JP2801276B2 - 多値強度を有するフィールドにおけるパターン認識方法及びかかる方法を実施する装置 - Google Patents
多値強度を有するフィールドにおけるパターン認識方法及びかかる方法を実施する装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明はロジックハイ単位とロジックロー単位とから
なる基準マスクとの協働による多値強度を有するフィー
ルドにおけるパターン認識方法に関する。
なる基準マスクとの協働による多値強度を有するフィー
ルドにおけるパターン認識方法に関する。
本発明はまたかかる方法を実施する装置に関する。
上記の種類の方法及び装置は、異なるグレー値のピク
セルからなる映像イメージ中のパターン認識の場合に関
するドイツ公開公報DE−OS3210814から公知である。
セルからなる映像イメージ中のパターン認識の場合に関
するドイツ公開公報DE−OS3210814から公知である。
公知の方法は、多値映像イメージを、それぞれ異なる
判別閾値により数個の２値単位によるイメージに変換す
る。これらのイメージのうちの幾つかのイメージの対応
位置部分が、所望のパターンを表わす２値基準マスクと
比較される。問題とされているイメージの部分と基準マ
スクとの対応度は、基準マスクの対応位置の単位と同一
ロジック値を有する当該部分中での単位の数で決められ
る。この対応度は、判別閾値に依存する量である。
判別閾値により数個の２値単位によるイメージに変換す
る。これらのイメージのうちの幾つかのイメージの対応
位置部分が、所望のパターンを表わす２値基準マスクと
比較される。問題とされているイメージの部分と基準マ
スクとの対応度は、基準マスクの対応位置の単位と同一
ロジック値を有する当該部分中での単位の数で決められ
る。この対応度は、判別閾値に依存する量である。
所望パターンを検出し位置特定するための映像イメー
ジ閾値処理用に最適の判別閾値として、閾値処理を受け
る映像イメージの該当部分の各々と基準マスクとの対応
度の累積値が最大となる判別閾値が用いられる。
ジ閾値処理用に最適の判別閾値として、閾値処理を受け
る映像イメージの該当部分の各々と基準マスクとの対応
度の累積値が最大となる判別閾値が用いられる。
公知の方法によれば、所望パターンの有無が導き出さ
れる最大対応度を見出すには、閾値処理による映像イメ
ージの変換を全ての適用可能な閾値について行なわなけ
ればならない。
れる最大対応度を見出すには、閾値処理による映像イメ
ージの変換を全ての適用可能な閾値について行なわなけ
ればならない。
様々な閾値による閾値処理が順次行なわれ、通常の数
の閾値（例えば256個の異なる閾値）が用いられる場合
には、閾値処理全体には長い時間がかかる。入力イメー
ジの閾値処理を全ての閾値に対し同時に行なうには、25
6個の映像イメージを並列的に閾値処理し及び変換を後
続の動作に準備しておくために高価な設備が必要とな
る。
の閾値（例えば256個の異なる閾値）が用いられる場合
には、閾値処理全体には長い時間がかかる。入力イメー
ジの閾値処理を全ての閾値に対し同時に行なうには、25
6個の映像イメージを並列的に閾値処理し及び変換を後
続の動作に準備しておくために高価な設備が必要とな
る。
従って本発明の目的の１つは、多値強度のフィールド
内でのパターン認識をより高速に行なうより単純な方法
を提供するにある。
内でのパターン認識をより高速に行なうより単純な方法
を提供するにある。
これを達成するため本発明による方法は、基準マスク
が該当するロジックハイ単位を有する第１のサブマスク
と、該当するロジックロー単位を有する第２のサブマス
クとに分けられ、サブマスクをフィールド内に位置決め
する段階と、位置決めされた第１と第２のサブマスクの
該当する窓内のそれぞれのフィールドの領域内での強度
の相対的最低値及び相対的最高値をそれぞれ判定する段
階と、相対的最低値と相対的最高値との差が負でない場
合パターンを認識する段階とからなることを特徴とす
る。多値強度のフィールドが、前記相対的最低値より低
い判別閾値に基づいて２値強度のフィールドであると判
断されるなら、強度が相対的最低値よりも高いフィール
ドの少なくとも第１の領域はロジックハイの値へマッピ
ングされることになる。同様に判別が前記相対的最高値
よりも高い判別閾値に基づいて行なわれるものなら強度
が相対的最高値よりも低いフィールドの少なくとも第２
の領域はロジックローの値へマッピングされることにな
る。相対的最低値から相対的最高値を引いた差が負でな
い（非負の）場合、これらの値の間にある閾値による判
別において第１の領域はロジックハイの値へマッピング
され、第２の領域はロジックローの値へマッピングされ
る。パターン検出のため多値強度のフィールドの判別を
実際に実行する代わりに、第１のサブマスクの窓内及び
第２のサブマスクの窓内それぞれで測定された強度の相
対的最低値と相対的最高値の差の符号を判定すれば本発
明の方法を用いるのに十分である。
が該当するロジックハイ単位を有する第１のサブマスク
と、該当するロジックロー単位を有する第２のサブマス
クとに分けられ、サブマスクをフィールド内に位置決め
