JP2878871B2 - Gas detector - Google Patents

Gas detector

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JP2878871B2
JP2878871B2 JP18689191A JP18689191A JP2878871B2 JP 2878871 B2 JP2878871 B2 JP 2878871B2 JP 18689191 A JP18689191 A JP 18689191A JP 18689191 A JP18689191 A JP 18689191A JP 2878871 B2 JP2878871 B2 JP 2878871B2
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和成 山本
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザのように
温度に応じて発振波長が連続的に変化するレーザ素子を
用いて複数の種類のガスを含む混合ガスの成分および濃
度を検知するガス検知装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gas for detecting components and concentrations of a mixed gas containing a plurality of types of gases by using a laser element such as a semiconductor laser whose oscillation wavelength changes continuously according to temperature. It relates to a detection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】特定波長のレーザ光がある種の気体に吸
収されやすいことを利用してガスの有無を検出できるこ
とが知られており、この原理を応用したセンシング技術
が工業計測、公害監視などに広く用いられている。一例
として、He−Neレーザにより発生されるレーザ光の
3.3922μmの発振線はメタンに強く吸収されるこ
とを利用してメタンの有無を感度よく検出することが可
能である。メタンは都市ガスの主成分であるのでメタン
ガスの検出によって都市ガスの漏洩が検知できる。しか
し半導体レーザを用いてガス検知を行う場合にはレーザ
素子が温度により発振波長を大きく変えるので、レーザ
光の発振波長をガスの吸収線の中心波長に合わせて安定
化する必要がある。
2. Description of the Related Art It is known that the presence or absence of gas can be detected by utilizing the fact that laser light of a specific wavelength is easily absorbed by a certain kind of gas. Sensing technology using this principle is used for industrial measurement, pollution monitoring, etc. Widely used for As an example, the presence or absence of methane can be detected with high sensitivity by utilizing the fact that the 3.3922 μm oscillation line of the laser light generated by the He—Ne laser is strongly absorbed by methane. Since methane is the main component of city gas, leakage of city gas can be detected by detecting methane gas. However, when gas detection is performed using a semiconductor laser, the oscillation wavelength of the laser beam must be stabilized in accordance with the center wavelength of the absorption line of the gas because the laser element greatly changes the oscillation wavelength depending on the temperature.

【0003】そこで本願出願人は平成3年6月28日付
けで半導体レーザ素子の発振波長を正確に制御するよう
にしたガス検知装置について出願し、図2はその温度制
御部のブロック線図である。
[0003] Accordingly, the applicant of the present application filed an application on June 28, 1991 for a gas detection device in which the oscillation wavelength of a semiconductor laser device was accurately controlled, and FIG. 2 is a block diagram of a temperature control unit. is there.

【0004】図2において所定の周波数成分を持つ電流
で変調された半導体レーザ素子1から発生されたレーザ
光の一部L2 がガスの封入されたセル2を通過し、この
セル2を通過したレーザ光がフォトダイオード3で検出
され、フォトダイオード3の出力電流が、抵抗器4およ
びオペアンプ5からなる電流電圧変換器6によって図3
の信号Aに示すような電圧に変換される。変換された電
圧が位相敏感検波器7に入力されると、図示しない1次
の位相敏感検波信号(以下f信号)が出力端子8に出力
される。
In FIG. 2, a portion L 2 of a laser beam generated from a semiconductor laser device 1 modulated by a current having a predetermined frequency component passes through a cell 2 filled with gas and passes through the cell 2. Laser light is detected by the photodiode 3, and the output current of the photodiode 3 is detected by a current-voltage converter 6 including a resistor 4 and an operational amplifier 5 as shown in FIG.
Is converted into a voltage as shown by a signal A. When the converted voltage is input to the phase-sensitive detector 7, a first-order phase-sensitive detection signal (f signal) (not shown) is output to the output terminal 8.

【0005】位相敏感検波器7の出力信号は抵抗器9、
10、可変抵抗器11およびオペアンプ12からなるオ
フセット調整器13に送出されて、位相敏感検波器7の
出力信号からオフセットを取り除いた信号が誤差信号と
してPID(Proportional,Integr
al and Differential 比例、積分
および微分)コントローラ14に送出され、このPID
コントローラ14の出力電圧によってペルチェ素子15
の両面の表面温度がそれぞれ所定の温度に調整される。
The output signal of the phase sensitive detector 7 is a resistor 9,
10, a signal obtained by removing the offset from the output signal of the phase sensitive detector 7 and sent to the offset adjuster 13 including the variable resistor 11 and the operational amplifier 12 is used as an error signal as a PID (Proportional, Integr) signal.
al and Differential), and the PID
Peltier device 15 is controlled by the output voltage of controller 14.
The surface temperatures of both surfaces are adjusted to predetermined temperatures.

【0006】一般にf信号は電流電圧変換器6の出力信
号を1階微分したものであるためオフセットは、半導体
レーザ素子の入出力特性において入力電流の増加にとも
なって出力が増加するときの傾きによって発生する。
In general, the f signal is the first-order derivative of the output signal of the current-to-voltage converter 6, and the offset is determined by the slope of the input / output characteristics of the semiconductor laser device when the output increases as the input current increases. Occur.

