JP2855309B2 - Lead frame for semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Lead frame for semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device

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JP2855309B2
JP2855309B2 JP6985993A JP6985993A JP2855309B2 JP 2855309 B2 JP2855309 B2 JP 2855309B2 JP 6985993 A JP6985993 A JP 6985993A JP 6985993 A JP6985993 A JP 6985993A JP 2855309 B2 JP2855309 B2 JP 2855309B2
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center bar
semiconductor chip
bar
semiconductor device
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    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
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    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置のリードフ
レームおよび半導体装置の製造方法に係り、特に、量産
性に優れた面実装型半導体装置のリードフレームと、こ
のリードフレームを用いた面実装型半導体装置の製造方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead frame of a semiconductor device and a method of manufacturing the semiconductor device, and more particularly to a lead frame of a surface mount type semiconductor device excellent in mass productivity and a surface mount using the lead frame. The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】リードフレームの位置合わせ構造に関し
ては、特開昭58−216448号公報,特開昭47−
27679号公報,特開昭63−281451号公報,
特開昭52−86067号公報,特開昭55−2765
5号公報,特開昭60−74459号公報等に記載され
た技術がある。これらの従来技術では、いずれも、孔と
孔とにより、または、孔と突起とにより、リードフレー
ムを位置合わせする構造となっている。
2. Description of the Related Art Japanese Patent Application Laid-Open No. 58-216448 and Japanese Patent Application Laid-Open No.
27679, JP-A-63-281451,
JP-A-52-86067 and JP-A-55-2765.
No. 5, JP-A-60-74459, and the like. Each of these prior arts has a structure in which a lead frame is aligned by holes and holes or holes and protrusions.

【0003】しかし、上下リードフレーム間に半導体チ
ップをはさみ込む構造に対応していないものがあり、ま
た、対応していても、ろう材の厚みを均一化することに
ついての配慮が十分ではなかった。
[0003] However, there is a structure which does not correspond to a structure in which a semiconductor chip is sandwiched between upper and lower lead frames, and even if such a structure is employed, sufficient consideration is not given to making the thickness of the brazing material uniform. .

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上下リードフレーム間
に半導体チップをはさみ込む構造の面実装型半導体装置
においては、実際の回路に組み込んで動作させる場合
に、ろう材の厚みが半導体装置のパワーサイクル耐量に
直接関係する。そこで、より均一で信頼性の高い面実装
型半導体装置を製造するには、上下リードフレームと半
導体チップとの間のスペースを何らかの方法で、所定の
範囲内に維持する必要がある。
In a surface-mount type semiconductor device having a structure in which a semiconductor chip is sandwiched between upper and lower lead frames, the thickness of the brazing material is reduced by the power cycle of the semiconductor device when the semiconductor device is operated by being incorporated in an actual circuit. It is directly related to proof strength. Therefore, in order to manufacture a more uniform and highly reliable surface mount type semiconductor device, it is necessary to maintain the space between the upper and lower lead frames and the semiconductor chip within a predetermined range by some method.

【0005】上記従来技術においては、上下リードフレ
ームと半導体チップとの間のろう材等の厚みを均一にす
るために、専用の治具を用いていた。この専用の治具
は、半導体チップがろう材等でリードフレームに固定さ
れるまで取り外せないので、量産性が低下する一因とな
っていた。
In the above prior art, a dedicated jig is used to make the thickness of the brazing material or the like between the upper and lower lead frames and the semiconductor chip uniform. This dedicated jig cannot be removed until the semiconductor chip is fixed to the lead frame with a brazing material or the like, which has been a factor in lowering mass productivity.

【0006】本発明の目的は、専用の治具を用いなくと
も、上下リードフレームと半導体チップとの間のろう材
等の厚みを均一にでき、量産性に優れた半導体装置のリ
ードフレームおよび半導体装置の製造方法を提供するこ
とである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a lead frame for a semiconductor device and a semiconductor device excellent in mass productivity, in which the thickness of a brazing material or the like between the upper and lower lead frames and the semiconductor chip can be made uniform without using a dedicated jig. It is to provide a method of manufacturing the device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、左右のフレーム枠の中央でフレーム枠と
タイバーで部分的に接続されフレーム枠と平行な第1セ
ンターバーを有し、フレーム枠の長手方向と直角方向の
軸上に第1センターバーについて線対称となりフレーム
枠とそれぞれ一体な複数の半導体チップ搭載部の対を有
する下フレームと、下フレームの第1センターバーおよ
びタイバーと嵌め合う形状の第2センターバーを有し、
第2センターバーと直角方向の軸上で上記下フレームの
半導体チップ搭載部に対応する位置に配置され第2セン
ターバーとそれぞれ一体な複数の半導体チップ接続端子
の対を有する上フレームとからなる半導体装置のリード
フレームを提案する。
In order to achieve the above object, the present invention has a first center bar which is partially connected by a tie bar and a frame at the center of the left and right frame frames and is parallel to the frame frame. A lower frame having a plurality of pairs of semiconductor chip mounting portions that are line-symmetric with respect to the first center bar on an axis perpendicular to the longitudinal direction of the frame frame and are integral with the frame frame, and a first center bar and a tie bar of the lower frame. Having a second center bar shaped to fit
A semiconductor comprising a second center bar and an upper frame which is disposed at a position corresponding to the semiconductor chip mounting portion of the lower frame on an axis perpendicular to the second center bar and has a plurality of pairs of semiconductor chip connection terminals each integral with the second center bar; A lead frame for the device is proposed.

