JP2763233B2 - Semiconductor device and mounting method thereof - Google Patents

Semiconductor device and mounting method thereof

Info

Publication number
JP2763233B2
JP2763233B2 JP4164831A JP16483192A JP2763233B2 JP 2763233 B2 JP2763233 B2 JP 2763233B2 JP 4164831 A JP4164831 A JP 4164831A JP 16483192 A JP16483192 A JP 16483192A JP 2763233 B2 JP2763233 B2 JP 2763233B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
case
frame
relay terminal
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP4164831A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH065745A (en
Inventor
秀明 中馬
博 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4164831A priority Critical patent/JP2763233B2/en
Publication of JPH065745A publication Critical patent/JPH065745A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2763233B2 publication Critical patent/JP2763233B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/14Structural association of two or more printed circuits
    • H05K1/144Stacked arrangements of planar printed circuit boards

Landscapes

  • Combinations Of Printed Boards (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、下側配線基板と上側
配線基板とを備える多層構造の半導体装置およびその実
装方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device having a multilayer structure having a lower wiring board and an upper wiring board, and a method of mounting the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、図7に模式的に示すような、一つ
のケース100内に下側配線基板110と上側配線基板
120とを備える二層構造の半導体装置が実用化されて
いるが、この装置には上側配線基板120と下側配線基
板110とを電気的に接続する中継端子132が必要で
ある。
2. Description of the Related Art In recent years, a semiconductor device having a two-layer structure including a lower wiring substrate 110 and an upper wiring substrate 120 in one case 100, as schematically shown in FIG. This device requires a relay terminal 132 for electrically connecting the upper wiring board 120 and the lower wiring board 110.

【0003】この中継端子132は杆部131を上下方
向に貫通して杆部131に固定されており、その下端は
下側配線基板110にハンダ付けされる。また、杆部1
31の上部は上側配線基板120に設けた透孔122に
挿通されてハンダ付けされることによって、上側配線基
板120とを電気的に接続される。
The relay terminal 132 penetrates the rod 131 vertically and is fixed to the rod 131, and the lower end thereof is soldered to the lower wiring board 110. Also, the rod 1
The upper part of 31 is electrically connected to upper wiring substrate 120 by being inserted into through hole 122 provided in upper wiring substrate 120 and soldered.

【0004】なお、図7において111,121は半導
体チップである。
In FIG. 7, reference numerals 111 and 121 denote semiconductor chips.

【0005】このような中継端子132をケース100
内の所定の場所に配するために、フレーム130はネジ
1によりケース100の内側の突起部分112に固
定されていた。
The relay terminal 132 is connected to the case 100
To arrange in place of the inner frame 130 was fixed to the inside of the protruding portion 112 of the case 100 by a screw 1 4 1.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構造の半導体装置においては、ケース100に歪が
かかるとその歪がフレーム10を介して中継端子13
に伝わり、中継端子13が所定の位置からずれ、中
継端子13と下側配線基板110および上側配線基板
120との接合が損なわれるということがあった。
[SUMMARY OF THE INVENTION However, in the semiconductor device having such a structure, the relay terminal 13 when the strain on the case 100 is applied the distortion through the frame 1 3 0
Transmitted to 2, the relay terminal 13 2 is displaced from a predetermined position, the junction between the relay terminal 13 2 and the lower wiring board 110 and the upper wiring board 120 was sometimes called impaired.

【0007】また、半導体動作時に中継端子13が加
熱されて膨張すると上側方向または下側方向の応力がフ
レーム130に加わることがあり、その結果、中継端子
13自体にも不要な応力が加わることがあった。
Moreover, sometimes the upper direction or lower direction of the stress when the relay terminal 13 2 is expanded is heated during the semiconductor operation is applied to the frame 130, as a result, unnecessary stress is applied to the relay terminal 13 2 itself There was something.

【0008】この発明は上記問題点を解決するためにな
されたもので、半導体装置全体に歪がかかったときに中
継端子に応力がかからないような半導体装置、およびそ
のような装置を得るための実装方法を提供することを目
的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and a semiconductor device in which no stress is applied to a relay terminal when the entire semiconductor device is strained, and a mounting for obtaining such a device. The aim is to provide a method.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的は、下側配線基
板と上側配線基板とをケース内に収容した多層構造の半
導体装置において、ケースの内側およびフレームのう
ち、一方に上下方向の穴が、他方に突起が形成されると
ともに、前記突起を前記穴に遊嵌することによって、前
記フレームの位置決めがなされなる半導体装置によって
達成される。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a semiconductor device having a multilayer structure in which a lower wiring board and an upper wiring board are accommodated in a case. This is achieved by a semiconductor device in which a projection is formed on the other side, and the frame is positioned by loosely fitting the projection into the hole.

