JP2756912B2 - マグネトロンプラズマ用磁場発生装置 - Google Patents
マグネトロンプラズマ用磁場発生装置Info
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発生させるマグネトロンプラズマ用磁場発生装置に関す
る。本発明に係るマグネトロンプラズマ用磁場発生装置
は、電気電子分野で行われているマグネトロンスパッタ
リング及びマグネトロンエッチングに用いて好適であ
る。
プラズマ(マグネトロンプラズマ)を利用してスパッタ
リング及びエッチングを行う、いわゆるマグネトロンス
パッタリング及びマグネトロンエッチングは、従来より
広く行われている。
装置の一例(平面型2極放電スパッタリング装置)を示
す。
装置の縦断面図であり、断面以外の図示は図面を簡略に
するために省略してある。また、図3(b)は図3
(a)のマグネトロンスパッタリング装置の一部分を便
宜上分離して描いた斜視図であり、マグネトロンスパッ
タリング装置における電子の運動を説明するための図で
ある。
14とターゲット16が設けられ、極板12の裏面にマ
グネトロンプラズマ用磁場発生装置18が設置される。
マグネトロンプラズマ用磁場発生装置18は、例えば、
ドーナツ状の永久磁石22の孔の中に円板状の永久磁石
24を配置し、これら永久磁石22及び24の下面をヨ
ーク26で接続した構造になっている(図3(b)の分
離図参照)。
電圧あるいは負の直流電圧を印加する。図3(a)に、
極板12が陰極となった場合に発生する電場の向きを、
矢印20で示す。
18により、ターゲット16の面上に磁力線28a及び
28b(図3(a))あるいは磁力線30(図3
(b))で表わされる磁場が作られる。
3のマグネトロンスパッタリング装置をアルゴン等の気
体を封入した容器内に載置する。放電により気体はイオ
ン化され、このとき生じた電子32は、矢印20の向き
の電場と磁力線30で表される磁場(の電場に垂直な成
分)との作用により、ドリフト運動をしながら無限軌道
34を描く。その結果、電子32はターゲット16の面
上付近に束縛され、気体のイオン化を促進する。そこで
新たに生成された電子も無限軌道34を描き、気体を更
にイオン化する。したがってイオン化効率が非常に高
く、高密度プラズマを生成することができる。
式(同様にしてマグネトロンエッチング方式)には、通
常の高圧放電方式と比較して2〜3倍の効率が得られる
という利点がある。
場発生装置18の作る磁場においては、電場に垂直な磁
場成分(図3のターゲット16の面に水平な成分。以
下、水平磁場と表現する)が一様な分布を示さない。
図4(a)のグラフの横軸rは、ターゲット16の中心
を原点とし、原点からターゲット面上に沿いターゲット
周辺部に向かって測った距離であり、縦軸Bは、距離r
の位置における水平磁場強度を表わす。
ける水平磁場強度を表わした図である。理解を助けるた
め、ターゲット16の面上にあり、ターゲット16の中
心を通り互いに直交する2直線AB、CDを図中に示し
た。図中の各線S1、S2、…、Snは、水平磁場強度
の等強度位置を結んだ線である。
かるように、ターゲット16の面上の中心から周辺部に
向かうに従って水平磁場強度が強くなり、更に周辺部に
向かうに従って水平磁場強度が弱くなっている。即ち、
水平磁場強度は場所により大きく異なっている。
化が促進されて高密度なプラズマが生成される。したが
って、水平磁場強度の強い領域ほど大きなスパッタリン
グが生じ、ターゲットがより消耗する。即ち、場所によ
りターゲットの消耗度が異なり、ターゲットの利用効率
が低くなる。ターゲットは通常高価な材料を用いるの
で、利用効率の低下は経済的に大きな問題である。
発生装置18を用いたマグネトロンエッチング装置にお
いても、上述の場合同様、プラズマ密度が一定になら
ず、よってウエーハの一部を集中的にエッチングする
等、品質上の問題が生じる。更に、不均一なプラズマ密
度のためにウエーハ面内に電位分布が生じ(チャージア
ップ)、よってウエーハが破壊されるという問題も起こ
る。
セグメント磁石をリング状に配置した磁石(以下、ダイ
ポールリング磁石と呼ぶ)を磁場発生装置として使用す
る試みが為された。
場発生装置の一例をマグネトロンスパッタリング装置に
用いた場合について示す。図5(a)に上記磁場発生装
置を用いたマグネトロンスパッタリング装置の平面図
(一部省略してある)を、図5(b)には図5(a)を
切断線ABに沿って切断した断面図(断面以外の図示は
