JPH07211805A - Manufacture of semiconductor device - Google Patents

Manufacture of semiconductor device

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JPH07211805A
JPH07211805A JP6052171A JP5217194A JPH07211805A JP H07211805 A JPH07211805 A JP H07211805A JP 6052171 A JP6052171 A JP 6052171A JP 5217194 A JP5217194 A JP 5217194A JP H07211805 A JPH07211805 A JP H07211805A
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mask
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rom
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Abstract

PURPOSE:To cut a circuit with a mask of the same layer as the ROM bit pattern of writing on a storage device, and change pin function and the arrangement of signal terminals, by forming a selective connection wiring, selectively forming logic circuits for signal processing in response to the functions, on external terminals, and setting a function on the external terminals. CONSTITUTION:In the case that pin function and pin arrangement are changed with a mask of the same layer as the ROM bit pattern of writing on a storage device, when a contact layer 38 is formed, metal 36 is electrically connected and a wiring is electrically connected. Further when contact layers 39, 40 are formed, diffusion 37 and the metal 36 are electrically connected, the wiring is connected, and a circuit is constituted. On the contrary, when a contact layer 41 is not present, polysilicon 34, 35 and metal 42 become electrically discontinuous, and the wiring is cut. Hence the switching and the change of signal lines are made possible with a mask which is the same mask as the mask for writing on a storage device, and efficiency and convenience are increased.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、リードオンリメモリ
(ROM)を有する半導体装置の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a semiconductor device having a read only memory (ROM).

【0002】[0002]

【従来の技術】本発明はリードオンリメモリ(ROM)
集積回路の外部入力端子、外部出力端子、外部制御端子
の切り換えおよび変更を、あらかじめ機能変更可能な回
路を設けておき、前記集積回路のメモリ・セル内にデー
タを書き込む方法と同一の製造工程内で効率よく行うも
のである。リードオンリメモリ(以後ROMと呼ぶ)の
代表的なものに、マスクブログラマブルROM(以後マ
スクROMと呼ぶ)がある。マスクROMは、ROMの
内容の書き込みを、LSI製造に使う一部のマスクバタ
ーンの変更によつておこなう方式を用いたものである。
この方式によって書き込まれるメモリ・セルのレイアウ
トを図1に示す。図1のワード線、データ線はそれぞれ
ポリシリコンおよびメタルで構成されている。メモリセ
ルへのデータの書き込み方法は幾つかあるが、図1Aの
ROMビット・パターンは、チャネルドーブ層のマスク
により、拡散層へのチャネルドーブの有無により固定化
(メモリ)されている。図1BのROMビツトパターン
は、コンタクト層のマスクによりコンタクトホールの有
無により固定化(メモリ)されている。この様にマスク
ROMにおいては、メモリすべきデータを、ROMの製
造者がマスクバターンに変換して、メモリ・セルに書き
込む方法がとられている。リソグラフイー法によって製
作されるマスクROMの製造に必要なマスクは、ROM
ビット・パターン用マスクの他に、別の工程に使用され
るマスクが10数枚必要であり、それらを順番に使用し
てマスクROMは製造される。ゆえにマスクROM製造
者は、メモリ・セルに書き込むデータ内容が異なる幾種
類かのマスクROMを製作する場合は、マスクROMの
使用者からデータを受けてマスク・パターンに変換し
て、そのデータを書き込む層のマスクのみを交換して、
他の工程は他のマスクROMと同一マスクを使用して、
マスクROMを製造する。
2. Description of the Related Art The present invention is a read only memory (ROM).
Within the same manufacturing process as the method for writing data in the memory cells of the integrated circuit by previously providing a circuit whose function can be switched and changed for the external input terminal, external output terminal and external control terminal of the integrated circuit. It is an efficient way to do it. A typical example of the read-only memory (hereinafter referred to as ROM) is a maskable programmable ROM (hereinafter referred to as mask ROM). The mask ROM uses a method of writing the contents of the ROM by changing a part of the mask pattern used in LSI manufacturing.
The layout of the memory cell written by this method is shown in FIG. The word lines and data lines in FIG. 1 are composed of polysilicon and metal, respectively. Although there are several methods of writing data to the memory cell, the ROM bit pattern of FIG. 1A is fixed (memory) by the mask of the channel dove layer and the presence or absence of the channel dove in the diffusion layer. The ROM bit pattern of FIG. 1B is fixed (memory) by the presence or absence of a contact hole by the mask of the contact layer. As described above, in the mask ROM, the method of converting the data to be stored into the memory into the mask pattern by the manufacturer of the ROM and writing it into the memory cell is adopted. A mask required for manufacturing a mask ROM manufactured by the lithographic method is a ROM
In addition to the bit pattern mask, ten or more masks used in another process are required, and the mask ROM is manufactured by using them in order. Therefore, the mask ROM manufacturer receives data from the user of the mask ROM, converts it into a mask pattern, and writes the data when manufacturing several kinds of mask ROMs having different data contents to be written in the memory cell. Replace only the layer mask,
Other processes use the same mask as other mask ROM,
A mask ROM is manufactured.

