JP2708460B2 - Chip sticking device - Google Patents

Chip sticking device

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JP2708460B2
JP2708460B2 JP9137088A JP9137088A JP2708460B2 JP 2708460 B2 JP2708460 B2 JP 2708460B2 JP 9137088 A JP9137088 A JP 9137088A JP 9137088 A JP9137088 A JP 9137088A JP 2708460 B2 JP2708460 B2 JP 2708460B2
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microscope
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head chip
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清隆 和才
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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、VTR用ビデオヘッドの組立装置に係わり、
特に、多数のヘッドチップを1枚のベース上に貼付ける
のに好適なチップ貼付装置に関する。
The present invention relates to an apparatus for assembling a video head for a VTR,
In particular, the present invention relates to a chip sticking apparatus suitable for sticking a large number of head chips on one base.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

特開昭62−31007号公報には、1枚のベースに2つの
ヘッドチップを、これらのギャップ間距離が充分短かい
ように、近接して貼り付け、いわゆるダブルアジマスヘ
ッドを形成するようにした組立装置が開示されている。
これは、予め1つのヘッドチップが貼り付けられたベー
スとヘッドチップとを夫々保持部で保持し、ベースとヘ
ッドチップとの相対位置を光学測定部で測定しつつこの
相対位置調整を行ない、しかる後、瞬間接着剤でもって
ヘッドチップをベースに貼りつけるものである。
Japanese Unexamined Patent Publication No. Sho 62-31007 discloses an assembly in which two head chips are attached to one base close to each other so that the distance between the gaps is sufficiently short to form a so-called double azimuth head. An apparatus is disclosed.
In this method, a base and a head chip to which one head chip is attached in advance are respectively held by a holding unit, and the relative position between the base and the head chip is measured by an optical measurement unit to adjust the relative position. Later, the head chip is attached to the base with an instant adhesive.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

ところで、上記従来技術では、光学測定部としては1
個の顕微鏡を用い、2つのヘッドチップの先端部(ヘッ
ドギャップ部)をこの顕微鏡の同一視野内にとらえ、こ
れらヘッドチップの突出段差X1,ギャップ間隔Y1,トラッ
ク段差Z1などをヘッドチップ保持部で粗微動し、顕微鏡
の視野内に予めセットされた基準線に合わせ、しかる
後、デスペンサで接着剤を供給してヘッドチップをベー
スに貼りつけている。
By the way, in the above-mentioned conventional technology, the optical measuring unit is 1
Using two microscopes, the tips (head gaps) of the two head chips are captured in the same field of view of the microscope, and the projection step X 1 , gap interval Y 1 , track step Z 1, etc. of these head chips are determined by the head chip. Coarse and fine movement is performed by the holding unit, and is adjusted to a reference line preset in the field of view of the microscope. Thereafter, an adhesive is supplied by a dispenser to attach the head chip to the base.

一方、ビデオ信号をディジタル化して記録再生するデ
ィジタルVTRにおいては、必要信号量の関係でもって各
チャンネル記憶再生が行なわれ、このために、このチャ
ンネル数に等しい数の多数のヘッドチップが1つのベー
スに近接して配置される。このような場合にも、これら
ヘッドチップを1つのベースに貼りつけるに際しては、
これらの突出段差X1,ギャップ間隔Y1,トラック段差Z1
調整する必要があり、さらには、回転シリンダに取りつ
けたときの回転中心に関しての各ヘッドチップ間の角度
間隔(以下、姿勢という)θの調整も必要となる。
On the other hand, in a digital VTR for digitizing and recording and reproducing a video signal, each channel is stored and reproduced in relation to a required signal amount. Therefore, as many head chips as the number of channels equal one base chip. Is arranged in close proximity. Even in such a case, when attaching these head chips to one base,
It is necessary to adjust these protruding steps X 1 , gap intervals Y 1 , and track steps Z 1 , and furthermore, an angular interval between head chips with respect to a rotation center when attached to a rotary cylinder (hereinafter referred to as a posture). adjustment of θ 1 is also required.

ところで、かかるディジタルVTR用のビデオヘッド組
立に際し、上記従来技術を用いると、顕微鏡の総合倍率
が、ヘッドチップのギャップ確認のため、400〜1000倍
にしており、このために、多連のヘッドチップを同一視
野内にとらえることができない。
By the way, when assembling a video head for such a digital VTR, if the above-mentioned conventional technology is used, the total magnification of the microscope is set to 400 to 1000 times in order to check the gap between the head chips. Cannot be captured in the same field of view.

また、各ヘッドチップの貼付姿勢θを確認するため
に、1枚のヘッドチップの平面を上からまたは下から別
の顕微鏡の視野内にヘッドチップの平面全体をとらえる
方法もあるが、ヘッドチップ貼付作業の確認の必要性に
より、この顕微鏡の総合倍率を50〜100倍にする必要が
ある。しかし、これによると、この顕微鏡に設けた基準
線にヘッドチップの接合線などを合わせるにはこの倍率
は低くすぎ、このために、姿勢θに対する充分な精度
が得られない。
Further, in order to confirm the attached posture theta 1 of each head chip, there is a method to capture the entire plane of the head chips in one plane of the head chip from the bottom or from the top of another microscopic field, the head chip Due to the necessity of confirming the attaching operation, it is necessary to increase the total magnification of this microscope to 50 to 100 times. However, according to this, the fit and bonding wire of the head chip to a reference line provided on the microscope only magnification is low, since this can not be obtained sufficient accuracy for posture theta 1.