図面を簡略にするために省略してある)を示す。
数の異方性セグメント柱状磁石40(1)〜40(1
6)を非磁性の架台42に収めた構造である。各柱状磁
石40(1)〜40(16)の中に描かれた矢印は、そ
れぞれの柱状磁石の磁化の向きを表している。図5のよ
うに磁化の向きを配置することにより、ダイポールリン
グ磁石内の中央部に矢印43で示す向きの磁場が生成さ
れる。
場合、ダイポールリング磁石の内部には、極板36、3
7及びターゲット38、基板39が図5(b)のように
設けられる。両極板36及び37間に電圧を印加し、例
えば記号44の向き(図5(a))、または矢印45の
向き(図5(b))の電場を発生させる。この電場と、
上述の矢印43の向きの磁場の作用で、図3同様にプラ
ズマを生成・束縛することができる。
向(図5(b)の縦方向)の中央断面付近と、プラズマ
生成空間46(スパッタリングを行う空間。図3におけ
るターゲット16の面上に相当する空間)とが一致する
よう、ターゲット38の位置を調節する(図5(b)参
照)。
は原理的に水平磁場(矢印43の向きの磁場)のみが存
在し、且つ、ダイポールリング磁石の中央部における磁
場均一性の方がダイポールリング磁石の端部における磁
場均一性よりも良いからである。即ち、ダイポールリン
グ磁石の中央部には、均一密度のプラズマが生成され、
均一なスパッタリングが行われるからである。
ンプラズマエッチング装置に使用する場合には、上述の
場合と同様にしてウエーハの位置を調節し、ウエーハ上
のプラズマ空間がダイポールリング磁石の中央部に位置
するようにする。
発生装置(図5)による水平磁場強度の均一性は、従来
の磁場発生装置(平面型2極放電スパッタリング装置
(図3))による水平磁場強度の均一性(図4)に比
べ、格段に良くなる。
0(1)〜40(16)には、その製造上、磁気特性の
ばらつきは避けられず、通常、約5%の磁気特性ばらつ
きが生じる。即ち、上記プラズマ生成空間46内に、設
計値通りの磁場均一性を得ることは不可能である。
て具体的に説明する。図6及び図7は、磁場発生装置
(図5)に設置された複数の異方性セグメント柱状磁石
40(1)〜40(16)の内の柱状磁石40(5)の
磁気特性のみが約5%低い場合における水平磁場強度を
表わしたものである。
央断面(直線GHを含み、ダイポールリング磁石の長さ
方向に垂直な面)の直線GH上における水平磁場強度を
表わしたグラフである。グラフの横軸rxは、プラズマ
生成空間46の中心点48を原点とし、原点から直線G
Hに沿い直線GHの方向に測った距離(図中右向きを正
とした)であり、縦軸Bは、距離rxの位置における水
平磁場(矢印43(図5)の向きの磁場)の強度を表わ
す。また、Lはプラズマ生成空間46の半径の大きさで
ある。
央断面の、直線GHに垂直で中央断面上にある直線IJ
(図5には図示せず)上における水平磁場強度を表わし
たグラフである。グラフの横軸ryは、プラズマ生成空
間46の中心点48を原点とし、原点から直線IJに沿
い直線IJの方向に測った距離(図5中、紙面に垂直に
こちら側から向こう側へ向かう向きを正とした)であ
り、縦軸Bは、距離ryの位置における水平磁場(矢印
43(図5)の向きの磁場)の強度を表わす。
上における水平磁場強度を表わした図である。理解を助
けるため、直線GH及び直線IJを図中に示した。図中
の各線T1、T2、…は、水平磁場強度の等強度位置を
結んだ線である。
ッタリング装置(図3))による水平磁場強度の均一性
(図4)に比べると、ダイポールリング磁石より成る磁
場発生装置(図5)による水平磁場強度の均一性(図6
(a)及び(b))は格段に良くなっている。
特性が約5%低いと、図6(b)よりわかるように、直
線IJ方向における水平磁場強度の均一性(図6
(b))が、直線GH方向における均一性(図6
(a))よりも悪くなっている。また、図7には、上記
柱状磁石40(5)の影響が、より明らかに示されてい
る。これは、柱状磁石40(5)の磁気特性が約5%低
いために柱状磁石40(5)付近の水平磁場強度が弱ま
り、よって磁場均一性が悪化するためでる。
上、避けることのできない個々の柱状磁石の磁気特性の
ばらつきにより、磁場発生装置の発生する水平磁場強度
の均一性に若干の乱れが生じる。
ばらついても、所望の水平磁場均一性を得られる、ダイ
ポールリング磁石より成る磁場発生装置が望まれてい
る。
発生装置に設けられた個々の柱状磁石の磁気特性がばら
ついても、所望の水平磁場均一性を得ることができる、
ダイポールリング磁石より成るマグネトロンプラズマ用
磁場発生装置を提供することである。
柱状磁石をリング状に配置したダイポールリング磁石よ
り成るマグネトロンプラズマ用磁場発生装置において、
上記複数の異方性セグメント柱状磁石の各々に、上記複
数の異方性セグメント柱状磁石の軸を中心とした回転を
行える回転機構を設ける。更に、上記複数の異方性セグ
メント柱状磁石の断面形状を正方形または円形とする。
る磁場発生装置(図5)を改良した、本発明に係るマグ
ネトロンプラズマ用磁場発生装置の一例を示す。図1
(a)は本発明に係るマグネトロンプラズマ用磁場発生
装置の横断面図であり、図1(b)は図1(a)の切断
線KLに沿った断面図である(断面以外の図示は図面を
簡略にするために省略してある)。
ロンスパッタリング及びマグネトロンエッチングに用い
る際には、図5の従来例と同様に、磁場発生装置内に極
板等を設ける。簡略化のため、図1には極板等の図示を
省略する。
発生装置に用いるダイポールリング磁石(図1)は、複
数の異方性セグメント柱状磁石50を非磁性の架台52
に収めた構造である。各柱状磁石の中に描かれた矢印
は、それぞれの柱状磁石の磁化の向きを表している。図
1のように磁化の向きを配置することにより、ダイポー
ルリング磁石内の中央部に矢印53で示す向きの磁場が
生成される。
から32個の間で選ばれる。図1には16個の柱状磁石
を設けた場合を示す。また、柱状磁石の断面形状(図1
(a)に現われている形状)は、正方形または円形とす
る。図1には製造費用が安価になる正方形断面の場合を
例示した。
々に、各柱状磁石の軸を中心として回転を行えるような
回転機構54を設けた点にある。
状磁石を磁場発生装置の架台52に収めた後でも、プラ
ズマ生成空間56に発生する水平磁場を微調整すること
ができる。即ち、複数の柱状磁石の内のいくつかの柱状
磁石の磁気特性が低く、磁場均一性が乱れた場合、上記
回転機構54を用いて全柱状磁石を回転させることでプ
ラズマ生成空間56内の水平磁場強度を微調整し、均一
性を改善することができる。
1)において、回転機構54を用いて磁場均一性を微調
整した後の、プラズマ生成空間56における水平磁場強
度の分布を示す。本発明に係る磁場発生装置において
も、従来の磁場発生装置(図5)の場合と同様、ターゲ
ットあるいはウエーハ(図示せず)の位置を調節して、
プラズマ生成空間56をダイポールリング磁石の長さ方
向の中央断面付近と一致させる。図2(a)及び(b)
は、従来のダイポールリング磁石より成る磁場発生装置
(図5)に対する図6(a)及び図7に対応している。
本発明に係る磁場発生装置(図1)の水平磁場強度の分
布は均一である。特に、図2(b)(U1、U2、…は
水平磁場強度の等強度位置を結んだ線を表わす)より、
従来のダイポールリング磁石より成る磁場発生装置(図
5)の水平磁場強度の分布に比べて、格段に均一になっ
たことがわかる。
ロンプラズマ用磁場発生装置(図1)においては、回転
機構を用いて各柱状磁石を回転させることにより、プラ
ズマ生成空間の磁場均一度を大幅に上げることができ
た。
マ用磁場発生装置(図1)が生成する磁場は、従来のマ
グネトロンプラズマ用磁場発生装置(図3)が生成する
ドーナツ状の磁場とは異なり、一方向のみの水平磁場で
ある。よって、電子はドリフト運動を行って一方向に進
み、無限軌道を描かない。しかし、ダイポールリング磁
石をその周に沿って回転させたり、印加電源に高周波電
源を用いたりすることにより、電子のドリフト運動の向
きを変えて無限軌道を描かせることができる。
場発生装置においては、回転機構を用いて各柱状磁石を
回転させることにより、従来のマグネトロンプラズマ用
磁場発生装置と比べ均一性の格段に良好な水平磁場を発
生させることができた。したがって、本発明に係るマグ
ネトロンプラズマ用磁場発生装置をスパッタリングに使
用した場合は、ターゲットの利用効率を大幅に向上させ
ることができ、また、エッチングに使用した場合には、
高品質のエッチングを行うことができる。
ング磁石を使用したマグネトロンプラズマ用磁場発生装
置を説明するための図。
装置(図1)に発生する水平磁場強度の分布を表す図。
用いたマグネトロンスパッタリング装置(平面型2極放
電スパッタリング装置)を説明するための図。
(図3)に発生する水平磁場強度の分布を表す図。
ネトロンプラズマ用磁場発生装置を説明するための図。
ネトロンプラズマ用磁場発生装置(図5)に発生する水
平磁場強度の分布を表す図。
場強度を表わした図。
Claims (2)
- 【請求項1】 複数の異方性セグメント柱状磁石をリン
グ状に配置したダイポールリング磁石より成るマグネト
ロンプラズマ用磁場発生装置において、 上記複数の異方性セグメント柱状磁石の各々に、上記複
数の異方性セグメント柱状磁石の軸を中心とした回転を
行える回転機構を設けた、 ことを特徴とするマグネトロンプラズマ用磁場発生装
置。 - 【請求項2】 上記複数の異方性セグメント柱状磁石の
断面形状を正方形または円形としたことを特徴とする請
求項1記載のマグネトロンプラズマ用磁場発生装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5351140A JP2756912B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | マグネトロンプラズマ用磁場発生装置 |
EP94120680A EP0661728B1 (en) | 1993-12-28 | 1994-12-27 | Dipole ring magnet for use in magnetron sputtering or magnetron etching |
KR1019940039284A KR100321536B1 (ko) | 1993-12-28 | 1994-12-27 | 자전관스퍼터링또는자전관에칭용쌍극자고리자석 |
DE69403768T DE69403768T2 (de) | 1993-12-28 | 1994-12-27 | Dipolringmagnet für Magnetronzerstäubung oder Magnetronätzung |
US08/365,528 US5519373A (en) | 1993-12-28 | 1994-12-28 | Dipole ring magnet for use in magnetron sputtering or magnetron etching |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5351140A JP2756912B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | マグネトロンプラズマ用磁場発生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07197253A JPH07197253A (ja) | 1995-08-01 |
JP2756912B2 true JP2756912B2 (ja) | 1998-05-25 |
Family
ID=18415322
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5351140A Expired - Lifetime JP2756912B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | マグネトロンプラズマ用磁場発生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2756912B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004304173A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-10-28 | Neomax Co Ltd | 磁場発生装置及びそれを用いた磁場配向装置 |
JP4648876B2 (ja) * | 2006-06-28 | 2011-03-09 | 信越化学工業株式会社 | 径方向磁場発生用磁気回路 |
DE102009018912A1 (de) * | 2009-04-28 | 2010-11-18 | Leybold Optics Gmbh | Verfahren zur Erzeugung eines Plasmastrahls sowie Plasmaquelle |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP5351140A patent/JP2756912B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07197253A (ja) | 1995-08-01 |
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