する段階と、位置決めされた第１と第２のサブマスクの
該当する窓内のそれぞれのフィールドの領域内での強度
の相対的最低値及び相対的最高値をそれぞれ判定する段
階と、相対的最低値と相対的最高値との差が負でない場
合パターンを認識する段階とからなることを特徴とす
る。多値強度のフィールドが、前記相対的最低値より低
い判別閾値に基づいて２値強度のフィールドであると判
断されるなら、強度が相対的最低値よりも高いフィール
ドの少なくとも第１の領域はロジックハイの値へマッピ
ングされることになる。同様に判別が前記相対的最高値
よりも高い判別閾値に基づいて行なわれるものなら強度
が相対的最高値よりも低いフィールドの少なくとも第２
の領域はロジックローの値へマッピングされることにな
る。相対的最低値から相対的最高値を引いた差が負でな
い（非負の）場合、これらの値の間にある閾値による判
別において第１の領域はロジックハイの値へマッピング
され、第２の領域はロジックローの値へマッピングされ
る。パターン検出のため多値強度のフィールドの判別を
実際に実行する代わりに、第１のサブマスクの窓内及び
第２のサブマスクの窓内それぞれで測定された強度の相
対的最低値と相対的最高値の差の符号を判定すれば本発
明の方法を用いるのに十分である。
本発明による方法の別の態様は、パターンの認識は非
負の差が所定値を越える際に起こることを特徴とする。
差が所定値よりも大きいためイメージ内で存在がより明
白なパターンのみが認識に受容される。
負の差が所定値を越える際に起こることを特徴とする。
差が所定値よりも大きいためイメージ内で存在がより明
白なパターンのみが認識に受容される。
本発明による方法の別の態様は、相対的最高値と相対
的最低値とが、該当サブマスクの該当窓内のフィールド
での位置を表わす強度の値を大きさに従ってソーティン
グし、そのようにしてできた該当する順序においてそれ
ぞれ所定の差の数を除いて端の位置を占める。値を判定
することで決められることを特徴とする。
的最低値とが、該当サブマスクの該当窓内のフィールド
での位置を表わす強度の値を大きさに従ってソーティン
グし、そのようにしてできた該当する順序においてそれ
ぞれ所定の差の数を除いて端の位置を占める。値を判定
することで決められることを特徴とする。
ソーティングにより順序付けられた値の集合が得られ
る。カウントダウンすることで、該当する順序において
該当する差の数を除いた端の値を判定するのは簡単であ
る。次いでこの値は、相対的最高値又は相対的最低値に
等しいとされる。該当する差の数が大きくなると、この
相対的最低値と相対的最高値との差も増大する。これは
特に、差の数が小さい場合には認識されないパターンが
差の数が大きい場合には認識されるということである。
つまり差の数は、パターン認識の許容差を表わす。
る。カウントダウンすることで、該当する順序において
該当する差の数を除いた端の値を判定するのは簡単であ
る。次いでこの値は、相対的最高値又は相対的最低値に
等しいとされる。該当する差の数が大きくなると、この
相対的最低値と相対的最高値との差も増大する。これは
特に、差の数が小さい場合には認識されないパターンが
差の数が大きい場合には認識されるということである。
つまり差の数は、パターン認識の許容差を表わす。
本発明の他の目的は、本発明による方法を実施する装
置を提供するにある。本発明による装置は、大きさによ
る値のソーティングを行なうため、順序中の所定値での
値を出力する少なくとも１つのランク値フィルタが設け
られることを特徴とする。
置を提供するにある。本発明による装置は、大きさによ
る値のソーティングを行なうため、順序中の所定値での
値を出力する少なくとも１つのランク値フィルタが設け
られることを特徴とする。
ランク値フィルタは、その自体は公知であり、例えば
LSIロジックコーポレーション製のL64220がある。ラン
ク値フィルタは、例えばＭ×Ｋ個の値の所定の窓内にお
いて、入力値の大きさの順序中の所定ランクを計算し
て、所定ランクでの値を出力値とするものである。通常
かかるランク値フィルタは、所定の種類の雑音を抑圧す
るのに用いられる。本発明の装置は、相対的最高値及び
相対的最低値を判定するのにランク値フィルタを用い
る。
LSIロジックコーポレーション製のL64220がある。ラン
ク値フィルタは、例えばＭ×Ｋ個の値の所定の窓内にお
いて、入力値の大きさの順序中の所定ランクを計算し
て、所定ランクでの値を出力値とするものである。通常
かかるランク値フィルタは、所定の種類の雑音を抑圧す
るのに用いられる。本発明の装置は、相対的最高値及び
相対的最低値を判定するのにランク値フィルタを用い
る。
本発明による装置の実施例は、入力側が互いに結合さ
れる第１のランク値フィルタと第２のランク値フィルタ
が設けられることを特徴とする。
れる第１のランク値フィルタと第２のランク値フィルタ
が設けられることを特徴とする。
従って少なくとも２つのサブマスクが同時に同一のフ
ィールドと比較される。
ィールドと比較される。
本発明の装置の別の実施例は、ランク値フィルタが、
少なくとも２つの値を供給され、前記少なくとも２つの
