JP2719524B2 - Semiconductor manufacturing equipment - Google Patents

Semiconductor manufacturing equipment

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JP2719524B2
JP2719524B2 JP30964488A JP30964488A JP2719524B2 JP 2719524 B2 JP2719524 B2 JP 2719524B2 JP 30964488 A JP30964488 A JP 30964488A JP 30964488 A JP30964488 A JP 30964488A JP 2719524 B2 JP2719524 B2 JP 2719524B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、半導体製造装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Field of Industrial Application) The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus.

(従来の技術) 従来より半導体の製造プロセスでは、被処理物例えば
半導体ウエハは複数の処理工程で各種の処理を受ける
が、近年、この半導体ウエハの高集積化に伴い、上記各
処理工程はますます増加し複雑化している。
(Prior Art) Conventionally, in a semiconductor manufacturing process, an object to be processed, for example, a semiconductor wafer, undergoes various processes in a plurality of processing steps. In recent years, with the high integration of the semiconductor wafer, the above-described processing steps have been increasingly performed. Increasingly complex.

一方、半導体製造の環境も上記微細化に伴ってダスト
(塵埃)の付着による半導体素子の欠陥を防止するため
により高いクリーン度が要求されており、クリーンルー
ムの高クリーン度化、また装置自身からの発塵の低減化
が一層必要とされている。
On the other hand, in the environment of semiconductor manufacturing, a higher degree of cleanliness is required in order to prevent defects of semiconductor elements due to adhesion of dust (dust) along with the miniaturization described above. There is a further need to reduce dust generation.

そこで複雑化する処理工程に容易に対応でき、また高
クリーン度化への対応が可能な半導体製造装置、例えば
レジスト処理装置として、ウエハ搬入・搬出機構や複数
の処理機構例えばレジスト塗布機構、現像機構、加熱機
構等を配置接続し、ウエハ搬送機構により各処理機構へ
半導体ウエハを所定の処理手順に従って自動搬送して一
連の処理を行うように形成したものが開発されている。
Therefore, a semiconductor manufacturing apparatus which can easily cope with complicated processing steps and can cope with high cleanliness, for example, a wafer loading / unloading mechanism and a plurality of processing mechanisms such as a resist coating mechanism, a developing mechanism as a resist processing apparatus. A heating mechanism and the like are arranged and connected, and a semiconductor wafer is automatically transferred to each processing mechanism by a wafer transfer mechanism according to a predetermined processing procedure to perform a series of processing.

このような半導体製造装置における各処理機構の配列
構成は、処理内容や設置条件等により異なり、例えば各
処理機構を直線的に配置接続し、ウエハ搬送機構により
一方端の処理機構から順次次処理機構へと搬送して処理
するものや、複数の処理機構を平行配列し、中央部にウ
エハ搬送機構を配設して各処理機構へ半導体ウエハを搬
送して処理するように構成したもの等がある。
The arrangement configuration of each processing mechanism in such a semiconductor manufacturing apparatus differs depending on the processing contents, installation conditions, and the like. For example, each processing mechanism is linearly arranged and connected, and the next processing mechanism is sequentially arranged from one end processing mechanism by a wafer transfer mechanism. And a configuration in which a plurality of processing mechanisms are arranged in parallel, a wafer transport mechanism is arranged in the center, and a semiconductor wafer is transported to each processing mechanism for processing. .

この半導体製造装置のウエハ搬入・搬出動作は、まず
半導体ウエハを所定の間隔で多数積層収容したウエハキ
ャリアを昇降自在に構成されたウエハ搬入機構(以下、
センダー機構と呼ぶ)に搭載する。このセンダー機構
は、ウエハ配列ピッチ間隔例えばウエハキャリアの収容
棚ピッチで昇降例えば下降するように、例えばステッピ
ングモータ等によって駆動可能とされっており、所定の
ピッチで下降するウエハキャリア内の半導体ウエハ下に
ウエハ搬送腕を挿入して、該ウエハ搬送腕上に半導体ウ
エハを搭載し、ウエハキャリアの下方から順次取出して
ウエハ搬送機構と移載するよう構成されている。そし
て、一連のプロセス処理を施された処理済み半導体ウエ
ハは、処理済みウエハを収容するウエハキャリアを搭載
したウエハ搬出機構(以下、レシーバ機構と呼ぶ)へと
搬送され、上記センダー機構と同様な構成とされている
レシーバ機構でウエハキャリアにその上方から順次収容
される。
First, a wafer loading / unloading operation of the semiconductor manufacturing apparatus is performed by a wafer loading mechanism (hereinafter, referred to as a wafer loading mechanism) configured to be capable of vertically moving a wafer carrier in which a large number of semiconductor wafers are stacked and stored at predetermined intervals.
(Called a sender mechanism). The sender mechanism can be driven by, for example, a stepping motor or the like so as to move up and down, for example, at a wafer arrangement pitch interval, for example, a wafer carrier accommodating shelf pitch, and to move under a semiconductor wafer in a wafer carrier descending at a predetermined pitch. , A semiconductor wafer is mounted on the wafer transfer arm, and the semiconductor wafer is sequentially taken out from below the wafer carrier and transferred to the wafer transfer mechanism. Then, the processed semiconductor wafer that has been subjected to a series of process processing is transferred to a wafer unloading mechanism (hereinafter, referred to as a receiver mechanism) on which a wafer carrier that stores the processed wafer is mounted, and has the same configuration as the above-described sender mechanism. Are sequentially stored in the wafer carrier from above.

