JP2856626B2 - 縮小投影露光装置 - Google Patents

縮小投影露光装置

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JP2856626B2 JP5062059A JP6205993A JP2856626B2 JP 2856626 B2 JP2856626 B2 JP 2856626B2 JP 5062059 A JP5062059 A JP 5062059A JP 6205993 A JP6205993 A JP 6205993A JP 2856626 B2 JP2856626 B2 JP 2856626B2
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体製造プロセスに使
用する縮小投影露光装置に係わり、特に露光精度の向上
及び小型化に好適な縮小投影露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】縮小投影露光装置は、露光のための結像
光学系及び装置制御に必要な光学検出・計測系を含む光
学系統から構成されている。従来一般には、縮少投影露
光装置はその光学系統を大気圧中に配置し、必要な解像
性能及びアライメント性能を得ている。しかし、結像光
学系及び光学検出・計測系は、光学系統が配置される大
気の圧力や温度、湿度に影響され、精度追求の障害とな
る。例えば、大気の圧力変化は、結像光学系で決定する
縮小率や、露光のための焦点位置の変動の原因となる。
また、光学検出・計測系の光路中の大気の温度や湿度の
揺らぎは、計測値の変動となって影響し、精度追求の障
害となる。
【0003】このような問題に対し、特開昭60−26
2421号公報、特開昭61−168919号公報、特
開昭62−32613号公報等では、大気圧等を検出し
て結像光学系を電気・機械的に操作して焦点位置、倍率
等を調整することが提案されている(以下、第1の従来
技術という)。また、特開平2−153518号公報で
は、大気圧や露光時の温度上昇でレンズ間の空気密度が
変化し、フォーカス倍率の変動が生じることを防止する
ことを目的として、光学系統全体を真空チャンバーに収
納することが提案されている(以下、第2の従来技術と
いう)。
【0004】また、縮小レンズに露光光を印加すると、
露光エネルギーの一部がレンズに吸収され、レンズの温
度が上昇する。このレンズの温度上昇は縮小倍率及び焦
点位置の誤差を生じる。このようなレンズ部の温度変化
に対し、特開昭60−239023号公報、特開昭62
−229838号公報等では、レンズ室内の圧力を制御
してレンズ倍率を制御することが提案されている(以
下、第3の従来技術という)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術には次のような問題がある。第1の従来技術で
は、結像光学系を電気・機械的に操作するのに、圧電素
子や、ポンプ、弁等の圧力制御系を使用しており、可動
部や駆動部が多く、構造が複雑になるという問題があ
る。
【0006】第2の従来技術では、光学系統全体を真空
チャンバーに収納するので、可動部や駆動部は少なく、
構造は比較的簡単になる。しかし、光学系統には種々の
装置が付属しており、光学系統全体を真空チャンバーに
収納する場合はこれらの付属装置も真空チャンバー内に
収納しなければならない。例えば、真空チャンバー内に
てもレンズやその保持部材が露光により温度上昇するこ
とは避けられず、真空チャンバー内にはそれらを一定温
度に制御するための温度制御機構を収納しなければなら
ない。しかし、真空チャンバー内に種々の装置が収納さ
れると、これら装置が発塵の原因となり、製品の信頼性
や歩留まりに影響を及ぼす。また、真空チャンバーが大
型となり装置が大型化し、これを設置するクリーンルー
ムも大型化する。
【0007】第3の従来技術では、レンズ室内の圧力の