【0010】また、この発明は、その実装方法として、
(a) 有底のケースを準備する工程と、(b) 第1の半導体
チップを搭載した下側配線基板を前記ケースの底部に固
定する工程と、(b) 略水平に伸びる杆部と、前記杆部を
上下に貫いて立設された中継端子とを有するフレームを
前記上側配線基板の上方に配設するとともに、前記中継
端子の下端側部分を前記下側配線基板に電気的に接続す
る工程と、(c) 第2の半導体チップを搭載した上側配線
基板を、前記ケースの内部において前記フレームの上に
載置する工程と、(d) 前記中継端子の上端側部分を前記
上側配線基板に電気的に接続する工程とを備え、前記工
程(b) が、(b-1) 前記ケースの内側および前記フレーム
のうちの一方に設けた上下方向の穴に、他方に設けた突
起を遊嵌することによって、前記フレームの位置決めを
する工程を備える方法を提供する。
Further, the present invention provides a
(a) a step of preparing a case with a bottom, (b) a step of fixing the lower wiring board on which the first semiconductor chip is mounted to the bottom of the case, (b) a rod extending substantially horizontally, A frame having a relay terminal standing upright through the rod portion is disposed above the upper wiring board, and a lower end portion of the relay terminal is electrically connected to the lower wiring board. (C) placing the upper wiring board on which the second semiconductor chip is mounted on the frame inside the case; and (d) placing the upper end portion of the relay terminal on the upper wiring board. (B-1) loosely fitting a protrusion provided on the other side in a vertical hole provided on the inside of the case or on one of the frames. Providing a method comprising positioning the frame by fitting. That.

【0011】[0011]

【作用】この発明によれば、フレームがケースに遊嵌さ
れるので、実装作業が容易である。また、半導体装置に
歪が生じても、中継端子が位置ずれを起こさない。さら
に、中継端子の膨張などによりフレームが上下に動かさ
れても、フレームの遊嵌故に、フレームおよび中継端子
に不必要な応力がかからない。
According to the present invention, since the frame is loosely fitted into the case, the mounting operation is easy. In addition, even if distortion occurs in the semiconductor device, the relay terminal does not shift. Further, even if the frame is moved up and down due to expansion of the relay terminal, unnecessary stress is not applied to the frame and the relay terminal due to the loose fit of the frame.

【0012】[0012]

【実施例】以下、図1〜6により、本発明の一実施例を
説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0013】この発明の実施例にかかる半導体装置にお
いて、各部材の組立が完了し、樹脂封止などの後処理を
待つ状態となった組立体の平面図と断面図とが図5に示
されている。この半導体装置は、パワー半導体素子と制
御素子とを二段構成で実装したインテリジェントパワー
モジュールとして構成される。
FIG. 5 is a plan view and a cross-sectional view of the assembly in a state where the assembly of each member is completed and a post-processing such as resin sealing is awaited in the semiconductor device according to the embodiment of the present invention. ing. This semiconductor device is configured as an intelligent power module in which a power semiconductor element and a control element are mounted in a two-stage configuration.

【0014】<各部材の構成>この組立体MDは、有底
のケース1を備えており、その底部は金属放熱板2とな
っている。また、側壁部3は樹脂製である。
<Structure of Each Member> This assembly MD includes a case 1 having a bottom, and the bottom is a metal radiator plate 2. The side wall 3 is made of resin.

【0015】ケース1の底部2の上には下側配線基板1
0が固定されている。また、この下側配線基板10の上
方には、上側配線基板20が配置されている。上側配線
基板20の主面上には、制御用半導体チップ21などの
電子素子が実装され、配線層22(その一部のみを示
す)を介して電気的な回路が形成されている。また、上
側配線基板20の端部には、後述する中継端子を挿通す
るための複数の小透孔23の配列が形成されている。さ
らに、上側配線基板20自身をケース1内で位置決めす
るために使用される透孔24が形成されている。
On the bottom 2 of the case 1, a lower wiring board 1
0 is fixed. An upper wiring board 20 is disposed above the lower wiring board 10. Electronic elements such as a control semiconductor chip 21 are mounted on the main surface of the upper wiring board 20, and an electric circuit is formed via a wiring layer 22 (only a part of which is shown). At the end of the upper wiring board 20, an array of a plurality of small through holes 23 for inserting a relay terminal to be described later is formed. Further, a through hole 24 used for positioning the upper wiring board 20 itself in the case 1 is formed.

【0016】下側配線基板10の平面図は、後述する図
4の一部分として示されている。すなわち、この下側配
線基板10の主面上には、電力用半導体チップ11など
の電子素子が実装され、配線層12(その一部のみを示
す)やリード13を介して電気的な回路が形成されてい
る。
A plan view of the lower wiring board 10 is shown as a part of FIG. 4 described later. That is, an electronic element such as a power semiconductor chip 11 is mounted on a main surface of the lower wiring board 10, and an electric circuit is formed via a wiring layer 12 (only a part of which is shown) and leads 13. Is formed.

【0017】これらの配線基板10,20を相互に電気
的に接続するとともに、上側配線基板20を下側配線基
板10の上方に配置するために、図5のフレーム30が
使用される。
The frame 30 shown in FIG. 5 is used to electrically connect the wiring boards 10 and 20 to each other and to arrange the upper wiring board 20 above the lower wiring board 10.

【0018】このフレーム30の平面図およびそのA−
A断面図が図1に、またその正面図とそのB−B断面図
が図2に示されている。フレーム30は樹脂性の杆部3
1と、この杆部31を貫いてこの杆部31に固定された
複数の中継端子32を有する。中継端子32はその下部
に、熱応力緩和のためのSベンド35を有している。
A plan view of the frame 30 and its frame A-
A sectional view is shown in FIG. 1, and a front view and a BB sectional view thereof are shown in FIG. The frame 30 is made of a resin rod 3.
1 and a plurality of relay terminals 32 penetrating the rod 31 and fixed to the rod 31. The relay terminal 32 has an S bend 35 at a lower portion thereof for relaxing thermal stress.

【0019】杆部31には、複数のリング体34が一体
的に設けられている。各リング体34の中には上下方向
の透孔33が形成されている。図1中の断面図に示すよ
うに、各透孔34の上部はテーパ面を持つ円錐台状にな
っており、下部はストレートの円形孔である。
A plurality of ring members 34 are provided integrally with the rod portion 31. A vertical through hole 33 is formed in each ring body 34. As shown in the cross-sectional view of FIG . 1, the upper portion of each through-hole 34 has a shape of a truncated cone having a tapered surface, and the lower portion is a straight circular hole.

【0020】図3は、ケース1の平面図、およびA−A
断面図,B−B断面図である。このケース1の側壁部3
から略水平に伸びた複数の腕5を有している。これらの
腕5の上には上方に伸びた円柱状の突起4が設けられて
いる。この突起4の直径はフレーム30の透孔33の下
部直径D(図1)よりも約0.2mmだけ小さい。
FIG. 3 is a plan view of the case 1 and FIG.
It is sectional drawing and BB sectional drawing. Side wall 3 of this case 1
The arm 5 has a plurality of arms 5 extending substantially horizontally. A cylindrical projection 4 extending upward is provided on these arms 5. The diameter of the projection 4 is not smaller by about 0.2mm than the lower diameter D (FIG. 1) of the through-hole 33 of the frame 30.

【0021】また、ケース1の側壁部3からは別の腕6
が伸びており、その上には小突起7が形成されている。
Another arm 6 is provided from the side wall 3 of the case 1.
Are extended, and small projections 7 are formed thereon.

【0022】<実装方法と実装状態の構造>次に、この
ような各部材を組立てて半導体装置の実装を行なう過程
と、それによって得られる構造とを説明する。
<Mounting Method and Structure in Mounted State> Next, the process of assembling such members and mounting the semiconductor device, and the structure obtained thereby will be described.

【0023】まず、図3のケース1の底部2に、半導体
装置チップ11などの実装を終えた後の下側配線基板1
0を固定する。
First, on the bottom 2 of the case 1 shown in FIG.
0 is fixed.

【0024】次に、フレーム30の透孔33にケース1
の突起4が挿通されるようにしつつ、一対のフレーム3
0をケース1内の端部付近に略平行に配置する。このと
き、突起4の直径が透孔33の下部直径Dよりも小さ
く、その差がクリアランスとして機能するため、突起4
は透孔33の中で遊嵌状態となる。中継端子32の下側
部分は下側配線基板10にハンダ付けされる。このよう
にして得られた状態が図4に示されている。
Next, the case 1 is inserted into the through hole 33 of the frame 30.
Of the pair of frames 3 while allowing the projections 4 of the pair to be inserted.
0 is disposed substantially parallel to the end of the case 1. This and
The diameter of the projection 4 is larger than the diameter D of the lower part of the through hole 33.small
And the difference functions as a clearance.
Is loosely fitted in the through hole 33. Below the relay terminal 32
The part is soldered to lower wiring board 10. like this
FIG. 4 shows the state obtained as described above.

【0025】次に、半導体装置チップ21などの実装を
終えた上側配線基板20を下側配線基板10の上方に配
置してケース1内に収容する(図5)。このとき、中継
端子32の上部は上側配線基板20の小透孔23に挿通
される。また、透孔24には小突起7(図3)が挿入さ
れる。
Next, the upper wiring board 20 on which the semiconductor device chips 21 and the like have been mounted is arranged above the lower wiring board 10 and housed in the case 1 (FIG. 5). At this time, the upper part of the relay terminal 32 is inserted into the small through hole 23 of the upper wiring board 20. The small projection 7 (FIG. 3) is inserted into the through hole 24.

【0026】図4と図5とを比較するとわかるように、
上側配線基板20の両辺(これらの図中の平面図では左
右の側の辺)は、フレーム30の杆部31の上にある。
このため、中継端子32の上部が小透孔23に挿通され
終ったとき、上側配線基板20の両辺の下面はフレーム
30の杆部31に当接し、この杆部31によって支持さ
れる。また、透孔24には小突起7が挿入されることに
よっても、上側配線基板20の支持がなされている。
As can be seen by comparing FIGS. 4 and 5,
Both sides (left and right sides in the plan views in these figures) of the upper wiring board 20 are on the rod portions 31 of the frame 30.
Therefore, when the upper portion of the relay terminal 32 is inserted through the small through hole 23, the lower surfaces of both sides of the upper wiring board 20 abut on the rod portion 31 of the frame 30 and are supported by the rod portion 31. The upper wiring board 20 is also supported by the small projections 7 being inserted into the through holes 24.

【0027】その後、中継端子32の上端部が部が上側
配線基板20にハンダ付けされ、図5の組立体MDを得
る。
Thereafter, the upper end of the relay terminal 32 is soldered to the upper wiring board 20 to obtain the assembly MD shown in FIG.

【0028】その後、樹脂封止などの工程を経て、図6
に示すような蓋部9を有する半導体装置(インテリジェ
ントパワーモジュール)SDが得られる。
Thereafter , through steps such as resin sealing, FIG.
The semiconductor device (intelligent power module) SD having the lid 9 as shown in FIG.

【0029】<実施例における作用効果> 以上の実装構造および実装方法においては、フレーム3
0をケース1中に配設するにあたって、突起4と透孔3
3との遊嵌を利用している。このため、ネジ締めのよう
な方法で問題となる作業の手間はかからない。
<Effects of Embodiment> In the above mounting structure and mounting method, the frame 3
0 is disposed in the case 1, the protrusion 4 and the through hole 3
3 is used. Therefore, troublesome work such as screw tightening is not required.

【0030】また、フレーム30がケース1に固定され
ておらず、遊嵌状態となっているため、半導体装置SD
において中継端子32が熱膨張し、それによってフレー
ム30が上方に餅上げられる場合にも、フレーム30が
上方にスライドすることによってその伸びが吸収され
る。その結果、フレーム30周辺に無理な力はかからな
いことになる。
Since the frame 30 is not fixed to the case 1 and is in a loosely fitted state, the semiconductor device SD
In the case where the relay terminal 32 thermally expands, the frame 30 slides upward even when the frame 30 is lifted upward, thereby absorbing the elongation. As a result, no excessive force is applied around the frame 30.

【0031】さらに、機械的応力や熱応力が中継端子3
2に作用しても、その応力に対応する歪が上記の上下移
動の自由度や上記クリアランスによって緩和され、中継
端子32の変形や配線基板10,20からの剥離が有効
に防止される。
Further, mechanical stress and thermal stress are not
2, the deformation corresponding to the stress is alleviated by the above-described degree of freedom of vertical movement and the clearance, and the deformation of the relay terminal 32 and the separation from the wiring boards 10 and 20 are effectively prevented.

【0032】<変形例> (1) 透孔33と突起4とのクリアランスは、好ましくは
0. 1〜0. 3mmであり、上記実施例の0. 2mmが
最も好ましい。
<Modifications> (1) The clearance between the through hole 33 and the projection 4 is preferably 0.1 to 0.3 mm, most preferably 0.2 mm in the above embodiment.

【0033】(2) フレーム30に突起を設け、その突起
をケース1の内側に設けられた穴に遊嵌させてもよい。
遊嵌のための穴は透孔であることが好ましいが、突起の
長さに対して比較的深い有底の孔でもよい。さらに、側
壁の一部が欠けた穴でもよい。
(2) A projection may be provided on the frame 30, and the projection may be loosely fitted into a hole provided inside the case 1.
The hole for loose fitting is preferably a through hole, but may be a hole with a bottom that is relatively deep with respect to the length of the projection. Further, a hole in which a part of the side wall is missing may be used.

【0034】(3) この発明は、3段以上の配線基板を実
装する場合にも拡張可能である。また、この発明は、動
作時に熱の発生が多いパワーモジュール関係において特
に有効であるが、他の多段構成の半導体装置にも応用で
きる。
(3) The present invention can be extended to a case where three or more wiring boards are mounted. Further, the present invention is particularly effective for a power module in which heat is frequently generated during operation, but can be applied to other multi-stage semiconductor devices.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、ケースの歪により中継端子が位置ずれを起こさない
ので、中継端子の優れた位置精度が得られる。また、ケ
ースの内側とフレームとの遊嵌により中継端子の位置決
めを行うので精確な動作を要さず作業性が優れている。
また、中継端子の熱膨張時や、応力を受けた際にも、中
継端子に不必要な応力がかからない。
As described above, according to the present invention, since the relay terminals do not shift due to the distortion of the case, excellent positional accuracy of the relay terminals can be obtained. In addition, since the relay terminal is positioned by loose fitting between the inside of the case and the frame, precise operation is not required and workability is excellent.
Also, unnecessary stress is not applied to the relay terminal even when the relay terminal is subjected to thermal expansion or stress.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例で用いたフレームの平面および断面を示
す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a plane and a cross section of a frame used in an embodiment.

【図2】図1のフレームの正面および断面を示す図であ
る。
FIG. 2 is a diagram showing a front and a cross section of the frame of FIG. 1;

【図3】実施例で用いたケースの平面および断面を示す
図である。
FIG. 3 is a diagram showing a plane and a cross section of a case used in the example.

【図4】実施例の実装工程を示す図である。FIG. 4 is a view showing a mounting process of the embodiment.

【図5】実施例の実装工程を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a mounting process of the embodiment.

【図6】実施例の半導体装置の完成状態を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing a completed state of the semiconductor device of the example.

【図7】従来の半導体装置を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a conventional semiconductor device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ケース 2 ケースの底部 4 突起 10 下側配線基板 20 上側配線基板 11,21 半導体チップ 30 フレーム 31 杆部 32 中継端子 33 穴 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Case 2 Bottom part of case 4 Projection 10 Lower wiring board 20 Upper wiring board 11, 21 Semiconductor chip 30 Frame 31 Rod part 32 Relay terminal 33 Hole

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 半導体装置であって、 (a) 有底のケースと、 (b) 第1の半導体チップを搭載して前記ケースの底部に
固定された下側配線基板と、 (b) 第2の半導体チップを搭載し、前記ケースの内部に
おいて前記上側配線基板の上方に配設された上側配線基
板と、 (c) 前記ケースの内部に配設され、略水平に伸びる杆部
と、前記杆部を上下に貫いて立設された中継端子とを有
し、前記中継端子の下端側部分と上端側部分とが前記下
側配線基板と前記上側配線基板とにそれぞれ電気的に接
続されたフレームとを備え、 前記ケースの内側および前記フレームのうち、一方に上
下方向の穴が、他方に突起が形成されるとともに、 前記突起を前記穴に遊嵌することによって、前記フレー
ムの位置決めがなされていることを特徴とする半導体装
置。
1. A semiconductor device, comprising: (a) a bottomed case; (b) a lower wiring board mounted with a first semiconductor chip and fixed to a bottom of the case; (C) an upper wiring board disposed inside the case and disposed above the upper wiring board, and (c) a rod portion disposed inside the case and extending substantially horizontally; A relay terminal standing upright through the rod portion, and a lower end portion and an upper end portion of the relay terminal are electrically connected to the lower wiring board and the upper wiring board, respectively. A vertical hole is formed on one of the inside of the case and the frame, and a projection is formed on the other, and the frame is positioned by loosely fitting the projection into the hole. A semiconductor device characterized in that:
【請求項2】 半導体装置の実装方法であって、 (a) 有底のケースを準備する工程と、 (b) 第1の半導体チップを搭載した下側配線基板を前記
ケースの底部に固定する工程と、 (b) 略水平に伸びる杆部と、前記杆部を上下に貫いて立
設された中継端子とを有するフレームを前記上側配線基
板の上方に配設するとともに、前記中継端子の下端側部
分を前記下側配線基板に電気的に接続する工程と、 (c) 第2の半導体チップを搭載した上側配線基板を、前
記ケースの内部において前記フレームの上に載置する工
程と、 (d) 前記中継端子の上端側部分を前記上側配線基板に電
気的に接続する工程とを備え、 前記工程(b) が、 (b-1) 前記ケースの内側および前記フレームのうちの一
方に設けた上下方向の穴に、他方に設けた突起を遊嵌す
ることによって、前記フレームの位置決めをする工程、 を備えること特徴とする半導体装置の実装方法。
2. A method for mounting a semiconductor device, comprising: (a) preparing a case having a bottom; and (b) fixing a lower wiring board on which a first semiconductor chip is mounted to a bottom of the case. (B) disposing a frame having a rod portion extending substantially horizontally, and a relay terminal erected vertically through the rod portion, above the upper wiring board; and a lower end of the relay terminal. Electrically connecting a side portion to the lower wiring board; and (c) mounting an upper wiring board on which a second semiconductor chip is mounted on the frame inside the case; d) electrically connecting an upper end side portion of the relay terminal to the upper wiring board, wherein the step (b) is provided in (b-1) one of the inside of the case and the frame. The protrusion provided on the other side is loosely fitted into the vertical hole Mounting method of a semiconductor device according to claim further comprising a step, for positioning the frame.
JP4164831A 1992-06-23 1992-06-23 Semiconductor device and mounting method thereof Expired - Lifetime JP2763233B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4164831A JP2763233B2 (en) 1992-06-23 1992-06-23 Semiconductor device and mounting method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4164831A JP2763233B2 (en) 1992-06-23 1992-06-23 Semiconductor device and mounting method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH065745A JPH065745A (en) 1994-01-14
JP2763233B2 true JP2763233B2 (en) 1998-06-11

Family

ID=15800763

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4164831A Expired - Lifetime JP2763233B2 (en) 1992-06-23 1992-06-23 Semiconductor device and mounting method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2763233B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH065745A (en) 1994-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4607995B2 (en) Power semiconductor device
JP5268786B2 (en) Semiconductor module
JP2001298129A (en) Power semiconductor module
JP5004337B2 (en) External connection terminal of metal core board
US6997737B2 (en) Soldering structure between a tab of a bus bar and a printed substrate
JPH08195568A (en) Electronic device and method of assembling
JP2763233B2 (en) Semiconductor device and mounting method thereof
US20050029882A1 (en) Mounting structure for motor controller of heat-dissipating device
JPH0613177U (en) Wiring board with chip components
JP2003086970A (en) Drive circuit of electric motor and assembly method thereof
JP3185606B2 (en) Inverter device
JP4013577B2 (en) Connector-integrated electronic equipment
JPH0582685A (en) Method for manufacturing radiating part of hybrid integrated component, structure for terminal, and hybrid integrated component using the structure
JPH1126955A (en) Electronic equipment assembling structure
JP2003051562A (en) Semiconductor device
JPH06268086A (en) Semiconductor integrated circuit device and printed board mounted with same
JPH054273Y2 (en)
JP2010199431A (en) Electronic module
JPH077181U (en) Electronic component mounting structure
JP2002093979A (en) Composite semiconductor device
JPH0777254B2 (en) Semiconductor mounting board
JPH06342989A (en) Method for fixing power device
JPS635248Y2 (en)
JPH10209207A (en) Method for mounting chip
JPH0334356A (en) Mounting of molded semiconductor element

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080327

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090327

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100327

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100327

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110327

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110327

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120327

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130327

Year of fee payment: 15

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130327

Year of fee payment: 15