(発明が解決しようとする課題) ところで、半導体装置の高集積化が進むにつれて処理
内容もさらに複雑化している現状においては、ウエハキ
ャリア単位でロット設定できない場合が生じている。ま
た、最近の多品種少量化によってさらにこの傾向は強ま
ってきている。
(Problems to be Solved by the Invention) By the way, in the present situation where the processing contents are further complicated as the integration degree of the semiconductor device progresses, lots cannot be set for each wafer carrier. In addition, this tendency has been further strengthened by recent multi-product low-volume reduction.

しかしながら、上述したように従来の半導体製造装置
におけるセンダー機構では、ウエハキャリア内に収容さ
れた半導体ウエハをその下方側から順次取出して処理を
行っているため、上述したように収容容器内に処理内容
の異なる多ロットの半導体ウエハが収容されていると、
小数ロット毎でバッチ的に処理を進めなければならず、
ロスタイムが大きくなって生産効率が大幅に低下すると
いう問題があった。また、異なるロット種を同時進行で
処理するように構成したとしても、各処理機構における
処理時間が異なれば、同様にロスタイムが増大し、生産
効率が低下してしまう。
However, as described above, in the sender mechanism in the conventional semiconductor manufacturing apparatus, since the semiconductor wafers housed in the wafer carrier are sequentially taken out from the lower side and processed, the processing contents are stored in the housing container as described above. When multiple lots of semiconductor wafers with different
Processing must be advanced in batches for each small lot,
There is a problem that the loss time is increased and the production efficiency is greatly reduced. Even if different lot types are processed simultaneously, if the processing time in each processing mechanism is different, the loss time similarly increases, and the production efficiency decreases.

また、処理内容の複雑化に伴って、該半導体製造装置
以降の処理工程が異なる場合が生じており、レシーバ機
構においても単にウエハキャリア上方から処理済の半導
体ウエハを順次収容したのでは、別途積替え作業が必要
になるといった問題が生じている。
In addition, with the complexity of the processing contents, the processing steps after the semiconductor manufacturing apparatus may be different, and if the processed semiconductor wafers are simply accommodated sequentially from above the wafer carrier in the receiver mechanism, the transshipment is separately performed. There is a problem that work is required.

本発明は、このような従来技術の課題に対処するため
になされたもので、処理内容が同一の半導体ウエハをウ
エハキャリアの収容位置に拘らず、同時進行で処理する
ことを可能にした半導体製造装置を提供することを目的
とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to address the problems of the related art, and has been made in consideration of a semiconductor manufacturing method capable of simultaneously processing semiconductor wafers having the same processing content regardless of the accommodation position of a wafer carrier. It is intended to provide a device.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち本発明は、複数種の被処理物を収容した収容
容器から被処理物を搬出し複数の処理機構へ搬送する搬
送機構を有する半導体製造装置において、 前記複数種の被処理物について処理内容に応じて処理
順位を指定する手段と、この処理順位にしたがって被処
理物を搬出し予め定められた処理順により前記処理機構
へ搬送する手段とを1つの装置内に設けたことを特徴と
する。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) That is, the present invention provides a semiconductor manufacturing apparatus having a transport mechanism for carrying out an object to be processed from an accommodation container accommodating a plurality of types of objects to be transported to a plurality of processing mechanisms. In the apparatus, means for specifying a processing order according to the processing content for the plurality of types of processing objects, means for unloading the processing objects according to the processing order and transporting the processing objects to the processing mechanism in a predetermined processing order; Are provided in one device.

また請求項2の発明は、複数種の被処理物を収容した
収容容器から被処理物を搬出し複数の処理機構へ搬送す
る搬送機構を有する半導体製造装置であって、 前記複数種の被処理物の内で、同一の処理を行う被処
理物のグループ毎の処理内容に応じて処理順位を指定す
る手段と、 この処理順位にしたがって前記グループ毎に被処理物
を搬出し予め定められた処理順により各前記処理機構へ
搬送する手段とを1つの装置内に設けたことを特徴とす
る。
The invention according to claim 2 is a semiconductor manufacturing apparatus having a transport mechanism for transporting an object to be processed from a storage container accommodating a plurality of types of objects to be transported to a plurality of processing mechanisms. Means for designating the processing order according to the processing content of each group of the processing target to perform the same processing in the processing; and carrying out the processing target for each group in accordance with the processing priority and a predetermined processing And means for transporting to the respective processing mechanisms in order are provided in one apparatus.

また、請求項3の発明は、複数種の被処理物を収容し
た複数の収容容器から被処理物を搬出し複数の処理機構
へ搬送する搬送機構を有する半導体製造装置であって、 前記複数の収容容器内に収容された前記複数種の被処
理物の内で、同一の処理を行う被処理物のグループ毎の
処理内容に応じて処理順位を指定する手段と、 この処理順位にしたがって前記グループ毎に被処理物
を搬出し、予め定められた処理順により各前記処理機構
へ搬送する手段とを1つの装置内に設けたことを特徴と
する。
The invention according to claim 3 is a semiconductor manufacturing apparatus having a transport mechanism for transporting an object to be processed from a plurality of storage containers accommodating a plurality of types of objects to be transported to a plurality of processing mechanisms. Means for designating a processing order according to the processing content of each group of objects to be processed which perform the same processing among the plurality of types of objects to be processed stored in the storage container; Means for carrying out an object to be processed each time and transporting the object to each of the processing mechanisms in a predetermined processing order is provided in one apparatus.

本発明の半導体製造装置においては、まず処理順位指
定手段によって各被処理物の処理内容に応じて処理順位
が決定される。そして、この処理順位にしたがって収容
容器の所望の位置から被処理物を搬出するため、例えば
収容容器内に処理内容の異なる被処理物が任意の位置で
収容されていたとしても、同一処理内容の被処理物毎に
処理を行うことができる。
In the semiconductor manufacturing apparatus of the present invention, the processing order is first determined by the processing order designating means according to the processing content of each workpiece. Then, in order to carry out the object to be processed from a desired position of the container according to the processing order, for example, even if an object to be processed having a different processing content is stored in an arbitrary position in the container, the same processing content is stored. Processing can be performed for each object to be processed.

(実施例) 以下、本発明の半導体製造装置をレジスト塗布現像装
置に適用した一実施例を図面を参照して説明する。
(Embodiment) An embodiment in which the semiconductor manufacturing apparatus of the present invention is applied to a resist coating and developing apparatus will be described below with reference to the drawings.

装置本体1の中央部付近には、被処理物例えば半導体
ウエハ2を保持例えば吸着保持するウエハ保持機構3を
搭載し、このウエハ保持機構3をX−Y−Z方向および
θ方向に移動させるウエハ搬送機構4が配設されてい
る。このウエハ搬送機構4は、例えばステッピングモー
タおよびこれに連結されたボールスクリュー等の回転駆
動機構(図示せず)によって移動、回転される。
In the vicinity of the center of the apparatus main body 1, a wafer holding mechanism 3 for holding an object to be processed, for example, a semiconductor wafer 2, for example, by suction is mounted, and a wafer for moving the wafer holding mechanism 3 in the XYZ direction and the θ direction. A transport mechanism 4 is provided. The wafer transfer mechanism 4 is moved and rotated by a rotation drive mechanism (not shown) such as a stepping motor and a ball screw connected thereto.

そして、このウエハ搬送機構4の一移動経路例えばX
方向移動経路5に沿って片側例えば図中上側には、夫々
複数のウエハ処理機構例えば半導体ウエハ2とレジスト
膜との密着性を向上させるために行うHMDS処理機構6、
半導体ウエハ2上に塗布された第1層目のレジスト中に
残存する溶剤を加熱蒸発させるための第1のプリベーク
機構7、この第1のプリベーク機構7で加熱処理された
半導体ウエハ2を冷却する第1の冷却機構8が夫々順に
並設されており、一方、上記移動経路5の上記各ウエハ
処理機構7、8、9と対向する側には、半導体ウエハ2
の上面に第1層目のレジストを回転塗布する第1の塗布
機構9と、半導体ウエハ2の上面に第2層目のレジスト
を回転塗布する第2の塗布機構10が順に並設されてい
る。そしてこれら各ウエハ処理機構6、7、8、9、10
により第1の処理装置ユニット11が構成されている。
Then, one movement path of the wafer transfer mechanism 4, for example, X
On one side, for example, the upper side in the figure along the directional movement path 5, a plurality of wafer processing mechanisms, for example, an HMDS processing mechanism 6 for improving the adhesion between the semiconductor wafer 2 and the resist film,
A first pre-bake mechanism 7 for heating and evaporating the solvent remaining in the first-layer resist applied on the semiconductor wafer 2, and the semiconductor wafer 2 that has been heated by the first pre-bake mechanism 7 is cooled. A first cooling mechanism 8 is arranged in order in each case. On the other hand, on the side of the moving path 5 facing each of the wafer processing mechanisms 7, 8, 9, the semiconductor wafer 2 is disposed.
A first coating mechanism 9 for spin-coating the first-layer resist on the upper surface of the semiconductor wafer 2 and a second coating mechanism 10 for spin-coating the second-layer resist on the upper surface of the semiconductor wafer 2 are sequentially provided side by side. . Each of these wafer processing mechanisms 6, 7, 8, 9, 10
Constitute a first processing unit 11.

この実施例の半導体製造装置では、処理工程に応じ
て、第1処理装置ユニット11と同様な他の処理装置ユニ
ットの増設が可能なように構成されており、増設時には
第1の処理装置ユニット11の一方側に半導体ウエハ2を
一時的に待機させる載置台12を備えた待機機構13を設
け、この待機機構13に連設して処理内容に応じた複数の
処理機構例えば第2のプリベーク機構14、この第2のプ
リベーク機構14で加熱処理された半導体ウエハ2を冷却
する第2の冷却機構15、光乱反射防止用CEL膜をレジス
ト上に被覆する表面被覆層塗布機構16および第2のウエ
ハ搬送機構17等からなる第2の処理装置ユニット18が増
設される。
In the semiconductor manufacturing apparatus of this embodiment, another processing unit similar to the first processing unit 11 can be added in accordance with a processing step. A standby mechanism 13 having a mounting table 12 for temporarily holding the semiconductor wafer 2 on standby is provided on one side. A plurality of processing mechanisms, such as a second pre-bake mechanism 14, are provided in series with the standby mechanism 13 in accordance with the processing contents. A second cooling mechanism 15 for cooling the semiconductor wafer 2 heated by the second pre-bake mechanism 14, a surface coating layer coating mechanism 16 for coating a CEL film for preventing diffused light reflection on the resist, and a second wafer transfer. A second processing unit 18 including a mechanism 17 and the like is added.

第1の処理装置ユニット11の他方側には、処理前の半
導体ウエハ2を収納した複数例えば2つのウエハキャリ
ア21a、21bを搭載したセンダー機構22と、処理後の半導
体ウエハ2を収納する複数例えば2つのウエハキャリア
23、23を搭載したレシーバ機構24と、半導体ウエハ2を
吸着保持してウエハキャリア23へ搬入またはキャリア21
から搬出するウエハ搬送腕25と、このウエハ搬送腕25を
X−Y−Zおよびθ方向に移動させる搬送腕駆動機構26
等から構成されるウエハ搬入・搬出機構27が配置されて
いる。そして、ウエハ搬送腕25により処理前の半導体ウ
エハ2をウエハキャリア21から取り出してウエハ載置台
28に載置するとともに、この載置台28に載置された処理
済みの半導体ウエハ2をウエハキャリア23に収納するよ
う構成されている。
On the other side of the first processing unit 11, a plurality of, for example, a sender mechanism 22 containing two wafer carriers 21a and 21b, each of which stores the semiconductor wafer 2 before processing, and a plurality of, for example, each of which stores the semiconductor wafer 2 after processing. Two wafer carriers
A receiver mechanism 24 on which the semiconductor wafer 2 is mounted;
Transfer arm 25 for unloading the wafer, and a transfer arm drive mechanism 26 for moving the wafer transfer arm 25 in the X, Y, Z, and θ directions.
A wafer loading / unloading mechanism 27 including such components is disposed. Then, the unprocessed semiconductor wafer 2 is taken out of the wafer carrier 21 by the wafer transfer arm 25, and
The semiconductor wafer 2 placed on the mounting table 28 and the processed semiconductor wafer 2 placed on the mounting table 28 is stored in the wafer carrier 23.

上記センダー機構22は、第2図に示すように、ウエハ
キャリア21を搭載するキャリア載置台29と、該キャリア
載置台29を昇降させる昇降機構例えばボールスクリュー
機構30と、この昇降機構30を所定ピッチで駆動させる駆
動機構例えばステッピングモータ31とにより構成されて
いる。また、上記レシーバ機構24も同様な構成とされて
いる。
As shown in FIG. 2, the sender mechanism 22 includes a carrier mounting table 29 on which the wafer carrier 21 is mounted, an elevating mechanism for elevating and lowering the carrier mounting table 29, for example, a ball screw mechanism 30, and a predetermined pitch. And a driving mechanism, for example, a stepping motor 31. The receiver mechanism 24 has the same configuration.

ウエハ取り出し作業時は、このウエハキャリア21を上
昇させた後、ウエハ搬送腕25を処理すべき半導体ウエハ
2の下面へと挿入し、ウエハキャリア21を下降させてウ
エハ搬送腕25上に半導体ウエハ2を搭載する。また、ウ
エハ収容作業時には、ウエハキャリア21を下降させ、半
導体ウエハ2が搭載されたウエハ搬送腕25をウエハキャ
リア21の所定位置に挿入し、ウエハキャリア21を上昇さ
せて所定の収容棚21上に半導体ウエハ2を搭載する。
During the wafer removal operation, after raising the wafer carrier 21, the wafer transfer arm 25 is inserted into the lower surface of the semiconductor wafer 2 to be processed, and the wafer carrier 21 is lowered to place the semiconductor wafer 2 on the wafer transfer arm 25. With. During the wafer storage operation, the wafer carrier 21 is lowered, the wafer transfer arm 25 on which the semiconductor wafer 2 is mounted is inserted into a predetermined position of the wafer carrier 21, and the wafer carrier 21 is raised to place it on a predetermined storage shelf 21. The semiconductor wafer 2 is mounted.

このようなセンダー機構22およびレシーバ機構24の駆
動動作は、ウエハ搬入・搬出位置制御系40からの信号に
基づいて、ウエハ搬送腕25や搬送腕駆動機構26等ととも
にウエハ搬入・搬出機構制御部51によって制御されてお
り、ウエハ搬入・搬出機構制御部51は、第1の処理装置
ユニット11内の各処理機構や搬送機構を制御する第1の
処理装置ユニット制御部52と第2の処理装置ユニット18
内の各処理機構や搬送機構を制御する第2の処理装置ユ
ニット制御部53とともに、主制御部54によって集中制御
されている。
The driving operation of the sender mechanism 22 and the receiver mechanism 24 is performed based on a signal from the wafer loading / unloading position control system 40 together with the wafer loading / unloading mechanism control unit 51 together with the wafer transport arm 25 and the transport arm driving mechanism 26. Are controlled by a first processing unit control unit 52 and a second processing unit which control each processing mechanism and transfer mechanism in the first processing unit 11. 18
It is centrally controlled by a main control unit 54 together with a second processing unit control unit 53 for controlling each of the processing mechanisms and the transport mechanism therein.

ウエハ搬入・搬出位置制御系40は、入力部55から入力
された処理内容が同一のロット種単位でのロット処理順
位に基づき、主制御部54から転送される各ウエハキャリ
ア21a、21bに収容された半導体ウエハ2の処理内容と位
置情報を参照して、具体的に各ウエハキャリア21a、21b
の収容位置に基づく処理順位を決定する搬入・搬出位置
制御部41と、この決定された処理順位を記憶する取出位
置記憶部42とを有している。なお、レシーバ機構24にお
ける収容位置を特に指定しない場合は、例えば処理済の
半導体ウエハ2は各ウエハキャリア21a、21bの取出され
た位置に収容されるように、搬入・搬出位置制御部41に
よって制御される。また、取出し順位の入力指令自体を
各ウエハキャリア21a、21bの収容位置に基づいて行うこ
とも可能である。
The wafer loading / unloading position control system 40 is accommodated in each wafer carrier 21a, 21b to which the processing content input from the input unit 55 is transferred from the main control unit 54 based on the lot processing order in the same lot type unit. Referring to the processing content and position information of the semiconductor wafer 2 that has been
A loading / unloading position control unit 41 that determines a processing order based on the storage position of the storage unit, and an unloading position storage unit 42 that stores the determined processing order. When the storage position in the receiver mechanism 24 is not particularly specified, for example, the processed semiconductor wafer 2 is controlled by the loading / unloading position control unit 41 so that the processed semiconductor wafer 2 is stored in the position where the wafer carriers 21a and 21b are removed. Is done. Further, it is also possible to issue the input command of the removal order itself based on the accommodation position of each wafer carrier 21a, 21b.

また、レシーバ機構24における収容位置を指定する場
合は、搬入・搬出位置制御部41は同様に入力部55から入
力されたロット種毎の収容位置順位に基づいて、主制御
部54から転送される各ウエハキャリア21a、21bに収容さ
れた半導体ウエハ2の処理内容と位置情報、あるいは取
出位置記憶部42に記憶された処理順位を参照して収納位
置順位を決定し、この収納位置順位が収納位置記憶部43
に記憶される。
When the storage position in the receiver mechanism 24 is designated, the loading / unloading position control unit 41 is similarly transferred from the main control unit 54 based on the storage position rank for each lot type input from the input unit 55. The storage position order is determined with reference to the processing content and position information of the semiconductor wafers 2 stored in the respective wafer carriers 21a and 21b or the processing order stored in the unloading position storage unit 42, and the storage position order is determined as the storage position. Storage unit 43
Is stored.

次に、上記構成のセンダー機構22およびレシーバ機構
24のうち、センダー機構22を例として取出し順位決定方
法について説明する。
Next, the sender mechanism 22 and the receiver mechanism
A description will be given of a method of determining a take-out order, taking the sender mechanism 22 as an example.

まず、主制御部54から各ウエハキャリア21a、21bに収
容された各半導体ウエハ2の処理内容と位置情報が搬入
・搬出位置制御部41に送られる。この各半導体ウエハ2
に対する情報は、例えば第3図(A)に示すように第1
のウエハキャリア21aの収容棚32a−1から収容棚32a−
5までは処理内容A(以下Aロットと記す)の半導体ウ
エハ2が、収容棚32a−6から収容棚32a−10までは処理
内容B(以下Bロットと記す)の半導体ウエハ2が、収
容棚32a−10から収容棚32a−nまでは処理内容C(以下
Cロットと記す)の半導体ウエハ2が収容されており、
また同図(B)に示すように第2のウエハキャリア21b
の収容棚32b−1から収容棚32b−10まではAロットの半
導体ウエハ2が、収容棚32b−11から収容棚32b−nまで
はBロットの半導体ウエハ2が収容されているというよ
うな情報である。一方、処理内容が同一のロット種単位
で処理順位、例えばAロット→Bロット→Cロットとい
うようにロット順位を入力する。
First, the processing content and position information of each semiconductor wafer 2 stored in each wafer carrier 21a, 21b are sent from the main control unit 54 to the loading / unloading position control unit 41. This semiconductor wafer 2
Is, for example, as shown in FIG. 3 (A).
From the storage shelves 32a-1 of the wafer carrier 21a to the storage shelves 32a-
The semiconductor wafers 2 of the processing contents A (hereinafter, referred to as Lot A) are stored in the storage shelves 32a-6 to 32a-10, and the semiconductor wafers 2 of the processing contents B (hereinafter referred to as Lot B) are stored in the storage shelves. The semiconductor wafers 2 of the processing content C (hereinafter referred to as C lot) are stored from 32a-10 to the storage shelves 32a-n.
In addition, as shown in FIG.
Information that semiconductor wafers 2 in lot A are stored from storage shelves 32b-1 to 32b-10, and semiconductor wafers 2 in lot B are stored from storage shelves 32b-11 to 32b-n. It is. On the other hand, the processing order is input for each lot type having the same processing content, for example, a lot order such as A lot → B lot → C lot.

そして、搬入・搬出位置制御部41は、ロット順位に基
づき収容されている各半導体ウエハ2の処理内容と位置
情報を参照して具体的な処理順位、例えばウエハキャリ
ア21a、21bの収容棚で記載すると、32a−1→32a−2→
…→32a−5→32b−1→…32b−10→32a−6→…→32a
−10→32b−11→32b−12→…→32b−n→32a−11→…→
32a−nを決定し、この処理順位を取出位置記憶部42に
記憶する。
Then, the carry-in / carry-out position control unit 41 refers to the processing content and position information of each of the semiconductor wafers 2 stored based on the lot order, and describes the specific processing order, for example, on the storage shelf of the wafer carriers 21a and 21b. Then 32a-1 → 32a-2 →
… → 32a-5 → 32b-1 →… 32b-10 → 32a-6 →… → 32a
−10 → 32b−11 → 32b−12 →… → 32b−n → 32a−11 →… →
32a-n are determined, and the processing order is stored in the extraction position storage unit 42.

処理開始とともに、この処理順位がウエハ搬入・搬出
機構制御部51に転送され、この処理順位に基づいてウエ
ハ搬送腕25は各半導体ウエハ2を取出す。
At the start of the processing, the processing order is transferred to the wafer loading / unloading mechanism control unit 51, and the wafer transfer arm 25 takes out each semiconductor wafer 2 based on the processing order.

また、レシーバ機構24において収容位置を設定する際
にも同様な手順で収容位置が決定される。
Also, when the receiving position is set in the receiver mechanism 24, the receiving position is determined in a similar procedure.

こうしてウエハ搬入・搬出機構27からウエハ搬送機構
4のウエハ保持機構3へ所定の順序で移載された半導体
ウエハ2は、各処理機構を所定の順序で例えば、HMDS処
理機構6→第1の塗布機構9→第1のプリベーク機構7
→第1の冷却機構8→第2の塗布機構10に搬送されて夫
々の処理を施される。
In this manner, the semiconductor wafer 2 transferred in a predetermined order from the wafer loading / unloading mechanism 27 to the wafer holding mechanism 3 of the wafer transporting mechanism 4 performs the respective processing mechanisms in a predetermined order, for example, the HMDS processing mechanism 6 → the first coating. Mechanism 9 → first pre-bake mechanism 7
→ First cooling mechanism 8 → Conveyed to second coating mechanism 10 and subjected to respective processing.

この後、必要であれば第2の処理装置ユニット34へと
搬送され所定の処理を施された後、再びウエハ搬送機構
4によりウエハ搬入・搬送機構27へと搬送され、レシー
バ機構24により処理済みの半導体ウエハ2はウエハキャ
リア23内の同位置あるいは指定された位置に収容され
る。
Thereafter, if necessary, the wafer is transported to the second processing unit 34 and subjected to a predetermined process. Thereafter, the wafer is transported again by the wafer transport mechanism 4 to the wafer loading / transporting mechanism 27 and processed by the receiver mechanism 24. The semiconductor wafer 2 is accommodated in the same position or a designated position in the wafer carrier 23.

このように、この実施例のレジスト塗布現像装置にお
いては、指定されて処理順位にしたがってウエハキャリ
アの所望の位置から半導体ウエハを取出し、各処理機構
に搬送することが可能であるため、1つのウエハキャリ
ア内に複数のロット種が収容されていたとしても、同一
の処理内容の半導体ウエハ毎に処理を行うことができ
る。よって、処理内容の変更や処理手順の違いによるロ
スタイムを減少させることができ、処理内容の複雑化や
多品種少量化に対してスループットを余り低下させるこ
となく対応することが可能である。さらに、全体の処理
時間を短縮するよう処理順位をプログラムすることも可
能である。
As described above, in the resist coating and developing apparatus of this embodiment, it is possible to take out a semiconductor wafer from a desired position on a wafer carrier in accordance with a designated processing order and transport it to each processing mechanism. Even if a plurality of lot types are accommodated in a carrier, processing can be performed for each semiconductor wafer having the same processing content. Therefore, it is possible to reduce a loss time due to a change in the processing content or a difference in the processing procedure, and it is possible to cope with a complicated processing content or a small variety of various kinds without significantly lowering the throughput. Further, it is possible to program the processing order so as to reduce the overall processing time.

また、複数のウエハキャリア間における同一ロット種
の半導体ウエハをまとめて処理することが可能であるた
め、さらにロスタイムの減少が可能となる。
Further, since semiconductor wafers of the same lot type among a plurality of wafer carriers can be processed collectively, loss time can be further reduced.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明の半導体製造装置によれ
ば、処理内容の複雑化や多品種少量化に対しても高スル
ープット処理が可能である。
[Effects of the Invention] As described above, according to the semiconductor manufacturing apparatus of the present invention, high-throughput processing can be performed even when the processing content is complicated and the number of kinds of products is reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の半導体製造装置をレジスト塗布現像装
置に適用した一実施例の構成を示す図、第2図は第1図
に示すレジスト塗布現像装置のセンダー機構の構成およ
び制御系を示す図、第3図はウエハキャリア内に収容さ
れた半導体ウエハの処理内容および位置情報を説明する
ための図である。 1……装置本体、2……半導体ウエハ、4……ウエハ搬
送機構、6、7、8、9、10……処理機構、11……第1
の処理装置ユニット、21、23……ウエハキャリア、22…
…センダー機構、24……レシーバ機構、25……ウエハ搬
送腕、27……ウエハ搬入・搬出機構、29……キャリア載
置台、30……昇降機構、31……ステッピングモータ、32
……収容棚、40……搬入・搬出位置制御系、41……搬入
・搬出位置制御部、42……取出位置記憶部、43……収容
位置記憶部、51……ウエハ搬入・搬出機構制御部、54…
…主制御部。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment in which the semiconductor manufacturing apparatus of the present invention is applied to a resist coating and developing apparatus. FIG. 2 is a diagram showing the configuration and control system of a sender mechanism of the resist coating and developing apparatus shown in FIG. FIGS. 3A and 3B are views for explaining processing contents and position information of a semiconductor wafer accommodated in a wafer carrier. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Device main body, 2 ... Semiconductor wafer, 4 ... Wafer carrying mechanism, 6, 7, 8, 9, 10 ... Processing mechanism, 11 ... 1st
Processing equipment units, 21, 23 ... Wafer carrier, 22 ...
... Sender mechanism, 24 ... Receiver mechanism, 25 ... Wafer transfer arm, 27 ... Wafer loading / unloading mechanism, 29 ... Carrier mounting table, 30 ... Elevating mechanism, 31 ... Stepping motor, 32
... accommodation shelves, 40 ... carry-in / out position control system, 41 ... carry-in / out position control section, 42 ... take-out position storage section, 43 ... storage position storage section, 51 ... wafer carry-in / out mechanism control Part, 54 ...
... Main control unit.

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】複数種の被処理物を収容した収容容器から
被処理物を搬出し複数の処理機構へ搬送する搬送機構を
有する半導体製造装置において、 前記複数種の被処理物について処理内容に応じて処理順
位を指定する手段と、この処理順位にしたがって被処理
物を搬出し予め定められた処理順により前記処理機構へ
搬送する手段とを1つの装置内に設けたことを特徴とす
る半導体製造装置。
1. A semiconductor manufacturing apparatus having a transport mechanism for carrying out an object to be processed from an accommodation container accommodating a plurality of types of objects to be transported to a plurality of processing mechanisms. A means for designating a processing order in accordance with the processing order and a means for carrying out an object to be processed in accordance with the processing order and transporting the object to the processing mechanism in a predetermined processing order are provided in one apparatus. Manufacturing equipment.
【請求項2】複数種の被処理物を収容した収容容器から
被処理物を搬出し複数の処理機構へ搬送する搬送機構を
有する半導体製造装置であって、 前記複数種の被処理物の内で、同一の処理を行う被処理
物のグループ毎の処理内容に応じて処理順位を指定する
手段と、 この処理順位にしたがって前記グループ毎に被処理物を
搬出し予め定められた処理順により各前記処理機構へ搬
送する手段とを1つの装置内に設けたことを特徴とする
半導体製造装置。
2. A semiconductor manufacturing apparatus having a transport mechanism for carrying out an object to be processed from an accommodation container accommodating a plurality of types of objects to be transported to a plurality of processing mechanisms, wherein: Means for designating the processing order in accordance with the processing content of each group of objects to be processed which perform the same processing, and carrying out the objects to be processed for each group in accordance with the processing order; And a means for transporting the wafer to the processing mechanism is provided in a single apparatus.
【請求項3】複数種の被処理物を収容した複数の収容容
器から被処理物を搬出し複数の処理機構へ搬送する搬送
機構を有する半導体製造装置であって、 前記複数の収容容器内に収容された前記複数種の被処理
物の内で、同一の処理を行う被処理物のグループ毎の処
理内容に応じて処理順位を指定する手段と、 この処理順位にしたがって前記グループ毎に被処理物を
搬出し、予め定められた処理順により各前記処理機構へ
搬送する手段とを1つの装置内に設けたことを特徴とす
る半導体製造装置。
3. A semiconductor manufacturing apparatus having a transport mechanism for carrying out an object to be processed from a plurality of containers accommodating a plurality of types of objects to be transported to a plurality of processing mechanisms. Means for designating a processing order according to the processing content of each group of the processing object to perform the same processing among the plurality of types of the processing objects stored therein; Means for unloading an object and transporting the object to each of the processing mechanisms in a predetermined processing order in a single apparatus.
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