JP2741723B2 - Material testing machine load measuring device - Google Patents

Material testing machine load measuring device

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JP2741723B2
JP2741723B2 JP3122005A JP12200591A JP2741723B2 JP 2741723 B2 JP2741723 B2 JP 2741723B2 JP 3122005 A JP3122005 A JP 3122005A JP 12200591 A JP12200591 A JP 12200591A JP 2741723 B2 JP2741723 B2 JP 2741723B2
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JP
Japan
Prior art keywords
load
value
valley
hold circuit
testing machine
Prior art date
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JP3122005A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04303731A (en
Inventor
就生 柴田
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、特にピール荷重の測定
に適した材料試験機の荷重測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a load measuring device of a material testing machine particularly suitable for measuring a peel load.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、材料試験機を用いて接着強さの測
定を行う場合に、負荷装置により試験片に加えられた荷
重をロードセルなどの荷重検出器によって検出し、荷重
信号をA/Dコンバータでデジタル化してCPUへ読み
込み、CPUにより荷重の変化を観察し、そのデータよ
り上限荷重、下限荷重を測定している。図6はこのよう
にして測定された荷重の特性図を示す。
2. Description of the Related Art Conventionally, when measuring the bonding strength using a material testing machine, the load applied to a test piece by a load device is detected by a load detector such as a load cell, and a load signal is A / D. The data is digitized by the converter and read into the CPU, the change in the load is observed by the CPU, and the upper limit load and the lower limit load are measured from the data. FIG. 6 shows a characteristic diagram of the load measured in this manner.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記のように荷重測定
を行う場合は、図7(a)(b)に示すように、実線で
示す荷重信号に対してサンプリングサイクルA(ms)
ごとのデータを取ることとなり、採取データは丸印で示
す測定値となりサンプリングタイムの間隔部にある真の
上限荷重、下限荷重が測定できないという問題点があっ
た。
When the load is measured as described above, the sampling cycle A (ms) is applied to the load signal indicated by the solid line as shown in FIGS.
Therefore, there is a problem that the true upper limit load and the lower limit load at the interval of the sampling time cannot be measured.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、次のような構成を採用した。すなわち、本
発明にかかる材料試験機の荷重測定装置は、荷重検出器
からの荷重信号を所定のサンプリングタイミングで読み
取る読み取り手段と、該荷重信号のピーク値とバレー値
をそれぞれ記憶するピークホールド回路およびバレーホ
ールド回路と、該ピークホールド回路およびバレーホー
ルド回路に保持されたピーク値、バレー値をサンプリン
グタイム毎に読み込んだのち各ホールド回路をリセット
すると共に、読み込んだデータの最大値、最小値を上限
荷重、下限荷重として測定する演算処理回路とを備えて
なることを特徴とする。
In order to solve the above problems, the present invention employs the following configuration. That is, the load measuring device of the material testing machine according to the present invention includes a reading unit that reads a load signal from a load detector at a predetermined sampling timing, a peak hold circuit that stores a peak value and a valley value of the load signal, and The valley hold circuit, and the peak value and the valley value held in the peak hold circuit and the valley hold circuit are read every sampling time, and then each hold circuit is reset. And an arithmetic processing circuit for measuring the lower limit load.

【0005】[0005]

【作用】ピークホールド回路およびバレーホールド回路
に保持された荷重信号のピーク値、バレー値をサンプリ
ングタイムごとに更新しながらCPUに読み込み、前回
のサンプリング時に読み込んだデータと比較し、その最
大値、最小値を求め、これらを上限荷重、下限荷重とし
て測定するので、荷重信号から上限荷重、下限荷重を正
確に求めることができる。
The peak value and the valley value of the load signal held in the peak hold circuit and the valley hold circuit are read into the CPU while being updated at each sampling time, and are compared with the data read at the time of the previous sampling. Since the values are obtained and measured as the upper limit load and the lower limit load, the upper limit load and the lower limit load can be accurately obtained from the load signal.

【0006】[0006]

【実施例】図1は本発明の1実施例の構成を表すブロッ
ク図で、この荷重測定装置1は、材料試験機2の荷重検
出器(ロードセル)3から出力される荷重信号が荷重増
幅器4で増幅されて、ピークホールド回路6及びバレー
ホールド回路7並びにマルチプレクサ9に入力される。
ピークホールド回路6及びバレーホールド回路7では、
刻々変化する荷重値のサンプリング時までのピーク値、
バレー値が記憶される。記憶されたピーク値、バレー値
は、マルチプレクサ9を介して、サンプリングタイムご
とに荷重検出器4からのダイレクト値とともにA/D変
換器10でデジタル化され、CPU11へ読み込まれ
る。荷重データが読み込まれると、ピークホールド回路
6、バレーホールド回路7は、CPU11からのリセッ
ト信号によってリセットされる。CPU11では、読み
込んだ荷重信号を基にデータ処理が行われる。処理され
たデータは、I/014を介してプリンタ15で記録さ
れる。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In this load measuring apparatus 1, a load signal output from a load detector (load cell) 3 of a material testing machine 2 is output by a load amplifier 4. And input to the peak hold circuit 6, valley hold circuit 7, and multiplexer 9.
In the peak hold circuit 6 and the valley hold circuit 7,
Peak value of the load value that changes every moment until sampling time,
The valley value is stored. The stored peak value and valley value are digitized by the A / D converter 10 together with the direct value from the load detector 4 at each sampling time via the multiplexer 9 and read into the CPU 11. When the load data is read, the peak hold circuit 6 and the valley hold circuit 7 are reset by a reset signal from the CPU 11. The CPU 11 performs data processing based on the read load signal. The processed data is recorded by the printer 15 via the I / 014.

【0007】CPU11におけるデータの読み込み処理
は、図2のフローチャートに示す処理手順に従って行わ
れる。上限荷重を測定する場合は、図に示すように、マ
ルチプレクサ9をピークホールドにしてサンプリングタ
イム毎にピークホールド回路6に記憶されたピーク値を
読み込み、マルチプレクサ9をダイレクトにして読み込
む。このようにしてサンプリング毎にデータの読み込み
行い、データの最大値を求め、該最大値を上限荷重と
して測定する。下限荷重を測定する場合も同様に、マル
チプレクサ9をバレーホールドにしてサンプリングタイ
ム毎にバレーホールド回路7に記憶されたバレー値を読
み込み、マルチプレクサ9をダイレクトにして読み込み
最小値を求め、下限荷重として測定する。このようにし
て求めた荷重データは図3(a)(b)に示すように、
三角印で示す測定値から丸印で示すデータとして更新さ
れる。
The data reading process in the CPU 11 is performed according to the processing procedure shown in the flowchart of FIG. When measuring the upper limit load, as shown in the figure, the peak value stored in the peak hold circuit 6 is read at each sampling time by setting the multiplexer 9 to the peak hold, and the multiplexer 9 is directly read.
No. Read data every sampling
To determine the maximum value of the data, and measure the maximum value as the upper limit load. Similarly, when measuring the lower limit load, the multiplexer 9 is set to valley hold, the valley value stored in the valley hold circuit 7 is read at each sampling time, and the multiplexer 9 is read directly to obtain the minimum value. Measure as the lower limit load. The load data obtained in this manner is, as shown in FIGS.
The measurement value indicated by the triangle is updated as data indicated by the circle.

【0008】上記実施例回路に対して、荷重のダイレク
ト値、ピークホールド値、バレーホールド値の測定に同
時性が必要な場合は、図4に示すように、マルチプレク
サの前にサンプルホールド回路16、17、18を設
け、図5のフローチャートに示す処理手順に従ってデー
タの読み込みを行えばよい。
When the direct value, peak hold value, and valley hold value of the load need to be measured simultaneously with respect to the circuit of the above embodiment, as shown in FIG. 17 and 18 may be provided, and data may be read in accordance with the processing procedure shown in the flowchart of FIG.

【0009】この材料試験機の荷重測定装置は、上記の
ようにサンプリングサイクル間の荷重データのピーク
値、バレー値を保持しながら、サンプリングタイム毎の
データと比較して荷重の変化を計測するので、荷重信号
に基づいて上限荷重、下限荷重を正確に測定することが
できる。
Since the load measuring device of the material testing machine measures the change in load by comparing the data at each sampling time while maintaining the peak value and valley value of the load data during the sampling cycle as described above. The upper limit load and the lower limit load can be accurately measured based on the load signal.

【0010】[0010]

【発明の効果】上記説明から明らかなように、本発明に
かかる材料試験機の荷重測定装置によれば、ピール強度
試験時において試料に対する上限荷重、下限荷重を正確
に測定することができるようになった。
As is apparent from the above description, according to the load measuring device of the material testing machine according to the present invention, the upper limit load and the lower limit load on the sample can be accurately measured at the time of the peel strength test. became.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例装置の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】実施例装置におけるデータ読み込み手順を示す
フローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating a data reading procedure in the embodiment device.

【図3】荷重データ読み込み時のデータの更新を説明す
る図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining updating of data when load data is read.

【図4】変形実施例の構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a modified example.

【図5】変形実施例におけるデータ読み込み手順を示す
フローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing a data reading procedure in a modified embodiment.

【図6】従来からの荷重測定を示す特性図である。FIG. 6 is a characteristic diagram showing a conventional load measurement.

【図7】従来からの荷重測定における問題点を説明する
図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a problem in a conventional load measurement.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 荷重測定装置 2 材料試験機 3 荷重検出器 6 ピークホールド回路 7 バレーホールド回路 11 CPU(比較演算処理回路) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Load measuring device 2 Material testing machine 3 Load detector 6 Peak hold circuit 7 Valley hold circuit 11 CPU (comparison processing circuit)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 荷重検出器からの荷重信号を所定のサン
プリングタイミングで読み取る読み取り手段と、該荷重
信号のピーク値とバレー値をそれぞれ記憶するピークホ
ールド回路およびバレーホールド回路と、該ピークホー
ルド回路およびバレーホールド回路に保持されたピーク
値、バレー値をサンプリングタイム毎に読み込んだのち
各ホールド回路をリセットすると共に、読み込んだデー
タの最大値、最小値を上限荷重、下限荷重として検出す
演算処理回路とを備えてなる材料試験機の荷重測定装
置。
A reading means for reading a load signal from a load detector at a predetermined sampling timing; a peak hold circuit and a valley hold circuit for respectively storing a peak value and a valley value of the load signal; An arithmetic processing circuit that reads the peak value and valley value held in the valley hold circuit at each sampling time, resets each hold circuit, and detects the maximum value and the minimum value of the read data as an upper limit load and a lower limit load. A load measuring device for a material testing machine comprising:
JP3122005A 1991-03-29 1991-03-29 Material testing machine load measuring device Expired - Lifetime JP2741723B2 (en)

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JP3122005A JP2741723B2 (en) 1991-03-29 1991-03-29 Material testing machine load measuring device

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JPH04303731A JPH04303731A (en) 1992-10-27
JP2741723B2 true JP2741723B2 (en) 1998-04-22

Family

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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FR2409205A2 (en) * 1977-11-17 1979-06-15 Est Imprimerie Papeterie DEAERATION VALVE FOR BAGGING PULVERULENT PRODUCTS

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JPH04303731A (en) 1992-10-27

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