JPH01227944A - 促進耐光試験機用試料ホルダー - Google Patents
促進耐光試験機用試料ホルダーInfo
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- JPH01227944A JPH01227944A JP5449288A JP5449288A JPH01227944A JP H01227944 A JPH01227944 A JP H01227944A JP 5449288 A JP5449288 A JP 5449288A JP 5449288 A JP5449288 A JP 5449288A JP H01227944 A JPH01227944 A JP H01227944A
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Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野〕
本発明は、各種工業材料や製品の劣化を人工的に促進再
現する促進両光試験機の試料ホルダーに関する。 〔従来の技術〕 第3図は各界で広く使用されているJIS規格にミし 基づいた促進耐用試験機の要部であり、第4図はこれに
使用されている試料ホルダーの1例である。 従来、資料面における受光エネルギーを増強するために
、」−謁の促進両光試験機を基にして、「光源に:it
享1を近づける」或いは、「光源自体をより強力なも
のとする」といった装置が提供され□、・″てきた。 また、特定の波長の光を照射して、試料の特定波長域で
の劣化を調べる装置として、」−記促進耐光試験機を基
にして、「光源自体の波長特性と各種透過率のフィルタ
との組合せ」による装置が、さらに、上記促進両光試験
機は別として、「光源からの光を分光して、特定の波長
域の光を照射する」装置が提供されてきた。 〔発明が解決しようとする課題〕 前述の様に、試料面における受光エネルギーを増強させ
る装置として、「光源に試料を近づけた装置ゴは、具体
的には、第3[iilにおいて、光源(1)に対し、試
料枠(5)を近付けて配設し、この試料枠に試料ホルダ
ー(3)を取付た構造であり、「光源自体をより強力に
した装置」は、第3図において、光;R(1)の数を増
加させる構造や、光源(1)の容量(例えばキセノン放
電灯、水銀灯などではその8二)を増大した構造の装置
が用いられてきた。 しかしながら、これら装置は、各界で広く使用されてい
るJIS規格等に基づいた促進両光試験機をそのままで
は使用できず、大幅な改造成いは新規の装置となり、非
常に高額な対価を支払わなければならないし、また、試
料の中のあるものはJIS規格等の試験を行ないながら
同時に他の試料には増強されたエネルギーを照射すると
いったことが不可能であった。 また、特定の波長の光を照射して試料の特定波長域での
劣化を調べる装置は、第3図において、[光源(1)自
体の波長特性と各種透過率のフィルタ(2)とを組合せ
る構造」となるが、波長特性の異る光源を選択取替可能
とするには、′?″Sl’lの対価を支払わなければな
らない。また、光源とフィルタとの組合せは1通りであ
り、各種波長域の試験を同時に行うことは不可能である
。 「光源からの光を分光して特定の波長の光をj「(射す
る装置Jは、具体的には「分光照射装置」(特願昭62
−193033)があるが、装置自体を全く新たに設偏
しなくてはならないし、1回にA1+定できる試料も1
〜2点と限定される。また、構造上、各波長ごとの11
(1射面積が小さく、試験結果の評価がむづかしい。 従って、上記の様な課題を解決するために、各界で広く
使用されているJIS規格等に基づく促進両光試験機に
簡単に装着でき、試料面における受光エネルギーを増強
可能とすると共に、各PI 透過率のフィルタを選択取
付可能とし、一般の試料ホルダを用いてJIS規格等に
基づく試験を行うと同時に、試料面における受光エネル
ギーを増強した試験や、特定の波長域での劣化が調べら
れる装置の開発が強く望まれていた。 〔5題を解決するための手段〕 本発明は、上記要望に応えるためになされたものであり
、試料面における受光エネルギーを増強するために、光
源からの光を集光するレンズと、特定の波長の光を照射
するために、各種透過率のフィルタを選択取付可能の枠
とを装備した構造としたものである。 〔作用〕 この様に構成された本発明の装置において、「試料面が
受光するエネルギーは光源からの距離の2乗に反比例す
る」ため、例えば単純に、光源の1/4の焦点距M (
f)の集光レンズを介した場合の試料面における受光エ
ネルギーは、集光レンズを介さない場合の4倍となる。 またこの時、試料の前方に各種透過率を持ったフィルタ
を選択取付けると、増強された特定波長域の光が照射さ
れる。 r実施例〕 本発明実施例を図面に基づいて説明する。第1図、第2
図は本発明の実施例を示している。 第1図において、本発明の試料ホルダーは、試着取付具
及び試料照射開孔部を有したホルダー基板(10)にフ
ィルタ挿入孔(11)を備えたフィルタ取付枠(12)
を固着し、該フィルタ取付枠(12)に集光レンズ(1
4)を取付固定する鏡胴(13)を固着し、該鏡胴(1
3)に集光レンズ(14)がその焦点距離に応じて最適
の位置に固定されている構造となっている。また各種透
過率のフィルタ(16)は、必要に応じて該フィルタ挿
入孔(11)に挿入する。 ここで、第2図の様に第1図における鏡胴(13)は必
要なく、集光レンズを正確に固定できる固定具(17)
であればよい。また、図示はしないが、フィルタ取付枠
(12,12′)は、各種透過率のフィルタを取付可能
なものであればよく、フィルタを複数枚取付可能として
もよいし、フィルタ枠の取付位置は限定されない。尚、
集光レンズ(14)の材質としCは、石英レンズ″、L
7紫外部をよく透過するものが望ましい。また、1つの
1;ルダー基板に、上記の様な)j−1成の集光レンズ
、鏡胴(又は固定具)、フィルタ取付枠を複数個取イ・
1け、1つの試料ホルダーで1υ数の試料を試験できる
構造としてもよい。 表1は、本発明における試料ホルダーと一般に使用され
ている試料ホルダーにそれぞれ先口試験紙(L S P
)を取付け、JIS規格等に基づく促進明光試験機で同
時に試験した時の反射率)′%の比較である。 表1 1−言e、実施例のデータ(表1)より、木うで明の試
1’lホルダーで、3時間試験した時のY%(23゜8
)は、一般に使用されている試料ホルダーで12時間試
験した時のY%(21,0)より促進されており、4倍
強の促】■効果がわかる。 〔発明の効果〕 本発明はエリー−の様に構成されることにより、各界で
広く使用されているJIS規格等の促進明光試験機に簡
単に装置でき、新規設備の導入、大幅な改造も必霊らな
く、大いに経済的である。また、前記実施例表1で示し
たように、試料面における受光エネルギーも大幅に増強
されており、各種透過率のフィルタの選択爪イ・1も用
意である。 従って、1台の促進明光試験機で、一般の試料ホルダー
(3−)等を用いてJIS規格等の試験を行うのと同時
に、試料面における受光エネルギーを増強した増白の試
験、特定の波長域の照射による試享4の劣化形態及び吸
収劣化波長域を容易に解明でき、試験の多様化に応えら
れ、かつ経済的な装置として極めて貢献度の高いものと
言える。
現する促進両光試験機の試料ホルダーに関する。 〔従来の技術〕 第3図は各界で広く使用されているJIS規格にミし 基づいた促進耐用試験機の要部であり、第4図はこれに
使用されている試料ホルダーの1例である。 従来、資料面における受光エネルギーを増強するために
、」−謁の促進両光試験機を基にして、「光源に:it
享1を近づける」或いは、「光源自体をより強力なも
のとする」といった装置が提供され□、・″てきた。 また、特定の波長の光を照射して、試料の特定波長域で
の劣化を調べる装置として、」−記促進耐光試験機を基
にして、「光源自体の波長特性と各種透過率のフィルタ
との組合せ」による装置が、さらに、上記促進両光試験
機は別として、「光源からの光を分光して、特定の波長
域の光を照射する」装置が提供されてきた。 〔発明が解決しようとする課題〕 前述の様に、試料面における受光エネルギーを増強させ
る装置として、「光源に試料を近づけた装置ゴは、具体
的には、第3[iilにおいて、光源(1)に対し、試
料枠(5)を近付けて配設し、この試料枠に試料ホルダ
ー(3)を取付た構造であり、「光源自体をより強力に
した装置」は、第3図において、光;R(1)の数を増
加させる構造や、光源(1)の容量(例えばキセノン放
電灯、水銀灯などではその8二)を増大した構造の装置
が用いられてきた。 しかしながら、これら装置は、各界で広く使用されてい
るJIS規格等に基づいた促進両光試験機をそのままで
は使用できず、大幅な改造成いは新規の装置となり、非
常に高額な対価を支払わなければならないし、また、試
料の中のあるものはJIS規格等の試験を行ないながら
同時に他の試料には増強されたエネルギーを照射すると
いったことが不可能であった。 また、特定の波長の光を照射して試料の特定波長域での
劣化を調べる装置は、第3図において、[光源(1)自
体の波長特性と各種透過率のフィルタ(2)とを組合せ
る構造」となるが、波長特性の異る光源を選択取替可能
とするには、′?″Sl’lの対価を支払わなければな
らない。また、光源とフィルタとの組合せは1通りであ
り、各種波長域の試験を同時に行うことは不可能である
。 「光源からの光を分光して特定の波長の光をj「(射す
る装置Jは、具体的には「分光照射装置」(特願昭62
−193033)があるが、装置自体を全く新たに設偏
しなくてはならないし、1回にA1+定できる試料も1
〜2点と限定される。また、構造上、各波長ごとの11
(1射面積が小さく、試験結果の評価がむづかしい。 従って、上記の様な課題を解決するために、各界で広く
使用されているJIS規格等に基づく促進両光試験機に
簡単に装着でき、試料面における受光エネルギーを増強
可能とすると共に、各PI 透過率のフィルタを選択取
付可能とし、一般の試料ホルダを用いてJIS規格等に
基づく試験を行うと同時に、試料面における受光エネル
ギーを増強した試験や、特定の波長域での劣化が調べら
れる装置の開発が強く望まれていた。 〔5題を解決するための手段〕 本発明は、上記要望に応えるためになされたものであり
、試料面における受光エネルギーを増強するために、光
源からの光を集光するレンズと、特定の波長の光を照射
するために、各種透過率のフィルタを選択取付可能の枠
とを装備した構造としたものである。 〔作用〕 この様に構成された本発明の装置において、「試料面が
受光するエネルギーは光源からの距離の2乗に反比例す
る」ため、例えば単純に、光源の1/4の焦点距M (
f)の集光レンズを介した場合の試料面における受光エ
ネルギーは、集光レンズを介さない場合の4倍となる。 またこの時、試料の前方に各種透過率を持ったフィルタ
を選択取付けると、増強された特定波長域の光が照射さ
れる。 r実施例〕 本発明実施例を図面に基づいて説明する。第1図、第2
図は本発明の実施例を示している。 第1図において、本発明の試料ホルダーは、試着取付具
及び試料照射開孔部を有したホルダー基板(10)にフ
ィルタ挿入孔(11)を備えたフィルタ取付枠(12)
を固着し、該フィルタ取付枠(12)に集光レンズ(1
4)を取付固定する鏡胴(13)を固着し、該鏡胴(1
3)に集光レンズ(14)がその焦点距離に応じて最適
の位置に固定されている構造となっている。また各種透
過率のフィルタ(16)は、必要に応じて該フィルタ挿
入孔(11)に挿入する。 ここで、第2図の様に第1図における鏡胴(13)は必
要なく、集光レンズを正確に固定できる固定具(17)
であればよい。また、図示はしないが、フィルタ取付枠
(12,12′)は、各種透過率のフィルタを取付可能
なものであればよく、フィルタを複数枚取付可能として
もよいし、フィルタ枠の取付位置は限定されない。尚、
集光レンズ(14)の材質としCは、石英レンズ″、L
7紫外部をよく透過するものが望ましい。また、1つの
1;ルダー基板に、上記の様な)j−1成の集光レンズ
、鏡胴(又は固定具)、フィルタ取付枠を複数個取イ・
1け、1つの試料ホルダーで1υ数の試料を試験できる
構造としてもよい。 表1は、本発明における試料ホルダーと一般に使用され
ている試料ホルダーにそれぞれ先口試験紙(L S P
)を取付け、JIS規格等に基づく促進明光試験機で同
時に試験した時の反射率)′%の比較である。 表1 1−言e、実施例のデータ(表1)より、木うで明の試
1’lホルダーで、3時間試験した時のY%(23゜8
)は、一般に使用されている試料ホルダーで12時間試
験した時のY%(21,0)より促進されており、4倍
強の促】■効果がわかる。 〔発明の効果〕 本発明はエリー−の様に構成されることにより、各界で
広く使用されているJIS規格等の促進明光試験機に簡
単に装置でき、新規設備の導入、大幅な改造も必霊らな
く、大いに経済的である。また、前記実施例表1で示し
たように、試料面における受光エネルギーも大幅に増強
されており、各種透過率のフィルタの選択爪イ・1も用
意である。 従って、1台の促進明光試験機で、一般の試料ホルダー
(3−)等を用いてJIS規格等の試験を行うのと同時
に、試料面における受光エネルギーを増強した増白の試
験、特定の波長域の照射による試享4の劣化形態及び吸
収劣化波長域を容易に解明でき、試験の多様化に応えら
れ、かつ経済的な装置として極めて貢献度の高いものと
言える。
第1図、第2図は、本発明の実施例を示す斜視図、第3
図はJIS規格に基づく促進明光試験機の要部図、第4
図は第3図の促進試験機等に用いられる一般的な試料ホ
ルダー図。 1・−・・・・・ ・・・・・ ・光源2・・・
・・・・・ ・・ ・ ・・ ・・・・フィルタ3.3
−・ ・ ・・・ ・試料ホルダー4.4′、15.
15′・・試料
図はJIS規格に基づく促進明光試験機の要部図、第4
図は第3図の促進試験機等に用いられる一般的な試料ホ
ルダー図。 1・−・・・・・ ・・・・・ ・光源2・・・
・・・・・ ・・ ・ ・・ ・・・・フィルタ3.3
−・ ・ ・・・ ・試料ホルダー4.4′、15.
15′・・試料
Claims (1)
- 耐光試験機用光源を用いて、試料の耐光性を試験する促
進耐光試験機において、試料面における受光エネルギー
を増強するために、光源からの光を集光するレンズと、
特定の波長の光を照射するための、各種透過率のフィル
タを選択取付可能の枠とを装備したことを特徴とする促
進耐光試験機用試料ホルダー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63054492A JP2727320B2 (ja) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | 促進耐光試験機用試料ホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63054492A JP2727320B2 (ja) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | 促進耐光試験機用試料ホルダー |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01227944A true JPH01227944A (ja) | 1989-09-12 |
JP2727320B2 JP2727320B2 (ja) | 1998-03-11 |
Family
ID=12972139
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63054492A Expired - Lifetime JP2727320B2 (ja) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | 促進耐光試験機用試料ホルダー |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2727320B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4523992Y1 (ja) * | 1965-10-30 | 1970-09-21 | ||
JPS6183947A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-04-28 | Jeol Ltd | 高分子材料の劣化評価方法 |
-
1988
- 1988-03-08 JP JP63054492A patent/JP2727320B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4523992Y1 (ja) * | 1965-10-30 | 1970-09-21 | ||
JPS6183947A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-04-28 | Jeol Ltd | 高分子材料の劣化評価方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2727320B2 (ja) | 1998-03-11 |
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Legal Events
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