JP2874336B2 - 放電電極棒の劣化診断方法 - Google Patents
放電電極棒の劣化診断方法Info
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- JP2874336B2 JP2874336B2 JP33434290A JP33434290A JP2874336B2 JP 2874336 B2 JP2874336 B2 JP 2874336B2 JP 33434290 A JP33434290 A JP 33434290A JP 33434290 A JP33434290 A JP 33434290A JP 2874336 B2 JP2874336 B2 JP 2874336B2
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- Japan
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- electrode rod
- optical fiber
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、通信用光ファイバ等の融着接続装置におい
て、該装置に備えている光ファイバ側方観察系を用い
て、放電電極棒の劣化を診断する方法に関するものであ
る。
て、該装置に備えている光ファイバ側方観察系を用い
て、放電電極棒の劣化を診断する方法に関するものであ
る。
（従来の技術） 光ファイバの融着接続装置では、先端を鋭く加工した
１対の放電電極棒に高電圧を印加し、放電により生じた
熱によって光ファイバを溶解し、接続する。この際、溶
融した光ファイバの主成分であるSiO2は気化し、電極棒
の先端に付着する。同一の電極棒で放電を繰り返した場
合、電極棒の先端に堆積したSiO2によって放電状態が乱
れ、もはや安定した融着接続が不可能となる。
１対の放電電極棒に高電圧を印加し、放電により生じた
熱によって光ファイバを溶解し、接続する。この際、溶
融した光ファイバの主成分であるSiO2は気化し、電極棒
の先端に付着する。同一の電極棒で放電を繰り返した場
合、電極棒の先端に堆積したSiO2によって放電状態が乱
れ、もはや安定した融着接続が不可能となる。
このため、従来の融着接続装置では、放電回数計数用
のカウンタを組込むか、あるいは、放電回数を不揮発性
メモリに記憶させ、モニタに数値を表示する等の方法に
より、オペレータは、経験的に得た規定回数に達したら
放電電極棒を新しいものに交換していた。
のカウンタを組込むか、あるいは、放電回数を不揮発性
メモリに記憶させ、モニタに数値を表示する等の方法に
より、オペレータは、経験的に得た規定回数に達したら
放電電極棒を新しいものに交換していた。
（解決しようとする課題） 上述のように従来の融着接続装置では、単純に放電回
数のみ計数し、その回数を放電電極棒交換の目安として
いた。しかし、接続可能な光ファイバの構造及び心線数
が多種多様な融着接続装置では、その被接続光ファイバ
の種類によって、たとえ同一の放電回数でも、電極棒に
堆積するSiO2の量、即ち電極棒の劣化の度合が異なるの
で、放電回数を放電電極棒劣化の判断基準として用いる
のには問題があった。
数のみ計数し、その回数を放電電極棒交換の目安として
いた。しかし、接続可能な光ファイバの構造及び心線数
が多種多様な融着接続装置では、その被接続光ファイバ
の種類によって、たとえ同一の放電回数でも、電極棒に
堆積するSiO2の量、即ち電極棒の劣化の度合が異なるの
で、放電回数を放電電極棒劣化の判断基準として用いる
のには問題があった。
（課題を解決するための手段） 本発明は上述の問題点を解消した光ファイバ融着接続
装置における放電電極棒の劣化診断方法を提供するもの
で、その特徴は、被接続光ファイバを側方から照射する
光源、上記光ファイバを透過した光を撮像するカメラ及
びその透過像を画像処理する機構を備えた光ファイバ融
着接続装置の前記光ファイバ側方観察系を用いて放電電
極棒の側方形状を撮像し、その透過像を画像処理し、放
電電極棒に堆積したSiO2の堆積量から劣化を判断するこ
とにある。
装置における放電電極棒の劣化診断方法を提供するもの
で、その特徴は、被接続光ファイバを側方から照射する
光源、上記光ファイバを透過した光を撮像するカメラ及
びその透過像を画像処理する機構を備えた光ファイバ融
着接続装置の前記光ファイバ側方観察系を用いて放電電
