JP2748903B2 - 光ヘッドにおけるサーボ誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置 - Google Patents

光ヘッドにおけるサーボ誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置

Info

Publication number
JP2748903B2
JP2748903B2 JP7252284A JP25228495A JP2748903B2 JP 2748903 B2 JP2748903 B2 JP 2748903B2 JP 7252284 A JP7252284 A JP 7252284A JP 25228495 A JP25228495 A JP 25228495A JP 2748903 B2 JP2748903 B2 JP 2748903B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
track
optical sensor
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP7252284A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0991714A (ja
Inventor
勉 松井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP7252284A priority Critical patent/JP2748903B2/ja
Publication of JPH0991714A publication Critical patent/JPH0991714A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2748903B2 publication Critical patent/JP2748903B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Head (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置で
用いられる光ヘッドのフォーカス誤差およびトラッキン
グ誤差を検出するザーボ誤差検出方法およびサーボ誤差
検出装置に係わり、特に高密度記録再生に好適なサーボ
誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータで処理するための情報を記
憶する外部記憶装置として、高速アクセス性を備え、か
つ大容量化の可能なものが望まれている。光ディスク装
置は、高速転送レート、高速なランダムアクセス性、記
憶媒体の保存性、非接触による媒体の耐久性を備え、さ
らに大容量化が容易であることから、次世代の外部記憶
装置として注目されている。
【0003】光ディスク装置は、記録媒体である光ディ
スク上に刻まれたトラックに光ビームを照射し、その反
射光により情報を読み取るようになっている。高密度記
録された情報を正確に読み取るためには、光ビームの焦
点を光ディスク上に適切に合わせることと、トラックか
ら光ビームが外れないように追従させる必要がある。こ
れらのため、光ディスクからの反射光を基にフォーカス
誤差と、トラッキング誤差を検出し、これらの誤差が最
小になるようにサーボをかけて光ヘッドの位置を調整す
るようになっている。
【0004】図9は、従来から使用されているサーボ誤
差検出装置の構成の概要を表わしたものである。このサ
ーボ誤差検出装置は、いわゆるプッシュプル法によって
トラッキング誤差を検出し、ナイフエッジ法によってフ
ォーカス誤差を検出するものである。光ディスク101
は、円板形状をしており、渦巻き状に所定のピッチで溝
が刻まれている。図では、光ディスクの一部分だけを示
してある。トラック102に照射される光は図示しない
レーザダイオードから出射され、対物レンズ103によ
って光ディスク101上に集光される。
【0005】対物レンズ103は、光ディスク101で
の反射光をコリメートビームに変換する。対物レンズ1
03の光軸104上には、ハーフミラ105が配置され
ている。ハーフミラ105は、光ディスクから到来する
光ビームを偏向せずに透過させた光ビームと、90度偏
向される光ビームの2つに分離する機能を備えている。
ハーフミラ105によって90度偏向された光ビームの
進行方向前方には、2分割光センサ106が配置されて
いる。2分割光センサの出力信号は、差動増幅回路10
7に入力されている。差動増幅回路107は、2分割光
センサの各出力信号の差をとり、これをトラッキング誤
差信号として出力する。
【0006】一方、ハーフミラ105を透過した光ビー
ムは、その進行方向に配置されたナイフエッジ108に
よって半分が遮光され、半円形の光ビームになる。さら
に、光ディスク101上でフォーカスが合った状態にお
ける対物レンズの合焦点位置には、2分割光センサ10
9が配置されている。2分割センサ109の各出力信号
は、差動増幅回路111に入力されている。差動増幅回
路111は、これらの出力信号の差をとり、これをフォ
ーカス誤差信号として出力する。
【0007】光ディスク101で反射される光には、ト
ラック102の有する回折効果により、0次回折光と、
+1次回折光と−1次回折光が存在する。光ビームがト
ラックの真上を照射しているときは、2分割光センサ1
06の各出力値が等しくなる。一方、光ビームがトラッ
クから外れると、その方向と外れの程度に応じて2分割
光センサ106の各出力値に差が生じる。したがって、
トラッキング誤差は次式で求めることができる。 TE=Vc−Vd (1) ここで、TEは、トラッキッグ誤差信号の値を、Vc
は、2分割光センサ106の一方の受光部からの出力信
号を、Vdは、2分割光センサ106の他方の受光部か
らの出力信号の値を表わしている。
【0008】ハーフミラ105を透過しナイフエッジで
遮光された残りの半円形の光ビームは、2分割光センサ
に到達する。この半円ビームは、光ディスク上でフォー
