JP2840522B2 - 有機半導体固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
有機半導体固体電解コンデンサの製造方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は固体電解質としてＴＣＮ
Ｑ錯塩を用いた有機半導体固体電解コンデンサの製造方
法に関するものである。
Ｑ錯塩を用いた有機半導体固体電解コンデンサの製造方
法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】電解質としてＴＣＮＱ錯塩を使用する有
機半導体固体電解コンデンサの例は、特公平３−７６５
７３号に開示されている。ここでＴＣＮＱとは、７,７,
８,８-テトラシアノキノジメタンの略称である。
機半導体固体電解コンデンサの例は、特公平３−７６５
７３号に開示されている。ここでＴＣＮＱとは、７,７,
８,８-テトラシアノキノジメタンの略称である。
【０００３】前記特公平３−７６５７３号に開示され
た、Ｎ位をアルキル基で置換したイソキノリンとのＴＣ
ＮＱ錯塩を用いた固体電解コンデンサは、優れた高周波
特性を有し、スイッチング電源用等として利用されてい
る。
た、Ｎ位をアルキル基で置換したイソキノリンとのＴＣ
ＮＱ錯塩を用いた固体電解コンデンサは、優れた高周波
特性を有し、スイッチング電源用等として利用されてい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＴＣＮ
Ｑ錯塩を用いた固体電解コンデンサは、液体の電解質を
用いた所謂アルミニウム乾式電解コンデンサに比べて、
陽極酸化、陽極化成により設けられた弁金属の酸化被膜
の修復性が弱く、２５Ｖを超える電圧を印加して高温負
荷試験を行うとショート不良が頻発するという問題があ
った。
Ｑ錯塩を用いた固体電解コンデンサは、液体の電解質を
用いた所謂アルミニウム乾式電解コンデンサに比べて、
陽極酸化、陽極化成により設けられた弁金属の酸化被膜
の修復性が弱く、２５Ｖを超える電圧を印加して高温負
荷試験を行うとショート不良が頻発するという問題があ
った。
【０００５】すなわち、ＴＣＮＱ錯塩を用いた固体電解
コンデンサで定格電圧が２５Ｖを超えるものを製品化す
ることは不可能であると考えられていた。
コンデンサで定格電圧が２５Ｖを超えるものを製品化す
ることは不可能であると考えられていた。
【０００６】これに対して本発明は、ＴＣＮＱ錯塩を用
いた固体電解コンデンサの製造方法を改善することによ
って、定格電圧が２５Ｖを超えるものの製品化を図ろう
とするものである。
いた固体電解コンデンサの製造方法を改善することによ
って、定格電圧が２５Ｖを超えるものの製品化を図ろう
とするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明による有機半導体
固体電解コンデンサの製造方法は、陽極箔、陰極箔、セ
パレータ紙にて構成される巻回型のコンデンサ素子を、
少なくともリン酸イオンとナトリウムイオンとを含有す
る水溶液に浸漬する工程と、該コンデンサ素子内に残存
する水分を揮散させる工程と、該コンデンサ素子にＴＣ
ＮＱ錯塩を含浸させる工程とを備えることを特徴とする
ものである。
固体電解コンデンサの製造方法は、陽極箔、陰極箔、セ
パレータ紙にて構成される巻回型のコンデンサ素子を、
少なくともリン酸イオンとナトリウムイオンとを含有す
る水溶液に浸漬する工程と、該コンデンサ素子内に残存
する水分を揮散させる工程と、該コンデンサ素子にＴＣ
ＮＱ錯塩を含浸させる工程とを備えることを特徴とする
ものである。
【０００８】
【作用】本発明の製造方法によれば、コンデンサ素子内
の誘電体酸化被膜がリン酸イオンとナトリウムイオンと
の相互作用によって変性し、ＴＣＮＱ錯塩に対する前記
酸化被膜の修復性が向上し、コンデンサ完成品としての
耐圧特性が向上する。
の誘電体酸化被膜がリン酸イオンとナトリウムイオンと
の相互作用によって変性し、ＴＣＮＱ錯塩に対する前記
酸化被膜の修復性が向上し、コンデンサ完成品としての
耐圧特性が向上する。
【０００９】
【実施例】以下、本発明を導き出すに至った実験の経緯
に従いながら、本発明の実施例について説明する。
に従いながら、本発明の実施例について説明する。
【００１０】まず、アルミニウムの陽極箔とその対向陰
極箔との間にセパレータ紙を挟み、円筒状に巻回してコ
ンデンサ素子を作成する。
極箔との間にセパレータ紙を挟み、円筒状に巻回してコ
ンデンサ素子を作成する。
【００１１】次に、このコンデンサ素子の陽極箔の化成
処理とセパレータ紙の炭化処理を行う。
処理とセパレータ紙の炭化処理を行う。
【００１２】次に、このコンデンサ素子を表１に示すよ
うな各種水溶液に１０分間浸漬する（比較例２は浸漬せ
ず）。
うな各種水溶液に１０分間浸漬する（比較例２は浸漬せ
ず）。
【００１３】
【表１】
【００１４】次に、このコンデンサ素子を８５℃で乾燥
し、残存する水分を揮散させる。
し、残存する水分を揮散させる。
【００１５】次に、耐圧性に優れたＴＣＮＱ錯塩（本願
発明者らが特願平５−５０６７４号にて説明した、Ｎ,
Ｎ’-１,８-ｎ-オクチル・３,５-ルチジン2・ＴＣＮ
Ｑ4）を直径４ｍｍのアルミケースに入れ、該ＴＣＮＱ
錯塩を３００℃の熱盤上で加熱して融解させ、該液状の
ＴＣＮＱ錯塩に予熱しておいた前記コンデンサ素子を浸
漬した後急冷することによって、コンデンサ素子にＴＣ
ＮＱ錯塩を含浸させる。
発明者らが特願平５−５０６７４号にて説明した、Ｎ,
Ｎ’-１,８-ｎ-オクチル・３,５-ルチジン2・ＴＣＮ
Ｑ4）を直径４ｍｍのアルミケースに入れ、該ＴＣＮＱ
錯塩を３００℃の熱盤上で加熱して融解させ、該液状の
ＴＣＮＱ錯塩に予熱しておいた前記コンデンサ素子を浸
漬した後急冷することによって、コンデンサ素子にＴＣ
ＮＱ錯塩を含浸させる。
【００１６】最後に、前記アルミケースの開口部をエポ
キシ樹脂にて封止し、約１２５℃で１時間、定格電圧
（ＤＣ３５Ｖ）を印加してエイジングを行い、固体電解
コンデンサを得る。
キシ樹脂にて封止し、約１２５℃で１時間、定格電圧
（ＤＣ３５Ｖ）を印加してエイジングを行い、固体電解
コンデンサを得る。
【００１７】このようにして得られた固体電解コンデン
サの各試料について、初期特性を測定した後、高温負荷
試験を行ってショート不良の発生状況を調べた。その結
果を表２に示す。ここで、高温負荷試験とは、１０５℃
に昇温して、定格電圧（ＤＣ３５Ｖ）を印加しながら１
０００時間放置するというものである。
サの各試料について、初期特性を測定した後、高温負荷
試験を行ってショート不良の発生状況を調べた。その結
果を表２に示す。ここで、高温負荷試験とは、１０５℃
に昇温して、定格電圧（ＤＣ３５Ｖ）を印加しながら１
０００時間放置するというものである。
【００１８】
【表２】
【００１９】表２において、Ｃ（静電容量）及びｔａｎ
δ（損失角の正接）は１２０Ｈｚで測定したものであ
り、ＥＳＲ（等価直列抵抗）は１００ｋＨｚで測定した
ものであり、ＬＣ（漏れ電流）は定格電圧を印加した
後、３０秒後に測定したものである。また、各測定値は
試料数各１００個の内の良品についての平均値であり、
ＬＣの良否に関しては１μＡ以下を良品とし、ＬＣ良品
の試料についてのみ高温負荷試験を行った。
δ（損失角の正接）は１２０Ｈｚで測定したものであ
り、ＥＳＲ（等価直列抵抗）は１００ｋＨｚで測定した
ものであり、ＬＣ（漏れ電流）は定格電圧を印加した
後、３０秒後に測定したものである。また、各測定値は
試料数各１００個の内の良品についての平均値であり、
ＬＣの良否に関しては１μＡ以下を良品とし、ＬＣ良品
の試料についてのみ高温負荷試験を行った。
【００２０】表２からわかるように、リン酸イオンとナ
トリウムイオンの両方を含む水溶液に浸漬する処理を施
した実施例１〜６においては、リン酸イオンとアンモニ
ウムイオンを含む水溶液に浸漬する処理を施した比較例
１や、そのような浸漬処理を施さなかった比較例２に比
べて、初期特性におけるＬＣ歩留りが高く、高温負荷試
験でのショート不良も全く発生していない。
トリウムイオンの両方を含む水溶液に浸漬する処理を施
した実施例１〜６においては、リン酸イオンとアンモニ
ウムイオンを含む水溶液に浸漬する処理を施した比較例
１や、そのような浸漬処理を施さなかった比較例２に比
べて、初期特性におけるＬＣ歩留りが高く、高温負荷試
験でのショート不良も全く発生していない。
【００２１】このようにして、「有機半導体固体電解コ
ンデンサの製造工程において、コンデンサ素子を、少な
くともリン酸イオンとナトリウムイオンとを含有する水
溶液に浸漬する処理を施せば、該コンデンサの耐圧が向
上する。」という本発明の主題が導き出された。
ンデンサの製造工程において、コンデンサ素子を、少な
くともリン酸イオンとナトリウムイオンとを含有する水
溶液に浸漬する処理を施せば、該コンデンサの耐圧が向
上する。」という本発明の主題が導き出された。
【００２２】なお、前記実施例の１〜４を比較すると、
リン酸イオンとナトリウムイオンとを含有する水溶液の
濃度が高くなると、Ｃが低下、ｔａｎδが上昇、ＥＳＲ
が上昇するという特性劣化の傾向が見られ、該濃度をあ
まり高くしすぎることは好ましくない。
リン酸イオンとナトリウムイオンとを含有する水溶液の
濃度が高くなると、Ｃが低下、ｔａｎδが上昇、ＥＳＲ
が上昇するという特性劣化の傾向が見られ、該濃度をあ
まり高くしすぎることは好ましくない。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、高周波特性や漏れ電流
特性に優れ、高温負荷試験におけるショート不良も発生
しないような、耐圧の高い固体電解コンデンサが得られ
る。
特性に優れ、高温負荷試験におけるショート不良も発生
しないような、耐圧の高い固体電解コンデンサが得られ
る。
Claims (4)
- 【請求項１】 陽極箔、陰極箔、セパレータ紙にて構成
される巻回型のコンデンサ素子を、少なくともリン酸イ
オンとナトリウムイオンとを含有する水溶液に浸漬する
工程と、該コンデンサ素子内に残存する水分を揮散させ
る工程と、該コンデンサ素子内にＴＣＮＱ錯塩を含浸さ
せる工程とを備えることを特徴とする有機半導体固体電
解コンデンサの製造方法。 - 【請求項２】 前記少なくともリン酸イオンとナトリウ
ムイオンとを含有する水溶液は、リン酸二水素ナトリウ
ムの水溶液であることを特徴とする請求項１記載の有機
半導体固体電解コンデンサの製造方法。 - 【請求項３】 前記少なくともリン酸イオンとナトリウ
ムイオンとを含有する水溶液は、リン酸一水素二ナトリ
ウムの水溶液であることを特徴とする請求項１記載の有
機半導体固体電解コンデンサの製造方法。 - 【請求項４】 前記少なくともリン酸イオンとナトリウ
ムイオンとを含有する水溶液は、リン酸三ナトリウムの
水溶液であることを特徴とする請求項１記載の有機半導
体固体電解コンデンサの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13455993A JP2840522B2 (ja) | 1993-06-04 | 1993-06-04 | 有機半導体固体電解コンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13455993A JP2840522B2 (ja) | 1993-06-04 | 1993-06-04 | 有機半導体固体電解コンデンサの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06349685A JPH06349685A (ja) | 1994-12-22 |
| JP2840522B2 true JP2840522B2 (ja) | 1998-12-24 |
Family
ID=15131167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13455993A Expired - Fee Related JP2840522B2 (ja) | 1993-06-04 | 1993-06-04 | 有機半導体固体電解コンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2840522B2 (ja) |
-
1993
- 1993-06-04 JP JP13455993A patent/JP2840522B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06349685A (ja) | 1994-12-22 |
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