JP2699859B2 - Method for manufacturing semiconductor device - Google Patents
Method for manufacturing semiconductor deviceInfo
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、リードオンリメモリ
(ROM)を有する半導体装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】本発明はリードオンリメモリ(ROM)
集積回路の外部入力端子、外部出力端子、外部制御端子
の切り換えおよび変更を、あらかじめ機能変更可能な回
路を設けておき、前記集積回路のメモリ・セル内にデー
タを書き込む方法と同一の製造工程内で効率よく行うも
のである。リードオンリメモリ(以後ROMと呼ぶ)の
代表的なものに、マスクプログラマブルROM(以後マ
スクROMと呼ぶ)がある。マスクROMは、ROMの
内容の書き込みを、LSI製造に使う一部のマスクパタ
ーンの変更によつておこなう方式を用いたものである。
この方式によって書き込まれるメモリ・セルのレイアウ
トを図1に示す。図1のワード線、データ線はそれぞれ
ポリシリコンおよびメタルで構成されている。メモリセ
ルへのデータの書き込み方法は幾つかあるが、図1Aの
ROMビット・パターンは、チャネルドープ層のマスク
により、拡散層へのチャネルドープの有無により固定化
(メモリ)されている。図1BのROMビツトパターン
は、コンタクト層のマスクによりコンタクトホールの有
無により固定化(メモリ)されている。この様にマスク
ROMにおいては、メモリすべきデータを、ROMの製
造者がマスクパターンに変換して、メモリ・セルに書き
込む方法がとられている。リソグラフイー法によって製
作されるマスクROMの製造に必要なマスクは、ROM
ビット・パターン用マスクの他に、別の工程に使用され
るマスクが10数枚必要であり、それらを順番に使用し
てマスクROMは製造される。ゆえにマスクROM製造
者は、メモリ・セルに書き込むデータ内容が異なる幾種
類かのマスクROMを製作する場合は、マスクROMの
使用者からデータを受けてマスク・パターンに変換し
て、そのデータを書き込む層のマスクのみを交換して、
他の工程は他のマスクROMと同一マスクを使用して、
マスクROMを製造する。
【0003】図2は、代表的なマスクROMのブロック
図る示す。図2Aは、入力信号として15,16のアド
レス指定信号AO〜A11と、17のチップ選択信号CS
を持ち、43の出力信号O1〜O8を持っていろ。
【0004】図2Bは、入力信号として15,16のア
ドレス指定信号AO〜A11、18,19,21のチップ
選択信号CS1,CS2,/CE(/は反転信号を示
す)を持ち、20の出力制卸信号OE、43の出力信号
O1〜O8を持つている。図2のBは、チップ選択信号が
2つと、出力制御信号が1つ、図2のAよりも機能が増
加されている。図3は、図2AおよびBがパッケージさ
れた状態の集積回路のピン配置の一部を表わしている。
図3Aの信号端子、24のA8,25のA9,26のC
S,27のA11は、図3Bの同一のピンでは、23の
CS1,29のCS2,30のA9,31の/OEの機
能の信号端子に変更されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】この様な信号線の端子
の機能や配置は、マスクROM使用者によって異なり、
従来は、図2のAとBの2種類の機能を持つところの、
図3のAとBの2種類のピン配置があり、ピン機能やピ
ン配置の変更のたびごとに、全工程マスクを変更する
か、最小限でもメタルマスクを変更する必要があり、変
更するマスク数が多く、マスクの作成時間と費用がかか
る欠点があった。
【0006】本発明は、かかる欠点を除くため、あらか
じめ別の機能を持つ回路や、別の機能と共用できる回路
を設けておき、これをメモリの書き込みのROMビット
・パターンと同一層のマスク1枚で回路を断続し、ピン
機能や信号端子の配置を変更するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、マス
クを用いてデータが書き込まれるメモリセルと、複数の
機能のうちの1つの機能が設定されてなる外部端子とを
有する半導体装置の製造方法において、複数の論理回路
を構成可能なトランジスタ群を製造する第1の工程と、
前記マスクを用いて、前記メモリセルへのデータ書き込
み及び前記トランジスタ群内に選択的な接続配線を形成
することにより前記外部端子に設定する機能に応じた信
号処理をする論理回路を選択的に構成し、前記外部端子
に前記複数の機能のうちの1つの機能を設定してなる第
2工程を有することを特徴とする。
【0008】
【実施例】図4は、本発明の1つの実施例である。図4
は、発2図のAとBのブロック図を共有して、共通に使
用できる回路を表わしてしいる。図4の実線による接続
は、図2のAの機能に相当する。図4の実線に、破線の
部分を接続すると、図2のBの機能を持つ回路となる。
図4のa,bの部分は、図2Bの18,19のチップ選
択信号回路にあたり、あらかじめ別機能を待つ回路であ
る。図4のCの部分は、図2Aの場合合には、17のチ
ツプセレクト信号CS回路となり、図2Bの場合は、2
0の出力制御信号/OE回路となり、別機能を持たせる
のに、共通に使用できるトランジスタ群を持つ回路とな
つている。すなわち、図4Cにおいて実線で接線される
トランジスタ群はCSと/OEの2つの機能に共通して
使われ、破線で接続されるトランジスタ群は/OEの機
能に使われる。図4のeの部分は図2のAの場合には、
21のアドレス信号A11回路となり、図2Bの場合
は、入力制御信号/CE回路となり、共通トランジスタ
群を持つ回路となっている。
【0009】この様なピン機能の切り換え、ピン配置の
変更を、メモリへ書き込むROMビット・パターンと同
一層のマスクでおこなう場合の1つの例を図5に示す。
図5は、回路の切り換え、接続が、図1のBで示された
メモリ・セルへの書き込みと同一層のコンタクト層によ
るものである。図5の33,34,35はトランジスタ
を形成するポリシリコンである。図5の36,42は、
メタルの配線部分である。図5の37は、拡散層であ
る。図5の33,39,40,41は、コンタクト層を
表わしている。38のコンタクト層を形成すると、33
のポリシリコンと、36のメタルが導通され配線が接続
される。さらに、39,40のコンタクト層が入ると、
37の拡散と36のメタルが導通され配線が接続されて
回路が構成される。逆に、41のコンタクト層が無い場
合は34,35のポリシリコンと42のメタルは非導通
となり、配線は切断される。この様な配線の断続は、コ
ンタクト層だけでなく、図1Aの5のチャネルドープで
も可能である。
【0010】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、メ
モリの書き込みと同一のマスクで、配線の切替を行うの
で、従来のメタルマスクなどの配線の切替え、変更に比
べて、マスクの作成時間や作成費用の削減を行うことが
できる。
【0011】なお、この様な手法は、マスクROMに限
ることなく、ROM機能を内蔵する集積回路や、PLA
回路にも適用されるものである。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor device having a read only memory (ROM). [0002] The present invention relates to a read only memory (ROM).
Switching and changing of the external input terminal, external output terminal and external control terminal of the integrated circuit are provided in advance in a circuit whose function can be changed, and in the same manufacturing process as the method of writing data in the memory cell of the integrated circuit. This is done efficiently. The representative of the read-only memory (hereinafter referred to as ROM), there is a mask programmable ROM (hereinafter referred to as mask ROM). The mask ROM uses a method in which the contents of the ROM are written by changing a part of a mask pattern used for manufacturing an LSI.
FIG. 1 shows a layout of a memory cell written by this method. The word lines and data lines in FIG. 1 are made of polysilicon and metal, respectively. Although a method of writing data into the memory cell are several, ROM bit pattern of FIG. 1A, the mask of the channel dough flops layer is immobilized (memory) the presence or absence of the channel dough up to the diffusion layer. The ROM bit pattern in FIG. 1B is fixed (memory) by the presence or absence of a contact hole using a mask of a contact layer. In this manner the mask ROM, the data to be memory, converts ROM manufacturer is the mask pattern, a method of writing to a memory cell has been taken. The mask required for manufacturing a mask ROM manufactured by the lithographic method is ROM
In addition to the mask for the bit pattern, more than ten masks used in another process are required, and the mask ROM is manufactured by using these in order. Therefore, when manufacturing mask ROMs having different data contents to be written into memory cells, the mask ROM manufacturer receives data from a user of the mask ROM, converts the data into a mask pattern, and writes the data. Only change the mask of the layer,
Other processes use the same mask as other mask ROMs,
A mask ROM is manufactured. FIG. 2 shows a block diagram of a typical mask ROM. Figure 2A is an address designation signal A O to A 11 of 15 and 16 as input signals, 17 of the chip select signal CS
And 43 output signals O 1 to O 8 . FIG. 2B shows an input signal having 15, 16 addressing signals A O to A 11 , 18, 19 , 21 chip select signals CS1, CS2, / CE (/ indicates an inverted signal), and 20 OE and 43 output signals O 1 to O 8 . 2B has two chip select signals and one output control signal, and the functions are increased compared to FIG. 2A. FIG. 3 shows a part of a pin arrangement of the integrated circuit in a state where FIGS. 2A and 2B are packaged.
3A, A8 of 24, A9 of 25, C of 26
At the same pin in FIG. 3B, A11 of S and 27 is changed to a signal terminal of the / OE function of A9 and 31 of CS2 and CS23 of CS23 and CS30 of CS23. [0005] The function and arrangement of the terminals of such signal lines differ depending on the mask ROM user.
Conventionally, two types of functions A and B in FIG.
There are two types of pin arrangements, A and B in FIG. 3. Every time the pin function or pin arrangement is changed, it is necessary to change the entire process mask or at least the metal mask. There is a drawback that the number of masks is large, and the time and cost for preparing the mask are high. According to the present invention, in order to eliminate such a drawback, a circuit having another function or a circuit which can be shared with another function is provided in advance, and this circuit is provided with a mask 1 having the same layer as the ROM bit pattern for writing the memory. The circuit is intermittently interposed between sheets, and the pin functions and the arrangement of signal terminals are changed. [0007] That is, the present invention provides a mass spectrometer.
Memory cells to which data is written using
An external terminal to which one of the functions is set
In a method of manufacturing a semiconductor device having a plurality of logic circuits,
A first step of manufacturing a transistor group that can be configured as:
Writing data to the memory cells using the mask
And selective connection wiring within the transistor group
Signal according to the function set to the external terminal.
A logic circuit for performing signal processing selectively, and the external terminal
A first function set to one of the plurality of functions.
It has two steps . FIG. 4 shows an embodiment of the present invention. FIG.
Represents a circuit that can be commonly used by sharing the block diagrams of A and B in FIG. The connection by the solid line in FIG. 4 corresponds to the function of A in FIG. When a portion indicated by a broken line is connected to a solid line in FIG. 4, a circuit having the function of B in FIG. 2 is obtained.
Parts a and b in FIG. 4 correspond to the chip selection signal circuits 18 and 19 in FIG. 2B, and are circuits that wait for another function in advance. C portion of FIG. 4, in the case if the Figure 2A, becomes Ji <br/> class tap select signal CS circuit 17, in the case of FIG. 2B, 2
It becomes an output control signal / OE circuit of 0, and has a group of transistors that can be used in common to have another function. That is, in FIG. 4C, a transistor group connected by a solid line is used in common for the two functions of CS and / OE, and a transistor group connected by a broken line is used for the function of / OE. The part e of FIG. 4 is the case of FIG.
It becomes 21 of the address signal A 11 circuit, in the case of Figure 2B, as the input control signal / CE circuit, has a circuit with a common transistor group. FIG. 5 shows an example in which such switching of the pin function and change of the pin arrangement are performed by using the same layer mask as the ROM bit pattern to be written into the memory.
In FIG. 5, the switching and connection of the circuit is based on the same contact layer as the writing to the memory cell shown in FIG. 1B. Reference numerals 33, 34, and 35 in FIG. 5 denote polysilicon forming transistors. 36 and 42 in FIG.
It is a metal wiring part. Reference numeral 37 in FIG. 5 denotes a diffusion layer. Reference numerals 33, 39, 40, and 41 in FIG. 5 represent contact layers. When 38 contact layers are formed, 33
And the metal of 36 are conducted to connect the wiring. Further, when the contact layers of 39 and 40 enter,
The diffusion of 37 and the metal of 36 are conducted and the wiring is connected to form a circuit. Conversely, if the contact layer 41 is not metal port Rishirikon and 42 of 34 and 35 becomes non-conductive, interconnection is cut. Intermittent of such wiring is not only a contact layer, <br/> channel dough flop 5 of Figure 1A are possible. As described above, according to the present invention, the switching of the wiring is performed using the same mask as that for writing to the memory .
In comparison with conventional switching and changing of wiring such as metal mask
In all, reducing the time and cost of creating masks
it can. [0011] Such a method is not limited to a mask ROM, but may be an integrated circuit having a built-in ROM function or a PLA.
It is also applied to circuits.
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)拡散層によりデータを書き込む場合のメ
モリ・セルのレイアウト図。
(B)コンタクト層によりデータを書き込む場合のメモ
リ・セルのレイアウト図。
【図2】(A)外部制御信号であるチツプセレクト信号
CSが1つの場合の代表的なマスクROMのブロック
図。
(B)外部制御信号であるチツプセレクト信号CS1,
CS2,/CEが3つ、出力制御1信号/OEが1つの
場合の代表的なマスクROMのブロック図。
【図3】(A)図2Aの機能を有するパッケージされた
集積回路のピン配置の部分図。
(B)図2Bの機能を有するパッケージされた集積回路
のピン配置の部分図。
【図4】はセップセレクト回路図。
【図5】コンタクト層によるポリシリコンとメタル、拡
散層とメタルの接続図。
【符号の説明】図1において
1‥‥‥ポリシリコンのワード線
2‥‥‥メタルのデータ線
3‥‥‥コンタクト部
4‥‥‥拡散部
5‥‥‥チャネルドープ部図2において
5‥‥‥メモリ・マトリックス
6‥‥‥Yセレクター
7‥‥‥Xデコーダ
8‥‥‥Yデコーダ
9‥‥‥A0〜A7アドレス入力バッフア
10‥‥‥A8〜A12アドレス入力バッファ
11‥‥‥出力バッファ
12‥‥‥チップセレクト入力バッフア
13‥‥‥チップイネーブル入力バッフア
14‥‥‥アウトプットイネーブル入力バッフア
15‥‥‥A0〜A7アドレス入JJ
16‥‥‥A8〜A12アドレス入力
17‥‥‥CSチップセレクト入力
18‥‥‥CS1チップセレクト入力
19‥‥‥CS2チップセレクト入力
20‥‥‥OE出力回路制御入力
21‥‥‥CEアドレスバッフア回路制御入力
22‥‥‥A11アドレス入力
43‥‥‥O0〜O7データ出力図3において
23‥‥‥プラス電源VDD
24‥‥‥A8アドレス入力
25‥‥‥A9アドレス入力
26‥‥‥CSチップセレクト入力
27‥‥‥A11アドレス入力
28‥‥‥CS1チップセレクト入力
29‥‥‥CS2チップセレクト入力
30‥‥‥A9アドレス入力
31‥‥‥/OE出力回路制御入力
32‥‥‥/CEアドレスバッフア回路制御入力
図4において
a‥‥‥CS1チップセレクト入力回路
b‥‥‥CS2チップセレクト入力回路
C‥‥‥CSと/OEの共通回路
d‥‥‥CSと/CEの共通回路
e‥‥‥A11アドレス入力と/CEの共通回路図5において
33,34,35,‥‥‥ポリシリコン
36,42‥‥‥メタル
37‥‥‥拡散層
38,39,40,41‥‥‥コンタクト層[Brief description of the drawings]
FIG. 1A shows a method for writing data using a diffusion layer.
Of Mori CellLesIout diagram.
(B) Memo when writing data by contact layer
Of re cellLesIout diagram.
FIG. 2A is an external control signal chip.StepSelect signal
Typical mask ROM block with one CS
FIG.
(B) Chip select signals CS1, which are external control signals
CS2, / CE 3 and output control 1 signal / OE 1
The block diagram of the typical mask ROM in the case.
FIG. 3A shows a packaged package having the function of FIG. 2A.
FIG. 3 is a partial view of a pin arrangement of the integrated circuit.
(B) Package having the function of FIG. 2BSaIntegrated circuit
FIG.
FIG. 4 is a SEP select circuit diagram.
FIG. 5 shows polysilicon and metal by contact layer,
Connection diagram of diffused layer and metal.
[Explanation of symbols]In FIG.
1 ‥‥‥ polysilicon word line
2 metal data lines
3) Contact part
4 ‥‥‥ Diffusion unit
5 ‥‥‥ channel dopeIn FIG.
5 ‥‥‥ Memory Matrix
6 ‥‥‥ Y selector
7 @ X decoder
8 @ Y decoder
9 ‥‥‥ A0~ A7Address input buffer
10 ‥‥‥ A8~ A12Address input buffer
11 output buffer
12 ‥‥‥ chip select input buffer
13 ‥‥‥ chip enable input buffer
14 ‥‥‥ outStepReset enable input buffer
15 ‥‥‥ A0~ A7JJ with address
16 ‥‥‥ A8~ A12Address input
17 ‥‥‥ CS chip select input
18 ‥‥‥ CS1 chip select input
19 ‥‥‥ CS2 chip select input
20 ‥‥‥ OE output circuit control input
21 @ CE address buffer circuit control input
22 ‥‥‥ A11Address input
43 ‥‥‥ O0~ O7Data outputIn FIG.
23 ‥‥‥ plus power supply VDD
24 ‥‥‥ A8Address input
25 ‥‥‥ A9Address input
26 ‥‥‥ CS chip select input
27 ‥‥‥ A11Address input
28 @ CS1 chip select input
29 ‥‥‥ CS2 chip select input
30 ‥‥‥ A9Address input
31 ‥‥‥ / OE output circuit control input
32 $ / CE address buffer circuit control input
In FIG.
a @ CS1 chip select input circuit
b @ CS2 chip select input circuit
C @ CS and / OE common circuit
d ‥‥‥ Common circuit of CS and / CE
e @ A11Common circuit for address input and / CEIn FIG.
33, 34, 35, polysilicon
36,42 ‥‥‥ metal
37 ‥‥‥ diffusion layer
38, 39, 40, 41 contact layer
Claims (1)
と、複数の機能のうちの1つの機能が設定されてなる外
部端子とを有する半導体装置の製造方法において、 複数の論理回路を構成可能なトランジスタ群を製造する
第1の工程と、 前記マスクを用いて、前記メモリセルへのデータ書き込
み及び前記トランジスタ群内に選択的な接続配線を形成
することにより前記外部端子に設定する機能に応じた信
号処理をする論理回路を選択的に構成し、前記外部端子
に前記複数の機能のうちの1つの機能を設定してなる第
2の工程を有すること を特徴とする半導体装置の製造方
法。 2.前記マスクは、コンタクト層を形成するためのマス
クであることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の
製造方法。 3.前記マスクは、チャンネルドープのためのマスクで
あることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造
方法。(57) [Claims] Memory cells to which data is written using a mask
And one of a plurality of functions is set.
In a method of manufacturing a semiconductor device having external terminals, a transistor group capable of forming a plurality of logic circuits is manufactured.
A first step, and writing data to the memory cells using the mask
And selective connection wiring within the transistor group
Signal according to the function set to the external terminal.
A logic circuit for performing signal processing selectively, and the external terminal
A first function set to one of the plurality of functions.
A method for manufacturing a semiconductor device, comprising: 2. 2. The method according to claim 1 , wherein the mask is a mask for forming a contact layer. 3. 2. The method according to claim 1 , wherein the mask is a mask for channel doping.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5217194A JP2699859B2 (en) | 1994-03-23 | 1994-03-23 | Method for manufacturing semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP5217194A JP2699859B2 (en) | 1994-03-23 | 1994-03-23 | Method for manufacturing semiconductor device |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55161630A Division JPS5785256A (en) | 1980-11-17 | 1980-11-17 | Changing method for function of integrated circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07211805A JPH07211805A (en) | 1995-08-11 |
JP2699859B2 true JP2699859B2 (en) | 1998-01-19 |
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ID=12907381
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP5217194A Expired - Lifetime JP2699859B2 (en) | 1994-03-23 | 1994-03-23 | Method for manufacturing semiconductor device |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2699859B2 (en) |
-
1994
- 1994-03-23 JP JP5217194A patent/JP2699859B2/en not_active Expired - Lifetime
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