【0008】上フレームの第2センターバーの長手方向
の端部は、下フレームのタイバーの端面に当接し上フレ
ームの長手方向の位置を決める長さに裁断されている。
The longitudinal end of the second center bar of the upper frame is cut into a length that abuts against the end surface of the tie bar of the lower frame to determine the longitudinal position of the upper frame.

【0009】本発明は、また、上記目的を達成するため
に、左右のフレーム枠の中央でフレーム枠とタイバーで
部分的に接続されフレーム枠と平行な第1センターバー
を有し、フレーム枠の長手方向と直角方向の軸上に第1
センターバーについて線対称となりフレーム枠とそれぞ
れ一体な複数の半導体チップ搭載部の対を有する下フレ
ームと、下フレームの第1センターバーおよびタイバー
を乗り越え第1センターバーおよびタイバーと嵌め合う
形状の第2センターバーを有し、第2センターバーと直
角方向の軸上で上記下フレームの半導体チップ搭載部に
対応する位置に配置され第2センターバーとそれぞれ一
体な複数の半導体チップ接続端子の対を有する長尺の上
フレームとからなる半導体装置のリードフレームを提案
する。
In order to achieve the above object, the present invention also has a first center bar which is partially connected to the frame frame at the center of the left and right frame frames by a tie bar and is parallel to the frame frame. First on the axis perpendicular to the longitudinal direction
A lower frame having a plurality of pairs of semiconductor chip mounting portions which are line-symmetric with respect to the center bar and respectively integrated with the frame, and a second frame having a shape which goes over the first center bar and the tie bar of the lower frame and fits with the first center bar and the tie bar; A center bar, and a plurality of pairs of semiconductor chip connection terminals which are arranged at positions corresponding to the semiconductor chip mounting portions of the lower frame on an axis perpendicular to the second center bar and are respectively integral with the second center bar. A lead frame of a semiconductor device including a long upper frame is proposed.

【0010】本発明は、さらに、上記目的を達成するた
めに、左右のフレーム枠を部分的に接続するタイバーを
有し、フレーム枠の長手方向と直角方向の軸上に左右の
フレーム枠とそれぞれ一体な複数の半導体チップ搭載部
の対を有する下フレームと、下フレームのタイバーと嵌
め合う形状の第2センターバーを有し、第2センターバ
ーと直角方向の軸上で上記下フレームの半導体チップ搭
載部に対応する位置に配置され第2センターバーとそれ
ぞれ一体な複数の半導体チップ接続端子の対を有する上
フレームとからなる半導体装置のリードフレームを提案
する。
In order to achieve the above object, the present invention further comprises a tie bar for partially connecting the left and right frame frames, and the right and left frame frames are respectively provided on an axis perpendicular to the longitudinal direction of the frame frame. A lower frame having a plurality of pairs of integrated semiconductor chip mounting portions, and a second center bar shaped to fit with the tie bar of the lower frame, and the semiconductor chip of the lower frame on an axis perpendicular to the second center bar. A lead frame for a semiconductor device comprising a second center bar disposed at a position corresponding to a mounting portion and an upper frame having a plurality of pairs of semiconductor chip connection terminals each integrated therewith is proposed.

【0011】この場合も、上フレームの第2センターバ
ーの長手方向の端部は、下フレームのタイバーに当接し
上フレームの長手方向の位置を決める長さに裁断でき
る。
Also in this case, the longitudinal end of the second center bar of the upper frame can be cut into a length that abuts the tie bar of the lower frame to determine the longitudinal position of the upper frame.

【0012】本発明は、上記目的を達成するために、左
右のフレーム枠を部分的に接続するタイバーを有し、フ
レーム枠の長手方向と直角方向の軸上に左右のフレーム
枠とそれぞれ一体な複数の半導体チップ搭載部の対を有
する下フレームと、下フレームのタイバーを乗り越えタ
イバーと嵌め合う形状の第2センターバーを有し、第2
センターバーと直角方向の軸上で上記下フレームの半導
体チップ搭載部に対応する位置に配置され第2センター
バーとそれぞれ一体な複数の半導体チップ接続端子の対
を有する長尺の上フレームとからなる半導体装置のリー
ドフレームを提案する。
In order to achieve the above object, the present invention has a tie bar that partially connects the left and right frame frames, and is integrated with the left and right frame frames on an axis perpendicular to the longitudinal direction of the frame frame. A lower frame having a plurality of pairs of semiconductor chip mounting portions, and a second center bar shaped to fit over the tie bar of the lower frame and fit with the tie bar;
A second upper bar is provided at a position corresponding to the semiconductor chip mounting portion of the lower frame on an axis perpendicular to the center bar and has a long upper frame having a plurality of pairs of semiconductor chip connection terminals each integrated with the second center bar. A lead frame for a semiconductor device is proposed.

【0013】いずれの半導体装置のリードフレームにお
いても、下フレームおよび上フレームが、左右のフレー
ム枠との長手方向と直角方向の軸上で少なくとも3個の
半導体チップ搭載部および半導体チップ接続端子を備え
ることができる。
In any of the lead frames of the semiconductor device, the lower frame and the upper frame include at least three semiconductor chip mounting portions and semiconductor chip connection terminals on an axis perpendicular to the longitudinal direction of the left and right frame frames. be able to.