【0007】近赤外半導体レーザ素子1は、レーザ素子
自体の温度が高くなるとレーザ光の波長が長くなり、レ
ーザ素子自体の温度が低くなると波長が短くなる特性を
有しているので、この半導体レーザ素子1に取り付けら
れたペルチェ素子15の温度を制御することによってレ
ーザ光の波長が制御される。なおPIDコントローラ1
4は、入力信号を比例、積分および微分したものを所定
の割合で加え合わせて、制御対象としてのペルチェ素子
15の温度を制御するのに必要な電圧に変換する。また
特定の吸収波長を有するガスの検知には図3の信号Bに
示すような2次の位相敏感検波信号(2f信号)が用い
られる。図3の信号Bは半導体レーザ素子の温度に対す
る電流電圧変換器の出力電圧と、位相敏感検波器の2次
の出力電圧の特性の一例を表わす。横軸は半導体レーザ
素子の温度、縦軸は出力電圧である。ここでピーク群P
1 およびP2 の横軸は温度であるが、この温度は波長に
比例しており、セル2内のガスの吸収波長に対応してい
るのでこれらピーク群P1およびP2 の位置によりガス
の成分を、またピークの高さからその濃度を検知するこ
とができる。
The near-infrared semiconductor laser device 1 has a characteristic that the wavelength of the laser beam becomes longer when the temperature of the laser device itself becomes higher, and the wavelength becomes shorter when the temperature of the laser device itself becomes lower. The wavelength of the laser light is controlled by controlling the temperature of the Peltier element 15 attached to the laser element 1. PID controller 1
Reference numeral 4 denotes a signal required to control the temperature of the Peltier element 15 as a control target by adding the input signal proportionally, integrated, and differentiated at a predetermined ratio. For detection of a gas having a specific absorption wavelength, a secondary phase-sensitive detection signal (2f signal) as shown by a signal B in FIG. 3 is used. A signal B in FIG. 3 represents an example of the characteristics of the output voltage of the current-voltage converter with respect to the temperature of the semiconductor laser device and the secondary output voltage of the phase-sensitive detector. The horizontal axis is the temperature of the semiconductor laser device, and the vertical axis is the output voltage. Here the peak group P
Although 1 and the horizontal axis P 2 is a temperature, the temperature is proportional to the wavelength, the position of these peaks P 1 and P 2 so compatible that the absorption wavelength of the gas in the cell 2 of the gas The component and its concentration can be detected from the peak height.

【0008】位相敏感検波器7は、測定すべき信号の中
から特定の周波数且つ特定の位相をもつ成分だけを抽出
し、復調する。図3に示す曲線Bは位相敏感検波器の2
f信号であり、信号Aを波長に関して2階微分したもの
に相当する。この2f信号が用いられるのは、メタンの
吸収線の中心に安定化されたレーザ光をフォトダイオー
ド3で受けた場合、温度、圧力等他の条件が変化しなけ
れば2f信号の強度がメタン濃度に比例するためであ
る。
The phase sensitive detector 7 extracts only a component having a specific frequency and a specific phase from a signal to be measured, and demodulates it. The curve B shown in FIG.
f signal, which corresponds to the signal A that is second-order differentiated with respect to wavelength. The 2f signal is used because when the laser beam stabilized at the center of the absorption line of methane is received by the photodiode 3, unless the other conditions such as temperature and pressure change, the intensity of the 2f signal indicates the methane concentration. Because it is proportional to

【0009】また、これとは別の方法として、半導体レ
ーザ素子1とペルチェ素子15との間の熱伝導板16の
側面に熱電対を取り付けて、この熱電対から得られる電
圧と、測定ガスの波長に対応する電圧を発生する電圧発
生器の出力電圧との差に基づいてペルチェ素子15の印
加電圧を制御することで半導体レーザ素子1の発振波長
を制御する方法が提案されている。
As another method, a thermocouple is attached to a side surface of a heat conductive plate 16 between the semiconductor laser device 1 and the Peltier device 15, and a voltage obtained from the thermocouple and a voltage of a measurement gas are measured. A method has been proposed in which the oscillation wavelength of the semiconductor laser device 1 is controlled by controlling the applied voltage of the Peltier device 15 based on the difference from the output voltage of a voltage generator that generates a voltage corresponding to the wavelength.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら図2に示
すガス検知装置を含む従来のガス検知装置では、いずれ
の方法においても半導体レーザ素子の発振波長が一定で
あるためにその波長に対応する1種類のガスしか検知で
きないので、混合ガスを検知する場合には各ガスに対応
した発振波長を有する複数のガス検知装置が必要にな
る。
However, in the conventional gas detecting device including the gas detecting device shown in FIG. 2, since the oscillation wavelength of the semiconductor laser element is constant in any method, one type corresponding to the wavelength is used. Therefore, when detecting a mixed gas, a plurality of gas detectors having oscillation wavelengths corresponding to each gas are required.

【0011】本発明は、上記の点にかんがみてなされた
ものであり、その目的は1台のガス検知装置で複数の種
類のガスを含む混合ガスの成分および濃度の検知を行う
ことにある。
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to detect the components and concentrations of a mixed gas containing a plurality of types of gases with a single gas detection device.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記の目的は、本発明に
よると、温度に応じて発振波長が連続的に変化するレー
ザと、該レーザにより発生されるレーザ光が通過する位
置に設けられ参照雰囲気として測定対象となる複数のガ
スが封入されたセルと、前記参照雰囲気の吸収波長に応
じて異なる複数の電圧を選択可能に発生する電圧発生手
段と、該電圧発生手段の出力に基づいて前記レーザが選
択波長のレーザ光を発振するように前記レーザの温度を
制御する温度制御手段とを備えたことを特徴とするガス
検知装置によって達成できる。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is provided a laser whose oscillation wavelength continuously changes in accordance with the temperature, and a laser beam generated by the laser.
The multiple atmospheres to be measured as reference atmospheres
A cell in which the laser is sealed, voltage generating means for selectively generating a plurality of different voltages according to the absorption wavelength of the reference atmosphere, and the laser selecting based on an output of the voltage generating means.
A temperature control means for controlling the temperature of the laser so as to oscillate a laser beam of a selected wavelength.

【0013】[0013]

【作用】本発明のガス検知装置は、レーザ素子の温度に
応じて波長の変化するレーザ光が通過する参照雰囲気中
のガスの吸収波長に応じて電圧発生手段により異なる複
数の電圧を選択可能に発生し、この電圧発生手段の出力
に基づいてレーザ素子の温度が雰囲気中の各ガス毎に異
なる所定の温度になり、選択された波長のレーザ光を発
振する。
According to the gas detecting device of the present invention, a plurality of different voltages can be selected by the voltage generating means according to the absorption wavelength of the gas in the reference atmosphere through which the laser beam whose wavelength changes according to the temperature of the laser element. Then, based on the output of the voltage generating means, the temperature of the laser element becomes a predetermined temperature which differs for each gas in the atmosphere, and a laser beam having a selected wavelength is oscillated.

