JP2839673B2 - Cleaning method and cleaning device for bonding tool - Google Patents

Cleaning method and cleaning device for bonding tool

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JP2839673B2
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【発明の詳細な説明】 (発明の属する技術分野) 本発明は、テープキャリヤに形成されたたとえばイン
ナリードを、加熱されたボンディングツールで加圧して
被ボンディング部材である半導体素子に接合するテープ
キャリヤ方式の半導体製造装置に係り、特にそのボンデ
ィングツールのツール面をクリーニングするクリーニン
グ方法とその装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a tape carrier for joining, for example, an inner lead formed on a tape carrier to a semiconductor element as a member to be bonded by pressurizing the inner lead with a heated bonding tool. More particularly, the present invention relates to a cleaning method and apparatus for cleaning a tool surface of a bonding tool.

(従来の技術) 半導体製造装置、たとえばインナリードボンディング
装置は、図4に示すようになっている。
(Prior Art) A semiconductor manufacturing apparatus, for example, an inner lead bonding apparatus is as shown in FIG.

すなわち、1はステージであって、このステージ1上
の所定部位には被ボンディング部材である半導体素子2
が載置され、かつ図示しない位置決め機構により位置決
めされている。3はテープキャリヤであって、ここに所
定間隔を存して開口しているデバイスホール4が順次ス
テージ1上の半導体素子2に対向するよう間欠的に送ら
れる。それぞれのデバイスホール4にはインナリード5
が突出している。
That is, reference numeral 1 denotes a stage, and a semiconductor element 2 as a member to be bonded is provided on a predetermined portion of the stage 1.
Are positioned and positioned by a positioning mechanism (not shown). Reference numeral 3 denotes a tape carrier, which is intermittently sent so that device holes 4 opening at predetermined intervals are sequentially opposed to the semiconductor elements 2 on the stage 1. Each device hole 4 has an inner lead 5
Is protruding.

また、上記ステージ1の上方部位にはボンディングツ
ール6が配置されていて、上下動してステージ1に当接
自在である。このボンディングツール6には、図示しな
いカードリッジヒータが一体に取着されていて、ボンデ
ィングツール6をたとえば400〜500℃に加熱している。
そしてまた、ボンディングツール6は図示しない加圧駆
動源に接続され、所定圧をもってステージ1上の半導体
素子2を加圧可能である。
A bonding tool 6 is disposed above the stage 1 and can move up and down to abut on the stage 1. A cartridge heater (not shown) is integrally attached to the bonding tool 6, and heats the bonding tool 6 to, for example, 400 to 500 ° C.
The bonding tool 6 is connected to a pressure driving source (not shown) and can press the semiconductor element 2 on the stage 1 with a predetermined pressure.

しかして、ステージ1上に位置決め保持された半導体
素子2の多数の電極7…と、テープキャリヤ3のインナ
リード5…とを位置整合して、加熱したボンディングツ
ール6を下降駆動することにより、上記電極7…とイン
ナリード5…とを一括した接合(ボンディング)作用を
なす。
The heated bonding tool 6 is driven downward by aligning a large number of electrodes 7 of the semiconductor element 2 positioned and held on the stage 1 with the inner leads 5 of the tape carrier 3. The electrodes 7 and the inner leads 5 perform a collective bonding operation.

このように、インナリードボンディング装置は自動化
されるとともに半導体素子2の電極7およびテープキャ
リヤ3のインナリード5が極く微小のピッチであって
も、一括接続が可能でボンディング処理時間の短縮と信
頼性の向上化を得られる。
As described above, the inner lead bonding apparatus is automated, and even if the electrodes 7 of the semiconductor element 2 and the inner leads 5 of the tape carrier 3 have extremely small pitches, collective connection is possible, thereby shortening the bonding processing time and improving reliability. The property can be improved.

(発明が解決しようとする課題) ところで、上記ボンディングツール6は、普通、極め
て固い材料が選択されていて、上述のような加圧加熱作
用を長期に亘って繰り返しても、摩耗することはない。
ただし、カートリッジヒータで高温に加熱されているの
で、ボンディング作用面であるツール面6aに酸化物が付
着し易い。
(Problems to be Solved by the Invention) By the way, the bonding tool 6 is usually made of an extremely hard material, and does not wear out even if the above-described pressurizing and heating action is repeated for a long time. .
However, since it is heated to a high temperature by the cartridge heater, the oxide easily adheres to the tool surface 6a which is the bonding action surface.

