JP2714077B2 - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
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- JP2714077B2 JP2714077B2 JP63321143A JP32114388A JP2714077B2 JP 2714077 B2 JP2714077 B2 JP 2714077B2 JP 63321143 A JP63321143 A JP 63321143A JP 32114388 A JP32114388 A JP 32114388A JP 2714077 B2 JP2714077 B2 JP 2714077B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、振動子から被検体に対し超音波を送受波し
て超音波診断情報を得る超音波診断装置に関する。
て超音波診断情報を得る超音波診断装置に関する。
（従来の技術） 超音波診断装置は、高電圧パルスを振動子に印加させ
該振動子を遅延駆動させて該振動子から被検体に超音波
を送波し、この被検体から散乱される超音波を受波し超
音波診断情報を得るものである。すなわち超音波診断装
置は、高電圧パルス発生回路により発生した高電圧パル
スを送信遅延手段により遅延させながら、複数の微小振
動子を並設してなる振動子の各微小振動子を異なる遅延
時間で順次駆動させる。そして各微小振動子から超音波
を被検体に送波し、この被検体から散乱される超音波を
同一振動子で受波する。そして受信遅延手段によりこの
受波信号を適切に遅延させ、各微小振動子からの受波信
号を加算することにより良好な超音波像を得ている。
該振動子を遅延駆動させて該振動子から被検体に超音波
を送波し、この被検体から散乱される超音波を受波し超
音波診断情報を得るものである。すなわち超音波診断装
置は、高電圧パルス発生回路により発生した高電圧パル
スを送信遅延手段により遅延させながら、複数の微小振
動子を並設してなる振動子の各微小振動子を異なる遅延
時間で順次駆動させる。そして各微小振動子から超音波
を被検体に送波し、この被検体から散乱される超音波を
同一振動子で受波する。そして受信遅延手段によりこの
受波信号を適切に遅延させ、各微小振動子からの受波信
号を加算することにより良好な超音波像を得ている。
ところで、前述した高電圧パルス発生回路により発生
した電圧は、数百Ｖと非常に電圧が高く、この高電圧で
前述した微小振動子を駆動している。
した電圧は、数百Ｖと非常に電圧が高く、この高電圧で
前述した微小振動子を駆動している。
しかしながら、この高圧パルス発生回路部の高圧電源
電圧が超音波信号ラインにリークする危険性があり、安
全上の問題がある。そこでこの受波信号へのリークを防
止すべく、従来は、第３図に示すようなリーク電圧を検
出する検出回路を設けるようにしていた。以下検出回路
について説明する。第３図において、パルサー群11は、
複数のパルサー11a〜11nからなり、各パルサー11a〜11n
は図示しない送信遅延手段により異なる遅延時間でパル
スを発生する。振動子12は、複数の微小振動子12a〜12n
からなり、前記パルサー群11に対応して設けられてい
る。また各微小振動子12a〜12nは、パルサー群11からの
高電圧パルスが印加されることにより駆動した超音波を
発生する。この各微小振動子12a〜12nから発生した超音
波を異なる遅延時間で図示しない被検体に送波し、被検
体から散乱される超音波を同一微小振動子12a〜12nで受
波する。したがって、受波信号は、受波信号ラインL1〜
Lnを介して後段に出力される。一方、前記受波信号ライ
ンに高電圧リーク検出回路13が接続され、受波信号ライ
ンにリークされる高電圧の一部の電圧を検出するものと
なっている。すなわち高電圧リーク検出回路13は、前記
パルサー群11の各パルサー毎に前記受波信号ライン上に
接続される抵抗群R1と、この抵抗群R1を共通に接続した
共通出力端子ａと接地との間には抵抗R2が接続されてい
る。またコンパレータ31は、共通出力端子ａから前記リ
ーク電圧を抵抗R1を介して入力し、このリーク電圧を予
め設定された所定値と比較しこの比較結果を出力する。