【0014】[0014]

【実施例】以下本発明を図面に基づいて説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】図1は本発明によるガス検知装置の温度制
御部の一実施例の概略構成図である。なお、本実施例で
は検出すべき雰囲気中のガスの種類が3種類の場合で、
後述する混合ガスは3種類のガスが混合されている。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of one embodiment of a temperature control unit of a gas detection device according to the present invention. In this embodiment, there are three types of gases in the atmosphere to be detected.
A mixed gas described later is a mixture of three types of gases.

【0016】ガス検知装置の温度制御部は、半導体レー
ザ素子20と、セル21と、フォトダイオード22と、
第1の温度制御部23と、第2の温度制御部24とで構
成されている。第1の温度制御部23は、ペルチェ素子
25と、ウィンドコンパレータ26と、PIDコントロ
ーラ27と、第1の電圧発生器28と、遅延バッファ2
9とで構成されており、第2の温度制御部24は、ペル
チェ素子30と、電流電圧変換器31と、位相敏感検波
器32と、第2の電圧発生器33と、引き算器34と、
PIDコントローラ35とで構成されている。
The temperature control unit of the gas detector includes a semiconductor laser element 20, a cell 21, a photodiode 22,
It comprises a first temperature control unit 23 and a second temperature control unit 24. The first temperature control unit 23 includes a Peltier device 25, a window comparator 26, a PID controller 27, a first voltage generator 28, and a delay buffer 2
9, the second temperature control unit 24 includes a Peltier device 30, a current-voltage converter 31, a phase-sensitive detector 32, a second voltage generator 33, a subtractor 34,
And a PID controller 35.

【0017】半導体レーザ素子20は、熱伝導板36を
介してペルチェ素子30に取り付けられており、このペ
ルチェ素子30は、側面に熱電対37が取り付けられた
熱伝導板38に接合されており、この熱伝導板38の反
対側(図の下側)にはペルチェ素子25が取り付けられ
ている。
The semiconductor laser device 20 is mounted on a Peltier device 30 via a heat conductive plate 36. The Peltier device 30 is bonded to a heat conductive plate 38 having a thermocouple 37 mounted on a side surface. The Peltier element 25 is mounted on the opposite side (lower side in the figure) of the heat conduction plate 38.

【0018】半導体レーザ素子20は位相敏感検波器3
2の変調周波数に等しい周波数で変調されており、その
発振波長は、前述のようにレーザ素子自体の温度が高い
と長くなり、素子自体の温度が低いと短くなる特性を有
している。半導体レ−ザ素子20から発光されるレーザ
光の一部L2 (図の左方向に発光されるレーザ光)は参
照雰囲気としての混合ガスが封入されたセル21を通過
する。
The semiconductor laser element 20 is a phase sensitive detector 3
The laser is modulated at a frequency equal to the modulation frequency of 2, and its oscillation wavelength has a characteristic that it becomes longer when the temperature of the laser element itself is high and becomes shorter when the temperature of the element itself is low as described above. A part L 2 of the laser light emitted from the semiconductor laser element 20 (the laser light emitted in the left direction in the figure) passes through a cell 21 in which a mixed gas is sealed as a reference atmosphere.

【0019】一般に、ペルチェ素子はペルチェ効果を利
用した素子で、2種類の金属または半導体を接合して電
流を流すと、ジュール熱が発生する以外に、その接合部
で熱を発生するかまたは熱の吸収が起こる。なお、この
現象は電流を流す方向を逆にすると発熱と吸熱とが逆に
なる。
Generally, a Peltier element is an element utilizing the Peltier effect. When two kinds of metals or semiconductors are joined and an electric current is applied, not only Joule heat is generated but also heat is generated at the junction or heat is generated. Absorption occurs. In this phenomenon, when the direction in which the current flows is reversed, heat generation and heat absorption are reversed.

【0020】図4はペルチェ効果を説明するための説明
図である。図のようにP型半導体とN型半導体とを導体
aで接続し、P型半導体の電極bとN型半導体の電極c
との間に電池Eを接続すると電極aが発熱するとともに
電極bおよびcが吸熱する。このような素子を複数組み
合わせることによって発熱量や吸熱量を増加させること
ができる。ペルチェ素子の印加電圧を変化させたり、極
性を反転させることにより、ペルチェ素子25、30の
近傍に設けられた半導体レ−ザ素子20の温度を変化さ
せ、レーザ光の波長を変化させることができる。なお、
ペルチェ素子25および30は、熱伝導板38に接合さ
れている面が同時に発熱または吸熱する。
FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining the Peltier effect. As shown in the figure, a P-type semiconductor and an N-type semiconductor are connected by a conductor a, and a P-type semiconductor electrode b and an N-type semiconductor electrode c.
When the battery E is connected between the electrodes, the electrode a generates heat and the electrodes b and c absorb heat. By combining a plurality of such elements, the amount of heat generated and the amount of heat absorbed can be increased. By changing the voltage applied to the Peltier element or inverting the polarity, the temperature of the semiconductor laser element 20 provided near the Peltier elements 25 and 30 can be changed, and the wavelength of the laser beam can be changed. . In addition,
The surfaces of the Peltier elements 25 and 30 that are joined to the heat conducting plate 38 simultaneously generate or absorb heat.

【0021】この実施例においては、熱電対37はゼー
ベック効果(2種類の金属の接続点の温度を高温にする
と、温度に応じて金属に電流が流れる現象)を利用する
ことにより熱伝導板38の接続点の温度を測定する目的
で設けられており、その一端は接地されており、他端に
おける電圧はウィンドコンパレータ26に入力されてい
る。
In this embodiment, the thermocouple 37 utilizes the Seebeck effect (a phenomenon in which a current flows through a metal in accordance with the temperature when the temperature of the connection point between two metals is raised). The one end is grounded, and the voltage at the other end is input to the window comparator 26.