【0003】図2は、代表的なマスクROMのブロック
図る示す。図2Aは、入力信号として15,16のアド
レス指定信号AO〜A11と、17のチップ選択信号CS
を持ち、43の出力信号O1〜O8を持っていろ。
FIG. 2 shows a block diagram of a typical mask ROM. FIG. 2A shows 15 and 16 addressing signals A O to A 11 as input signals and 17 chip select signals CS.
And have 43 output signals O 1 -O 8 .

【0004】図2Bは、入力信号として15,16のア
ドレス指定信号AO〜A11、18,19,21のチップ
選択信号CS1,CS2,/CE(/は反転信号を示
す)を持ち、20の出力制卸信号OE、43の出力信号
1〜O8を持つている。図2のBは、チップ選択信号が
2つと、出力制御信号が1つ、図2のAよりも機能が増
加されている。図3は、図2AおよびBがパッケージさ
れた状態の集積回路のピン配置の一部を表わしている。
図3Aの信号端子、24のA8,25のA9,26のC
S,27のA11は、図3Bの同一のピンでは、23の
CS1,29のCS2,30のA9,31の/OEの機
能の信号端子に変更されている。
[0004] Figure 2B, the address designation signal A O to A 11 of 15 and 16 as the input signal has a chip select signal CS1 of 18,19,21, CS2, / CE (/ indicates an inverted signal), 20 Output control signal OE and output signals O 1 to O 8 of 43. 2B has two chip select signals and one output control signal, and has more functions than A of FIG. FIG. 3 represents a portion of the pinout of the integrated circuit of FIGS. 2A and B as packaged.
3A signal terminal, 24 A8, 25 A9, 26 C
In the same pin of FIG. 3B, A11 of S and 27 is changed to a signal terminal of the function of / OE of A9 and 31 of CS2 and CS2 of 30 and CS2 of 30.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】この様な信号線の端子
の機能や配置は、マスクROM使用者によって異なり、
従来は、図2のAとBの2種類の機能を持つところの、
図3のAとBの2種類のピン配置があり、ピン機能やピ
ン配置変更のたびごとに、全工程のマスクを変更する
か、最小限でもメタルマスクを変更する必要がらり、変
更するマスク数が多く、マスクの作成時間と費用がかか
る欠点があった。
The function and arrangement of the terminals of such signal lines differ depending on the mask ROM user.
Conventionally, it has two kinds of functions of A and B of FIG.
There are two types of pin arrangements, A and B in Fig. 3, and it is necessary to change the mask of the whole process or the metal mask at least at every change of the pin function or the pin arrangement. However, there is a drawback that it takes a lot of time and cost to make a mask.

【0006】本発明は、かかる欠点を除くため、あらか
じめ別の機能を持つ回路や、別の機能と共用できる回路
を設けておき、これをメモリの書き込みのROMビット
・パターンと同一層のマスク1枚で回路を断続し、ピン
機能や信号端子の配置を変更するものである。
According to the present invention, in order to eliminate such a drawback, a circuit having another function or a circuit which can be shared with another function is provided in advance, and this is provided in the mask 1 in the same layer as the ROM bit pattern for memory writing. The circuit is interrupted by a single sheet, and the pin function and the arrangement of signal terminals are changed.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、製造
時にマスクを用いてデータを書き込まれるメモリセル
と、複数の機能から択一的に機能の設定が可能な外部端
子と、該外部端子に設定された機能に応じた信号処理を
するように構成される論理回路に使われるトランジスタ
群とを備え、該トランジスタ群は、複数の機能のうちの
第1の機能に応じた信号処理をする第1の論理回路を構
成する場合に使われる第1のトランジスタ群と、前記第
1の論理回路を構成する場合又は前記複数の機能のうち
の第2の機能に応じた信号処理をする第2の論理回路を
構成する場合に共通に使われる第2のトランジスタ群と
を含み、前記メモリセルへのデータ書き込み用の前記マ
スクを用いて、前記トランジスタ群内に選択的な接続配
線を形成することにより前記外部端子に設定する機能に
応じた信号処理をする論理回路を選択的に構成し、前記
外部端子に前記複数の機能のうちの1つの機能を設定し
てなることを特徴とする。特にマスクROMの製造にお
いては、使用者から、メモリへ書き込むデータを受けて
マスクバターンに変換するので、これと同一層のマスク
で、ピンの機能や配置の切り換えや変更をおこなえば、
1枚のマスクで、メモリ内容の書き込みと、使用者から
要求される使用が満足され、効率が良い。
That is, according to the present invention, a memory cell in which data is written using a mask at the time of manufacturing, an external terminal whose function can be selectively set from a plurality of functions, and an external terminal A group of transistors used in a logic circuit configured to perform signal processing according to a set function, the transistor group performing signal processing according to a first function of the plurality of functions. A first transistor group used when configuring one logic circuit, and a second transistor group that performs signal processing according to the second function of the plurality of functions when configuring the first logic circuit. A second transistor group commonly used when forming a logic circuit, and forming a selective connection wiring in the transistor group by using the mask for writing data to the memory cell. Wherein selectively the logic circuit for signal processing in accordance with the function of setting the external terminal, characterized by comprising setting the one function of the plurality of functions to the external terminal Ri. Particularly in the manufacture of a mask ROM, since the data to be written in the memory is received from the user and converted into a mask pattern, if the function and arrangement of the pins are switched or changed with the mask of the same layer as this,
With one mask, the writing of the memory contents and the use required by the user are satisfied, and the efficiency is good.

【0008】[0008]

【実施例】図4は、本発明の1つの実施例である。図4
は、発2図のAとBのブロック図を共有して、共通に使
用できる回路を表わしてしいる。図4の実線による接続
は、図2のAの機能に相当する。図4の実線に、破線の
部分を接続すると、図2のBの機能を持つ回路となる。
図4のa,bの部分は、図2Bの18,19のチップ選
択信号回路にあたり、あらかじめ別機能を待つ回路であ
る。図4のCの部分は、図2Aの場合合には、17のチ
ツブセレクト信号CS回路となり、図2Bの場合は、2
0の出力制御信号/OE回路となり、別機能を持たせる
のに、共通に使用できるトランジスタ群を持つ回路とな
つている。すなわち、図4Cにおいて実線で接線される
トランジスタ群はCSと/OEの2つの機能に共通して
使われ、破線で接続されるトランジスタ群は/OEの機
能に使われる。図4のeの部分は図2のAの場合には、
21のアドレス信号A11回路となり、図2Bの場合は、
入力制御信号/CE回路となり、共通トランジスタ群を
持つ回路となっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT FIG. 4 shows one embodiment of the present invention. Figure 4
Shows a circuit that can be commonly used by sharing the block diagrams of A and B in FIG. The connection by the solid line in FIG. 4 corresponds to the function of A in FIG. When the broken line portion is connected to the solid line in FIG. 4, a circuit having the function of B in FIG. 2 is obtained.
Parts a and b in FIG. 4 correspond to the chip selection signal circuits 18 and 19 in FIG. 2B and are circuits that wait for another function in advance. The portion C in FIG. 4 is the chip select signal CS circuit 17 in the case of FIG. 2A, and is 2 in the case of FIG. 2B.
It becomes an output control signal / OE circuit of 0, and has a transistor group that can be commonly used to have another function. That is, the transistor group tangent to the solid line in FIG. 4C is commonly used for the two functions CS and / OE, and the transistor group connected to the broken line is used for the / OE function. In the case of A of FIG. 2, the part e of FIG.
21 address signal A 11 circuit, and in the case of FIG. 2B,
It is an input control signal / CE circuit, and has a common transistor group.

【0009】この様なピン機能の切り換え、ピン配置の
変更を、メモリへ書き込むROMビット・パターンと同
一層のマスクでおこなう場合の1つの例を図5に示す。
図5は、回路の切り換え、接続が、図1のBで示された
メモリ・セルへの書き込みと同一層のコンタクト層によ
るものである。図5の33,34,35はトランジスタ
を形成するポリシリコンである。図5の36,42は、
メタルの配線部分である。図5の37は、拡散層であ
る。図5の33,39,40,41は、コンタクト層を
表わしている。38のコンタクト層を形成すると、33
のポリシリコンと、36のメタルが導通され配線が接続
される。さらに、39,40のコンタクト層が入ると、
37の拡散と36のメタルが導通され配線が接続されて
回路が構成される。逆に、41のコンタクト層が無い場
合は34,35のボリシリコンと42のメタルは非導通
となり、配線は切断される。この様な配線の断続は、コ
ンタクト層だけでなく、図1Aの5のチャネルドーブで
も可能である。
FIG. 5 shows an example of the case where the switching of the pin functions and the change of the pin arrangement are performed by using the mask on the same layer as the ROM bit pattern to be written in the memory.
FIG. 5 shows that switching and connection of the circuit are performed by the contact layer which is the same layer as the writing to the memory cell shown in FIG. 1B. Reference numerals 33, 34 and 35 in FIG. 5 are polysilicon forming a transistor. 36 and 42 in FIG.
This is a metal wiring part. Reference numeral 37 in FIG. 5 is a diffusion layer. Reference numerals 33, 39, 40 and 41 in FIG. 5 denote contact layers. When the contact layer of 38 is formed, 33
And the metal of 36 is electrically connected to connect the wiring. Furthermore, when 39 and 40 contact layers are included,
A circuit is formed by connecting the diffusion of 37 and the metal of 36 to connect the wiring. On the contrary, when the contact layer of 41 is not provided, the polysilicon of 34 and 35 and the metal of 42 are non-conductive, and the wiring is disconnected. Such disconnection of the wiring is possible not only in the contact layer but also in the channel dove of FIG. 1A.

【0010】[0010]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、メ
モリの書き込みと同一のマスクで、配線の切換ができ、
従来のメタルマスクなどの配線の切換え、変更に比べて
データの書き込みと、信号線の切換え、変更が1枚のマ
スクですみ能率的で、便利となった。
As described above, according to the present invention, the wiring can be switched with the same mask as that for writing in the memory,
Compared to the conventional switching and changing of wiring such as metal masks, data writing and switching and changing of signal lines can be done efficiently with one mask.

【0011】なお、この様な手法は、マスクROMに限
ることなく、ROM機能を内蔵する集積回路や、PLA
回路にも適用これるものである。
Note that such a method is not limited to the mask ROM, but is applicable to an integrated circuit having a ROM function or a PLA.
It is also applied to circuits.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(A)拡散層によりデータを書き込む場合のメ
モリ・セルのしイアウト図。 (B)コンタクト層によりデータを書き込む場合のメモ
リ・セルのしイアウト図。
FIG. 1A is a layout diagram of a memory cell when data is written by a diffusion layer. (B) Layout diagram of the memory cell when data is written by the contact layer.

【図2】(A)外部制御信号であるチツブセレクト信号
CSが1つの場合の代表的なマスクROMのブロック
図。 (B)外部制御信号であるチツプセレクト信号CS1,
CS2,/CEが3つ、出力制御1信号/OEが1つの
場合の代表的なマスクROMのブロック図。
FIG. 2A is a block diagram of a typical mask ROM when there is one chip select signal CS which is an external control signal. (B) Chip select signal CS1, which is an external control signal
FIG. 3 is a block diagram of a typical mask ROM when there are three CS2, / CE and one output control 1 signal / OE.

【図3】(A)図2Aの機能を有するパッケージされた
集積回路のピン配置の部分図。 (B)図2Bの機能を有するパッケージこれた集積回路
のピン配置の部分図。
FIG. 3A is a partial view of the pinout of a packaged integrated circuit having the functionality of FIG. 2A. (B) A partial view of the pin arrangement of a packaged integrated circuit having the function of FIG. 2B.

【図4】はセップセレクト回路図。FIG. 4 is a sep select circuit diagram.

【図5】コンタクト層によるポリシリコンとメタル、拡
散層とメタルの接続図。
FIG. 5 is a connection diagram of polysilicon and metal by a contact layer and a diffusion layer and a metal.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・・・・ポリシリコンのワード線 2・・・・・・メタルのデータ線 3・・・・・・コンタクト部 4・・・・・・拡散部 5・・・・・・チャネルド−プ部 5・・・・・・メモリ・マトリックス 6・・・・・・Yセレクター 7・・・・・・Xデコ−ダ 8・・・・・・Yデコーダ 9・・・・・・AO〜A7アドレス入力バッフア 10・・・・・・A8〜A12アドレス入力バッファ 11・・・・・・出力バッファ 12・・・・・・チップセレクト入力バッフア 13・・・・・・チップイネーブル入力バッフア 14・・・・・・アウトブットイネーブル入力バッフア 15・・・・・・AO〜A7アドレス入JJ 16・・・・・・A8〜A12アドレス入力 17・・・・・・CSチップセレクト入力 18・・・・・・CS1チップセレクト入力 19・・・・・・CS2チップセレクト入力 20・・・・・・OE出力回路制御入力 21・・・・・・CEアドレスバッフア回路制御入力 22・・・・・・A11アドレス入力 43・・・・・・OO〜O7データ出力 23・・・・・・プラス電源VDD 24・・・・・・A8アドレス入力 25・・・・・・A9アドレス入力 26・・・・・・CSチップセレクト入力 27・・・・・・A11アドレス入力 28・・・・・・CS1チップセレクト入力 29・・・・・・CS2チップセレクト入力 30・・・・・・A9アドレス入力 31・・・・・・/OE出力回路制御入力 32・・・・・・/CEアドレスバッフア回路制御入力 a・・・・・・CS1チップセレクト入力回路 b・・・・・・CS2チップセレクト入力回路 C・・・・・・CSと/OEの共通回路 d・・・・・・CSと/CEの共通回路 e・・・・・・A11アドレス入力と/CEの共通回路 33,34,35,・・・・・・ポリシリコン 36,42・・・・・・メタル 37・・・・・・拡散層 38,39,40,41・・・・・・コンタクト層1 ··· Polysilicon word line 2 ·· Metal data line 3 ··· Contact part 4 ··· Diffusion part 5 ··· Channeled -Pop section 5 ... Memory matrix 6 ... Y selector 7 ... X decoder 8 ... Y decoder 9 ... A O to A 7 address input Baffua 10 ...... A 8 to A 12 an address input buffer 11 ...... output buffer 12 ...... chip select input Baffua 13 ...... chips Enable input buffer 14 ... Outbut enable input buffer 15 ... A O to A 7 address input JJ 16 ... A 8 to A 12 address input 17 ...・ CS chip select input 18 ・ ・ ・ ・ ・ CS1 chip select Input 19 ... CS2 chip select input 20 ... OE output circuit control input 21 ... CE address buffer circuit control input 22 ... A 11 address input 43 ...... O O ~ O 7 data output 23 ...... positive supply V DD 24 ...... A 8 address inputs 25 ...... A 9 address input 26 ... ··· CS chip select input 27 ······ A 11 address input 28 ······ CS1 chip select input 29 ······ CS2 chip select input 30 ······ A 9 address Input 31 ... // OE output circuit control input 32 ../ CE address buffer circuit control input a ... CS1 chip select input circuit b ... CS2 chip Select input circuit C Common circuit e · · · · · · A 11 address input and / CE of the common circuitry 33, 34 and 35 of the common circuit d · · · · · · CS and / CE CS and / OE, · · · · · · Polysilicon 36, 42 ... Metal 37 ... Diffusion layer 38, 39, 40, 41 ... Contact layer