すなわち、上記インナリード5の表面には錫メッキが
施されていて、ボンディング作用によって極く微量の錫
分が溶融してツール面6aに付着する。この付着した錫分
は酸化して酸化物に換り、ボンディング作用にともなっ
て堆積し、徐々にその厚みが増す。
That is, tin plating is applied to the surface of the inner lead 5, and a very small amount of tin is melted by the bonding action and adheres to the tool surface 6a. The attached tin is oxidized and converted into an oxide, deposited with the bonding action, and gradually increases in thickness.

このようなツール面6aに付着し堆積した酸化物は、ツ
ール面6aと新たにボンディングする部位との間に介在し
てツール面6a自体の熱伝達率を低下させ、接合信頼性を
悪くする。
Such oxides adhering and depositing on the tool surface 6a are interposed between the tool surface 6a and a portion to be newly bonded, lowering the heat transfer coefficient of the tool surface 6a itself, and deteriorating bonding reliability.

そのため、このようなインナリードボンディング装置
においては、定期的にツール面6aをクリーニングして酸
化物などの汚れを除去する必要がある。
Therefore, in such an inner lead bonding apparatus, it is necessary to periodically clean the tool surface 6a to remove stains such as oxides.

たとえば、特開昭56−153743号公報には、回転駆動さ
れた砥石をツール面に摺接して酸化物などの汚れを除去
するクリーニング機構を備えたものが開示されている。
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-153743 discloses a device provided with a cleaning mechanism for removing a stain such as an oxide by sliding a grindstone that is rotationally driven on a tool surface.

ところが、前記ツール面から除去された酸化物などの
粒子が、クリーニング機構およびボンディングツール周
囲に飛散浮遊して、再びこれらに付着する恐れがある。
However, particles such as oxides removed from the tool surface may be scattered and floated around the cleaning mechanism and the bonding tool, and may adhere to them again.

そこで、特開昭63−166238号公報および特開昭63−25
0829号公報には、ボンディングツールおよびクリーニン
グ機構の一側方にノズルを配置し、これらボンディング
ツールおよびクリーニング機構を挟んで他側方に吸引ダ
クトを配置したものが開示されている。
Therefore, JP-A-63-166238 and JP-A-63-25
No. 0829 discloses an arrangement in which a nozzle is arranged on one side of a bonding tool and a cleaning mechanism, and a suction duct is arranged on the other side of the bonding tool and the cleaning mechanism.

すなわち、上記クリーニング機構の作動とともにノズ
ルから高圧エアーを吹き出して、ボンディングツールお
よびクリーニング機構に吹き付ける。ツール面から除去
された酸化物などの微粒子は吸引ダクトに吸引され、周
囲に飛散せずにすむ。
That is, high pressure air is blown out from the nozzle together with the operation of the cleaning mechanism, and is blown to the bonding tool and the cleaning mechanism. Fine particles such as oxides removed from the tool surface are sucked into the suction duct and do not scatter around.

しかしながら、ボンディングツールは常時ボンディン
グ作用が可能なように高温状態に加熱されているため、
ツール面には錫の酸化物などの他に、たとえば錫分が溶
融した状態のままで付着している。
However, since the bonding tool is always heated to a high temperature so that the bonding action is possible,
In addition to the oxide of tin, for example, tin is attached to the tool surface in a molten state.

このようなツール面にクリーニング機構を構成する砥
石を摺接しても、上記溶融した錫分は摺接面全体に引き
延ばされるだけで容易に除去されない。そして、砥石を
ツール面から離間させれば、再び溶融した錫分が時間の
経過とともに酸化して、上述のような不具合を招く恐れ
がある。
Even if a grindstone constituting a cleaning mechanism is slid on such a tool surface, the molten tin is not easily removed because it is spread over the entire slid surface. Then, if the grindstone is separated from the tool surface, the melted tin component is oxidized again with the lapse of time, which may cause the above-described problem.

さらにまた、上記砥石はツール面に摺接しても損傷を
与えないように、ボンディングツールよりも柔らかい材
料で作られる。このような砥石でツール面を摺接する
と、ツール面のクリーニング作用がなされるとともに砥
石を構成する砥粒が剥離する。クリーニングが終わって
砥石をツール面から離間すると、ツール面には酸化物の
微粒子と砥石の砥粒とが付着していることになる。
Furthermore, the whetstone is made of a material softer than the bonding tool so that the whetstone will not be damaged even if it slides on the tool surface. When the tool surface is slid in contact with such a grindstone, the cleaning effect of the tool surface is performed and the abrasive grains constituting the grindstone are peeled off. When the grindstone is separated from the tool surface after the cleaning, the oxide fine particles and the abrasive grains of the grindstone are attached to the tool surface.

この状態で、先に述べた特開昭63−166238号公報およ
び特開昭63−250829号公報のように、ボンディングツー
ルおよびクリーニング機構の一側からエアーを吹き出し
ても、この吹き出し方向がボンディングツールおよびク
リーニング機構の横方向からであるから、ツール面に付
着する酸化物等の微粒子と砥粒を完全に吹き飛ばすこと
ができない不具合がある。
In this state, even if air is blown out from one side of the bonding tool and the cleaning mechanism as described in JP-A-63-166238 and JP-A-63-250829 described above, the blowing direction is the bonding tool. In addition, since it is from the side of the cleaning mechanism, there is a problem that it is not possible to completely blow off abrasive particles and fine particles such as oxides adhering to the tool surface.

本発明は、上記事情に着目してなされたものであり、
ボンディングツールのツール面に付着する付着物の除去
を完全になし、ボンディング精度および信頼性の向上化
を図れるボンディングツールのクリーニング方法および
クリーニング装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances,
It is an object of the present invention to provide a bonding tool cleaning method and a cleaning apparatus capable of completely removing a substance adhering to a tool surface of a bonding tool and improving bonding accuracy and reliability.

(課題を解決するための手段) 上述の目的を達成するため本発明は、テープキャリヤ
に形成されたリードを、ボンディング温度にまで加熱さ
れたボンディングツールで加圧して被ボンディング部材
に接合するテープキャリヤ方式の半導体装置を製造する
に際して、前記ボンディングツールに付着した付着物を
除去するボンディングツールのクリーニング方法におい
て、前記ボンディングツールを前記付着物の溶融温度よ
りも低い温度に冷却する冷却工程と、前記冷却工程で冷
却された前記ボンディングツールのツール面に付着した
付着物を除去する付着物除去工程と、前記付着物除去工
程で付着物を除去したボンディングツールを加熱し前記
ボンディング温度まで温度上昇させる温度上昇工程とを
有することを特徴とするボンディングツールのクリーニ
ング方法である。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides a tape carrier for joining leads formed on a tape carrier to a member to be bonded by pressing the leads with a bonding tool heated to a bonding temperature. A method of cleaning a bonding tool for removing an adhering substance attached to the bonding tool when manufacturing a semiconductor device of a system, wherein a cooling step of cooling the bonding tool to a temperature lower than a melting temperature of the adhering substance; An adhering matter removing step of removing adhering matter adhering to the tool surface of the bonding tool cooled in the step, and a temperature increase for heating the bonding tool from which the adhering matter has been removed in the adhering matter removing step to raise the temperature to the bonding temperature. And a bonding tool comprising: Cleaning method.

また本発明は、テープキャリヤに形成されたリード
を、ボンディング温度にまで加熱されたボンディングツ
ールで加圧して被ボンディング部材に接合するテープキ
ャリヤ方式の半導体装置を製造するに際して、前記ボン
ディングツールに付着した付着物を除去するボンディン
グツールのクリーニング装置において、前記ボンディン
グツールのツール面を研磨して前記付着した付着物を除
去する付着物除去手段と、前記ボンディングツールのツ
ール面に相対向して配置されツール面に気体を吹き付け
てツール面に残存する前記研磨による付着物を吹き飛ば
す噴射手段と、前記ボンディングツールの周囲を真空吸
引して前記噴射手段により吹き飛ばされた付着物を吸引
する吸引手段とを具備したことを特徴とするボンディン
グツールのクリーニング装置である。
Further, according to the present invention, when manufacturing a tape carrier type semiconductor device in which leads formed on a tape carrier are pressurized by a bonding tool heated to a bonding temperature and bonded to a member to be bonded, the leads adhered to the bonding tool. An apparatus for cleaning a bonding tool that removes extraneous matter, comprising: an adhering matter removing means for polishing the tool surface of the bonding tool to remove the extraneous matter; and a tool disposed opposite to the tool surface of the bonding tool. A spraying means for blowing gas onto the surface to blow off the adhered matter remaining on the tool surface; and a suction means for vacuum-suctioning the periphery of the bonding tool and sucking the adhered matter blown off by the spraying means. Cleaning tool for bonding tools characterized by the following: It is a device.

以上のごとき課題を解決する手段を採用することによ
り、上記ボンディングツールを付着物の溶融温度よりも
低い温度に冷却してこのツール面に付着する付着物を固
形化してから付着物を除去するので、除去が確実であ
る。
By adopting the means for solving the above problems, the bonding tool is cooled to a temperature lower than the melting temperature of the adhered substance, and the adhered substance adhered to the tool surface is solidified, and then the adhered substance is removed. , Removal is assured.

