JP2850896B2 - 半導体チップ接着装置及び半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体チップ接着装置及び半導体装置の製造方法

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JP2850896B2
JP2850896B2 JP5573697A JP5573697A JP2850896B2 JP 2850896 B2 JP2850896 B2 JP 2850896B2 JP 5573697 A JP5573697 A JP 5573697A JP 5573697 A JP5573697 A JP 5573697A JP 2850896 B2 JP2850896 B2 JP 2850896B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体チップ接着装
置及び半導体装置の製造方法に関し、特にLOC構造を
有する半導体装置に用いられる半導体チップをリードフ
レームに接着させる半導体チップ接着装置及び半導体装
置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】LOC構造を有する半導体装置(以下、
単にLOCと言う。)は、リードフレームと半導体チッ
プとが接着された構造となっている。従来、このリード
フレームと半導体チップとの接着は、リードフレームに
あらかじめ接着テープを付着させ、半導体チップを熱
し、その後この接着テープが付着されたリードフレーム
と半導体チップの表面とを熱圧着して接着するマウント
方法が用いられている。
【0003】図3に、従来のLOCの製造工程を示す。
この図はLOCのダイシング工程からマウント工程まで
を示している。まず、(a)は、リング2に張られたシ
ート3上にウエハ1を張り付ける工程を示す。(b)
は、シート3上に張り付けられたウエハ1をダイシング
装置により分割してチップ4にする工程を示す。
【0004】(c)は、ダイシング工程終了後リング2
を図示しないマウント装置にセットし、その後コレット
5によりチップ4をピックアップする工程を示す。そし
て、(d)及び(e)は、マウント装置によりチップ4
をリードフレーム7に接着する工程を示す。まず(d)
に示されるように、コレット5によりピックアップされ
たチップ4を、表面が通常150〜350℃の範囲内の
温度に加熱されたステージ6上に移動させ、カメラ10
でその位置の認識を行い、ステージ6上におけるチップ
4の位置を補正する。次に(e)に示されるように、ス
テージ6をリードフレーム7の下に移動させ圧着ヘッド
9の下降とステージ6の上昇によりチップ4をリードフ
レーム7に熱圧着させる。これらの工程により、LOC
においてチップ4がリードフレーム7に接着される。
【0005】また図4に、実開昭62−21535号公
報に開示された「ブレークエキスパンド装置」を示す。
この考案は、ハーフカットされたウエハをブレーキング
しながらマウントするものである。図4の(a)は、ハ
ーフカットされたウエハをシート3に張り付けマウント
装置にセットした後、突き上げステージ6によりチップ
4を突き上げた状態を示す図である。図4の(b)は突
き上げる前のウエハの状態である。突き上げる前は、そ
れぞれのチップは完全に分離されてはいないが、突き上
げステージ6により突き上げられたチップ4は周辺のチ
ップと切り離されコレット5によりピックアップされ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような従来のLOCのマウント方法のマウント時間は、
一般的な構造の半導体装置においては約1.0秒である
のに対し、LOCにおいてチップとリードフレームとを
接着するのに必要な時間は、LOCパッケージの構造
上、チップ表面をリードフレームに接着させるためにチ
ップを一旦ステージ上に移動させ、位置修正をした後で
ステージをリードフレーム下に移動させる方法をとって
いるため、圧着時間1.0秒を含めて約3.5秒以上と
なり長時間を必要とする。従って、その生産性の低下が
避けられないという問題点を有している。
【0007】実開昭62−21535号公報に開示され
た「ブレークエキスパンド装置」においては、シート3
上に形成されたハーフカットされたウエハを突き上げ用
のステージ6により突き上げ、さらにこの突き上げるこ
とにより分離されたチップ4をコレット5によりピック
アップするものであるが、このピックアップされたチッ
プ4にリードフレームを接着させるためには、さらにこ
のピックアップされたチップをステージ上に載置する等
の工程が必要である。従って、製造時間の短縮をするこ
とはできず、LOCの生産性の向上を図ることができな
い。
【0008】本発明は上記事情に鑑みなされたもので、
LOCの生産性を向上させることのできる半導体チップ
接着装置及び半導体装置の製造方法を提供することを目
的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
底部に開口部を有するウエハ固定用治具と、前記開口部
を介して、前記ウエハ固定用治具上に形成された半導体
チップを突き上げるステージと、前記ステージにより突
き上げられた半導体チップとリードフレームとを圧着さ
せる圧着手段とを有することを特徴とする。
【0010】従って、この発明によれば、ウエハ固定用
治具上に固定されたウエハにより形成された半導体チッ
プを、ウエハ固定用治具の底部に設けられた開口部を介
してステージにより突き上げ、さらにこの突き上げた状
態でステージ上のチップとリードフレームとを接着する
ことにより、半導体チップをピックアップしてステージ
上に移動させる手間が省け、製造時間の短縮を図ること
ができ、従って半導体装置の生産性を向上させることが
できる。
【0011】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記ステージは、該ステージを加熱するた
めの加熱手段と、前記半導体チップを真空吸着するため
の真空手段とを有することを特徴とする。
【0012】従って、この発明によれば、請求項1記載
の発明の作用が得られると共に、チップを突き上げるス
テージ自体が加熱されているのでチップを容易に加熱す
ることができ、チップとステージとが真空吸着されてい
るので必要なチップのみを突き上げることができるの
で、さらに半導体装置の生産性を向上させることができ
る。
【0013】請求項3記載の発明は、請求項1又は2に
記載の発明において、前記半導体チップ接着装置は、前
記ステージで突き上げる半導体チップを認識するための
カメラを有することを特徴とする。
【0014】従って、この発明によれば、請求項1又は
2に記載の発明の作用が得られると共に、ステージで突
き上げる半導体チップの位置を正確に知ることができ
る。
【0015】請求項4記載の発明は、請求項1から3の
いずれかに記載の発明において、前記ウエハ固定用治具
上に形成された半導体チップは、該ウエハ固定用治具上
に固定されたウエハがハーフカットされることにより形
成されることを特徴とする。
【0016】従って、この発明によれば、請求項1から
3のいずれかに記載の発明の作用が得られると共に、半
導体チップがウエハ上にハーフカットされていることに
より、ウエハ固定用治具上における半導体チップの位置
ズレを防ぐことができる。
【0017】請求項5記載の発明は、前記底部に開口部
を有するウエハ固定用治具上にウエハを固定する工程
と、前記開口部を介して、前記ウエハ固定用治具上に形
成された半導体チップをステージにより突き上げる工程
と、前記ステージにより突き上げられた半導体チップと
リードフレームとを圧着させる工程とを有することを特
徴とする。
【0018】従って、この発明によれば、底部に開口部
を有するウエハ固定用治具上にウエハを固定し、その開
口部を介して、ウエハ固定用治具上に形成された半導体
チップをステージにより突き上げ、ステージにより突き
上げられた半導体チップとリードフレームとを圧着させ
ることにより、半導体チップをピックアップしてステー
ジ上に移動させる手間が省け、製造時間の短縮を図るこ
とができ、従って半導体装置の生産性を向上させること
ができる。
【0019】請求項6記載の発明は、請求項5記載の発
明において、前記開口部を介して、前記ウエハ固定用治
具上に形成された半導体チップをステージにより突き上
げる工程は、該ステージを加熱機構により加熱する工程
と、前記半導体チップをステージに真空吸着させる工程
とを有することを特徴とする。
【0020】従って、この発明によれば、請求項5記載
の発明の作用が得られると共に、開口部を介して、ウエ
ハ固定用治具上に形成された半導体チップをステージに
より突き上げる工程が、このステージを加熱機構により
加熱する工程と、半導体チップをステージに真空吸着さ
せる工程とを有しているため、チップを容易に加熱する
ことができ、必要なチップのみを選択してステージで突
き上げるので、さらに半導体装置の生産性を向上させる
ことができる。
【0021】請求項7記載の発明は、請求項5又は6に
記載の発明において、前記ウエハ固定用治具上に形成さ
れた半導体チップをステージにより突き上げる工程は、
前記ステージで突き上げる半導体チップをカメラにより
認識する工程を有することを特徴とする。
【0022】従って、この発明によれば、請求項6又は
7に記載の発明の作用が得られると共に、ステージで突
き上げる半導体チップの位置を正確に知ることができ
る。
【0023】請求項8記載の発明は、請求項5から7の
いずれかに記載の発明において、前記底部に開口部を有
するウエハ固定用治具上にウエハを固定する工程は、該
固定されたウエハをハーフカットして半導体チップを形
成する工程を有することを特徴とする。
【0024】従って、この発明によれば、請求項5から
7のいずれかに記載の発明の作用が得られると共に、半
導体チップがウエハ上にハーフカットされていることに
より、ウエハ固定用治具上における半導体チップの位置
ズレを防ぐことができる。
【0025】
【発明の実施の形態】次に、図面を参照して本発明に係
る半導体チップ接着装置及び半導体装置の製造方法の一
実施形態を説明する。
【0026】図1に、本発明に係る半導体チップ接着装
置の一実施形態の構造を示す。ただし、この図におい
て、図3に示す部材と同様な部材には同様な番号を付
す。この半導体チップ接着装置は、1以上のチップ突き
上げ用穴14を有するウエハ固定用治具13と、チップ
突き上げ用穴14を介してウエハ固定用治具13上のチ
ップ4を突き上げるためのステージ11と、ステージ1
1により突き上げられたチップ4と、接着テープ8が付
着されたリードフレーム7とを圧着するための圧着ヘッ
ド9とを有する。さらに、ピックアップするチップの周
辺のチップを認識し、位置修正をするカメラ10を具備
している。また、ステージ11は図示しない加熱機構に
より加熱されており、真空穴12は、図示しないバキウ
ム穴により、真空に保たれている。
【0027】この半導体チップ接着装置は、従来技術に
おいて説明したようなリングにシートを張った上にウエ
ハを貼り付けるのではなく、ウエハ固定用治具13上に
固定されたウエハ1をハーフカットし、チップ4を形成
する。そしてこのチップ4の裏面より、チップ突き上げ
用穴14を介してステージ11にてチップ4を突き上げ
る。この際ピックアップするチップ4の回りのチップは
真空穴12が真空に保たれているため真空吸着されてお
り、ピックアップするチップ4のみがウエハ1から切り
離される。そしてこの突き上げられたチップ4を接着テ
ープ8が付着されたリードフレーム7に、ステージ11
と圧着ヘッド9とにより圧着することによりLOCを製
造する。また、ステージ11も加熱されているため、こ
のステージ11により突き上げられたチップ4も加熱さ
れる。従ってステージ11と圧着ヘッド9とによる圧着
は、熱圧着となる。
【0028】従って、この半導体チップ接着装置によれ
ば、ウエハ固定用治具13上に形成されたチップ4をス
テージ11により突き上げ、このままリードフレームと
圧着することにより、マウント時間の短縮を図ることが
でき、LOCの生産性を向上することができる。
【0029】次に、本発明に係る半導体装置の製造方法
の一実施形態について図2を参照して説明する。ただし
この図において、上述の図1に示す半導体チップ接着装
置と同様な部材には同様な番号を付す。図2の(a)
は、その底部に複数のチップ突き上げ用の穴14を有し
ているウエハ1を固定するためのウエハ固定用治具13
にウエハ1を固定する工程を示す図である。図2の
(b)は、ウエハ固定用治具13に固定されたウエハ1
をハーフカット状態で分割してチップ4を形成する工程
を示す図である。図2の(c)は、チップ4をウエハ固
定用治具13の底部に形成されたチップ突き上げ用の穴
14を介してステージ11を突き上げ、接着テープ8が
付着されたリードフレーム7とチップ4とを圧着ヘッド
9を用いて圧着させる工程を示す図である。
【0030】この半導体装置の製造方法についてさらに
詳細に説明する。まず、上述したように図2の(a)は
ウエハ1をウエハ固定用治具13に固定する工程を示
し、(b)はハーフカットした状態でウエハ1をチップ
4に分割する工程を示す。またこのハーフカットの切り
残し量は150μm以下とする。これは、ステージ11
でチップ4を突き上げた際にチップ同士が容易に切り離
されるようにして裏面のチップカケを減少させる必要が
あるためである。従ってウエハ1のウエハ固定用治具1
3への取り付けは、ウエハ割れを防止するためにダイシ
ング前に行った方が好ましい。
【0031】(c)は図示しないマウンタ装置でチップ
4をリードフレーム7に接着する工程を示す。ウエハ1
に対してハーフカットを行うことによってチップ4を得
ているため、ウエハ固定用治具13上のチップ4の位置
がずれるというようなことは無く、マウントするチップ
の位置を直接認識する必要も無い。従って、カメラ10
でピックアップするチップの周辺のチップを認識し、位
置の修正する。そしてこの位置の修正の後、次にウエハ
固定用治具13の底部からチップ突き上げ用穴14を介
してステージ11を上昇させる。チップ4とステージ1
1とは真空穴12が真空に保たれているため真空吸着さ
れており、突き上げの際にチップ4は周辺のチップと切
り離される。そして、リードフレーム7に接すると同時
に圧着ヘッド9が接着テープ8を有するリードフレーム
7に対し上面から加圧し、チップ4はリードフレーム7
に接着される。ここでチップ突き上げ用穴14の寸法は
ステージ11が上下できる大きさである。チップ突き上
げ用穴14の側面とステージ11の側面との間隔は約1
mmとし、そしてウエハ1上に形成された全てのチップ
4が突き上げられるように配列されている。
【0032】またステージ11はチップ4を真空吸着す
るための図示しないバキウム穴と熱圧着するための加熱
機構とを備えている。従って、このバキウム穴により真
空穴12が真空となり、ステージ11とチップ4とが真
空吸着され、加熱機構によりステージ11が加熱される
ことにより、ステージ11上のチップ4が加熱され、従
ってリードフレーム7とチップ4との熱圧着を容易に行
うことができる。ステージ11の先端の寸法については
テープ材がはみ出さなければ良いので、テープ材の寸法
より0.5〜1.0mm程度大きい寸法であれば良い。
【0033】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、ハーフカットしたウエハをリードフレームの
下に移動させてチップを直接突き上げてマウントするた
め、マウント圧着時間1.0秒の他にチップ認識時間
0.5秒とウエハ移動時間0.5秒となる。従って、マ
ウント時間が従来方法では約3.5秒に対し、約2.0
秒に短縮することが可能となるので、半導体装置の生産
性を向上させることのできる半導体チップ接着装置及び
半導体装置の製造方法を提供することができる。
【0034】また、ステージを加熱することによりステ
ージにより突き上げるチップを加熱し、ステージとチッ
プとを真空吸着により吸着させ、カメラによりステージ
により突き上げるチップの位置を認識しているので、半
導体装置の生産性をさらに向上させることができる半導
体チップ接着装置及び半導体装置の製造方法を提供する
ことができる。
【0035】さらに、ウエハ固定用治具上に固定された
ウエハをハーフカットすることによりチップを得ている
ため、ウエハ固定用治具上において、チップの位置ズレ
を防止することができるので、半導体装置の生産性をさ
らに向上させることができる半導体チップ接着装置及び
半導体装置の製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体チップ接着装置の一実施形
態を示す図である。
【図2】本発明に係る半導体装置の製造方法の一実施形
態を示す図である。
【図3】従来の半導体装置の製造工程を示す図である。
【図4】従来のチップをピックアップする方法を示す図
である。
【符号の説明】
1 ウエハ 2 リング 3 シート 4 チップ 5 コレット 6 ステージ 7 リードフレーム 8 接着テープ 9 圧着ヘッド 10 カメラ 11 ステージ 12 真空穴 13 ウエハ固定用治具 14 チップ突き上げ用穴

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 底部に開口部を有するウエハ固定用治具
    と、 前記開口部を介して、前記ウエハ固定用治具上に形成さ
    れた半導体チップを突き上げるステージと、 前記ステージにより突き上げられた半導体チップとリー
    ドフレームとを圧着させる圧着手段とを有することを特
    徴とする半導体チップ接着装置。
  2. 【請求項2】 前記ステージは、 該ステージを加熱するための加熱手段と、 前記半導体チップを真空吸着するための真空手段とを有
    することを特徴とする請求項1記載の半導体チップ接着
    装置。
  3. 【請求項3】 前記半導体チップ接着装置は、前記ステ
    ージで突き上げる半導体チップを認識するためのカメラ
    を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の半導
    体チップ接着装置。
  4. 【請求項4】 前記ウエハ固定用治具上に形成された半
    導体チップは、該ウエハ固定用治具上に固定されたウエ
    ハがハーフカットされることにより形成されることを特
    徴とする請求項1から3のいずれかに記載の半導体チッ
    プ接着装置。
  5. 【請求項5】 前記底部に開口部を有するウエハ固定用
    治具上にウエハを固定する工程と、 前記開口部を介して、前記ウエハ固定用治具上に形成さ
    れた半導体チップをステージにより突き上げる工程と、 前記ステージにより突き上げられた半導体チップとリー
    ドフレームとを圧着させる工程とを有することを特徴と
    する半導体装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記開口部を介して、前記ウエハ固定用
    治具上に形成された半導体チップをステージにより突き
    上げる工程は、 該ステージを加熱機構により加熱する工程と、 前記半導体チップをステージに真空吸着させる工程とを
    有することを特徴とする請求項5記載の半導体装置の製
    造方法。
  7. 【請求項7】 前記ウエハ固定用治具上に形成された半
    導体チップをステージにより突き上げる工程は、 前記ステージで突き上げる半導体チップをカメラにより
    認識する工程を有することを特徴とする請求項5又は6
    に記載の半導体装置の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記底部に開口部を有するウエハ固定用
    治具上にウエハを固定する工程は、 該固定されたウエハをハーフカットして半導体チップを
    形成する工程を有することを特徴とする請求項5から7
    のいずれかに記載の半導体装置の製造方法。
JP5573697A 1997-03-11 1997-03-11 半導体チップ接着装置及び半導体装置の製造方法 Expired - Lifetime JP2850896B2 (ja)

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