制御にポンプ、弁等の圧力制御系を使用しているので、
第1の従来技術と同様の問題がある。
【0008】本発明の目的は、減圧室を用いることによ
り大気の温度及び湿度のゆらぎや大気圧の変動による誤
差を低減すると共に、発塵が少なくかつ装置の小型化が
可能な縮少投影露光装置を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、露光光源と、レチクルを保持する支持枠
と、縮小レンズ組立体と、ウェハを保持するウェハ搬送
X−Yステージとを備えた縮小投影露光装置において、
前記レチクルの支持枠及び前記縮小レンズ組立体の入射
部を包む第1の減圧室と、前記縮小レンズ組立体の出射
部及び前記ウェハ搬送X−Yステージを包む、第1の減
圧室とは別個の第2の減圧室とを有する構成とする。
【0010】上記縮小投影露光装置は、好ましくは、装
置制御に必要な光学検出手段及び光学計測手段をさらに
有し、これら光学検出手段及び光学計測手段も前記第1
及び第2の減圧室内に収納される。
【0011】また、上記縮小投影露光装置において、前
記縮小レンズ組立体は複数枚のレンズエレメントの組み
合わせで構成されており、該縮小レンズ組立体にはレン
ズエレメント間のスペースを前記第1及び第2の減圧室
に連絡する通気路が形成される。
【0012】また、上記縮小投影露光装置は、前記縮小
レンズ組立体の外筒部に設けられたレンズ温度調節手段
をさらに有し、前記レンズ温度調節手段は前記第1及び
第2の減圧室の外側に位置している。
【0013】上記縮小投影露光装置は、また好ましく
は、前記第1及び第2の減圧室にそれぞれ設けられたレ
チクルやウェハを搬入出するための搬入出手段をさらに
有し、前記搬入出手段は、それぞれ、前記レチクルやウ
ェハの搬送通路と、その搬送通路に設けられ、前記減圧
室に近づくにしたがって排気圧を低く設定した複数の排
気口とを有している。前記搬入出手段は、それぞれ、予
備室と、この予備室と前記減圧室との間を仕切る密閉開
閉扉及び該予備室と外気との間を仕切る密閉開閉扉と、
前記予備室を給排気する手段とを有する構成であっても
よい。
【0014】また、上記縮小投影露光装置は前記第1の
減圧室は前記露光光源からの露光光の取込み部に透明窓
を有し、この透明窓は、前記露光光源の出射部の光学レ
ンズにて構成することができる。
【0015】
【作用】レチクルの支持枠及び縮小レンズ組立体の入射
部を第1の減圧室で包み、縮小レンズ組立体の出射部及
びウェハ搬送X−Yステージを第2の減圧室で包むこと
により、露光のための結像光学系が減圧雰囲気中に置か
れるので、大気の温度や湿度のゆらぎの影響や大気圧の
変動の影響が少なくなり、それらによる誤差が低減す
る。また、第1及び第2の別々の減圧室を縮小レンズ組
立体の入射側と出射側に設けることにより、レンズ温度
調節手段との付属設備を減圧室外の大気側に設置するこ
とが可能となり、減圧室内での発塵が少なくなり、製品
の信頼性及び歩留まりが向上する。また、装置の小型化
が可能となり、設備コストを低減することができる。さ
らに、レンズ温度調節手段の排熱処理や保守を大気中で
容易に実施できる。
【0016】装置制御に必要な光学検出・計測系である
光学検出手段及び光学計測手段も第1及び第2の減圧室
内に収納することにより、これら光学検出手段及び光学
計測手段についても大気のゆらぎや大気圧の変動の影響
を少なくし、装置の高精度な制御が可能となる。
【0017】縮小レンズ組立体にレンズエレメント間を
第1及び第2の減圧室に連絡する通気路を形成すること
により、レンズエレメント間のスペースが第1及び第2
の減圧室と同一気圧になり、気圧差によるレンズエレメ
ントの微小変形が防止される。
【0018】縮小レンズ組立体のレンズ温度調節手段を
第1及び第2の減圧室の外側に設けることにより、上記
のように減圧室内での発塵を少なくしつつ、縮小レンズ
組立体が露光光の吸収で温度上昇し特性変化することが
防止される。
【0019】第1及び第2の減圧室にそれぞれレチクル
やウェハを搬入出するための搬入出手段を設け、この搬
入出手段に、減圧室に近づくにしたがって排気圧を低く
設定した複数の排気口を設けることにより、減圧室の気
圧を乱すことなく搬入出できる。搬入出手段を、予備室
と、密閉開閉扉と、給排気手段とで構成しても同様に減
圧室の気圧を乱すことなく搬入出できる。
【0020】第1の減圧室における露光光の取込み部の
透明窓を露光光源の出射部の光学レンズにて構成するこ
とにより、装置の構成が簡素化される。
【0021】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面により説明す
る。図1において、本実施例の縮小投影露光装置は、露
光光源1と、レチクル2を保持する支持枠3と、縮小レ
ンズ組立体4と、ウェハ5を保持しステップ動作及び微
小位置合わせ動作するウェハ搬送X−Yステージ6とを
有し、レチクル2を露光光源1の露光光7で照明し、縮
小レンズ組立体4でレチクル上の原画をウェハ5に結像
し露光する。露光光源1はランプ8と出射用の光学レン
ズ9とを備えている。
【0022】また、本実施例装置は、レチクル2のパタ
ーンをウェハ5の前工程で露光したIC回路パターンに
正確に位置合わせし、露光するための光学検出・計測手
段として、前工程で露光したIC回路パターンを検出す
るウェハパターン検出システム10と、ウェハ搬送X−
Yステージ6の位置を測定するレーザー測長器11と、
レチクル2の位置を検出するレチクルパターン検出シス
テム12とを有している。レーザー測長器11はウェハ
搬送X−Yステージ6の送り制御に用いるもので、その
測定値をフィードバックしサーボ制御する。また、位置
合わせは、レチクル2のパターンに対しウェハ5の前工
程パターンを位置合わせすることが目的であり、その基
準としてレチクル2の位置を正確に所定の位置に設定す
る必要がある。このためのレチクルパターン検出システ
ム12を設け、レチクル2を正確な位置に設定する。
【0023】また、本実施例装置は、レチクル2及びそ
の支持枠3と縮小レンズ組立体4の入射部を包む第1の
減圧室13と、縮小レンズ組立体4の出射部及びウェハ
5とその搬送X−Yステージ6を包む、第1の減圧室1
3とは別個の第2の減圧室14とを有しており、上記ウ
ェハパターン検出システム10及びレチクルパターン検
出システム12は第1の減圧室13に配置され、レーザ
ー測長器11は第2の減圧室14に配置されている。第
1及び第2の減圧室13,14は真空ポンプ15に接続
され、所定の気圧に減圧される。第1の減圧室13に
は、露光光源1からの露光光7の取込み部に透明窓16
が設置されている。また、第1及び第2の減圧室13,
14には、それぞれ、レチクル2やウェハ5を搬入出す
るための搬入出機構17,18が設置されている。
【0024】第1及び第2の減圧室13,14の外側で
縮小レンズ組立体4の外筒部の周囲にはレンズ温度調節
システム20が設置されている。レンズ温度調節システ
ム20は、縮小レンズ組立体4の外筒部を取り囲む保温
制御室21と、保温制御室21に冷風を循環させる恒温
制御装置22と、縮小レンズ組立体4の温度を検出する
温度センサー23と、この温度センサー23の温度を一
定に保つよう恒温制御装置22の冷風温度を制御する温
度制御装置24とからなっている。
【0025】縮小レンズ組立体4の部分拡大断面図を図
2に示す。縮小レンズ組立体4は数10枚のレンズエレ
メント25の組合せで構成されており、これらレンズエ
レメント25は、外筒26内にスペーサ27を介して積
層されたレンズ保持枠28に取付け支持されている。外
筒26とスペーサ27及びレンズ保持枠28との間には
第1及び第2の減圧室13,14に連絡する軸方向の通
気路29が形成され、スペーサ27にはこの通気路29
とレンズエレメント25間のスペースとを連絡する径方