値を比較し、前記少なくとも２つの値の最高値又は最低
値を出力する比較器と、比較器の出力から比較器の一入
力への結合とからなることを特徴とする。
少なくとも２つの値を供給され、前記少なくとも２つの
値を比較し、前記少なくとも２つの値の最高値又は最低
値を出力する比較器と、比較器の出力から比較器の一入
力への結合とからなることを特徴とする。
この実施例は、非常に単純なランク値フィルタからな
る。以前の比較中に最高値又は最低値とされた値は、再
び比較器に供給されて、少なくとも１つの現在比較器に
供給されている他の値と比較される。
る。以前の比較中に最高値又は最低値とされた値は、再
び比較器に供給されて、少なくとも１つの現在比較器に
供給されている他の値と比較される。
本発明の装置の他の実施例は、順序中の所定位置が調
整可能であることを特徴とする。
整可能であることを特徴とする。
順序中の位置を調整可能にすることで、様々な認識の
許容差を使用しうる。
許容差を使用しうる。
第１図は例として多値強度及び離散要素を有する２次
元フィールドを示す。各要素の値は数字で示されてい
る。
元フィールドを示す。各要素の値は数字で示されてい
る。
例えば映像イメージ中のパターン認識の場合には、こ
れらの数字はピクセルのグレー値を表わす。例えば、リ
モートセンシングの分野の場合は、数字は測定量、例え
ば温度又は基準点からの距離の値を表わす。この場合測
定値とそれら相互の向きとの間の所定の統一性が追求さ
れる。
れらの数字はピクセルのグレー値を表わす。例えば、リ
モートセンシングの分野の場合は、数字は測定量、例え
ば温度又は基準点からの距離の値を表わす。この場合測
定値とそれら相互の向きとの間の所定の統一性が追求さ
れる。
本発明による方法及び装置の使用は、第１図に示され
た例の２次元フィールドに限定されるものではない。１
次元フィールドについて本発明の方法を使用することに
は、例えば（歪んだ）ディジタル信号中で所定パターン
を探すことがある。３次元フィールドで本発明の方法を
使用することには、例えば対象のコンピュータ断層検査
で得られたデータフィールド中で所定パターンを探すこ
とがある。また、検査さるべきフィールドは、多値強度
を有するとして、例として第１図に示された如き（類似
の）要素に分割される必要はない。連続的フィールド
も、表示する離散値がサブマスクとの協働を考慮してフ
ィールドの部分に割当てられるならば、所定パターンに
ついての検査が可能である。
た例の２次元フィールドに限定されるものではない。１
次元フィールドについて本発明の方法を使用することに
は、例えば（歪んだ）ディジタル信号中で所定パターン
を探すことがある。３次元フィールドで本発明の方法を
使用することには、例えば対象のコンピュータ断層検査
で得られたデータフィールド中で所定パターンを探すこ
とがある。また、検査さるべきフィールドは、多値強度
を有するとして、例として第１図に示された如き（類似
の）要素に分割される必要はない。連続的フィールド
も、表示する離散値がサブマスクとの協働を考慮してフ
ィールドの部分に割当てられるならば、所定パターンに
ついての検査が可能である。
第２図は、ロジック単位で表わされるパターンを有す
る基準マスクの例を示す。暗い単位はロジックハイの値
を有する単位であり、明るい単位はロジックローの値を
有する単位である。Ｘ印が付けられた単位は、無関係な
ロジック値を有する単位である。
る基準マスクの例を示す。暗い単位はロジックハイの値
を有する単位であり、明るい単位はロジックローの値を
有する単位である。Ｘ印が付けられた単位は、無関係な
ロジック値を有する単位である。
従来の方法では、第１図に示される如きフィールドの
閾値処理中では、所定値を有する該当単位は、例えば所
定値が判別閾値より大であるか判別閾値以下であるかの
それぞれの場合にロジックハイの値を有する単位又はロ
ジックローの値を有する単位へマッピングされる。例え
ば第２図に示されるパターンの全該当単位が、ロジック
値及び位置について第１図のフィールドの閾値処理され
たイメージ中の該当単位に対応するなら、パターンはこ
のイメージにおいて認識される。
閾値処理中では、所定値を有する該当単位は、例えば所
定値が判別閾値より大であるか判別閾値以下であるかの
それぞれの場合にロジックハイの値を有する単位又はロ
ジックローの値を有する単位へマッピングされる。例え
ば第２図に示されるパターンの全該当単位が、ロジック
値及び位置について第１図のフィールドの閾値処理され
たイメージ中の該当単位に対応するなら、パターンはこ
のイメージにおいて認識される。
フィールド中で所望パターンを検出するため本発明で
は次の如き手続をとる。基準マスクは、パターン中どの
位置でロジックハイの値を有する該当ユニットが発生す
るかを特定する第１のサブマスク（第３図）と、パター
ン中どの位置でロジックローの値を有する該当単位が発
生するかを特定する第２のサブマスク（第４図）との２
つのサブマスクに分けられる。第３図及び第４図のサブ
マスクの各々は、１つのロジック値を有する単位と、無
関係なロジック値を有する単位のみからなる。
は次の如き手続をとる。基準マスクは、パターン中どの
