JP2856361B2 - サーミスタによる温度測定方法 - Google Patents

サーミスタによる温度測定方法

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は温度測定方法に関し、特にサーミスタを用
いた温度測定方法に関するものある。
〔従来技術〕
サーミスタの温度−抵抗の関係は一般に R=R0exp{B0(1/T−1/T0)} …(1) 〔ただし、温度T0のときの抵抗をR0、B0はサーミスタの
材料組成等によって定まる定数とする。〕 あるいは、 T=1/{log(R/R0)/B0+1/T0} …(1′) を満足するとされている。
しかしながら、定数とされているB0の値が、実際には
温度依存性を有しているため、広い温度範囲でこの式に
正確に一致する特性を示すサーミスタはない。
そこで温度Tとサーミスタの抵抗Rとの関係 T=f(R) …(10) を例えば、 T=aR2+bR+C+d/R …(11) のように置き、散点的な実測値に合うように各係数を決
めて、温度測定を行うことがなされている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、後述の比較例にて示すように、上記近
似式は広い温度範囲に渡って実測値と一致させることが
できず、特定の温度範囲ごとに係数を変えたり、あるい
は次数を変えたり(例えば3次式を用いる)することが
なされている。また、たとえ実測点において上記式(1
1)の演算値と実測値とが一致しなくとも、実測点間の
演算値が実測値と一致しないことが多く、より精度を上
げようとすると、実測点を多くする必要がある。
より正確な方法として適度の温度間隔で実測抵抗と温
度との関係を予めメモリーに記憶しておき、測定時に読
出す方法もあるが、この方法によると例えば0.01℃間隔
での測定値を必要とする場合0℃〜100℃の間では10,00
0点もの測定が必要となり、コスト高となる。
この発明は上記従来の事情に鑑みて提案されたもので
あって、低コストのサーミスタを使用して、簡単にしか
も正確に温度測定ができる方法を提供することを目的と
するものである。
〔課題を解決するための手段〕
この発明は上記目的を達成するために以下の手段を採
用している。すなわち、サーミスタの抵抗Rと温度Tと
の関係式 R=R0exp{B(1/T−1/T0)} (1) 〔ただし、温度T0のときの抵抗をR0、Bはサーミスタの
材料組成等によって定まる定数とする。〕 より、温度測定を行う方法において、 上記(1)式を微分して得られる式 B=T2/R・dR/dT …(2) に対して、散点的な温度Tとサーミスタの抵抗Rの実測
値及び、該実測値より得られる抵抗Rの温度Tに対する
変化率を代入し得られるBの値と抵抗Rの関係よりBの
値を抵抗Rの関数とした式 B=f(R) …(3) を求め、上記(1)式と(3)式より得られる式 T=1/{log(R/R0)/f(R)+1/T0} …(4) より温度を求めるものである。
〔作用〕
上記(2)式において、温度Tと抵抗Rと抵抗Rの温
度変化dR/dTは実測値として得ることができる。
また、(3)式においてBの値は実際には温度依存性
を有していると考えられるが、抵抗Rのみに依存するも
のとみなすことによって、抵抗Rの温度依存性が間接的
にはBの値に影響されたことになる。
この結果、(4)式を用いて広い範囲での正確な温度
測定をすることができる。
〔実施例〕
サーミスタの温度(T)−抵抗(R)特性は、 R=R0exp{B(1/T−1/T0)} …(1) で表すことができる。
この(1)式を微分すると、 となり、これより得られる を(1)式に代入すると、 が得られる。
このようにして得られるBの値は定数ではなく、温度
依存性を有しているものと考えられる。
しかしながら、抵抗Rも温度依存性を有しているの
で、Bの値を抵抗Rの関数 B=f(R) …(3) で表すことによって、該Bの値に温度の要素が間接的に
影響されたものとすることができる。この(3)式を
(1)式に代入することによって、 T=1/{log(R/R0)/f(R)+1/T0} …(4) とすることができる。
ここで散点的に(例えば10度おき)に測定した温度T
とサーミスタの抵抗Rとの関係から(2)式の温度Tに
対する以降Rの変化率dR/dT(例えば10℃での変化率は
0℃〜10℃迄の直線の傾き、又は10℃〜20℃迄の直線の
傾きで求める)の値を求めることができ、結果として上
記散点的な温度T(抵抗R)におけるBの値を求めるこ
とができる。
更に(3)式を B=aR2+bR+C+d/R …(3a) なる2次式として抵抗Rの実測値と(2)式の演算の結
果得られるBの値に一致するように各係数a、b、c、
dを最小2乗法で決定する。このようにし決定した(3
a)式を用いた(4)式より得られた温度Tと抵抗Rの
関係をグラフで表すと第1図あるいは第1表の(本発
明)のようになり、実測値(第1図○印)と非常によく
一致する。
第1表の5℃、15℃、…65℃の各中間点における(本
発明)の値は測定抵抗Rから(4)式を演算して得たも
のであるが、実測値とよく一致する。
それに対してT=f(R)を以下の(11)〜(14)式
のように表して測定すると第2図〜第5図のグラフのよ
うに表すことができ、また第1表の比較例(11)〜(1
4)に示すようになる。
T=aR2+bR+C+d/R …(11) T=aR3+bR2+CR+d …(12) T=aR4+bR3+CR2+dR+e …(13) T=aR5+bR4+CR3+dR2+eR+f …(14) これ等比較例において、(11)式による方法が最も精
度が高くなっているが、本発明による程の精度は得られ
ていない。また、例えば(14)式による方法〔第5図、
比較例(14)〕に端的に表れているように各測定点で
は、(11)〜(14)の各式による演算値と実測値が一致
するが、測定点間の中間では、実測値と上記各式による
演算値が一致しない場合が多い。
上記(4)式は(4a)式のように必ずしも2次式で表
す必要はなく、より精度が粗くてよい場合には1次式で
もよく、また、より高い精度が必要な場合は3次式ある
いは4次式を用いることもできる。
〔発明の効果〕 以上説明したようにこの発明は、サーミスタの抵抗R
と温度との関係を示す式 R=R0exp{B(1/T−1/T0)} …(1) で定数として扱われいたBの値を抵抗Rの関数B=f
(R)とすることによって、上記(1)式の演算結果を
実測値とよく一致することができる。また、極めて少な
い実測値よりB=f(R)を決定することができる効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による温度とサーミスタの抵抗の関係を
表したグラフ、第2〜第5図は従来例による温度とサー
ミスタの抵抗の関係を表すグラフである。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】サーミスタの抵抗Rと温度Tとの関係式 R=R0exp{B(1/T−1/T0)} …(1) 〔ただし、温度T0のときの抵抗をR0、Bはサーミスタの
    材料組成等によって定まる定数とする。〕 より、温度測定を行う方法において、 上記(1)式を微分して得られる式 B=T2/R・dR/dT …(2) に対して、散点的な温度Tとサーミスタの抵抗Rの実測
    値及び、該実測値より得られる抵抗Rの温度Tに対する
    変化率を代入し、これにより得られるBの値と抵抗Rの
    関係よりBの値を抵抗Rの関数とした式 B=f(R) …(3) を求め、上記(1)式と(3)式より得られる式 T=1/{log(R/R0)/f(R)+1/T0} …(4) より温度を求めることを特徴とするサーミスタによる温
    度測定方法。
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