【0022】ウィンドコンパレータ26は、オペアンプ
41aと、抵抗器41b、41cとで構成された引き算
器41と、コンパレータ42とで構成されており、第1
の電圧発生器28は、検知すべきガスの種類の数だけの
可変抵抗器をもち、仮に3種類のガスを検知するものと
すると、可変抵抗器43〜45及びこれらの可変抵抗器
43〜45を切換えるためのスイッチ46とで構成され
ている。引き算器41は、熱電対37の出力電圧V
37と、セル21内の測定雰囲気としてのガスの吸収波長
に対応する電圧に設定された可変抵抗器43〜45の摺
動子に接続されたスイッチ46の電圧V28との差に基づ
いて信号を出力する。スイッチ46の数は図では3個で
あるが、これに限定されず検知するガスの種類に応じて
増減してもよい。引き算器41は熱電対37の出力電圧
37から電圧V28を引き算して得られる電圧を誤差信号
としてPIDコントローラ27に出力する。ウィンドコ
ンパレータ26は熱電対37の出力電圧V37、すなわち
熱伝導板38の接合部の温度が所定の範囲外にあるとき
は、たとえば「0」論理レベルの信号を遅延バッファ2
9に出力し、熱伝導板38の接合部の温度が所定の範囲
内にあるときは「1」論理レベルの信号を遅延バッファ
29に出力する。ペルチェ素子25による半導体レーザ
素子20の温度制御による半導体レーザ素子20の温度
が安定するのに時間がかかるため、ウィンドコンパレー
タ26からの出力信号は、遅延バッファ29によって熱
電対37の出力電圧V37が安定するまでの時間待機した
後リレー47に入力される。
The window comparator 26 is composed of an operational amplifier 41a, a subtractor 41 composed of resistors 41b and 41c, and a comparator 42.
The voltage generator 28 has variable resistors as many as the types of gases to be detected. If it is assumed that three types of gases are to be detected, the variable resistors 43 to 45 and these variable resistors 43 to 45 And a switch 46 for switching between. The subtractor 41 calculates the output voltage V of the thermocouple 37.
37, on the basis of the difference between the voltage V 28 of the switch 46 connected to the slider of the variable resistor 43 to 45 is set to a voltage corresponding to the absorption wavelength of the gas as measurement atmosphere in the cell 21 signals Is output. Although the number of the switches 46 is three in the drawing, the number is not limited thereto, and may be increased or decreased according to the type of gas to be detected. The subtracter 41 outputs a voltage obtained by subtracting the voltage V 28 from the output voltage V 37 of the thermocouple 37 to the PID controller 27 as an error signal. When the output voltage V 37 of the thermocouple 37 , that is, the temperature of the junction of the heat conduction plate 38 is out of the predetermined range, the window comparator 26 outputs a signal of, for example, “0” logic level to the delay buffer 2.
9, and outputs a signal of logic level “1” to the delay buffer 29 when the temperature of the junction of the heat conductive plate 38 is within a predetermined range. Since it takes time for the temperature of the semiconductor laser device 20 to stabilize due to the temperature control of the semiconductor laser device 20 by the Peltier device 25, the output signal from the window comparator 26 is output by the delay buffer 29 by the output voltage V 37 of the thermocouple 37. The signal is input to the relay 47 after waiting for a period of time until stabilization.

【0023】電流電圧変換器31は、抵抗器48とオペ
アンプ49とで構成されており、フォトダイオード22
の出力電流を電圧に変換する。
The current-to-voltage converter 31 includes a resistor 48 and an operational amplifier 49.
Is converted to a voltage.

【0024】位相敏感検波器32は、前述のように測定
すべき信号を特定の周波数で変調し、変調された信号の
中から特定の周波数且つ特定の位相をもつ成分だけを抽
出し、復調し、出力する。これにより、極めて高いS/
N比で微小信号の検出を行うことができる。
The phase sensitive detector 32 modulates the signal to be measured at a specific frequency as described above, extracts only a component having a specific frequency and a specific phase from the modulated signal, and demodulates it. ,Output. Thereby, extremely high S /
A small signal can be detected at the N ratio.

【0025】一般に特定の周波数で変調されたレーザ光
が、特定の波長の光を吸収するガスを通過し、センサで
受光されると、このセンサの出力信号は直流成分のほか
に変調周波数と同じ周波数をもつ基本波成分およびその
高調波成分から成る。そのうち、基本波成分、2倍高調
波成分を位相敏感検波器で位相敏感検波すると、それぞ
れ周波数に関する数5、数6に示すような1次微分、2
次微分に対応する信号を得ることができる。2次微分信
号は、特定の吸収波長を有するガスの検知およびガスの
濃度測定に用いられ、1次微分信号は、レーザ光の発振
周波数を特定の周波数に安定化するのに用いられる。
In general, when a laser beam modulated at a specific frequency passes through a gas that absorbs light of a specific wavelength and is received by a sensor, the output signal of the sensor has a DC component and the same as the modulation frequency. It consists of a fundamental wave component having a frequency and its harmonic components. When the fundamental wave component and the second harmonic component are phase-sensitive detected by the phase-sensitive detector, the first derivative and the second derivative as shown in Expressions 5 and 6, respectively, are obtained.
A signal corresponding to the second derivative can be obtained. The secondary differential signal is used for detecting a gas having a specific absorption wavelength and measuring the concentration of the gas, and the primary differential signal is used for stabilizing the oscillation frequency of the laser light to a specific frequency.

