JP2864477B2 - Aluminum electrode for electrolytic capacitors - Google Patents

Aluminum electrode for electrolytic capacitors

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【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION 【産業上の利用分野】[Industrial applications]

この発明は電解コンデンサに用いられるアルミニウム
電極であって、特に陰極に用いられるアルミニウム電極
に関する。
The present invention relates to an aluminum electrode used for an electrolytic capacitor, and particularly to an aluminum electrode used for a cathode.

【従来の技術】[Prior art]

電解コンデンサは、小型、大容量、安価で整流出力の
平滑用などの用途に優れた特性を示し、各種の電気・電
子機器の重要な構成要素の一つである。 電解コンデンサは、一般にアルミニウム等の絶縁性酸
化皮膜が形成され得る、いわゆる弁金属を陽極に用い、
前記絶縁性酸化皮膜を誘電体層として、集電用の陰極電
極との間にセパレータに保持された電解液を介在させて
コンデンサ素子を作成し、これを密閉容器内に収納して
構成される。 陽極材料は前述したように、アルミニウムをはじめ、
タンタル、ニオブ、チタンなどが使用される。また集電
のための陰極電極材料には、陽極材料と同種の金属が用
いられる。 ところが、弁金属は一般に自然酸化による酸化皮膜層
が表面に形成される。この傾向はアルミニウムにおいて
特に顕著である。そしてこの自然酸化皮膜は極めて薄い
絶縁層のため、陰極側にも静電容量が形成され、電解コ
ンデンサは、陽極側の静電容量および陰極側の静電容量
が直列に接続された合成容量となり、所望の静電容量が
得られなくなる。また所望の静電容量を得るため、陽極
側の静電容量を必要以上に大きくする必要がある。この
影響を少なくするためには、陽極側の静電容量値に比べ
陰極側の静電容量値を著しく高くすれば、陰極側の静電
容量による影響は殆ど無視できることになるが、低電圧
用の電解コンデンサの陽極の単位面積あたりの静電容量
は相当に高い水準にあり、これをより高めるのは困難
で、合成容量による静電容量値の低下は免れ得ない。 そこで陰極側の静電容量値をより高くするために、陰
極電極表面をエッチング処理して表面積を拡大する方法
がある。しかしこの表面積を拡大する技術は、現在では
高度に洗練されているが、この技術のみによって電解コ
ンデンサの静電容量を飛躍的に増加させるのは次第に困
難になりつつある。 むしろ、陰極との合成容量による静電容量の低下の問
題の解決のためには、陰極の表面部に絶縁性の酸化皮膜
を形成しない導電性の金属からなる薄膜で被覆すること
によって、合成容量による静電容量値の低下を防止する
ことが考えられる。 このようなものとして、例えば特開昭60−1826号公報
のように、各種の導電性金属を真空蒸着するものが知ら
れている。また薄膜を形成するためには、前記の真空蒸
着によるもののほか、イオンプレーティング法、スパッ
タリング法あるいはプラズマCVD法などのような各種の
物理的方法がある。 しかしながら、導電性金属のうち、金、白金などのい
わゆる貴金属については、薬品との反応が殆どなく、電
解コンデンサとして長期間使用しても良好な導電性を保
ち得る。しかしながらこの種の貴金属は、安価で多量の
生産が要求される電解コンデンサには、経済的理由から
採用されるに到っていない。 また他の金属は、電解液の存在化で化学反応が起き、
表面の状態が経時変化するために、腐食事故の発生や、
電解コンデンサの特性が安定しないという欠点があっ
た。
BACKGROUND ART Electrolytic capacitors are small, large-capacity, inexpensive, and have excellent characteristics for applications such as smoothing of rectified output, and are one of important components of various electric and electronic devices. Electrolytic capacitors generally use a so-called valve metal as the anode, on which an insulating oxide film such as aluminum can be formed,
Using the insulating oxide film as a dielectric layer, a capacitor element is formed by interposing an electrolytic solution held by a separator between the current collector and a cathode electrode for current collection, and the capacitor element is housed in a closed container. . As mentioned above, the anode material is aluminum,
Tantalum, niobium, titanium and the like are used. The same metal as the anode material is used as the cathode electrode material for current collection. However, the valve metal generally has an oxide film layer formed on the surface by natural oxidation. This tendency is particularly remarkable in aluminum. And because this natural oxide film is an extremely thin insulating layer, a capacitance is also formed on the cathode side, and the electrolytic capacitor becomes a combined capacitance in which the anode side capacitance and the cathode side capacitance are connected in series. , The desired capacitance cannot be obtained. In addition, in order to obtain a desired capacitance, it is necessary to increase the capacitance on the anode side more than necessary. In order to reduce this effect, if the capacitance value on the cathode side is significantly higher than the capacitance value on the anode side, the effect due to the capacitance on the cathode side can be almost neglected. The capacitance per unit area of the anode of the electrolytic capacitor described above is at a considerably high level, and it is difficult to further increase the capacitance, and the reduction of the capacitance value due to the combined capacitance cannot be avoided. Therefore, in order to further increase the capacitance value on the cathode side, there is a method of increasing the surface area by etching the surface of the cathode electrode. However, while the technology for increasing this surface area is now highly sophisticated, it is becoming increasingly difficult to dramatically increase the capacitance of an electrolytic capacitor using only this technology. Rather, in order to solve the problem of the decrease in capacitance due to the combined capacitance with the cathode, the surface of the cathode is covered with a thin film made of a conductive metal that does not form an insulating oxide film. It can be considered that the capacitance value is prevented from lowering due to the above. As such a device, for example, a device in which various kinds of conductive metals are vacuum-deposited is known as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-1826. In addition, in order to form a thin film, there are various physical methods such as an ion plating method, a sputtering method, and a plasma CVD method, in addition to the above-described vacuum deposition. However, among conductive metals, so-called noble metals such as gold and platinum hardly react with chemicals, and can maintain good conductivity even when used as an electrolytic capacitor for a long time. However, this kind of noble metal has not been adopted for an electrolytic capacitor which is required to be inexpensive and mass-produced for economic reasons. For other metals, a chemical reaction occurs in the presence of the electrolyte,
Since the surface condition changes over time, corrosion accidents occur,
There is a disadvantage that the characteristics of the electrolytic capacitor are not stable.

【発明が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the invention]

この発明は、高純度アルミニウムの表面に導電性で、
しかも電解コンデンサとして使用した場合に特性上安定
度の高い薄膜を形成し、単位面積あたりの静電容量が大
きく、しかも信頼性の高い電解コンデンサ用電極を効率
的に得ることを目的としている。
This invention is conductive on the surface of high purity aluminum,
Further, it is an object of the present invention to form a thin film having high stability in characteristics when used as an electrolytic capacitor, to efficiently obtain a highly reliable electrode for an electrolytic capacitor having a large capacitance per unit area.

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

この発明は、窒化チタンがこの発明の目的に適合した
薄膜を形成することに着目したもので、この発明の電解
コンデンサ用電極は、高純度アルミニウム表面に、陰極
アーク蒸着による厚さ0.1μmないし2.0μmの窒化チタ
ン層を形成したことを特徴としている。 すなわちこの発明は、チタンの窒化物の薄膜によりア
ルミニウム電極表面を被覆することにより、この発明の
目的を達成している。 この発明によれば、被処理材料としては、通常の電解
コンデンサの陰極に用いる高純度で箔状あるいは板状の
アルミニウムを用いることができる。このアルミニウム
表面は、あらかじめ脱脂処理等により表面を清浄化して
おく。またアルミニウム表面はエッチング処理を施して
も良いし、プレーンのままであっても使用可能である。
ただエッチングの際はエッチングによる凹凸の細かさの
範囲を窒化チタン層を形成する手段によって選択する必
要がある場合がある。 形成される窒化チタン層の厚さは、少なくともアルミ
ニウム表面を均一に覆われる必要がある。また厚さが必
要以上になると、被覆処理に時間がかかることなどか
ら、好ましくは0.02ないし5μm、より好ましくは0.1
ないし2μmである。
The present invention focuses on the fact that titanium nitride forms a thin film suitable for the purpose of the present invention, and the electrode for an electrolytic capacitor of the present invention has a thickness of 0.1 μm to 2.0 μm on a high-purity aluminum surface by cathodic arc evaporation. It is characterized in that a μm titanium nitride layer is formed. That is, the present invention achieves the object of the present invention by coating the surface of the aluminum electrode with a thin film of titanium nitride. According to the present invention, as the material to be treated, high-purity foil-like or plate-like aluminum used for a cathode of an ordinary electrolytic capacitor can be used. The surface of the aluminum is previously cleaned by a degreasing treatment or the like. The aluminum surface may be subjected to an etching treatment, or may be used even if it is a plain surface.
However, at the time of etching, it may be necessary to select the range of fineness of the unevenness by etching by means of forming a titanium nitride layer. The thickness of the titanium nitride layer to be formed needs to uniformly cover at least the aluminum surface. When the thickness is more than necessary, the coating process takes a long time. Therefore, the thickness is preferably 0.02 to 5 μm, more preferably 0.1 to 5 μm.
To 2 μm.

【作用】[Action]

窒化チタンは、比抵抗値が22ないし130μΩ・cmと低
い抵抗値を有する硬質な化合物で、切削工具のチップ表
面の保護や時計用ケースの被覆などの用途が知られてい
る。 また窒化チタンはアルミニウムとの反応性も良好なこ
とから、アルミニウム表面に低比抵抗の緻密な薄膜が形
成される。 この結果、アルミニウム電極は表面に形成された高容
量の極めて薄い自然酸化皮膜か、あるいは特定の微小部
分については自然酸化皮膜が殆ど形成されない電導度の
高い金属アルミニウム表面がそのまま、窒化チタンによ
って安定して保護されることになり、電極全体として高
い静電容量値が得られるものと思われる。 また窒化チタンは、電解液との反応が起きにくく、電
極の表面状態を長期にわたって安定して維持させる。 窒化チタン薄膜を形成するための手段としては、各種
の手段が適用可能であるが、一般には薄膜ゆえ、厚さや
状態の制御が容易な物理的手段によるドライプロセスに
よるのが好適であり、特に陰極アーク蒸着法が処理速度
ならびに薄膜の緻密性において優れている。
Titanium nitride is a hard compound having a specific resistance as low as 22 to 130 μΩ · cm, and is known for applications such as protection of a chip surface of a cutting tool and coating of a watch case. Further, since titanium nitride has good reactivity with aluminum, a dense thin film having low specific resistance is formed on the surface of aluminum. As a result, the aluminum electrode is stable with titanium nitride, as it is on the very thin natural oxide film with a high capacity formed on the surface, or on the metal surface with high conductivity where almost no natural oxide film is formed on specific minute parts. Therefore, it is considered that a high electrostatic capacitance value is obtained as the whole electrode. Titanium nitride hardly reacts with the electrolytic solution, and stably maintains the surface state of the electrode for a long time. As a means for forming a titanium nitride thin film, various means can be applied, but in general, a thin film is preferable, and a dry process by physical means for easily controlling the thickness and the state is preferable. The arc deposition method is superior in processing speed and thinness of the thin film.

【実 施 例】【Example】

以下実施例に基づいて、この発明を更に詳細に説明す
る。 この発明の窒化チタン薄膜を表面に形成した高純度ア
ルミニウム被処理材を以下の実施例のように作成した。
そして、比較例として、陰極アーク蒸着法によらず、イ
オンプレーティング法によって窒化チタン薄膜を形成し
たもの、窒化物でない金属チタン層を形成したものをそ
れぞれ同じ膜厚となるよう調製し、更に、従来から用い
られている高純度アルミニウム表面をエッチング処理の
み行ったものを比較例1ないし4とした。 実施例 高純度のアルミニウム箔(純度99.95%、厚さ100μ
m)を50mm×100mmに切断したものを被処理材として使
用し、窒素ガスを含む全圧が5×10-3Torrのチャンバ中
で、陰極アーク蒸着法を用いて蒸着を行った。蒸着条件
は、被処理材を200℃に加熱し、蒸着距離200mmでアーク
放電電圧100V、アーク電流100Aで蒸着速度を0.05μm/分
とし、膜厚0.2μmの窒化チタン層を形成した。処理時
間は4分間であった。 比較例1 実施例と同じ高純度アルミニウムに、イオンプレーテ
ィング法によって、窒化チタン薄膜を形成した。 形成条件は、チャンバ中の窒素ガスを含む全圧が、1
×10-2Torrの雰囲気で、被処理材と蒸着源であるチタン
電極間に1200Vを印加し、高純度アルミニウムの表面
に、膜厚0.2μmの窒化チタン層を形成した。このとき
の処理時間は20分間であった。 比較例2 被処理材には実施例と同じものを用い、これを常温状
態で、2×10-3Torrのアルゴンガス雰囲気のチャンバ中
で実施例1と同じ陰極アーク蒸着法によって金属チタン
薄膜を形成した。蒸着条件は、アーク放電電圧100V、ア
ーク電流100Aで蒸着温度を0.02μm/分とし、膜厚0.2μ
mの金属チタン蒸着膜を形成した。このときの処理時間
は10分間であった。 比較例3 実施例と同じイオンプレーティング法によって金属チ
タンの薄膜を形成した。 被処理材は、実施例1と同じものを用いた。薄膜形成
条件は、2×10-2Torrのアルゴンガス雰囲気中で、被処
理材、蒸発源間に1200Vの電圧を印加して膜厚0.2μmの
金属チタン膜を形成した。このときの処理時間は18分間
であった。 比較例4 実施例と同じ素材からなる高純度アルミニウム材表面
を交流電解法によってエッチング処理したものを準備し
た。 これら、各実施例および比較例の被処理材について、
各々の単位面積あたりの静電容量値を測定したところ、
第1表に示す結果が得られた。 この結果から明らかなように、この発明の実施例のも
のは、比較のものに比べていずれも単位面積あたりの静
電容量値が高いことがわかる。また、膜厚さ0.2μmの
薄膜を形成する時間は、各種の条件によって変動はする
ものの、この発明の実施例によるものが最も効率的であ
ることが判明した。 次に、形成された薄膜の安定性を調べるために、これ
ら各被処理材を電解コンデンサの陰極に用いて電解コン
デンサを作成し、寿命試験を行って特性の変化を調べ
た。 作成した電解コンデンサは、リード線同一方向型の電
解コンデンサで、箔状の電極をセパレータと共に巻回し
た素子に電解液を含浸し、金属ケース内に収納し、開口
部を封口ゴムで密閉したものである。電解コンデンサを
構成する材料は、陰極箔として上記の各実施例ならびに
比較例のものを用いた以外は全て共通のものを使用し
た。また組立方法についても全て同じである。 電解コンデンサの定格電圧は6.3V、定格容量が47μ
F、外形寸法が直径5mm、長さ7mmである。使用した電解
液の組成は、エチレングリコール78重量%、アジピン酸
アンモニウム10重量%、水12重量%の組成からなるもの
で、通常用いられる電解液に比べて、水の含有量を多く
してある。これは、水による電極箔の水和劣化の発生が
顕著になるようにしたためである。 この電解コンデンサに定格電圧を印加し、110℃で500
時間の寿命試験を行った後の静電容量値と、初期の静電
容量値との変化率を調べた。この結果を第2表に示す。 この結果からわかるように、この発明のアルミニウム
電極を用いた電解コンデンサは、初期値においても、高
い静電容量値が得られるとともに、高温負荷寿命試験を
行った後も、電極表面に水和劣化等の特性劣化が生じな
いので、電気特性に変動が少なく、長期にわたって安定
した特性が維持できることがわかる。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples. A high-purity aluminum-treated material having a titanium nitride thin film of the present invention formed on its surface was prepared as in the following examples.
Then, as a comparative example, one in which a titanium nitride thin film was formed by an ion plating method, and one in which a non-nitride metal titanium layer was formed to have the same film thickness, instead of using the cathodic arc evaporation method, were further prepared. Comparative examples 1 to 4 were obtained by subjecting a conventionally used high-purity aluminum surface to only an etching treatment. Example High purity aluminum foil (purity 99.95%, thickness 100μ)
m) was cut into 50 mm x 100 mm as a material to be treated, and was deposited by a cathodic arc deposition method in a chamber containing nitrogen gas at a total pressure of 5 x 10-3 Torr. The deposition conditions were as follows: the material to be treated was heated to 200 ° C., a deposition distance of 200 mm, an arc discharge voltage of 100 V, an arc current of 100 A, a deposition rate of 0.05 μm / min, and a 0.2 μm-thick titanium nitride layer was formed. Processing time was 4 minutes. Comparative Example 1 A titanium nitride thin film was formed on the same high-purity aluminum as in the example by an ion plating method. The formation conditions are such that the total pressure including nitrogen gas in the chamber is 1
In a × 10 -2 Torr atmosphere, a voltage of 1200 V was applied between the material to be treated and the titanium electrode as a vapor deposition source to form a 0.2 μm-thick titanium nitride layer on the surface of high-purity aluminum. The processing time at this time was 20 minutes. Comparative Example 2 The same material as in the example was used as the material to be treated, and a titanium metal thin film was formed at room temperature under the same cathodic arc vapor deposition method as in example 1 in a chamber in an argon gas atmosphere of 2 × 10 −3 Torr. Formed. The deposition conditions were as follows: arc discharge voltage 100 V, arc current 100 A, deposition temperature 0.02 μm / min, film thickness 0.2 μm.
m of titanium metal was deposited. The processing time at this time was 10 minutes. Comparative Example 3 A thin film of titanium metal was formed by the same ion plating method as in the example. The same material as in Example 1 was used as the material to be treated. The thin film was formed under a 2 × 10 −2 Torr argon gas atmosphere by applying a voltage of 1200 V between the material to be treated and the evaporation source to form a 0.2 μm thick titanium metal film. The processing time at this time was 18 minutes. Comparative Example 4 A high-purity aluminum material made of the same material as that of the example was subjected to an etching treatment by an alternating current electrolysis method to prepare a material. For these materials to be processed in each of the examples and comparative examples,
When the capacitance value per unit area was measured,
The results shown in Table 1 were obtained. As is clear from these results, it can be seen that each of the examples according to the present invention has a higher capacitance per unit area than the comparative example. The time for forming a thin film having a thickness of 0.2 μm varies depending on various conditions, but it has been found that the method according to the embodiment of the present invention is the most efficient. Next, in order to examine the stability of the formed thin film, an electrolytic capacitor was prepared using each of the materials to be treated as a cathode of the electrolytic capacitor, and a life test was performed to examine a change in characteristics. The created electrolytic capacitor is an electrolytic capacitor with the same direction of the lead wire.The element in which the foil electrode is wound together with the separator is impregnated with the electrolytic solution, stored in a metal case, and the opening is sealed with sealing rubber. It is. The materials constituting the electrolytic capacitor were all the same except that the cathode foil used in each of the above Examples and Comparative Examples was used. The same applies to the assembling method. Rated voltage of electrolytic capacitor is 6.3V, rated capacity is 47μ
F, external dimensions are 5mm in diameter and 7mm in length. The composition of the electrolyte used was composed of 78% by weight of ethylene glycol, 10% by weight of ammonium adipate, and 12% by weight of water, and the content of water was larger than that of a commonly used electrolyte. . This is because the occurrence of hydration deterioration of the electrode foil due to water was remarkable. Apply rated voltage to this electrolytic capacitor, and
The rate of change between the capacitance value after the time life test and the initial capacitance value was examined. Table 2 shows the results. As can be seen from the results, the electrolytic capacitor using the aluminum electrode of the present invention has a high capacitance value even at the initial value, and has a hydrated surface even after the high-temperature load life test. It can be seen that the characteristics do not deteriorate, so that the electrical characteristics have little fluctuation and stable characteristics can be maintained for a long period of time.

【発明の効果】【The invention's effect】

以上述べたようにこの発明によれば、電解コンデンサ
用の電極として、単位面積あたりの静電容量を高めるこ
とができるので、特に低圧領域において小型大容量の電
解コンデンサが得られるとともに、このような電極を、
効率的に得ることが可能になる。 また電極表面が窒化チタンによって保護され、水和劣
化等の電極表面の劣化が防止されるので、長期にわたっ
て安定した特性が維持できる。
As described above, according to the present invention, as an electrode for an electrolytic capacitor, it is possible to increase the capacitance per unit area. Electrodes
It becomes possible to obtain efficiently. Further, since the electrode surface is protected by titanium nitride and deterioration of the electrode surface such as hydration deterioration is prevented, stable characteristics can be maintained for a long period of time.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】高純度アルミニウム表面に、陰極アーク蒸
着による厚さ0.1μmないし2.0μmの窒化チタン層を形
成したことを特徴とする電解コンデンサ用アルミニウム
電極。
1. An aluminum electrode for an electrolytic capacitor, wherein a titanium nitride layer having a thickness of 0.1 μm to 2.0 μm is formed on a high-purity aluminum surface by cathodic arc deposition.
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