JP2733432B2 - 高温ダイ用テーパゲージおよび高温ダイのリップクリアランス測定方法 - Google Patents
高温ダイ用テーパゲージおよび高温ダイのリップクリアランス測定方法Info
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Extrusion Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、高温に加熱された状態
で被成形物をフィルム状に押出成形する高温ダイのリッ
プクリアランスを測定するための高温ダイ用テーパゲー
ジおよびこの高温ダイ用テーパゲージを用いた高温ダイ
のリップクリアランス測定方法に関する。
で被成形物をフィルム状に押出成形する高温ダイのリッ
プクリアランスを測定するための高温ダイ用テーパゲー
ジおよびこの高温ダイ用テーパゲージを用いた高温ダイ
のリップクリアランス測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】プラスチック等をフィルム状に成形する
場合、これらプラスチック等の被成形物を溶融状態とす
る一方、溝状をなす隙間を介して対向する一対のリップ
部が下端に形成されたダイを１００〜４００℃に加熱
し、このダイ（高温ダイ）に充填された溶融状態の被成
形物を、リップ部の隙間から下方に向けフィルム状に押
出成形する方法が一般的である。
場合、これらプラスチック等の被成形物を溶融状態とす
る一方、溝状をなす隙間を介して対向する一対のリップ
部が下端に形成されたダイを１００〜４００℃に加熱
し、このダイ（高温ダイ）に充填された溶融状態の被成
形物を、リップ部の隙間から下方に向けフィルム状に押
出成形する方法が一般的である。
【０００３】ここで、成形されたフィルムの品質のう
ち、特に重要な要素としてフィルムの厚みが挙げられ
る。フィルムの厚みは、主としてリップ部の幅、すなわ
ちリップクリアランスにより決定されるが、このリップ
クリアランスは、高温ダイに充填された被成形物の内圧
により数１０〜数１００μｍの変動を生じ、かつ加熱に
伴う高温ダイの熱歪みにより数〜数１０μｍの変動を生
じる。
ち、特に重要な要素としてフィルムの厚みが挙げられ
る。フィルムの厚みは、主としてリップ部の幅、すなわ
ちリップクリアランスにより決定されるが、このリップ
クリアランスは、高温ダイに充填された被成形物の内圧
により数１０〜数１００μｍの変動を生じ、かつ加熱に
伴う高温ダイの熱歪みにより数〜数１０μｍの変動を生
じる。
【０００４】そこで、リップクリアランスを一定に維持
する目的で、高温ダイ用テーパゲージ（以下、ゲージと
略称する。）を用いてリップクリアランスを測定し、そ
の結果に基づき、リップクリアランスの変動分を修正し
ている。
する目的で、高温ダイ用テーパゲージ（以下、ゲージと
略称する。）を用いてリップクリアランスを測定し、そ
の結果に基づき、リップクリアランスの変動分を修正し
ている。
【０００５】図６および図７は、このゲージ１の形状の
例を示すものである。このゲージ１は、所定角で対向す
る２面を有する楔状体であって、その正面２には、前記
２面間の前記楔状体の長手方向と直交する向きの距離
が、その長手方向に沿って所定間隔で目盛られている。
図の場合、正面２には、前記２面間の前記楔状体の長手
方向と直交する向きの距離が、０．５ｍｍ〜２．５ｍｍ
まで、５０μｍ刻みで目盛られている。
例を示すものである。このゲージ１は、所定角で対向す
る２面を有する楔状体であって、その正面２には、前記
２面間の前記楔状体の長手方向と直交する向きの距離
が、その長手方向に沿って所定間隔で目盛られている。
図の場合、正面２には、前記２面間の前記楔状体の長手
方向と直交する向きの距離が、０．５ｍｍ〜２．５ｍｍ
まで、５０μｍ刻みで目盛られている。
【０００６】そして、ゲージ１を、前記２面が高温ダイ
のリップ部と平行となるよう下方からリップ部間の隙間
に挿入し、前記２面がそれぞれリップ部の下端縁に当接
した位置、すなわちゲージ１をそれ以上リップ部間の隙
間に挿入できなくなった位置で、リップ部との当接部位
におけるゲージ１の目盛りを読み取る。この数値がリッ
プクリアランスの測定値となる。
のリップ部と平行となるよう下方からリップ部間の隙間
に挿入し、前記２面がそれぞれリップ部の下端縁に当接
した位置、すなわちゲージ１をそれ以上リップ部間の隙
間に挿入できなくなった位置で、リップ部との当接部位
におけるゲージ１の目盛りを読み取る。この数値がリッ
プクリアランスの測定値となる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このゲージ１には、素
材として例えばＳＵＳ３０４等のステンレス焼入れ鋼が
用いられている。しかしながら、これらの素材は熱膨張
係数が２０×１０-6／℃程度と比較的大きいため、リッ
プクリアランスの測定中における高温ダイとの接触等に
よりゲージ１の温度が上昇すると、ゲージ１自身が膨張
してゲージ１の目盛りが不正確となり、リップクリアラ
ンスの測定精度が低下するという問題がある。しかも、
ゲージ１の熱膨張が大きいため目盛りを例えば５０μｍ
刻みと粗くせざるを得ず、その結果、読み取り誤差が大
きくなってリップクリアランスの測定精度が更に低下す
るという問題もある。
材として例えばＳＵＳ３０４等のステンレス焼入れ鋼が
用いられている。しかしながら、これらの素材は熱膨張
係数が２０×１０-6／℃程度と比較的大きいため、リッ
プクリアランスの測定中における高温ダイとの接触等に
よりゲージ１の温度が上昇すると、ゲージ１自身が膨張
してゲージ１の目盛りが不正確となり、リップクリアラ
ンスの測定精度が低下するという問題がある。しかも、
ゲージ１の熱膨張が大きいため目盛りを例えば５０μｍ
刻みと粗くせざるを得ず、その結果、読み取り誤差が大
きくなってリップクリアランスの測定精度が更に低下す
るという問題もある。
【０００８】また、押出成形中におけるリップクリアラ
ンスの変動のうち、加熱に伴う高温ダイの熱歪みによる
変動は測定可能であるものの、高温ダイに充填された被
成形物の内圧によるリップクリアランスの変動は、リッ
プ部から下方に向けフィルム状に押出成形された被成形
物の存在が邪魔となり、かつこの被成形物が高温で危険
なため測定することができない。すなわち、実際に被成
形物を押出成形中におけるリップクリアランスを高精度
で測定することは、上記従来のゲージ１およびこのゲー
ジ１を用いたリップクリアランス測定方法では事実上不
可能となっている。
ンスの変動のうち、加熱に伴う高温ダイの熱歪みによる
変動は測定可能であるものの、高温ダイに充填された被
成形物の内圧によるリップクリアランスの変動は、リッ
プ部から下方に向けフィルム状に押出成形された被成形
物の存在が邪魔となり、かつこの被成形物が高温で危険
なため測定することができない。すなわち、実際に被成
形物を押出成形中におけるリップクリアランスを高精度
で測定することは、上記従来のゲージ１およびこのゲー
ジ１を用いたリップクリアランス測定方法では事実上不
可能となっている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記事情に鑑
みてなされたもので、所定角で対向する２面を有する楔
状体であって、前記２面間の前記楔状体の長手方向と直
交する向きの距離が、前記２面のうち少なくとも一方の
面に、その長手方向に沿って所定間隔で目盛られてお
り、特に、その材質が、熱膨張係数が４×１０-6／℃以
下の金属であることを特徴とするゲージおよびこのゲー
ジを用いた高温ダイのリップクリアランス測定方法であ
る。
みてなされたもので、所定角で対向する２面を有する楔
状体であって、前記２面間の前記楔状体の長手方向と直
交する向きの距離が、前記２面のうち少なくとも一方の
面に、その長手方向に沿って所定間隔で目盛られてお
り、特に、その材質が、熱膨張係数が４×１０-6／℃以
下の金属であることを特徴とするゲージおよびこのゲー
ジを用いた高温ダイのリップクリアランス測定方法であ
る。
【００１０】また、本発明に係る高温ダイのリップクリ
アランス測定方法は、上方に凸なる半筒状をなし、かつ
その最上端部に、その軸方向と直交する向きの幅が可変
式とされた溝状の空隙が前記軸方向に沿って延設された
カバーを有する治具を用意し、前記ゲージを、前記２面
の両端を前記空隙を介して対向する前記カバーの端縁に
それぞれ当接させた状態で前記空隙から上方に突出さ
せ、更に、前記空隙から上方に突出した前記高温ダイ用
テーパゲージを、前記２面がそれぞれ高温ダイのリップ
部の下端縁に当接するまで前記リップ部間の隙間に挿入
し、前記リップ部との当接部位における前記高温ダイ用
テーパゲージの目盛りを測定することをその特徴として
いる。
アランス測定方法は、上方に凸なる半筒状をなし、かつ
その最上端部に、その軸方向と直交する向きの幅が可変
式とされた溝状の空隙が前記軸方向に沿って延設された
カバーを有する治具を用意し、前記ゲージを、前記２面
の両端を前記空隙を介して対向する前記カバーの端縁に
それぞれ当接させた状態で前記空隙から上方に突出さ
せ、更に、前記空隙から上方に突出した前記高温ダイ用
テーパゲージを、前記２面がそれぞれ高温ダイのリップ
部の下端縁に当接するまで前記リップ部間の隙間に挿入
し、前記リップ部との当接部位における前記高温ダイ用
テーパゲージの目盛りを測定することをその特徴として
いる。
【００１１】
【作用】本発明のゲージは、その材質に、熱膨張係数が
４×１０-6／℃以下である金属が用いられているため、
リップクリアランスの測定中における高温ダイとの接触
等によりゲージの温度が上昇した場合でも、ゲージの熱
膨張が殆ど無視できる程度に抑制される。従って、ゲー
ジの温度上昇に伴い生じるゲージの目盛りの誤差が小さ
くなり、リップクリアランスの測定精度が向上する。更
に、ゲージの熱膨張が小さくなるため目盛りを細かくす
ることが可能で、その結果、目盛りの読み取り誤差が低
下する。
４×１０-6／℃以下である金属が用いられているため、
リップクリアランスの測定中における高温ダイとの接触
等によりゲージの温度が上昇した場合でも、ゲージの熱
膨張が殆ど無視できる程度に抑制される。従って、ゲー
ジの温度上昇に伴い生じるゲージの目盛りの誤差が小さ
くなり、リップクリアランスの測定精度が向上する。更
に、ゲージの熱膨張が小さくなるため目盛りを細かくす
ることが可能で、その結果、目盛りの読み取り誤差が低
下する。
【００１２】また、本発明に係る高温ダイのリップクリ
アランス測定方法は、上方に凸なる半筒状をなす治具の
上端に形成された空隙から、前記ゲージを、その所定角
で対向する２面の両端をカバーの端縁と当接させた状態
で上方に突出し、この上方に突出した部分を用いてリッ
プクリアランスを測定するものである。従って、被成形
物を押出成形中の高温ダイに対しても、そのリップ部か
ら下方にフィルム状に押出成形された溶融状態の被成形
物を前記治具およびゲージにより排除しつつ、リップク
リアランスの測定を行うことができる。
アランス測定方法は、上方に凸なる半筒状をなす治具の
上端に形成された空隙から、前記ゲージを、その所定角
で対向する２面の両端をカバーの端縁と当接させた状態
で上方に突出し、この上方に突出した部分を用いてリッ
プクリアランスを測定するものである。従って、被成形
物を押出成形中の高温ダイに対しても、そのリップ部か
ら下方にフィルム状に押出成形された溶融状態の被成形
物を前記治具およびゲージにより排除しつつ、リップク
リアランスの測定を行うことができる。
【００１３】
【実施例】以下、図面に基づき、本発明の実施例につい
て更に詳しく説明する。本発明に係るゲージ１０は、例
えば図１および図２に示すような、所定角で対向する２
面を有する楔状体で、その正面１１には、前記２面間の
前記楔状体の長手方向と直交する向きの距離が、その長
手方向に沿って所定間隔で目盛られている。図の場合、
正面１１には、前記２面間の前記楔状体の長手方向と直
交する向きの距離が、０．６ｍｍ〜０．８５ｍｍまで、
１０μｍ刻みで目盛られている。また、ゲージ１０の基
端部には、厚さ５ｍｍ程度の支持部１２が形成されてい
る。
て更に詳しく説明する。本発明に係るゲージ１０は、例
えば図１および図２に示すような、所定角で対向する２
面を有する楔状体で、その正面１１には、前記２面間の
前記楔状体の長手方向と直交する向きの距離が、その長
手方向に沿って所定間隔で目盛られている。図の場合、
正面１１には、前記２面間の前記楔状体の長手方向と直
交する向きの距離が、０．６ｍｍ〜０．８５ｍｍまで、
１０μｍ刻みで目盛られている。また、ゲージ１０の基
端部には、厚さ５ｍｍ程度の支持部１２が形成されてい
る。
【００１４】ここで、ゲージ１０には、素材として熱膨
張係数が４×１０-6／℃以下である金属が用いられてい
る。これは、熱膨張係数が４×１０-6／℃以下に維持さ
れれば、ゲージ１０を用いて測定したリップクリアラン
スの誤差が実用状殆ど無視できる程度に抑制されるため
である。本実施例の場合、ゲージ１０の素材としては、
ＪＩＳ Ｊ−５５１１記載の、ＦＣＤＬＥ３規格の鉄−
ニッケル合金（熱膨張係数：２〜４×１０-6／℃）が用
いられている。
張係数が４×１０-6／℃以下である金属が用いられてい
る。これは、熱膨張係数が４×１０-6／℃以下に維持さ
れれば、ゲージ１０を用いて測定したリップクリアラン
スの誤差が実用状殆ど無視できる程度に抑制されるため
である。本実施例の場合、ゲージ１０の素材としては、
ＪＩＳ Ｊ−５５１１記載の、ＦＣＤＬＥ３規格の鉄−
ニッケル合金（熱膨張係数：２〜４×１０-6／℃）が用
いられている。
【００１５】次いで、本発明のゲージ１０を用いたリッ
プクリアランスの測定方法について、特に、１００〜４
００℃に加熱された状態で被成形物をフィルム状に押出
成形中の高温ダイのリップクリアランスを測定する場合
を例として、以下に説明する。
プクリアランスの測定方法について、特に、１００〜４
００℃に加熱された状態で被成形物をフィルム状に押出
成形中の高温ダイのリップクリアランスを測定する場合
を例として、以下に説明する。
【００１６】被成形物をフィルム状に押出成形中の高温
ダイのリップクリアランスを測定する場合には、例えば
図３および図４に示すような治具１３を用いる。このう
ち、符号１４は、上方に凸なる半筒状をなすカバーで、
カバー１４の最上端には、溝状をなす空隙Ｓがカバー１
４の軸方向に沿って延設されている。また、カバー１４
は、その下端部にて、カバー１４の軸と直交するバー１
５に、バー１５の軸に沿って移動自在に軸支され、その
結果、空隙Ｓの、カバー１４の軸と直交する向きの幅Ｈ
は可変式となっている。
ダイのリップクリアランスを測定する場合には、例えば
図３および図４に示すような治具１３を用いる。このう
ち、符号１４は、上方に凸なる半筒状をなすカバーで、
カバー１４の最上端には、溝状をなす空隙Ｓがカバー１
４の軸方向に沿って延設されている。また、カバー１４
は、その下端部にて、カバー１４の軸と直交するバー１
５に、バー１５の軸に沿って移動自在に軸支され、その
結果、空隙Ｓの、カバー１４の軸と直交する向きの幅Ｈ
は可変式となっている。
【００１７】リップクリアランスを測定する場合には、
まず、ゲージ１０の所定角で対向する２面の両端が空隙
Ｓを介して対向するカバー１４の端縁とそれぞれ当接す
るよう空隙Ｓの幅Ｈを調節し、その状態でゲージ１０の
先端部を空隙Ｓから上方に突出させる。次いで、一方の
手でバー１５を、他方の手で支持部１２を持ち、図５に
示すように、被成形物Ｆをフィルム状に押出成形中の高
温ダイ１６の下方から、カバー１４の上端を高温ダイ１
６のリップ部の下端縁１６ａに押し付ける。
まず、ゲージ１０の所定角で対向する２面の両端が空隙
Ｓを介して対向するカバー１４の端縁とそれぞれ当接す
るよう空隙Ｓの幅Ｈを調節し、その状態でゲージ１０の
先端部を空隙Ｓから上方に突出させる。次いで、一方の
手でバー１５を、他方の手で支持部１２を持ち、図５に
示すように、被成形物Ｆをフィルム状に押出成形中の高
温ダイ１６の下方から、カバー１４の上端を高温ダイ１
６のリップ部の下端縁１６ａに押し付ける。
【００１８】更に、ゲージ１０の先端部を、前記２面が
それぞれ前記リップ部の下端縁１６ａに当接するまで前
記リップ部間の隙間に挿入し、前記リップ部の下端縁１
６ａとの当接部位Ｐにおけるゲージ１０の目盛りを測定
する。この値がすなわち被成形物Ｈをフィルム状に押出
成形中の高温ダイ１６のリップクリアランスに相当す
る。
それぞれ前記リップ部の下端縁１６ａに当接するまで前
記リップ部間の隙間に挿入し、前記リップ部の下端縁１
６ａとの当接部位Ｐにおけるゲージ１０の目盛りを測定
する。この値がすなわち被成形物Ｈをフィルム状に押出
成形中の高温ダイ１６のリップクリアランスに相当す
る。
【００１９】ここで、本発明のゲージ１０には、その材
質に、熱膨張係数が４×１０-6／℃以下である金属が用
いられているため、リップクリアランスの測定中、高温
ダイ１６と接触してゲージ１０の温度が上昇した場合で
も、ゲージ１０の熱膨張が殆ど無視できる程度に抑制さ
れる。従って、ゲージ１０の温度上昇に伴い生じるゲー
ジ１０の目盛りの誤差が小さくなり、リップクリアラン
スの測定精度が向上する。更に、ゲージ１０の熱膨張が
小さくなるため、ゲージ１０の目盛りを従来のゲージ１
に対して１／５程度にまで細かくすることが可能で、そ
の結果、目盛りの読み取り誤差が低下する。
質に、熱膨張係数が４×１０-6／℃以下である金属が用
いられているため、リップクリアランスの測定中、高温
ダイ１６と接触してゲージ１０の温度が上昇した場合で
も、ゲージ１０の熱膨張が殆ど無視できる程度に抑制さ
れる。従って、ゲージ１０の温度上昇に伴い生じるゲー
ジ１０の目盛りの誤差が小さくなり、リップクリアラン
スの測定精度が向上する。更に、ゲージ１０の熱膨張が
小さくなるため、ゲージ１０の目盛りを従来のゲージ１
に対して１／５程度にまで細かくすることが可能で、そ
の結果、目盛りの読み取り誤差が低下する。
【００２０】また、本発明に係る高温ダイ１６のリップ
クリアランス測定方法は、ゲージ１０を、その所定角で
対向する２面の両端が空隙Ｓを介して対向するカバー１
４の端縁とそれぞれ当接させつつ空隙Ｓから上方に突出
させ、この上方に突出した部分を用いて前記リップ部間
の隙間を塞ぎつつリップクリアランスを測定するもので
ある。
クリアランス測定方法は、ゲージ１０を、その所定角で
対向する２面の両端が空隙Ｓを介して対向するカバー１
４の端縁とそれぞれ当接させつつ空隙Ｓから上方に突出
させ、この上方に突出した部分を用いて前記リップ部間
の隙間を塞ぎつつリップクリアランスを測定するもので
ある。
【００２１】従って、前記リップ部から下方にフィルム
状に押出成形された溶融状態の被成形物Ｈは、治具１３
およびゲージ１０により治具１３の外方に排除され、そ
の結果、リップクリアランスの測定中、被成形物Ｈがゲ
ージ１０の目盛りを読み取る際の邪魔となったり、測定
者の手にかかったりすることはない。すなわち、本発明
に係る高温ダイ１６のリップクリアランス測定方法によ
れば、被成形物Ｈを押出成形中の高温ダイ１６に対して
も、安全にリップクリアランスの測定を行うことができ
る。
状に押出成形された溶融状態の被成形物Ｈは、治具１３
およびゲージ１０により治具１３の外方に排除され、そ
の結果、リップクリアランスの測定中、被成形物Ｈがゲ
ージ１０の目盛りを読み取る際の邪魔となったり、測定
者の手にかかったりすることはない。すなわち、本発明
に係る高温ダイ１６のリップクリアランス測定方法によ
れば、被成形物Ｈを押出成形中の高温ダイ１６に対して
も、安全にリップクリアランスの測定を行うことができ
る。
【００２２】なお、被成形物Ｈの押出成形を行っていな
い高温ダイ１６のリップクリアランスを測定する場合に
は、治具１３は不要である。この場合、単にゲージ１０
を、前記２面がそれぞれ前記リップ部の下端縁１６ａに
当接するまで下方から前記リップ部に挿入し、下端縁１
６ａとの当接部位Ｐにおけるゲージ１０の目盛りを測定
する。
い高温ダイ１６のリップクリアランスを測定する場合に
は、治具１３は不要である。この場合、単にゲージ１０
を、前記２面がそれぞれ前記リップ部の下端縁１６ａに
当接するまで下方から前記リップ部に挿入し、下端縁１
６ａとの当接部位Ｐにおけるゲージ１０の目盛りを測定
する。
【００２３】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明に係るゲージ
およびこのゲージを用いた高温ダイのリップクリアラン
ス測定方法によれば、実際に被成形物を押出成形中の高
温ダイのリップクリアランスを高精度で測定することが
可能となる。
およびこのゲージを用いた高温ダイのリップクリアラン
ス測定方法によれば、実際に被成形物を押出成形中の高
温ダイのリップクリアランスを高精度で測定することが
可能となる。
【図１】本発明に係るゲージの形状の例を示す矢印Ｉに
沿った正面図である。
沿った正面図である。
【図２】本発明に係るゲージの形状の例を示す矢印ＩＩ
に沿った側面図である。
に沿った側面図である。
【図３】本発明に係る高温ダイのリップクリアランス測
定に使用される治具の構造の例を示す矢印ＩＩＩに沿っ
た側面図である。
定に使用される治具の構造の例を示す矢印ＩＩＩに沿っ
た側面図である。
【図４】本発明に係る高温ダイのリップクリアランス測
定に使用される治具の構造の例を示す矢印ＩＶに沿った
上面図である。
定に使用される治具の構造の例を示す矢印ＩＶに沿った
上面図である。
【図５】本発明に係る高温ダイのリップクリアランス測
定方法によるリップクリアランスの測定状況を示す図で
ある。
定方法によるリップクリアランスの測定状況を示す図で
ある。
【図６】従来のゲージの形状の例を示す矢印ＶＩに沿っ
た正面図である。
た正面図である。
【図７】従来のゲージの形状の例を示す矢印ＶＩＩに沿
った側面図である。
った側面図である。
１，１０ ゲージ（高温ダイ用テーパゲージ） ２，１１ 正面 １２ 支持部 １３ 治具 １４ カバー １５ バー １６ 高温ダイ １６ａ 高温ダイの下端縁 Ｆ 被成形物 Ｈ 空隙の幅 Ｓ 空隙 Ｐ ゲージとリップ部の下端縁との当接部位
Claims (3)
- 【請求項１】 所定角で対向する２面を有する楔状体を
なし、前記２面間の前記楔状体の長手方向と直交する向
きの距離が、前記２面のうち少なくとも一方の面に、そ
の長手方向に沿って所定間隔で目盛られている高温ダイ
用テーパゲージであって、その材質が、熱膨張係数が４
×１０-6／℃以下の金属であることを特徴とする高温ダ
イ用テーパゲージ。 - 【請求項２】 前記金属が鉄−ニッケル合金であること
を特徴とする請求項１記載の高温ダイ用テーパゲージ。 - 【請求項３】 １００〜４００℃に加熱された状態で被
成形物を、所定幅の隙間を介して対向する一対のリップ
部から下方に向けフィルム状に押出成形する高温ダイの
リップクリアランス測定方法であって、上方に凸なる半
筒状をなし、かつその最上端部に、その軸方向と直交す
る向きの幅が可変式とされた溝状の空隙が前記軸方向に
沿って延設されたカバーを有する治具を用意し、 前記空隙から、所定角で対向する２面を有する楔状体を
なし、前記２面間の前記楔状体の長手方向と直交する向
きの距離が、前記２面のうち少なくとも一方の面に、そ
の長手方向に沿って所定間隔で目盛られている高温ダイ
用テーパゲージを、前記２面の両端を前記空隙を介して
対向する前記カバーの端縁にそれぞれ当接させた状態で
前記空隙から上方に突出させ、更に、前記空隙から上方
に突出した前記高温ダイ用テーパゲージを、前記２面が
前記一対のリップ部の下端縁にそれぞれ当接するまで前
記隙間に挿入し、前記リップ部との当接部位における前
記高温ダイ用テーパゲージの目盛りを測定することを特
徴とする高温ダイのリップクリアランス測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5240113A JP2733432B2 (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 高温ダイ用テーパゲージおよび高温ダイのリップクリアランス測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5240113A JP2733432B2 (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 高温ダイ用テーパゲージおよび高温ダイのリップクリアランス測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0788935A JPH0788935A (ja) | 1995-04-04 |
| JP2733432B2 true JP2733432B2 (ja) | 1998-03-30 |
Family
ID=17054687
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5240113A Expired - Fee Related JP2733432B2 (ja) | 1993-09-27 | 1993-09-27 | 高温ダイ用テーパゲージおよび高温ダイのリップクリアランス測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2733432B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6990024B2 (ja) * | 2016-12-22 | 2022-01-12 | 株式会社ミツトヨ | 線膨張係数測定方法および測定装置 |
-
1993
- 1993-09-27 JP JP5240113A patent/JP2733432B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0788935A (ja) | 1995-04-04 |
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