カスが合ったときとフォーカスの外れが生じたときで、
その直径が変化する。そこで、フォーカス誤差信号を次
式で求めることができる。 FE=Va−Vb (2) ここで、FEは、フォーカス誤差信号の値を、Vaは、
2分割光センサ109の一方の受光部の出力信号の値
を、Vbは他方の受光部の出力信号の値をそれぞれ表わ
している。このように、トラキング誤差信号と、フォー
カス誤差信号を光ディスクからの反射光を基にして検出
して、これらの値が最小になるようにサーボをかけて、
光ヘッドの位置を調整している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】フォーカス誤差の検出
およびトラッキング誤差の検出において、トラッキング
サーボを掛けない場合には、トラッキング誤差信号がフ
ォーカス誤差信号に漏れ込んでしまう。
【0010】図10は、トラッキング誤差信号と、これ
が漏れ込んだ状態のフォーカス誤差信号の波形を表わし
たものである。トラッキング誤差信号(同図a)は、光
ディスクが高速に回転していることと、その偏心の影響
により、比較的高い周波数で振幅が変動する。フォーカ
ス誤差を検出するための2分割光センサ109に到達す
る光にも、±1次回折光と重なる部分が含まれているの
で、トラッキング誤差の影響により、受光する光の強度
が変動してしまう。このため、フォーカス誤差信号(同
図b)には、周波数の高いスイープノイズに近いトラッ
キング誤差信号の影響が現れる。
【0011】トラッキング誤差信号の周波数帯域に相当
するフォーカス方向の信号帯域まで、閉ループサーボを
かけると、対物レンズアクチュエータが発熱してしまう
という問題がある。また、フォーカス誤差信号にトラッ
キング誤差の影響が含まれているので、フォーカスサー
ボが不安定になる。これらにより、高密度記録に支障を
きたすという問題がある。
【0012】そこで本発明の目的は、トラッキング誤差
の影響がフォーカス誤差信号に現われ難いサーボ誤差検
出装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明で
は、光ディスク装置の光ヘッドのフォーカス誤差信号と
トラッキング誤差信号のサーボ誤差の検出を行う光学系
において、(イ)光ディスクからの戻り光ビームの光デ
ィスクの接線方向に対して垂直な方向で2分割し、光ビ
ームの直径の0.01倍から0.5倍の範囲で光軸を
所定の間隔だけその直交する方向にずらした互いに同一
の焦点距離を有するスプリット凸レンズによって集束ビ
ームを2つのビームに分割して集光し、(ロ)スプリッ
ト凸レンズによって2ビームになる集束ビームの部分に
光ディスクの半径方向に対して、±45度分割線に対し
て光ディスク半径方向の一対の部分を偏向させる凸型の
ピラミッド、凹型のピラミッド形状のプリズム、もしく
は円筒レンズを配置し、(ハ)前記した2ビームをさら
に分割し、±45分割線に対して光ディスク半径方向
の一対の部分から光ディスク上での光ビームの照射位置
とトラックの位置との誤差を表わしたトラッキング誤差
信号を検出し、±45度分割線に対して光ディスク接線
方向の一対の部分から光ディスク上での焦点のずれの程
度を表わしたフォーカス誤差信号を検出する。
【0014】すなわち請求項1記載の発明では、光ビー
ムの直径の0.01倍から0.5倍の範囲で光軸をずら
せたスプリット凸レンズで光ディスクからの戻り光ビー
ムを2つのビームに分割して集光する。そして、スプリ
ット凸レンズによって2ビームになる集束ビームの部分
に光ディスクの半径方向に対して、±45度分割線に対
して光ディスク半径方向の一対の部分を偏向させる凸型
のビラミッド、凹型のピラミッド形状のプリズム、もし
くは円筒レンズを配置し、2ビームをさらに分割する。
このうち、±45度分割線に対して光ディスク半径方向
の一対の部分からトラッキング誤差信号を検出し、±4
5分割線に対して光ディスク接線方向の一対の部分から
フォーカス誤差信号を検出する。
【0015】請求項2記載の発明では、(イ)トラック
の刻まれた光ディスクから反射された光ビームを互いの
光軸が平行な2つの光ビームに集光するトラックと直交
する方向に2つに分割された互いに同一の焦点距離を有
するスプリットレンズと、(ロ)このスプリットレンズ
によって集光される2つの光ビームのうちトラックでの
回折効果によって生じる正の1次回折光と重なる部分と
負の1次回折光と重なる部分をスプリットレンズの光軸
から反れる互いに異なる方向に偏向する偏向プリズム
と、(ハ)トラック方向およびトラックと直交する方向
の直交する境界によって光軸と垂直な面上で4つに分割
された受光部を備え、境界の交叉する点がスプリットレ
ンズの2つの光軸の間に配置された4分割光センサと、
(ニ)この4分割光センサの4つの受光部のうちトラッ
ク方向の境界に対して互いに斜めに配置された受光部ど
うしの出力信号の和をそれぞれ求め、それぞれらの差か
ら光ディスク上での焦点のずれを検出するフォーカス誤
差検出手段と、(ホ)偏向プリズムによって偏向された
正の1次回折光と重なる部分の光ビームを受光する第1
の光センサと、(ヘ)偏向プリズムによって偏向された
負の1次回折光と重なる部分の光ビームを受光する第2
の光センサと、(ト)第1の光センサの出力信号と第2
の光センサの出力信号との差から光ビームの光ディスク
上での照射位置とトラックの誤差であるトラッキング誤
差を検出するトラッキング誤差検出手段とをサーボ誤差
検出装置に具備させる。
【0016】
【0017】
【0018】
【0019】
【0020】すなわち請求項記載の発明では、光ディ
スクからの反射ビームを光軸が平行な2つの光ビームに
集光し、これらのうち正、負の1次回折光と重なる部分
を偏向プリズムによってスプリットレンズの光軸から反
れる2方向に偏向している。これにより、スプリットレ
ンズで集光される2つの光ビームを、光軸から一方に反
れる2つの光ビームと、他方に反れる2つの光ビーム
と、偏向されない2つの光ビームに分離される。このう
ち偏向されない2つの光ビームを4分割光センサで受光
し、一方に反れた2つの光ビームを第1の光センサで、
他方に反れた2つの光ビームを第2の光センサでそれぞ
れ受光している。4分割光センサのうち互いに斜めに配
置された受光部の出力信号どうしの和をそれぞれ求め、
これら差からフォーカス誤差を検出している。また、第
1、第2の光センサの出力信号の差からトラッキング誤
差を検出している。
【0021】請求項記載の発明では、(イ)トラック
の刻まれた光ディスクから反射された光ビームを互いの
光軸が平行な2つの光ビームに集光するトラックと直交
する方向に2つに分割された互いに同一の焦点距離を有
するスプリットレンズと、(ロ)軸方向をトラック方向
から45度傾斜して配置されこのスプリットレンズから
の2つの光ビームをトラック方向に対して45度傾斜し
た方向に集光する円筒レンズと、(ハ)この円筒レンズ
を透過した2つの光ビームのうちトラックでの回折効果
によって生じる正の1次回折光と重なる部分と負の1次
回折光と重なる部分をスプリットレンズの光軸から反れ
る互いに異なる方向に偏向する偏向プリズムと、(ニ)
スプリットレンズの2つの光ビームの光軸とそれぞれ交
叉するトラック方向の2つの境界によって光軸と垂直な
面上で3つの受光部に分割された3分割光センサと、
(ホ)この3分割光センサの両端の受光部の出力信号の
和を求め、これと中央の受光部の出力信号との差から光
ディスク上での焦点のずれを検出するフォーカス誤差検
出手段と、(ヘ)偏向プリズムによって偏向された正の
次回折光と重なる部分の光ビームを受光する第1の光
センサと、(ト)偏向プリズムによって偏向された負の
次回折光と重なる部分の光ビームを受光する第2の光
センサと、(チ)第1の光センサの出力信号と第2の光
センサの出力信号との差から光ビームの光ディスク上で
の照射位置とトラックの位置との誤差であるトラッキン
グ誤差を検出するトラッキング誤差検出手段とをサーボ
誤差検出装置に具備させる。
【0022】すなわち請求項記載の発明では、スプリ
ットレンズで集光される2つの光ビームを、その軸方位
がトラック方向に対して45度傾斜した円筒レンズを透
過させている。円筒レンズを透過した2つの光ビームは
変更プリズムによりそれぞれ正の一次回折光と重なる部
分からなる光ビームと、負の1次回折光の重なる部分か
らなる光ビームと、±1次回折光と重複しない部分の光
ビームに分離される。したがって、スプリットレンズか
らの2つの光ビームは、6つの光ビームに分離される。
このうち、偏向プリズムで偏向されない2つの光ビーム
を3分割光センサで受光する。
【0023】光ディスク上でフォーカスが一致すると
き、最小錯乱円に対応した光ビームが3分割光センサの
2つの境界部分にそれぞれ生じる。プラスデフォーカス
のときは、トラック方向に対して左側に45度傾斜した
楕円形の光ビームの一部が3分割光センサの両端の受光
部にそれぞれ現れる。またマイナスデフォーカスのとき
は、トラック方向に対して右側に45度傾斜した楕円形
の光ビームの一部が3分割光センサの中央の受光部上に
2つ現れる。そこで、両端と受光部の出力信号の和と中
央の受光部の出力信号との差からフォーカス誤差を検出
している。また、偏向プリズムによって偏向された正の
一次回折光と重なる部分の2つの光ビームを第1の光セ
ンサで受光し、負の一次回折光と重なる部分の2つの光
ビームを第2の光センサで受光している。そして、第
1、第2の光センサの出力信号の差からトラッキング誤
差を検出している。
【0024】請求項記載の発明では、偏向プリズムは
トラックの方向に対しで45度傾斜した互いに直交する
2つの境界で区切られた4つの透過部分を備え、これら
のうちトラックと直交する方向に存在する2つの透過部
分により光ビームを光軸から反れる方向に偏向してい
る。
【0025】すなわち請求項記載の発明では、偏向プ
リズムは、トラック方向に対して45度傾斜した2つの
境界によって4つの透過部分を備えている。そして、ト
ラックと直交する方向に存在する2つの透過部分によっ
て光ビームを光軸から反らす方向に偏向している。光デ
ィスク上のトラックでの反射および回折によって生じる
1次回折光は、トラックを中心としてその両側に現れ
る。したがって、トラックと直交する方向に存在する2
つの透過部分によって、±1次回折光の重複する部分を
偏向することができる。
【0026】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の一実施の形態に
おけるサーボ誤差検出装置の構成の概要を表わしたもの
である。このサーボ誤差検出装置では、光ディスクから
の反射光のうち、±1次回折光と重なる部分をプリズム
で偏向して取り除き、残りの光によりフォーカス誤差を
検出している。また、プリズムで偏向した±1次回折光
と重なる部分の光によってトラッキング誤差を検出する
ようになっている。図示しないレーザダイオードにより
照射された光ビームは、光ディスク11によって反射さ
れ対物レンズ12に入射される。光ディスク11のトラ
ック13の有する回折効果により、トラック13を挟ん
でトラックと直交する方向に正と負の一次回折光が現れ
る。対物レンズ12は、±一次回折光と重複する部分1
4、15を含む反射光をコリメート光に変換する。
【0027】対物レンズ12の光軸16の延長上には、
矢印17で示すトラッククロス方向に上部レンズ部18
と下部レンズ部19とにスプリットされたスプリットレ
ンズ21が配置されている。上部レンズ部18と下部レ
ンズ部19の光軸は、トラッククロス方向に、レンズの
直径の約10パーセントほどずれている。これにより、
対物レンズ12からの光ビームは、2つの光ビームに分
離され集光される。対物レンズ12の光軸16の延長上
には、スプリットレンズ21の次に、ピラミッド形状を
した複合プリズム22が配置されている。複合プリズム
は、第1〜第4の透過部分23〜26に別れている。こ
のうち、第1、第2の透過部分23、24は、入射面と
出射面が平行になっている。第3、第4の透過部分2
5、26は、中心部分に向かってその厚みが薄くなるく
さび型の形状をしている。
【0028】スプリットレンズ21によって集光される
2つの光ビームの光軸延長上には、4分割光センサ31
が配置されている。4分割光センサ31は、第1〜第4
の受光部32〜35に分割されており、それぞれの受光
部から受光した光の強度に応じた電気信号を出力するよ
うになっている。また、4分割光センサ31のトラック
クロス方向の両側に、トラッキング誤差検出用の第1の
光センサ36と第2の光センサ37が配置されている。
スプリットレンズ21で集光される2つの光ビームのう
ち、複合プリズム22の第1、第2の透過部分23、2
4を透過する光は、そのまま直進して4分割光センサ3
1に入射される。一方、第3、第4の透過部分25、2
6は、くさび型のプリズムなので、光ビームは、対物レ
ンズ12の光軸16から反れる方向に偏向され、第1、
第2の光センサ36、37に到達する。
【0029】図1では、複合プリズム22の第1の透過
部分23を透過した光ビームは、4分割光センサ31の
第1の受光部32で受光されている。また、第2の透過
部分24を透過した光ビームは、第3の受光部34で受
光されている。くさび型の形状をした第3の透過部分2
5によって偏向された光ビームは第1の光センサ36
に、第4の透過部分26で偏向された光ビームは第2の
光センサ37に到達している。
【0030】図2は、複合プリズムの概略形状を表わし
たものである。第1の透過部分23および第2の透過部
分24は、その厚みが一定の三角形の形状をなしてい
る。第3の透過部分25は、先端部分41に向かってそ
の厚みが次第に薄くなるくさび型のプリズムである。同
様に第4の透過部分26も先端部分42に向かって次第
に薄くなるくさび型の形状をしている。図では、説明の
便宜上、第1、第2の透過部分23、24と第3、第4
の透過部分25、26を分離して示したが、矢印43、
44で示す方向に寄せられて第1、第2の透過部分2
3、24と第3、第4の透過部分25、26は一体にな
っている。
【0031】図3は、スプリットレンズの形状およびこ
れを透過する光ビームを表わしたものである。スプリッ
トレンズ21は、トラッククロス方向17にその中心部
分で上部レンズ部18と下部レンズ部19に分離されて
いる。トラッククロス方向のずれは、レンズの直径の1
0パーセント以下になっている。対物レンズ12から入
射される1つの光ビームは、上部レンズ部18と下部レ
ンズ部19によってそれぞれ集光され2つの光ビーム5
1、52になる。
【0032】光ディスク上でフォーカスが合った状態
で、上部レンズ部18および下部レンズ部19によって
集光される各光ビームの合焦点位置に、4分割光センサ
31が配置されている。また、2つの光ビームの光軸の
ずれが小さいので、これら光ビームは双方とも複合プリ
ズム22を透過するようになている。上部レンズ部18
で集光される光ビーム51は、4分割光センサ31のう
ち図中左側に配置された第1、第2の受光部に投射され
る。一方、下部レンズ部19で集光される光ビーム52
は、4分割光センサ31のうち図中右側の第3、第4の
受光部に投射される。この図では、複合プリズム22で
偏向される光ビームは省略してある。
【0033】図4は、光ディスク上にフォーカスが合っ
ているときとフォーカスが外れたときにおける2つの光
ビームの合焦点位置を表わしたものである。光ディスク
11上にフォーカスが合っている状態では、スプリット
レンズ21によって集光され複合プリズム22を透過し
た光ビームの合焦点位置61、4分割光センサ31上に
存在する。一方、光ディスク11と対物レンズ12との
距離がフォーカスが合っているときよりも短くなったと
きは、4分割光センサ31よりも遠くに合焦点位置62
が移動する。逆に、光ディスク11と対物レンズ12と
の距離が長くなったときの合焦点位置63は、4分割光
センサ31よりも複合プリズム22側に移動する。
【0034】図5は、光ディスク上にフォーカスが合っ
ているときとフォーカスが外れたときのそれぞれについ
て4分割光センサ上に現れる光ビームの様子を表わした
ものである。光ディスク11と対物レンズ12との距離
がフォーカスが合っているときよりも短くなったとき
(同図a)は、4分割光センサの第1の受光部32およ
び第3の受光部34上にそれぞれ断面が三角形状の光ビ
ーム71、72が現れる。このときの合焦点位置(図
4、62)は4分割光センサ31よりも遠くなっている
ので、スプリットレンズ21の上部レンズ部18によっ
て集光され複合プリズム22の第1の透過部分23を透
過した光が第1の受光部32上に現れる。また、スプリ
ットレンズ21の下部レンズ部19によって集光され複
合プリズム22の第2の透過部分24を透過した光が第
3の受光部34上に現れている。
【0035】光ディスク上でフォーカスが合っていると
きは(図5b)、4分割光センサ上に合焦点位置(図
4、61)が存在するので、丸みを帯びた小さい三角形
状の光ビーム73、74が光センサ上に現れる。第1の
受光部32と第2の受光部33の境界および第3の受光
部34と第4の受光部35の境界76はそれぞれ、スプ
リットレンズ21で集光される光ビームの光軸上にあ
る。このため、光ディスク上にフォーカスが合っている
ときはこれらの境界部に光が収束する。
【0036】光ディスク11と対物レンズ12との距離
がフォーカスが合っているときよりも長くなったとき
(図5c)は、4分割光センサの第2および第4の受光
部33、35上に断面が三角形の光ビーム77、78が
現れる。この状態での合焦点位置(図4、63)は4分
割光センサ31よりも複合プリズム22側にある。この
ため、いわゆる極性反転現象が起こりスプリットレンズ
の上部レンズ部18によって集光され複合プリズム22
の第1の透過部分23を透過した光は、上向きの三角形
77となって第2の受光部33上に現れる。また、スプ
リットレンズの下部レンズ部19によって集光され複合
プリズム22の第2の透過部分24を透過した光は、下
向きの三角形78となって第4の受光部35上に現れ
る。
【0037】図5に示すように、光ディスク11上での
フォーカスのずれに応じて、4分割光センサ31上にど
のように光が投射されるかが変化するので、フォーカス
誤差を次式によって検出することができる。 FE=(V2 +V4 )−(V1 +V3 ) (3) ここで、FEは、フォーカス誤差信号の値を表わしてい
る。また、V1 は、4分割光センサの第1の受光部32
の出力値を、V2 は、第2の受光部33の出力値を、V
3 、V4 はそれぞれ第3の受光部34、第4の受光部3
5の出力値を表わしている。
【0038】フォーカス誤差信号を得るための回路はオ
ペ・アンプを組み合わせて構成している。図示しない第
1の加算回路で第2の受光部33と第4の受光部35の
出力値を加算する。また図示しない第2の加算回路で第
1の受光部32と第3の受光部34の出力値を加算す
る。そして、第1の加算回路の出力値から第2の加算回
路の出力値を図示しない減算回路で減算する。このよう
な回路構成により、フォーカス誤差信号を得ることがで
きる。
【0039】4分割光センサ31上に現れる光ビームは
三角形状をなしている。このため、たとえば第1、第2
の受光部32、33の境界に跨がって三角形状が現れる
と、三角形のどの部分を境界にしてこれら受光部に分か
れて受光されるかにより、フォーカスのズレの程度と第
1、第2の受光部32、33の出力値との差がリニアに
現れない。したがって、第1の受光部32と第2の受光
部33だけでフォーカス誤差を検出する場合には、フォ
ーカス誤差信号の線形性が崩れる。第1、第2の受光部
32、33に現れる光と、第3、第4の受光部34、3
5に現れる光は同一の形状をしている。そこで(3)式
で示した演算により第1、第2の受光部32、33の非
線形性を第3、第4の受光部34、35の有する非線形
性で打ち消し、線形な特性のフォーカス誤差信号を得て
いる。
【0040】スプリットレンズ21で集光される光ビー
ムのうち±1次回折光と重なる部分は、複合プリズム2
2の第3、第4の透過部分25、26によって光軸から
外側に反れるように偏向される。したがって、複合プリ
ズム22の第1、第2の透過部分23、24を透過して
4分割光センサ31に到達する光ビームには、±1次回
折光のほとんど重複しな部分となる。すなわち、トラッ
キングが外れても、4分割光センサ31上での光強度の
変動がほとんどない。このように、複合プリズム22
で、±1次回折光と重複する部分を分離したので、4分
割光センサ31から得られるフォーカス誤差信号にトラ
ッキング誤差の影響が現れない。
【0041】図6は、複合プリズムのくさび形の部分に
より光ビームが偏向される様子を表わしたものである。
スプリットレンズから複合プリズムの第3、第4の透過
部分25、26に入射される光は、スネルの法則に従っ
て偏向され、第1および第2の光センサ36、37上に
それぞれ4つの三角形状81〜84として投射される。
偏向される部分は、丁度、±1次回折光と重なる部分で
あるので、トラッキングの状態によって、第1の光セン
サ36に入射される光の強度と、第2の光センサ37に
入射される光の強度の分布が変化する。トラッキング誤
差が無いときは、第1の光センサ36と第2の光センサ
37の出力値がほぼ等しくなる。一方、トラッキングが
外れると、第1の光センサ36と第2の光センサ37の
出力値に差が生じる。そして、差の大きさおよび差の現
れる極性によって、トラッキングがどの程度どの方向に
外れたかを検出することができる。
【0042】第1の光センサ36上の三角形状の光ビー
ム81による出力値をV5 、光ビーム82によって得ら
れる出力値をV6 、第2の光センサ37上の三角形形状
の光ビーム83、84による出力値をそれぞれV7 、V
8 とすると、トラッキング誤差信号は次式によって表わ
される。 TE=(V5 +V6 )−(V7 +V8 ) (4) ここで、TEは、トラッキング誤差信号の値を表わして
いる。この式からも分かるように、第1、第2の光セン
サ36、37はそれぞれ2分割光センサを用いる必要は
ない。トラッキング誤差信号は、第1の光センサ36の
出力値から第2の光センサ37の出力値をオペ・アンプ
を用いた差動増幅回路によって減算して得ている。
【0043】変形例
【0044】変形例のザーボ誤差検出装置は、非点収差
法を利用してフォーカス誤差を検出するようになってい
る。
【0045】図7は、変形例におけるサーボ誤差検出装
置の構成の概要を表わしたものである。図1に示したサ
ーボ誤差検出装置と同一の部分には同一の符号を付して
あり、それらの説明を適宜省略する。変形例のサーボ誤
差検出装置では、スプリットレンズ21と複合プリズム
22の間に、円筒レンズ91が配置されている。円筒レ
ンズ91の軸方位は、トラック方向に対して45度傾斜
している。また、4分割光センサに代えて、3分割光セ
ンサ92が配置されている。
【0046】3分割光センサ92は、トラック方向に2
つの境界を備え、第1〜第3受光部93〜95に分割さ
れている。スプリットレンズ21の上部レンズ部18で
集光された光ビームの光軸が、第1の受光部93と第2
の受光部94の境界部と交叉し、下部レンズ部19で集
光された光ビームの光軸が第2の受光部94と第3の受
光部95の境界部と交叉するようになっている。また、
光ディスク11上でフォーカスが合う状態での合焦点位
置に3分割光センサ92が配置されている。
【0047】図8は、3分割光センサおよび第1、第2
の光センサ上に現れるる光ビームの様子を表わしたもの
である。図では左側に第1の光センサ36を、中央に3
分割光センサ92を、右側に第2の光センサ37をそれ
ぞれ示してある。光ディスク11上でフォーカスが合っ
ている状態(同図b)では、スプリットレンズ21によ
って集光され、複合プリズム22の第1、第2の透過部
分23、24を透過した光ビームの合焦点位置が、3分
割光センサ92上に存在する。複合プリズム22は4つ
の透過部分に分割されているので、最小錯乱円の4分の
1の形状の光ビームが3分割光センサ92および第1、
第2の光センサ36、37上に現れる。デフォーカスの
状態では、非点収差によって光センサ上の光ビームの形
状は楕円になる。そして複合プリズム22の各透過部分
を透過することにより、3分割光センサ92および第
1、第2の光センサ36、37上にはそれぞれ楕円の4
分の1の部分の光ビームが現れる。
【0048】光ディスク上でのフォーカスが外れ、
(−)デフォーカス状態になったときは(同図a)、楕
円の長軸が、図中で右方向に45度傾く。スプリットレ
ンズ21の上部レンズ部18で集光される光ビームも、
下部レンズ部19で集光される光ビームも楕円の傾斜方
向は同一である。このため、右方向に傾斜したときは、
3分割光センサ92の第2の受光部94上に楕円の4分
の1の光ビームが2つ現れる。
【0049】一方、(+)デフォーカス状態になったと
きは(同図c)、楕円の長軸が、図中で左方向に45度
傾斜する。この場合には、スプリットレンズ21の上部
レンズ部18によって集光され、複合プリズム22の第
1の透過部分23を透過した光ビームは、第1の受光部
93上に楕円の4分の1の形状で現れる。また、スプリ
ットレンズ21の下部レンズ部19によって集光され、
複合プリズム22の第2の透過部分24を透過した光ビ
ームは、第3の受光部95上に楕円の4分の1の形状と
して現れる。
【0050】このように、フォーカスの状態によって3
分割光センサ92上に現れる光ビームの位置および形状
が変化するので、フォーカス誤差信号は次式によって求
めることができる。 FE=(V1 +V3 )−V2 (5) ここで、FEはフォーカス誤差信号の値を、V1 は3分
割光センサ92の第1の受光部93の出力値を、V2
3 はそれぞれ第2、第3の受光部94、95の出力値
を表わしている。
【0051】光ビームのうち±1次回折光と重なる部分
は、複合プリズム22の第3、第4の透過部分25、2
6を透過し、その際光軸16からトラッククロス方向に
両側へ反れるように偏向される。3分割光センサ92に
は、複合プリズム22の第1、第2の透過部分23、2
4を透過した光、すなわち±1次回折光とほとんど重な
らない部分が到達している。これにより、3分割光セン
サ92から得るフォーカス誤差信号には、トラッキング
誤差信号の成分が漏れ込まない。また、フォーカス誤差
を検出するための光センサとして3分割された光センサ
を用いれば良いので、4分割光センサに比べてセンサの
構成を簡略化することができる。
【0052】トラッキング誤差信号は、第1、第2の光
センサ36、37の出力信号を基に得ている。フォーカ
スが合っている状態(図8b)では、第1、第2の光セ
ンサ36、37上に、最小錯乱円の4分の1の形状の光
ビームが現れる。一方 (−)デフォーカスの状態では
(同図a)、楕円の長軸は、図中で右方向に45度傾斜
する。このとき、第1の光センサ36には、複合プリズ
ム22の第3の透過部分25を透過した光が、楕円の左
下の4分の1の形状で2つ現れる。これらは、スプリッ
トレンズ21の上部レンズ部18と下部レンズ部19で
集光される2つの光ビームに対応している。また、第2
の光センサ37には、複合プリズム22の第4の透過部
分26を透過した光が、楕円の右上の4分の1の形状で
2つ現れる。
【0053】(+)デフォーカスの状態では(同図
c)、楕円の長軸は、図中で左方向に45度傾斜する。
このとき、第1の光センサ36には、複合プリズム22
の第3の透過部分25を透過した光が、楕円の左上の4
分の1の形状で2つ現れる。また、第2の光センサ37
には、複合プリズム22の第4の透過部分26を透過し
た光が、楕円の右下の4分の1の形状で2つ現れる。
【0054】複合プリズム22の第3、第4の透過部分
25、26で偏向される光ビームの部分は±1次回折光
と重複する部分なので、第1の光センサ36の受光する
光強度と、第2の光センサ37の受光する光強度の差と
してトラッキング誤差を検出することができる。したが
って、トラッキング誤差信号は、次式で表わされる。 TE=V4 −V5 (6) ここで、TEはトラッキング誤差信号の値を、V4 は、
第1の光センサ36の出力値を、V5 は第2の光センサ
37の出力値をそれぞれ表わしている。
【0055】フォーカス誤差信号およびトラッキング誤
差信号を得るための回路は、(5)式、(6)式に従っ
て各光センサの出力値を加減算する回路をオペ・アンプ
を組み合わせて構成している。
【0056】以上説明した実施の形態および変形例で
は、三角形状の透過部分を4つ組み合わせた複合プリズ
ムを使用したが、±1次回折光と重なる部分を光軸から
両側に反らせることができれば、このような形状に限ら
れない。特に、第1、第2の透過部分は、第3、第4の
くさび形状の透過部分を構造的に支える働きをしてお
り、偏向の機能を有していない。したがって、第3、第
4の透過部分を所定の位置に保持できれば、第1、第2
の透過部分は無くても良い。さらに、第3、第4の透過
部分を三角形状にしたが、±1次回折光と重なる部分だ
けをより適切に偏向することができる形状、たとえば図
1の斜線を施した部分14、15と相似形であってもよ
い。
【0057】
【発明の効果】このように請求項1記載の発明によれ
ば、±1次回折光と重なる部分を偏向プリズムで偏向
し、±1次回折光と重複しない部分の光ビームを基にフ
ォーカス誤差を検出したので、トラッキング誤差の影響
を受けることなくフォーカス誤差を検出することができ
る。しかも光軸を所定の間隔だけその直交する方向にず
らした互いに同一の焦点距離を有するスプリット凸レン
ズを使用して光学系を構成するので、サーボ誤差検出方
法を実現する装置の構成が簡略となるという利点があ
る。
【0058】
【0059】また請求項2記載の発明によれば、反射光
をスプリットレンズで2つの光ビームに集光し、これら
から±1次回折光と重なる部分を偏向プリズムで分離し
た。そして、±1次回折光と重複しない部分からなる2
つの光ビームを4分割光センサで受光しフォーカス誤差
を検出したので、線形性の良好なフォーカス誤差信号を
得ることができる。しかも光軸を所定の間隔だけその直
交する方向にずらした互いに同一の焦点距離を有するス
プリット凸レンズを使用して光学系を構成するので、サ
ーボ誤差検出方法を実現する装置の構成が簡略となると
いう利点がある。
【0060】更に請求項3記載の発明によれば、軸方位
トラッキング方向から45度傾けた円筒レンズを設
け、これを透過した光ビームを±1次回折光と重なる部
分と重ならない部分に偏向プリズムで分離している。そ
して、±1次回折光と重ならない部分からなる光ビーム
を基に非点収差法によりフォーカス誤差を検出してい
る。ここで、円筒レンズの軸方位はトラッキング方向か
ら45度傾いているので、3分割の光センサによってフ
ォーカス誤差を検出することができ、検出回路の構成を
簡略化することができる。しかも光軸を所定の間隔だけ
その直交する方向にずらした互いに同一の焦点距離を有
するスプリット凸レンズを使用して光学系を横成するの
で、サーボ誤差検出方法を実現する装置の構成が簡略と
なるという利点もある。
【0061】また請求項4記載の発明によれば、±1次
回折光と重複する部分を偏向するための2つの透過部分
を他の2つの透過部分と一体化したので、偏向プリズム
の固定が容易となるほか偏向プリズムが構造的に丈夫
なる。さらに、直交する境界により4分割したので、制
作が容易になると共に、一体化により光学部品の点数が
減り、サーボ誤差検出装置の構成を更に簡略化すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態におけるサーボ誤差検出
装置の構成の概要を表わした概略構成図である。
【図2】複合プリズムの形状を表わした説明図である。
【図3】スプリットレンズの形状およびこれを透過する
光ビームを表わした説明図である。
【図4】光ディスク上にフォーカスが合っているときと
フォーカスが外れたときにおける2つの光ビームの合焦
点位置を表わした説明図である。
【図5】光ディスク上にフォーカスが合っているときと
フォーカスが外れたときのそれぞれについて4分割光セ
ンサ上に現れる光ビームの様子を表わした説明図であ
る。
【図6】複合プリズムのくさび形の部分により光ビーム
が偏向される様子を表わした説明図である。
【図7】変形例におけるサーボ誤差検出装置の構成の概
要を表わした概略構成図である。
【図8】3分割光センサおよび第1、第2の光センサ上
に現れるる光ビームの様子を表わした説明図である。
【図9】従来から使用されているサーボ誤差検出装置の
構成の概要を表わした概略構成図である。
【図10】トラッキング誤差信号と、これが漏れ込んだ
状態でのフォーカス誤差信号の波形を表わした波形図で
ある。
【符号の説明】
11 光ディスク 12 対物レンズ 13 トラック 14、15 一次回折光と重なる部分 16 光軸 21 スプリットレンズ 22 複合プリズム 31 4分割光センサ 36、37 光センサ 91 円筒レンズ 92 3分割光センサ

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ディスク装置の光ヘッドのフォーカス
    誤差信号とトラッキング誤差信号のサーボ誤差の検出を
    行う光学系において、 光ディスクからの戻り光ビームの光ディスクの接線方向
    に対して垂直な方向で2分割し、光ビームの直径の0.
    01倍から0.5倍の範囲で光軸を所定の間隔だけそ
    の直交する方向にずらした互いに同一の焦点距離を有す
    スプリット凸レンズによって集束ビームを2つのビー
    ムに分割して集光し、 スプリット凸レンズによって2ビームになる集束ビーム
    の部分に光ディスクの半径方向に対して、±45度分割
    線に対して光ディスク半径方向の一対の部分を偏向させ
    る凸型のピラミッド、凹型のピラミッド形状のプリズ
    ム、もしくは円筒レンズを配置し、 前記2ビームをさらに分割し、±45度分割線に対して
    光ディスク半径方向の一対の部分から前記光ディスク上
    での光ビームの照射位置とトラックの位置との誤差を表
    わしたトラッキング誤差信号を検出し、±45度分割線
    に対して光ディスク接線方向の一対の部分から前記光デ
    ィスク上での焦点のずれの程度を表わしたフォーカス誤
    差信号を検出することを特徴とする光ヘッドにおけるサ
    ーボ誤差検出方法。
  2. 【請求項2】 トラックの刻まれた光ディスクから反射
    された光ビームを互いの光軸が平行な2つの光ビームに
    集光するトラックと直交する方向に2つに分割された互
    いに同一の焦点距離を有するスプリットレンズと、 このスプリットレンズによって集光される2つの 光ビー
    ムのうち前記トラックでの回折効果によって生じる正の
    1次回折光と重なる部分と負の1次回折光と重なる部分
    スプリットレンズの光軸から反れる互いに異なる方向
    に偏向する偏向プリズムと、トラック方向およびトラックと直交する方向の直交する
    境界によって前記光軸と垂直な面上で4つに分割された
    受光部を備え、境界の交叉する点が前記スプリットレン
    ズの2つの光軸の間に配置された4分割光センサと、 この4分割光センサの4つの受光部のうちトラック方向
    の境界に対して互いに斜めに配置された受光部どうしの
    出力信号の和をそれぞれ求め、それぞれらの差 から前記
    光ディスク上での焦点のずれを検出するフォーカス誤差
    検出手段と、 前記偏向プリズムによって偏向された正の1次回折光と
    重なる部分の光ビームを受光する第1の光センサと、 前記偏向プリズムによって偏向された負の1次回折光と
    重なる部分の光ビームを受光する第2の光センサと、 第1の光センサの出力信号と第2の光センサの出力信号
    との差から前記光ビームの光ディスク上での照射位置と
    トラックの誤差であるトラッキング誤差を検出するトラ
    ッキング誤差検出手段 とを具備することを特徴とするサ
    ーボ誤差検出装置。
  3. 【請求項3】 トラックの刻まれた光ディスクから反射
    された光ビームを互いの光軸が平行な2つの光ビームに
    集光するトラックと直交する方向に2つに分割された互
    いに同一の焦点距離を有するスプリットレンズと、 軸方向を前記トラック方向から45度傾斜して配置され
    このスプリットレンズから2つの光ビームをトラック方
    向に対して45度傾斜した方向に集光する円筒レンズ
    と、 この円筒レンズを透過した2つの 光ビームのうち前記ト
    ラックでの回折効果によって生じる正の1次回折光と重
    なる部分と負の1次回折光と重なる部分を前記スプリッ
    トレンズの光軸から反れる互いに異なる方向に偏向する
    偏向プリズムと、 前記スプリットレンズの2つの光ビームの光軸とそれぞ
    れ交叉するトラック方向の2つの境界によって前記光軸
    と垂直な面上で3つの受光部に分割された3分割光セン
    サと、 この3分割光センサの両端の受光部の出力信号の和を求
    め、これと中央の受光部の出力信号との差から前記光デ
    ィスク上での焦点のずれを検出するフォーカス誤差検出
    手段と、 前記偏向プリズムによって偏向された正の次回折光と
    重なる部分の光ビームを受講する第1の光センサと、 前記偏向プリズムによって偏向された負の1次回折光と
    重なる部分の光ビームを受光する第2の光センサと、 第1の光センサの出力信号と第2の光センサの出力信号
    との差から 前記光ビームの光ディスク上での照射位置と
    トラックの誤差であるトラッキング誤差を検出するトラ
    ッキング誤差検出手段とを具備することを特徴とするサ
    ーボ誤差検出装置。
  4. 【請求項4】 前記偏向プリズムは、前記トラックの方
    向に対して45度傾斜した互いに直交する2つの境界で
    区切られた4つの透過部分を備え、これらのうちトラッ
    クと直交する方向に存在する2つの透過部分により光ビ
    ームを光軸から反れる方向に偏向することを特徴とする
    請求項2または請求項3記載のサーボ誤差検出装置。
JP7252284A 1995-09-29 1995-09-29 光ヘッドにおけるサーボ誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置 Expired - Lifetime JP2748903B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7252284A JP2748903B2 (ja) 1995-09-29 1995-09-29 光ヘッドにおけるサーボ誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7252284A JP2748903B2 (ja) 1995-09-29 1995-09-29 光ヘッドにおけるサーボ誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0991714A JPH0991714A (ja) 1997-04-04
JP2748903B2 true JP2748903B2 (ja) 1998-05-13

Family

ID=17235119

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7252284A Expired - Lifetime JP2748903B2 (ja) 1995-09-29 1995-09-29 光ヘッドにおけるサーボ誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2748903B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100717856B1 (ko) * 2005-07-11 2007-05-14 엘지전자 주식회사 부빔의 각도 조정이 필요없는 광 디스크 장치의 광 픽업

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2579009B2 (ja) * 1989-01-20 1997-02-05 松下電器産業株式会社 光ヘッド装置
JP2817452B2 (ja) * 1991-07-10 1998-10-30 日本電気株式会社 光ピックアップ装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0991714A (ja) 1997-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100231388B1 (ko) 광헤드의 트래킹오차 검출장치(Optical Head Tracking Error Detection Device)
US5500849A (en) Construction of optical disk
JP2748903B2 (ja) 光ヘッドにおけるサーボ誤差検出方法およびサーボ誤差検出装置
US4853917A (en) Optical tracking apparatus with photodetector disposed outside part of the effective diameter of the lens system
US4633454A (en) Optical information pickup apparatus
JP3123500B2 (ja) 光ディスク装置
KR930008144B1 (ko) 광학헤드
KR100618990B1 (ko) 광픽업용 시크방향 검출 신호 생성장치
JPH0619838B2 (ja) 光学式再生装置
JP3455399B2 (ja) 光ディスク用センサシステム
JP3157873B2 (ja) 光ピックアップ装置における焦点制御装置
JPH0534732B2 (ja)
KR100568376B1 (ko) 포커스에러 보정 기능을 갖는 광픽업장치 및 포커스에러 보정방법
JP2788723B2 (ja) 光スポツト位置エラー検出装置
JPS6142743A (ja) 光学的情報読取装置
KR0186153B1 (ko) 광픽업장치
JP2644110B2 (ja) 光記録再生装置
JP2886230B2 (ja) 光ヘッド及びこれを用いた焦点誤差検出装置
JP2631975B2 (ja) フォーカス検出装置
JP2614504B2 (ja) トラッキングエラー検出方法
JP3455398B2 (ja) 光ディスク用センサシステム
JP2629657B2 (ja) 光学式ヘッド装置の光学素子ブロック
JP3544785B2 (ja) 光学式記録再生装置
JP2669103B2 (ja) 光学式情報記録再生装置の信号検出系
JPS5856235A (ja) 光学的トラツク追跡装置