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─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成6年4月21日[Submission date] April 21, 1994

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】請求項1[Name of item to be corrected] Claim 1

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】請求項2[Name of item to be corrected] Claim 2

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0002[Name of item to be corrected] 0002

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0002】[0002]

【従来の技術】本発明はリードオンリメモリ(ROM)
集積回路の外部入力端子、外部出力端子、外部制御端子
の切り換えおよび変更を、あらかじめ機能変更可能な回
路を設けておき、前記集積回路のメモリ・セル内にデー
タを書き込む方法と同一の製造工程内で効率よく行うも
のである。リードオンリメモリ(以後ROMと呼ぶ)の
代表的なものに、マスクログラマブルROM(以後マ
スクROMと呼ぶ)がある。マスクROMは、ROMの
内容の書き込みを、LSI製造に使う一部のマスクパタ
ーンの変更によつておこなう方式を用いたものである。
この方式によって書き込まれるメモリ・セルのレイアウ
トを図1に示す。図1のワード線、データ線はそれぞれ
ポリシリコンおよびメタルで構成されている。メモリセ
ルへのデータの書き込み方法は幾つかあるが、図1Aの
ROMビット・パターンは、チャネルドー層のマスク
により、拡散層へのチャネルドーの有無により固定化
(メモリ)されている。図1BのROMビツトパターン
は、コンタクト層のマスクによりコンタクトホールの有
無により固定化(メモリ)されている。この様にマスク
ROMにおいては、メモリすべきデータを、ROMの製
造者がマスクターンに変換して、メモリ・セルに書き
込む方法がとられている。リソグラフイー法によって製
作されるマスクROMの製造に必要なマスクは、ROM
ビット・パターン用マスクの他に、別の工程に使用され
るマスクが10数枚必要であり、それらを順番に使用し
てマスクROMは製造される。ゆえにマスクROM製造
者は、メモリ・セルに書き込むデータ内容が異なる幾種
類かのマスクROMを製作する場合は、マスクROMの
使用者からデータを受けてマスク・パターンに変換し
て、そのデータを書き込む層のマスクのみを交換して、
他の工程は他のマスクROMと同一マスクを使用して、
マスクROMを製造する。
2. Description of the Related Art The present invention is a read only memory (ROM).
Within the same manufacturing process as the method for writing data in the memory cells of the integrated circuit by previously providing a circuit whose function can be switched and changed for the external input terminal, external output terminal and external control terminal of the integrated circuit. It is an efficient way to do it. The representative of the read-only memory (hereinafter referred to as ROM), there is a mask programmable ROM (hereinafter referred to as mask ROM). The mask ROM uses a method in which the contents of the ROM are written by changing a part of a mask pattern used in LSI manufacturing.
The layout of the memory cell written by this method is shown in FIG. The word lines and data lines in FIG. 1 are composed of polysilicon and metal, respectively. Although a method of writing data into the memory cell are several, ROM bit pattern of FIG. 1A, the mask of the channel dough flops layer is immobilized (memory) the presence or absence of the channel dough up to the diffusion layer. The ROM bit pattern of FIG. 1B is fixed (memory) by the presence or absence of a contact hole by the mask of the contact layer. In this manner the mask ROM, the data to be memory, converts ROM manufacturer is the mask pattern, a method of writing to a memory cell has been taken. A mask required for manufacturing a mask ROM manufactured by the lithographic method is a ROM
In addition to the bit pattern mask, ten or more masks used in another process are required, and the mask ROM is manufactured by using them in order. Therefore, the mask ROM manufacturer receives data from the user of the mask ROM, converts it into a mask pattern, and writes the data when manufacturing several kinds of mask ROMs having different data contents to be written in the memory cell. Replace only the layer mask,
Other processes use the same mask as other mask ROM,
A mask ROM is manufactured.

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0005[Name of item to be corrected] 0005

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】この様な信号線の端子
の機能や配置は、マスクROM使用者によって異なり、
従来は、図2のAとBの2種類の機能を持つところの、
図3のAとBの2種類のピン配置があり、ピン機能やピ
ン配置変更のたびごとに、全工程のマスクを変更する
か、最小限でもメタルマスクを修正する必要があり、変
更するマスク数が多く、マスクの作成時間と費用がかか
る欠点があった。
The function and arrangement of the terminals of such signal lines differ depending on the mask ROM user.
Conventionally, it has two kinds of functions of A and B of FIG.
There are two types of pin arrangements, A and B in FIG. 3, and it is necessary to change the mask of the entire process or at least to correct the metal mask every time the pin function or the pin arrangement is changed. There are many disadvantages that it takes time and costs to make masks.