極棒の側方形状を撮像し、その透過像を画像処理し、放
電電極棒に堆積したSiO2の堆積量から劣化を判断するこ
とにある。
（作用） 第１図は本発明の劣化診断方法を実現するためのハー
ドウエア構成図の一例である。図面において、（１）は
被接続光ファイバ、（２）は放電電極棒であって、光源
（３）からの照射光による光ファイバ（１）及び放電電
極棒（２）の側方透過像は、顕微鏡（４）で拡大され、
カメラ（５）で撮像される。この画像は画像処理装置
（IPU）（８）に送られ画像処理が行なわれる。なお、
図面において（６）は放電制御装置、（７）はCPU（中
央処理装置）を搭載したシステム制御装置（SCU）、
（９）はTVモニタである。
ドウエア構成図の一例である。図面において、（１）は
被接続光ファイバ、（２）は放電電極棒であって、光源
（３）からの照射光による光ファイバ（１）及び放電電
極棒（２）の側方透過像は、顕微鏡（４）で拡大され、
カメラ（５）で撮像される。この画像は画像処理装置
（IPU）（８）に送られ画像処理が行なわれる。なお、
図面において（６）は放電制御装置、（７）はCPU（中
央処理装置）を搭載したシステム制御装置（SCU）、
（９）はTVモニタである。
上述したように、光ファイバ融着接続装置では、接続
回数が増えるに従い白濁したSiO2が放電電極棒の先端に
堆積されていく。本発明の方法では、第１図に示したハ
ードウエア構成により、放電電極棒（２）の側方透過像
を光ファイバ（１）観察と併用した顕微鏡（４）で拡大
した後、カメラ（５）で撮像し、その映像信号はA/D変
換されてIPU（８）のメモリに取り込まれる。放電電極
棒（２）は金属であり、又そこに堆積したSiO2も白濁し
ているので、側方から照射した光は透過しない。第２図
（イ）は新品状態の放電電極棒、同図（ロ）は数百回接
続を行ないSiO2が堆積した状態の放電電極棒の側方透過
像である。
回数が増えるに従い白濁したSiO2が放電電極棒の先端に
堆積されていく。本発明の方法では、第１図に示したハ
ードウエア構成により、放電電極棒（２）の側方透過像
を光ファイバ（１）観察と併用した顕微鏡（４）で拡大
した後、カメラ（５）で撮像し、その映像信号はA/D変
換されてIPU（８）のメモリに取り込まれる。放電電極
棒（２）は金属であり、又そこに堆積したSiO2も白濁し
ているので、側方から照射した光は透過しない。第２図
（イ）は新品状態の放電電極棒、同図（ロ）は数百回接
続を行ないSiO2が堆積した状態の放電電極棒の側方透過
像である。
8bitのA/Dコンバータを用いて画面内の輝度レベルを
測定した場合、仮に画面内に放電電極棒あるいは光ファ
イバ等の遮光物がない、いわゆるバックグランドのレベ
ルを200以上に調整した時、放電電極棒及び堆積したSiO
2の部分の透過映像レベルは10以下であった。従って、S
CU（７）、IPU（８）を用いて、例えばスレッショルド
レベルを125程度に設定して２値化処理した場合、Ｏ（L
ow）の数をカウントすることで、放電電極棒及びSio2部
の面積（体積）が測定できる。あらかじめ、新品の放電
電極棒に交換した時点の面積（21）をメモリにインプッ
トしておき、接続を繰り返した後、SiO2の付着した放電
電極棒の面積（S22）を測定し、S21との差S22−S21が規
定値以上になった場合、放電電極棒の劣化と判定し、ア
ラーム又はモニタを用いてオペレータに放電電極棒の交
換を促すようにする。
測定した場合、仮に画面内に放電電極棒あるいは光ファ
イバ等の遮光物がない、いわゆるバックグランドのレベ
ルを200以上に調整した時、放電電極棒及び堆積したSiO
2の部分の透過映像レベルは10以下であった。従って、S
CU（７）、IPU（８）を用いて、例えばスレッショルド
レベルを125程度に設定して２値化処理した場合、Ｏ（L
ow）の数をカウントすることで、放電電極棒及びSio2部
の面積（体積）が測定できる。あらかじめ、新品の放電
電極棒に交換した時点の面積（21）をメモリにインプッ
トしておき、接続を繰り返した後、SiO2の付着した放電
電極棒の面積（S22）を測定し、S21との差S22−S21が規
定値以上になった場合、放電電極棒の劣化と判定し、ア
ラーム又はモニタを用いてオペレータに放電電極棒の交
換を促すようにする。
（実施例） 上述のように、第１図のハードウエア構成で放電電極
棒の劣化、即ちSiO2の堆積量を画像処理できる。この画
像処理ソフトウェアのアルゴリズム、画像計測の例を示
す。
棒の劣化、即ちSiO2の堆積量を画像処理できる。この画
像処理ソフトウェアのアルゴリズム、画像計測の例を示
す。
第２図は、第１図のハードウェアで撮られた放電電極
棒の使用前（同図イ）及び使用後（同図ロ）の側方透過
像に、劣化の判定結果をモニタ上にスーパーインポーズ
した例である。使用前の放電電極棒の透過像を画像処理
し、その投影面積S21を計測する。この値はSCU内不揮発
性メモリに記憶させておく。その後、融着接続装置を使
用し、放電を繰り返し行なった後、オペレータが必要に
応じ又は任意の放電回数毎に、自動的に放電電極棒の投
影面積S22を計測する。そして、S21との差、即ちS22−S
21がSiO2の堆積量を示し、この堆積量が増加すると光フ
ァイバの接続損失が増加する傾向にある。第３図はSiO2
の堆積量と接続損失の関係を示す一例であるが、低損失
を保証するためには、SiO2の堆積量を規定値以下に保つ
必要がある。第２図の画面上部のバーに斜線でSiO2の堆
積量（面積）を示し、上記規定値以下であればOK、それ
以上になった場合はNGとして電極棒の交換を促す。
棒の使用前（同図イ）及び使用後（同図ロ）の側方透過
像に、劣化の判定結果をモニタ上にスーパーインポーズ
した例である。使用前の放電電極棒の透過像を画像処理
し、その投影面積S21を計測する。この値はSCU内不揮発
性メモリに記憶させておく。その後、融着接続装置を使
用し、放電を繰り返し行なった後、オペレータが必要に
応じ又は任意の放電回数毎に、自動的に放電電極棒の投
影面積S22を計測する。そして、S21との差、即ちS22−S
21がSiO2の堆積量を示し、この堆積量が増加すると光フ
ァイバの接続損失が増加する傾向にある。第３図はSiO2
の堆積量と接続損失の関係を示す一例であるが、低損失
を保証するためには、SiO2の堆積量を規定値以下に保つ
必要がある。第２図の画面上部のバーに斜線でSiO2の堆
積量（面積）を示し、上記規定値以下であればOK、それ
以上になった場合はNGとして電極棒の交換を促す。
第４図は他のSiO2堆積量測定方法である。同一フレー
ム内に放電電極棒先端と、これに最も近い光ファイバ心
線を捕らえる。SiO2が堆積するに従い、光ファイバエッ
ジと電極棒先端との距離Ｌが短かくなるので、この距離
ＬよりSiO2の堆積量を推定できる。あらかじめ、使用前
の放電電極棒で距離L21を測定しておき、使用後の電極
棒での距離L22との差L22−L21を判定基準とするのは、
面積測定の場合と似ている。距離測定の場合、計測精度
は下がるが、画像処理プログラムは簡便となり、処理時
間も短かくなる。
ム内に放電電極棒先端と、これに最も近い光ファイバ心
線を捕らえる。SiO2が堆積するに従い、光ファイバエッ
ジと電極棒先端との距離Ｌが短かくなるので、この距離
ＬよりSiO2の堆積量を推定できる。あらかじめ、使用前
の放電電極棒で距離L21を測定しておき、使用後の電極
棒での距離L22との差L22−L21を判定基準とするのは、
面積測定の場合と似ている。距離測定の場合、計測精度
は下がるが、画像処理プログラムは簡便となり、処理時
間も短かくなる。
（発明の効果） 以上説明したように、本発明の放電電極棒の劣化診断
方法によれば、従来の放電回数のみで判断していたのに
比し、定量的に知ることが出来るので、交換時期をより
適切に判定することが可能となる。
方法によれば、従来の放電回数のみで判断していたのに
比し、定量的に知ることが出来るので、交換時期をより
適切に判定することが可能となる。
特に、１台の融着接続装置で構造、心線数の異なる多
種多様な光ファイバの接続が可能である万能型の融着接
続装置では、同一の放電回数でも選択した被接続光ファ
イバの種類によって放電電極棒の劣化、即ちSiO2の堆積
の進行速度が異なるので、実際にその度合を画像計測す
る本発明の劣化診断方法を利用するとき、極めて効果的
である。
種多様な光ファイバの接続が可能である万能型の融着接
続装置では、同一の放電回数でも選択した被接続光ファ
イバの種類によって放電電極棒の劣化、即ちSiO2の堆積
の進行速度が異なるので、実際にその度合を画像計測す
る本発明の劣化診断方法を利用するとき、極めて効果的
である。
第１図は本発明の劣化診断方法を実現するためのハード
ウエアの構成図である。 第２図（イ）及び（ロ）はいずれも第１図のハードウェ
ア構成で得られた放電電極棒の側方透過像図であって、
同図（イ）は使用前、同図（ロ）は使用後の画像であ
る。 第３図はSiO2堆積量と光ファイバの接続損失の関係図で
ある。 第４図は光ファイバと放電電極棒を１フレーム内で撮ら
れた透過画像である。 １……被接続光ファイバ、２……放電電極棒、３……光
源、４……顕微鏡、５……カメラ、６……放電制御装
置、７……システム制御装置（SCU）、８……画像処理
装置（IPU）、９……TVモニタ。
ウエアの構成図である。 第２図（イ）及び（ロ）はいずれも第１図のハードウェ
ア構成で得られた放電電極棒の側方透過像図であって、
同図（イ）は使用前、同図（ロ）は使用後の画像であ
る。 第３図はSiO2堆積量と光ファイバの接続損失の関係図で
ある。 第４図は光ファイバと放電電極棒を１フレーム内で撮ら
れた透過画像である。 １……被接続光ファイバ、２……放電電極棒、３……光
源、４……顕微鏡、５……カメラ、６……放電制御装
置、７……システム制御装置（SCU）、８……画像処理
装置（IPU）、９……TVモニタ。
Claims (1)
- 【請求項１】被接続光ファイバを側方から照射する光
源、上記光ファイバを透過した光を撮像するカメラ及び
その透過像を画像処理する機構を備えた光ファイバ融着
接続装置の前記光ファイバ側方観察系を用いて放電電極
棒の側方形状を撮像し、その透過像を画像処理し、放電
電極棒に堆積したSiO2の堆積量から劣化を判断すること
を特徴とする放電電極棒の劣化診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33434290A JP2874336B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 放電電極棒の劣化診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33434290A JP2874336B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 放電電極棒の劣化診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04199107A JPH04199107A (ja) | 1992-07-20 |
| JP2874336B2 true JP2874336B2 (ja) | 1999-03-24 |
Family
ID=18276292
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33434290A Expired - Fee Related JP2874336B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 放電電極棒の劣化診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2874336B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6804582B1 (en) * | 2000-09-25 | 2004-10-12 | Ucar Carbon Company Inc. | Digital electrode observation |
| JP2006324136A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Fujikura Ltd | 放電路安定化装置及び放電路安定化方法 |
| EP4024102A4 (en) * | 2019-08-29 | 2022-11-02 | Sumitomo Electric Optifrontier Co., Ltd. | FUSION SPLICER AND METHOD OF OPERATING A FUSION SPLICER |
| WO2021221115A1 (ja) * | 2020-04-30 | 2021-11-04 | 住友電工オプティフロンティア株式会社 | 融着接続システム、融着接続装置及び劣化判定方法 |
-
1990
- 1990-11-29 JP JP33434290A patent/JP2874336B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04199107A (ja) | 1992-07-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |