JP2820002B2 - 単結晶引上装置 - Google Patents
単結晶引上装置Info
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- JP2820002B2 JP2820002B2 JP21710893A JP21710893A JP2820002B2 JP 2820002 B2 JP2820002 B2 JP 2820002B2 JP 21710893 A JP21710893 A JP 21710893A JP 21710893 A JP21710893 A JP 21710893A JP 2820002 B2 JP2820002 B2 JP 2820002B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チャンバー内に設置さ
れたルツボの内部を筒状の隔壁で内側部分(以下、単結
晶育成部と称す)と外側部分(以下、原料供給部と称
す)に区画する所謂二重ルツボ方式を採用する装置であ
って、特にルツボの原料供給部の単結晶原料の融液(以
下、融液と称す)に更にその粒状原料を連続的に供給し
ながらCZ法( Czochralski法 )によって単結晶を育成
させる単結晶引上装置に関する。
れたルツボの内部を筒状の隔壁で内側部分(以下、単結
晶育成部と称す)と外側部分(以下、原料供給部と称
す)に区画する所謂二重ルツボ方式を採用する装置であ
って、特にルツボの原料供給部の単結晶原料の融液(以
下、融液と称す)に更にその粒状原料を連続的に供給し
ながらCZ法( Czochralski法 )によって単結晶を育成
させる単結晶引上装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、単結晶引上装置は、チャンバー
内に石英ルツボ、ヒーター等を収納して構成され、該単
結晶引上装置においては、石英ルツボに装填された多結
晶シリコン等の単結晶原料はヒーターによる加熱によっ
て融液とされる。そして、この融液にワイヤー等の引上
げ軸の下端に取り付けられた種結晶を浸漬せしめ、該引
上げ軸を回転させながらこれを所定の速度で引き上げれ
ば、種結晶の先に単結晶を育成させることができる。
内に石英ルツボ、ヒーター等を収納して構成され、該単
結晶引上装置においては、石英ルツボに装填された多結
晶シリコン等の単結晶原料はヒーターによる加熱によっ
て融液とされる。そして、この融液にワイヤー等の引上
げ軸の下端に取り付けられた種結晶を浸漬せしめ、該引
上げ軸を回転させながらこれを所定の速度で引き上げれ
ば、種結晶の先に単結晶を育成させることができる。
【0003】ところで、上述のCZ法による単結晶の育
成においては、ドーパントの偏析係数が1以下(例え
ば、リンP:0.35、ボロンB:0.75)であるた
め、単結晶の育成に伴って融液中のドーパント濃度が次
第に高くなり、その融液中から育成される単結晶中の抵
抗率が直胴長の増加に伴って頭部から次第に低下してし
まう。従って、単結晶の抵抗率が或る範囲内に入るよう
規定された場合には、育成可能な直胴部の長さが自ずと
決まってしまう。
成においては、ドーパントの偏析係数が1以下(例え
ば、リンP:0.35、ボロンB:0.75)であるた
め、単結晶の育成に伴って融液中のドーパント濃度が次
第に高くなり、その融液中から育成される単結晶中の抵
抗率が直胴長の増加に伴って頭部から次第に低下してし
まう。従って、単結晶の抵抗率が或る範囲内に入るよう
規定された場合には、育成可能な直胴部の長さが自ずと
決まってしまう。
【0004】一方、CZ法では、種結晶を融液に浸けて
育成を開始してからの結晶の無転位化を図るため、直径
2〜3mm程度まで絞った後に徐々に規定直径まで広げ
ていくコーン部と、直胴部の育成が終了した時点で直ち
に単結晶を切り離した場合の熱応力が大きいことによる
スリップの発生を防ぐために徐々に直径を細くしていく
テール部とが単結晶の両端に必要であるが、石英ルツボ
に初期に装填された単結晶原料の融液のみから単結晶を
引き上げる場合は単結晶の重量が制限されるため、その
直径が大きい程、直胴長は短くなり、製品として利用で
きる割合(歩留り)が低下してしまう。
育成を開始してからの結晶の無転位化を図るため、直径
2〜3mm程度まで絞った後に徐々に規定直径まで広げ
ていくコーン部と、直胴部の育成が終了した時点で直ち
に単結晶を切り離した場合の熱応力が大きいことによる
スリップの発生を防ぐために徐々に直径を細くしていく
テール部とが単結晶の両端に必要であるが、石英ルツボ
に初期に装填された単結晶原料の融液のみから単結晶を
引き上げる場合は単結晶の重量が制限されるため、その
直径が大きい程、直胴長は短くなり、製品として利用で
きる割合(歩留り)が低下してしまう。
【0005】そこで、直径の大きな単結晶を引き上げる
際の製品歩留りを上げるために前記二重ルツボ方式を採
用し、単結晶の育成中、石英ルツボ内の隔壁よりも外側
の原料供給部に適量の粒状原料、或いは粒状原料とドー
パントを連続的に供給し、抵抗率や格子間酸素濃度が成
長軸方向に均一な単結晶を得る試みがなされている。
際の製品歩留りを上げるために前記二重ルツボ方式を採
用し、単結晶の育成中、石英ルツボ内の隔壁よりも外側
の原料供給部に適量の粒状原料、或いは粒状原料とドー
パントを連続的に供給し、抵抗率や格子間酸素濃度が成
長軸方向に均一な単結晶を得る試みがなされている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の二重ルツボ方式においては、融液から放射された熱
はチャンバー内に逃げてしまい、石英ルツボ内の隔壁よ
りも内側の単結晶育成部を結晶成長に適正な温度状態と
し、同時に石英ルツボの原料供給部に常温に近い温度の
粒状原料を供給すると、隔壁と融液表面との界面及び原
料供給部から融液の固化が発生し易く、この固化が融液
表面に広がると単結晶の育成が阻害される。
来の二重ルツボ方式においては、融液から放射された熱
はチャンバー内に逃げてしまい、石英ルツボ内の隔壁よ
りも内側の単結晶育成部を結晶成長に適正な温度状態と
し、同時に石英ルツボの原料供給部に常温に近い温度の
粒状原料を供給すると、隔壁と融液表面との界面及び原
料供給部から融液の固化が発生し易く、この固化が融液
表面に広がると単結晶の育成が阻害される。
【0007】上記問題を解決するためには、ヒーターパ
ワーを上げて連続供給される粒状原料の溶融を促進せし
めるとともに、石英ルツボ内の融液の温度を高める必要
があるが、融液の温度が高くなると、単結晶の引上げ速
度が下がって単結晶の生産性が必然的に低下してしま
う。
ワーを上げて連続供給される粒状原料の溶融を促進せし
めるとともに、石英ルツボ内の融液の温度を高める必要
があるが、融液の温度が高くなると、単結晶の引上げ速
度が下がって単結晶の生産性が必然的に低下してしま
う。
【0008】又、融液表面から蒸発するSiOがチャン
バーの低温部分に触れて析出し、これが石英ルツボの融
液中に落下すると、結晶の有転位化を招いてしまうとい
う問題も発生する。
バーの低温部分に触れて析出し、これが石英ルツボの融
液中に落下すると、結晶の有転位化を招いてしまうとい
う問題も発生する。
【0009】そこで、二重ルツボ方式を採る単結晶引上
装置において、ルツボの隔壁及び該隔壁の外側の融液面
上を保温板で覆ったり(特開平1−153589号、同
1−317189号公報参照)、融液面より放射される
赤外線を隔壁の内面に近接する融液面に向けて反射する
ための反射板を設ける提案がなされている(特開平3−
183688号公報参照)。
装置において、ルツボの隔壁及び該隔壁の外側の融液面
上を保温板で覆ったり(特開平1−153589号、同
1−317189号公報参照)、融液面より放射される
赤外線を隔壁の内面に近接する融液面に向けて反射する
ための反射板を設ける提案がなされている(特開平3−
183688号公報参照)。
【0010】しかしながら、上記提案に係る保温板や反
射板は有効な断熱構造を有していないため、融液表面か
らの輻射熱を効果的に遮ることができず、輻射熱の一部
が保温板や反射板を介してチャンバー内へ散逸するとい
う問題があった。
射板は有効な断熱構造を有していないため、融液表面か
らの輻射熱を効果的に遮ることができず、輻射熱の一部
が保温板や反射板を介してチャンバー内へ散逸するとい
う問題があった。
【0011】又、粒状原料を連続的に供給しながら単結
晶を育成させる単結晶引上装置にあっては、ルツボに原
料供給部が追加される分だけ装置全体が大型化するため
に消費熱量が大きくなり、電力消費量が増えるという問
題があった。
晶を育成させる単結晶引上装置にあっては、ルツボに原
料供給部が追加される分だけ装置全体が大型化するため
に消費熱量が大きくなり、電力消費量が増えるという問
題があった。
【0012】本発明は上記問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とする処は、高品位な単結晶をより生産性
良く得ることができるとともに、高い製品歩留りを確保
することができる単結晶引上装置を提供することにあ
る。
で、その目的とする処は、高品位な単結晶をより生産性
良く得ることができるとともに、高い製品歩留りを確保
することができる単結晶引上装置を提供することにあ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく本
発明は、チャンバー内に設置されたルツボの内部を筒状
の隔壁で内側部分と外側部分に区画し、該ルツボの外側
部分の単結晶原料の融液に更にその粒状原料を連続的に
供給しながら単結晶を育成させる装置であって、育成中
の単結晶を同心的に囲繞する筒体をチャンバー上部から
下方へ延設するとともに、該筒体の下端部に、下方に向
かって縮径する截頭円錐状の断熱リングを取り付けて構
成される単結晶引上装置において、前記断熱リングの外
殻をカーボン材で構成し、該外殻の内部に断熱材を充填
したことを特徴とする。
発明は、チャンバー内に設置されたルツボの内部を筒状
の隔壁で内側部分と外側部分に区画し、該ルツボの外側
部分の単結晶原料の融液に更にその粒状原料を連続的に