【手続補正5】[Procedure Amendment 5]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0007[Correction target item name] 0007

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、製造
時にマスクを用いてデータを書き込まれるメモリセル
と、複数の機能から択一的に機能の設定が可能な外部端
子と、該外部端子に設定された機能に応じた信号処理を
するように構成される論理回路に使われるトランジスタ
群とを備え、該トランジスタ群は、複数の機能のうちの
第1の機能に応じた信号処理をする第1の論理回路を構
成する場合に使われる第1のトランジスタ群と、前記第
1の論理回路を構成する場合又は前記複数の機能のうち
の第2の機能に応じた信号処理をする第2の論理回路を
構成する場合に共通に使われる第2のトランジスタ群と
を含み、前記メモリセルへのデータ書き込み用の前記マ
スクを用いて、前記トランジスタ群内に選択的な接続配
線を形成することにより前記外部端子に設定する機能に
応じた信号処理をする論理回路を選択的に構成し、前記
外部端子に前記複数の機能のうちの1つの機能を設定し
てなることを特徴とする。特にマスクROMの製造にお
いては、使用者から、メモリへ書き込むデータを受けて
マスクバターンに変換するので、これと同一層のマスク
で、ピンの機能や配置の切り換えや変更をおこなえば、
1枚のマスクで、メモリ内容の書き込みと、使用者から
要求される仕様が満足され、効率が良い。
That is, according to the present invention, a memory cell in which data is written using a mask at the time of manufacturing, an external terminal whose function can be selectively set from a plurality of functions, and an external terminal A group of transistors used in a logic circuit configured to perform signal processing according to a set function, the transistor group performing signal processing according to a first function of the plurality of functions. A first transistor group used when configuring one logic circuit, and a second transistor group that performs signal processing according to the second function of the plurality of functions when configuring the first logic circuit. A second transistor group commonly used when forming a logic circuit, and forming a selective connection wiring in the transistor group by using the mask for writing data to the memory cell. Wherein selectively the logic circuit for signal processing in accordance with the function of setting the external terminal, characterized by comprising setting the one function of the plurality of functions to the external terminal Ri. Particularly in the manufacture of a mask ROM, since the data to be written in the memory is received from the user and converted into a mask pattern, if the function and arrangement of the pins are switched or changed with the mask of the same layer as this,
With one mask, writing of the memory contents and the specifications required by the user are satisfied, which is efficient.

【手続補正6】[Procedure correction 6]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0008[Correction target item name] 0008

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0008】[0008]

【実施例】図4は、本発明の1つの実施例である。図4
は、発2図のAとBのブロック図を共有して、共通に使
用できる回路を表わしてしいる。図4の実線による接続
は、図2のAの機能に相当する。図4の実線に、破線の
部分を接続すると、図2のBの機能を持つ回路となる。
図4のa,bの部分は、図2Bの18,19のチップ選
択信号回路にあたり、あらかじめ別機能を待つ回路であ
る。図4のCの部分は、図2Aの場合合には、17のチ
セレクト信号CS回路となり、図2Bの場合は、2
0の出力制御信号/OE回路となり、別機能を持たせる
のに、共通に使用できるトランジスタ群を持つ回路とな
つている。すなわち、図4Cにおいて実線で接線される
トランジスタ群はCSと/OEの2つの機能に共通して
使われ、破線で接続されるトランジスタ群は/OEの機
能に使われる。図4のeの部分は図2のAの場合には、
21のアドレス信号A11回路となり、図2Bの場合
は、入力制御信号/CE回路となり、共通トランジスタ
群を持つ回路となっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT FIG. 4 shows one embodiment of the present invention. Figure 4
Shows a circuit that can be commonly used by sharing the block diagrams of A and B in FIG. The connection by the solid line in FIG. 4 corresponds to the function of A in FIG. When the broken line portion is connected to the solid line in FIG. 4, a circuit having the function of B in FIG. 2 is obtained.
Parts a and b in FIG. 4 correspond to the chip selection signal circuits 18 and 19 in FIG. 2B and are circuits that wait for another function in advance. C portion of FIG. 4, in the case if the Figure 2A, becomes Ji <br/> class tap select signal CS circuit 17, in the case of FIG. 2B, 2
It becomes an output control signal / OE circuit of 0, and has a transistor group that can be commonly used to have another function. That is, the transistor group tangent to the solid line in FIG. 4C is commonly used for the two functions CS and / OE, and the transistor group connected to the broken line is used for the / OE function. In the case of A of FIG. 2, the part e of FIG.
21 is the address signal A 11 circuit, and in the case of FIG. 2B, it is the input control signal / CE circuit, which is a circuit having a common transistor group.

【手続補正7】[Procedure Amendment 7]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0009[Correction target item name] 0009

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0009】この様なピン機能の切り換え、ピン配置の
変更を、メモリへ書き込むROMビット・パターンと同
一層のマスクでおこなう場合の1つの例を図5に示す。
図5は、回路の切り換え、接続が、図1のBで示された
メモリ・セルへの書き込みと同一層のコンタクト層によ
るものである。図5の33,34,35はトランジスタ
を形成するポリシリコンである。図5の36,42は、
メタルの配線部分である。図5の37は、拡散層であ
る。図5の33,39,40,41は、コンタクト層を
表わしている。38のコンタクト層を形成すると、33
のポリシリコンと、36のメタルが導通され配線が接続
される。さらに、39,40のコンタクト層が入ると、
37の拡散と36のメタルが導通され配線が接続されて
回路が構成される。逆に、41のコンタクト層が無い場
合は34,35のリシリコンと42のメタルは非導通
となり、配線は切断される。この様な配線の断続は、コ
ンタクト層だけでなく、図1Aの5のチャネルドー
も可能である。
FIG. 5 shows an example of the case where the switching of the pin functions and the change of the pin arrangement are performed by using the mask on the same layer as the ROM bit pattern to be written in the memory.
FIG. 5 shows that switching and connection of the circuit are performed by the contact layer which is the same layer as the writing to the memory cell shown in FIG. 1B. Reference numerals 33, 34 and 35 in FIG. 5 are polysilicon forming a transistor. 36 and 42 in FIG.
This is a metal wiring part. Reference numeral 37 in FIG. 5 is a diffusion layer. Reference numerals 33, 39, 40 and 41 in FIG. 5 denote contact layers. When the contact layer of 38 is formed, 33
And the metal of 36 is electrically connected to connect the wiring. Furthermore, when 39 and 40 contact layers are included,
A circuit is formed by connecting the diffusion of 37 and the metal of 36 to connect the wiring. Conversely, if the contact layer 41 is not metal port Rishirikon and 42 of 34 and 35 becomes non-conductive, interconnection is cut. Intermittent of such wiring is not only a contact layer, <br/> channel dough flop 5 of Figure 1A are possible.

【手続補正8】[Procedure Amendment 8]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0011[Correction target item name] 0011

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0011】なお、この様な手法は、マスクROMに限
ることなく、ROM機能を内蔵する集積回路や、PLA
回路にも適用れるものである。
Note that such a method is not limited to the mask ROM, but is applicable to an integrated circuit having a ROM function or a PLA.
It is also applied to circuits.

【手続補正9】[Procedure Amendment 9]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】図面の簡単な説明[Name of item to be corrected] Brief description of the drawing

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(A)拡散層によりデータを書き込む場合のメ
モリ・セルのイアウト図。 (B)コンタクト層によりデータを書き込む場合のメモ
リ・セルのイアウト図。
1 (A) layout view of a memory cell when writing data by the diffusion layer. (B) layout view of a memory cell when writing data by the contact layer.

【図2】(A)外部制御信号であるチツセレクト信号
CSが1つの場合の代表的なマスクROMのブロック
図。 (B)外部制御信号であるチツプセレクト信号CS1,
CS2,/CEが3つ、出力制御1信号/OEが1つの
場合の代表的なマスクROMのブロック図。
[2] (A) a block diagram of a typical mask ROM when multichip select signal CS is one which is an external control signal. (B) Chip select signal CS1, which is an external control signal
FIG. 3 is a block diagram of a typical mask ROM when there are three CS2, / CE and one output control 1 signal / OE.

【図3】(A)図2Aの機能を有するパッケージされた
集積回路のピン配置の部分図。 (B)図2Bの機能を有するパッケージれた集積回路
のピン配置の部分図。
FIG. 3A is a partial view of the pinout of a packaged integrated circuit having the functionality of FIG. 2A. (B) partial view of a pin arrangement of the packaged integrated circuit having a function of Figure 2B.

【図4】はセップセレクト回路図。FIG. 4 is a sep select circuit diagram.

【図5】コンタクト層によるポリシリコンとメタル、拡
散層とメタルの接続図。
FIG. 5 is a connection diagram of polysilicon and metal by a contact layer and a diffusion layer and a metal.

【符号の説明】図1において 1‥‥‥ポリシリコンのワード線 2‥‥‥メタルのデータ線 3‥‥‥コンタクト部 4‥‥‥拡散部 5‥‥‥チャネルドープ部図2において 5‥‥‥メモリ・マトリックス 6‥‥‥Yセレクター 7‥‥‥Xデコーダ 8‥‥‥Yデコーダ 9‥‥‥A〜Aアドレス入力バッフア 10‥‥‥A〜A12アドレス入力バッファ 11‥‥‥出力バッファ 12‥‥‥チップセレクト入力バッフア 13‥‥‥チップイネーブル入力バッフア 14‥‥‥アウトットイネーブル入力バッフア 15‥‥‥A〜Aアドレス入JJ 16‥‥‥A〜A12アドレス入力 17‥‥‥CSチップセレクト入力 18‥‥‥CS1チップセレクト入力 19‥‥‥CS2チップセレクト入力 20‥‥‥OE出力回路制御入力 21‥‥‥CEアドレスバッフア回路制御入力 22‥‥‥A11アドレス入力 43‥‥‥O〜Oデータ出力図3において 23‥‥‥プラス電源VDD 24‥‥‥Aアドレス入力 25‥‥‥Aアドレス入力 26‥‥‥CSチップセレクト入力 27‥‥‥A11アドレス入力 28‥‥‥CS1チップセレクト入力 29‥‥‥CS2チップセレクト入力 30‥‥‥Aアドレス入力 31‥‥‥/OE出力回路制御入力 32‥‥‥/CEアドレスバッフア回路制御入力 図4において a‥‥‥CS1チップセレクト入力回路 b‥‥‥CS2チップセレクト入力回路 C‥‥‥CSと/OEの共通回路 d‥‥‥CSと/CEの共通回路 e‥‥‥A11アドレス入力と/CEの共通回路図5において 33,34,35,‥‥‥ポリシリコン 36,42‥‥‥メタル 37‥‥‥拡散層 38,39,40,41‥‥‥コンタクト層[Explanation of Codes] In FIG. 1, 1 ... Polysilicon word line 2 ... Metal data line 3 ... Contact part 4 ... Diffusion part 5 ... Channel dope part 5 in FIG. Memory matrix 6 ... Y selector 7 ... X decoder 8 ... Y decoder 9 ... A 0 to A 7 address input buffer 10 ... A 8 to A 12 address input buffer 11 ... output buffer 12 ‥‥‥ chip select input Baffua 13 ‥‥‥ chip enable input Baffua 14 ‥‥‥ out flop Tsu preparative enable input Baffua 15 ‥‥‥ A 0 ~A 7 address input JJ 16 ‥‥‥ A 8 ~A 12 address input 17 ... CS chip select input 18 ... CS1 chip select input 19 ... CS2 chip select input 20 ... OE output circuit system Input 21 ... CE address buffer circuit control input 22 ... A 11 address input 43 ... O 0 to O 7 data output 23 in Fig. 3 Positive power supply V DD 24 ... A 8 address Input 25 ... A 9 address input 26 ... CS chip select input 27 ... A 11 address input 28 ... CS1 chip select input 29 ... CS2 chip select input 30 ... A 9 address input 31 ... / OE output circuit control input 32 ... / CE address buffer circuit control input In Fig. 4, a ... CS1 chip select input circuit b ... CS2 chip select input circuit C ... CS and / OE Common circuit d ... CS and / CE common circuit e ... A 11 common circuit for address input and / CE 33, 34, 35, ... in FIG.・ ・ ・ Polysilicon 36, 42 ・ ・ ・ Metal 37 ・ ・ ・ Diffusion layer 38, 39, 40, 41 ・ ・ ・ Contact layer

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】マスクを用いてデータを書き込まれるメモ
リセルと、複数の磯能から択一的に機能の設定が可能な
外部聡子と、該外部端子に設定された舷能に応じた信号
処理をするように構成される論理回路に使われるトラン
ジスタ群とを備え、該トランジスタ群は、複数の機能の
うちの第1の機能に応じた信号処理をする第1の論理回
路を構成する均合に使われる第1のトランジスタ群と、
前記発1の偽理回略を構成する場合又は前記複数の機能
のうちの第2の機能に応じた信号処理をする第2の路理
回路を俺成する場合に共通に使われる第2のトランジス
タ群とを含み、前記メモリセルへのデータ書き込み用の
前記マスクを用いて、前記トランジスタ群内に選択的な
接続母線を形成することにより前記外部端子に設定する
機能に応じた信号処理をする論理回路を選択的に構成
し、前記外部端子に前記複牧の機能のうちの1つの機能
を設定してなることを特徴とする半導体装置の製造方
法。
1. A memory cell in which data is written by using a mask, an external Satoshi whose function can be selectively set from a plurality of sockets, and a signal processing corresponding to the socket set to the external terminal. And a transistor group used in a logic circuit configured to perform the above-mentioned transistor group, the transistor group including a transistor group for performing signal processing in accordance with a first function of the plurality of functions. A first transistor group used for
The second commonly used in the case of constructing the false mitigation of the first or in the case of constructing the second logic circuit for performing the signal processing according to the second function of the plurality of functions. Signal processing according to a function set in the external terminal by forming a selective connection bus bar in the transistor group using the mask for writing data to the memory cell, including a transistor group. A method of manufacturing a semiconductor device, wherein a logic circuit is selectively configured and one of the functions of the compound is set to the external terminal.
【請求項2】前記マスクはコンタクト層を形成するため
のマスクでみることを特徴とする請求項1記載の半導体
装置の製造方法。
2. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, wherein the mask is a mask for forming a contact layer.
【請求項3】前記マスクはチヤンネルドーブのためのマ
スクでるることを特徴とする請求項1記載の半導体装置
の製造方法。
3. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, wherein the mask is a mask for a channel dove.
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