JP2753119B2 - Semiconductor device assembly process management system - Google Patents

Semiconductor device assembly process management system

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JP2753119B2
JP2753119B2 JP17594790A JP17594790A JP2753119B2 JP 2753119 B2 JP2753119 B2 JP 2753119B2 JP 17594790 A JP17594790 A JP 17594790A JP 17594790 A JP17594790 A JP 17594790A JP 2753119 B2 JP2753119 B2 JP 2753119B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は半導体装置の組立工程管理シテムに関するも
ので、特に設備の効率稼動を目的とした管理システムに
使用されるものである。
Description: Object of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to a semiconductor device assembly process management system, and more particularly to a management system used for efficient operation of equipment. is there.

(従来の技術) 従来の半導体装置の組立工程を第6図により説明す
る。図中1はホストコンピュータ、2はブロックコンピ
ュータ、3はラインコンピュータ、4は組立ライン、5
はマウンタ(マウント装置)、6はボンダ(ボンディン
グ装置)、7はモールド装置、8は自動搬送装置、9は
組立装置、10は他工程への信号の流れを示す。
(Prior Art) A conventional semiconductor device assembling process will be described with reference to FIG. In the figure, 1 is a host computer, 2 is a block computer, 3 is a line computer, 4 is an assembly line, 5
Denotes a mounter (mounting device), 6 denotes a bonder (bonding device), 7 denotes a molding device, 8 denotes an automatic transfer device, 9 denotes an assembling device, and 10 denotes a signal flow to another process.

(イ) 即ち従来の半導体組立工程のマウント、ボンデ
ィング、モールドの各装置の生産能力は、例えばマウン
タ5では製品のチップサイズと1ウエハに形成されるチ
ップ数の歩留りによる変動及び生産するロット数によ
り、ボンダ6ではボンデイングするワイヤ数により、又
モールド装置7では外囲器の形状及びサイズにより変化
する。特に、ボンダ6、モールド装置7では製品の品種
の相異による生産能力の変化が著しいため、同一外囲器
とボンディングワイヤ数の品種で製品をグループ化し、
各グループについて1台のマウンタ5の生産能力に合わ
せた複数のボンダ6及びモールド装置7のグループ(ラ
イン)4を構成し、各装置グループ間を搬送装置8によ
り製品搬送している。又、前記装置グループはラインコ
ンピュータ3により一括管理され、複数の前記ラインコ
ンピュータ3を管理し、各組立ラインの生産管理を行な
うブロックコンピュータ2と、該ブロックコンピュータ
2が接続する生産管利用のホストコンピュータ1とで構
成されるコンピュータシステムにより管理される。該コ
ンピュータシステムにより、該当日の生産計画がホスト
コンピュータ1により作成され、ブロックコンピュータ
2に送られ、該ブロックコンピュータ2では、生産計画
に基づく製品のグループ化及び装置グループ4の各装置
での段取り作業時間をも考慮した各装置の稼動率を最大
とする様な製品の投入順序の決定を行なうと共に各ライ
ンコンピュータ3に指示し、各ラインコンピュータにお
いては、前記装置グループ内の各装置の段取り換え作業
時間が最小でかつ生産効率が最大となる各装置グループ
間あるいは、前記グループ内の各装置への製品の搬送順
序の決定を行ない生産を行なっていた。
(A) That is, the production capacity of each of the mounting, bonding, and molding devices in the conventional semiconductor assembly process depends on, for example, the chip size of the product and the yield of the number of chips formed on one wafer in the mounter 5 and the number of lots to be produced. In the case of the bonder 6, it varies depending on the number of wires to be bonded, and in the case of the molding apparatus 7, the value varies depending on the shape and size of the envelope. Particularly, in the bonder 6 and the molding apparatus 7, since the production capacity is significantly changed due to the difference in the product type, the products are grouped by the type having the same envelope and the number of bonding wires.
For each group, a group (line) 4 of a plurality of bonders 6 and a molding device 7 corresponding to the production capacity of one mounter 5 is formed, and a product is transported between the device groups by a transport device 8. The device group is collectively managed by a line computer 3, a plurality of line computers 3 are managed, and a block computer 2 which performs production management of each assembly line, and a host computer using a production pipe to which the block computer 2 is connected. 1 is managed by a computer system composed of The computer system prepares a production plan for the relevant day by the host computer 1 and sends it to the block computer 2. The block computer 2 groups products based on the production plan and performs setup work at each device of the device group 4. The order of supplying the products is determined so as to maximize the operation rate of each device in consideration of time, and instructions are given to each line computer 3. In each line computer, the setup change work of each device in the device group is performed. The production is performed by determining the order of transporting the products between the respective device groups or the devices within the group where the time is the shortest and the production efficiency is the maximum.

(ロ) 一方、従来の個々の半導体組立工程で出来上が
ったものの品質管理は人間系による判断の場合が多い。
マウント(ダイ・ボンディング)工程、ワイヤ・ボンデ
ィング工程、樹脂モールド工程等における生産品を、ラ
ンダムサンプリングもしくは、マシン別による系統サン
プリングによって抽出した試料について検査を行なう。
この検査を基にオペレータは、経験,資料,基準から
良,不良を決定する。不良となった試料については、生
産した装置を停止させ、不良品の作り込みを防ぐと共
に、再調整を行ない生産を再開する。この例を第13図に
示す。この図において装置Aはマウント装置と考えても
よいし、ボンディング装置またはモールド装置またはこ
れらの装置の組み合わせと考えてもよい。
(B) On the other hand, quality control of products completed in conventional individual semiconductor assembly processes is often judged by humans.
Inspection is performed on samples extracted from products produced in the mounting (die bonding) process, wire bonding process, resin molding process, etc. by random sampling or system sampling by machine.
Based on this inspection, the operator determines good or bad from experience, data, and standards. For a defective sample, the production apparatus is stopped to prevent the production of a defective product, and readjustment is performed to resume production. This example is shown in FIG. In this figure, the device A may be considered as a mounting device, a bonding device or a molding device, or a combination of these devices.

(ハ) また、人間による個体差を無くすこと、人間に
よる判断のまちがいを無くす等の目的によりコンピュー
タによるシステムを用いる場合もある。この例を第14図
に示す。
(C) In some cases, a computer-based system is used for the purpose of eliminating individual differences among humans and eliminating mistakes made by humans. This example is shown in FIG.

(発明が解決しようとする課題) 前記従来の(イ)項のシステムでは、各装置グループ
4は能力計算の基準になった品種については最大の生産
効率となるが、他の品種ではその効率が落ちとしまうと
いう問題があった。例えば品種aという製品グループで
能力計算されて装置グループ4を構成したラインでは、
品種aの生産では最大の生産効率を示す。(第7図、第
8図)すなわち、マウンタ5でマウントした製品が途中
滞留することなく全てのボンダ6に均等に分配され、モ
ールド装置から払い出される。従って生産が連続して行
なわれている場合には、生産に参加してしない装置がな
い。しかしこのラインで、製品グループが品種aとは異
なる品種bを生産すると、ボンディングワイヤ数が品種
aよりも少なく、ボンダの生産能力が高くなる時は、第
9図,第10図の様にライン内のボンダに余剰能力が生じ
生産に参加しないボンダ6aが出てくる。第10図で11は余
剰ボンダ能力を示す。又、逆に品種bのボンディングワ
イヤ数が品種aより多く、ボンダの生産能力が低くなる
時は、第11図,第12図の様にライン内のボンダが能力不
足(6b)となり、マウンタ及びモールド装置が停止した
り製品の滞留を引き起こす。第12図で12は余剰マウンタ
能力、13は余剰モールドを示す。同様にマウンタ、モー
ルド装置についても生産する製品に関する条件が変わる
と、他の工程の装置グループとの生産の能力バランスが
くずれ、前記ボンダの例と同様に、製品の滞留や生産能
力の余剰を生じることになる。しかし、前記第6図の従
来のシステムでは、装置のライン化を基本としているた
め、生産する品種に応じて各装置グループの構成を変え
る事ができないため、生産能力のバランスを保てず、ラ
イン全体としては、マウント、ボンディング、モールド
の各装置グループの中に、稼動していない装置が同時に
複数存在する事になる。特に多品種小量生産では、品種
や数量の変動が激しく、前記例に示した問題が多発する
という欠点があった。
(Problems to be Solved by the Invention) In the system of the above-mentioned conventional item (a), each device group 4 has the maximum production efficiency for the type that has become the reference for the capacity calculation, but the efficiency is reduced for other types. There was a problem of falling off. For example, in a line in which a device group 4 is formed by calculating the performance of a product group of product type a,
In the production of the type a, the maximum production efficiency is exhibited. (FIGS. 7 and 8) That is, the product mounted by the mounter 5 is evenly distributed to all the bonders 6 without stagnation, and is discharged from the molding apparatus. Therefore, when production is being performed continuously, there is no device that does not participate in production. However, when the product group produces a type b different from the type a in this line, the number of bonding wires is smaller than the type a, and when the production capacity of the bonder is increased, the line is changed as shown in FIGS. 9 and 10. A bonder 6a that has surplus capacity inside and does not participate in production comes out. In FIG. 10, reference numeral 11 denotes the surplus bonder capacity. Conversely, when the number of bonding wires of the type b is larger than that of the type a and the production capacity of the bonder is low, the bonder in the line becomes insufficient in capacity (6b) as shown in FIGS. This causes the molding machine to stop or the product to stay. In FIG. 12, reference numeral 12 denotes a surplus mounter capacity, and 13 denotes a surplus mold. Similarly, if the conditions for the products to be produced also change for the mounter and the molding device, the production capacity balance with the device group in other processes will be disrupted, and as in the case of the bonder, product retention and production capacity surplus will occur. Will be. However, in the conventional system shown in FIG. 6, since the line of the devices is basically used, it is not possible to change the configuration of each device group according to the type of product to be produced. As a whole, in each of the mount, bonding, and mold device groups, a plurality of inactive devices exist at the same time. In particular, in multi-product small-quantity production, there is a drawback that the types and quantities vary greatly, and the problems shown in the above examples occur frequently.

前記(ロ)項の人間系だけによる製品個々の品質管理
では、最も重要である品質判断及び判断による処理判断
が特定の人間によって行なわれるので、人間による個体
差から来る判断のバラツキ、特にオペレータの熟練度に
よる判断,行動の早さにバラツキが生じる。このため、
まちがえた結論を引き出す可能性が高いこと、品質その
ものに個人差によるバラツキが含まれてしまうこと、装
置の調整作業時間が非常にバラツクこと、調整作業の確
実性がバラツクこと、すべての作業に個人差バラツキが
含まれ、管理しにくい等の問題を生じる。
In the quality control of individual products based only on the human system in the above item (b), since the most important quality judgment and the processing judgment based on the judgment are performed by a specific person, there is a variation in judgments caused by individual differences among humans, especially the operator. Judgment by skill level and speed of action vary. For this reason,
It is highly likely to draw wrong conclusions, the quality itself includes variations due to individual differences, the adjustment work time of the equipment is very uneven, the reliability of the adjustment work is uneven, the personal work for all work Problems such as difficulties in management and the like are included due to differences.

また、前記(ハ)項のコンピュータによるシステム支
援の場合には上記した判断系に関する問題を解決してい
るにすぎず、装置調整時間,確実性のバラツキが残って
いること、一部のコンピュータ化による人間とのコミュ
ニケーションが難しくなり管理が複雑化しやすい。さら
に、コンピュータを用いることにより、判断基準が厳し
くなり、品質レベルが高くなる反面、装置の個体差を考
慮することが難しく、オペレータ作業が困難なものにな
ること、コンピュータを利用したネットワークシステム
を構築する必要があること、また、その結果現存工程へ
の普及が難しいこと、ネットワーク化には、非常にコス
トがかかるため、品質管理のみに限定したシステム構築
化は難しい等という問題を生じる。
Further, in the case of the computer-assisted system support in the above item (c), the above-mentioned problem relating to the judgment system is only solved, and there are still variations in device adjustment time and certainty. Communication with humans becomes difficult, and management is likely to be complicated. Furthermore, the use of a computer makes the criterion stricter and the quality level higher. On the other hand, it is difficult to take into account individual differences of the equipment and the operator work becomes difficult, and a network system using a computer is constructed. In addition, there is a problem that it is difficult to spread the method to existing processes, and that networking is very costly, so that it is difficult to construct a system limited only to quality control.

本発明は前記従来の(イ)項の課題を解決するために
なされたもので、半導体組立工程内での、生産品質や数
量の変動の影響を最小限に抑え、最大の生産数量を得る
事を目的としてなされたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problem (a), and minimizes the influence of production quality and quantity fluctuations in a semiconductor assembly process to obtain the maximum production quantity. It was made for the purpose of.

[発明の構成] (課題を解決するための手段と作用) 本発明は、半導体のマウント、ボンディング、モール
ドの各工程の装置と、前記工程間の製品バッファと、前
記各工程への製品の投入,排出及び搬送等の製品の流れ
制御手段と、前記各工程の装置の生産管理をするコンピ
ュータとを有した半導体装置の組立工程管理システムに
おいて、生産品種に対する前記各工程の装置の生産能力
と製品バッファの容量及び生産計画とを合わせ計算し、
前記各工程内の各装置の稼動率が最大となる様に、また
製品の工程内滞留時間が最小となる様に少くとも生産品
種または前記各工程毎の装置の台数をリアルタイムに決
定し、製品の投入及び搬送の指示,前記各工程の各装置
への段取り換えの指示を行なう制御手段を具備したこと
を特徴とする半導体装置の組立工程管理システムであ
る。
[Constitution of the Invention] (Means and Actions for Solving the Problems) The present invention provides an apparatus for each of semiconductor mounting, bonding, and molding processes, a product buffer between the processes, and a product input to each of the processes. In a semiconductor device assembling process management system having a flow control means for products such as discharge, transfer, and the like, and a computer for controlling the production of the devices in the respective processes, the production capacity of the devices in the respective processes with respect to the product type and the product Calculate with buffer capacity and production plan,
Determine at least the production type or the number of devices for each process so that the operation rate of each device in each process is maximized and the in-process residence time of the product is minimized, and the product is determined in real time. And a control means for giving instructions for loading and transporting the semiconductor device, and for giving instructions for setting up each device in each process.

即ち本発明は、前記制御手段により、生産計画の指示
に基づき、製品品種毎にマウント群、ボンディング群、
モールド群のそれぞれの最適構成台数を計算し、マウン
トからボンディング、モールド工程迄のラインを構成す
ることにより、半導体組立工程内での、各工程間の能力
バランス不均衡による装置の稼動停止や製品の滞留を常
に最小限に抑える様に管理する半導体組立工程管理シス
テムである。なお上記製品バッファとは、製品をためて
おくところで、例えばマウント装置でマウント製品が沢
山できすぎたら、それを一時ためておき、適宜ボンディ
ング装置へ送る役目をする。本発明では、上述した如く
この製品バッファでの製品滞留を極力少なくし、生産効
率を極力上げることも目的の一つである。
That is, according to the present invention, the control unit controls the mount group, the bonding group,
Calculate the optimal number of components for each mold group, and configure the line from mounting to bonding and molding process. This is a semiconductor assembly process management system that manages so that stagnation is always minimized. Note that the product buffer serves to temporarily store the products when the products are stored, for example, when the mount device has produced too many products, and to send the products to the bonding device as appropriate. One of the objects of the present invention is to minimize product stagnation in the product buffer as described above and to increase production efficiency as much as possible.

(実施例) 以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第
1図は同実施例の半導体装置の組立工程管理システムの
ブロック図であるが、これは第6図のものと対応させた
場合の例であるから、個所には同一符号を付して説明を
省略し、特徴とする点の説明を行なう。第1図におい
て、14はマウンタ群管理コンピュータ、15はボンダ群管
理コンピュータ、16はモールド群管理コンピュータ、17
は自動搬送管理コンピュータ、18はマウンタ群、19はボ
ンダ群、20はモールド群、21は自動搬送装置群、26はボ
ンディング工程内製品バッファ、27はモールド工程内製
品バッファである。
(Embodiment) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of the semiconductor device assembling process control system of the embodiment, which is an example in the case of corresponding to that of FIG. Are omitted, and the characteristic points will be described. In FIG. 1, 14 is a mounter group management computer, 15 is a bonder group management computer, 16 is a mold group management computer, 17
Is an automatic transport management computer, 18 is a mounter group, 19 is a bonder group, 20 is a mold group, 21 is an automatic transport device group, 26 is a product buffer in the bonding process, and 27 is a product buffer in the mold process.

このシステムは、ホストコンピュータ1と組立工程ブ
ロックコンピュータ2と、複数のマウンタ5からなるマ
ウンタ群18と、マウンタ群を管理するコンピュータ14
と、複数のボンダ6と製品バッファ部26とからなるボン
ダ群19と、ボンダ群を管理するコンピュータ15と、複数
のモールド装置7と製品バッファ部27からなるモールド
装置群20と、モールド装置群を管理するコンピュータ16
と、前記工程間の製品の搬送を行なう自動搬送装置18か
らなる自動搬送装置群21と、自動搬送装置群を管理する
コンピュータ17とにより構成される。ホストコンピュー
タ1により組立工程への一定期間の生産計画が作成さ
れ、ブロックコンピュータ2に指示される。ブロックコ
ンピュータ2は、生産計画に含まれる製品品種、ロット
サイズと各装置の品種切換え作業に要する時間と各装置
の状態等を考慮して、マウンタ5、ボンダ6及びモール
ド装置7の各装置の能力差が工程間の製品バッファ部の
容量以内となり、組立工程内で生産に参加しない装置が
最少となる様に、マウンタ5とボンダ6とモールド装置
7の構成と製品の投入順序とを決定し、各群管理コンピ
ュータに指示する。ここでマウンタ5の能力は1ウエハ
内の平均良品チップ数により、ボンダ6の能力は1チッ
プのボンディングに要するボンディングワイヤ数によ
り、モールド装置7の能力は外囲器のサイズにより決ま
る。各群管理コンピュータはスケジュールに従って各装
置に製品を投入し、搬送する。この様にして、一定時間
毎あるいは品種が変わる毎に各グループの構成と製品投
入順序を柔軟に変えながら生産していく。
This system comprises a host computer 1, an assembly process block computer 2, a mounter group 18 including a plurality of mounters 5, and a computer 14 for managing the mounter group.
A bonder group 19 including a plurality of bonders 6 and a product buffer unit 26, a computer 15 for managing the bonder group, a molding device group 20 including a plurality of molding devices 7 and a product buffer unit 27, and a molding device group. Computers to manage 16
And an automatic transfer device group 21 including an automatic transfer device 18 for transferring products between the above-described steps, and a computer 17 for managing the automatic transfer device group. The host computer 1 creates a production plan for a certain period of time for the assembly process, and instructs the block computer 2 to do so. The block computer 2 takes into consideration the product type and lot size included in the production plan, the time required for the type switching work of each device, the state of each device, and the like, and the capabilities of the mounter 5, the bonder 6, and the molding device 7 Determine the configurations of the mounter 5, the bonder 6, and the molding device 7 and the order of supplying the products so that the difference is within the capacity of the product buffer unit between the processes and the number of devices that do not participate in production in the assembly process is minimized. Instruct each group management computer. Here, the capability of the mounter 5 is determined by the average number of non-defective chips in one wafer, the capability of the bonder 6 is determined by the number of bonding wires required for bonding one chip, and the capability of the molding device 7 is determined by the size of the envelope. Each group management computer inputs and conveys a product to each device according to a schedule. In this way, the production is performed while flexibly changing the configuration of each group and the order of introducing the products every fixed time or every time the type is changed.

第2図は、第1図の構成において生産計画に従って構
成された組立工程ラインを示し、第3図はこのラインの
各工程の生産能力の比較図で、22は品種cでの生産数、
23は品種dでの生産数、24は品種aに合わせて構成され
たライン、25は品種dに合わせて構成されたラインであ
る。また1つのライン24において「5c」,「6c」,「7
c」の「5」,「6」,「7」はそれぞれマウンタ,ボ
ンダ,モールド装置を示し、添字の「c」は品種を示
し、例えば前記品種aと考えればよく、また他の1つの
ライン25において「5d」,「6d」,「7d」も同様で、そ
の添字「d」は他の品種を示し、例えば前記品種bと考
えればよい。ここでライン24から25への切り換えはリア
ルタイム(ラインを止めないよう)に決定される。第2
図のようにすれば、第3図を見れば分かるようにマウン
タ,ボンダ,モールド装置とも平均化されて最大稼動率
が得られていることが分かる。
FIG. 2 shows an assembly process line constructed according to the production plan in the configuration of FIG. 1, and FIG. 3 is a comparison diagram of the production capacity of each process of this line.
Reference numeral 23 denotes the number of products produced for the type d, 24 denotes a line configured for the type a, and 25 denotes a line configured for the type d. In one line 24, “5c”, “6c”, “7
"5", "6", and "7" of "c" indicate a mounter, a bonder, and a molding device, respectively, and the suffix "c" indicates a type. For example, the type a may be considered. The same applies to “5d”, “6d”, and “7d” in 25, and the suffix “d” indicates another type, for example, the type b. Here, the switching from the line 24 to the line 25 is determined in real time (so as not to stop the line). Second
As shown in FIG. 3, it can be seen from FIG. 3 that the mounter, the bonder, and the molding apparatus are all averaged to obtain the maximum operation rate.

上記実施例によれば、特定の品種を基準として装置を
固定のグループ化する必要はなく、生産する品種によっ
て仮の装置グループ24とか25等を構成し、生産品種の変
更に合わせて装置グループを再構成することが出来る。
前記従来技術例にある様に第7図,第8図の品種で最大
の稼動率になる様にグループ化された装置に、異なる品
種を流した時、第9図,第10図の場合はボンダの能力が
余り、第11図,第12図の場合はボンダの能力が不足す
る。この様なグループが複数有り、第9図〜第12図の状
態になる様な品種を混合して流すと、一方ではボンダが
不足し他方ではボンダが余るという現象が同時に発生す
ることが避けられない。しかるに本実施例によるシステ
ムでは、ボンダが余まる場合には余ったボンダをその装
置グループから切り離し、他のボンダの能力が不足して
いる装置グループに組み入れるという操作をブロックコ
ンピュータ2の指示により行ない、この指示に従って自
動搬送装置がグループ及び各装置を区別して製品を搬送
する。この様に装置グループの装置台数決定と生産品種
の投入順序、搬送指示迄をコンピュータによって行なう
為に、人間による複雑な作業は必要なく、きめこまかい
装置の配分を行なう事が可能である。さらに工程間に製
品バッファ26,27等を設ける事により、各装置の能力差
を吸収させることで、工程内の製品の滞留を最小限に抑
え、工期の短縮を図る事ができる。
According to the above-described embodiment, it is not necessary to form a fixed group of devices based on a specific product type, and a temporary device group 24 or 25 is formed according to a product type to be produced, and the device group is changed according to a change in the product type. Can be reconfigured.
As shown in the prior art example, when different types are flown into the devices grouped so that the maximum operation rate is achieved with the types shown in FIGS. 7 and 8, in the case of FIGS. In the case of FIGS. 11 and 12, the capacity of the bonder is insufficient. When there are a plurality of such groups and a mixture of varieties having the states shown in FIGS. 9 to 12 is mixed and flown, it is possible to avoid simultaneous occurrence of a phenomenon in which one side has insufficient bonders and the other side has excess bonders. Absent. However, in the system according to the present embodiment, when there is excess bonder, the surplus bonder is separated from the device group, and an operation of incorporating the bonder into a device group having insufficient capacity of another bonder is performed according to an instruction of the block computer 2. According to this instruction, the automatic transport device transports the product while distinguishing the group and each device. In this way, since the computer determines the number of devices in the device group, the order of input of the product type, and the transfer instruction, complicated operations by humans are not required, and finely-divided devices can be distributed. Further, by providing the product buffers 26, 27, etc. between the processes, the difference in performance of each device is absorbed, so that the stagnation of the products in the processes can be minimized, and the construction period can be shortened.

次に、従来の個々の半導体組立工程(マウント工程ま
たはボンディング工程または樹脂モールド工程)で出来
上がったものの品質管理を、人間系及び装置系の個体差
によるバラツキを無くすこと、現存工程への導入が容易
であること、オペレータ作業時間の短縮化を行なうこ
と、品質を高レベル基準で安定させること、品質管理コ
ストを安くおさえることを目的とした品質管理機能付半
導体組立装置につき説明する。第4図は該装置40の構成
例である。図中41は半導体組立て機能部で、マウント装
置またはワイヤボンディング装置またはマウント装置ま
たはこれらの組み合わせに相当する個所である。42はマ
ウント装置,ボンディング装置,モールド装置用の分
析,評価用基準データ格納部、43は品質管理用装置制御
機能部、44は分析,評価,判断機能部、45はマウント装
置またはボンディング装置またはモールド装置用のオペ
レータの作業ガイドデータ(不良の場合)格納部、45は
作業ガイド出力機能部、47は検査結果入力機能部、48は
分析,評価結果出力機能部である。
Next, it is easy to introduce the quality control of the products completed in the conventional individual semiconductor assembly process (mounting process or bonding process or resin molding process) to eliminate the variation due to individual differences between human system and device system, and to introduce into existing processes. A semiconductor assembly device with a quality control function for the purpose of shortening the operation time of the operator, stabilizing the quality at a high level standard, and reducing the quality control cost will be described. FIG. 4 shows a configuration example of the device 40. In the figure, reference numeral 41 denotes a semiconductor assembly function unit, which corresponds to a mounting device, a wire bonding device, a mounting device, or a combination thereof. 42 is a reference data storage unit for analysis and evaluation for a mounting device, a bonding device and a molding device, 43 is a device control function unit for quality control, 44 is an analysis, evaluation and judgment function unit, and 45 is a mounting device or a bonding device or a mold. An operator's work guide data (in the case of failure) storage unit for the device, a work guide output function unit 45, an inspection result input function unit 47, and an analysis and evaluation result output function unit 48.

第5図は第4図の装置の具体例である。51はキーボー
ドで、機能部47に対応する。52はプリンタで、機能部46
と48のプリントを行なう。53はCRTディスプレイで、機
能部46と48の表示を行なう。54はCPUで、機能部41と43
と44の制御を行なう。55は装置動作部で、機能部41に対
応する。56はフロッピーディスクで、格納部42,45の格
納内容と装置(マウント,ボンディング,モールド)別
の個体差の補正値を記憶する。57は品質管理用RAMディ
スクで、フロッピーディスク56からの格納部42,45のデ
ータを記憶する。58は装置制御用RAMディスクで、機能
部41を動作させるためのデータを記憶する。ディスク56
は外部メモリ、ディスク57,58はコンピュータ内部メモ
リである。
FIG. 5 is a specific example of the apparatus shown in FIG. A keyboard 51 corresponds to the function unit 47. 52 is a printer, and a functional unit 46
And print 48. Reference numeral 53 denotes a CRT display for displaying the function units 46 and 48. 54 is a CPU, and functional units 41 and 43
And 44 are controlled. Reference numeral 55 denotes a device operation unit, which corresponds to the function unit 41. Reference numeral 56 denotes a floppy disk which stores the storage contents of the storage units 42 and 45 and the correction value of the individual difference for each device (mount, bonding, mold). Reference numeral 57 denotes a quality control RAM disk which stores data in the storage units 42 and 45 from the floppy disk 56. Reference numeral 58 denotes a device control RAM disk, which stores data for operating the function unit 41. Disc 56
Is an external memory, and the disks 57 and 58 are computer internal memories.

上記のような構成において、まず、フロッピーディス
ク56から生産予定の製品に関する格納部42の品質検査評
価用基準データと、格納部45の品質不良判定時のオペレ
ータ・ガイダンス用データと、機能部41つまり装置55自
身の個体差を補正するためのデータをRAMディスク57に
記憶させる。本装置にて生産された製品からサンプリン
グした試料を人間が定められた項目について検査し、結
果を装置キーボード51から入力する。この結果と、先に
入力された評価用基準データ等を用いて分析をCPU54が
行ない、製品の良,不良を判定する。この結果とディス
ク57のガイダンス用データから、CPU54はオペレータへ
のガイダンス項目を決める。検査結果及びガイダンス項
目は、プリンター52から文字出力され記録を残す。ま
た、不良判定が出された場合、表示装置53であるCRTに
もオペレータ・ガイダンスを出すと共に、不良品の作り
込みを防ぐため装置55の動作を自動的に停止される。オ
ペレータはガイダンスに従い装置55に適切な処理を行な
い、生産を再開させる。
In the configuration as described above, first, the quality inspection evaluation reference data of the storage unit 42 relating to the product to be produced from the floppy disk 56, the operator guidance data at the time of the quality defect determination of the storage unit 45, and the function unit 41 Data for correcting the individual difference of the device 55 itself is stored in the RAM disk 57. A sample sampled from a product produced by this apparatus is inspected by a human for items determined, and the result is input from the apparatus keyboard 51. The CPU 54 analyzes the result using the evaluation reference data and the like previously input, and determines whether the product is good or bad. From this result and the guidance data on the disk 57, the CPU 54 determines a guidance item for the operator. Inspection results and guidance items are output as characters from the printer 52 and recorded. When a defect is determined, the operator guidance is also given to the CRT as the display device 53, and the operation of the device 55 is automatically stopped in order to prevent the production of defective products. The operator performs appropriate processing on the device 55 according to the guidance, and resumes production.

第3図,第4図のものは、半導体製品の組み立て機能
部(41)に、品質検査結果の入力機能部(47)と、基準
データを用いた不良品判定機能部(42,44)と、品質の
分析判定及び分析結果出力機能部(44,48)と、不良防
止のためオペレータへの作業ガイドで調整指示を行なう
機能部(44,45,46)と、不良品作り込み防止のための自
動生産停止機能部(41,43)とを付加したことを特徴と
している。
FIGS. 3 and 4 show a semiconductor product assembly function unit (41), a quality inspection result input function unit (47), and a defective product determination function unit (42, 44) using reference data. , Quality analysis / judgment and analysis result output functions (44,48), and a function part (44,45,46) for giving adjustment instructions with the work guide to the operator to prevent defects, and to prevent the production of defective products And an automatic production stop function section (41, 43).

このようにすれば、品質評価と判断を、標準化された
データからコンピュータが行なっているため、結論から
人間系による時間及び内容のバラツキを除去できるこ
と、誤った結論を出すことが無くなること、調整作業に
関して、装置個体差、オペレータの熟練度等によるバラ
ツキを、過去のデータから作業ガイダンスとしてコンピ
ュータが出力するので、どの様なレベルのオペレータに
ついても、装置個体別の最適な処理を行なうことができ
る。また、人間が思考しなければならない大部分を過去
のデータからコンピュータが行なうので、作業時間が短
縮化できること、バラツキの少い高水準で標準化された
安定した品質が保障できること、装置5自身が各機能部
を保有するため、現存の組立て現場に投入しやすいこ
と、システム構築が必要ないのでコストが低くおさえら
れること、個体別なので要求される品質水準に合わせた
開発ができ、コスト選択の幅も広くなる等の効果が期待
できる。
In this way, since the computer performs quality evaluation and judgment from standardized data, it is possible to eliminate variations in time and content due to human systems from conclusions, eliminate false conclusions, and make adjustment work. With respect to the above, since the computer outputs variations due to individual differences in equipment, the level of skill of operators, and the like as work guidance from past data, an operator of any level can perform optimal processing for each individual equipment. In addition, since most of the things that humans have to think about are done by the computer from past data, the work time can be reduced, the standardized stable quality can be guaranteed with little variation, and Because it has functional parts, it can be easily introduced into existing assembly sites, the cost can be kept low because there is no need for system construction, and it can be developed according to the required quality level because it is individual, and the range of cost selection is also possible The effect of widening can be expected.

なお本発明は実施例に限定されず種々の応用が可能で
ある。例えば本発明においては、一定期間内にマウント
する製品の総ボンディングワイヤ数が、ボンディング前
の製品バッファの容量と一定期間内にボンダによってボ
ンディングされるボンディングワイヤ数つまりボンディ
ング工程の生産能力との和を越えない様に、マウンタへ
投入する製品品種とその投入順序及び各工程の装置の台
数を決めるようにするとよい。またモールドによる外囲
器の種類に応じて変動するモールド装置の生産能力に対
して、マウント及びボンディング工程での生産能力が同
一あるいはバランスする様に、マウンタへ投入する製品
品種とその投入順序及び前記各工程の装置の台数を決め
るようにするとよい。また予め決定された各工程の装置
の台数に従って各装置と生産する品種を指示するように
するとよい。また予め決定された各工程の装置の台数に
従って、マウンタで生産された製品をボンダへ、ボンダ
で生産された製品をモールド装置へ自動的に区別しなが
ら搬送するようにするとよい。またマウント、ボンディ
ング及びモールドの各工程間に製品バッファを有し、各
工程間に生じる生産能力の差を吸収しながら連続して製
品の生産が出来る様に前記各工程への製品の投入順序を
決定するようにするとよい。
Note that the present invention is not limited to the embodiments, and various applications are possible. For example, in the present invention, the total number of bonding wires of a product to be mounted within a certain period is the sum of the capacity of a product buffer before bonding and the number of bonding wires bonded by a bonder within a certain period, that is, the production capacity of the bonding process. It is preferable to determine the product type to be input to the mounter, the input order, and the number of devices in each process so as not to exceed. Also, with respect to the production capacity of the molding apparatus which varies according to the type of the envelope by the mold, the product types to be put into the mounter, the order of the loading, and the It is preferable to determine the number of devices in each process. Further, it is preferable to indicate each device and the type of product to be produced in accordance with a predetermined number of devices in each process. Further, according to a predetermined number of apparatuses in each process, it is preferable that the products produced by the mounter are transported to the bonder while the products produced by the bonder are automatically distinguished to the molding apparatus. In addition, a product buffer is provided between each step of mounting, bonding and molding, and the order of inputting the products into each of the above-described steps is adjusted so that a product can be continuously produced while absorbing a difference in production capacity generated between the respective steps. It is better to decide.

[発明の効果] 以上説明した如く本発明によれば、半導体装置の組立
工程内での生産品種や数量の変動の影響を最小限に抑
え、最大の生産数量を得ることができるなどの利点を有
するものである。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, advantages such as the ability to minimize the influence of variations in production types and quantities in the process of assembling a semiconductor device and to obtain the maximum production quantity can be obtained. Have

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図,第3図は
同構成の作用説明図、第4図,第5図は品質管理付半導
体組立装置の構成図、第6図ないし第12図は従来の半導
体組立工程管理システムの説明図、第13図,第14図は従
来の半導体組立装置による製品の良,不良管理システム
の説明図である。 1……ホストコンピュータ、2……ブロックコンピュー
タ、5……マウンタ、5c……品種aを生産しているマウ
ンタ、5d……品種dを生産しているマウンタ、6……ボ
ンダ、6a……余剰ボンダ、6b……不足ボンダ、6c……品
種aを生産しているボンダ、6d……品種bを生産してい
るボンダ、7……モールド装置、7c……品種aを生産し
ているモールド装置、7d……品種bも生産しているモー
ルド装置、8……自動搬送装置、14……マウンタ群管理
コンピュータ、15……ボンダ群管理コンピュータ、16…
…モールド群管理コンピュータ、17……自動搬送管理コ
ンピュータ、18……マウンタ群、19……ボンダ群、20…
…モールド群、21……自動搬送装置群、24……品種aに
合わせて構成されたライン、25……品種bに合わせて構
成されたライン、26……ボンディング工程内製品バッフ
ァ、27……モールド工程内製品バッファ。
FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are explanatory diagrams of the operation of the same configuration, FIGS. 4 and 5 are block diagrams of a semiconductor assembly device with quality control, FIG. FIG. 12 to FIG. 12 are explanatory diagrams of a conventional semiconductor assembly process management system, and FIGS. 13 and 14 are explanatory diagrams of a good / defective product management system using a conventional semiconductor assembly device. 1 ... Host computer, 2 ... Block computer, 5 ... Mounter, 5c ... Mounter producing type a, 5d ... Mounter producing type d, 6 ... Bonder, 6a ... Surplus Bonder, 6b ... Insufficient bonder, 6c ... Bonder producing type a, 6d ... Bonder producing type b, 7 ... Molding device, 7c ... Molding device producing type a , 7d: a molding apparatus that also produces the type b; 8, an automatic transfer apparatus; 14, a mounter group management computer; 15, a bonder group management computer;
… Mold group management computer, 17… Automatic conveyance management computer, 18… Mounter group, 19 …… Bonder group, 20…
... Mold group, 21 ... Automatic transfer device group, 24 ... Line configured according to type a, 25 ... Line configured according to type b, 26 ... Product buffer in bonding process, 27 ... Product buffer in the molding process.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 師田 雅章 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会 社内 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (72) Inventor Masaaki Shida 25-1 Ekimae Honcho, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Toshiba Microelectronics Corporation

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】半導体のマウント、ボンディング、モール
ドの各工程の装置と、前記工程間の製品バッファと、前
記各工程への製品の投入,排出及び搬送等の製品の流れ
制御手段と、前記各工程の装置の生産管理をするコンピ
ュータとを有した半導体装置の組立工程管理システムに
おいて、生産品種に対する前記各工程の装置の生産能力
と製品バッファの容量及び生産計画とを合わせ計算し、
前記各工程内の各装置の稼動率が最大となる様に、また
製品の工程内滞留時間が最小となる様に少くとも生産品
種または前記各工程毎の装置の台数をリアルタイムに決
定し、製品の投入及び搬送の指示,前記各工程の各装置
への段取り換えの指示を行なう制御手段を具備したこと
を特徴とする半導体装置の組立工程管理システム。
An apparatus for mounting, bonding, and molding semiconductors; a product buffer between the steps; a product flow control unit for inputting, discharging, and transporting products to and from each of the steps; In a semiconductor device assembling process management system having a computer for performing production control of a process device, the production capacity of the device in each process, the product buffer capacity, and the production plan for a product type are calculated and calculated.
Determine at least the production type or the number of devices for each process so that the operation rate of each device in each process is maximized and the in-process residence time of the product is minimized, and the product is determined in real time. A semiconductor device assembling process management system, comprising: control means for issuing instructions for loading and transporting the semiconductor device, and for instructing a setup change to each device in each process.
【請求項2】前記請求項(1)において、一定期間内に
マウントする製品の総ボンディングワイヤ数が、ボンデ
ィング前の製品バッファの容量と一定期間内にボンダに
よッてボンディングされるボンディングワイヤ数(ボン
ディング工程の生産能力)との和を越えない様に、マウ
ント装置へ投入する製品品種または前記各工程の装置の
台数が決められることを特徴とする半導体装置の組立工
程管理システム。
2. The method according to claim 1, wherein the total number of bonding wires of a product to be mounted within a predetermined period is determined by the capacity of a product buffer before bonding and the number of bonding wires to be bonded by a bonder within a predetermined period. (Production capacity of the bonding process) The semiconductor device assembling process management system wherein the product type to be put into the mounting device or the number of devices in each of the processes is determined so as not to exceed the sum.
【請求項3】前記請求項(1)において、モールドによ
る外囲器の種類に応じて変動するモールド装置の生産能
力に対して、前記マウント及びボンディング工程での生
産能力が同一あるいはバランスする様に、マウント装置
へ投入する製品品種または前記各工程の装置の台数を決
めることを特徴とする半導体装置の組立工程管理システ
ム。
3. The method according to claim 1, wherein the production capacity in the mounting and bonding steps is the same or balanced with respect to the production capacity of the molding apparatus, which varies according to the type of the envelope by the mold. A semiconductor device assembling process management system for determining a product type to be put into a mounting device or the number of devices in each of the processes.
【請求項4】前記請求項(1)において、各工程の装置
の台数を予め決定し、この予め決定された前記各工程の
装置の台数に従って、生産する品種を指示することを特
徴とする半導体装置の組立工程管理システム。
4. The semiconductor device according to claim 1, wherein the number of devices in each process is determined in advance, and the type of product to be produced is specified according to the predetermined number of devices in each process. Equipment assembly process management system.
【請求項5】前記請求項(1)において、生産品種を予
め決定し、該品種に従って、マウント装置で生産された
製品をボンディング装置へ、該装置で生産された製品を
モールド装置へ自動的に区別しながら搬送すことを特徴
とする半導体装置の組立工程管理システム。
5. The method according to claim 1, wherein a product type is determined in advance, and a product produced by a mounting device is automatically transferred to a bonding device and a product produced by the device is automatically transferred to a molding device according to the product type. A semiconductor device assembly process management system characterized in that the semiconductor device is transported while being distinguished.
【請求項6】前記請求項(1)において、マウント、ボ
ンディング及びモールドの各工程間に製品バッファを有
し、前記各工程間に生じる生産能力の差を吸収しながら
連続して製品の生産が出来る様に前記各工程への製品の
投入順序を決定することを特徴とする半導体装置の組立
工程管理システム。
6. A method according to claim 1, wherein a product buffer is provided between each of the mounting, bonding, and molding steps, and the production of products is continuously performed while absorbing a difference in production capacity generated between the respective steps. An assembling process management system for a semiconductor device, wherein the order in which products are supplied to the respective steps is determined as much as possible.
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