供給しながら単結晶を育成させる装置であって、育成中
の単結晶を同心的に囲繞する筒体をチャンバー上部から
下方へ延設するとともに、該筒体の下端部に、下方に向
かって縮径する截頭円錐状の断熱リングを取り付けて構
成される単結晶引上装置において、前記断熱リングの外
殻をカーボン材で構成し、該外殻の内部に断熱材を充填
したことを特徴とする。
【0014】
【作用】本発明によれば、断熱リングの外殻がカーボン
材で構成され、一般にカーボン材は熱反射率が0に近
く、熱吸収率及び熱放射率が1に近いため、ヒーター及
び融液表面からの輻射熱が効率良く断熱リング外殻に吸
収されるとともに、該外殻の温度上昇による熱放射が起
こり、隔壁と融液表面との界面付近に輻射熱が逆放射さ
れてその部分が局部的に加熱される。
材で構成され、一般にカーボン材は熱反射率が0に近
く、熱吸収率及び熱放射率が1に近いため、ヒーター及
び融液表面からの輻射熱が効率良く断熱リング外殻に吸
収されるとともに、該外殻の温度上昇による熱放射が起
こり、隔壁と融液表面との界面付近に輻射熱が逆放射さ
れてその部分が局部的に加熱される。
【0015】又、特に断熱リングが外殻の内部に断熱材
を充填して構成されるため、該断熱リングの断熱効果が
高められ、融液表面からの輻射熱の単結晶への伝播が該
断熱リングによって確実に遮断され、隔壁と融液表面と
の界面付近をより高い温度に保つことができる。
を充填して構成されるため、該断熱リングの断熱効果が
高められ、融液表面からの輻射熱の単結晶への伝播が該
断熱リングによって確実に遮断され、隔壁と融液表面と
の界面付近をより高い温度に保つことができる。
【0016】以上の結果、ヒーターパワーを上げて融液
の温度を高めなくても、隔壁近傍における融液の固化が
防がれ、単結晶の成長速度(引上げ速度)を高めて生産
性の向上を図ることができる。
の温度を高めなくても、隔壁近傍における融液の固化が
防がれ、単結晶の成長速度(引上げ速度)を高めて生産
性の向上を図ることができる。
【0017】更に、本発明に係る単結晶引上装置は隔壁
を用いた二重ルツボ方式を採用し、ルツボが隔壁によっ
て内外の単結晶育成部と原料供給部とに区画されるた
め、隔壁の外側の原料供給部に適量の粒状原料(或いは
粒状原料とドーパント)を連続的に供給することがで
き、成長軸方向に均一な抵抗率分布を有する単結晶を育
成することが可能となり、直径の大きな単結晶を引き上
げる際においても、直胴部の長い単結晶を得ることがで
きて製品の歩留りを高めることができる。
を用いた二重ルツボ方式を採用し、ルツボが隔壁によっ
て内外の単結晶育成部と原料供給部とに区画されるた
め、隔壁の外側の原料供給部に適量の粒状原料(或いは
粒状原料とドーパント)を連続的に供給することがで
き、成長軸方向に均一な抵抗率分布を有する単結晶を育
成することが可能となり、直径の大きな単結晶を引き上
げる際においても、直胴部の長い単結晶を得ることがで
きて製品の歩留りを高めることができる。
【0018】
【実施例】以下に本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。
説明する。
【0019】<第1実施例>図1は本発明の第1実施例
に係る単結晶引上装置1の概略構成を示す縦断面図、図
2は図1のA部拡大詳細図である。
に係る単結晶引上装置1の概略構成を示す縦断面図、図
2は図1のA部拡大詳細図である。
【0020】図1に示す単結晶引上装置1において、2
はステンレス製のチャンバーであって、該チャンバー2
の内部には石英ルツボ3と黒鉛ルツボ4がシャフト5上
に取り付けられて収納されている。尚、シャフト5と石
英ルツボ3及び黒鉛ルツボ4は、不図示の駆動手段によ
って中心軸周りに所望とする単結晶の規格に応じた速度
CRで回転駆動される。
はステンレス製のチャンバーであって、該チャンバー2
の内部には石英ルツボ3と黒鉛ルツボ4がシャフト5上
に取り付けられて収納されている。尚、シャフト5と石
英ルツボ3及び黒鉛ルツボ4は、不図示の駆動手段によ
って中心軸周りに所望とする単結晶の規格に応じた速度
CRで回転駆動される。
【0021】又、上記チャンバー2内の前記石英ルツボ
3及び黒鉛ルツボ4の周囲には、カーボン製のヒーター
6が配され、該ヒーター6の周囲は円筒状の断熱部材7
によって囲繞されている。尚、断熱部材7は、円筒状に
成形されたカーボンシールド7aの外周面をカーボンウ
ール(カーボンファイバーの焼成品)等の断熱材7bで
被覆して構成されている。
3及び黒鉛ルツボ4の周囲には、カーボン製のヒーター
6が配され、該ヒーター6の周囲は円筒状の断熱部材7
によって囲繞されている。尚、断熱部材7は、円筒状に
成形されたカーボンシールド7aの外周面をカーボンウ
ール(カーボンファイバーの焼成品)等の断熱材7bで
被覆して構成されている。
【0022】ところで、本実施例に係る単結晶引上装置
1は所謂二重ルツボ方式を採用し、前記石英ルツボ3
は、石英製の円筒状隔壁8によってその内部を内側部分
の結晶育成部と外側部分の原料供給部とに区画されてお
り、これらの結晶育成部と原料供給部とは、前記隔壁8
に穿設された複数の連通孔8aによって相連通せしめら
れている。
1は所謂二重ルツボ方式を採用し、前記石英ルツボ3
は、石英製の円筒状隔壁8によってその内部を内側部分
の結晶育成部と外側部分の原料供給部とに区画されてお
り、これらの結晶育成部と原料供給部とは、前記隔壁8
に穿設された複数の連通孔8aによって相連通せしめら
れている。
【0023】そして、石英ルツボ3の前記内側部分の上
方には、チャンバー2の上部から下方へ垂直に延設され
るカーボン製の円筒状筒体9が臨んでおり、該筒体9の
下端部には、下方に向かって縮径する截頭円錐状の断熱
リング10が取り付けられている。
方には、チャンバー2の上部から下方へ垂直に延設され
るカーボン製の円筒状筒体9が臨んでおり、該筒体9の
下端部には、下方に向かって縮径する截頭円錐状の断熱
リング10が取り付けられている。
【0024】尚、上記カーボン筒9の全表面にはSiC
コート処理が施されており、その一部には直視用の窓9
aが形成されている。
コート処理が施されており、その一部には直視用の窓9
aが形成されている。
【0025】ところで、前記断熱リング10は、図2に
詳細に示すように、カーボン材から成る外殻10aの内
部にカーボンウール等のカーボン繊維から成る断熱材1
0bを充填して構成されており、その全表面にはSiC
コート処理が施されている。この断熱リング10の形
状、寸法及び配置位置については以下のような適正範囲
がある。
詳細に示すように、カーボン材から成る外殻10aの内
部にカーボンウール等のカーボン繊維から成る断熱材1
0bを充填して構成されており、その全表面にはSiC
コート処理が施されている。この断熱リング10の形
状、寸法及び配置位置については以下のような適正範囲
がある。
【0026】即ち、断熱リング10の適正寸法及び配置
位置としては、先ず外径が石英ルツボ隔壁8の内径より
10〜20mm以上小さく、内径が単結晶直径よりも1
0mm以上大きく、又、該断熱リング10の下端と融液
表面との間隔が10mm以上に保たれることが挙げられ
る。更に、その高さ方向の寸法として石英ルツボ3の上
端と該断熱リング10の上端との距離が10mm以上あ
るのが適正であり、更に好ましくは、その距離が断熱リ
ング10の全高の1/2以上に保たれるのが良い。
位置としては、先ず外径が石英ルツボ隔壁8の内径より
10〜20mm以上小さく、内径が単結晶直径よりも1
0mm以上大きく、又、該断熱リング10の下端と融液
表面との間隔が10mm以上に保たれることが挙げられ
る。更に、その高さ方向の寸法として石英ルツボ3の上
端と該断熱リング10の上端との距離が10mm以上あ
るのが適正であり、更に好ましくは、その距離が断熱リ
ング10の全高の1/2以上に保たれるのが良い。
【0027】断熱リング10の適正形状としては、融液
面とヒーター6からの輻射熱が当該断熱リング10の外
殻10aに効率良く吸収され、且つ、該外殻10aの温
度上昇による放射熱が隔壁8と融液の界面付近に十分に
逆放射されるように当該外殻10aの図2に示す傾斜角
αとβが決定されるが、傾斜角αとβとしては、α=5
〜80°、β=10〜80°が好ましい。
面とヒーター6からの輻射熱が当該断熱リング10の外
殻10aに効率良く吸収され、且つ、該外殻10aの温
度上昇による放射熱が隔壁8と融液の界面付近に十分に
逆放射されるように当該外殻10aの図2に示す傾斜角
αとβが決定されるが、傾斜角αとβとしては、α=5
〜80°、β=10〜80°が好ましい。
【0028】他方、石英ルツボ3の前記原料供給部の上
方には、適量の粒状原料(或いは粒状原料とドーパン
ト)を供給するための石英製の原料供給管11が配置さ
れている。
方には、適量の粒状原料(或いは粒状原料とドーパン
ト)を供給するための石英製の原料供給管11が配置さ
れている。
【0029】次に、本実施例に係る単結晶引上装置1の
作用を説明する。
作用を説明する。
【0030】例えば、シリコン単結晶16の引上げに際
して、石英ルツボ3に初期の原料シリコンを装填した
後、チャンバー2内をArガス雰囲気の減圧状態に保
ち、原料シリコンをヒーター6によって加熱溶融(初期
溶融)せしめると、図示のように石英ルツボ3の内側部
分と外側部分には原料シリコンの融液12が収容され
る。この状態で、石英ルツボ3の内側部分より単結晶1
6の引上げを行なうが、このときの融液12の液面が略
一定に保たれるように石英ルツボ3の原料供給部に原料
供給管11から粒状の原料シリコンが引上げ重量に応じ
て補給されてこれが溶融される。
して、石英ルツボ3に初期の原料シリコンを装填した
後、チャンバー2内をArガス雰囲気の減圧状態に保
ち、原料シリコンをヒーター6によって加熱溶融(初期
溶融)せしめると、図示のように石英ルツボ3の内側部
分と外側部分には原料シリコンの融液12が収容され
る。この状態で、石英ルツボ3の内側部分より単結晶1
6の引上げを行なうが、このときの融液12の液面が略
一定に保たれるように石英ルツボ3の原料供給部に原料
供給管11から粒状の原料シリコンが引上げ重量に応じ
て補給されてこれが溶融される。
【0031】而して、原料シリコンの初期溶融が終了す
ると、前記筒体9内に垂直に吊り下げられた引上げ軸で
あるワイヤー13の下端に保持具14を介して保持され
た種結晶15が石英ルツボ3の単結晶育成部の融液12
に浸漬され、石英ルツボ3がシャフト5によって図示矢
印方向(時計方向)に速度CRで回転駆動されると同時
に、種結晶15も図示矢印方向(反時計方向)に所望と
する単結晶の規格に応じた速度SRで回転されながら結
晶成長条件に応じた速度SEで引き上げられ、種結晶1
5の先には図示のように単結晶16が成長する。このと
き、筒体9内にはArガスが下方に向かって流され、A
rガスは断熱リング10と融液12の間を通過してチャ
ンバー2内に流出し、融液12の表面から蒸発したSi
Oと共にチャンバー2外へ排出される。
ると、前記筒体9内に垂直に吊り下げられた引上げ軸で
あるワイヤー13の下端に保持具14を介して保持され
た種結晶15が石英ルツボ3の単結晶育成部の融液12
に浸漬され、石英ルツボ3がシャフト5によって図示矢
印方向(時計方向)に速度CRで回転駆動されると同時
に、種結晶15も図示矢印方向(反時計方向)に所望と
する単結晶の規格に応じた速度SRで回転されながら結
晶成長条件に応じた速度SEで引き上げられ、種結晶1
5の先には図示のように単結晶16が成長する。このと
き、筒体9内にはArガスが下方に向かって流され、A
rガスは断熱リング10と融液12の間を通過してチャ
ンバー2内に流出し、融液12の表面から蒸発したSi
Oと共にチャンバー2外へ排出される。
【0032】以上において、本実施例によれば、断熱リ
ング10の外殻10aがカーボン材で構成され、一般に
カーボン材は熱反射率が0に近く、熱吸収率及び熱放射
率が1に近いため、ヒーター6及び融液12表面からの
輻射熱が効率良く断熱リング外殻10aに吸収されると
ともに、該外殻10aの温度上昇による熱放射が起こ
り、隔壁8と融液12表面との界面付近に輻射熱が逆放
射されてその部分が局部的に加熱される。尚、本実施例
においては、断熱リング10は石英ルツボ3の上端より
その全高の1/2以上が露出しており、この露出部分に
おいてヒーター6からの輻射熱が十分吸収されてその温
度上昇による熱放射が十分行なわれる。
ング10の外殻10aがカーボン材で構成され、一般に
カーボン材は熱反射率が0に近く、熱吸収率及び熱放射
率が1に近いため、ヒーター6及び融液12表面からの
輻射熱が効率良く断熱リング外殻10aに吸収されると
ともに、該外殻10aの温度上昇による熱放射が起こ
り、隔壁8と融液12表面との界面付近に輻射熱が逆放
射されてその部分が局部的に加熱される。尚、本実施例
においては、断熱リング10は石英ルツボ3の上端より
その全高の1/2以上が露出しており、この露出部分に
おいてヒーター6からの輻射熱が十分吸収されてその温
度上昇による熱放射が十分行なわれる。
【0033】又、特に断熱リング10が外殻10aの内
部に断熱材10bを充填して構成されるため、該断熱リ
ング10の断熱効果が高められ、融液12表面からの輻
射熱の単結晶16への伝播が該断熱リング10によって
確実に遮断され、隔壁8と融液12表面との界面付近を
より高い温度に保つことができる。
部に断熱材10bを充填して構成されるため、該断熱リ
ング10の断熱効果が高められ、融液12表面からの輻
射熱の単結晶16への伝播が該断熱リング10によって
確実に遮断され、隔壁8と融液12表面との界面付近を
より高い温度に保つことができる。
【0034】以上の結果、ヒーター6のパワーを上げて
融液12の温度を高めなくても、隔壁8近傍における融
液12の固化が防がれ、単結晶16の成長速度(引上げ
速度)を高めて生産性の向上を図ることができる。
融液12の温度を高めなくても、隔壁8近傍における融
液12の固化が防がれ、単結晶16の成長速度(引上げ
速度)を高めて生産性の向上を図ることができる。
【0035】又、単結晶16は、筒体9を流れるArガ
スによってその成長界面付近が強制的に冷却されるた
め、融液12の表面での半径方向の温度勾配が大きくな
り、このことによっても単結晶16の育成速度(引上げ
速度SE)が高められて生産性の向上が図られる。
スによってその成長界面付近が強制的に冷却されるた
め、融液12の表面での半径方向の温度勾配が大きくな
り、このことによっても単結晶16の育成速度(引上げ
速度SE)が高められて生産性の向上が図られる。
【0036】ここで、表1に示すように、筒体9が無い
装置、筒体9のみを設けた装置、筒体9に断熱リング
(断熱材を充填していないもの)を取り付けた装置をそ
れぞれ比較例1,2,3としたときの単結晶引き上げが
可能な引上げ速度SEの平均値はそれぞれ0.9、1.
0、1.3mm/minであるのに対し、本実施例の場
合には、引上げ速度SEは1.4mm/minまで高め
られることが確認され、本実施例による前記効果が実証
された。
装置、筒体9のみを設けた装置、筒体9に断熱リング
(断熱材を充填していないもの)を取り付けた装置をそ
れぞれ比較例1,2,3としたときの単結晶引き上げが
可能な引上げ速度SEの平均値はそれぞれ0.9、1.
0、1.3mm/minであるのに対し、本実施例の場
合には、引上げ速度SEは1.4mm/minまで高め
られることが確認され、本実施例による前記効果が実証
された。
【0037】
【表1】 又、断熱リングの無い装置、断熱リング(断熱材無し)
を設けた装置、断熱リング(断熱材有り)を設けた装置
について、融液中心、隔壁近傍及び隔壁外側での融液の
各表面温度をパイロメーター(放射温度計)によってそ
れぞれ測定し、各温度を融液中心での融液表面温度との
差(表面温度差)の形で図3にそれぞれ示す。図3より
明らかなように、断熱リングの有無によって隔壁近傍の
融液温度に大きな差が生じ、これにより石英ルツボの外
側部分を原料溶融に十分な高温に保持できるとともに、
該石英ルツボの内側部分における結晶の成長界面部分の
温度をより低く保持できて育成速度が高められる。
を設けた装置、断熱リング(断熱材有り)を設けた装置
について、融液中心、隔壁近傍及び隔壁外側での融液の
各表面温度をパイロメーター(放射温度計)によってそ
れぞれ測定し、各温度を融液中心での融液表面温度との
差(表面温度差)の形で図3にそれぞれ示す。図3より
明らかなように、断熱リングの有無によって隔壁近傍の
融液温度に大きな差が生じ、これにより石英ルツボの外
側部分を原料溶融に十分な高温に保持できるとともに、
該石英ルツボの内側部分における結晶の成長界面部分の
温度をより低く保持できて育成速度が高められる。
【0038】その他、本実施例によれば、前述のように
筒体9内を流れるArガスによってSiO等がスムーズ
に除去されるため、結晶の有転位化が防がれて高品位な
単結晶16が得られる。
筒体9内を流れるArガスによってSiO等がスムーズ
に除去されるため、結晶の有転位化が防がれて高品位な
単結晶16が得られる。
【0039】又、本実施例に係る単結晶引上装置1は隔
壁8を用いた二重ルツボ方式を採用し、石英ルツボ3が
隔壁8によって内外の単結晶育成部と原料供給部とに区
画されるため、隔壁8の外側の原料供給部に適量の多結
晶シリコン(或いは多結晶シリコンとドーパント)を連
続的に供給することができ、成長軸方向に均一な抵抗率
分布を有する単結晶16を育成することが可能となり、
直径の大きな単結晶を引き上げる際においても、直胴部
の長い単結晶16を得ることができて製品の歩留りを高
めることができる。
壁8を用いた二重ルツボ方式を採用し、石英ルツボ3が
隔壁8によって内外の単結晶育成部と原料供給部とに区
画されるため、隔壁8の外側の原料供給部に適量の多結
晶シリコン(或いは多結晶シリコンとドーパント)を連
続的に供給することができ、成長軸方向に均一な抵抗率
分布を有する単結晶16を育成することが可能となり、
直径の大きな単結晶を引き上げる際においても、直胴部
の長い単結晶16を得ることができて製品の歩留りを高
めることができる。
【0040】尚、単結晶16の引上げ中、筒体9と断熱
リング10は常に1000℃以上の超高温に晒される
が、これらは前述のようにその全表面がSiCコート処
理されているため、その耐熱性が高められ、これらが劣
化してカーボンが落下することがなく、従って、落下し
たカーボンによって単結晶16の育成が阻害されること
がない。
リング10は常に1000℃以上の超高温に晒される
が、これらは前述のようにその全表面がSiCコート処
理されているため、その耐熱性が高められ、これらが劣
化してカーボンが落下することがなく、従って、落下し
たカーボンによって単結晶16の育成が阻害されること
がない。
【0041】ところで、単結晶16の育成においては、
結晶の歩留りを高めるために単結晶16の直径制御が不
可欠であり、又、チャンバー2内に異常が発生した場合
には即座に対処しなければならないが、本実施例では、
筒体9に窓9aを形成したため、該窓9aを介して内部
の単結晶16の様子を直視することができ、単結晶16
の直径制御を高精度に行ない、且つ、異常発生時にも即
座に対応することができる。
結晶の歩留りを高めるために単結晶16の直径制御が不
可欠であり、又、チャンバー2内に異常が発生した場合
には即座に対処しなければならないが、本実施例では、
筒体9に窓9aを形成したため、該窓9aを介して内部
の単結晶16の様子を直視することができ、単結晶16
の直径制御を高精度に行ない、且つ、異常発生時にも即
座に対応することができる。
【0042】<第2実施例>次に、本発明の第2実施例
を図4に基づいて説明する。尚、図4は本発明の第2実
施例に係る単結晶引上装置1’の概略構成を示す縦断面
図であり、本図においては図1に示したと同一要素には
同一符号を付しており、以下、それらについての説明は
省略する。
を図4に基づいて説明する。尚、図4は本発明の第2実
施例に係る単結晶引上装置1’の概略構成を示す縦断面
図であり、本図においては図1に示したと同一要素には
同一符号を付しており、以下、それらについての説明は
省略する。
【0043】本実施例に係る単結晶引上装置1’は、前
記第1実施例に係る単結晶引上装置1において石英ルツ
ボ3の上方の筒体9の外周側にリング状の保温板17を
設置し、石英ルツボ3の下方にリング状の下部断熱板1
8を設置したものであって、他の構成は第1実施例に係
る単結晶引上装置1のそれと同じである。
記第1実施例に係る単結晶引上装置1において石英ルツ
ボ3の上方の筒体9の外周側にリング状の保温板17を
設置し、石英ルツボ3の下方にリング状の下部断熱板1
8を設置したものであって、他の構成は第1実施例に係
る単結晶引上装置1のそれと同じである。
【0044】上記保温板17は、カーボン材から成る外
殻17aの内部にカーボンウール等のカーボン繊維から
成る断熱材17bを充填して構成される多層構造を有し
ており、これは断熱部材7の上端にその外周が保持され
て設置されている。
殻17aの内部にカーボンウール等のカーボン繊維から
成る断熱材17bを充填して構成される多層構造を有し
ており、これは断熱部材7の上端にその外周が保持され
て設置されている。
【0045】又、前記下部断熱板18は、カーボン材か
ら成る上下の外殻18aの間にカーボンウール等のカー
ボン繊維から成る断熱材18bを充填して構成される多
層構造を有している。
ら成る上下の外殻18aの間にカーボンウール等のカー
ボン繊維から成る断熱材18bを充填して構成される多
層構造を有している。
【0046】而して、本実施例によれば、前記第1実施
例にて得られた効果に加えて次のような特有の効果が得
られる。
例にて得られた効果に加えて次のような特有の効果が得
られる。
【0047】即ち、融液12からの輻射熱は保温板17
によって石英ルツボ3側に反射されるとともに、保温板
17の断熱作用によって該保温板17より上方への熱の
伝達が遮断されるため、チャンバー2内の該保温板17
より下方の空間が保温され、これによって隔壁8の近傍
や石英ルツボ3内の外側部分(原料供給部)における融
液12の固化が防がれ、この結果、ヒーター6のパワー
を抑えることで単結晶16の育成速度(引上げ速度S
E)をより一層高めて生産性の向上を図ることができ
る。
によって石英ルツボ3側に反射されるとともに、保温板
17の断熱作用によって該保温板17より上方への熱の
伝達が遮断されるため、チャンバー2内の該保温板17
より下方の空間が保温され、これによって隔壁8の近傍
や石英ルツボ3内の外側部分(原料供給部)における融
液12の固化が防がれ、この結果、ヒーター6のパワー
を抑えることで単結晶16の育成速度(引上げ速度S
E)をより一層高めて生産性の向上を図ることができ
る。
【0048】又、保温板17の断熱作用によって石英ル
ツボ3の外側部分(原料供給部)に供給される多結晶シ
リコンの溶融が促進されるとともに、石英ルツボ3の上
部等の低温化が防がれるため、融液12表面から蒸発す
るSiO等のチャンバー2や石英ルツボ3への凝縮、付
着が抑制され、筒体9内を流れるArガスによるSiO
等のスムーズな除去とも相俟って結晶の有転位化が防が
れ、高品位な単結晶16が得られる。
ツボ3の外側部分(原料供給部)に供給される多結晶シ
リコンの溶融が促進されるとともに、石英ルツボ3の上
部等の低温化が防がれるため、融液12表面から蒸発す
るSiO等のチャンバー2や石英ルツボ3への凝縮、付
着が抑制され、筒体9内を流れるArガスによるSiO
等のスムーズな除去とも相俟って結晶の有転位化が防が
れ、高品位な単結晶16が得られる。
【0049】更に、本実施例によれば、下部断熱板18
の断熱作用によって、チャンバー2内で石英ルツボ3の
下方へ逃げる熱量が最小限に抑えられるため、損失熱量
が低減されて熱効率が高められ、単結晶引上装置1’の
電力消費量が低く抑えられて省エネルギー化が図られ
る。
の断熱作用によって、チャンバー2内で石英ルツボ3の
下方へ逃げる熱量が最小限に抑えられるため、損失熱量
が低減されて熱効率が高められ、単結晶引上装置1’の
電力消費量が低く抑えられて省エネルギー化が図られ
る。
【0050】
【発明の効果】以上の説明で明らかな如く、本発明によ
れば、チャンバー内に設置されたルツボの内部を筒状の
隔壁で内側部分と外側部分に区画し、該ルツボの外側部
分の単結晶原料の融液に更にその粒状原料を連続的に供
給しながら単結晶を育成させる装置であって、育成中の
単結晶を同心的に囲繞する筒体をチャンバー上部から下
方へ延設するとともに、該筒体の下端部に、下方に向か
って縮径する截頭円錐状の断熱リングを取り付けて構成
される単結晶引上装置において、前記断熱リングの外殻
をカーボン材で構成し、該外殻の内部に断熱材を充填し
たため、高品位な単結晶をより生産性良く得ることがで
きるとともに、高い製品歩留りを確保することができる
という効果が得られる。
れば、チャンバー内に設置されたルツボの内部を筒状の
隔壁で内側部分と外側部分に区画し、該ルツボの外側部
分の単結晶原料の融液に更にその粒状原料を連続的に供
給しながら単結晶を育成させる装置であって、育成中の
単結晶を同心的に囲繞する筒体をチャンバー上部から下
方へ延設するとともに、該筒体の下端部に、下方に向か
って縮径する截頭円錐状の断熱リングを取り付けて構成
される単結晶引上装置において、前記断熱リングの外殻
をカーボン材で構成し、該外殻の内部に断熱材を充填し
たため、高品位な単結晶をより生産性良く得ることがで
きるとともに、高い製品歩留りを確保することができる
という効果が得られる。
【図1】本発明の第1実施例に係る単結晶引上装置の概
略構成を示す縦断面図である。
略構成を示す縦断面図である。
【図2】図1のA部拡大詳細図である。
【図3】各部における融液表面温度の測定結果を示す図
である。
である。
【図4】本発明の第2実施例に係る単結晶引上装置の概
略構成を示す縦断面図である。
略構成を示す縦断面図である。
1,1’ 単結晶引上装置 2 チャンバー 3 石英ルツボ(ルツボ) 8 隔壁 9 筒体 10 断熱リング 10a 断熱リングの外殻 10b 断熱材 11 原料供給管 12 多結晶融液 16 単結晶 17 保温板 17a 保温板の外殻 17b 断熱材 18 下部断熱板 18a 下部断熱板の外殻 18b 断熱材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山岸 浩利 群馬県安中市磯部2丁目13番1号信越半 導体株式会社 半導体磯部研究所内 (56)参考文献 特開 平5−105578(JP,A) 特開 平5−221779(JP,A) 特開 平5−43383(JP,A) 特開 平5−85881(JP,A) 特開 平3−183688(JP,A) 特開 平4−321587(JP,A) 特開 昭53−119282(JP,A) 特開 平3−164494(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) C30B 15/00 - 15/36 C30B 28/00 - 35/00
Claims (4)
- 【請求項1】 チャンバー内に設置されたルツボの内部
を筒状の隔壁で内側部分と外側部分に区画し、該ルツボ
の外側部分の単結晶原料の融液に更にその粒状原料を連
続的に供給しながら単結晶を育成させる装置であって、
育成中の単結晶を同心的に囲繞する筒体をチャンバー上
部から下方へ延設するとともに、該筒体の下端部に、下
方に向かって縮径する截頭円錐状の断熱リングを取り付
けて構成される単結晶引上装置において、前記断熱リン
グの外殻をカーボン材で構成し、該外殻の内部に断熱材
を充填したことを特徴とする単結晶引上装置。 - 【請求項2】 前記チャンバー内の前記ルツボの上方に
リング状の保温板を設置し、同ルツボの下方にリング状
の下部断熱板を設置し、該保温板と下部断熱板を、外殻
と該外殻内に充填される断熱材との多層構造としたこと
を特徴とする請求項1記載の単結晶引上装置。 - 【請求項3】 前記筒体と前記保温板及び下部断熱板の
各外殻はカーボン材で構成され、前記断熱材はカーボン
繊維で構成されることを特徴とする請求項1又は2記載
の単結晶引上装置。 - 【請求項4】 前記筒体と前記断熱リングの全表面にS
iCコート処理が施されていることを特徴とする請求項
1,2又は3記載の単結晶引上装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21710893A JP2820002B2 (ja) | 1993-09-01 | 1993-09-01 | 単結晶引上装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21710893A JP2820002B2 (ja) | 1993-09-01 | 1993-09-01 | 単結晶引上装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0769779A JPH0769779A (ja) | 1995-03-14 |
JP2820002B2 true JP2820002B2 (ja) | 1998-11-05 |
Family
ID=16698980
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21710893A Expired - Lifetime JP2820002B2 (ja) | 1993-09-01 | 1993-09-01 | 単結晶引上装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2820002B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100415860B1 (ko) * | 1995-12-08 | 2004-06-04 | 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 | 단결정제조장치및제조방법 |
JPH09183686A (ja) * | 1995-12-27 | 1997-07-15 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 単結晶引き上げ方法及び装置 |
US5942032A (en) * | 1997-08-01 | 1999-08-24 | Memc Electronic Materials, Inc. | Heat shield assembly and method of growing vacancy rich single crystal silicon |
JPH11209193A (ja) * | 1998-01-22 | 1999-08-03 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 単結晶引き上げ装置 |
JP4849083B2 (ja) * | 2008-03-12 | 2011-12-28 | 信越半導体株式会社 | 単結晶引上げ装置 |
JP5170127B2 (ja) | 2010-02-18 | 2013-03-27 | トヨタ自動車株式会社 | SiC単結晶の製造方法 |
JP2013053017A (ja) * | 2011-09-01 | 2013-03-21 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 単結晶育成装置 |
CN105887187B (zh) * | 2015-11-24 | 2020-02-14 | 上海超硅半导体有限公司 | 一种硅单晶生长掺杂剂浓度稳定控制方法 |
JP6702169B2 (ja) * | 2016-12-15 | 2020-05-27 | 株式会社Sumco | 熱遮蔽部材、単結晶引き上げ装置および単結晶シリコンインゴットの製造方法 |
-
1993
- 1993-09-01 JP JP21710893A patent/JP2820002B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0769779A (ja) | 1995-03-14 |
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