向の通気路30が形成されている。
【0026】レチクル2やウェハ5の搬入出機構17,
18は外部の大気圧と第1及び第2の減圧室13,14
内部の減圧気圧との雰囲気の差のインターフェイスを行
なうためのもので、その詳細を図3に示す。搬入出機構
18はウェハ5を載せる搬入出台36を有し、搬入出台
36の移動通路37に、第2の減圧室14に近づくにし
たがって排気圧を低く設定した複数の排気口31,3
2,33,34が設けられている。搬入出台36はモー
タ38を回転させることでネジ機構39により移動通路
37内を出し入れされる。搬入出機構17も同様な構成
となっている。
【0027】次に、以上のように構成した本実施例の作
用を説明する。縮少投影露光装置においては、レチクル
2のパターンをウェハ5の前工程パターンに正確に重ね
合わせることが必要であり、そのためにウェハパターン
検出システム10、レーザー測長器11、レチクルパタ
ーン検出システム12を備えている。これらの検出・測
定値に基づく位置合わせ精度の合計がウェハ上のIC回
路パターンの重ね合わせ精度を決める。このためこれら
検出・測定手段に光を用いるが、その光路の温度や湿度
の「ゆらぎ」及び大気圧の変動が誤差成分となる。ま
た、大気圧変動は、縮小レンズ組立体4の焦点位置の変
動や縮小率の変動要因となる。例えば、レンズエレメン
ト25を通過する光線は、レンズ表面におけるレンズ硝
材と空気の屈折率の差で光路が屈折する原理を用いてレ
ンズ作用を得ているが、空気の屈折率は次式のように空
気圧Pの関数である。
【0028】 空気の屈折率n∝√(1+KP) …(1) K:比例定数 このため、常時の気圧変動によっても(1)式の影響に
よりレンズを通過する光線角度に変化を来たし、レンズ
定数であるべき縮小率や焦点位置の変動誤差を生じる。
また、レーザー測長器7の測長値も、気圧,気温,湿度
の関数であり、測定光路の空気の状態に敏感に影響を受
ける。
【0029】一方、縮小レンズ組立体4に露光光を印加
すると、露光エネルギーの一部がレンズ内部に吸収され
熱エネルギーとなり、レンズ自体やレンズの構造材の温
度上昇となり、各部材が膨張変形する結果、これも縮小
レンズ組立体4の性能変動を生じる。このため縮小レン
ズ組立体4を一定温度に保温制御する必要がある。
【0030】以上の検討結果から、本実施例では、縮小
レンズ組立体4の入射側と出射側にそれぞれ第1及び第
2の減圧室13,14を設け、かつ縮小レンズ組立体4
をレンズ温度調節システム20にて一定温度に保つ構成
とした。これにより、レチクル2−縮小レンズ組立体4
−ウェハ5からなる結像光学系と、ウェハパターン検出
システム10、レーザー測長器11、レチクルパターン
検出システム12等からなる光学検出・計測系を減圧雰
囲気中に置き、空気の気圧、温度、湿度の変動による誤
差を防止することができると共に、レンズ自体やレンズ
の構造材の温度上昇による誤差を防止することができ
る。
【0031】また、減圧室を設置する場合、装置全体を
減圧室に収納することも考えられる。しかし、縮少投影
露光装置には種々の装置が付属しており、レンズ温度調
節システム20もその1つである。装置全体を減圧室に
収納する場合はこれらの付属装置も真空チャンバー内に
収納しなければならず、真空チャンバー内に種々の装置
が収納されると、これら装置が発塵の原因となり、製品
の信頼性や歩留まりに影響を及ぼす。また、装置が大型
化し、これを設置するクリーンルームも大型化する。
【0032】以上の検討結果から、本実施例では、縮小
レンズ組立体4の入射側と出射側に各々別々の第1及び
第2の減圧室13,14を設け、大気側よりレンズ温度
調節システム20を付加できる構成とした。これによ
り、第1及び第2の減圧室13,14には必要最少限の
制御機器のみが設置され、減圧室内での発塵が少なくな
り、製品の信頼性及び歩留まりが向上すると共に、装置
の小型化が可能となり、設備コストを低減することがで
