JP2885974B2 - Method for producing tape for film carrier and method for producing film carrier - Google Patents

Method for producing tape for film carrier and method for producing film carrier

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JP2885974B2
JP2885974B2 JP21803491A JP21803491A JP2885974B2 JP 2885974 B2 JP2885974 B2 JP 2885974B2 JP 21803491 A JP21803491 A JP 21803491A JP 21803491 A JP21803491 A JP 21803491A JP 2885974 B2 JP2885974 B2 JP 2885974B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、高周波マイクロ波デバ
イス等を評価・実装するために用いるフィルムキャリア
用テープの製造方法およびフィルムキャリアの製造方法
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a tape for a film carrier used for evaluating and mounting a high-frequency microwave device and the like, and a method of manufacturing a film carrier.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の絶縁性フレキシブル基板であるポ
リイミド系フィルムを用いたフィルムキャリア用テープ
の形成技術としては、一般的に図6に示す接着剤を用い
てポリイミドフィルムと箔を張り合せる方法(3層タイ
プ)があり、TAB(Tape Automated Bonding)用として
用いられている。図6において、1は、例えばポリイミ
ドフィルムからなる絶縁性フレキシブル基板、17はエ
ポキシ系またはアクリル系の接着剤、16は銅箔からな
る導体層である。
2. Description of the Related Art As a conventional technique for forming a tape for a film carrier using a polyimide film, which is an insulating flexible substrate, a method of laminating a polyimide film and a foil using an adhesive shown in FIG. (Three-layer type), which is used for TAB (Tape Automated Bonding). In FIG. 6, 1 is an insulating flexible substrate made of, for example, a polyimide film, 17 is an epoxy or acrylic adhesive, and 16 is a conductor layer made of copper foil.

【0003】一方、図7に示す接着剤を使用しない2層
タイプのフィルムキャリア用テープは、圧延銅箔あるい
は電解銅箔の導体層16を絶縁性フレキシブル基板1に
熱プレスにより接合させる方法により形成され、導体層
16の厚さは機械的強度の観点から35μm以上のもの
が一般的に用いられる。また、銅を直接スパッタリング
する方法あるいは銅と絶縁性フレキシブル基板1間の密
着力を向上させるためにニッケルまたはクロム等をスパ
ッタリングした後、銅をスパッタリングする方法が用い
られることもある。この時のスパッタリングによる導体
層16の厚さは、通常0.01μm〜0.1μmであ
る。蒸着による方法もスパッタリングによる方法とほぼ
同様の製造方法が用いられる。
On the other hand, a two-layer type film carrier tape not using an adhesive shown in FIG. 7 is formed by a method in which a conductor layer 16 of a rolled copper foil or an electrolytic copper foil is joined to the insulating flexible substrate 1 by hot pressing. The thickness of the conductor layer 16 is generally 35 μm or more from the viewpoint of mechanical strength. Further, a method of directly sputtering copper or a method of sputtering copper after nickel or chromium is sputtered to improve the adhesion between the copper and the insulating flexible substrate 1 may be used. At this time, the thickness of the conductor layer 16 by sputtering is usually 0.01 μm to 0.1 μm. For the method by vapor deposition, a manufacturing method substantially similar to the method by sputtering is used.

【0004】他の方法として、例えば35μmの厚さの
銅箔上にポリイミドのワニスをコーティングし、ヒータ
等で加熱して溶剤を除去・乾燥させイミド化することに
よって2層テープを形成する場合もある。
As another method, for example, a two-layer tape is formed by coating a polyimide varnish on a copper foil having a thickness of, for example, 35 μm, removing the solvent by heating with a heater or the like, and drying and imidizing. is there.

【0005】フレキシブル配線板を使用してベアチップ
半導体素子等を実装するシステムとしては、本発明者ら
が先に考案した特開平2−34948号公報記載の高周
波IC用フィルムキャリアがある。この高周波IC用フ
ィルムキャリアは高周波領域に適用するために改善した
もので、図8のように、チップ素子の入出力インピーダ
ンスとケースまたは他の配線板の特性インピーダンスの
各々に、インピーダンス整合させたコプレーナ導波路1
1を絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成するととも
に、インナーリード部6およびアウターリード部7の長
さを短縮させた構成としており、すべてホトリソグラフ
ィ工程により製造するようにしたものである。ここで、
5はバンプ、8は導波路用導体膜、9は直流電源用配
線、10はチップ素子のための開口部である。
As a system for mounting a bare chip semiconductor element or the like using a flexible wiring board, there is a film carrier for a high-frequency IC described in JP-A-2-34948 invented by the present inventors. This film carrier for high-frequency ICs has been improved for use in the high-frequency region. As shown in FIG. 8, a coplanar impedance-matched input / output impedance of a chip element and a characteristic impedance of a case or another wiring board are used. Waveguide 1
1 is formed on the surface of the insulating flexible substrate 1 and the lengths of the inner lead portions 6 and the outer lead portions 7 are shortened, all of which are manufactured by a photolithography process. here,
5 is a bump, 8 is a conductor film for a waveguide, 9 is a wiring for a DC power supply, and 10 is an opening for a chip element.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図6の
接着剤17を用いる3層タイプでは、フィルムの開口部
を形成するには金型を使用した機械的パンチングにより
加工できるものの、加工できる大きさは0.4mm角以
上であり、フィルムの両面に形成する場合に必要な配線
間を接続するためのヴィア用穴(0.4mm角未満)の
加工が困難になるという問題がある。さらに、化学的に
絶縁性フレキシブル基板1の開口部10を形成すること
が考えられるが、接着剤17と絶縁性フレキシブル基板
1のエッチング液が異なるため、化学的エッチングプロ
セスが煩雑になるという欠点があった。さらに、接着剤
17の耐熱性が低いため、高温における密着性の安定性
が悪いという問題があった。
However, in the case of the three-layer type using the adhesive 17 shown in FIG. 6, the opening of the film can be formed by mechanical punching using a mold, but the size of the film can be processed. Is 0.4 mm square or more, and there is a problem that it is difficult to form a via hole (less than 0.4 mm square) for connecting between wirings necessary for forming on both sides of the film. Further, it is conceivable to chemically form the opening 10 of the insulative flexible substrate 1. However, since the adhesive 17 and the etchant for the insulative flexible substrate 1 are different from each other, there is a disadvantage that the chemical etching process becomes complicated. there were. Furthermore, since the heat resistance of the adhesive 17 is low, there is a problem that the stability of adhesion at high temperatures is poor.

【0007】スパッタリング法等を用いた図7に示すよ
うな2層タイプのフィルムキャリア用テープでは、あら
かじめ、ニッケルまたはクロム等の密着性の良い材料を
絶縁性フレキシブル基板1にスパッタリングした後、続
けて銅をスパッタリングするため、配線パターンを形成
する際、異なったエッチング液が必要となり、工程数が
増加するという問題点があった。さらに、スパッタリン
グ時に、絶縁性フレキシブル基板1がカールしやすい等
の問題があった。
[0007] In a two-layer type film carrier tape as shown in FIG. 7 using a sputtering method or the like, a material having good adhesion such as nickel or chromium is sputtered on the insulating flexible substrate 1 in advance, and then the film is continuously formed. Since copper is sputtered, a different etching solution is required when forming a wiring pattern, and there is a problem that the number of steps increases. Further, there is a problem that the insulating flexible substrate 1 is easily curled at the time of sputtering.

【0008】また、キャスティング法を用いた2層タイ
プのフィルムキャリア用テープでは、ワニスに含まれる
溶剤を除去する必要があるため、絶縁性フレキシブル基
板1の両面に導体層16を形成することが困難である欠
点があった。また、熱プレス法を用いて形成したフィル
ムキャリア用テープでは、絶縁性フレキシブル基板1と
銅箔等の導体層16間の密着強度が接着剤17を用いた
ものに比べて小さいため、微細な導体パターンを形成す
る上でパターン寸法に制約を生じるという問題があっ
た。
Further, in the case of a two-layer type film carrier tape using a casting method, it is necessary to remove the solvent contained in the varnish, so that it is difficult to form the conductor layers 16 on both sides of the insulating flexible substrate 1. There was a disadvantage. Further, in the tape for a film carrier formed by the hot press method, the adhesive strength between the insulating flexible substrate 1 and the conductor layer 16 such as a copper foil is smaller than that using the adhesive 17, so that a fine conductor tape is formed. There has been a problem that the pattern size is restricted in forming the pattern.

【0009】本発明は、かかる問題点を解消するために
なされたもので、その目的は高い歩留りで、密着強度が
大きく、両面への導体膜形成を容易に可能とするフィル
ムキャリア用テープの製造方法およびフィルムキャリア
の製造方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to produce a tape for a film carrier which has a high yield, a high adhesion strength, and can easily form a conductor film on both sides. A method and a method for manufacturing a film carrier.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明にかかるフィルム
キャリア用テープの製造方法は、絶縁性フレキシブル基
板を表面粗化した後、無電解めっき工程により下地導体
膜を形成するようにした。すなわち、絶縁性フレキシブ
ル基板表面を、酸素ガス等による反応性イオンエッチン
グにより絶縁性フレキシブル基板の表面粗化を行う。引
き続き、無電解めっき工程により下地導体膜を形成し
て、2層タイプのフィルムキャリア用テープを得るもの
である。
According to a method of manufacturing a tape for a film carrier according to the present invention, a surface of an insulative flexible substrate is roughened, and then a base conductor film is formed by an electroless plating step. That is, the surface of the insulating flexible substrate is roughened by reactive ion etching using an oxygen gas or the like. Subsequently, a base conductor film is formed by an electroless plating step to obtain a two-layer type film carrier tape.

【0011】また、本発明にかかるフィルムキャリアの
製造方法では、このフィルムキャリア用テープを用い、
下地導体膜上に、高周波用電極,バイアス供給用電極,
接地用電極と、これら各電極に接続されたリードとを電
解めっき法で形成する工程と、各電極に接続されたリー
ドの先端に、突起状の金属を形成する工程と、絶縁性フ
レキシブル基板にエッチングにより開口部を形成するも
のである。
In the method for producing a film carrier according to the present invention, the film carrier tape is used.
A high frequency electrode, a bias supply electrode,
Forming a grounding electrode and a lead connected to each of these electrodes by electrolytic plating, forming a protruding metal at the tip of the lead connected to each of the electrodes, The opening is formed by etching.

【0012】[0012]

【作用】本発明では、酸素ガス等による反応性イオンエ
ッチングにより絶縁性フレキシブル基板表面を微細に粗
化することができ、絶縁性フレキシブル基板と無電解め
っき法により形成した下地導体膜の密着力を向上させる
ことができる。すなわち、表面粗化により絶縁性フレキ
シブル基板表面と、下地導体膜の密着面積が増大して、
アンカー効果が向上することによって絶縁性フレキシブ
ル基板と下地導体膜の密着力が向上する。また、このフ
ィルムキャリア用テープを用い、エッチングにより開口
部が形成され、フィルムキャリアが得られる。
According to the present invention, the surface of the insulating flexible substrate can be finely roughened by reactive ion etching with oxygen gas or the like, and the adhesion between the insulating flexible substrate and the underlying conductor film formed by electroless plating can be improved. Can be improved. That is, due to the surface roughening, the adhesion area between the insulating flexible substrate surface and the underlying conductor film increases,
By improving the anchor effect, the adhesion between the insulating flexible substrate and the underlying conductor film is improved. Using this film carrier tape, openings are formed by etching to obtain a film carrier.

【0013】[0013]

【実施例】次に、本発明の一実施例を図面に従い説明す
る。図1は本発明の下地導体膜を形成する場合の実施例
を示す断面図である。例えばポリイミドフィルムからな
る絶縁性フレキシブル基板1の表面の油脂系及び塵等の
汚染物を、アセトン等の有機系溶剤や酸やアルカリ系の
洗浄液等で十分に取り除く(図1(a))。そして、酸
素ガス,酸素ガスと四フッ化炭素ガスの混合ガス等によ
る反応性イオンエッチング(RIE)により絶縁性フレ
キシブル基板1の表面粗化層2を形成する(図1
(b))。具体的には、高周波実効電力50Wで10分
間程度の表面粗化を行う。次に、無電解銅析出用Pd核
膜3の形成を行う(図1(c))。ここでは、プリント
板配線技術で一般的に使用されているパラジウム(P
d)を、絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成する。
そして、無電解銅めっき工程により下地導体膜4を形成
する(図1(d))。この時の膜厚は、約0.01〜
0.05μmである。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment in the case of forming a base conductor film of the present invention. For example, contaminants such as fats and oils and dust on the surface of the insulating flexible substrate 1 made of a polyimide film are sufficiently removed with an organic solvent such as acetone, an acid or an alkaline cleaning solution (FIG. 1A). Then, the surface roughened layer 2 of the insulating flexible substrate 1 is formed by reactive ion etching (RIE) using oxygen gas, a mixed gas of oxygen gas and carbon tetrafluoride gas (FIG. 1).
(B)). Specifically, surface roughening is performed for about 10 minutes at a high-frequency effective power of 50 W. Next, a Pd nucleation film 3 for electroless copper deposition is formed (FIG. 1C). Here, palladium (P
d) is formed on the surface of the insulating flexible substrate 1.
Then, the underlying conductor film 4 is formed by an electroless copper plating process (FIG. 1D). The film thickness at this time is about 0.01 to
It is 0.05 μm.

【0014】次に、窒素雰囲気中でアニールを行う。具
体的には、約300℃で30分間行う。昇温は300℃
まで約2時間、冷却は自然冷却し、すべて窒素雰囲気中
で行う。その後、電解めっきにより下地導体膜4の上に
銅膜4′を1〜2μm程度に厚付けすることにより、フ
ィルムキャリア用テープを完成させる(図1(e))。
図2に、図1の実施例の工程図を示す。
Next, annealing is performed in a nitrogen atmosphere. Specifically, it is performed at about 300 ° C. for 30 minutes. Temperature rise is 300 ° C
Until about 2 hours, the cooling is naturally cooled, all in a nitrogen atmosphere. Thereafter, a film carrier tape is completed by applying a copper film 4 'to a thickness of about 1 to 2 μm on the underlying conductor film 4 by electrolytic plating (FIG. 1 (e)).
FIG. 2 shows a process chart of the embodiment of FIG.

【0015】ここで、本発明を用いて製造したフィルム
キャリア用テープにおける下地導体膜4と絶縁性フレキ
シブル基板1との密着性に関する実験例について図5を
用いて説明する。
Here, an experimental example regarding the adhesion between the base conductor film 4 and the insulating flexible substrate 1 in the film carrier tape manufactured by using the present invention will be described with reference to FIG.

【0016】図5は絶縁性フレキシブル基板1としてポ
リイミドフィルムを用い、その表面を酸素ガスにより反
応性イオンエッチングを施した場合(直線A)としない
場合(直線B)における無電解めっき膜の導体パターン
とポリイミドフィルムの90°方向剥離強度を評価した
結果を示す(JISーCー6471ーB法に準拠)。参
考のために、銅箔とポリイミドフィルムを熱プレスした
2層タイプの試料(直線C)を評価した結果についても
示す。なお、剥離強度表には、ポリイミドフィルム上に
幅90〜350μm、長さ1mmの配線パターンを形成
した試料を用いた。直線(A)に示す剥離強度は、直線
Bのものに比べ約60倍であり、直線Cに比べても約2
倍以上の強度を示した。
FIG. 5 shows a conductor pattern of an electroless plating film when a polyimide film is used as the insulating flexible substrate 1 and its surface is subjected to reactive ion etching with an oxygen gas (straight line A) or not (straight line B). And the results of evaluating the 90 ° peel strength of the polyimide film and the polyimide film (based on JIS-C-6471-B method). For reference, the results of evaluating a two-layer type sample (straight line C) obtained by hot pressing a copper foil and a polyimide film are also shown. In the peel strength table, a sample in which a wiring pattern having a width of 90 to 350 μm and a length of 1 mm was formed on a polyimide film was used. The peel strength shown by the straight line (A) is about 60 times that of the straight line B and about 2 times that of the straight line C.
The strength was more than doubled.

【0017】次に、本発明により製造したフィルムキャ
リア用テープを用いて、フィルムキャリアを製造する場
合の実施例について図3を用いて説明する。図3の
(a)〜(d)までは第1の実施例である図1の(a)
〜(d)と同様である。なお、図3では、アニール工程
と電解めっきによる銅膜の厚付け工程の図は省略してい
る。次に、下地導体膜4上に第1ホトレジスト膜12を
塗布した後、ホトリソグラフィ工程により高周波用電
極,バイアス供給用電極,接地用電極と、これら各電極
に接続されたリードのパターニングを行う(図3
(e))。さらに、電解めっきにより前述の電極等の電
解めっき膜13を厚付けする(図3(f))。具体的に
は、Cu,Ni,Au,Sn,Rh,Co等の金属材料
を用いて構成する。
Next, an embodiment in which a film carrier is manufactured using the tape for a film carrier manufactured according to the present invention will be described with reference to FIG. FIGS. 3A to 3D show the first embodiment of FIG.
Same as (d). In FIG. 3, the illustration of the annealing step and the step of thickening the copper film by electrolytic plating are omitted. Next, after the first photoresist film 12 is applied on the base conductor film 4, a high-frequency electrode, a bias supply electrode, a ground electrode, and leads connected to these electrodes are patterned by a photolithography process ( FIG.
(E)). Further, an electrolytic plating film 13 such as the above-mentioned electrode is thickened by electrolytic plating (FIG. 3F). Specifically, it is configured using a metal material such as Cu, Ni, Au, Sn, Rh, and Co.