【0026】一般に、半導体レーザの発振角周波数Ωは
温度と駆動電流との関数であるが、温度を一定として駆
動電流を角周波数ω(2πf)で変調すると、Ωは数1
にしたがって角周波数ωで変調される。
In general, the oscillation angular frequency Ω of a semiconductor laser is a function of the temperature and the drive current. When the drive current is modulated at an angular frequency ω (2πf) with the temperature kept constant, Ω becomes
At the angular frequency ω.

【0027】[0027]

【数1】Ω=Ω0 +ΔΩcosωt ここで、Ω0 は半導体レーザの中心発振角周波数、ΔΩ
は発振角周波数変調振幅を、ωは変調周波数である。
Ω = Ω 0 + ΔΩ cosωt where Ω 0 is the central oscillation angular frequency of the semiconductor laser, ΔΩ
Is the oscillation angular frequency modulation amplitude, and ω is the modulation frequency.

【0028】発振角周波数変調振幅ΔΩは小さいので数
2で表されるレーザ光の透過率TをΩ=Ω0 においてテ
ーラ展開し、ΔΩの2次の項まで計算すると数4とな
る。
The oscillation angular frequency modulation amplitude [Delta] [omega is Taylor expand the transmittance T of the laser beam is represented by the number 2 in the Omega = Omega 0 is smaller, the number 4 is calculated up to the second order term of [Delta] [omega.

【0029】[0029]

【数2】T=exp(−αcL) ここで、αはメタンの吸収係数、cはメタンの濃度(分
圧)、Lは光路長、Tはレーザ光の透過率(フォトダイ
オード22の出力電流に比例する)である。特にαは大
気圧中では、一つの吸収線に着目すると次の数3に示す
ようなローレンツ型の周波数依存特性を有する。
T = exp (−αcL) where α is the absorption coefficient of methane, c is the concentration (partial pressure) of methane, L is the optical path length, and T is the transmittance of laser light (the output current of the photodiode 22). Is proportional to). In particular, α has a Lorentz-type frequency-dependent characteristic as shown in the following Expression 3 when focusing on one absorption line at atmospheric pressure.

【0030】[0030]

【数3】α=γ2 α0 /((Ω−ωm2 +γ2 ) ここで、ωm は吸収線の中心周波数、α0 、γは定数で
ある。
Α = γ 2 α 0 / ((Ω−ω m ) 2 + γ 2 ) where ω m is the center frequency of the absorption line, and α 0 and γ are constants.

【0031】[0031]

【数4】 T=T0 +(ΔΩ)20 ″/4+ΔΩT0 ′cosωt +((ΔΩ)20 ″cos2ωt)/4+… となり、直流成分のほか、cosωtとcos2ωtに
従って変化する成分をもつ。ここで、T0 、T0 ′、T
0 ″はΩ=Ω0 におけるそれぞれ透過率T、その1次微
分dT/dΩ、および2次微分d2 T/dΩ2 の値であ
り、以下数5、数6、数7のように与えられる。
[Number 4] T = T 0 + (ΔΩ) 2 T 0 "/ 4 + ΔΩT 0 'cosωt + ((ΔΩ) 2 T 0" cos2ωt) / 4 + ... , and the addition of the DC component, the component that varies according to cosωt and cos2ωt Have. Where T 0 , T 0 ′, T
0 ″ is the value of the transmittance T at Ω = Ω 0 , its first derivative dT / dΩ, and its second derivative d 2 T / dΩ 2 , respectively, and is given as Equations 5, 6, and 7 below. .

【0032】[0032]

【数5】 T0 =1−γ2 α0 cL/[(Ω0 −ωm2 +γ2T 0 = 1−γ 2 α 0 cL / [(Ω 0 −ω m ) 2 + γ 2 ]

【0033】[0033]

【数6】 T0 ′=2(Ω0 −ωm )γ2 α0 cL/[(Ω0 −ωm2 +γ22 T 0 ′ = 2 (Ω 0 −ω m ) γ 2 α 0 cL / [(Ω 0 −ω m ) 2 + γ 2 ] 2

【0034】[0034]

【数7】 T0 ″= −2[ 3 (Ω0 −ωm)2 −γ22 α0 cL/[(Ω0 −ωm)2 +γ2]3 なお、数6は1次の位相敏感検波信号fに対応し、数7
は2次の位相敏感検波信号2fに対応する。
T 0 ″ = −2 [3 (Ω 0 −ω m ) 2 −γ 2 ] γ 2 α 0 cL / [(Ω 0 −ω m ) 2 + γ 2 ] 3 Equation 7 corresponding to the phase-sensitive detection signal f of
Corresponds to the second-order phase-sensitive detection signal 2f.

【0035】引き算器34は、抵抗器51、52とオペ
アンプ53で構成されており、位相敏感検波器32の出
力電圧から第2の電圧発生器33の電圧V33を引いた電
圧をPIDコントローラ35に送出する。
The subtracter 34, resistors 51 and 52 is constituted by an operational amplifier 53, the voltage PID controller 35 drawn from the output voltage of the phase sensitive detector 32 the voltage V 33 of the second voltage generator 33 To send to.

【0036】第2の電圧発生器33は、一端が接地され
ており、他端が電源に接続されている可変抵抗器54〜
56と、各可変抵抗器54〜56を切換えるためのスイ
ッチ57とで構成されており、このスイッチ57は前述
のスイッチ46に連動している。半導体レーザ素子20
には前述したように、入出力特性におけるオフセットが
ある。このオフセットは半導体素子20の種類によって
ばらつきがあるので除去する必要がある。可変抵抗器5
4〜56の各摺動子における電圧は、第1の電圧発生器
28の各可変抵抗器43〜45で規制される半導体レー
ザ素子20の発振波長に対応するオフセット分、すなわ
ち位相敏感検波器32の1次微分信号のオフセット電圧
に等しい電圧に設定されており、スイッチ57を介して
引き算器34に電圧V33として印加される。
The second voltage generator 33 has one end grounded and the other end connected to a power supply.
56, and a switch 57 for switching each of the variable resistors 54 to 56. The switch 57 is linked to the switch 46 described above. Semiconductor laser device 20
Has an offset in the input / output characteristics as described above. This offset needs to be removed because it varies depending on the type of the semiconductor element 20. Variable resistor 5
The voltage at each of the sliders 4 to 56 corresponds to an offset corresponding to the oscillation wavelength of the semiconductor laser device 20 regulated by each of the variable resistors 43 to 45 of the first voltage generator 28, that is, the phase-sensitive detector 32. And is applied as a voltage V 33 to the subtractor 34 via the switch 57.

