JP2894758B2 - Semiconductor mask data conversion processor - Google Patents

Semiconductor mask data conversion processor

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JP2894758B2 JP34098489A JP34098489A JP2894758B2 JP 2894758 B2 JP2894758 B2 JP 2894758B2 JP 34098489 A JP34098489 A JP 34098489A JP 34098489 A JP34098489 A JP 34098489A JP 2894758 B2 JP2894758 B2 JP 2894758B2
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  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 半導体のマスクデータ変換処理装置に関し、 マスクデータ変換処理の効率を高めて処理時間を短縮
でき、かつ経済的な半導体のマスクデータ変換処理装置
を提供することを目的とし、 LSIのパターンデータに対応するCAD装置のフォーマッ
トをCPUを用いて実デバイスのマスクデータに変換する
半導体のマスクデータ変換処理装置において、前記CPU
を、マスクデータ変換処理の制御を行う制御CPUと、マ
スクデータ変換処理に必要な演算処理を行う演算CPUと
に区分して構成し、該演算CPUは、処理データを直接授
受する最高次メモリおよび該最高次メモリとの間でデー
タの授受を行う2次メモリを含んで図形処理プロセッサ
を構成し、該図形処理プロセッサは、前記制御CPUによ
り並列制御が可能であるとともに、全ての図形処理プロ
セッサから参照・更新可能な3次メモリを設け、該3次
メモリは、マスクデータ変換処理で必用な図形データを
線分情報に展開した形で全て収容可能な容量を持ち、前
記最高次メモリ、2次メモリおよび3次メモリを図形デ
ータメモリとして階層化し、各図形処理プロセッサ上の
2次メモリは、少なくとも実デバイスのマスクデータの
うちのフィールド領域分のデータを格納可能であるよう
に構成する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary] The present invention relates to a semiconductor mask data conversion processing device, which is capable of increasing the efficiency of mask data conversion processing and shortening the processing time, and providing an economical semiconductor mask data conversion processing device. In a semiconductor mask data conversion processing device for converting a format of a CAD device corresponding to LSI pattern data into mask data of a real device using a CPU,
Is divided into a control CPU that controls the mask data conversion process and a calculation CPU that performs the calculation process required for the mask data conversion process. A graphic processor is configured to include a secondary memory for exchanging data with the highest-order memory, and the graphic processor can be controlled in parallel by the control CPU. A tertiary memory that can be referred to and updated is provided, and the tertiary memory has a capacity capable of accommodating all of graphic data necessary for mask data conversion processing in the form of expanded line segment information. The memory and the tertiary memory are hierarchized as graphic data memories, and the secondary memory on each graphic processor has at least the field area of the mask data of the real device. Configured to be capable of storing over data.

また、前記3次メモリは、少なくとも実デバイスのマ
スクデータのうちのマスク層1層分の作成に必用なデー
タを格納可能であるように構成し、前記2次メモリおよ
び3次メモリ間は、フィールド領域単位で図形情報を転
送するように構成する。
Further, the tertiary memory is configured to be able to store at least data necessary for creating one mask layer of the mask data of the real device, and a field between the secondary memory and the tertiary memory is provided. It is configured to transfer graphic information in units of areas.

〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体のマスクデータ変換処理装置に係わ
り、詳しくは、半導体パターン形成の初期工程であるマ
スクパターン形成における図形フォーマット変換処理や
プリントパターン形成工程における図形処理を行うマス
クデータ変換処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor mask data conversion processing apparatus, and more particularly, to a graphic format conversion processing in a mask pattern formation as an initial step of a semiconductor pattern formation and a graphic processing in a print pattern formation step. The present invention relates to a mask data conversion processing device.

半導体装置のレイアウト設計(Layout design)はLSI
設計の中で最も重要な設計工程であり、LSIマスクのパ
ターンを設計する作業である。これは、論理設計により
得られた接続情報と回路設計により準備された論理セル
ライブラリを用いて、論理ゲートの配置・配線を行って
いくもので、製造条件による制約(デザインルール)に
従いながらチップ面積を可能な限り小さくすることが要
求され、LSIの性能の死命を制する作業であるともいわ
れている。そして、レイアウト設計完了後のデータは、
マスクパターンとして製造工程に渡されるが、このと
き、半導体のパターン作成においてパターン設計データ
を作るときに用いたCAD装置のフォーマットを実デバイ
スパターンにするために必要な製造データや検証データ
フォーマット(例えば、MEBES,KLSRIS)に変換する必要
がある。
Semiconductor device layout design is LSI
This is the most important design step in the design, and is the work of designing LSI mask patterns. In this method, logic gates are arranged and wired using connection information obtained by logic design and a logic cell library prepared by circuit design. Is required to be as small as possible, and it is said that this is a work to control the life of LSI performance. And after the layout design is completed,
It is passed to the manufacturing process as a mask pattern. At this time, the manufacturing data and verification data format (for example, MEBES, KLSRIS).

近年、本フォーマット変換処理に要する時間はICパタ
ーンの規模の増大と共に多大になりつつあり、本処理時
間を短縮する必要が急務となっている。
In recent years, the time required for the format conversion processing has been increasing along with the increase in the scale of the IC pattern, and there is an urgent need to reduce the processing time.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の半導体のマスクデータ変換処理装置では、LSI
のパターンデータに対応するCAD装置のフォーマットを
1つのCPUを用いてデータの授受の作業と変換作業を行
っている。したがって、データの授受にとって重要な高
速データチャネルの機能とデータ変換作業にとって重要
な高速の演算性の2つを同時に1つのCPUで所有してい
る。
Conventional mask data conversion processing equipment for semiconductors uses LSI
The data exchange work and the conversion work are performed using one CPU for the format of the CAD device corresponding to the pattern data. Accordingly, one CPU simultaneously has two functions of a high-speed data channel, which is important for data transfer, and high-speed arithmetic, which is important for data conversion.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、このような従来の半導体のマスクデー
タ変換処理装置にあっては、1つのCPUで高速データチ
ャネル機能(制御機能)と高速の演算性の機能(演算機
能)とを所有しなくてはならない構成であったため、使
用するCPUの能力に制約されてマスクデータ変換処理の
効率が悪く、処理時間が長いという問題点があった。
However, in such a conventional semiconductor mask data conversion processing apparatus, one CPU must have a high-speed data channel function (control function) and a high-speed operation function (operation function). Because of the configuration, there is a problem that the efficiency of the mask data conversion processing is low due to the limitation of the capacity of the CPU to be used, and the processing time is long.

また、マスクデータ変換処理用の制御機能と演算機能
の双方を備えた専用のCPUを必要とすることから、経済
的でないという欠点があった。
Further, since a dedicated CPU having both a control function and an arithmetic function for mask data conversion processing is required, there is a disadvantage that it is not economical.

一方、上記不具合に対して、他のデータ処理装置で
は、例えば並列プロセッサの使用やメモリの階層化とい
うことも行われているが、これは半導体のマスクデータ
変換処理装置とは全く別の分野のことである。したがっ
て、メモリ階層毎のメモリ容量がマスクデータ変換処理
を意識せずに定まっていたり、並列プロセッサの使用に
おいても製造データフォーマットや検証データフォーマ
ットに必ず存在するフィールドという概念が無く、制御
の効率が悪く、並列度を上げることはできず、結局、上
述の問題点を解決するには至っていない。
On the other hand, in response to the above-mentioned problem, other data processing devices, for example, use of a parallel processor and memory hierarchies are performed. However, this is in a completely different field from a semiconductor mask data conversion processing device. That is. Therefore, the memory capacity for each memory hierarchy is determined without being aware of the mask data conversion processing, and even when a parallel processor is used, there is no concept of a field that always exists in the manufacturing data format or the verification data format, and control efficiency is poor. However, the degree of parallelism cannot be increased, and as a result, the above problems have not been solved.

具体的には、高次のメモリに現在処理しようとする以
外のデータも取り込まれてしまい、メモリの使用効率を
低下させる原因となる。このため、低次から高次へのデ
ータ転送頻度が高くなり、データ処理時間を膨大なもの
としてしまう。したがって、フィールド毎の処理を無駄
なく、かつ並列に実行することは不可能である。
Specifically, data other than the data currently being processed is also taken into the higher-order memory, which causes a reduction in the memory use efficiency. For this reason, the frequency of data transfer from the low order to the high order increases, and the data processing time becomes enormous. Therefore, it is impossible to execute the process for each field without waste and in parallel.

そこで本発明は、マスクデータ変換処理の効率を高め
て処理時間を短縮でき、かつ経済的な半導体のマスクデ
ータ変換処理装置を提供することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an economical semiconductor mask data conversion processing apparatus that can increase the efficiency of mask data conversion processing and reduce the processing time, and is economical.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

請求項1記載の発明による半導体のマスクデータ変換
処理装置は、上記目的達成のため、LSIのパターンデー
タに対応するCAD装置のフォーマットをCPUを用いて実デ
バイスのマスクデータに変換する半導体のマスクデータ
変換処理装置において、前記CPUを、マスクデータ変換
処理の制御を行う制御CPUと、マスクデータ変換処理に
必要な演算処理を行う演算CPUとに区分して構成し、該
演算CPUは、処理データを直接授受する最高次メモリお
よび該最高次メモリとの間でデータの授受を行う2次メ
モリを含んで図形処理プロセッサを構成し、該図形処理
プロセッサは、前記制御CPUにより並列制御が可能であ
ることともに、全ての図形処理プロセッサから参照・更
新可能な3次メモリを設け、該3次メモリは、マスクデ
ータ変換処理で必要な図形データを線分情報に展開した
形で全て収容可能な容量を持ち、前記最高次メモリ、2
次メモリおよび3次メモリを図形データメモリとして階
層化し、各図形処理プロセッサ上の2次メモリは、少な
くとも実デバイスのマスクデータのうちのフィールド領
域分のデータを格納可能であるように構成している。
According to the present invention, there is provided a semiconductor mask data conversion processing apparatus for converting a format of a CAD apparatus corresponding to LSI pattern data into mask data of an actual device using a CPU to achieve the above object. In the conversion processing device, the CPU is divided into a control CPU for controlling mask data conversion processing and a calculation CPU for performing calculation processing required for mask data conversion processing. A graphic processor is configured to include a highest-order memory that directly exchanges data and a secondary memory that exchanges data with the highest-order memory, and the graphic processor can be controlled in parallel by the control CPU. In both cases, a tertiary memory that can be referenced and updated from all graphic processors is provided, and the tertiary memory stores graphic data necessary for mask data conversion processing. Has all capable of accommodating capacity in the form of expanded into partial information, the highest order memory, 2
The secondary memory and the tertiary memory are hierarchized as graphic data memories, and the secondary memory on each graphic processor is configured to be able to store at least data corresponding to the field area of the mask data of the real device. .

また、請求項2記載の発明では、請求項1記載のマス
クデータ変換処理装置において、前記3次メモリは、少
なくとも実デバイスのマスクデータのうちのマスク層1
層分の作成に必要なデータを格納可能であるように構成
している。
According to a second aspect of the present invention, in the mask data conversion processing apparatus according to the first aspect, the tertiary memory includes at least a mask layer 1 of mask data of a real device.
It is configured to be able to store the data required to create the layers.

請求項3記載の発明では、LSIのパターンデータに対
応するCAD装置のフォーマットをCPUを用いて実デバイス
のマスクデータに変換する半導体のマスクデータ変換処
理装置において、前記CPUを、マスクデータ変換処理の
制御を行う制御CPUと、マスクデータ変換処理に必要な
演算処理を行う演算CPUとに区分して構成し、該演算CPU
は、処理データを直接授受する最高次メモリおよび該最
高次メモリとの間でデータの授受を行う2次メモリを含
んで図形処理プロセッサを構成し、該図形処理プロセッ
サは、前記制御CPUにより並列制御が可能であるととも
に、全ての図形処理プロセッサから参照・更新可能な3
次メモリを設け、該3次メモリは、マスクデータ変換処
理で必要な図形データを線分情報に展開した形で全て収
容可能な容量を持ち、前記最高次メモリ、2次メモリお
よび3次メモリを図形データメモリとして階層化し、前
記2次メモリおよび3次メモリ間は、フィールド領域単
位で図形情報を転送するように構成している。
According to a third aspect of the present invention, in a semiconductor mask data conversion processing apparatus for converting a format of a CAD device corresponding to LSI pattern data into mask data of a real device using a CPU, The control CPU is configured to be divided into a control CPU that performs control and a calculation CPU that performs calculation processing required for mask data conversion processing.
Constitutes a graphic processor including a highest-order memory for directly transmitting and receiving processing data and a secondary memory for transmitting and receiving data to and from the highest-order memory, wherein the graphic processor is controlled in parallel by the control CPU. That can be referenced and updated from all graphic processors.
A secondary memory, and the tertiary memory has a capacity capable of accommodating all the graphic data required for the mask data conversion process in the form of expanded line segment information. It is hierarchized as a graphic data memory, and is configured to transfer graphic information between the secondary memory and the tertiary memory on a field area basis.

〔作用〕[Action]

請求項1記載の発明では、最高次メモリ、2次メモリ
および3次メモリが図形データメモリとして階層化さ
れ、1つの制御CPUにより演算CPUを含む各図形処理プロ
セッサが並列制御されるとともに、少なくとも実デバイ
スのマスクデータのうちのフィールド領域分のデータを
単位としてデータが格納され、マスクデータ変換処理が
行われる。
According to the first aspect of the present invention, the highest-order memory, the secondary memory, and the tertiary memory are hierarchized as a graphic data memory, and each graphic processor including an arithmetic CPU is controlled in parallel by one control CPU. Data is stored in units of data for the field area of the mask data of the device, and a mask data conversion process is performed.

したがって、制御と演算の2つの機能が区分され、し
かも演算が並列処理されるこでデータ変換処理の効率が
高まり、またフィールドという概念が取り入れられるこ
とで、データ処理時間も短縮する。
Therefore, the two functions of control and operation are divided, and the operation is performed in parallel, so that the efficiency of the data conversion process is increased, and the concept of a field is adopted, so that the data processing time is shortened.

また、請求項2記載の発明では、上記請求項1の構成
に加え、3次メモリにマスク層1層分の作成に必要なデ
ータが格納される。
According to the second aspect of the present invention, in addition to the configuration of the first aspect, data necessary for creating one mask layer is stored in the tertiary memory.

さらに、請求項3記載の発明では、2次メモリおよび
3次メモリ間でフィールド領域を単位として図形情報の
転送が行われる。
Further, in the third aspect of the invention, graphic information is transferred between the secondary memory and the tertiary memory in units of a field area.

したがって、上記同様にフィールドという概念が取り
入れられてデータが扱われ、データ処理時間が短縮す
る。
Therefore, data is handled by adopting the concept of a field as described above, and the data processing time is reduced.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings.

第1〜3図は請求項1〜3記載の発明に係る半導体の
マスクデータ変換処理装置の一実施例を示す図である。
FIGS. 1 to 3 show one embodiment of a semiconductor mask data conversion processing apparatus according to the first to third aspects of the present invention.

まず、構成を説明する。第1図は本装置のハード的全
体構成を示す図であり、この図において、マスクデータ
変換処理装置は制御CPU1、キーボード2、マウス3、フ
レームバッファ4、CRT5、ディスクインターフェース
6、ディスク7、CMT8、MTインターフェース9、磁気テ
ープ(MT)10、図形処理プロセッサ11、大容量メモリ1
2、画像メモリ13、CRT14、システムバス15およびローカ
ルバス16により構成される。
First, the configuration will be described. FIG. 1 is a diagram showing the overall hardware configuration of this apparatus. In this figure, a mask data conversion processing apparatus includes a control CPU 1, a keyboard 2, a mouse 3, a frame buffer 4, a CRT 5, a disk interface 6, a disk 7, a CMT 8 , MT interface 9, magnetic tape (MT) 10, graphic processor 11, large-capacity memory 1
2. It comprises an image memory 13, a CRT 14, a system bus 15 and a local bus 16.

制御CPU1はマスクデータ変換処理の制御を行うもの
で、1つ設けられ、複数の図形処理プロセッサ11を並列
作動させるべく必要な処理を行い、このときキーボード
2およびマウス3を介してオペレータからの指令が制御
CPU1に取り込まれる。また、制御CPU1の処理内容はフレ
ームバッファ4を含む画像回路で画像化され、CRT5によ
り外部に表示される。
The control CPU 1 controls a mask data conversion process. One control CPU 1 performs a process necessary for operating a plurality of graphic processors 11 in parallel. At this time, a command from an operator via the keyboard 2 and the mouse 3 is issued. Is controlled
Captured by CPU1. The processing contents of the control CPU 1 are imaged by an image circuit including the frame buffer 4 and displayed externally by the CRT 5.

ディスク7は、例えばハードディスクによって構成さ
れ、制御CPU1の処理に必要なデータを記憶し、SCSI規格
のディスクインターフェース6を介して制御CPU1との間
でデータの授受を行い、CMT8は複数のカセットMTを有し
ている。また、ディスク7よりさらに大容量のデータは
MTインターフェース9を介して磁気テープ10との間で授
受される。
The disk 7 is composed of, for example, a hard disk, stores data necessary for processing of the control CPU 1, transmits and receives data to and from the control CPU 1 via a disk interface 6 of the SCSI standard, and the CMT 8 stores a plurality of cassettes MT. Have. Also, data with a larger capacity than disk 7
It is exchanged with the magnetic tape 10 via the MT interface 9.

図形処理プロセッサ11は第2図に示すように、演算CP
U21、キャシュメモリ22およびデータメモリ23によって
構成され、全体として8個設けられている。演算CPU21
はマスクデータ変換処理に必要な演算処理を行い、この
とき必要なデータはキャシュメモリ22から取り込むとと
もにキャシュメモリ22に無いときはデータメモリ23から
アクセスする。キャシュメモリ22は最高次メモリに相当
し、128KB程度のものが用いられる。データメモリ23は
2次メモリに相当し、16MB程度のものが用いられる。
As shown in FIG. 2, the graphic processor 11
U21, cache memory 22, and data memory 23 are provided, and a total of eight are provided. Arithmetic CPU21
Performs necessary arithmetic processing for mask data conversion processing. At this time, necessary data is fetched from the cache memory 22 and is accessed from the data memory 23 when it is not in the cache memory 22. The cache memory 22 corresponds to the highest-order memory, and has about 128 KB. The data memory 23 corresponds to a secondary memory, and a memory of about 16 MB is used.

大容量メモリ12は3次メモリに相当し、マスクデータ
変換処理で必要な図形データを線分情報に展開した形で
全て収容可能な容量を持ち、例えば64MB程度のものが用
いられ、全体として2個設けられる。そして、キャシュ
メモリ22、データメモリ23および大容量メモリ12は図形
データの記憶手段として階層化されており、演算CPU21
からアクセス可能である。したがって、大容量メモリ12
は全ての図形処理プロセッサ11からその記憶内容が参照
・更新可能である。また、データメモリ23は、少なくと
も実デバイスのマスクデータのうちのフィールド領域分
のデータを格納可能であるように構成され、大容量メモ
リ12は実デバイスのマスクデータのうちのマスク層1層
分の作成に必要なデータを格納可能であり、さらに、デ
ータメモリ23および大容量メモリ12間はフィールド領域
単位で図形情報を転送できるように構成されている。
The large-capacity memory 12 is equivalent to a tertiary memory, and has a capacity capable of accommodating all graphic data required for mask data conversion processing in the form of being expanded into line segment information. Are provided. The cache memory 22, the data memory 23, and the large-capacity memory 12 are hierarchized as graphic data storage means.
Is accessible from Therefore, large memory 12
The stored contents can be referred to / updated from all the graphic processors 11. Further, the data memory 23 is configured to be able to store at least the data of the field area of the mask data of the real device, and the large capacity memory 12 stores the data of one mask layer of the mask data of the real device. Data necessary for creation can be stored, and further, graphic data can be transferred between the data memory 23 and the large-capacity memory 12 in units of field regions.

ここで、フィールドとは、露光装置(例えば、レチク
ル露光装置)自体が持つビーム最大露光範囲のことであ
り、マスクデータ変換処理の工程において設計データを
露光用データへ変換する際には、このフィールド単位に
分解して行う。なお、フィールドにはメインフィールド
およびサブフィールドを含む。また、フィールド単位に
分解して行う露光には、電子ビーム露光、X線露光、レ
ーザビーム露光が含まれる。したがって、例えば大容量
メモリ12からデータメモリ23に入力フィールドデータと
して情報を送るときは線分情報の形で該フィールド領域
分のデータを転送し、その逆の場合は1フィールド領域
分の図形処理済のデータを転送する。
Here, the field refers to the maximum beam exposure range of the exposure apparatus (for example, a reticle exposure apparatus), and is used when converting design data into exposure data in a mask data conversion process. Disassemble into units. The fields include a main field and a subfield. In addition, the exposure performed by disassembling in field units includes electron beam exposure, X-ray exposure, and laser beam exposure. Therefore, for example, when information is sent from the large-capacity memory 12 to the data memory 23 as input field data, the data of the field area is transferred in the form of line segment information. Transfer data.

画像メモリ13は図形処理プロセッサ11の処理内容を画
像表示するときに必要な画像データを記憶し、この画像
データはCRT14によって外部に表示される。
The image memory 13 stores image data necessary for displaying the processing contents of the graphic processor 11 as an image, and this image data is displayed externally by the CRT 14.

次に、作用を説明する。 Next, the operation will be described.

あるLSIのレイアウト設計がCAD装置により終了する
と、次いで設計完了後のデータは、マスクパターンとし
て製造工程に渡されるが、このとき、半導体のパターン
作成においてパターン設計データを作るときに用いたCA
D装置のフォーマットは、本装置により実際の露光パタ
ーンに変換処理される。
When the layout design of a certain LSI is completed by the CAD device, the data after the completion of the design is passed to the manufacturing process as a mask pattern. At this time, the CA used when creating the pattern design data in the semiconductor pattern creation is used.
The format of the D device is converted into an actual exposure pattern by the present device.

変換処理の段階で露光のマスクパターンを作るときに
各種の論理処理が行われるが、その一例は第3図のよう
に示される。例えば、処理前の図形データ31、32をOR処
理すると、処理後の図形データ33として示され、同様に
AND処理、ANDNOT処理、EXCLUSIVE−OR処理後の各図形デ
ータ34〜37は図示のように表される。
Various logical processes are performed when an exposure mask pattern is formed at the stage of the conversion process. An example is shown in FIG. For example, when the graphic data 31 and 32 before processing are OR-processed, they are shown as graphic data 33 after processing, and similarly,
The graphic data 34 to 37 after the AND processing, the ANDNOT processing, and the EXCLUSIVE-OR processing are represented as illustrated.

また、第4図に示すように露光のある1枚のマスク層
41があるとき、フィールド42を1単位として8個の図形
処理プロセッサ11により順次マスク層41がレチクル露光
可能な露光パターンに変換処理されていく。なお、マス
ク層は通常数枚以上ある。
Also, as shown in FIG. 4, one exposed mask layer
When there is 41, the mask layer 41 is sequentially converted into an exposure pattern that allows reticle exposure by the eight graphic processors 11 with the field 42 as one unit. The number of mask layers is usually several or more.

さらに、マスクパターンのうち、繰り返し部分の表現
については必要最小限の情報だけを持ち、極力データ量
をコンパクトにしてデータ処理効率を高めることが行わ
れる。具体的には、オリジナルのパターンを1個だけ持
ち、他にX、Y方向のピッチおよび配置個数の情報を持
つだけで、繰り返し部分を表現する。
Furthermore, the expression of the repetition part in the mask pattern has only necessary minimum information, and the data amount is reduced as much as possible to increase the data processing efficiency. More specifically, a repeated portion is represented by having only one original pattern and having information on the pitch and the number of arrangements in the X and Y directions.

この場合、本実施例では半導体のマスクデータ変換処
理を意識して十分なメモリ容量が定められ、かつ適切に
メモリの階層化が行われ、演算CPUを含む各図形処理プ
ロセッサ11が1つの制御CPU1で並列制御される。また、
大容量メモリ12にはマスク層1層分の作成に必要なデー
タが格納される。したがって、必要なデータは全て1つ
の大容量メモリ12に集められているから、データアクセ
スの効率が極めて向上する。
In this case, in the present embodiment, a sufficient memory capacity is determined in consideration of the mask data conversion processing of the semiconductor, and the hierarchy of the memory is appropriately performed. Are controlled in parallel. Also,
The large-capacity memory 12 stores data necessary for creating one mask layer. Therefore, since all necessary data is collected in one large-capacity memory 12, the efficiency of data access is greatly improved.

さらに、実デバイスのマスクデータのうちのフィール
ド領域分のデータを単位として大容量メモリ12、キャシ
ュメモリ22およびデータメモリ23間でデータの格納、図
形情報の転送が行われて、マスクデータ変換処理が行わ
れる。このため、高次のメモリに現在処理しようとする
以外のデータをアクセスするようなことは行われず、メ
モリの使用効率の低下が避けられる。
Further, data is stored and graphic information is transferred between the large-capacity memory 12, the cache memory 22 and the data memory 23 in units of data of the field area of the mask data of the actual device, and the mask data conversion processing is performed. Done. For this reason, access to data other than the one to be processed at present is not performed to the higher-order memory, and a decrease in memory use efficiency can be avoided.

したがって、制御と演算の2つの機能が区分され、し
かも演算が並列処理されることでデータ変換処理の効率
が高まり、またフィールドという概念が取り入れられる
ことで、各図形処理プロセッサ11は各フィールド毎の処
理を無駄なく、かつ並列に実行することが可能になって
制御の効率が高まり、並列度も向上してデータ処理時間
が短縮する。その結果、マスクデータの変換処理時間を
大幅に短縮することができるとともに、マスクデータの
変換処理用の制御機能と演算機能の双方を備えた専用の
CPUを必要としないので、通常のCPUでよくハードおよび
ソフト面ともその構成を経済的(低コスト)にすること
ができる。
Therefore, the two functions of control and operation are separated, and the efficiency of data conversion processing is increased by parallel processing of operations, and the concept of a field is adopted. The processing can be executed in parallel without waste, thereby increasing the efficiency of control, increasing the degree of parallelism and shortening the data processing time. As a result, the mask data conversion processing time can be significantly reduced, and a dedicated mask data conversion processing control function and calculation function are provided.
Since a CPU is not required, a normal CPU can be used and the configuration of the hardware and software can be made economical (low cost).

なお、上記実施例では図形処理プロセッサ11を8個、
大容量メモリ12を2個設けた構成としているが、これに
限らず、他の並列構成であってもよく、要は必要とする
マスクデータの変換処理の実行が可能な範囲内で構成す
ればよい。
In the above embodiment, eight graphic processors 11 are used,
Although the configuration is such that two large-capacity memories 12 are provided, the configuration is not limited to this, and other parallel configurations may be used. In other words, the configuration is such that the required mask data conversion processing can be performed. Good.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

請求項1記載の発明によれば、マスクデータ変換処理
の制御と演算の2つの機能を区分し、かつ演算を並列処
理するとともに、フィールド単位でデータの格納を行っ
ているので、変換装置を経済的なものとすることができ
るとともに、マスクデータ変換処理の効率を高めること
ができ、データ処理時間を短縮することができる。
According to the first aspect of the present invention, the two functions of the control and the operation of the mask data conversion process are divided, the operations are performed in parallel, and the data is stored in units of fields. And the efficiency of the mask data conversion process can be increased, and the data processing time can be shortened.

また、請求項2記載の発明によれば、3次メモリがマ
スクデータのうちのマスク層1層分の作成に必要なデー
タを格納可能であり、データアクセスの効率が極めて向
上し、この点からもデータ処理時間を短縮することがで
きる。
Further, according to the second aspect of the present invention, the tertiary memory can store the data necessary for creating one mask layer of the mask data, and the efficiency of data access is greatly improved. Can also shorten the data processing time.

さらに、請求項3記載の発明によれば、2次メモリお
よび3次メモリ間をフィールド領域単位で図形情報を転
送するようにしているので、特にデータ転送の効率が高
まり、より一層データ処理時間を短縮することができ
る。
Further, according to the third aspect of the present invention, since graphic information is transferred between the secondary memory and the tertiary memory in units of field regions, the efficiency of data transfer is particularly increased, and the data processing time is further reduced. Can be shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1〜4図は請求項1〜3記載の発明に係る半導体のマ
スクデータ変換処理装置の一実施例を示す図であり、 第1図はその全体構成図、 第2図はその図形処理プロセッサの構成図、 第3図はそのマスクパターンの論理処理を説明する図、 第4図はそのマスク層の一例を示す図である。 1……制御CPU、2……キーボード、3……マウス、4
……フレームバッファ、5、14……CRT、6……ディス
クインタフェース、7……ディスク、8……CMT、9…
…MTインターフェース、10……磁気テープ、11……図形
処理プロセッサ、12……大容量メモリ(3次メモリ)、
13……画像メモリ、15……システムバス、16……ローカ
ルバス、21……演算CPU、22……キャシュメモリ(最高
次メモリ)、23……データメモリ(2次メモリ)。
1 to 4 are diagrams showing an embodiment of a semiconductor mask data conversion processing apparatus according to the first to third aspects of the present invention. FIG. 1 is an overall configuration diagram thereof, and FIG. 2 is a graphic processor thereof. FIG. 3 is a view for explaining the logical processing of the mask pattern, and FIG. 4 is a view showing an example of the mask layer. 1 ... Control CPU, 2 ... Keyboard, 3 ... Mouse, 4
... frame buffer, 5, 14 ... CRT, 6 ... disk interface, 7 ... disk, 8 ... CMT, 9 ...
... MT interface, 10 ... Magnetic tape, 11 ... Graphic processor, 12 ... Large capacity memory (tertiary memory),
13 image memory, 15 system bus, 16 local bus, 21 arithmetic CPU, 22 cache memory (highest order memory), 23 data memory (secondary memory).

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡崎 昭広 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 藤 宏史 東京都渋谷区恵比寿4丁目6番1号 日 本コントロールシステム株式会社内 (72)発明者 津田 博昭 東京都渋谷区恵比寿4丁目6番1号 日 本コントロールシステム株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−7632(JP,A) 特開 昭60−204061(JP,A) 特開 昭63−6646(JP,A) 特開 昭61−28155(JP,A) 特開 平1−126758(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G03F 1/00 - 1/16 G06F 15/60 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Inventor Akihiro Okazaki 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Inside Fujitsu Limited (72) Inventor Hiroshi Fuji 4-6-1, Ebisu, Shibuya-ku, Tokyo Japan Control System Co., Ltd. (72) Inventor Hiroaki Tsuda 4-6-1, Ebisu, Shibuya-ku, Tokyo Japan Control System Co., Ltd. (56) References JP-A-63-7632 (JP, A) JP-A-60-204061 (JP, a) JP Akira 63-6646 (JP, a) JP Akira 61-28155 (JP, a) JP flat 1-126758 (JP, a) (58 ) investigated the field (Int.Cl. 6 G03F 1/00-1/16 G06F 15/60

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】LSIのパターンデータに対応するCAD装置の
フォーマットをCPUを用いて実デバイスのマスクデータ
に変換する半導体のマスクデータ変換処理装置におい
て、 前記CPUを、マスクデータ変換処理の制御を行う制御CPU
と、マスクデータ変換処理に必要な演算処理を行う演算
CPUとに区分して構成し、 該演算CPUは、処理データを直接授受する最高次メモリ
および該最高次メモリとの間でデータの授受を行う2次
メモリを含んで図形処理プロセッサを構成し、 該図形処理プロセッサは、前記制御CPUにより並列制御
が可能であるとともに、 全ての図形処理プロセッサから参照・更新可能な3次メ
モリを設け、 該3次メモリは、マスクデータ変換処理で必要な図形デ
ータを線分情報に展開した形で全て収容可能な容量を持
ち、 前記最高次メモリ、2次メモリおよび3次メモリを図形
データメモリとして階層化し、 各図形処理プロセッサ上の2次メモリは、少なくとも実
デバイスのマスクデータのうちフィールド領域分のデー
タを格納可能であるように構成したことを特徴とする半
導体のマスクデータ変換処理装置。
1. A semiconductor mask data conversion processor for converting a format of a CAD device corresponding to LSI pattern data into mask data of an actual device using a CPU, wherein the CPU controls a mask data conversion process. Control CPU
And an operation that performs the operation required for the mask data conversion process
The arithmetic CPU comprises a graphic processing processor including a highest-order memory for directly sending and receiving processing data and a secondary memory for sending and receiving data to and from the highest-order memory; The graphic processor is provided with a tertiary memory which can be controlled in parallel by the control CPU and which can be referred to and updated by all graphic processors. The tertiary memory stores graphic data required for mask data conversion processing. Is expanded into line segment information, and the highest-order memory, the secondary memory, and the tertiary memory are hierarchized as a graphic data memory. The secondary memory on each graphic processor has at least a real memory. A mask data conversion processing device for semiconductors, wherein data for a field area of mask data of a device can be stored.
【請求項2】前記3次メモリは、少なくとも実デバイス
のマスクデータのうちのマスク層1層分の作成に必要な
データを格納可能であるように構成したことを特徴とす
る請求項1記載の半導体のマスクデータ変換処理装置。
2. The tertiary memory according to claim 1, wherein the tertiary memory is configured to be able to store at least data necessary for creating one mask layer out of mask data of an actual device. Semiconductor mask data conversion processor.
【請求項3】LSIのパターンデータに対応するCAD装置の
フォーマットをCPUを用いて実デバイスのマスクデータ
に変換する半導体のマスクデータ変換処理装置におい
て、 前記CPUを、マスクデータ変換処理の制御を行う制御CPU
と、マスクデータ変換処理に必要な演算処理を行う演算
CPUとに区分して構成し、 該演算CPUは、処理データを直接授受する最高次メモリ
および該最高次メモリとの間でデータの授受を行う2次
メモリを含んで図形処理プロセッサを構成し、 該図形処理プロセッサは、前記制御CPUにより並列制御
が可能であるとともに、 全ての図形処理プロセッサから参照・更新可能な3次メ
モリを設け、 該3次メモリは、マスクデータ変換処理で必要な図形デ
ータを線分情報に展開した形で全て収容可能な容量を持
ち、 前記最高次メモリ、2次メモリおよび3次メモリを図形
データメモリとして階層化し、 前記2次メモリおよび3次メモリ間は、フィールド領域
単位で図形情報を転送するように構成したことを特徴と
する半導体のマスクデータ変換処理装置。
3. A semiconductor mask data conversion processing device for converting a format of a CAD device corresponding to LSI pattern data into mask data of a real device using a CPU, wherein the CPU controls the mask data conversion process. Control CPU
And an operation that performs the operation required for the mask data conversion process
The arithmetic CPU comprises a graphic processing processor including a highest-order memory for directly sending and receiving processing data and a secondary memory for sending and receiving data to and from the highest-order memory; The graphic processor is provided with a tertiary memory which can be controlled in parallel by the control CPU and which can be referred to and updated by all graphic processors. The tertiary memory stores graphic data required for mask data conversion processing. Has a capacity that can be accommodated in the form of expanded line information. The highest-order memory, the secondary memory, and the tertiary memory are hierarchized as graphic data memory, and a field area is provided between the secondary memory and the tertiary memory. A mask data conversion processing device for semiconductors, characterized in that graphic information is transferred in units.
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