【0018】第1ホトレジスト膜12を除去した後、前
述の電極等がある面上に第2ホトレジスト膜14を塗布
し、上述と同様のホトリソグラフィ工程によりリードの
先端に突起状の金属からなるバンプ用開口パターンを形
成し、電解めっきにより厚付けすることによってバンプ
5(例えば金)を形成する(図3(g))。次に、第2
ホトレジスト膜14を除去した後、高周波用電極,バイ
アス供給用電極,接地用電極と、これら各電極に接続さ
れたリードが形成されている面と反対側の面に第3ホト
レジスト15を塗布して、ホトリソグラフィ工程により
デバイス等を搭載するための開口部10用パターンを形
成した後(図3(h))、絶縁性フレキシブル基板1を
化学エッチングすることによって開口部10を形成する
(図3(i))。最後に、不要な第3ホトレジスト膜1
5、下地導体膜4を除去してフィルムキャリアを完成す
る(図3(j))。
After the first photoresist film 12 is removed, a second photoresist film 14 is applied on the surface on which the above-mentioned electrodes and the like are located, and a bump made of a protruding metal is formed on the tip of the lead by the same photolithography process as described above. A bump 5 (for example, gold) is formed by forming an opening pattern for use and thickening it by electrolytic plating (FIG. 3G). Next, the second
After removing the photoresist film 14, a third photoresist 15 is applied to the surface opposite to the surface on which the high-frequency electrode, the bias supply electrode, and the ground electrode, and the leads connected to these electrodes are formed. After forming a pattern for the opening 10 for mounting a device or the like by a photolithography process (FIG. 3 (h)), the opening 10 is formed by chemically etching the insulating flexible substrate 1 (FIG. 3 ( i)). Finally, the unnecessary third photoresist film 1
5. The underlying conductor film 4 is removed to complete the film carrier (FIG. 3 (j)).

【0019】なお、実施例では、絶縁性フレキシブル基
板1としてポリイミドフィルムを用いが、その他、エポ
キシフィルム,ポリエスエルフィルウ等であっても良
い。
In the embodiment, a polyimide film is used as the insulating flexible substrate 1. However, an epoxy film, a polyester film or the like may be used.

【0020】図4に、図3の実施例の工程図を示す。FIG. 4 shows a process chart of the embodiment of FIG.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のフィルム
キャリア用テープの製造方法およびフィルムキャリアの
製造方法においては、絶縁性フレキシブル基板を表面粗
化してから下地導体膜を無電界めっき法により形成する
ようにしたので、フィルムキャリアを製作する工程のフ
ォトリソグラフィ工程や電解めっき工程等において下地
導体膜の剥離を生じず、さらには、強アルカリ溶液を用
いた絶縁性フレキシブル基板のエッチングにおいても、
下地導体膜には損傷を生じることはない。従って、本発
明の製造方法を用いれば、絶縁性フレキシブル基板と下
地導体膜間の密着強度を高め、製作工程途中における下
地導体膜の剥離を防止して、製作の歩留まりを向上した
フィルムキャリアを提供できる。
As described above, in the method for manufacturing a tape for a film carrier and the method for manufacturing a film carrier according to the present invention, a surface of an insulative flexible substrate is roughened and then a base conductive film is formed by electroless plating. Since the base conductor film does not peel off in the photolithography step or the electrolytic plating step of the step of manufacturing the film carrier, furthermore, even in the etching of the insulating flexible substrate using a strong alkaline solution,
The underlying conductor film is not damaged. Therefore, by using the manufacturing method of the present invention, a film carrier is provided in which the adhesion strength between the insulating flexible substrate and the underlying conductor film is increased, the peeling of the underlying conductor film during the production process is prevented, and the production yield is improved. it can.

【0022】また、ポリイミドフィルムと下地導体膜間
の密着強度が向上したことにより、パターンの微細化が
可能となる。
In addition, since the adhesion strength between the polyimide film and the underlying conductor film is improved, it is possible to make the pattern finer.

【0023】さらに、無電解めっき法を用いているた
め、絶縁性フレキシブル基板の両面にも配線パターンを
形成できるとともに、両面にもパターンを形成でき、配
線パターン間接続用ヴィア等の形成も可能となる。
Further, since the electroless plating method is used, a wiring pattern can be formed on both sides of the insulating flexible substrate, and a pattern can be formed on both sides, and a via for connection between wiring patterns can be formed. Become.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のフィルムキャリア用テープの製造方法
の一実施例を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing one embodiment of a method for producing a film carrier tape of the present invention.

【図2】本発明のフィルムキャリア用テープの製造工程
図である。
FIG. 2 is a process chart of manufacturing a film carrier tape of the present invention.

【図3】本発明のフィルムキャリアの製造方法の一実施
例を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing one embodiment of the method for producing a film carrier of the present invention.

【図4】本発明のフィルムキャリアの製造工程図であ
る。
FIG. 4 is a manufacturing process diagram of the film carrier of the present invention.

【図5】本発明の下地導体膜とポリイミドフィルムの剥
離強度を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing the peel strength between a base conductor film of the present invention and a polyimide film.

【図6】従来の接着剤を用いた絶縁性フレキシブル基板
の断面図である。
FIG. 6 is a sectional view of an insulating flexible substrate using a conventional adhesive.

【図7】従来の接着剤を用いない絶縁性フレキシブル基
板の断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view of a conventional insulating flexible substrate not using an adhesive.

【図8】従来のフィルムキャリアの1例を示す概観斜視
図である。
FIG. 8 is a schematic perspective view showing an example of a conventional film carrier.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 絶縁性フレキシブル基板 2 RIEによる表面粗化層 3 無電解銅析出用Pd核膜 4 下地導体膜 5 バンプ 6 インナーリード部 7 アウターリード部 8 導波路用導体膜 9 直流電源用配線 10 開口部 11 コプレーナ導波路 12 第1ホトレジスト膜 13 電解めっき膜 14 第2ホトレジスト膜 15 第3ホトレジスト膜 16 導体層 17 接着剤 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Insulating flexible board 2 Surface roughening layer by RIE 3 Pd nucleation film for electroless copper deposition 4 Base conductor film 5 Bump 6 Inner lead part 7 Outer lead part 8 Conductor film for waveguide 9 DC power supply wiring 10 Opening 11 Coplanar waveguide 12 First photoresist film 13 Electroplating film 14 Second photoresist film 15 Third photoresist film 16 Conductive layer 17 Adhesive

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】絶縁性フレキシブル基板と、この絶縁性フ
レキシブル基板上に形成された高周波用電極,バイアス
供給用電極,接地用電極と、これら各電極に接続された
リードから構成され、半導体素子を実装するためのフィ
ルムキャリア用テープの製造方法において、前記絶縁性
フレキシブル基板上の全面を反応性イオンエッチング法
により表面粗化する工程と、次いで、無電解めっき法に
より下地導体膜を該絶縁性フレキシブル基板上に形成す
る工程を含むことを特徴とするフィルムキャリア用テー
プの製造方法。
1. A semiconductor element comprising an insulating flexible substrate, a high-frequency electrode, a bias supply electrode, and a grounding electrode formed on the insulating flexible substrate, and leads connected to these electrodes. In the method of manufacturing a tape for a film carrier for mounting, a step of surface roughening the entire surface of the insulating flexible substrate by a reactive ion etching method, and then forming the base flexible conductive film by an electroless plating method. A method for producing a tape for a film carrier, comprising a step of forming the tape on a substrate.
【請求項2】請求項1記載のフィルムキャリア用テープ
を用い、絶縁性フレキシブル基板上に形成された下地導
体膜上に、高周波用電極,バイアス供給用電極,接地用
電極と、これら各電極に接続されたリードとを電解めっ
き法で形成する工程と、前記各電極に接続されたリード
の先端に、突起状の金属を形成する工程と、前記絶縁性
フレキシブル基板にエッチングにより開口部を形成する
工程とを含むことを特徴とするフィルムキャリアの製造
方法。
2. A high-frequency electrode, a bias supply electrode, and a grounding electrode, on the base conductor film formed on the insulating flexible substrate, using the tape for a film carrier according to claim 1. Forming a connected lead by electrolytic plating, forming a protruding metal at the tip of the lead connected to each electrode, and forming an opening in the insulating flexible substrate by etching. And a process for producing a film carrier.
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