【0014】本発明は、また、上記目的を達成するため
に、下フレームの半導体チップ搭載部にろう材をセット
し、半導体チップをセットし、その上にろう材をセット
し、上フレームのセンターバーと下フレームのセンター
バーおよびタイバーまたはタイバーのみとを組合わせて
上フレームをセットし、下フレームのセンターバーまた
はタイバーと上フレームのセンターバーとをポイント溶
接し、ろう材を溶融させて半導体チップ搭載部と半導体
チップと半導体チップ接続端子とを半田付けする半導体
装置の製造方法を提案する。
According to the present invention, in order to achieve the above object, a brazing material is set on a semiconductor chip mounting portion of a lower frame, a semiconductor chip is set, a brazing material is set thereon, and a center of the upper frame is set. The upper frame is set by combining the bar with the center bar of the lower frame and the tie bar or only the tie bar, and the center bar or the tie bar of the lower frame and the center bar of the upper frame are point-welded, and the brazing material is melted to melt the semiconductor chip. A method of manufacturing a semiconductor device in which a mounting portion, a semiconductor chip, and a semiconductor chip connection terminal are soldered is proposed.

【0015】なお、リードフレームのチップ搭載部とチ
ップ接続端子との間に、半導体素子に代えて、受動素子
を配置すると、面実装型の受動部品を製造できる。
If a passive element is arranged between the chip mounting portion of the lead frame and the chip connection terminal instead of the semiconductor element, a surface-mounted passive component can be manufactured.

【0016】[0016]

【作用】本発明においては、下フレームのセンターバー
およびタイバーと上フレームの例えば∩字型のセンター
バーとを位置合わせし、ポイント溶接等で上下フレーム
を固定する。その結果、半導体チップをろう付けする段
階では、上下フレームと半導体チップとの位置合わせ用
治具は、もはや不要となる。しかも、一軸当たりのセン
ターバーに関し、リードフレームを線対称な構造として
あるので、上フレームの荷重がバランス良く加わり、ろ
う材の厚みが均一化される。また、従来と比較して、一
度に少なくとも2倍の半導体素子を製造できることにな
る。すなわち、量産性に優れた高信頼の面実装型半導体
装置のリードフレームと、面実装型半導体装置の製造方
法とが得られる。
According to the present invention, the center bar and the tie bar of the lower frame are aligned with the center bar, for example, of the upper frame, and the upper and lower frames are fixed by point welding or the like. As a result, at the stage of brazing the semiconductor chip, a jig for positioning the upper and lower frames and the semiconductor chip is no longer necessary. In addition, since the lead frame has a line-symmetric structure with respect to the center bar per axis, the load of the upper frame is applied in a well-balanced manner, and the thickness of the brazing material is made uniform. In addition, at least twice as many semiconductor elements can be manufactured at one time as compared with the related art. That is, a lead frame of a highly reliable surface mount semiconductor device excellent in mass productivity and a method of manufacturing the surface mount semiconductor device can be obtained.

【0017】[0017]

【実施例】次に、図1〜図12を参照して、本発明によ
る面実装型半導体装置のリードフレームおよび面実装型
半導体装置の製造方法の実施例を説明する。
1 to 12, a description will be given of an embodiment of a lead frame of a surface mount type semiconductor device and a method of manufacturing the surface mount type semiconductor device according to the present invention.

【0018】図1は、本発明による面実装型半導体装置
のリードフレームのうちで、下フレームの構造の一例を
示す平面図である。アノード(またはカソード)電極と
なる下フレーム1は、フレーム枠2,3と、タイバー4
によりフレーム枠2,3に一体的に接続されているセン
ターバー5と、互いに対をなす半導体チップ搭載部6,
7とからなる。半導体チップ搭載部6,7は、センター
バー5に関して線対称となるように、フレーム枠2,3
から直角方向に配置されている。
FIG. 1 is a plan view showing an example of the structure of a lower frame in a lead frame of a surface mount type semiconductor device according to the present invention. The lower frame 1 serving as an anode (or cathode) electrode includes frame frames 2 and 3 and a tie bar 4.
A center bar 5 integrally connected to the frame frames 2 and 3 and a semiconductor chip mounting portion 6 forming a pair with each other.
7 The semiconductor chip mounting parts 6 and 7 are frame-symmetrically mounted on the frame
From the right angle.

【0019】図2は、本発明による面実装型半導体装置
のリードフレームのうちで、上フレームの構造の一例を
示す平面図である。カソード(またはアノード)電極と
なる上フレーム8は、図1の下フレーム1と組合わせて
用いられる。上フレーム8は、∩字型センターバー9
と、互いに対をなす半導体チップ接続端子10,11と
からなる。∩字型センターバー9は、下フレーム1のセ
ンターバー5およびタイバー4と組合され、半導体装置
を製造する時に位置合わせの役割を果たす。半導体チッ
プとの接続端子10,11は、下フレーム1の半導体チ
ップ搭載部6,7に対応する位置にくるように、∩字型
センターバー9から直角方向に配置される。
FIG. 2 is a plan view showing an example of the structure of the upper frame of the lead frame of the surface mount type semiconductor device according to the present invention. The upper frame 8 serving as a cathode (or anode) electrode is used in combination with the lower frame 1 in FIG. The upper frame 8 has a ∩-shaped center bar 9
And semiconductor chip connection terminals 10 and 11 forming a pair with each other. The ∩-shaped center bar 9 is combined with the center bar 5 and the tie bar 4 of the lower frame 1 and plays a role of alignment when manufacturing a semiconductor device. The connection terminals 10 and 11 for connecting to the semiconductor chip are arranged at right angles to the ∩-shaped center bar 9 so as to be located at positions corresponding to the semiconductor chip mounting portions 6 and 7 of the lower frame 1.