電圧が超音波信号ラインにリークする危険性があり、安
全上の問題がある。そこでこの受波信号へのリークを防
止すべく、従来は、第３図に示すようなリーク電圧を検
出する検出回路を設けるようにしていた。以下検出回路
について説明する。第３図において、パルサー群11は、
複数のパルサー11a〜11nからなり、各パルサー11a〜11n
は図示しない送信遅延手段により異なる遅延時間でパル
スを発生する。振動子12は、複数の微小振動子12a〜12n
からなり、前記パルサー群11に対応して設けられてい
る。また各微小振動子12a〜12nは、パルサー群11からの
高電圧パルスが印加されることにより駆動した超音波を
発生する。この各微小振動子12a〜12nから発生した超音
波を異なる遅延時間で図示しない被検体に送波し、被検
体から散乱される超音波を同一微小振動子12a〜12nで受
波する。したがって、受波信号は、受波信号ラインL1〜
Lnを介して後段に出力される。一方、前記受波信号ライ
ンに高電圧リーク検出回路13が接続され、受波信号ライ
ンにリークされる高電圧の一部の電圧を検出するものと
なっている。すなわち高電圧リーク検出回路13は、前記
パルサー群11の各パルサー毎に前記受波信号ライン上に
接続される抵抗群R1と、この抵抗群R1を共通に接続した
共通出力端子ａと接地との間には抵抗R2が接続されてい
る。またコンパレータ31は、共通出力端子ａから前記リ
ーク電圧を抵抗R1を介して入力し、このリーク電圧を予
め設定された所定値と比較しこの比較結果を出力する。
受波信号ラインに高電圧がリークされると、高電圧リ
ーク検出回路13により振動子駆動中に対応した抵抗R1を
介してリーク電圧を取り込み、さらにこのリーク電圧を
コンパレータ31により所定値と比較し異常の有無を検出
していた。
ーク検出回路13により振動子駆動中に対応した抵抗R1を
介してリーク電圧を取り込み、さらにこのリーク電圧を
コンパレータ31により所定値と比較し異常の有無を検出
していた。
（発明が解決しようとする課題） 然し乍ら、上記従来の超音波診断装置によるリーク電
圧の検出にあっては、次のような問題がある。すなわち
第３図に示すパルサー群11の直流出力インピーダンスは
非常に小さいため、せっかくある抵抗R1により取り込ん
だリーク電圧も、各パルサー群に分圧されてしまう。例
えば微小振動子数が100個存在し、ある微小振動子に印
加されたときに発生するリーク電圧、すなわち共通出力
端子ａに現われる検出入力電圧は、約1/100に低減して
しまう。このため、リーク電圧が非常に小さくなるの
で、コンパレータ31による所定値との比較判定ができ
ず、その結果、リーク電圧の異常の有無を検出できない
という問題があった。
圧の検出にあっては、次のような問題がある。すなわち
第３図に示すパルサー群11の直流出力インピーダンスは
非常に小さいため、せっかくある抵抗R1により取り込ん
だリーク電圧も、各パルサー群に分圧されてしまう。例
えば微小振動子数が100個存在し、ある微小振動子に印
加されたときに発生するリーク電圧、すなわち共通出力
端子ａに現われる検出入力電圧は、約1/100に低減して
しまう。このため、リーク電圧が非常に小さくなるの
で、コンパレータ31による所定値との比較判定ができ
ず、その結果、リーク電圧の異常の有無を検出できない
という問題があった。
そこで本発明の目的は、比較手段に入力するリーク電
圧を上昇させ比較手段によりリーク電圧の異常の有無を
容易に検出でき、リーク電圧に対し安全な超音波診断装
置を提供することにある。
圧を上昇させ比較手段によりリーク電圧の異常の有無を
容易に検出でき、リーク電圧に対し安全な超音波診断装
置を提供することにある。
［発明の構成］ （課題を解決する為の手段） 本発明は上記の課題を解決し目的を達成する為に次の
ような手段を講じた。すなわち本発明は、パルサー群か
らの高電圧パルスを複数の微小振動子を並設する振動子
に印加させて該振動子を遅延駆動させ該振動子から被検
体に超音波を送波し前記被検体から散乱される超音波を
受波しこの受波信号により超音波診断情報を得る超音波
診断装置において、前記パルサー群の各出力端子に接続
され前記振動子駆動中のパルサーから前記受波信号ライ
ンにリークするリーク電圧を取り込む第１の抵抗群，こ
の第１の抵抗群の各抵抗に直列接続される前記リーク電