きる。また、第1及び第2の減圧室の排気が効率良く行
なえる。さらに、レンズ温度調節システム20は大気中
で扱えるので、装置構成が簡素化されると共に、排熱処
理や保守を大気中で容易に実施できる。
【0033】また、縮小レンズ組立体4の円筒部に通気
路29,30を設け、レンズエレメント25間のスペー
スも第1及び第2の減圧室13,14と同一気圧とす
る。これによりレンズ内外の気圧差によるレンズエレメ
ント25の歪や微小変形を防ぎ、装置の安定な動作が可
能となる。ただし、特定レンズエレメント間の気圧や、
その間の気体密度を制御し、大気圧変化を補正するレン
ズ構成もあり、この時はそのレンズエレメント間は、該
通気路はバイパスさせ、該レンズエレメント間以外を通
気路9,10で同一気圧とするよう連絡すればよい。
【0034】さらに、第1及び第2の減圧室13,14
に対するレチクル2やウェハ5の搬入出機構17,18
において、排気口31,32,33,34の排気圧を適
当に設定し、搬入出台36を出し入れすることにより、
第1及び第2の減圧室13,14の圧力を乱さないでレ
チクル2やウェハ5を出し入れすることができる。
【0035】搬入出機構の他の実施例を図4により説明
する。図4において、ウェハ5の搬入出機構18Aは、
第2の減圧室14の外に設置された予備室42と、第2
の減圧室14と予備室42間を仕切る密閉開閉扉43
と、予備室42と外気とを仕切る密閉開閉扉44と、予
備室42を真空ポンプ15に連絡する排気管45及び排
気弁46と、予備室42を外気に連絡する給気管47及
び吸気弁48と、ウェハ5を載せる搬入出台49とで構
成されている。
【0036】ウェハ5を搬入する場合、先ず排気弁46
を閉じ、次に吸気弁48を開いて密閉開閉扉44を開
き、搬入出台49のアームにウェハ5を固定し、予備室
42の中に取り込む。次に、吸気弁48を閉じた後密閉
開閉扉44を閉じ、排気弁46を開いて予備室42内の
雰囲気を第2の減圧室14と同等の気圧とした後、密閉
開閉扉43を開いて、搬入出台49により第2の減圧室
14内に搬入する。搬出はこの反対の手順で搬出するこ
とができる。第1の減圧室13に対する搬入出機構も同
様に構成することができる。
【0037】なお、以上では、第1の減圧室13の露光
光7の取込み部を透明窓16で外気と仕切りする構成で
説明したが、図5に示すように、露光光源1Aの出射口
に設ける光学レンズ9をその透明窓に兼用して設置し、
透明窓16の機能を行うよう構成することも可能であ
り、これにより装置の構成が簡素化される。
【0038】
【発明の効果】本発明によれば以下の効果が得られる。 (1)結像光学系が減圧室内に収納されるので、大気の
ゆらぎや大気圧の変動による誤差を低減し、高精度で安
定した露光が可能となる。また、減圧室を縮小レンズ組
立体の入射側と出射側に2つに分割したので、レンズ温
度調節手段等の付属装置を大気中に配置することが可能
となり、減圧室内での発塵を少なくし製品の精度及び歩
留まりを向上できると共に、装置の小型化が可能とな
る。また、減圧室が小さいので、排気の効率化が可能と
なる。
【0039】(2)光学検出・計測系を減圧室内に収納
したので、大気のゆらぎや大気圧変動による制御精度の
低下が防止され、高精度に装置を制御できる。
【0040】(3)レンズ温度調節手段を減圧室の外の
大気中に配置したので、構成の簡素化が図れかつ保守が
容易となる。
【0041】(4)縮小レンズ組立体の各レンズエレメ
ント間の気圧を通気路により同一の減圧気圧としたの
で、レンズエレメントの微小変形を防止し、安定した性
能を発揮できる。
【0042】(5)レチクルやウェハの搬入出手段を減
圧室の気圧を乱さない構成としたので、装置運転に必要
な減圧状態を常に維持し、常時運転可能とし、装置スル
ープット性能を確保できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による縮小投影露光装置の概