【0037】リレー47は遅延バッファ29の出力が
「1」のときのみPIDコントローラ35の出力電圧ま
たは電流がペルチェ素子30に印加される。
The relay 47 applies the output voltage or current of the PID controller 35 to the Peltier element 30 only when the output of the delay buffer 29 is "1".

【0038】次に本発明のガス検知装置の動作を説明す
る。
Next, the operation of the gas detector according to the present invention will be described.

【0039】なお、検知しようとする混合ガスを例え
ば、質量数12のメタン(12CH4 )と質量数13のメ
タン(13CH4 )との混合ガスとする。ガス検知に先立
ち、半導体レーザ素子20が12CH4 の吸収波長(1.
65373μm)に応じた波長を発振するような電圧を
発生するように、可変抵抗器43の摺動子を調整し、半
導体レーザ素子20が12CH4 の吸収波長に等しい波長
のレーザ光を発振するとき、位相敏感検波器32から出
力される1次の位相敏感検波信号のオフセット分に等し
い電圧を発生するように可変抵抗器54の摺動子を調整
しておく。同様に、半導体レーザ素子20が13CH4
吸収波長(1.65313μm)に応じた波長を発振す
るような電圧を発生するように、可変抵抗器44の摺動
子を調整し、半導体レーザ素子20が13CH4 の吸収波
長に等しい波長のレーザ光を発振するとき、位相敏感検
波器32から出力される1次の位相敏感検波信号のオフ
セット分に等しい電圧を発生するように可変抵抗器55
の摺動子を調整しておく。
The mixed gas to be detected is, for example, a mixed gas of methane having a mass number of 12 ( 12 CH 4 ) and methane having a mass number of 13 ( 13 CH 4 ). Prior to gas detection, the semiconductor laser device 20 detects the absorption wavelength of 12 CH 4 (1.
The slider of the variable resistor 43 is adjusted so as to generate a voltage that oscillates a wavelength corresponding to 65373 μm), and the semiconductor laser element 20 oscillates a laser beam having a wavelength equal to the absorption wavelength of 12 CH 4. At this time, the slider of the variable resistor 54 is adjusted so as to generate a voltage equal to the offset of the primary phase-sensitive detection signal output from the phase-sensitive detector 32. Similarly, the slider of the variable resistor 44 is adjusted so that the semiconductor laser element 20 generates a voltage such that the semiconductor laser element 20 oscillates a wavelength corresponding to the absorption wavelength of 13 CH 4 (1.63133 μm). When the laser 20 oscillates a laser beam having a wavelength equal to the absorption wavelength of 13 CH 4 , the variable resistor 55 generates a voltage equal to the offset of the primary phase-sensitive detection signal output from the phase-sensitive detector 32.
Adjust the slider of.

【0040】まず12CH4 を検知するために第1の電圧
発生器28のスイッチ46および第2の電圧発生器33
のスイッチ57を可変抵抗器43、54に切換えてお
く。
First, the switch 46 of the first voltage generator 28 and the second voltage generator 33 to detect 12 CH 4
Is switched to the variable resistors 43 and 54 in advance.

【0041】図1において、半導体レーザ素子20の温
度は熱電対37によって電圧V37に変換され、ウィンド
コンパレータ26に入力される。ウィンドコンパレータ
26は、熱電対37の出力電圧V37と第1の電圧発生器
28の可変抵抗器43で発生される電圧V28と比較し
(V28−V37)、熱電対37の電圧V37が電圧V28を超
えると、たとえば負の電圧をPIDコントローラ27に
送出し、PIDコントローラ27は熱電対37の接続点
の温度を下げるような電圧または電流をペルチェ素子2
5に印加するので、半導体レーザ素子20の温度が下が
る。これとは逆に電圧V37が電圧V28より低くなったと
きは、正の電圧をPIDコントローラ27に送出し、P
IDコントローラ27は熱電対37の接続点の温度を上
げるような逆の極性の電圧または電流をペルチェ素子2
5に印加するので、半導体レーザ素子20の温度が上が
り、その結果、半導体レーザ素子20は所定の温度とな
る。これにより半導体レーザ素子20は可変抵抗器43
で規制される波長のレーザ光を発振するが制御にはある
程度時間がかかる。
In FIG. 1, the temperature of the semiconductor laser device 20 is converted into a voltage V 37 by a thermocouple 37 and input to a window comparator 26. The window comparator 26 compares the output voltage V 37 of the thermocouple 37 with the voltage V 28 generated by the variable resistor 43 of the first voltage generator 28 (V 28 −V 37 ), and calculates the voltage V of the thermocouple 37. When the voltage exceeds the voltage V 28 , for example, a negative voltage is sent to the PID controller 27, and the PID controller 27 applies a voltage or a current that decreases the temperature of the connection point of the thermocouple 37 to the Peltier device 2.
5, the temperature of the semiconductor laser device 20 decreases. Conversely, when the voltage V 37 becomes lower than the voltage V 28 , a positive voltage is sent to the PID controller 27 and
The ID controller 27 applies a voltage or a current of the opposite polarity to increase the temperature of the connection point of the thermocouple 37 to the Peltier device 2.
5, the temperature of the semiconductor laser device 20 rises, and as a result, the semiconductor laser device 20 reaches a predetermined temperature. As a result, the semiconductor laser device 20
Although the laser light of the wavelength regulated by the above is oscillated, it takes some time for the control.

【0042】ウィンドコンパレータ26は、遅延バッフ
ァ29に「1」または「0」論理レベルの信号を送出す
る。遅延バッファ29はウィンドコンパレータ26から
「1」論理レベルの信号を入力すると所定の時間後にリ
レー47に「1」論理レベルの信号を送出する。
The window comparator 26 sends a "1" or "0" logic level signal to the delay buffer 29. The delay buffer 29 sends a signal of “1” logic level to the relay 47 after a predetermined time after receiving a signal of “1” logic level from the window comparator 26.

【0043】一方、半導体レーザ素子20からのレ−ザ
光の一部L2 がガスの封入されたセル21を通過してフ
ォトダイオード22に入射される。フォトダイオード2
2で検出されたレーザ光の出力電流が電流電圧変換器3
1によって電圧に変換される。変換された電圧が位相敏
感検波器32に入力されると、1次の位相敏感検波信号
(f信号)が端子50に出力されるとともに、引き算器
34に入力される。引き算器34には第2の電圧発生器
33の可変抵抗器54で発生される電圧も印加され、こ
の可変抵抗器54で発生される電圧によってオフセット
電圧が引かれた信号が誤差信号としてPIDコントロー
ラ35に送出され、このPIDコントローラ35の出力
電圧がリレー47に送出される。遅延バッファ29から
このリレー47へ送出される信号が「1」論理レベルの
ときだけペルチェ素子30にPIDコントローラ35の
出力電圧または電流が印加され、半導体レーザ素子20
の温度が所定の温度となる。これにより、第1の温度制
御部23で半導体レーザ素子20の大体の温度制御が行
われ、第2の温度制御部24で精密な温度制御が行われ
る。すなわち2重の温度制御が行われるので、正確な温
度制御が行われるだけでなく、急激な外部温度の変化の
影響を受けなくなり、半導体レーザ素子20から正確に
1.65373μmの波長のレーザ光が発振されるので
12CH4 が検知される。
On the other hand, a part L 2 of the laser light from the semiconductor laser element 20 passes through the cell 21 in which gas is sealed, and is incident on the photodiode 22. Photodiode 2
The output current of the laser light detected in 2 is a current-voltage converter 3
1 converts it to a voltage. When the converted voltage is input to the phase-sensitive detector 32, a first-order phase-sensitive detection signal (f signal) is output to a terminal 50 and also to a subtractor. The voltage generated by the variable resistor 54 of the second voltage generator 33 is also applied to the subtractor 34, and a signal from which the offset voltage is subtracted by the voltage generated by the variable resistor 54 is used as an error signal as a PID controller. The output voltage of the PID controller 35 is sent to the relay 47. The output voltage or current of the PID controller 35 is applied to the Peltier element 30 only when the signal sent from the delay buffer 29 to the
Becomes a predetermined temperature. As a result, the first temperature control unit 23 performs approximate temperature control of the semiconductor laser device 20, and the second temperature control unit 24 performs precise temperature control. That is, since double temperature control is performed, not only accurate temperature control is performed, but also there is no influence of a sudden change in external temperature, and laser light having a wavelength of 1.65373 μm is accurately emitted from the semiconductor laser element 20. Because it is oscillated
12 CH 4 is detected.

【0044】次に、13CH4 を検知するためにスイッチ
46、57を切り換えて、可変抵抗器44、55に接続
すると、第1の電圧発生器28から半導体レーザ素子2
0が13CH4 の吸収波長に応じた波長を発振するような
電圧を発生し、第2の電圧発生器33から位相敏感検波
器32より出力される1次の位相敏感検波信号のオフセ
ット分に等しい電圧を発生する。同様の制御が行われた
後、半導体レーザ素子20から正確に1.65313μ
mの波長のレーザ光が発振されるので13CH4が検知さ
れる。
Next, the switches 46 and 57 are switched to detect 13 CH 4 and connected to the variable resistors 44 and 55, and the first voltage generator 28 supplies the semiconductor laser device 2.
0 generates a voltage that oscillates a wavelength corresponding to the absorption wavelength of 13 CH 4 , and is used as an offset of the primary phase-sensitive detection signal output from the phase-sensitive detector 32 from the second voltage generator 33. Generates equal voltage. After the same control is performed, 1.65313 μm is accurately output from the semiconductor laser device 20.
Since a laser beam having a wavelength of m is oscillated, 13 CH 4 is detected.

【0045】前述の図3における各信号AおよびBはメ
タンの混合ガスの(12CH4 =60%、13CH4 =40
%)出力であり、信号Bのピーク群P112CH4 に対
応しており、ピーク群P213CH4に対応している。
ピーク群P1 の振幅はメタンガスの混合比60%を表わ
し、ピーク郡P2 の振幅は混合比40%を表わしてい
る。この他、13CH4 が1%で12CH4 が99%の割合
で混合された混合ガスの成分測定もできた。さらに、本
実施例ではメタンの検知を行ったがこれに限定されず、
半導体レーザ素子の種類を選べばアセチレンやその他の
ガスの検知もできる。
Each of the signals A and B in FIG. 3 described above indicates that ( 12 CH 4 = 60%, 13 CH 4 = 40) of the methane mixed gas.
%) Output, and the peak group P 1 of the signal B corresponds to 12 CH 4 , and the peak group P 2 corresponds to 13 CH 4 .
The amplitude of peaks P 1 represents a mixing ratio of 60% of the methane gas, the amplitude of the peak-gun P 2 represents a 40% mixing ratio. In addition, the composition of a mixed gas in which 13 CH 4 was mixed at 1% and 12 CH 4 at 99% was measured. Further, in the present embodiment, methane was detected, but the present invention is not limited to this.
Acetylene and other gases can be detected by selecting the type of semiconductor laser element.