なお、各ヘッドチップの姿勢θは、ヘッドチップと
テープとのタッチの関係上、VTRにおける回転シリンダ
の回転中心の法線が基準線として必要となるが、現状の
貼付装置では、2個のヘッドチップを平行に貼りつけて
いるため、上記各ヘッドチップの姿勢θの位置決めが
非常に難かしいなどの問題がある。
Incidentally, the posture theta 1 of each head chip, the touch of the relationship between the head chip and the tape, but normal of the center of rotation of the cylinder in the VTR is required as a reference line, in the state of the sticking apparatus is two since the paste the head chip in parallel, the positioning of the posture theta 1 of each head chip is very like flame Kashii problem.

本発明の目的は、かかる問題点を解消し、1枚のベー
スに多連ヘッドチップを精度良く貼りつけることができ
るようにしたチップ貼付装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a chip adhering device which can solve such a problem and can adhere a multiple head chip to one base with high accuracy.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記目的を達成するために、本発明は、複数のチップ
貼付位置を有するベースが取りつけられる回転テーブル
と、該回転テーブルの回転を検出する回転割出器と、該
回転テーブルに取りつけられた該ベースの1つの該チッ
プ貼付位置の先端部を視野内に含む第1の顕微鏡と、該
第1の顕微鏡を水平、垂直方向に移動させる第1のステ
ージと、該回転テーブルに取りつけられた該ベースの1
つの該チップ貼付位置の上面を視野内に含む第2の顕微
鏡と、該第2の顕微鏡を水平、垂直方向に移動させる第
2のステージと、ヘッドチップを保持するチップホルダ
と、該ヘッドチップを水平、垂直方向に変位させてかつ
回動させる第3のステージと、該回転割出器の出力にも
とづく該回転テーブルの回転位置と該第1の顕微鏡の水
平、垂直位置を設定するためのカウンタでもって構成す
る。
In order to achieve the above object, the present invention provides a rotary table on which a base having a plurality of chip attaching positions is mounted, a rotary indexer for detecting rotation of the rotary table, and the base mounted on the rotary table. A first microscope including a tip portion of the chip attaching position in a field of view, a first stage for moving the first microscope in horizontal and vertical directions, and a base mounted on the rotary table. 1
A second microscope including the upper surface of the two chip attaching positions in the field of view, a second stage for moving the second microscope in the horizontal and vertical directions, a chip holder for holding a head chip, and the head chip. A third stage displaced and rotated in the horizontal and vertical directions, a counter for setting a rotation position of the rotary table based on an output of the rotary indexer and a horizontal and vertical position of the first microscope; Make up with it.

また、回転テーブルにマスタゲージを設け、該マスタ
ゲージによって該第1,第2の顕微鏡の初期設定を可能と
する。
In addition, a master gauge is provided on the rotary table, and the master gauge enables initial setting of the first and second microscopes.

さらに、第1の顕微鏡をカメラと一体化するととも
に、該第1の顕微鏡に基準線を有する目盛板やスリット
板を設け、また、カメラとモニタとの間に輝度サンプラ
を設ける。
Further, the first microscope is integrated with the camera, a scale plate or a slit plate having a reference line is provided on the first microscope, and a luminance sampler is provided between the camera and the monitor.

〔作用〕[Action]

第1,第2の顕微鏡は、1つのヘッドチップだけを含む
視野とするので、倍率を非常に高めることで焦点深度を
浅くすることができ、このために、第3のステージを用
いてヘッドチップの位置設定を高精度にできる。ヘッド
チップの突出段差X1は第1の顕微鏡のピント合わせによ
って設定でき、第3のステージにより、モニタをみなが
ら行なうことができる。モニタでのピント合わせは、ヘ
ッドチップ先端部のヘッドギャップのピントをみたり、
輝度サンプラによる場合には、モニタ上には輝度線がコ
ントラストに比例したノッチとして現われ、これによっ
て定量的にピント合わせができる。
Since the first and second microscopes have a field of view that includes only one head chip, the depth of focus can be reduced by increasing the magnification very much. Can be set with high accuracy. Projecting step X 1 of the head chip can be set by the focus of the first microscope, the third stage can be carried out while watching the monitor. When focusing on the monitor, check the focus of the head gap at the tip of the head chip,
In the case of using the luminance sampler, the luminance line appears on the monitor as a notch proportional to the contrast, thereby enabling quantitative focusing.

また、回転割出器によって回転テーブルの回転量が検
出できるから、これとカウンタとの値とから、回転テー
ブルの回転角が高精度で得られ、したがって、ギャップ
間隔Y1が高精度に設定できる。トラック段差Z1について
は、第1のステージにより、カウンタに設定される値に
応じて第1の顕微鏡を垂直方向に変位させることによっ
て設定される。
Further, since the amount of rotation of the turntable by rotation indexer can be detected from the value of this counter, the rotation angle of the rotary table can be obtained with high accuracy, therefore, the gap distance Y 1 can be set with high precision . The track level difference Z 1, the first stage is set by displacing the first microscope in accordance with the value set in the counter in the vertical direction.

ヘッドチップの姿勢θについては、上記のギャップ
間隔Y1の設定によって高精度に決めることができるが、
さらに、第1の顕微鏡に設けたスリット板とヘッドチッ
プの先端部とにより、モニタ上に明暗線が生じ、この明
暗線のコントラストがヘッドギャップの像を中心に対称
とすることにより、高精度に設定できる。
The orientation theta 1 of the head chip, it can be determined with high accuracy by the setting of the above gap distance Y 1,
Further, a bright and dark line is generated on the monitor by the slit plate provided in the first microscope and the tip of the head chip, and the contrast of the bright and dark line is symmetrical with respect to the image of the head gap, thereby achieving high precision. Can be set.

〔実施例〕〔Example〕

まず、第4図および第5図により、ベースにヘッドチ
ップが4個貼りつけられた4連チップ貼付ヘッドについ
て説明する。なお、第4図はこのヘッドの平面図、第5
図はこのヘッドの側面図であって、1はベース,2はヘッ
ドチップ,3は接着剤,4は先端部,5はヘッドギャップ,6は
平面図,7は2つのコア半体のチップ接合線である。
First, referring to FIGS. 4 and 5, a four-chip bonding head in which four head chips are bonded to a base will be described. FIG. 4 is a plan view of the head, and FIG.
The figure is a side view of this head, 1 is a base, 2 is a head chip, 3 is an adhesive, 4 is a tip, 5 is a head gap, 6 is a plan view, and 7 is a chip joining of two core halves. Line.

第4図,第5図において、ベース1の4つの突状部の
先端に夫々ヘッドチップ2が貼りつけられる。これらヘ
ッドチップ2の貼付精度としては、各ヘッドチップ2の
ヘッドギャップ5が回転シリンダの回転中心Oから同一
半径Rに位置させるためのヘッドチップ2間の先端部4
の突出段差X1,各ヘッドチップ2のギャップ間隔Y1、ト
ラック段差Z1および回転中心Oとギャップ間隔Y1とのな
す角度すなわち姿勢θの夫々がμmオーダ、分オーダ
での誤差範囲で位置決めされなければならない。
4 and 5, head chips 2 are attached to the tips of four protruding portions of the base 1, respectively. The accuracy of sticking these head chips 2 is such that the head gap 5 of each head chip 2 is positioned at the same radius R from the rotation center O of the rotary cylinder.
Of the projection step X 1 , the gap interval Y 1 of each head chip 2, the track step Z 1, and the angle between the rotation center O and the gap interval Y 1 , that is, the attitude θ 1 , are within the error range on the order of μm and minute. Must be positioned.

以下、このように各ヘッドチップ2をベースに貼りつ
けるための本発明の実施例を図面によって説明する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention for attaching each head chip 2 to the base in this manner will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明によるチップ貼付装置の一実施例を示
す平面図、第2図は矢印A側からみた側面図、第3図は
矢印B側からみた側面図であって、1はベース、2はヘ
ッドチップ、8は枠、9はマスタゲージ、10はチップ整
列台、11は回転テーブル、12は回転マグネスケール、13
はカウンタ、14はセンサ、15はマイクロヘッド、16はX
ステージ、17は直進センサ、18は回転ツマミ、19はZス
テージ、20は輝度サンプラ、21はモニタ、22はカメラ、
23は顕微鏡、24は門柱、25はモニタ、26はカメラ、27は
顕微鏡、28はノズル、29はZステージ、30は光源、31は
リレーレンズ、32はスリット板、33はハーフプリズム、
34は対物レンズ、35,35′は基準線、36は目盛板、37は
接眼レンズ、38は撮像素子、39はチップホルダ、40はXY
ステージ、41はZステージ、42は吸着ブロック、43は平
行板バネ、44はθステージ、45,45′は切欠線である。
FIG. 1 is a plan view showing one embodiment of a chip sticking apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a side view seen from arrow A side, FIG. 3 is a side view seen from arrow B side, and 1 is a base; 2 is a head chip, 8 is a frame, 9 is a master gauge, 10 is a chip alignment table, 11 is a rotary table, 12 is a rotary magnescale, 13
Is a counter, 14 is a sensor, 15 is a micro head, 16 is X
Stage, 17 is a linear sensor, 18 is a rotary knob, 19 is a Z stage, 20 is a brightness sampler, 21 is a monitor, 22 is a camera,
23 is a microscope, 24 is a portal, 25 is a monitor, 26 is a camera, 27 is a microscope, 28 is a nozzle, 29 is a Z stage, 30 is a light source, 31 is a relay lens, 32 is a slit plate, 33 is a half prism,
34 is an objective lens, 35 and 35 'are reference lines, 36 is a scale plate, 37 is an eyepiece, 38 is an image sensor, 39 is a chip holder, and 40 is XY
A stage, 41 is a Z stage, 42 is a suction block, 43 is a parallel leaf spring, 44 is a θ stage, and 45 and 45 'are cutout lines.

第1図〜第3図において、枠8上には、回転マグネス
ケール12とその上に回転テーブル11とが設けられてい
る。回転テーブル11にはマスタゲージ9、ベース1、チ
ップ整列台10が取りつけられている。回転マグネスケー
ル12に対向してセンサ14が設けられ、このセンサ14はカ
ウンタ13に接続されている。回転マグネスケール12とセ
ンサ14とが回転テーブル11の回転割出しに用いられる。
1 to 3, a rotary magnescale 12 and a rotary table 11 are provided on the frame 8. The turntable 11 is provided with a master gauge 9, a base 1, and a chip alignment table 10. A sensor 14 is provided facing the rotating magnescale 12, and the sensor 14 is connected to a counter 13. The rotary magnescale 12 and the sensor 14 are used for indexing the rotation of the rotary table 11.

また、枠8上には、マイクロヘッド15の操作によって
矢印X方向に移動するXステージ16が設けられ、このマ
イクロヘッド15はカウンタ13に接続されている。Xステ
ージ16上には、回転ツマミ18によって矢印Z方向移動す
るZステージ19が設けられ、このZ方向の移動はカウン
タ13に接続された直進センサ17によって検知される。Z
ステージ19上には、カメラ22と顕微鏡23とが一体となっ
て水平方向(X方向)に取りつけられ、このカメラ22が
輝度サンプラ20を介してモニタ21に接続されている。
An X stage 16 is provided on the frame 8 and moves in the direction of the arrow X by operating the micro head 15. The micro head 15 is connected to the counter 13. On the X stage 16, there is provided a Z stage 19 which is moved in the direction of arrow Z by a rotary knob 18, and the movement in the Z direction is detected by a straight-ahead sensor 17 connected to the counter 13. Z
A camera 22 and a microscope 23 are integrally mounted on the stage 19 in the horizontal direction (X direction), and the camera 22 is connected to a monitor 21 via a luminance sampler 20.

なお、Xステージ16上には、さらに、顕微鏡23をはさ
んで門柱24が取りつけられており、この門柱24から水平
方向(X方向)に突出したZステージ29に、カメラ26と
顕微鏡27とが一体となって垂直方向(Z方向)に取りつ
けられ、また、このZステージ29の先端に接着剤塗布用
のノズル28が取りつけられている。
Further, on the X stage 16, a gate post 24 is further mounted with a microscope 23 interposed therebetween. A camera 26 and a microscope 27 are mounted on a Z stage 29 projecting in the horizontal direction (X direction) from the gate post 24. The Z stage 29 is integrally mounted in the vertical direction (Z direction), and a nozzle 28 for applying the adhesive is mounted on the tip of the Z stage 29.

ここで、顕微鏡23は光源30、リレーレンズ31、スリッ
ト板32、ハーフプリズム33、対物レンズ34、目盛板36お
よび接眼レンズ37からなる。回転テーブル11に取りつけ
られたベース1の先端にヘッドチップ2を配置すると、
光源30からの光はリレーレンズ31によって明暗などが配
置されたスリット板32で結像し、さらに、ハーフプリズ
ム33で反射された後、対物レンズ34によってヘッドチッ
プ2の先端部で結像する。このヘッドチップ2で反射さ
れた光は、対物レンズ34、ハーフプリズム33を通り、基
準線が設けられた目盛板36で結像し、さらに、接眼レン
ズ37でカメラ22の撮像素子38で結像する。この目盛板36
の基準線がモニタ21上に基準線35として表示される。
Here, the microscope 23 includes a light source 30, a relay lens 31, a slit plate 32, a half prism 33, an objective lens 34, a scale plate 36, and an eyepiece 37. When the head chip 2 is arranged at the tip of the base 1 attached to the turntable 11,
The light from the light source 30 is imaged by a relay lens 31 on a slit plate 32 on which light and darkness is arranged, and further reflected by a half prism 33, and then imaged on the tip of the head chip 2 by an objective lens. The light reflected by the head chip 2 passes through the objective lens 34 and the half prism 33, forms an image on a scale plate 36 provided with a reference line, and forms an image with an eyepiece 37 on an image sensor 38 of the camera 22. I do. This scale plate 36
Is displayed as the reference line 35 on the monitor 21.

顕微鏡27もこれと同様の構成をなしているが、スリッ
ト板が省かれている。また、その目盛板での基準線がモ
ニタ25上に基準線35′として表示される。
The microscope 27 has a similar configuration, but the slit plate is omitted. The reference line on the scale is displayed on the monitor 25 as a reference line 35 '.

枠8上には、さらにまた、XYステージ40が設けられて
いる。このXYステージ40上にZステージ41が取りつけら
れ、このZステージ41の側部にθステージ44が取り付け
られている。このθステージ44にはヘッドチップ2の吸
着ブロック42とこれを保持する平行板バネ43とからなる
チップホルダ39が取りつけられている。XYステージ40は
ヘッドチップ2のXY方向の位置決めを行なうためのもの
であり、Zステージ41はヘッドチップ2の上下方向(Z
方向)の位置決めを行なうものである。また、θステー
ジ44はヘッドチップの姿勢θを調整するためのものであ
る。
An XY stage 40 is provided on the frame 8. A Z stage 41 is mounted on the XY stage 40, and a θ stage 44 is mounted on a side of the Z stage 41. The θ stage 44 is provided with a chip holder 39 including a suction block 42 for the head chip 2 and a parallel leaf spring 43 for holding the suction block 42. The XY stage 40 is for positioning the head chip 2 in the XY direction, and the Z stage 41 is for moving the head chip 2 in the vertical direction (Z
Direction). The θ stage 44 is for adjusting the attitude θ of the head chip.

次に、この実施例の動作を説明する。 Next, the operation of this embodiment will be described.

まず、回転テーブル11を第1図の図示状態から左まわ
りに回転させる。この回転量θはセンサ14と回転マグネ
スケール12によって検出され、予めカウンタ13に設定さ
れた回転量θだけ回転すると、回転テーブル11は停止す
る。このとき、マスタゲージ9の先端部に設けられた切
欠線45が顕微鏡23の視野内に入り、マスタゲージ9の上
面に設けられた切欠線45′は顕微鏡27の視野内に入る。
そこで、モニタ21では、第6図に示すように、顕微鏡23
における目盛板36の基準線35とともにマスタゲージ9の
切欠線45が表示され、モニタ25では、第7図に示すよう
に、顕微鏡27における目盛板(図示せず)の基準線35′
とともにマスタゲージ9の切欠線45′が表示される。
First, the turntable 11 is rotated counterclockwise from the state shown in FIG. The rotation amount θ is detected by the sensor 14 and the rotating magnescale 12. When the rotation amount θ is rotated by the rotation amount θ set in advance in the counter 13, the rotation table 11 stops. At this time, the notch line 45 provided at the tip of the master gauge 9 enters the field of view of the microscope 23, and the notch line 45 'provided at the upper surface of the master gauge 9 enters the field of view of the microscope 27.
Therefore, as shown in FIG.
The notch line 45 of the master gauge 9 is displayed together with the reference line 35 of the scale plate 36 in FIG. 7, and the monitor 25 displays the reference line 35 'of the scale plate (not shown) in the microscope 27 as shown in FIG.
At the same time, a notch line 45 'of the master gauge 9 is displayed.

次に、回転テーブル11を微動させ、マイクロヘッド1
5、回転ツマミ18を操作し、モニタ21上で基準線35に切
欠線45が一致するように、顕微鏡23のX,Z方向の位置調
整を行ない、同様に、モニタ25上で基準線35′に切欠線
45′が一致するように顕微鏡27の位置調整を行ない、光
学系の原点出しを行なう。この状態でカウンタ13をリセ
ットし、X値,Z値,θ値を夫々零に設定する。
Next, the rotary table 11 is slightly moved so that the micro head 1
5. Operate the rotary knob 18 to adjust the position of the microscope 23 in the X and Z directions so that the notch line 45 matches the reference line 35 on the monitor 21. Similarly, the reference line 35 'is displayed on the monitor 25. Notch line
The position of the microscope 27 is adjusted so that 45 'coincides, and the origin of the optical system is determined. In this state, the counter 13 is reset, and the X value, the Z value, and the θ value are each set to zero.

次に、カウンタ13にセンサ14の出力を順次書き込みな
がら回転テーブル11を第1図で右まわりに回転させ、チ
ップ整列台10上の1つのヘッドチップ2が顕微鏡27の真
下に来るようにする。そして、Zステージ41でもってチ
ップホルダ39を降下させ、吸着ブロック42でこのヘッド
チップ2を真空吸着させる。吸着ブロック42はヘッドチ
ップ2を吸着すると上昇し、回転テーブル11はカウンタ
13のθ値を読みながら左まわりに回転し、ベース1の貼
付部の1つが顕微鏡27の真下に来た位置で停止する。
Next, the rotary table 11 is rotated clockwise in FIG. 1 while sequentially writing the output of the sensor 14 to the counter 13 so that one head chip 2 on the chip alignment table 10 is directly below the microscope 27. Then, the chip holder 39 is lowered by the Z stage 41, and the head chip 2 is vacuum-sucked by the suction block. The suction block 42 rises when the head chip 2 is sucked, and the turntable 11
Rotating counterclockwise while reading the θ value of 13, it stops at a position where one of the sticking portions of the base 1 comes directly below the microscope 27.

しかる後、チップホルダ39はZステージ40によって降
下し、ヘッドチップ2はベース1の貼付部に平行板バネ
43によって押しつけられるか、あるいは若干浮いた状態
に設定される。この状態において、第8図に示すよう
に、モニタ25において、基準線35′とヘッドチップ2の
先端部4、接合線7とが一致していれば、姿勢θ、位置
X、Yに対するチップホルダ39による粗動が終る。貼付
精度をさらに向上させるためには、第9図に示すよう
に、モニタ21上で基準線35とヘッドチップ2のギャップ
5とを一致させ、ギャップ間隔Y1に関する位置決めを行
なう。これらの操作はθステージ44、XYステージ40によ
って行なわれる。
After that, the tip holder 39 is lowered by the Z stage 40, and the head chip 2 is placed on the attaching portion of the base 1 by a parallel leaf spring.
Set to be pressed or slightly floated by 43. In this state, as shown in FIG. 8, on the monitor 25, if the reference line 35 'coincides with the distal end portion 4 and the joining line 7 of the head chip 2, the tip holder for the posture θ, the positions X and Y Coarse movement by 39 ends. To further improve the sticking accuracy, as shown in FIG. 9, the monitor 21 on is matched with the gap 5 of the reference line 35 and the head chip 2, for positioning about the gap distance Y 1. These operations are performed by the θ stage 44 and the XY stage 40.

また、突出段差X1の調整は、モニタ21でギャップ5の
ピントが合うように、XYステージ40を微動させて行な
う。このとき、モニタ21の中央部を横にクロスして輝度
信号を輝度サンプラ20で検出し、その明暗度をモニタ21
の下部に輝度線46として表示する。ピントが合えばスリ
ット板32の明暗線47がはっきり結像し、輝度線46のノッ
チ高さ48が最大となることを利用してピント合わせの輝
度を高めることができる。
The adjustment of the projecting step X 1 is, as is focused gap 5 on the monitor 21, carried out by the fine movement of the XY stage 40. At this time, the luminance signal is detected by the luminance sampler 20 by crossing the center of the monitor 21 horizontally, and the brightness is determined by the monitor 21.
Is displayed as a luminance line 46 in the lower part of. When focus is achieved, the bright and dark lines 47 of the slit plate 32 are clearly imaged, and the notch height 48 of the luminance line 46 is maximized, so that the luminance for focusing can be increased.

姿勢θは、ヘッドチップ2の先端部4の姿勢がΔθ
だけ誤ると、ヘッドチップ2のヘッドギャップ5を境
に左右で輝度線46上の各部の明暗線47のノッチ高さ48が
対称とならない。そこで、θステージ44を微動すること
により、明暗線47の各部のノッチ高さ48がギャップ5を
境に対称となるため、ヘッドチップ2の姿勢θを高精
度に合わせ込むことができる。
The posture θ 1 is such that the posture of the tip 4 of the head chip 2 is Δθ
If a mistake is made by one, the notch height 48 of the light / dark line 47 of each part on the luminance line 46 on the left and right with the head gap 5 of the head chip 2 as the boundary is not symmetrical. Therefore, by fine movement of the theta stage 44, since each part of the notch height 48 of the dark line 47 is symmetrical to the boundary of the gap 5 can be intended to adjust the attitude theta 1 of the head chip 2 with high accuracy.

以上の調整作業が終ると、Zステージ41でヘッドチッ
プ2をベース1に再度押圧し、ディスペンサからノズル
28に接着剤を送り込み、第8図に示すモニタ25を目視し
ながら接着剤を塗布し、ヘッドチップ2をベース1に接
着する。接着後、Zステージ41によってチップホルダ39
を上昇させる。
When the above adjustment work is completed, the head chip 2 is pressed against the base 1 again by the Z stage 41, and the nozzle is dispensed from the dispenser.
The adhesive is applied to the base chip 28 and the head chip 2 is adhered to the base 1 while visually observing the monitor 25 shown in FIG. After bonding, the chip holder 39 is moved by the Z stage 41.
To rise.

以上のようにして、カウンタ13とモニタ21、25を目視
し、チップホルダ39を粗微動させながら、回転テーブル
11に取りつけられたベース1上に、ヘッドチップ2を位
置決めして貼りつけることができる。
As described above, while visually checking the counter 13 and the monitors 21 and 25, while roughly moving the tip holder 39,
The head chip 2 can be positioned and attached on the base 1 attached to the base 11.

このようにして1つ目のヘッドチップ2がベース1に
貼りつけられると、2つ目、3つ目、4つ目のヘッドチ
ップ2も同様にしてベース1に貼りつけられる。但し、
夫々のヘッドチップ2のベース1での貼付位置が異なる
ので、夫々の位置が顕微鏡27の真下となるように回転テ
ーブル11を回転し、チップホルダ39がチップ整列台10か
ら夫々のヘッドチップ2を吸着するように、夫々のヘッ
ドチップ2毎にチップ整列台10を位置づける。また、ベ
ース1上の各ヘッドチップ2の貼付位置は、ベース1で
の貼付位置の段差により互いにトラック段差Z1がある
が、カウンタ13のZ値をみながら回転ツマミ18を操作し
て顕微鏡23をZ方向に変位させ、このトラック段差Z1
視野を設定する。
When the first head chip 2 is attached to the base 1 in this manner, the second, third, and fourth head chips 2 are attached to the base 1 in the same manner. However,
Since the positions where the respective head chips 2 are adhered on the base 1 are different, the rotary table 11 is rotated so that the respective positions are directly below the microscope 27, and the chip holder 39 moves the respective head chips 2 from the chip alignment table 10 to the respective positions. The chip alignment table 10 is positioned for each head chip 2 so as to be attracted. Further, the attaching position of the head chips 2 on the base 1, the base 1 there is a track stepped Z 1 together with the step of attaching position in it, the microscope by operating the rotation knob 18 while watching the Z value of the counter 13 23 was displaced in the Z-direction, setting the field of view of the track stepped Z 1.

以上により、4連チップ貼付ヘッドが組み立てられ
る。
As described above, the quad tip attaching head is assembled.

以上のように、この実施例ではヘッドチップの突出段
差X1、ギャップ間隔Y1、姿勢θを高精度に設定できる。
また、顕微鏡27の視野内にヘッドチップとベースのハン
ドリング、接着作業がとらえられるので、作業不良をそ
の作業の途中で見つけ出すことができる。顕微鏡23の視
野内には1個のみのヘッドチップが含まれるだけである
が、回転テーブル11に設けた回転マグネスケール、セン
サ14、カウンタ13による回転割出器によってギャップ間
隔Y1が高精度にかつ容易に確保できるし、顕微鏡23の倍
率も充分高くできて、ヘッドチップ2の突出段差X1の精
度も高めることができる。
As described above, in this embodiment, the protrusion step X 1 , the gap interval Y 1 , and the attitude θ of the head chip can be set with high accuracy.
In addition, since the handling and bonding of the head chip and the base can be captured in the field of view of the microscope 27, a work defect can be found in the middle of the work. Although in the field of view of the microscope 23 is only included head chip only one rotational magnetic scale provided on the rotary table 11, sensor 14, by rotating indexer by the counter 13 to the gap distance Y 1 is a high-precision and it can be easily secured, it is possible to be sufficiently higher magnification of the microscope 23 also enhances the accuracy of the projecting step X 1 of the head chip 2.

また、輝度サンプラ20により、モニタ21上でのヘッド
チップ2のピント合わせを定量的に行なうことができ、
ヘッドチップ2の突出段差X1の精度が高まるし、さら
に、顕微鏡内にスリット板32を設けたことにより、モニ
タ21上での明暗線46のノッチ高さ48の対称性を利用し、
ヘッドチップ2の姿勢θを構成に設定できる。
In addition, the brightness sampler 20 allows the head chip 2 to be focused on the monitor 21 quantitatively,
It increases projecting step X 1 in the accuracy of the head chip 2, further, by providing the slit plate 32 in the microscope, utilizing the symmetry of the notch height 48 of the dark line 46 on monitor 21,
The attitude theta 1 of the head chip 2 can be set in the configuration.

さらに、マスタゲージ9により、光学系の校正が敏速
かつ容易に行なうことができ、作業の効率の向上と品質
安定化が実現できる。
Further, the calibration of the optical system can be performed promptly and easily by the master gauge 9, so that the work efficiency can be improved and the quality can be stabilized.

なお、以上の実施例は4個のヘッドチップを同一ペー
スに貼りつけるものであったが、本発明は、一般に、2
個以上のヘッドチップの貼付けた適用可能であることは
いうまでもない。
In the above embodiment, four head chips are attached at the same pace.
It goes without saying that more than two head chips can be applied.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、本発によれば、同一のベースに
複数のヘッドチップを高倍率の顕微鏡を用いて貼りつけ
ることができるから、ヘッドチップの突出段差、ギャッ
プ間隔、姿勢を高精度でかつ容易に設定できる。
As described above, according to the present invention, since a plurality of head chips can be attached to the same base using a high-power microscope, the step height, gap interval, and posture of the head chips can be accurately and accurately determined. Can be set easily.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図〜第3図は本発明によるチップ貼付装置の一実施
例を示し、第1図は平面図、第2図および第3図は夫々
側面図であり、第4図は4連チップ貼付ヘッドの平面
図、第5図は同じく側面図、第6図〜第9図は夫々第2
図に示したモニタの表示画面の例を示す図である。 1……ベース、2……ヘッドチップ、3……接着剤、5
……ヘッドギャップ、9……マスタゲージ、10……チッ
プ整列台、11……回転テーブル、12……回転マグネスケ
ール、13……カウンタ、14……センサ、16……Xステー
ジ、19……Zステージ、20……輝度サンプラ、21……モ
ニタ、22……カメラ、23……顕微鏡、24……門柱、25…
…モニタ、26……カメラ、27……顕微鏡、28……ノズ
ル、29……Zステージ、30……光源、32……スリット
板、33……ハーフプリズム、34……対物レンズ、35,3
5′……基準線、36……目盛板、37……接眼レンズ、38
……撮像素子、39……チップホルダ、40……XYステー
ジ、41……Zステージ、42……吸着ブロック、43……平
行板バネ、44……θステージ、45,45′……切欠線。
1 to 3 show an embodiment of a chip sticking apparatus according to the present invention. FIG. 1 is a plan view, FIGS. 2 and 3 are side views, respectively, and FIG. FIG. 5 is a side view of the head, and FIGS.
It is a figure which shows the example of the display screen of the monitor shown in the figure. 1 Base 2 Head chip 3 Adhesive 5
... head gap, 9 ... master gauge, 10 ... chip alignment table, 11 ... rotating table, 12 ... rotating magnescale, 13 ... counter, 14 ... sensor, 16 ... X stage, 19 ... Z stage, 20: Brightness sampler, 21: Monitor, 22: Camera, 23: Microscope, 24: Gate, 25 ...
... Monitor, 26 ... Camera, 27 ... Microscope, 28 ... Nozzle, 29 ... Z stage, 30 ... Light source, 32 ... Slit plate, 33 ... Half prism, 34 ... Objective lens, 35,3
5 ': Reference line, 36: Scale plate, 37: Eyepiece, 38
…… Image sensor, 39… Chip holder, 40… XY stage, 41… Z stage, 42… Suction block, 43… Parallel leaf spring, 44… θ stage, 45, 45 ' .

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】n個(但し、nは2以上の整数)のチップ
貼付位置を有するベースおよびチップ整列台が取りつけ
られる回転テーブルと、 該回転テーブルの回転角を検出する回転割出器と、 該チップ貼付位置の1つの先端部を視野内に含むように
した第1の顕微鏡と、 該第1の顕微鏡を水平、垂直方向に移動させる第1のス
テージと、 該チップ貼付位置の1つの上面部を視野内に含むように
した第2の顕微鏡と、 該第2の顕微鏡を水平、垂直方向に移動させる第2のス
テージと、 ヘッドチップを保持するチップホルダと、 該チップホルダを水平、垂直方向に変位させかつ回動さ
せる第3のステージと、 該回転割出器の出力にもとづく該回転テーブルの回転位
置と該第1,第2のの顕微鏡の水平、垂直位置を設定する
ためのカウンタとからなり、 該チップ貼付位置毎に該カウンタの値に応じて該第1,第
2の顕微鏡の視野内で貼付作業中の該ヘッドチップを監
視できるように該第1,第2のステージによって該第1,第
2の顕微鏡の水平、垂直位置を設定し、該ヘッドチップ
の位置、姿勢調整を該第1,第2の顕微鏡で監視しつつ該
第3のステージによって行なうことによって、該ベース
の各チップ貼付位置に夫々ヘッドチップを貼りつけ可能
に構成したことを特徴とするチップ貼付装置。
1. A rotary table on which a base and a chip aligning table having n (where n is an integer of 2 or more) chip attaching positions are mounted, a rotary indexer for detecting a rotation angle of the rotary table, A first microscope in which one tip of the chip attaching position is included in the field of view, a first stage for moving the first microscope in the horizontal and vertical directions, and one upper surface of the chip attaching position A second microscope in which a part is included in the field of view, a second stage for moving the second microscope in the horizontal and vertical directions, a chip holder for holding a head chip, and a horizontal and a vertical for the chip holder. A third stage for displacing and rotating in the direction, a counter for setting the rotational position of the rotary table based on the output of the rotary indexer and the horizontal and vertical positions of the first and second microscopes Consisting of The first and second stages allow the first and second stages to monitor the head chip during the attaching operation in the visual fields of the first and second microscopes according to the value of the counter for each of the chip attaching positions. The horizontal and vertical positions of the second microscope are set, and the position and attitude of the head chip are adjusted by the third stage while monitoring the positions of the head chip with the first and second microscopes. A chip sticking apparatus characterized in that a head chip can be stuck at each sticking position.
【請求項2】請求項1記載のチップ貼付装置において、
前記回転テーブルにマスタゲージを設け、該マスタゲー
ジを第1,第2の顕微鏡の視野内に位置づけ、前記第1,第
2のステージによって前記第1,第2の顕微鏡の初期設定
を可能に構成したことを特徴とするチップ貼付装置。
2. The chip sticking device according to claim 1,
A master gauge is provided on the rotary table, and the master gauge is positioned in the field of view of the first and second microscopes, and the first and second stages can be initialized by the first and second microscopes. A chip sticking apparatus characterized in that:
【請求項3】請求項1または2記載のチップ貼付装置に
おいて、前記第1,第2の顕微鏡に基準線を有する目盛板
を設けるとともに、該第1,第2の顕微鏡をカメラと一体
化し、該基準線と前記ベースに貼りつけられるべきヘッ
ドチップの先端部とを同時モニタ可能としたことを特徴
とするチップ貼付装置。
3. The chip sticking apparatus according to claim 1, wherein a scale plate having a reference line is provided on each of the first and second microscopes, and the first and second microscopes are integrated with a camera. A tip sticking apparatus, wherein the reference line and the tip of a head chip to be attached to the base can be simultaneously monitored.
【請求項4】請求項3において、前記第1の顕微鏡にス
リット板を設けるとともに、前記カメラとモニタとの間
に輝度サンプラを設け、該スリット板とヘッドチップの
ギャップによってモニタ上に明暗線を表示させることに
より、ヘッドチップの突出量、姿勢を定量的に確認可能
としたことを特徴とするチップ貼付装置。
4. The apparatus according to claim 3, wherein a slit plate is provided on the first microscope, a brightness sampler is provided between the camera and the monitor, and a bright / dark line is formed on the monitor by a gap between the slit plate and a head chip. A tip sticking apparatus characterized in that the amount of projection and the attitude of the head chip can be quantitatively confirmed by displaying the information.
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