位置でロジックハイの値を有する該当ユニットが発生す
るかを特定する第１のサブマスク（第３図）と、パター
ン中どの位置でロジックローの値を有する該当単位が発
生するかを特定する第２のサブマスク（第４図）との２
つのサブマスクに分けられる。第３図及び第４図のサブ
マスクの各々は、１つのロジック値を有する単位と、無
関係なロジック値を有する単位のみからなる。
第１図のフィールドは、第３図及び第４図に示される
サブマスクと組み合わされる。第３図の第１のサブマス
クの窓内でのフィールドの該当要素は、第１のサブマス
クの該当単位に対応する位置を有する要素である。これ
らの要素の関係及び値は第５図に示されている。同様に
第６図は、第４図の第２のサブマスクと組み合わせられ
る該当要素の関係及び値を示す。
サブマスクと組み合わされる。第３図の第１のサブマス
クの窓内でのフィールドの該当要素は、第１のサブマス
クの該当単位に対応する位置を有する要素である。これ
らの要素の関係及び値は第５図に示されている。同様に
第６図は、第４図の第２のサブマスクと組み合わせられ
る該当要素の関係及び値を示す。
次いで第５図及び第６図の該当要素の値が第７図及び
第８図にそれぞれ示される如く大きさに応じソーティン
グされる。第７図では最低値は７に等しく、最高値は10
に等しい。第８図では最低値は３に等しく、最高値は５
に等しい。閾値処理時第５図の全要素がロジックハイの
値を有する単位へマッピングされるとすると、判別閾値
は値７より小さくなければならない。これは第９図の左
側のバーに示されている。この場合ロジックハイの値に
適する判別閾値は、０で閉じ７で開いた０と７との間の
区間内にある。同様に閾値処理時第６図の要素がロジッ
クローの値にマッピングされるとすると、判別閾値は５
より大きいか５に等しくなければならない。これは第９
図の右側のバーに示されている。この場合ロジックロー
の値に適する判別閾値は、５と10との間の閉区間内にあ
る。第９図の中央のバーは前記区間の共通部分である。
この共通部分内にある判別閾値は、第５図中に示される
要素をロジックハイの値の単位にマッピングするのに
も、また第６図中に示される要素をロジックローの値の
単位にマッピングするのにも適する。判別閾値が５で閉
じ７で開いた５と７との間の区間内にある場合、第１図
に示されるフィールドは閾値処理時、両方のサブマスク
が合致する２値単位の形状へマッピングされる。本発明
の方法においてはパターン検出は閾値処理とその後の基
準マスクとの比較を含まない。その代りに強度の端の値
が測定された後にそれらの端の値間の差の符号が判定さ
れる。端の値の判定は、フィールドが閾値処理を受ける
際にそれぞれのサブマスクが認識され続ける判別閾値の
限界レベルの判定とみなされる。差の判別の判定は、前
記の区間の共通部分の有無の確認と考えされる。
第８図にそれぞれ示される如く大きさに応じソーティン
グされる。第７図では最低値は７に等しく、最高値は10
に等しい。第８図では最低値は３に等しく、最高値は５
に等しい。閾値処理時第５図の全要素がロジックハイの
値を有する単位へマッピングされるとすると、判別閾値
は値７より小さくなければならない。これは第９図の左
側のバーに示されている。この場合ロジックハイの値に
適する判別閾値は、０で閉じ７で開いた０と７との間の
区間内にある。同様に閾値処理時第６図の要素がロジッ
クローの値にマッピングされるとすると、判別閾値は５
より大きいか５に等しくなければならない。これは第９
図の右側のバーに示されている。この場合ロジックロー
の値に適する判別閾値は、５と10との間の閉区間内にあ
る。第９図の中央のバーは前記区間の共通部分である。
この共通部分内にある判別閾値は、第５図中に示される
要素をロジックハイの値の単位にマッピングするのに
も、また第６図中に示される要素をロジックローの値の
単位にマッピングするのにも適する。判別閾値が５で閉
じ７で開いた５と７との間の区間内にある場合、第１図
に示されるフィールドは閾値処理時、両方のサブマスク
が合致する２値単位の形状へマッピングされる。本発明
の方法においてはパターン検出は閾値処理とその後の基
準マスクとの比較を含まない。その代りに強度の端の値
が測定された後にそれらの端の値間の差の符号が判定さ
れる。端の値の判定は、フィールドが閾値処理を受ける
際にそれぞれのサブマスクが認識され続ける判別閾値の
限界レベルの判定とみなされる。差の判別の判定は、前
記の区間の共通部分の有無の確認と考えされる。
フィールド中のパターンを認識するには共通部分がで
きるという条件のほかに、区間の共通部分が所定の長さ
を越えねばならない。
きるという条件のほかに、区間の共通部分が所定の長さ
を越えねばならない。
共通部分が大きいほど、閾値処理時ロジックハイの値
へマッピングされる要素の値の集合での相対的最低値
と、閾値処理時ロジックローの値へマッピングされる要
素の値の集合での相対的最高値との差は大きくなる。こ
のことは特に検出されるためには当該フィールド中のパ
ターンの存在がより明白でなければならないことを意味
する。
へマッピングされる要素の値の集合での相対的最低値
と、閾値処理時ロジックローの値へマッピングされる要
素の値の集合での相対的最高値との差は大きくなる。こ
のことは特に検出されるためには当該フィールド中のパ
ターンの存在がより明白でなければならないことを意味
する。
上記において、認識には、例として第１のサブマスク
の該当窓内の全ての値の最低値と第２のサブマスクの該
当窓内の全ての値の最高値との差が非負でなければなら
ないという条件が課せられる。
の該当窓内の全ての値の最低値と第２のサブマスクの該
当窓内の全ての値の最高値との差が非負でなければなら
ないという条件が課せられる。
別の認識条件を以下に説明する。強度の値は、それぞ
れのサブマスクの該当窓内で大きさに応じソーティング
されるものと仮定する。この例では相対的最低値とし
て、第１のサブマスクの窓に関する順序において第１の
差の数を除いて最低位置を占める値が取られる。相対的
最高値としては、第２のサブマスクの窓に関する順序に
おいて第２の差の数を除いて最高位置を占める値が用い
られる。差は、相対的最低値から相対的最高値を引いた
値に等しいから、相対的な差の数が大きいほど大きくな
る。例えば第１図乃至第８図において、例えば第１の差
の数が２で第２の差の数が１である場合、上記のことは
相対的最低値は７に等しい（まま）であり、相対的最高
値は４に等しくなることを意味する。第９図を参照して
説明された例では、共通部分は相対的最低値と相対的最
高値との差であるから１単位増加する。第１図のフィー
ルドが、共通部分内の判別閾値で閾値処理されると、第
５図の窓内の値は全てロジックハイの単位へマッピング
される。第６図の窓内の値３及び４はロジックローの単
位へマッピングされる。しかし値５は、判別閾値は５よ
り小さい場合があるからロジックハイの単位へマッピン
グされる。これはフィールドの閾値処理時に第２のサブ
マスクに最高１単位の偏移が生じても認識がなされると
いうことである。つまりそれぞれの差の数によって当該
順序における相対的最低値及び相対的最高値の判定は、
該当サブマスクからの偏移が該当する差の数の単位を越
えない２値フィールドの認識を許容することに対応す
る。
れのサブマスクの該当窓内で大きさに応じソーティング
されるものと仮定する。この例では相対的最低値とし
て、第１のサブマスクの窓に関する順序において第１の
差の数を除いて最低位置を占める値が取られる。相対的
最高値としては、第２のサブマスクの窓に関する順序に
おいて第２の差の数を除いて最高位置を占める値が用い
られる。差は、相対的最低値から相対的最高値を引いた
値に等しいから、相対的な差の数が大きいほど大きくな
る。例えば第１図乃至第８図において、例えば第１の差
の数が２で第２の差の数が１である場合、上記のことは
相対的最低値は７に等しい（まま）であり、相対的最高
値は４に等しくなることを意味する。第９図を参照して
説明された例では、共通部分は相対的最低値と相対的最
高値との差であるから１単位増加する。第１図のフィー
ルドが、共通部分内の判別閾値で閾値処理されると、第
５図の窓内の値は全てロジックハイの単位へマッピング
される。第６図の窓内の値３及び４はロジックローの単
位へマッピングされる。しかし値５は、判別閾値は５よ
り小さい場合があるからロジックハイの単位へマッピン
グされる。これはフィールドの閾値処理時に第２のサブ
マスクに最高１単位の偏移が生じても認識がなされると
いうことである。つまりそれぞれの差の数によって当該
順序における相対的最低値及び相対的最高値の判定は、
該当サブマスクからの偏移が該当する差の数の単位を越
えない２値フィールドの認識を許容することに対応す
る。
第10図は本発明による装置の一部の実施例を示す。第
10図は、各々が最高でＭ×Ｋ多値要素の同一窓に作用す
るランク値フィルタ100及び102を示す。ランク値フィル
タの出力値は、窓内の要素の値へ大きさ順の順序での所
定位置（ランク）を占める要素の値である。かかるラン
ク値フィルタとしては、例えばLSIロジックコーポレー
ションによるL64220があるが、特に所定種類の雑音を除
去するのに用いられる。この例では多値要素の２次元フ
ィールドは、各々がＮ要素の長さを有する行からなるも
のとする。ランク値フィルタに要素の値をロードするた
め、入力106を介して順次の行の要素の値データを順次
供給されるレジスタ104が設けられる。レジスタ104は、
各々がＮ要素の遅延を有し、直列結合されたＭ−１本の
遅延線から公知の方法で構成される。明瞭にするため２
本の遅延線108及び110のみが示されている。ランク値フ
ィルタ100の入力112とランク値フィルタ102の入力114と
は、２つ毎に相互接続される。同一のランク値フィルタ
の隣り合う入力対は、Ｎ要素シフトされた同一のデータ
列を供給される。
10図は、各々が最高でＭ×Ｋ多値要素の同一窓に作用す
るランク値フィルタ100及び102を示す。ランク値フィル
タの出力値は、窓内の要素の値へ大きさ順の順序での所
定位置（ランク）を占める要素の値である。かかるラン
ク値フィルタとしては、例えばLSIロジックコーポレー
ションによるL64220があるが、特に所定種類の雑音を除
去するのに用いられる。この例では多値要素の２次元フ
ィールドは、各々がＮ要素の長さを有する行からなるも
のとする。ランク値フィルタに要素の値をロードするた
め、入力106を介して順次の行の要素の値データを順次
供給されるレジスタ104が設けられる。レジスタ104は、
各々がＮ要素の遅延を有し、直列結合されたＭ−１本の
遅延線から公知の方法で構成される。明瞭にするため２
本の遅延線108及び110のみが示されている。ランク値フ
ィルタ100の入力112とランク値フィルタ102の入力114と
は、２つ毎に相互接続される。同一のランク値フィルタ
の隣り合う入力対は、Ｎ要素シフトされた同一のデータ
列を供給される。
ランク値フィルタ100の選択入力116を介して、大きさ
に応じソートされるべき値を有する要素が現在の窓内で
選択される。それらは、現在のインテロゲーション段階
中に第１のサブマスク内の該当単位の位置に対応する位
置を有する要素である（第３図および第５図参照）。同
様にランク値フィルタ102の選択入力118を介して、現在
の判別段階中第２のサブマスク内の該当単位の位置に対
応する位置を有する要素が選択される（第４図及び第６
図）。つまり選択入力116及び118におけるデータは第１
と第２とのサブマスクを表わす。
に応じソートされるべき値を有する要素が現在の窓内で
選択される。それらは、現在のインテロゲーション段階
中に第１のサブマスク内の該当単位の位置に対応する位
置を有する要素である（第３図および第５図参照）。同
様にランク値フィルタ102の選択入力118を介して、現在
の判別段階中第２のサブマスク内の該当単位の位置に対
応する位置を有する要素が選択される（第４図及び第６
図）。つまり選択入力116及び118におけるデータは第１
と第２とのサブマスクを表わす。
ランク値フィルタ100のランク設定120を介して、何ら
かの第１の差の数N1を除いて当該順序中での最高値とさ
れる値が出力値として選択される。ランク値フィルタ10
2のランク設定122を介して、何らかの第２の差の数N2を
除いて当該順序中での最低値である値が出力値として選
択される。
かの第１の差の数N1を除いて当該順序中での最高値とさ
れる値が出力値として選択される。ランク値フィルタ10
2のランク設定122を介して、何らかの第２の差の数N2を
除いて当該順序中での最低値である値が出力値として選
択される。
このようにして選択された値は、選択された値間の差
を判定する比較器124へ供給される。次いでこの差はこ
の差を入力128での基準値と比較する比較器126へ供給さ
れる。前記差が基準値を越えるならパターンは窓内で認
識されており、小さいなら認識されていない。
を判定する比較器124へ供給される。次いでこの差はこ
の差を入力128での基準値と比較する比較器126へ供給さ
れる。前記差が基準値を越えるならパターンは窓内で認
識されており、小さいなら認識されていない。
【図面の簡単な説明】 第１図は離散要素からなる場合の多値強度を有する検査
されるべきフィールドの例を示す図、第２図は２値単位
で表わされた所望パターンを有する基準マスクの例を示
す図、第３図及び第４図は合わせて第２図のパターンを
表わすサブマスクをそれぞれ示す図、第５図及び第６図
は第３図及び第４図のそれぞれのサブマスクと比較され
る要素の部分集合をそれぞれ示す図、第７図及び第８図
は第５図及び第６図の該当要素の大きさについてのソー
ティングを説明する図、第９図は以上の図の例について
相当的最低値と相対的最高値との間のコヒーレンスを説
明する図、第10図は本発明による装置の実施例を示す図
である。 100,102……ランク値フィルタ、104……レジスタ、106,
112,114,128……入力、108,110……遅延線、116,118…
…選択入力、120,122……ランク設定、124,126……比較
器。
されるべきフィールドの例を示す図、第２図は２値単位
で表わされた所望パターンを有する基準マスクの例を示
す図、第３図及び第４図は合わせて第２図のパターンを
表わすサブマスクをそれぞれ示す図、第５図及び第６図
は第３図及び第４図のそれぞれのサブマスクと比較され
る要素の部分集合をそれぞれ示す図、第７図及び第８図
は第５図及び第６図の該当要素の大きさについてのソー
ティングを説明する図、第９図は以上の図の例について
相当的最低値と相対的最高値との間のコヒーレンスを説
明する図、第10図は本発明による装置の実施例を示す図
である。 100,102……ランク値フィルタ、104……レジスタ、106,
112,114,128……入力、108,110……遅延線、116,118…
…選択入力、120,122……ランク設定、124,126……比較
器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G06T 7/60
Claims (14)
- 【請求項１】ロジックハイ単位とロジックロー単位とか
らなる基準マスクとの協働による多値強度を有するフィ
ールドにおけるパターン認識方法であって、 基準マスクが該当するロジックハイ単位を有する第１の
サブマスクと、該当するロジックロー単位を有する第２
のサブマスクとに分けられ、サブマスクをフィールド内
に位置決めする段階と、位置決めされた第１と第２のサ
ブマスクの該当する窓内のそれぞれのフィールドの領域
内での強度の相対的最低値及び相対的最高値をそれぞれ
判定する段階と、相対的最低値と相対的最高値との差が
負でない場合パターンを認識する段階とからなることを
特徴とするパターン認識方法。 - 【請求項２】パターンの認識は非負の差が所定値を越え
る際に起こることを特徴とする請求項１記載のパターン
認識方法。 - 【請求項３】相対的最高値と相対的最低値とが、該当サ
ブマスクの該当窓内のフィールドでの位置を表わす強度
の値を大きさに従ってソーティングし、そのようにして
できた該当する順序においてそれぞれ所定の差の数を除
いて端の位置を占める値を判定することで決められるこ
とを特徴とする請求項１又は２記載のパターン認識方
法。 - 【請求項４】大きさによる値のソーティングを行なうた
め、順序中の所定位置での値を出力する少なくとも１つ
のランク値フィルタが設けられることを特徴とする請求
項３記載のパターン認識方法を実施する装置。 - 【請求項５】入力側が互いに結合される第１のランク値
フィルタと第２のランク値フィルタからなることを特徴
とする請求項４記載の装置。 - 【請求項６】ランク値フィルタが、少なくとも２つの値
を供給され、前記少なくとも２つの値を比較し、前記少
なくとも２つの値の最高値又は最低値を出力する比較器
と、比較器の出力から比較器の一入力への結合とからな
ることを特徴とする請求項４又は５記載の装置。 - 【請求項７】順序中の所定位置が調整可能であることを
特徴とする請求項４又は５記載の装置。 - 【請求項８】大きさによる値のソーティングに関連する
部分を選択する選択手段が設けられることを特徴する請
求項４乃至７のいずれか一項記載の装置。 - 【請求項９】選択手段は調整可能であることを特徴とす
る請求項８記載の装置。 - 【請求項１０】ランク値フィルタはプログラムされた手
段からなることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか
一項記載の装置。 - 【請求項１１】選択手段はプログラムされた手段からな
ることを特徴とする請求項８又は９記載の装置。 - 【請求項１２】多値強度の信号サンプルからなるフィー
ルド内の所定パターンを、該所定パターンに関係し該フ
ィールドに対し位置決め可能な基準マスクとの協働によ
り検出する方法であって、該マスクは該フィールド上に
第１の窓を定める第１のサブマスクと該フィールド上に
第２の窓を定める第２のサブマスクに分けられ、該方法
は該第１と第２の窓内それぞれで該フィールドからフィ
ールドサンプルの第１と第２の部分集合を選択するよう
該第１と第２のサブマスクを該フィールドに対し位置決
めし、該第１の部分集合における該第１の強度の相対的
強度ランクに基づいて該第１の部分集合内の信号強度か
ら第１の強度を選択し、該第２の部分集合における該第
２の強度の相対的強度ランクに基づいて該第２の部分集
合内の信号強度から第２の強度を選択し、差信号を形成
するよう該第２の信号は強度から該第１の信号強度を減
算し、該差信号が所定値以上であることに応じて該パタ
ーンを検出したことを信号として出す検出方法。 - 【請求項１３】該選択する段階の少なくとも一方は、部
分集合の信号強度から所定のランク順序位置を有する強
度を選択することからなる請求項12記載の方法。 - 【請求項１４】該第１の強度は、第１の部分集合の信号
強度において最高強度に対し第１の所定ランク順序位置
を有し、第２の強度は、第２の部分集合の信号強度にお
いて最低強度に対し第２の所定ランク順序位置を有する
請求項12記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8802078A NL8802078A (nl) | 1988-08-23 | 1988-08-23 | Werkwijze voor het herkennen van een patroon in een veld met een meerwaardige amplitude, inrichting voor het uitvoeren van een dergelijke werkwijze. |
| NL8802078 | 1988-08-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02100775A JPH02100775A (ja) | 1990-04-12 |
| JP2801276B2 true JP2801276B2 (ja) | 1998-09-21 |
Family
ID=19852789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1214759A Expired - Fee Related JP2801276B2 (ja) | 1988-08-23 | 1989-08-21 | 多値強度を有するフィールドにおけるパターン認識方法及びかかる方法を実施する装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
