the switch circuit input terminal (EN) 15 is at a high level (H), the switch circuit 12 is a P-channel transistor connected between the power supply and the output terminal of the inverter 11 and Tr 1 is OFF.
State, N = channel transistor having a source of N-channel transistor Tr 4 is connected between the ground of the inverter 11
Tr 2 is turned on, and the voltage of the common drain 20 of the inverter 11 is inverted and amplified by the inverter 17 and output to the oscillation output terminal 18.

一方、インバータ11の共通ドレイン20の電圧は帰還回
路14を経て遅延回路列13に入力され、前記遅延回路列13
はNAND構成の遅延回路N段から成り、インバータ11、帰
還回路14と合わせて奇数段の反転回路を含む帰還ループ
となるため正帰還となって発振回路となる。各段の遅延
回路は各々制御信号源16からの制御信号(制御電圧)に
よって制御して、発振周波数を制御することが出来る。
On the other hand, the voltage of the common drain 20 of the inverter 11 is input to the delay circuit array 13 through a feedback circuit 14, the delay circuit array 13
Is composed of N stages of delay circuits having a NAND configuration, and forms a feedback loop including an odd number of stages of inverting circuits in combination with the inverter 11 and the feedback circuit 14, so that it becomes a positive feedback and becomes an oscillation circuit. The delay circuits at each stage can be controlled by a control signal (control voltage) from the control signal source 16 to control the oscillation frequency.

次に、遅延回路100の詳細を第1図b)に基づいて述
べる。今、第1の基準電位として正の電源電圧VDD、第
2の基準電位として接地VSSを選び、第1及び第2の基
準電位間に相補接続された2個のFETは、前記の基準電
位の選択にともない、第1のFET(FET1)はNチャンネ
ル型、第2のFET(FET2)はPチャンネル型に選ばれる
と共にそれぞれのドレインは相補接続Dされ、FET1のソ
ースS1はVSSに、FET2のソースS2はVDDにそれぞれ接続さ
れている。FET1のゲートG1は遅延回路入力端子として用
いられ、FET2のゲートG2は制御信号源からの制御信号
(制御電圧)入力端子として用いられる。
Next, details of the delay circuit 100 will be described based on FIG. Now, a positive power supply voltage V DD is selected as a first reference potential, and a ground V SS is selected as a second reference potential. Two FETs complementary connected between the first and second reference potentials are connected to the aforementioned reference potential. with the selection of the potential, the first FET (FET1) is N-channel type, the second FET (FET2) are each drain with chosen P-channel type is a complementary connected D, source S 1 of the FET1 is V SS the source S 2 of FET2 are connected to V DD. The gate G 1 of the FET1 is used as a delay circuit input terminal, a gate G 2 of FET2 is used as a control signal (control voltage) input from the control signal source.

前記ドレインDから第2の基準電位(接地)との間に
キャパシター4が接続され、別に前記ドレインDから例
えばインバータ2段で構成したバッファ回路101に接続
され、該回路101の出力端子を遅延回路の出力端子Qと
している。前記キャパシター4は例えばMIS(Metal−In
sulator−Semiconductor)型キャパシターを用いて構成
する事も出来る。
The drain D capacitor 4 between the second reference potential (ground) is connected from being connected to the buffer circuit 101 constituted separately by the drain D of, for example two stages of inverters, the delay circuit output terminal of the circuit 101 Output terminal Q. The capacitor 4 is, for example, an MIS (Metal-In
(sulator-semiconductor) type capacitor.

前記遅延回路の動作説明を行う。まず、FET1とFET2と
はNAND回路として動作しており、遅延回路入力電圧VIN
がハイレベル(H)、制御信号電圧Vcがハイレベル
(H)のとき、FET1はON状態でドレインDの電圧dout
ローレベル(L)となっている。ここでFET2を電流制御
素子としても機能させるため前記Vcは常時Hレベルの範
囲内の電圧となっており、前記NAND回路の出力電圧dout
がHレベルであるかLレベルであるかは前記VINがHレ
ベルであるかLレベルであるかによって制御される。第
1図c)の遅延回路タイムチャートにおいて、VINがH
レベルからLレベルに移ると、FET1がOFF状態に向か
い、Dの電圧上昇とともにキャパシター4が充電され、
バッファ回路101のしきい値電圧を越えると、出力端子
Qの電圧がHレベルに達する。正帰還によりVINは再び
Hレベルになり、以上の動作を繰り返す。
The operation of the delay circuit will be described. First, FET1 and FET2 operate as a NAND circuit, and the delay circuit input voltage V IN
Is high level (H) and the control signal voltage Vc is high level (H), the FET 1 is ON and the voltage d out of the drain D is low level (L). Here, in order to make the FET 2 also function as a current control element, the Vc is always a voltage within the range of the H level, and the output voltage d out of the NAND circuit is used.
Is high or low is controlled by whether the VIN is high or low. In the delay circuit time chart of FIG. 1 c), V IN is H
When the level shifts from the L level to the L level, the FET 1 goes to the OFF state, and the capacitor 4 is charged as the voltage of D rises,
When the voltage exceeds the threshold voltage of the buffer circuit 101, the voltage of the output terminal Q reaches the H level. V IN goes high again due to positive feedback, and the above operation is repeated.

ここで前記遅延回路の遅延時間制御の動作について述
べる。前記doutの電位Vは、初期時間t=0ではV≒0
であり、電荷q=CV(Cは静電容量)の関係があるの
で、 である。
Here, the operation of the delay time control of the delay circuit will be described. The potential V of the d out is V ≒ 0 at the initial time t = 0.
Since there is a relationship of electric charge q = CV (C is capacitance), It is.

論理動作上のしきい値電圧をVDD/2とすると、 となるτがこの遅延回路の遅延時間である。(バッファ
回路の遅延時間をここでは無視している)。
If the threshold voltage for logical operation is V DD / 2, Is the delay time of this delay circuit. (The delay time of the buffer circuit is ignored here).

上式を書きかえると、 但し、電流制御素子としてのFET2に着目して次式を代入
した。
Rewriting the above formula, However, focusing on FET2 as a current control element, the following equation was substituted.

ここでVGSが制御可能なため、周波数が可変となる。
この結果、従来例に示したようなインバータの電源電圧
を制御して周波数を変化させるタイプのVCOにあった欠
点は解消され、さらに周波数可変範囲も広くすることが
出来る。
Here, since VGS can be controlled, the frequency is variable.
As a result, the drawbacks of the VCO of the type in which the frequency is changed by controlling the power supply voltage of the inverter as shown in the conventional example are eliminated, and the frequency variable range can be widened.

なお、発振周波数は遅延回路のFET2の電流の他に、遅
延回路の段数とキャパシター4の容量値Cによって決ま
る。この回路の構成がシンプルでフレキシブルであるた
め、色々な周波数範囲をもつVCOを容易に得ることが出
来る。しかも、この回路は作用の項で述べたように耐ノ
イズ性にも優れている。
The oscillation frequency is determined by the number of stages of the delay circuit and the capacitance C of the capacitor 4 in addition to the current of the FET 2 of the delay circuit. Since the configuration of this circuit is simple and flexible, VCOs having various frequency ranges can be easily obtained. In addition, this circuit is excellent in noise resistance as described in the section of operation.

なお、本実施例において、スイッチ回路12をインバー
11を設けて接続したが、前記スイッチ回路12は遅延回
100の1つに直接接続(遅延回路を奇数段に)しても
よい。
In the present embodiment, the switch circuit 12 is connected by providing the inverter 11 ; however, the switch circuit 12 may be directly connected to one of the delay circuits 100 (the delay circuit is an odd number of stages).

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明の実施により、周波数制御に際して遅延回路の
電源電圧を操作しないので、第1及び第2の基準電位間
(例えば電源−接地間)に設けたCMOS構成の遅延回路に
大電流が流れず、時定数を規制する正帰還ループ内にマ
ルチバイブレータ回路などを含まないので、ノイズによ
る妨害にも強いリング発振回路が得られる。該回路は周
波数可変範囲も広く、さらに回路構成がシンプルでフレ
キシブルであるため、多様な周波数範囲をもつVCOを容
易に得ることが出来る。従って、特に集積回路に用いた
場合に発熱防止と設計の自由度大、誤動作防止の点で実
施効果が極めて大きく、PLL(Phase−locked loop)回
路等の設計を容易にすることが出来る。
According to the embodiment of the present invention, the power supply voltage of the delay circuit is not operated during the frequency control. Therefore, a large current does not flow through the CMOS delay circuit provided between the first and second reference potentials (for example, between the power supply and the ground). Since the multi-vibrator circuit or the like is not included in the positive feedback loop that regulates the time constant, a ring oscillation circuit that is resistant to interference by noise can be obtained. Since the circuit has a wide frequency variable range and a simple and flexible circuit configuration, VCOs having various frequency ranges can be easily obtained. Therefore, particularly when used for an integrated circuit, the effect of preventing heat generation, increasing the degree of freedom in design, and preventing malfunction is extremely large, and the design of a PLL (Phase-locked loop) circuit or the like can be facilitated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は実施例で、第1図a)は実施例の回路図、第1
図b)は遅延回路100の細部、第1図c)は遅延回路100
の細部のタイムチャート、第1図d)は遅延回路列13
タイムチャートである。 第2図は従来例(1)マルチバイブレータ型VCO型で、
第2図a)は回路図、第2図b)は状態1、第2図c)
は状態2を示す。 第3図は従来例(2)リングオシレータ型VCO回路であ
る。 第4図は特公昭59−15212に従来例として紹介されたVCO
回路、第5図は特公昭59−15212の実施例である。11 ……インバータ12 ……スイッチ回路13 ……遅延回路列 14……帰還回路100 ……遅延回路101 ……バッファ回路
FIG. 1 is an embodiment, and FIG. 1 a) is a circuit diagram of the embodiment.
Figure b) is the details of the delay circuit 100, FIG. 1 c) a delay circuit 100
1 (d) is a time chart of the delay circuit array 13 . Figure 2 shows a conventional example (1) of a multivibrator type VCO type.
2a) is a circuit diagram, FIG. 2b) is state 1, FIG. 2c).
Indicates state 2. FIG. 3 shows a prior art (2) ring oscillator type VCO circuit. Fig. 4 shows a VCO introduced as a conventional example in JP-B-59-15212.
FIG. 5 shows an embodiment of the circuit shown in FIG. 11 … Inverter 12 … Switch circuit 13 … Delay circuit row 14… Feedback circuit 100 … Delay circuit 101 … Buffer circuit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】CMOS構成の遅延回路を複数個縦続接続して
正帰還ループ内に挿入して成るリング発振回路におい
て、前記複数個の遅延回路の夫々は、第1及び第2の基
準電位間に相補接続された第1及び第2の電界効果トラ
ンジスタ(FET)の前記第1のFETのゲートを入力端子と
し、前記第2のFETのゲートに制御信号を印加し、前記
第1と第2のFETの共通接続されたドレインと前記第1
のFETのソース側に接続された前記基準電位との間にキ
ャパシターを接続し、前記ドレインと出力端子間にしき
い値を有する電圧増幅用バッファ回路が接続されてお
り、前記第2のFETのゲートに前記制御信号を印加し、
該FETの出力電流を制御することにより、発振周波数を
可変させることを特徴とするリング発振回路。
1. A ring oscillation circuit comprising a plurality of CMOS-structured delay circuits connected in cascade and inserted into a positive feedback loop, wherein each of the plurality of delay circuits is connected between a first reference potential and a second reference potential. A gate of the first FET of the first and second field-effect transistors (FETs) complementarily connected to each other is used as an input terminal, a control signal is applied to a gate of the second FET, and the first and second FETs are connected. Connected to the common drain of the FET and the first
A capacitor is connected between the reference potential connected to the source side of the FET, a voltage amplification buffer circuit having a threshold value is connected between the drain and an output terminal, and a gate of the second FET is connected Apply the control signal to
A ring oscillation circuit, wherein an oscillation frequency is varied by controlling an output current of the FET.
JP63009484A 1988-01-21 1988-01-21 Ring oscillation circuit Expired - Fee Related JP2901608B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63009484A JP2901608B2 (en) 1988-01-21 1988-01-21 Ring oscillation circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63009484A JP2901608B2 (en) 1988-01-21 1988-01-21 Ring oscillation circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01186011A JPH01186011A (en) 1989-07-25
JP2901608B2 true JP2901608B2 (en) 1999-06-07

Family

ID=11721515

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63009484A Expired - Fee Related JP2901608B2 (en) 1988-01-21 1988-01-21 Ring oscillation circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2901608B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2953821B2 (en) * 1991-06-24 1999-09-27 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 Ring oscillator circuit
KR100422447B1 (en) * 2001-10-09 2004-03-11 삼성전자주식회사 signal converting system having level converter for use in high speed semiconductor device and method therefore

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5357730A (en) * 1976-11-04 1978-05-25 Fujitsu Ltd Voltage-control-type oscillation circuit
JPS601033U (en) * 1984-05-16 1985-01-07 富士通株式会社 Voltage controlled oscillator circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01186011A (en) 1989-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6075402A (en) Positive charge pump
US4236199A (en) Regulated high voltage power supply
GB2214017A (en) Ring oscillator
JPH11177398A (en) Delay circuit
JP2748950B2 (en) Power-on reset circuit
KR0162929B1 (en) Digital signal processing delay circuit
JPH06153493A (en) Charge pump circuit
EP0361529B1 (en) Voltage controlled oscillator
JPH0159772B2 (en)
US5545941A (en) Crystal oscillator circuit
US20210281172A1 (en) Charge pump circuit configured for positive and negative voltage generation
JPS5997220A (en) Voltage comparing circuit
JP2901608B2 (en) Ring oscillation circuit
JPH06216733A (en) Driver circuit of electronic switch
JPS59178014A (en) Oscillation circuit
US6147541A (en) Monolithic MOS-SC circuit
KR20030072527A (en) Generator of dc-dc converter
JPH07202646A (en) Voltage controlled oscillation circuit
JPH0427729B2 (en)
US4783620A (en) Constant voltage circuit having an operation-stop function
JPS63260316A (en) Oscillation circuit
JPH05268002A (en) Voltage controlled oscillator
US6515537B2 (en) Integrated circuit current source with switched capacitor feedback
JP2784262B2 (en) Voltage comparator
JP3354708B2 (en) Semiconductor booster circuit

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees