JP2727320B2 - 促進耐光試験機用試料ホルダー - Google Patents
促進耐光試験機用試料ホルダーInfo
- Publication number
- JP2727320B2 JP2727320B2 JP63054492A JP5449288A JP2727320B2 JP 2727320 B2 JP2727320 B2 JP 2727320B2 JP 63054492 A JP63054492 A JP 63054492A JP 5449288 A JP5449288 A JP 5449288A JP 2727320 B2 JP2727320 B2 JP 2727320B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light
- sample holder
- resistance tester
- light resistance
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- Expired - Lifetime
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- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、各種工業材料や製品の劣化を人工的に促進
再現する促進耐光試験機の試料ホルダーに関する。
再現する促進耐光試験機の試料ホルダーに関する。
第３図は各界で広く使用されているJIS規格に基づい
た促進耐光用試験機の要部であり、第４図はこれに使用
されている試料ホルダーの１例である。
た促進耐光用試験機の要部であり、第４図はこれに使用
されている試料ホルダーの１例である。
従来、資料面における受光エネルギーを増強するため
に、上記の促進耐光試験機を基にして、「光源に試料を
近づける」或いは、「光源自体をより強力なものとす
る」といった装置が提供されてきた。
に、上記の促進耐光試験機を基にして、「光源に試料を
近づける」或いは、「光源自体をより強力なものとす
る」といった装置が提供されてきた。
また、特定の波長の光を照射して、試料の特定波長域
での劣化を調べる装置として、上記促進耐光試験機を基
にして、「光源自体の波長特性と各種透過率のフィルタ
との組合せ」による装置が、さらに、上記促進耐光試験
機は別として、「光源からの光を分光して、特定の波長
域の光を照射する」装置が提供されてきた。
での劣化を調べる装置として、上記促進耐光試験機を基
にして、「光源自体の波長特性と各種透過率のフィルタ
との組合せ」による装置が、さらに、上記促進耐光試験
機は別として、「光源からの光を分光して、特定の波長
域の光を照射する」装置が提供されてきた。
前述の様に、試料面における受光エネルギーを増強さ
せる装置として、「光源に試料を近づけた装置」は、具
体的には、第３回において、光源（１）に対し、試料枠
（５）を近付けて配設し、この試料枠に試料ホルダー
（３）を取付けた構造であり、「光源自体をより強力に
した装置」は、第３図において、光源（１）の数を増加
させる構造や、光源（１）の容量（例えばキセノン放電
灯、水銀灯などではその容量）を増大した構造の装置が
用いられてきた。
せる装置として、「光源に試料を近づけた装置」は、具
体的には、第３回において、光源（１）に対し、試料枠
（５）を近付けて配設し、この試料枠に試料ホルダー
（３）を取付けた構造であり、「光源自体をより強力に
した装置」は、第３図において、光源（１）の数を増加
させる構造や、光源（１）の容量（例えばキセノン放電
灯、水銀灯などではその容量）を増大した構造の装置が
用いられてきた。
しかしながら、これら装置は、各界で広く使用されて
いるJIS規格等に基づいた促進耐光試験機をそのままで
は使用できず、大幅な改造或いは新規の装置となり、非
常に高額な対価を支払わなければならないし、また、試
料の中のあるものはJIS規格等の試験を行ないながら同
時に他の試料には増強されたエネルギーを照射するとい
ったことが不可能であった。
いるJIS規格等に基づいた促進耐光試験機をそのままで
は使用できず、大幅な改造或いは新規の装置となり、非
常に高額な対価を支払わなければならないし、また、試
料の中のあるものはJIS規格等の試験を行ないながら同
時に他の試料には増強されたエネルギーを照射するとい
ったことが不可能であった。
また、特定の波長の光を照射して試料の特定波長域で
の劣化を調べる装置は、第３図において、「光源（１）
自体の波長特性と各種透過率のフィルタ（２）とを組合
せる構造」となるが、波長特性の異る光源を選択取替可
能とするには、高額の対価を支払わなければならい。ま
た、光源とフィルタとの組合せは１通りであり、各種波
長域の試験を同時に行うことは不可能である。
の劣化を調べる装置は、第３図において、「光源（１）
自体の波長特性と各種透過率のフィルタ（２）とを組合
せる構造」となるが、波長特性の異る光源を選択取替可
能とするには、高額の対価を支払わなければならい。ま
た、光源とフィルタとの組合せは１通りであり、各種波
長域の試験を同時に行うことは不可能である。
「光源からの光を分光して特定の波長の光を照射する
装置」は、具体的には「分光照射装置」（特願昭62−19
3033）があるが、装置自体を全く新たに設備しなくては
ならないし、１回に測定できる試料も１〜２点と限定さ
れる。また、構造上、各波長ごとの照射面積が小さく、
試験結果の評価がむづかしい。
装置」は、具体的には「分光照射装置」（特願昭62−19
3033）があるが、装置自体を全く新たに設備しなくては
ならないし、１回に測定できる試料も１〜２点と限定さ
れる。また、構造上、各波長ごとの照射面積が小さく、
試験結果の評価がむづかしい。
従って、上記の様な課題を解決するために、各界で広
く使用されているJIS規格等に基づく促進耐光試験機に
簡単に装着でき、試料面における受光エネルギーを増強
可能とすると共に、各種透過率のフィルタを選択取付可
能とし、一般の試料ホルダを用いてJIS規格等に基づく
試料を行うと同時に、試料面における受光エネルギーを
増強した試験や、特定の波長域での劣化が調べられる装
置の開発が強く望まれていた。
く使用されているJIS規格等に基づく促進耐光試験機に
簡単に装着でき、試料面における受光エネルギーを増強
可能とすると共に、各種透過率のフィルタを選択取付可
能とし、一般の試料ホルダを用いてJIS規格等に基づく
試料を行うと同時に、試料面における受光エネルギーを
増強した試験や、特定の波長域での劣化が調べられる装
置の開発が強く望まれていた。
本発明は、上記要望に応えるためになされたものであ
り、試料面における受光エネルギーを増強するために、
光源からの光を集光するレンズと、特定の波長の光を照
射するために、各種透過率のフィルタを選択取付可能の
枠とを装備した構造としたものである。
り、試料面における受光エネルギーを増強するために、
光源からの光を集光するレンズと、特定の波長の光を照
射するために、各種透過率のフィルタを選択取付可能の
枠とを装備した構造としたものである。
この様に構成された本発明の装置において、「試料面
が受光するエネルギーは光源からの距離の２乗に反比例
する」ため、例えば単純に、光源から試料面までの距離
（ｌ）の中心に、この距離の1/4の焦点距離（ｆ）の集
光レンズを介した場合の試料面における受光エネルギー
は、集光レンズを介さない場合の４倍となる。またこの
時、試料の前方に各種透過率を持ったフィルタを選択取
付けると、増強された特定波長域の光が照射される。た
だし、試料面の受光域は減少し、受光域の照射面積は1/
4となるが、測色及び光沢等の測定による評価は充分な
大きさである。
が受光するエネルギーは光源からの距離の２乗に反比例
する」ため、例えば単純に、光源から試料面までの距離
（ｌ）の中心に、この距離の1/4の焦点距離（ｆ）の集
光レンズを介した場合の試料面における受光エネルギー
は、集光レンズを介さない場合の４倍となる。またこの
時、試料の前方に各種透過率を持ったフィルタを選択取
付けると、増強された特定波長域の光が照射される。た
だし、試料面の受光域は減少し、受光域の照射面積は1/
4となるが、測色及び光沢等の測定による評価は充分な
大きさである。
本発明実施例を図面に基づいて説明する。第１図、第
２図は本発明の実施例を示している。
２図は本発明の実施例を示している。
第１図において、本発明の試料ホルダーは、試料取付
具及び試料照射開孔部を有したホルダー基板（10）にフ
ィルタ挿入孔（11）を備えたフィルタ取付枠（12）を固
着し、該フィルタ取付枠（12）に集光レンズ（14）を取
付固定する鏡胴（13）を固着し、該鏡胴（13）に集光レ
ンズ（14）がその焦点距離に応じて最適の位置に固定さ
れている構造となっている。また各種透過率のフィルタ
（16）は、必要に応じて該フィルタ挿入孔（11）に挿入
する。
具及び試料照射開孔部を有したホルダー基板（10）にフ
ィルタ挿入孔（11）を備えたフィルタ取付枠（12）を固
着し、該フィルタ取付枠（12）に集光レンズ（14）を取
付固定する鏡胴（13）を固着し、該鏡胴（13）に集光レ
ンズ（14）がその焦点距離に応じて最適の位置に固定さ
れている構造となっている。また各種透過率のフィルタ
（16）は、必要に応じて該フィルタ挿入孔（11）に挿入
する。
ここで、第２図の様に第１図における鏡胴（13）は必
要なく、集光レンズを正確に固定できる固定具（17）で
あればよい。また、図示はしないが、フィルタ取付枠
（12、12′）は、各種透過率のフィルタを取付可能なも
のであればよく、フィルタを複数枚取付可能としてもよ
いし、フィルタ枠の取付位置は限定されない。尚、集光
レンズ（14）の材質としては、石英レンズ等紫外部をよ
く透過するものが望ましい。また、１つのホルダー基板
に、上記の様な構成の集光レンズ、鏡胴（又は固定
具）、フィルタ取付枠を複数個取付け、１つの試料ホル
ダーで複数の試料を試験できる構造としてもよい。
要なく、集光レンズを正確に固定できる固定具（17）で
あればよい。また、図示はしないが、フィルタ取付枠
（12、12′）は、各種透過率のフィルタを取付可能なも
のであればよく、フィルタを複数枚取付可能としてもよ
いし、フィルタ枠の取付位置は限定されない。尚、集光
レンズ（14）の材質としては、石英レンズ等紫外部をよ
く透過するものが望ましい。また、１つのホルダー基板
に、上記の様な構成の集光レンズ、鏡胴（又は固定
具）、フィルタ取付枠を複数個取付け、１つの試料ホル
ダーで複数の試料を試験できる構造としてもよい。
表１は、本発明における試料ホルダーと一般に使用さ
れている試料ホルダーにそれぞれ光量試験紙（LSP）を
取付け、JIS規格等に基づく促進耐光試験機で同時に試
験した時の反射率Ｙ％の比較である。
れている試料ホルダーにそれぞれ光量試験紙（LSP）を
取付け、JIS規格等に基づく促進耐光試験機で同時に試
験した時の反射率Ｙ％の比較である。
上記実施例のデータ（表１）より、本発明の試料ホル
ダーで、３時間試験した時のＹ％（23.8）は、一般に使
用されている試料ホルダーで12時間試験した時のＹ％
（21.0）より促進されており、４倍強の促進効果がわか
る。
ダーで、３時間試験した時のＹ％（23.8）は、一般に使
用されている試料ホルダーで12時間試験した時のＹ％
（21.0）より促進されており、４倍強の促進効果がわか
る。
本発明は以上の様に構成されることにより、各界で広
く使用されているJIS規格等の促進耐光試験機に簡単に
装置でき、新規設備の導入、大幅な改造も必要もなく、
大いに経済的である。また、前記実施例表１で示したよ
うに、試料面における受光エネルギーも大幅に増強され
ており、各種透過率のフィルタの選択取付も用意であ
る。
く使用されているJIS規格等の促進耐光試験機に簡単に
装置でき、新規設備の導入、大幅な改造も必要もなく、
大いに経済的である。また、前記実施例表１で示したよ
うに、試料面における受光エネルギーも大幅に増強され
ており、各種透過率のフィルタの選択取付も用意であ
る。
従って、１台の促進耐光試験機で、一般の試料ホルダ
ー（３′）等を用いてJIS規格等の試験を行うのと同時
に、試料面における受光エネルギーを増強した増合の試
験、特定の波長域の照射による試料の劣化形態及び吸収
劣化波長域を容易に解明でき、試験の多様化に応えら
れ、かつ経済的な装置として極めて貢献度の高いものと
言える。
ー（３′）等を用いてJIS規格等の試験を行うのと同時
に、試料面における受光エネルギーを増強した増合の試
験、特定の波長域の照射による試料の劣化形態及び吸収
劣化波長域を容易に解明でき、試験の多様化に応えら
れ、かつ経済的な装置として極めて貢献度の高いものと
言える。
第１図、第２図は、本発明の実施例を示す斜視図、第３
図はJIS規格に基づく促進耐光試験機の要部図、第４図
は第３図の促進試験機等に用いられる一般的な試料ホル
ダー図。 １……光源 ２……フィルタ ３、３′……試料ホルダー ４、４′、15、15′……試料 ５……試料枠 ９……試料ホルダー 10、10′……ホルダー基板 11……フィルタ挿入孔 12……フィルタ取付枠 13……鏡胴 14、14′……集光レンズ 16……フィルタ 17……固定具
図はJIS規格に基づく促進耐光試験機の要部図、第４図
は第３図の促進試験機等に用いられる一般的な試料ホル
ダー図。 １……光源 ２……フィルタ ３、３′……試料ホルダー ４、４′、15、15′……試料 ５……試料枠 ９……試料ホルダー 10、10′……ホルダー基板 11……フィルタ挿入孔 12……フィルタ取付枠 13……鏡胴 14、14′……集光レンズ 16……フィルタ 17……固定具
Claims (1)
- 【請求項１】試料取付具及び試料照射開孔部を有するホ
ルダー基板に、波長選択性フィルターの挿入孔を備えた
フィルタ取付枠と集光レンズを取付固定する鏡胴とから
なる試料ホルダーを固定配置したことを特徴とする促進
耐光試験機用の試料ホルダー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63054492A JP2727320B2 (ja) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | 促進耐光試験機用試料ホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63054492A JP2727320B2 (ja) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | 促進耐光試験機用試料ホルダー |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01227944A JPH01227944A (ja) | 1989-09-12 |
| JP2727320B2 true JP2727320B2 (ja) | 1998-03-11 |
Family
ID=12972139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63054492A Expired - Lifetime JP2727320B2 (ja) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | 促進耐光試験機用試料ホルダー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2727320B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4523992Y1 (ja) * | 1965-10-30 | 1970-09-21 | ||
| JPS6183947A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-04-28 | Jeol Ltd | 高分子材料の劣化評価方法 |
-
1988
- 1988-03-08 JP JP63054492A patent/JP2727320B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01227944A (ja) | 1989-09-12 |
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Legal Events
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