【0020】これら上フレーム8および下フレーム1
は、一般には、厚さ0.2mm程度の銅板系または鉄板
系の材料を用いて、プレス等により製造される。
The upper frame 8 and the lower frame 1
Is generally manufactured by pressing or the like using a copper or iron plate material having a thickness of about 0.2 mm.

【0021】図3は、図1の下フレーム1と図2の上フ
レーム8とを用いた面実装型半導体装置の製造途中の組
立て状態を示す斜視図であり、図4は、図3の下フレー
ム1と上フレーム8との位置合わせ後の状態を示す平面
図、図5は、図4の下フレーム1と上フレーム8とのA
−A線に沿う断面を示す図、図6は、製造された面実装
型半導体装置の構造の一例を示す平面図、図7は、図6
の面実装型半導体装置のB−B線に沿う断面を示す図で
ある。
FIG. 3 is a perspective view showing an assembled state of the surface mount type semiconductor device using the lower frame 1 of FIG. 1 and the upper frame 8 of FIG. 2 in the course of manufacture, and FIG. FIG. 5 is a plan view showing a state after the alignment between the frame 1 and the upper frame 8, and FIG.
FIG. 6 is a view showing a cross section taken along the line A, FIG. 6 is a plan view showing an example of the structure of the manufactured surface-mount type semiconductor device, and FIG.
FIG. 3 is a view showing a cross section of the surface-mounted semiconductor device taken along line BB.

【0022】図1の下フレーム1と図2の上フレーム8
とを用いて、面実装型半導体装置を製造するには、図3
に示すように、下フレーム1の半導体チップ搭載部6,
7にろう材13をセットし、半導体チップ12をセット
し、その上にペースト半田14をセットする。次に、図
4,図5に示すように、上フレーム8の∩字型センター
バー9と下フレーム1のセンターバー5およびタイバー
4とを組合わせ、上フレーム8をセットする。
The lower frame 1 of FIG. 1 and the upper frame 8 of FIG.
In order to manufacture a surface-mount type semiconductor device by using FIG.
As shown in FIG.
7, the brazing material 13 is set, the semiconductor chip 12 is set, and the paste solder 14 is set thereon. Next, as shown in FIGS. 4 and 5, the upper frame 8 is set by combining the ∩-shaped center bar 9 of the upper frame 8 with the center bar 5 and the tie bar 4 of the lower frame 1.

【0023】さらに、下フレーム1のセンターバー5と
上フレーム8の∩字型センターバー9とを固定するた
め、センターバー5と∩字型センターバー9とを例えば
2点でポイント溶接する。その後、加熱炉を通過させ、
ろう材13とペースト半田14とを溶融させて、半導体
チップ搭載部6,7と半導体チップ12と半導体チップ
接続端子10,11とを半田付けする。次に、エポキシ
系等の樹脂15で、半導体チップ12の周りを封止す
る。
Further, in order to fix the center bar 5 of the lower frame 1 and the セ ン タ ー -shaped center bar 9 of the upper frame 8, the center bar 5 and the ∩-shaped center bar 9 are, for example, point-welded at two points. After that, let it pass through the heating furnace,
The brazing material 13 and the paste solder 14 are melted, and the semiconductor chip mounting portions 6 and 7, the semiconductor chip 12, and the semiconductor chip connection terminals 10 and 11 are soldered. Next, the periphery of the semiconductor chip 12 is sealed with a resin 15 such as an epoxy resin.

【0024】最後に、下フレーム1のセンターバー5,
タイバー4,フレーム枠2,3を切り離すとともに、上
フレーム8の∩字型センターバー9も切り離し、半導体
チップ搭載部6,7から樹脂15の外部に出ている端子
部を所定の形状にフォーミング加工すると、図6および
図7に示すように、本発明による面実装型半導体装置が
完成する。
Finally, the center bar 5 of the lower frame 1
The tie bars 4, the frame frames 2, 3 are cut off, and the セ ン タ ー -shaped center bar 9 of the upper frame 8 is also cut off, and the terminal portions protruding from the semiconductor chip mounting portions 6, 7 to the outside of the resin 15 are formed into a predetermined shape. Then, as shown in FIGS. 6 and 7, the surface-mounted semiconductor device according to the present invention is completed.

【0025】図8は、図1の実施例の下フレーム1およ
び上フレーム8の構造上の特徴であるセンターバー5お
よびセンターバー9の位置合わせ部の形状に関する変形
例を示す図である。本実施例においては、センターバー
5およびセンターバー9の断面が∧字型になっている。
本実施例でも、位置合わせおよびろう材の厚みの均一化
に関して、図1〜図3の実施例と同等の効果が得られ
る。
FIG. 8 is a view showing a modification of the shape of the alignment portions of the center bar 5 and the center bar 9 which are structural features of the lower frame 1 and the upper frame 8 of the embodiment shown in FIG. In this embodiment, the cross-sections of the center bar 5 and the center bar 9 are ∧-shaped.
Also in this embodiment, the same effects as those of the embodiment shown in FIGS. 1 to 3 can be obtained with respect to the alignment and the equalization of the thickness of the brazing material.

【0026】図9は、図1の実施例の下フレーム1およ
び上フレーム8の構造上の特徴であるセンターバー5お
よびセンターバー9の位置合わせ部の形状に関する変形
例を示す図である。本実施例においては、センターバー
5およびセンターバー9の断面が半円形になっている。
本実施例でも、位置合わせおよびろう材の厚みの均一化
に関して、図1〜図3の実施例と同等の効果が得られ
る。
FIG. 9 is a view showing a modification of the shape of the center bar 5 and the alignment of the center bar 9 which are structural features of the lower frame 1 and the upper frame 8 of the embodiment of FIG. In the present embodiment, the cross sections of the center bar 5 and the center bar 9 are semicircular.
Also in this embodiment, the same effects as those of the embodiment shown in FIGS. 1 to 3 can be obtained with respect to the alignment and the equalization of the thickness of the brazing material.

【0027】図10は、上フレーム8を長尺物として連
続的に構成した実施例の上フレーム8と下フレーム1と
の位置合わせ部の構造を示す斜視図である。上フレーム
8の∩字型センターバー9が下フレーム1のタイバー4
と交叉する部分のみを平面にすれば、上フレーム8を長
尺物として連続的に構成した場合でも、本発明を適用で
きる。本実施例でも、位置合わせおよびろう材の厚みの
均一化に関して、図1〜図3の実施例と同等の効果が得
られる。
FIG. 10 is a perspective view showing a structure of an alignment portion between the upper frame 8 and the lower frame 1 in the embodiment in which the upper frame 8 is continuously formed as a long object. The ∩-shaped center bar 9 of the upper frame 8 is the tie bar 4 of the lower frame 1
The present invention can be applied to a case where the upper frame 8 is continuously formed as a long object by making only a portion intersecting with a flat surface. Also in this embodiment, the same effects as those of the embodiment shown in FIGS. 1 to 3 can be obtained with respect to the alignment and the equalization of the thickness of the brazing material.

【0028】図11は、上フレーム8を長尺物として連
続的に構成した他の実施例の上フレーム8と下フレーム
1との位置合わせ部の構造を示す斜視図である。本実施
例においては、上フレーム8のセンターバー9と下フレ
ーム1のタイバー4との位置合わせ部分を、互いに嵌め
合う構造とし、下フレーム1のセンターバー5を省略し
てある。このように、下フレーム1のセンターバー5が
無くても、位置合わせおよびろう材の厚みの均一化に関
して、図1〜図3の実施例と同等の効果が得られる。
FIG. 11 is a perspective view showing the structure of an alignment portion between the upper frame 8 and the lower frame 1 in another embodiment in which the upper frame 8 is continuously formed as a long object. In this embodiment, the alignment portion between the center bar 9 of the upper frame 8 and the tie bar 4 of the lower frame 1 has a structure in which they are fitted to each other, and the center bar 5 of the lower frame 1 is omitted. Thus, even if the center bar 5 of the lower frame 1 is not provided, the same effects as those of the embodiment of FIGS. 1 to 3 can be obtained with respect to the alignment and the uniform thickness of the brazing material.

【0029】図11の実施例は、センターバー9が長尺
物の場合であるが、タイバー4と交叉する部分すなわち
∩字部分の中央でセンターバー9を切断し、図2の実施
例と同様の長さにした場合でも、図11の実施例と同等
の効果が得られる。
The embodiment shown in FIG. 11 is a case where the center bar 9 is a long object, but the center bar 9 is cut at a portion intersecting with the tie bar 4, that is, at the center of the ∩-shaped portion, and is similar to the embodiment of FIG. In this case, the same effect as in the embodiment of FIG. 11 can be obtained.

【0030】以上の実施例は、いずれも、1軸当たり2
個の面実装型半導体装置を製造する例であった。これに
対して、図12は、1軸当たり4個の面実装型半導体装
置を製造する実施例を示す図である。
In each of the above embodiments, two shafts
This is an example in which a plurality of surface mount semiconductor devices are manufactured. On the other hand, FIG. 12 is a diagram showing an embodiment in which four surface mount semiconductor devices are manufactured per axis.

【0031】従来は、一軸当たりのリードフレームが線
対称ではなかったから、上フレームの荷重がバランス悪
く、ろう材の厚みが不均一となり、全体としての平面性
を確保することが困難であった。したがって、1軸当た
り複数個の面実装型半導体装置を製造することは、実質
的にはできなかった。
Conventionally, since the lead frame per axis is not axisymmetric, the load on the upper frame is poorly balanced, the thickness of the brazing material is not uniform, and it has been difficult to secure the flatness as a whole. Therefore, it was substantially impossible to manufacture a plurality of surface mount semiconductor devices per axis.

【0032】これに対して、本実施例においては、下フ
レーム1のセンターバー5およびタイバー4と上フレー
ム8のセンターバー9とを位置合わせして、ポイント溶
接等で上下フレーム8および1を固定できるので、半導
体チップ12をろう付けする段階では、上下フレーム8
および1と半導体チップ12との位置合わせ用治具は、
もはや不要となる。しかも、一軸当たりのセンターバー
5および9に関し、リードフレームを線対称な構造とし
てあるから、上フレーム8の荷重がバランス良く加わ
り、ろう材の厚みが均一化される。したがって、高信頼
の面実装型半導体装置を量産できる。
On the other hand, in this embodiment, the center bar 5 and the tie bar 4 of the lower frame 1 are aligned with the center bar 9 of the upper frame 8, and the upper and lower frames 8 and 1 are fixed by point welding or the like. At the stage of brazing the semiconductor chip 12, the upper and lower frames 8
And jigs for positioning the semiconductor chip 12 with 1 and 1
No longer needed. Moreover, since the lead frame has a line-symmetrical structure with respect to the center bars 5 and 9 per axis, the load of the upper frame 8 is applied in a well-balanced manner, and the thickness of the brazing material is made uniform. Therefore, a highly reliable surface mount semiconductor device can be mass-produced.

【0033】本実施例においても、センターバー5と∩
字型センターバー9とをポイント溶接すると、位置合わ
せおよびろう材の厚みの均一化に関して、図1〜図3の
実施例と同等の効果が得られる。
Also in this embodiment, the center bar 5 and the ∩
When the point-shaped center bar 9 is point-welded, the same effects as those of the embodiment shown in FIGS. 1 to 3 can be obtained with respect to the alignment and the equalization of the thickness of the brazing material.

【0034】なお、図12の実施例から、1軸当たりn
個の面実装型半導体装置を製造する変形例は、容易に想
像できるであろう。
It should be noted that, from the embodiment of FIG.
Modifications for manufacturing individual surface-mounted semiconductor devices can be easily imagined.

【0035】また、上記実施例は、面実装型半導体装置
の構造に関するものであったが、半導体チップ搭載部
に、半導体チップに代えて、抵抗やコンデンサ等の受動
素子を載せて、面実装型の受動部品を製造する場合に
も、本発明が有効であることは、いうまでもない。
The above embodiment relates to the structure of the surface mount type semiconductor device. However, instead of mounting the semiconductor chip on the semiconductor chip mounting portion, passive elements such as resistors and capacitors are mounted. It goes without saying that the present invention is also effective when manufacturing passive components described above.

【0036】[0036]

【発明の効果】本発明によれば、下フレームのセンター
バーおよびタイバーと上フレームのセンターバーとを位
置合わせして、ポイント溶接等で上下フレームを固定で
きるので、半導体チップをろう付けする段階では、上下
フレームと半導体チップとの位置合わせ用治具は、もは
や不要となる。しかも、一軸当たりのセンターバーに関
し、リードフレームを線対称な構造としてあるから、上
フレームの荷重がバランス良く加わり、ろう材の厚みが
均一化される。したがって、量産性に優れた高信頼の面
実装型半導体装置のリードフレームと面実装型半導体装
置の製造方法が得られる。
According to the present invention, the upper and lower frames can be fixed by point welding or the like by aligning the center bar and tie bar of the lower frame with the center bar of the upper frame. The jig for positioning the upper and lower frames and the semiconductor chip is no longer necessary. In addition, since the lead frame has a line-symmetric structure with respect to the center bar per axis, the load of the upper frame is applied in a well-balanced manner, and the thickness of the brazing material is made uniform. Therefore, it is possible to obtain a lead frame of a highly reliable surface mount semiconductor device and a method of manufacturing the surface mount semiconductor device which are excellent in mass productivity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による面実装型半導体装置のリードフレ
ームのうちで、下フレームの構造の一例を示す平面図で
ある。
FIG. 1 is a plan view showing an example of a structure of a lower frame among lead frames of a surface mount semiconductor device according to the present invention.

【図2】本発明による面実装型半導体装置のリードフレ
ームのうちで、上フレームの構造の一例を示す平面図で
ある。
FIG. 2 is a plan view showing an example of the structure of an upper frame among the lead frames of the surface mount semiconductor device according to the present invention.

【図3】図1の下フレームと図2の上フレームとを用い
た面実装型半導体装置の製造途中の組立て状態を示す斜
視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing an assembled state of the surface-mount type semiconductor device using the lower frame of FIG. 1 and the upper frame of FIG. 2 during manufacture;

【図4】図3の下フレームと上フレームとの位置合わせ
後の状態を示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a state after alignment between a lower frame and an upper frame in FIG. 3;

【図5】図4の下フレームと上フレームとのA−A線に
沿う断面を示す図である。
FIG. 5 is a view showing a cross section of the lower frame and the upper frame of FIG. 4 taken along line AA.

【図6】製造された面実装型半導体装置の構造の一例を
示す平面図である。
FIG. 6 is a plan view showing an example of the structure of the manufactured surface-mount type semiconductor device.

【図7】図6の面実装型半導体装置のB−B線に沿う断
面を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a cross section along the line BB of the surface mount semiconductor device of FIG. 6;

【図8】図1の実施例の下フレームおよび上フレームの
構造上の特徴であるセンターバーおよびセンターバーの
位置合わせ部の形状に関する変形例を示す図である。
FIG. 8 is a view showing a modified example relating to the shape of the center bar and the alignment portion of the center bar, which are structural features of the lower frame and the upper frame of the embodiment of FIG. 1;

【図9】図1の実施例の下フレームおよび上フレームの
構造上の特徴であるセンターバーおよびセンターバーの
位置合わせ部の形状に関する変形例を示す図である。
FIG. 9 is a view showing a modified example relating to the shape of the center bar and the alignment portion of the center bar, which are structural features of the lower frame and the upper frame of the embodiment of FIG. 1;

【図10】上フレームを長尺物として連続的に構成した
実施例の上フレームと下フレームとの位置合わせ部の構
造を示す斜視図である。
FIG. 10 is a perspective view showing a structure of an alignment portion between the upper frame and the lower frame in the embodiment in which the upper frame is continuously formed as a long object.

【図11】上フレームを長尺物として連続的に構成した
他の実施例の上フレームと下フレームとの位置合わせ部
の構造を示す斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing a structure of an alignment portion between an upper frame and a lower frame in another embodiment in which the upper frame is continuously formed as a long object.

【図12】1軸当たり4個の面実装型半導体装置を製造
する実施例を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing an example of manufacturing four surface mount semiconductor devices per axis.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 下フレーム 2 フレーム枠 3 フレーム枠 4 タイバー 5 センターバー 6 半導体チップ搭載部 7 半導体チップ搭載部 8 上フレーム 9 センターバー 10 半導体チップ接続端子 11 半導体チップ接続端子 12 半導体チップ 13 ろう材 14 ペースト半田 15 樹脂 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Lower frame 2 Frame frame 3 Frame frame 4 Tie bar 5 Center bar 6 Semiconductor chip mounting part 7 Semiconductor chip mounting part 8 Upper frame 9 Center bar 10 Semiconductor chip connection terminal 11 Semiconductor chip connection terminal 12 Semiconductor chip 13 Brazing material 14 Paste solder 15 resin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 米山 和男 茨城県日立市弁天町三丁目10番2号 日 立原町電子工業株式会社内 (72)発明者 菅野 実 茨城県日立市弁天町三丁目10番2号 日 立原町電子工業株式会社内 (72)発明者 鶴岡 敦 茨城県日立市弁天町三丁目10番2号 日 立原町電子工業株式会社内 (72)発明者 橋本 友秀 茨城県日立市弁天町三丁目10番2号 日 立原町電子工業株式会社内 (72)発明者 成田 一豊 茨城県日立市幸町三丁目1番1号 株式 会社 日立製作所 日立工場内 (56)参考文献 特開 昭58−216448(JP,A) 特開 平2−33955(JP,A) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Kazuo Yoneyama 3- 10-2 Bentencho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture Inside Tachihara-cho Electronic Industry Co., Ltd. (72) Inventor Minoru Sugano 3-chome Bentencho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture No. 2 Sun Tachiharacho Electronics Co., Ltd. (72) Inventor Atsushi Tsuruoka 3- 10-2 Bentencho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture Sun Tachiharacho Electronics Co., Ltd. (72) Inventor Tomohide Hashimoto Benten, Hitachi City, Ibaraki Prefecture 3-10-2, Machi Tachiharacho Electronics Co., Ltd. (72) Inventor Kazutomo Narita 3-1-1, Kochimachi, Hitachi-shi, Ibaraki Pref.Hitachi, Ltd.Hitachi Plant (56) References JP 58 -216448 (JP, A) JP-A-2-33955 (JP, A)

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 左右のフレーム枠の中央で前記フレーム
枠とタイバーで部分的に接続され前記フレーム枠と平行
な第1センターバーを有し、前記フレーム枠の長手方向
と直角方向の軸上に前記第1センターバーについて線対
称となり前記フレーム枠とそれぞれ一体な複数の半導体
チップ搭載部の対を有する下フレームと、 前記下フレームの前記第1センターバーおよび前記タイ
バーと嵌め合う形状の第2センターバーを有し、前記第
2センターバーと直角方向の軸上で上記下フレームの半
導体チップ搭載部に対応する位置に配置され前記第2セ
ンターバーとそれぞれ一体な複数の半導体チップ接続端
子の対を有する上フレームとからなる半導体装置のリー
ドフレーム。
1. A frame having a first center bar which is partially connected to the frame by a tie bar at the center of the left and right frame and is parallel to the frame, and is provided on an axis perpendicular to the longitudinal direction of the frame. A lower frame having a plurality of pairs of a plurality of semiconductor chip mounting portions which are line-symmetric with respect to the first center bar and respectively integrated with the frame, a second center having a shape fitted with the first center bar and the tie bar of the lower frame; A plurality of pairs of semiconductor chip connection terminals which are disposed at positions corresponding to the semiconductor chip mounting portions of the lower frame on an axis perpendicular to the second center bar and are respectively integral with the second center bar. A lead frame for a semiconductor device comprising:
【請求項2】 請求項1に記載の半導体装置のリードフ
レームにおいて、 前記上フレームの前記第2センターバーの長手方向の端
部が、前記下フレームの前記タイバーの端面に当接し前
記上フレームの長手方向の位置を決める長さに裁断され
ていることを特徴とする半導体装置のリードフレーム。
2. The lead frame of the semiconductor device according to claim 1, wherein a longitudinal end of the second center bar of the upper frame contacts an end surface of the tie bar of the lower frame. A lead frame for a semiconductor device, which is cut to a length that determines a position in a longitudinal direction.
【請求項3】 左右のフレーム枠の中央で前記フレーム
枠とタイバーで部分的に接続され前記フレーム枠と平行
な第1センターバーを有し、前記フレーム枠の長手方向
と直角方向の軸上に前記第1センターバーについて線対
称となり前記フレーム枠とそれぞれ一体な複数の半導体
チップ搭載部の対を有する下フレームと、 前記下フレームの前記第1センターバーおよび前記タイ
バーを乗り越え当該第1センターバーおよび当該タイバ
ーと嵌め合う形状の第2センターバーを有し、前記第2
センターバーと直角方向の軸上で上記下フレームの半導
体チップ搭載部に対応する位置に配置され前記第2セン
ターバーとそれぞれ一体な複数の半導体チップ接続端子
の対を有する長尺の上フレームとからなる半導体装置の
リードフレーム。
3. A frame having a first center bar which is partially connected to the frame by a tie bar at the center of the left and right frame and is parallel to the frame, and is provided on an axis perpendicular to the longitudinal direction of the frame. A lower frame having a plurality of pairs of semiconductor chip mounting portions that are line-symmetric with respect to the first center bar and are respectively integrated with the frame, and the first center bar and the tie bar of the lower frame, A second center bar having a shape fitted with the tie bar;
A center bar and a long upper frame having a plurality of pairs of semiconductor chip connection terminals, each of which is disposed at a position corresponding to the semiconductor chip mounting portion of the lower frame on the axis perpendicular to the center bar and has a plurality of semiconductor chip connection terminals each integrated with the second center bar; Semiconductor device lead frame.
【請求項4】 左右のフレーム枠を部分的に接続するタ
イバーを有し、前記フレーム枠の長手方向と直角方向の
軸上に前記左右のフレーム枠とそれぞれ一体な複数の半
導体チップ搭載部の対を有する下フレームと、 前記下フレームの前記タイバーと嵌め合う形状の第2セ
ンターバーを有し、前記第2センターバーと直角方向の
軸上で上記下フレームの半導体チップ搭載部に対応する
位置に配置され前記第2センターバーとそれぞれ一体な
複数の半導体チップ接続端子の対を有する上フレームと
からなる半導体装置のリードフレーム。
4. A pair of a plurality of semiconductor chip mounting portions each having a tie bar for partially connecting the left and right frame frames, and being integrated with the left and right frame frames on an axis perpendicular to a longitudinal direction of the frame frame. A lower frame having a second center bar shaped to fit the tie bar of the lower frame, at a position corresponding to the semiconductor chip mounting portion of the lower frame on an axis perpendicular to the second center bar. A lead frame for a semiconductor device, comprising: an upper frame disposed and having a plurality of pairs of semiconductor chip connection terminals each being integrated with the second center bar.
【請求項5】 請求項4に記載の半導体装置のリードフ
レームにおいて、 前記上フレームの前記第2センターバーの長手方向の端
部が、前記下フレームの前記タイバーに当接し前記上フ
レームの長手方向の位置を決める長さに裁断されている
ことを特徴とする半導体装置のリードフレーム。
5. The lead frame of the semiconductor device according to claim 4, wherein a longitudinal end of the second center bar of the upper frame abuts on the tie bar of the lower frame, and a longitudinal direction of the upper frame. A lead frame for a semiconductor device, which is cut to a length that determines the position of the semiconductor device.
【請求項6】 左右のフレーム枠を部分的に接続するタ
イバーを有し、前記フレーム枠の長手方向と直角方向の
軸上に前記左右のフレーム枠とそれぞれ一体な複数の半
導体チップ搭載部の対を有する下フレームと、 前記下フレームの前記タイバーを乗り越え当該タイバー
と嵌め合う形状の第2センターバーを有し、前記第2セ
ンターバーと直角方向の軸上で上記下フレームの半導体
チップ搭載部に対応する位置に配置され前記第2センタ
ーバーとそれぞれ一体な複数の半導体チップ接続端子の
対を有する長尺の上フレームとからなる半導体装置のリ
ードフレーム。
6. A pair of a plurality of semiconductor chip mounting portions each having a tie bar for partially connecting the left and right frame frames, and being integrated with the left and right frame frames on an axis perpendicular to the longitudinal direction of the frame frame. A lower frame having a second center bar shaped to fit over the tie bar of the lower frame and to be fitted to the tie bar, and to be mounted on the semiconductor chip mounting portion of the lower frame on an axis perpendicular to the second center bar. A lead frame for a semiconductor device comprising: a second upper bar disposed at a corresponding position; and a long upper frame having a plurality of pairs of semiconductor chip connection terminals each integrated with the second center bar.
【請求項7】 請求項1ないし6のいずれか一項に記載
の半導体装置のリードフレームにおいて、 前記下フレームおよび前記上フレームが、前記左右のフ
レーム枠との長手方向と直角方向の軸上で少なくとも3
個の半導体チップ搭載部および半導体チップ接続端子を
備えていることを特徴とする半導体装置のリードフレー
ム。
7. The lead frame of a semiconductor device according to claim 1, wherein said lower frame and said upper frame are on an axis perpendicular to a longitudinal direction of said left and right frame frames. At least 3
A lead frame for a semiconductor device, comprising: a plurality of semiconductor chip mounting portions and semiconductor chip connection terminals.
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