圧を順方向で入力するとオン動作するダイオード群，こ
のダイオード群の共通出力端子と接地との間に介挿され
る第２の抵抗，前記共通出力端子から前記リーク電圧を
前記振動子駆動中のパルサーに対応する第１の抵抗と前
記第２の抵抗とで分割した分割リーク電圧として入力し
この分割リーク電圧を所定値と比較する比較回路により
前記リーク電圧の異常の有無を検出する検出手段を設け
たものである。
ような手段を講じた。すなわち本発明は、パルサー群か
らの高電圧パルスを複数の微小振動子を並設する振動子
に印加させて該振動子を遅延駆動させ該振動子から被検
体に超音波を送波し前記被検体から散乱される超音波を
受波しこの受波信号により超音波診断情報を得る超音波
診断装置において、前記パルサー群の各出力端子に接続
され前記振動子駆動中のパルサーから前記受波信号ライ
ンにリークするリーク電圧を取り込む第１の抵抗群，こ
の第１の抵抗群の各抵抗に直列接続される前記リーク電
圧を順方向で入力するとオン動作するダイオード群，こ
のダイオード群の共通出力端子と接地との間に介挿され
る第２の抵抗，前記共通出力端子から前記リーク電圧を
前記振動子駆動中のパルサーに対応する第１の抵抗と前
記第２の抵抗とで分割した分割リーク電圧として入力し
この分割リーク電圧を所定値と比較する比較回路により
前記リーク電圧の異常の有無を検出する検出手段を設け
たものである。
（作用） このような手段を講じたことにより、次のような作用
を呈する。パルサー群のうち振動子駆動中のパルサーか
ら発生するリーク電圧は、第１の抵抗を介してダイオー
ドをオン動作させ、かつその他のパルサーに設けられた
ダイオードに対して逆バイアス状態とさせる。したがっ
て、各パルサーの直流出力インピーダンスが小さいもの
であっても、前記リーク電圧は、各パルサーの直流出力
インピーダンスに影響されることなく、第１の抵抗と第
２の抵抗とで分割される。その結果、比較手段に入力す
るリーク電圧は、非常に大きくなるので、容易に所定値
と比較でき、リーク電圧の異常の有無を検出できる。
を呈する。パルサー群のうち振動子駆動中のパルサーか
ら発生するリーク電圧は、第１の抵抗を介してダイオー
ドをオン動作させ、かつその他のパルサーに設けられた
ダイオードに対して逆バイアス状態とさせる。したがっ
て、各パルサーの直流出力インピーダンスが小さいもの
であっても、前記リーク電圧は、各パルサーの直流出力
インピーダンスに影響されることなく、第１の抵抗と第
２の抵抗とで分割される。その結果、比較手段に入力す
るリーク電圧は、非常に大きくなるので、容易に所定値
と比較でき、リーク電圧の異常の有無を検出できる。
（実施例） 第１図は本発明に係る超音波診断装置の一実施例の概
略構成を示すブロック図である。第１図に示すように超
音波診断装置は、超音波診断装置本体１と、この超音波
診断装置本体１に接続される超音波プローブ２で構成さ
れている。超音波診断装置本体１は、次のように構成さ
れている。パルサー群11は、高電圧を発生する高電圧電
源回路10からの高電圧V1により高電圧パルスs1を発生す
るものである。高電圧スイッチ14は、FET等のスイッチ
素子からなり、前記高電圧電源回路10からの電圧V2を受
けてスイッチ素子をオンさせてパルサー群11からの高電
圧パルスs1を超音波プローブ２に出力するものである。
超音波プローブ２は複数の微小振動子12（12a〜12n）と
接続用ケーブルからなる。またプローブ２は、前記高電
圧パルスs1により振動子12が駆動して図示しない被検体
に対して超音波を送波し、これにより得られる超音波を
同一振動子12で受波するものである。高圧リーク検出回
路13aは、前記パルサー群11から前記受波信号L1〜Ln上
にリークする直流リーク電圧を検出し異常の有無を検出
するものである。この高圧リーク検出回路13aは、第２
図に示すように構成されている。高圧リーク検出回路13
aは、正極性のリーク電圧を検出する検出回路21と、負
極性のリーク電圧を検出する検出回路22からなるもので
ある。検出回路21は、次のように構成されている。抵抗
群R1は、各パルサー11a〜11nの出力端子に接続され、前
記振動子12a〜12nの駆動中のパルサー11a〜11nから前記
受波信号にリークするリーク電圧を取り込むものであ
る。ダイオード群D1a〜D1nは、抵抗群R1の各抵抗に直列
接続され、前記リーク電圧を順方向で入力するとオン動
作するものである。抵抗R2は、前記ダイオード群D1a〜D
1nの共通出力端子ａと接地との間に介挿されている。コ
ンパレータ32は、共通出力端子ａから前記リーク電圧を
振動子12の駆動中のパルサー11に対応する抵抗R1と抵抗
R2とで分割した分割リーク電圧として入力しこの分割リ
ーク電圧を所定値と比較するものである。
略構成を示すブロック図である。第１図に示すように超
音波診断装置は、超音波診断装置本体１と、この超音波
診断装置本体１に接続される超音波プローブ２で構成さ
れている。超音波診断装置本体１は、次のように構成さ
れている。パルサー群11は、高電圧を発生する高電圧電
源回路10からの高電圧V1により高電圧パルスs1を発生す
るものである。高電圧スイッチ14は、FET等のスイッチ
素子からなり、前記高電圧電源回路10からの電圧V2を受
けてスイッチ素子をオンさせてパルサー群11からの高電
圧パルスs1を超音波プローブ２に出力するものである。
超音波プローブ２は複数の微小振動子12（12a〜12n）と
接続用ケーブルからなる。またプローブ２は、前記高電
圧パルスs1により振動子12が駆動して図示しない被検体
に対して超音波を送波し、これにより得られる超音波を
同一振動子12で受波するものである。高圧リーク検出回
路13aは、前記パルサー群11から前記受波信号L1〜Ln上
にリークする直流リーク電圧を検出し異常の有無を検出
するものである。この高圧リーク検出回路13aは、第２
図に示すように構成されている。高圧リーク検出回路13
aは、正極性のリーク電圧を検出する検出回路21と、負
極性のリーク電圧を検出する検出回路22からなるもので
ある。検出回路21は、次のように構成されている。抵抗
群R1は、各パルサー11a〜11nの出力端子に接続され、前
記振動子12a〜12nの駆動中のパルサー11a〜11nから前記
受波信号にリークするリーク電圧を取り込むものであ
る。ダイオード群D1a〜D1nは、抵抗群R1の各抵抗に直列
接続され、前記リーク電圧を順方向で入力するとオン動
作するものである。抵抗R2は、前記ダイオード群D1a〜D
1nの共通出力端子ａと接地との間に介挿されている。コ
ンパレータ32は、共通出力端子ａから前記リーク電圧を
振動子12の駆動中のパルサー11に対応する抵抗R1と抵抗
R2とで分割した分割リーク電圧として入力しこの分割リ
ーク電圧を所定値と比較するものである。
一方、検出回路22は、前記検出回路21と基本的には同
一構成であるが、ダイオードD2a〜D2nがダイオードD1a
〜D1nに対して逆極性に設けられている点が異なる。す
なわちダイオード群D2a〜D2nは負極性となるようにアノ
ードを端子ｂで共通接続し、この共通出力端子ｂから抵
抗R1と抵抗R2との分割リーク電圧がコンパレータ33に入
力するものとなっている。
一構成であるが、ダイオードD2a〜D2nがダイオードD1a
〜D1nに対して逆極性に設けられている点が異なる。す
なわちダイオード群D2a〜D2nは負極性となるようにアノ
ードを端子ｂで共通接続し、この共通出力端子ｂから抵
抗R1と抵抗R2との分割リーク電圧がコンパレータ33に入
力するものとなっている。
システムコントローラ15は、前記高圧リーク検出回路
13aの出力信号によりリーク発生信号を入力しこの信号
に基き前記高電圧電源回路10を制御するものである。
13aの出力信号によりリーク発生信号を入力しこの信号
に基き前記高電圧電源回路10を制御するものである。
次にこのように構成された実施例の作用について説明
する。まず、高電圧電源回路10で高電圧が発生すると、
この高電圧はパルサー群11および高電圧スイッチ14に印
加される。そうすると、パルサー群11では高電圧パルス
s1を発生しこのパルスは、高電圧スイッチ14を介して超
音波プローブ２の各微小振動子12a〜12nを遅延駆動す
る。そうすると、微小振動子12a…から順次遅延しなが
ら、超音波は図示しない被検体に送波され、該被検体か
ら反射される超音波は同一微小振動子12a〜12nで受波さ
れ、受波信号ライン上を通過する。そしてもし直流リー
ク電圧が受波信号ラインL1〜Lnに発生すると、検出回路
21により正極性リーク電圧は、例えば抵抗R1およびダイ
オードD1aがオン動作する。またその他の抵抗R1および
ダイオードD1b〜D1nは前記ダイオードD1aに対して逆バ
イアス状態となる。各パルサー11b〜11nの直流出力イン
ピーダンスが小さいものであっても、前記リーク電圧
は、各パルサー11b〜11nの直流出力インピーダンスに影
響されることなく、第１の抵抗R1と第２の抵抗R2とで分
割され、R1/（R1＋R2）の分割電圧を得る。その結果、
コンパレータ32に入力するリーク電圧は、非常に大きく
なるので、容易に所定値と比較でき、リーク電圧の異常
の有無を検出できる。
する。まず、高電圧電源回路10で高電圧が発生すると、
この高電圧はパルサー群11および高電圧スイッチ14に印
加される。そうすると、パルサー群11では高電圧パルス
s1を発生しこのパルスは、高電圧スイッチ14を介して超
音波プローブ２の各微小振動子12a〜12nを遅延駆動す
る。そうすると、微小振動子12a…から順次遅延しなが
ら、超音波は図示しない被検体に送波され、該被検体か
ら反射される超音波は同一微小振動子12a〜12nで受波さ
れ、受波信号ライン上を通過する。そしてもし直流リー
ク電圧が受波信号ラインL1〜Lnに発生すると、検出回路
21により正極性リーク電圧は、例えば抵抗R1およびダイ
オードD1aがオン動作する。またその他の抵抗R1および
ダイオードD1b〜D1nは前記ダイオードD1aに対して逆バ
イアス状態となる。各パルサー11b〜11nの直流出力イン
ピーダンスが小さいものであっても、前記リーク電圧
は、各パルサー11b〜11nの直流出力インピーダンスに影
響されることなく、第１の抵抗R1と第２の抵抗R2とで分
割され、R1/（R1＋R2）の分割電圧を得る。その結果、
コンパレータ32に入力するリーク電圧は、非常に大きく
なるので、容易に所定値と比較でき、リーク電圧の異常
の有無を検出できる。
一方、検出回路22によれば、駆動中の振動子12に負極
性が印加されたときに用いられる。例えばダイオードD2
bがオン動作すると、その他のダイオードD2a,D2c〜D2n
等は逆パイアス状態となり、上述した正極性リーク電圧
における効果と同様な効果が得られる。すなわち、パル
サーが低出力インピーダンスであっても共通出力端子ｂ
に入力するリーク電圧の低下を防止できる。これにより
容易にコンパレータ33で所定値と比較判定でき、安全性
の確保が確実となる。
性が印加されたときに用いられる。例えばダイオードD2
bがオン動作すると、その他のダイオードD2a,D2c〜D2n
等は逆パイアス状態となり、上述した正極性リーク電圧
における効果と同様な効果が得られる。すなわち、パル
サーが低出力インピーダンスであっても共通出力端子ｂ
に入力するリーク電圧の低下を防止できる。これにより
容易にコンパレータ33で所定値と比較判定でき、安全性
の確保が確実となる。
なお本発明は上述した実施例に限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能
であるのは勿論である。
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能
であるのは勿論である。
［発明の効果］ 本発明によれば、高圧回路部から発生するリーク電圧
は、第１の抵抗を介してダイオードをオン動作させ、か
つその他のパルサーに接続されたダイオードに対して逆
バイアス状態となる。各パルサーの直流出力インピーダ
ンスが小さいものであっても、前記リーク電圧は、各パ
ルサーの直流出力インピーダンスに影響されることな
く、第１の抵抗と第２の抵抗とで分割される。その結
果、比較手段に入力するリーク電圧は、非常に大きくな
るので、容易に所定値と比較でき、リーク電圧の異常の
有無を検出できる超音波診断装置を提供できる。
は、第１の抵抗を介してダイオードをオン動作させ、か
つその他のパルサーに接続されたダイオードに対して逆
バイアス状態となる。各パルサーの直流出力インピーダ
ンスが小さいものであっても、前記リーク電圧は、各パ
ルサーの直流出力インピーダンスに影響されることな
く、第１の抵抗と第２の抵抗とで分割される。その結
果、比較手段に入力するリーク電圧は、非常に大きくな
るので、容易に所定値と比較でき、リーク電圧の異常の
有無を検出できる超音波診断装置を提供できる。
第１図は本発明に係る超音波診断装置の一実施例の概略
構成を示すブロック図、第２図はリーク電圧を検出する
検出回路を備え超音波振動子を駆動する回路を示す図、
第３図は従来の検出回路を備え超音波振動子を駆動する
回路を示す図である。 １……超音波診断装置本体、２……超音波プローブ、10
……高電圧電源回路、11……パルサー群、12……振動
子、13,13a……高圧リーク検出回路、14……高電圧スイ
ッチ、15……システムコントローラ、21,22……検出回
路、31〜33……コンパレータ、D1a〜D1n,D2a〜D2n……
ダイオード、R1,R2……抵抗。
構成を示すブロック図、第２図はリーク電圧を検出する
検出回路を備え超音波振動子を駆動する回路を示す図、
第３図は従来の検出回路を備え超音波振動子を駆動する
回路を示す図である。 １……超音波診断装置本体、２……超音波プローブ、10
……高電圧電源回路、11……パルサー群、12……振動
子、13,13a……高圧リーク検出回路、14……高電圧スイ
ッチ、15……システムコントローラ、21,22……検出回
路、31〜33……コンパレータ、D1a〜D1n,D2a〜D2n……
ダイオード、R1,R2……抵抗。
Claims (1)
- 【請求項１】パルサー群からの高電圧パルスを複数の微
小振動子を並列する振動子に印加させて該振動子を駆動
させ該振動子から被検体に超音波を送波し前記被検体か
ら散乱される超音波を受波しこの受波信号により超音波
診断情報を得る超音波診断装置において、 前記パルサー群の各出力端子に接続され前記振動子駆動
中のパルサーから前記受波信号の信号ラインにリークす
るリーク電圧を取り込む第１の抵抗群、この第１の抵抗
群の各抵抗に直列接続されるダイオード群、このダイオ
ード群の共通出力端子から前記リーク電圧を入力し前記
リーク電圧の有無を検出する検出手段を設けたことを特
徴とする超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63321143A JP2714077B2 (ja) | 1988-12-20 | 1988-12-20 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63321143A JP2714077B2 (ja) | 1988-12-20 | 1988-12-20 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02167144A JPH02167144A (ja) | 1990-06-27 |
| JP2714077B2 true JP2714077B2 (ja) | 1998-02-16 |
Family
ID=18129281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63321143A Expired - Lifetime JP2714077B2 (ja) | 1988-12-20 | 1988-12-20 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2714077B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100876720B1 (ko) * | 2001-04-05 | 2008-12-31 | 지이 메디컬 시스템즈 글로발 테크놀러지 캄파니 엘엘씨 | 초음파 진단 장치 |
-
1988
- 1988-12-20 JP JP63321143A patent/JP2714077B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100876720B1 (ko) * | 2001-04-05 | 2008-12-31 | 지이 메디컬 시스템즈 글로발 테크놀러지 캄파니 엘엘씨 | 초음파 진단 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02167144A (ja) | 1990-06-27 |
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