【0046】このように熱電対37で半導体レーザ素子
20の温度を電圧V37として出力し、この電圧V37と電
圧V28との差に基づいて半導体レーザ素子20に取り付
けられたペルチェ素子25の大体の温度を制御し、半導
体レーザ素子20から出射されるレーザ光をセル21内
の参照雰囲気を介してフォトダイオード22で検出し、
位相敏感検波器32を介して電圧V32に変換し、電圧V
33との差に基づいて半導体レーザ素子20に取り付けら
れたペルチェ素子30の温度を制御することによって半
導体レーザ素子20の発振波長が正確に制御され且つ第
1の電圧発生器28の電圧V28および第2の電圧発生器
33の電圧V33をスイッチ46および57でそれぞれ切
り換えることにより複数種類の混合ガスの検知が可能と
なる。
The output temperature of the thus semiconductor laser device 20 with a thermocouple 37 as a voltage V 37, the Peltier element 25 which is attached to the semiconductor laser device 20 based on the difference between the voltage V 37 and the voltage V 28 Controlling the approximate temperature and detecting the laser light emitted from the semiconductor laser element 20 by the photodiode 22 via the reference atmosphere in the cell 21;
It converted into a voltage V 32 via a phase sensitive detector 32, voltage V
By controlling the temperature of the Peltier device 30 attached to the semiconductor laser device 20 on the basis of the difference from 33 , the oscillation wavelength of the semiconductor laser device 20 is accurately controlled, and the voltage V 28 of the first voltage generator 28 and By switching the voltage V33 of the second voltage generator 33 with the switches 46 and 57, respectively, it is possible to detect a plurality of types of mixed gas.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上、説明したように、本発明において
は、温度に応じて発振波長が連続的変化するレーザ
と、該レーザにより発生されるレーザ光が通過する位
に設けられ参照雰囲気として測定対象となる複数のガス
が封入されたセルと、前記参照雰囲気の吸収波長に応じ
て異なる複数の電圧を選択可能に発生する電圧発生手段
と、該電圧発生手段の出力に基づいて前記レーザが選択
波長のレーザ光を発振するように前記レーザの温度を制
御する温度制御手段とを備えたので、1台のガス検知装
置で複数の種類のガスの成分の検知を行うことができ
る。
Effect of the Invention] As described above, in the present invention, a laser for varying the oscillation wavelength continuously in accordance with the temperature, position the laser beam generated by the laser passes through location
Gases to be measured as reference atmospheres
And a voltage generating means for selectively generating a plurality of different voltages according to the absorption wavelength of the reference atmosphere, and the laser is selected based on an output of the voltage generating means.
Since a temperature control means for controlling the temperature of the laser so as to oscillate a laser beam having a wavelength is provided, a single gas detection device can detect a plurality of types of gas components.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるガス検知装置の温度制御部の一実
施例の概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an embodiment of a temperature control unit of a gas detection device according to the present invention.

【図2】本出願人によるガス検知装置の一例のブロック
線図である。
FIG. 2 is a block diagram of an example of a gas detection device according to the present applicant.

【図3】本発明のガス検知装置に用いられる半導体レー
ザ素子の温度に対する電流電圧変換器の出力電圧と、位
相敏感検波器の出力電圧の特性の一例を表すグラフであ
る。
FIG. 3 is a graph showing an example of a characteristic of an output voltage of a current-voltage converter and an output voltage of a phase-sensitive detector with respect to a temperature of a semiconductor laser element used in the gas detection device of the present invention.

【図4】ペルチェ効果を説明するための説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining a Peltier effect.

【符号の説明】 20 半導体レーザ素子 21 セル 22 フォトダイオード 23 第1の温度制御部 24 第2の温度制御部 25、30 ペルチェ素子 37 熱電対[Description of Signs] 20 Semiconductor laser element 21 Cell 22 Photodiode 23 First temperature control unit 24 Second temperature control unit 25, 30 Peltier element 37 Thermocouple

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01N 21/00-21/01 G01N 21/17-21/61

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 温度に応じて発振波長が連続的に変化す
るレーザと、該レーザにより発生されるレーザ光が通過
する位置に設けられ参照雰囲気として測定対象となる複
数のガスが封入されたセルと、前記参照雰囲気の吸収波
長に応じて異なる複数の電圧を選択可能に発生する電圧
発生手段と、該電圧発生手段の出力に基づいて前記レー
ザが選択波長のレーザ光を発振するように前記レーザの
温度を制御する温度制御手段とを備えたことを特徴とす
るガス検知装置。
1. A laser whose oscillation wavelength changes continuously according to temperature, and a laser beam generated by the laser passes therethrough.
To be measured as a reference atmosphere.
A cell filled with a number of gases, voltage generating means for selectively generating a plurality of different voltages according to the absorption wavelength of the reference atmosphere, and the laser based on the output of the voltage generating means.
A gas control device for controlling a temperature of the laser so that the laser oscillates a laser beam having a selected wavelength .
【請求項2】 前記温度制御手段が、前記レーザがあら
かじめ選択された測定対象ガスの吸収波長で発振する温
度の近傍になるように前記レーザの温度を制御する第1
の温度制御部と、前記レーザの入出力特性から前記吸収
発振波長に対応するオフセット分を除去して前記レーザ
による発振波長が前記吸収波長になるように前記レーザ
の温度を制御する第2の温度制御部とを有することを特
徴とする請求項1に記載のガス検知装置。
2. The temperature control means according to claim 1, wherein said laser is
Temperature that oscillates at the absorption wavelength of the preselected gas to be measured
The first is to control the temperature of the laser so as to be in the vicinity of degrees.
The temperature control unit and the laser
Removing the offset component corresponding to the oscillation wavelength,
The laser so that the oscillation wavelength of the laser becomes the absorption wavelength.
The gas detection device according to claim 1, further comprising a second temperature control unit that controls the temperature of the gas.
【請求項3】 前記第2の温度制御部が前記第1の温度
制御部より所定時間遅延して制御動作を開始する請求項
2に記載のガス検知装置
3. The method according to claim 2, wherein the second temperature control section is configured to control the first temperature.
The control operation is started after a predetermined time delay from the control unit.
3. The gas detection device according to 2 .
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