略断面図である。
【図2】縮小レンズ組立体の部分拡大断面図である。
【図3】減圧室への搬入出機構の詳細図である。
【図4】減圧室への搬入出機構の他の実施例を示す図で
ある。
【図5】第1の減圧室における露光光の取込み部の変形
例を示す図である。
【符号の説明】
1 露光光源 2 レチクル 3 レチクル支持枠 4 縮小レンズ組立体 5 ウェハ 6 ウェハ搬送X−Yステージ 9 出射部光学レンズ 10 ウェハパターン検出システム 11 レーザ測長器 12 レクチルパターン検出システム 13 第1の減圧室 14 第2の減圧室 17,18 搬入出機構 20 レンズ温度調節システム 29,30 通気路 31〜34 排気口 42 予備室 43,44 密閉開閉扉 46,48 弁(給排気手段)

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 露光光源と、レチクルを保持する支持枠
    と、縮小レンズ組立体と、ウェハを保持するウェハ搬送
    X−Yステージとを備えた縮小投影露光装置において、 前記レチクルの支持枠及び前記縮小レンズ組立体の入射
    部を包む第1の減圧室と、前記縮小レンズ組立体の出射
    部及び前記ウェハ搬送X−Yステージを包む、第1の減
    圧室とは別個の第2の減圧室とを有することを特徴とす
    る縮小投影露光装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の縮小投影露光装置におい
    て、装置制御に必要な光学検出手段及び光学計測手段を
    さらに有し、前記光学検出手段及び光学計測手段を前記
    第1及び第2の減圧室内に収納したことを特徴とする縮
    小投影露光装置。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の縮小投影露光装置におい
    て、前記縮小レンズ組立体は複数枚のレンズエレメント
    の組み合わせで構成されており、該縮小レンズ組立体に
    レンズエレメント間のスペースを前記第1及び第2の減
    圧室に連絡する通気路を形成したことを特徴とする縮小
    投影露光装置。
  4. 【請求項4】 請求項1記載の縮小投影露光装置におい
    て、前記縮小レンズ組立体の外筒部に設けられたレンズ
    温度調節手段をさらに有し、前記レンズ温度調節手段は
    前記第1及び第2の減圧室の外側に位置していることを
    特徴とする縮小投影露光装置。
  5. 【請求項5】 請求項1記載の縮小投影露光装置におい
    て、前記第1及び第2の減圧室にそれぞれ設けられたレ
    チクルやウェハを搬入出するための搬入出手段をさらに
    有し、前記搬入出手段は、それぞれ、前記レチクルやウ
    ェハの搬送通路と、その搬送通路に設けられ、前記減圧
    室に近づくにしたがって排気圧を低く設定した複数の排
    気口とを有することを特徴とする縮小投影露光装置。
  6. 【請求項6】 請求項1記載の縮小投影露光装置におい
    て、前記第1及び第2の減圧室にそれぞれレチクルやウ
    ェハを搬入出する搬入出手段をさらに有し、前記搬入出
    手段は、それぞれ、予備室と、この予備室と前記減圧室
    との間を仕切る密閉開閉扉及び該予備室と外気との間を
    仕切る密閉開閉扉と、前記予備室を給排気する手段とを
    有することを特徴とする縮小投影露光装置。
  7. 【請求項7】 請求項1記載の縮小投影露光装置におい
    て、前記第1の減圧室は前記露光光源からの露光光の取
    込み部に透明窓を有し、この透明窓は、前記露光光源の
    出射部の光学レンズにて構成されていることを特徴とす
    る縮小投影露光装置。
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