そして、付着物をツール面から除去してからボンディ
ングツールを再び所定のボンディング温度まで温度上昇
させるので、クリーニング後におけるボンディング作業
を確実になす。除去した付着物を回収して周囲に飛散さ
せないから、二次的な障害発生を阻止する。
Then, the temperature of the bonding tool is again raised to a predetermined bonding temperature after removing the deposits from the tool surface, so that the bonding operation after cleaning is reliably performed. Since the removed deposits are collected and not scattered around, the occurrence of secondary obstacles is prevented.

(発明の実施の形態) 以下、本発明の一実施例を図面にもとづいて説明す
る。
(Embodiment of the Invention) Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1に示すように、ボンディングツール6にはカート
リッジヒータ8が一体に取着されるとともに熱電対9が
装着されている。これらカートリッジヒータ8および熱
電対9は、温度調節器10に電気的に接続されていて、上
記ボンディングツール6を設定された温度に加熱し、か
つ同時に温度検知が行われる。
As shown in FIG. 1, a cartridge heater 8 is integrally attached to the bonding tool 6 and a thermocouple 9 is attached. The cartridge heater 8 and the thermocouple 9 are electrically connected to a temperature controller 10 to heat the bonding tool 6 to a set temperature and simultaneously perform temperature detection.

上記温度調節器10は、半導体製造装置である、たとえ
ばインナリードボンディング装置の制御装置11と電気的
に接続され、制御装置11から温度調節器10を介してボン
ディングツール6に対する設定温度等のデータ通信がで
きるようにる。
The temperature controller 10 is electrically connected to, for example, a control device 11 of an inner lead bonding device, which is a semiconductor manufacturing device, and performs data communication such as a set temperature to the bonding tool 6 from the control device 11 via the temperature controller 10. To be able to

上記ボンディングツール6の下方部位には、ガイドレ
ール12にスライド自在に挿嵌されるとともにボールねじ
部13に螺合する図示しないめねじ部を備えたスライドテ
ーブル14が設けられる。
Below the bonding tool 6, there is provided a slide table 14 having a female thread (not shown) which is slidably inserted into the guide rail 12 and is screwed to the ball screw 13.

上記ボールねじ部13の一端部には、正逆回転自在な駆
動モータ15が連結されていて、ボールねじ部13を回転駆
動することによりスライドテーブル14を任意の方向に移
動できるようになっている。
A drive motor 15 is connected to one end of the ball screw portion 13 so as to be rotatable in the forward and reverse directions. By rotating and driving the ball screw portion 13, the slide table 14 can be moved in any direction. .

上記スライドテーブル14には、後述するエアーブロー
ユニット16およびクリーニングユニット17が配設され
る。
The slide table 14 is provided with an air blow unit 16 and a cleaning unit 17, which will be described later.

はじめに、上記エアーブローユニット16について説明
すると、上記ボンディングツール6のツール面6aに対向
するユニット本体18の上面には、その略中央部にエアー
ブロー孔19が開口し、このエアーブロー孔19を囲繞する
ようにエアー吸引室20の上面開口部が開口する。
First, the air blow unit 16 will be described. An air blow hole 19 is opened at a substantially central portion of the upper surface of the unit body 18 facing the tool surface 6a of the bonding tool 6, and surrounds the air blow hole 19. The upper surface opening of the air suction chamber 20 is opened.

上記エアーブロー孔19の他端部は、ユニット本体18の
側面に開口しているとともに、図示しない圧縮エアー配
管が接続される。上記圧縮エアー配管には、上記制御装
置11に電気的に接続される電磁開閉弁や、圧縮エアー源
が設けられていて、これらで噴射手段が構成される。
The other end of the air blow hole 19 is open to a side surface of the unit body 18 and is connected to a compressed air pipe (not shown). The compressed air pipe is provided with an electromagnetic on-off valve electrically connected to the control device 11 and a compressed air source, and these constitute an injection unit.

上記エアー吸引室20には吸引孔21が連通していて、こ
の吸引孔21の他端部はユニット本体18の側面に開口して
いる。そして吸引孔21には、図示しない真空配管が接続
される。上記真空配管には、上記制御装置11に電気的に
接続される電磁開閉弁や、真空源が設けられ、これらで
吸引手段が構成される。
A suction hole 21 communicates with the air suction chamber 20, and the other end of the suction hole 21 is open to the side surface of the unit body 18. A vacuum pipe (not shown) is connected to the suction hole 21. The vacuum pipe is provided with an electromagnetic on-off valve electrically connected to the control device 11 and a vacuum source, and these constitute suction means.

つぎに、上記クリーニングユニット17について説明す
る。上下面に回転軸を突出したハウジング22がスライド
テーブル14に配設されていて、上方に突出する回転軸に
円板状の砥石受け台23および図示しないスプリングを介
して砥石24が嵌着される。
Next, the cleaning unit 17 will be described. A housing 22 having a rotating shaft protruding from the upper and lower surfaces is disposed on the slide table 14, and a grinding wheel 24 is fitted to the rotating shaft protruding upward via a disc-shaped grindstone receiving base 23 and a spring (not shown). .

すなわち、上記砥石24はボンディングツール6のツー
ル面6aに対向しているとともに、砥石受け台23に弾性的
に支持されることになる。上記ハウジング22の側方には
駆動モータ25が配置され、この下方に突出する回転軸と
ハウジング22から下方に突出される回転軸には、それぞ
れプーリ26、26が嵌着され、かつ互いのプーリ26、26間
に駆動ベルト27が掛け渡される。上記駆動モータ25は、
上記制御装置11に電気的に接続され、これらで付着物除
去手段が構成される。
That is, the grindstone 24 faces the tool surface 6a of the bonding tool 6, and is elastically supported by the grindstone cradle 23. A drive motor 25 is disposed on the side of the housing 22. Pulleys 26 and 26 are fitted on the rotation shaft projecting downward and the rotation shaft projecting downward from the housing 22, respectively. A drive belt 27 is stretched between 26 and 26. The drive motor 25 is
They are electrically connected to the control device 11 and constitute a deposit removing means.

しかして、先に図4で説明したように、半導体素子2
の電極7…にテープキャリヤ3のインナリード5…を対
向させ、加熱されたボンディングツール6のツール面6a
を当接加圧して、電極7…とインナリード5…とのボン
ディングをなす。このようなボンディングツール作用を
予め設定した回数だけ行ったら、ツール面6aに酸化物等
が付着したこととして、以下に述べる操作をなす。
Thus, as described above with reference to FIG.
The inner leads 5 of the tape carrier 3 are opposed to the electrodes 7 of the bonding tool 6, and the tool surface 6a of the heated bonding tool 6 is heated.
Are abutted and pressurized to bond the electrodes 7 to the inner leads 5. When such a bonding tool operation is performed a predetermined number of times, it is determined that an oxide or the like has adhered to the tool surface 6a, and the following operation is performed.

ボンディング作業中は、上記カートリッジヒータ8で
ボンディングツール6を約400〜500℃の高温に保持制御
している。ここで制御装置11から温度調節器10に、デー
タ通信によってボンディングツール6のツール面6aに対
するクリーニング温度が設定される。この温度は、ボン
ディングツール6における加圧対象物の金属融点、すな
わちインナリード5の表面にメッキされた錫の融点より
も低い温度である、たとえば200〜300℃とする。
During the bonding operation, the bonding tool 6 is controlled to be maintained at a high temperature of about 400 to 500 ° C. by the cartridge heater 8. Here, the cleaning temperature for the tool surface 6a of the bonding tool 6 is set from the control device 11 to the temperature controller 10 by data communication. This temperature is a temperature lower than the metal melting point of the object to be pressed in the bonding tool 6, that is, the melting point of tin plated on the surface of the inner lead 5, for example, 200 to 300 ° C.

上記制御装置11は、温度調節器10に低温指示信号を出
して、カートリッジヒータ8の加熱作用を停止させる一
方、駆動モータ15に駆動信号を出して、スライドテーブ
ル14を移動させる。そして、上記エアーブローユニット
16のユニット本体18上面がボンディングツール6のツー
ル面6aに対向したところで停止する。
The control device 11 outputs a low-temperature instruction signal to the temperature controller 10 to stop the heating operation of the cartridge heater 8, and outputs a drive signal to the drive motor 15 to move the slide table 14. And the above air blow unit
It stops when the upper surface of the 16 unit bodies 18 faces the tool surface 6a of the bonding tool 6.

上記圧縮エアー源とエアーブロー孔19とを連通させ、
真空源とエアー吸引室20とを連通させる。エアーブロー
孔19から吹き出される圧縮エアーはボンディングツール
6のツール面6aに吹き付けられ、これを冷却する冷却工
程がなされる。また、エアーブロー孔19からツール面6a
に吹き付けられて温度上昇したエアーおよびボンディン
グツール6周囲の雰囲気エアーがエアー吸引室20に吸引
される。
The compressed air source is communicated with the air blow hole 19,
The vacuum source and the air suction chamber 20 are communicated. The compressed air blown out from the air blow holes 19 is blown onto the tool surface 6a of the bonding tool 6, and a cooling process for cooling the same is performed. Also, through the air blow hole 19, the tool surface 6a
The air that has been blown by the air and the ambient air around the bonding tool 6 and the ambient air around the bonding tool 6 are sucked into the air suction chamber 20.

その結果、ボンディングツール6は急速に設定温度で
ある付着物の金属溶融温度よりも低い温度に降下し、ツ
ール面6aに付着する酸化物および溶融していた錫分など
は、完全に固形化する。
As a result, the bonding tool 6 rapidly drops to a temperature lower than the metal melting temperature of the deposit, which is the set temperature, and the oxide and the melted tin attached to the tool surface 6a are completely solidified. .

この温度を熱電対9が検知し、温度調節器10を介して
制御装置11が判断したら、エアーブローとエアー吸引作
用を停止する。
When this temperature is detected by the thermocouple 9 and the control device 11 determines through the temperature controller 10, the air blow and the air suction operation are stopped.

つぎに図2に示すように、再び駆動モータ15を駆動し
てスライドテーブル14をスライドさせ、クリーニングユ
ニット17の砥石24がボンディングツール6のツール面6a
に対向したところで停止する。そして、クリーニングユ
ニット17の駆動モータ25を駆動して砥石24を回転させる
とともにボンディングツール6を降下させ、ツール面6a
を砥石24に当接する。
Next, as shown in FIG. 2, the drive motor 15 is driven again to slide the slide table 14, and the grindstone 24 of the cleaning unit 17 is moved to the tool surface 6a of the bonding tool 6.
Stop when facing. Then, the drive motor 25 of the cleaning unit 17 is driven to rotate the grindstone 24 and the bonding tool 6 is lowered, so that the tool surface 6a
Is brought into contact with the grindstone 24.

ツール面6aに付着する固形化した酸化物等は効率よく
剥離される。またこのとき、ボンディングツール6と砥
石24を相対的にX−Y方向に移動させると、さらにより
効果的なクリーニングができる。
The solidified oxide and the like adhering to the tool surface 6a are efficiently peeled off. Further, at this time, if the bonding tool 6 and the grindstone 24 are relatively moved in the XY directions, even more effective cleaning can be performed.

所定時間経過後、図3に示すように、クリーニングユ
ニット17の駆動モータ25を停止するとともに、再びスラ
イドテーブル14を移動して、エアーブローユニット16の
ユニット本体18上面がボンディングツール6のツール面
6aに対向したところで停止する。
After a lapse of a predetermined time, as shown in FIG. 3, the drive motor 25 of the cleaning unit 17 is stopped, and the slide table 14 is moved again, so that the upper surface of the unit body 18 of the air blow unit 16 is brought into contact with the tool surface of the bonding tool 6.
Stop when facing 6a.

そして、圧縮エアー源とエアーブロー孔19とを連通さ
せ、真空源とエアー吸引室20とを連通させる。エアーブ
ロー孔19から吹き出される圧縮エアーはボンディングツ
ール6のツール面6aに吹き付けられ、上記砥石24によっ
てツール面6aから剥離され、かつ今だツール面6aに付着
残存したままの付着物を吹き飛ばす。
Then, the compressed air source and the air blow hole 19 are communicated, and the vacuum source and the air suction chamber 20 are communicated. The compressed air blown out from the air blow holes 19 is blown onto the tool surface 6a of the bonding tool 6, and is separated from the tool surface 6a by the grinding wheel 24, and blows off the adhered material which is still attached to the tool surface 6a.

すなわちこの付着物は、酸化物と固形化した錫分の微
粒子および砥石24から剥離した砥粒等の混合物である。
ツール面6aから吹き飛ばされた付着物は、周囲にあるエ
アー吸引室20の真空作用によって吸引され、周囲に飛散
することがない。
That is, the deposit is a mixture of fine particles of the oxide and the solidified tin, and abrasive grains separated from the grindstone 24.
The attached matter blown off from the tool surface 6a is sucked by the vacuum action of the surrounding air suction chamber 20, and does not scatter around.

その結果、ツール面6aは完全にクリーニングされた状
態となり、ここから除去された付着物を確実に回収して
周囲への悪影響がない付着物除去工程が終了する。
As a result, the tool surface 6a is completely cleaned, and the adhered matter removed therefrom is surely collected, and the adhered matter removing step without any adverse effect on the surroundings is completed.

ついで、上記制御装置11は温度調節器10にデータ通信
を送ってカートリッジヒータ8を発熱させ、ボンディン
グ温度である400〜500℃を設定してボンディングツール
6を加熱する温度上昇工程に移行する。熱電対9がボン
ディングツール6の温度上昇を検知したら、再びボンデ
ィング作業が再開される。
Next, the control device 11 sends data communication to the temperature controller 10 to cause the cartridge heater 8 to generate heat, set a bonding temperature of 400 to 500 ° C., and shift to a temperature increasing step of heating the bonding tool 6. When the thermocouple 9 detects an increase in the temperature of the bonding tool 6, the bonding operation is restarted.

なお上記実施例においては、半導体製造装置として、
インナリードボンディングを適用して説明したが、これ
に限定されるものではなく、加熱されたボンディングツ
ールでボンディング部材を被ボンディング部材に加圧し
て接合する装置の全てを含む。
In the above embodiment, as a semiconductor manufacturing apparatus,
Although the description has been made by applying the inner lead bonding, the present invention is not limited to this, and includes all devices that press and bond a bonding member to a member to be bonded using a heated bonding tool.

上記実施例においては、ボンディングツール6の下方
部位にスライドテーブル14を設け、ここにエアーブロー
ユニット16およびクリーニングユニット17を備えた構成
としたが、たとえば、上記エアーブローユニット16およ
びクリーニングユニット17を固定とし、上記ボンディン
グツール6をスライド自在として位置決めするようにし
てもよい。
In the above embodiment, the slide table 14 is provided below the bonding tool 6, and the air blow unit 16 and the cleaning unit 17 are provided here. For example, the air blow unit 16 and the cleaning unit 17 are fixed. The bonding tool 6 may be slidably positioned.

予めプログラムされるボンディング回数は必しも同一
とする必要はなく、たとえば100回ボンディング作用を
なしたあとでツール面6aのクリーニングをしたら、次回
は99回ボンディングしたあとツール面6aのクリーニング
をなすよう、ボンディング回数を漸次減少させるように
してもよい。
The number of pre-programmed bondings does not necessarily have to be the same.For example, if the tool surface 6a is cleaned after 100 bonding operations, the tool surface 6a should be cleaned after 99 bondings the next time. Alternatively, the number of times of bonding may be gradually reduced.

ツール面6aに摺接して付着物を除去する手段として砥
石24を用いたが、たとえばサンドペーパ、あるいは研磨
テープなど、砥石24に準ずるものに代用してもよい。
Although the grindstone 24 is used as a means for slidingly adhering to the tool surface 6a, a material similar to the grindstone 24 such as a sandpaper or a polishing tape may be used instead.

ボンディングツール6のツール面6aに付着した付着物
を固形化するための冷却手段として、圧縮エアーの吹き
付けと真空吸引構造を採用したが、これに代るものとし
て、たとえばN2ガスあるいは還元ガスの吹き付けを行っ
てもよく、またボンディングツール6に水路を形成して
冷却水を導通させる冷却構造を採用してもよい。
As a cooling means for solidifying the deposits adhered to the tool surface 6a of the bonding tool 6, a compressed air blowing and a vacuum suction structure are employed. Alternatively, for example, N2 gas or reducing gas is blown. Alternatively, a cooling structure in which a water path is formed in the bonding tool 6 to conduct cooling water may be employed.

(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、上記ボンディン
グツールを付着物の溶融温度よりも低い温度に冷却し、
冷却されたボンディングツールのツール面に付着した付
着物を除去し、ツール面から付着物を除去したボンディ
ングツールを再びボンディング温度まで温度上昇させる
クリーニング方法であるから、ツール面に付着した付着
物の除去を完全になすとともに、再開後のボンディング
作業が確実で信頼性の向上化を図れるなどの効果を奏す
る。
(Effect of the Invention) As described above, according to the present invention, the bonding tool is cooled to a temperature lower than the melting temperature of the deposit,
This is a cleaning method that removes extraneous matter adhering to the tool surface of the cooled bonding tool and raises the temperature of the bonding tool from which the extraneous matter has been removed to the bonding temperature again, so that the extraneous matter attached to the tool surface is removed. In addition, the bonding operation after the restart is reliable and the reliability can be improved.

また本発明は、ボンディングツールのボンディング面
を研磨して付着した付着物を除去する付着物除去手段、
このボンディングツールのボンディング面に相対向して
配置されボンディング面に気体を吹き付けてツール面に
残存する付着物を吹き飛ばす噴射手段、上記ボンディン
グツールの周囲を真空吸引して吹き飛ばされた付着物を
吸引する吸引手段を具備したクリーニング装置であるか
ら、ツール面のクリーニングを確実になすとともに除去
した付着物を周囲に飛散させることがなく、二次的な障
害防止を図れるなどの効果を奏する。
The present invention also provides an adhering substance removing means for removing an adhering substance by polishing the bonding surface of a bonding tool,
Injecting means which is disposed opposite to the bonding surface of the bonding tool and blows gas to the bonding surface to blow off the remaining material on the tool surface, and vacuums the periphery of the bonding tool to suck the blown-off material. Since the cleaning device is provided with the suction means, the cleaning of the tool surface is ensured, and the adhered matter that has been removed is not scattered to the surroundings.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1ないし第3図は本発明の一実施例を示す、ボンディ
ングツール面のクリーニング工程を順に示す図、第4図
は半導体製造装置におけるボンディング状態を拡大した
図である。 3……テープキャリヤ、5……インナリード、6……ボ
ンディングツール、2……被ボンディングツール部材
(半導体素子)、6a……ツール面、16……エアーブロー
ユニット、17……クリーニングユニット、24……砥石、
19……エアーブロー孔、20……エアー吸引室。
FIGS. 1 to 3 are views showing a bonding tool surface cleaning step in order, showing an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is an enlarged view of a bonding state in a semiconductor manufacturing apparatus. 3 Tape carrier, 5 Inner lead, 6 Bonding tool, 2 Bonded tool member (semiconductor element), 6a Tool surface, 16 Air blow unit, 17 Cleaning unit, 24 …… Whetstone,
19 ... air blow hole, 20 ... air suction chamber.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−150853(JP,A) 特開 平3−64937(JP,A) 特開 平3−44047(JP,A) 特開 昭63−16956(JP,A) 特開 昭58−28845(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/60 311──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-3-150853 (JP, A) JP-A-3-64937 (JP, A) JP-A-3-44047 (JP, A) JP-A-63-1988 16956 (JP, A) JP-A-58-28845 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) H01L 21/60 311

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】テープキャリヤに形成されたリードを、ボ
ンディング温度にまで加熱されたボンディングツールで
加圧して被ボンディング部材に接合するテープキャリヤ
方式の半導体装置を製造するに際して、前記ボンディン
グツールに付着した付着物を除去するボンディングツー
ルのクリーニング方法において、 前記ボンディングツールを前記付着物の溶融温度よりも
低い温度に冷却する冷却工程と、 前記冷却工程で冷却された前記ボンディングツールのツ
ール面に付着した付着物を除去する付着物除去工程と、 前記付着物除去工程で付着物を除去したボンディングツ
ールを加熱し前記ボンディング温度まで温度上昇させる
温度上昇工程と を有することを特徴とするボンディングツールのクリー
ニング方法。
When manufacturing a tape carrier type semiconductor device in which leads formed on a tape carrier are pressurized by a bonding tool heated to a bonding temperature and bonded to a member to be bonded, the leads adhered to the bonding tool. In a cleaning method of a bonding tool for removing an adhering matter, a cooling step of cooling the bonding tool to a temperature lower than a melting temperature of the adhering matter, and an adhering method attached to a tool surface of the bonding tool cooled in the cooling step. A method for cleaning a bonding tool, comprising: an adhering matter removing step of removing an adhering matter; and a temperature increasing step of heating the bonding tool from which the adhering matter has been removed in the adhering matter removing step to increase the temperature to the bonding temperature.
【請求項2】テープキャリヤに形成されたリードを、ボ
ンディング温度にまで加熱されたボンディングツールで
加圧して被ボンディング部材に接合するテープキャリヤ
方式の半導体装置を製造するに際して、前記ボンディン
グツールに付着した付着物を除去するボンディングツー
ルのクリーニング装置において、 前記ボンディングツールのツール面を研磨して前記付着
した付着物を除去する付着物除去手段と、 前記ボンディングツールのツール面に相対向して配置さ
れツール面に気体を吹き付けてツール面に残存する前記
研磨による付着物を吹き飛ばす噴射手段と、 前記ボンディングツールの周囲を真空吸引して前記噴射
手段により吹き飛ばされた付着物を吸引する吸引手段と を具備したことを特徴とするボンディングツールのクリ
ーニング装置。
2. A manufacturing method of a tape carrier type semiconductor device in which leads formed on a tape carrier are pressurized by a bonding tool heated to a bonding temperature and bonded to a member to be bonded. An apparatus for cleaning a bonding tool that removes deposits, comprising: an attachment removal unit that polishes a tool surface of the bonding tool to remove the attached deposits; and a tool that is disposed to face the tool surface of the bonding tool. An injection unit that blows a gas onto a surface to blow off the adhered substance remaining on the tool surface by polishing, and a suction unit that suctions a vacuum around the bonding tool and suctions the attached substance blown off by the injection unit. Cleaning tool for bonding tools characterized by the following: Device.
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