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| JP (1) | JP2801276B2 (ja) |
| KR (1) | KR970001921B1 (ja) |
| DE (1) | DE68910625T2 (ja) |
| FI (1) | FI893895A (ja) |
| IE (1) | IE63103B1 (ja) |
| NL (1) | NL8802078A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5319723A (en) * | 1989-08-07 | 1994-06-07 | U.S. Philips Corporation | Method of processing pattern data on the basis of ranked amplitude values, and apparatus for performing the method |
| DE69028398T2 (de) * | 1990-06-29 | 1997-03-20 | Philips Electronics Nv | Verfahren zur Musterdatenverarbeitung auf der Grundlage geordneter Amplitudenwerte, Gerät zum Durchführen des Verfahrens |
| JP2937729B2 (ja) * | 1993-12-21 | 1999-08-23 | 株式会社バーズ情報科学研究所 | パターン認識方法及び装置及び辞書作成方法 |
| JP4767595B2 (ja) * | 2005-06-15 | 2011-09-07 | パナソニック株式会社 | 対象物検出装置及びその学習装置 |
| US10024279B2 (en) | 2015-04-08 | 2018-07-17 | Hyundai Motor Company | Apparatus for improving cooling efficiency of engine room in vehicle |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57157378A (en) * | 1981-03-25 | 1982-09-28 | Hitachi Ltd | Setting method of binary-coded threshold level |
-
1988
- 1988-08-23 NL NL8802078A patent/NL8802078A/nl not_active Application Discontinuation
-
1989
- 1989-08-18 FI FI893895A patent/FI893895A/fi not_active Application Discontinuation
- 1989-08-21 JP JP1214759A patent/JP2801276B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1989-08-21 IE IE267589A patent/IE63103B1/en not_active IP Right Cessation
- 1989-08-22 KR KR1019890011925A patent/KR970001921B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1989-08-22 EP EP89202124A patent/EP0359301B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-08-22 DE DE68910625T patent/DE68910625T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE68910625T2 (de) | 1994-05-19 |
| IE63103B1 (en) | 1995-03-22 |
| EP0359301A1 (en) | 1990-03-21 |
| KR970001921B1 (ko) | 1997-02-19 |
| FI893895A (fi) | 1990-02-24 |
| KR900003767A (ko) | 1990-03-27 |
| JPH02100775A (ja) | 1990-04-12 |
| IE892675L (en) | 1990-02-23 |
| EP0359301B1 (en) | 1993-11-10 |
| NL8802078A (nl) | 1990-03-16 |
| DE68910625D1 (de) | 1993-12-16 |
| FI893895A0 (fi) | 1989-08-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |