JP2691397B2 - ユーザに対し測定データを表示する方法およびポータブルテスト計器 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【関連出願に関する情報】この出願は同時に提出され
「コンポーネントテスト出力の有効性を確実にするため
のテスト計器におけるピーク電流検出（Peak Current D
etection in a TestInstrument for Ensuring Validity
of Component Test Output）」と題された共通の譲受
人に譲渡されている米国特許出願第０８／３０６，５５
０号に関連している。

【０００２】

【発明の分野】本発明は、電子テスト計器および関連の
方法論に関し、特定的には電子部品または回路における
電圧、電流、インピーダンスおよび他のパラメータを測
定するのに用いられるマルチメータなどの計器に関す
る。より特定的には、本発明は測定データを簡略化して
「トレンド」データを形成し、そのトレンドデータをグ
ラフィック的に表示するための方法および装置に関す
る。

【０００３】

【発明の背景】デジタルマルチメータなどの既知のテス
ト計器では、測定データまたは「読取値」はリアルタイ
ムで表示される、すなわちこれらの計器は対象となる電
圧、電流または他のパラメータを、比較的短い遅延また
は応答時間を除いてはそれが変化するにつれて「追跡」
する。しかしながら、しばしば計器を絶えず観察する必
要はなく、たとえば数秒、数分、または実に数時間もの
所望のテスト間隔をおいてテスト測定データを調べるこ
とが有用である。先行技術において、たとえば固体メモ
リ内に、または磁気テープ上に長い期間にわたってテス
トデータを記録するための技術が知られている。そのよ
うな技術は、収集されたデータの量が極めて大きくなり
得るので、かなりの量の記憶または記録媒体を必要とす
る。さらに、このタイプのストアされたデータは、ユー
ザにとって直ぐに役立つ態様で提示されるためには、再
現されさらに処理および分析をされなければならない。
延長されたテスト間隔を代表するテストデータを即時に
利用するために簡略化されたグラフィック形式で記録
し、提示する方法が依然として必要である。

【０００４】多くの応用にとって、消耗的な測定データ
は要求または所望されてはいない。たとえば、修理所ま
たは現場における多くの装置のトラブルシューティング
および修理は、圧倒的大量の詳細なデータよりもむしろ
簡略化された概観的なデータを提供するテスト計器によ
って促進され得る。たとえば、１０秒ごと、または実に
１０分ごとにサンプリングされたデータであっても、い
くつかの装置の動作をチェックするには十分であり得
る。しばしば、修理技術者が測定された値をことごとく
調べる必要はない。むしろ、簡略化された「トレンド」
データを提供し、それをグラフィック形式でユーザに対
して表示するほうが有用であろう。いくつかの応用につ
いては、グラフィックトレンドデータが所与の間隔にわ
たって測定された最高の値と最低の値とを示すことが有
用であろう。トレンド表示の別の有用なタイプは、テス
ト間隔にわたって測定された平均値を示すであろう。ト
レンド表示の一部として測定データにおける不連続を捕
捉し、グラフィック的に示すことも有用であろう。

【０００５】先行技術では、交流または直流電圧または
抵抗などの基本的な測定には、ボルト−オームメータ
（ＶＯＭ）などのテスト計器が用いられる。ＶＯＭは計
器を読取るためのアナログメータを提供する。これらは
読取るのが困難であり、測定された値をストアする能力
が限られている。より最近では、デジタルマルチメータ
（ＤＭＭ）がデジタル（数字による）表示を介して改善
された精度および読みやすさを提供する。しかしながら
波形またはトリガされたイベントを表示するためのグラ
フィックディスプレイは、一般にオシロスコープ上でし
か利用可能でなく、オシロスコープは単純なＤＭＭと比
べると動作させるには極めて大きく、重く、高価であり
かつ複雑なものである。そのようなグラフィック出力を
最小限の習熟および経験を伴った人員によってベンチト
ップまたは現場で用いるために携帯可能な低価格のテス
ト計器において提供することが依然として必要とされて
いる。

【０００６】

【発明の概要】本発明の目的は、規定されたテスト間隔
にわたって測定データを記録することであり、かつそそ
のようなデータを簡略化されたグラフィック形式でユー
ザに即時に提示することである。

【０００７】この発明の他の目的は、測定データを比較
的単純な低価格のテスト計器においてグラフィック形式
で表示することである。

【０００８】この発明のさらなる目的は、測定データを
グラフィックフォーマットで提供することであって、延
長されたテスト期間にわたって取られた測定値はユーザ
によって高速かつ簡単な分析されるために単純なトレン
ド表示フォーマットに縮小される。

【０００９】本発明に従い、テスト計器は、この計器
が、テスト間隔と呼ばれる延長された期間にわたって収
集されたデータのグラフィック表現を提示する、トレン
ド表示モードを提供する。このグラフィック「トレンド
データ」は、「トレンド間隔」と呼ばれるより短いユー
ザによって選択可能な周波数で周期的に更新される。そ
の結果得られる表示は、サンプリングされたトレンド表
示と呼ばれる。しかしながら、トレンド間隔において測
定データをサンプリングしても、テスト間隔にわたって
のデータを真に表わすことにはならないかもしれない。
オプションとして、測定データは個々の各トレンド間隔
にわたって平均され、それらの結果がユーザにグラフィ
ック的に表示される。その結果得られる表示は、平均ト
レンド表示と呼ばれる。

【００１０】いくつかの応用については、ユーザの関心
の対象となるのは最高および最低の測定値である。この
発明に従う別のオプションは、これらの極端な値を各ト
レンド間隔について定め、その結果をハイ−ロートレン
ド表示としてグラフィック的に提示することである。さ
らなるオプションは、インピーダンステスト間隔全体に
わたって不連続（または「グリッチ」）を捕捉し、かつ
そのような不連続を対応するトレンド間隔においてサン
プリングされた平均またはハイ−ローインピーダンス情
報とともに示すべくグラフィックディスプレイにアイコ
ンを含むことである。トレンドデータは表示パネル上に
形成されるグラフィックディスプレイウィンドウ内に表
示される。数字による読取値などの他の情報は、グラフ
ィックディスプレイウィンドウの外のパネル上に表示さ
れる。好ましい実施例では、この発明のさまざまな局面
が、他の点ではＤＭＭに類似である携帯用のテスト計器
において実現される。

【００１１】この「グラフィックテスト計器」は、ポー
タブルテスト装置にグラフィックディスプレイの利点を
低コストでもたらすものである。この発明はユーザによ
って選択可能なトレンド間隔においてサンプリングされ
た測定データを反映することのできるグラフィックトレ
ンドディスプレイを提供する。グラフィックトレンドデ
ィスプレイは、複数個のトレンド間隔の各々にわたって
平均された測定データを反映することができる。グラフ
ィックトレンド表示はまた、複数個のトレンド間隔の各
々についての最も高い測定値および最も低い測定値を反
映することができる。

【００１２】この発明における前述および他の目的、特
徴および利点は、図面の参照とともに進められる以下の
好ましい実施例の詳細な説明からより容易に明らかとな
るであろう。

【００１３】

【好ましい実施例の詳細な説明】

［１．ユーザインタフェース］図１はテスト計器におけ
るフロントパネル２０の一部を示す。フロントパネル
は、後にさらに説明するように液晶ディスプレイモジュ
ールから形成されたディスプレイ２２を含む。フロント
パネルはまた、ハードキーとも称される複数個の押ボタ
ンまたはキー２４をも含む。これらは、キー上に示され
ている動作の特性またはモードを選択または変更するの
に用いられる、通常のキースイッチである。たとえば、
「範囲」と表記されたハードキーは、計器における適切
な動作範囲を選択するのに用いられてもよい。「表示モ
ード」と表記された最も左側にあるハードキーは、いく
つかの利用可能な表示モード間で選択を行なうために用
いられるものであって、これらのモードの各々は、ディ
スプレイ２２上に異なった組合せの情報を異なったやり
方で表示する。この場合では、参照符号３０において、
ディスプレイ上に示されているように、選択されている
表示モードは「トレンド」である。最初の数字による読
取値はディスプレイ２２の頂部近くに大きな文字で示さ
れる。この場合では、読取値は２３．５６８Ｖ ＡＣで
ある。トレンド表示モードでは、ディスプレイ２２は最
初の数字による読取値の下に位置するグラフィックディ
スプレイウィンドウ３２をも含む。

【００１４】計器のパネルは、参照符号２６で示される
一連の５つの「ソフトキー」をも含む。ソフトキー（図
面では１〜５と番号づけされている）は、実際には所望
の特性または動作パラメータを選択するための通常のキ
ースイッチである。各ソフトキーの特定の機能は、計器
の現在の状態および動作モードに依存する。各ソフトキ
ーの機能は包括的に参照符号２８で示されるディスプレ
イ２０の下部に沿って表示される。ここでは、「トレン
ド」表示モードが選択されているので、ソフトキーはデ
ィスプレイ上に示される機能、つまり図示されているよ
うに「ＲＳ２３２能動化」、「時間延長」、「時間短
縮」、「トレンドタイプ」、および「トレンド再開」の
機能を有する。ソフトキー１はしたがってＲＳ２３２ポ
ートを介しての計器からのトレンドデータの送信を可能
にする。トレンド表示モードは、後に詳しく説明する。

【００１５】トレンド表示モードにおける動作は、後に
さらに説明するように、ユーザが、保持されウィンドウ
３２内に表示されているデータサンプル間の時間間隔を
規定する「トレンド間隔」を選択することを必要とす
る。トレンド間隔はいかなる所望の範囲内でもあり得
る。ここで好ましいとされている実施例では、トレンド
間隔はおよそ１秒から１５分の範囲内で選択可能であ
る。ここで好ましいとされる商業的実施例では、トレン
ド間隔は予め定められた一連の選択肢、たとえば１秒、
２秒、５秒、１０秒、１５秒、３０秒、４５秒、１分、
２分、５分、１０分および１５分の中から選択される。
トレンド間隔は適切に「時間延長」および「時間短縮」
のソフトキー（ソフトキー２および３）を用いることに
よって選択される。選択されたトレンド間隔は、参照番
号４０においてディスプレイ上に表示されている（たと
えば１秒）。グラフィックディスプレイウィンドウ３２
は１２０個の列を含む。選択されたトレンド間隔が１秒
なので、テスト間隔の合計、すなわちグラフィックディ
スプレイ３２によって表わされる期間は１２０秒すなわ
ち２分である。このテスト間隔は、ディスプレイ上にお
いて参照符号４２でも示される。

【００１６】ソフトキー４はトレンド表示のタイプを選
択するのに用いられる。「トレンドタイプ」と読めるデ
ィスプレイ２２の部分２８における三角形のポインタ
は、対応するソフトキー（４）を押すとその結果ディス
プレイの下部にわたってサブメニューが表示され、それ
によりトレンド表示のタイプを選択するためのソフトキ
ーに新しい意味が指定されることを示す。その結果の表
示は図２に示される。図２を参照して、ディスプレイ２
２の部分２８は、選択された表示モード「トレンド」お
よび現在のサブメニューの名前である「タイプ」を示
す。トレンド表示のタイプは、サンプル、平均、および
ハイ／ローであり、その所望の１つが対応するソフトキ
ー２６を押すことによって選択される。図２に示される
表示状態では、ソフトキー４は使用されておらず、ソフ
トキー５がこのサブメニューから出るために用いられて
いる。図２に示されるようなディスプレイ２２の内容は
２点を除いて図１と類似である。第１に、図２ではディ
スプレイスクリーンの頂部に示されるようにＲＳ２３２
通信特性が能動化されている。また、トレンド表示の平
均タイプが選択されている。このタイプは、対応するソ
フトキーのラベルが目立たされた、または反転された映
像であることと、「平均」の語がスクリーン上で領域４
０の斜線の後ろに示されていることとの双方の理由で示
される。

【００１７】再び図１を参照して、ここではトレンド表
示の「サンプル」タイプが選択されたということが見て
取れるだろう。グラフィックディスプレイウィンドウ３
２はグラフィックディスプレイの下部に沿って計数線３
６を含む。この表示の頂部上方では水平方向のスケール
が「１０ｓｅｃ／ＤＩＶ」すなわち１区分あたり１０秒
と示される。図では１２の区分が存在するので、１区分
あたり１０秒と言うことは、合計２分のテスト間隔に相
当する。表示されたトレンド波形３４の詳細は後に説明
する。

【００１８】図４は、ディスプレイウィンドウ３２に示
されるトレンド表示波形の一部の拡大図である。図４に
表わされた各列、たとえば列５６は、１つのトレンド間
隔に対応する。したがって、各列は数秒または数分、も
しくは実に数時間もの、ユーザによって選択される期間
を表わす。図４は図１と同じくトレンド表示の「サンプ
ル」タイプを表わすものである。サンプルタイプの表示
では、測定データは各トレンド間隔の終わりにおいてサ
ンプリングされる。得られた値は、利用可能なディスプ
レイスクリーンの解像度による要求に応じて最も近いピ
クセルにまとめられる。活性化されたピクセルの縦方向
の位置は使用される範囲に依存するだろう。これはバッ
ファ内の最大値のものである。

【００１９】図５もまた、トレンドディスプレイの一部
の拡大図であって、ここではトレンド表示のハイ−ロー
タイプが表わされる。図４でのような表示のためのトレ
ンド間隔におけるサンプリングデータは、いくつかの応
用にとっては間隔全体を通じてデータを十分に表現する
ものではないかもしれない。ここでは、各トレンド間隔
の間に検出されたハイおよびローの値がグラフィック的
に表現される。たとえば図５における列６０を参照し
て、活性化されたピクセル６２は対応するトレンド間隔
の間に見られた最大値を表わす。同じ列内で、下部のピ
クセル６４が同じトレンド間隔の間に見られる最も低
い、または最小の値を表わす。ピクセル６２および６４
の中間は好ましくは、その間隔の間に測定データの可変
性を容易にユーザに与えるべく同様にオンにされる。デ
ィスプレイにおける列６６に対応する後続のトレンド間
隔では、明らかにデータはより安定していた。この列で
はピクセル６８のみがオンにされており、これはディス
プレイにおける限定された解像度内において最小値と最
大値とが双方とも同じであったことを示す。上述のトレ
ンド表示は、電圧、電流、インピーダンスおよび周波数
を含むさまざまなタイプの測定データのグラフィック表
示に用いられてもよい。

【００２０】図９はトレンド表示における平均タイプを
表わすトレンド表示波形の一部拡大図である。この表示
では、ピクセルの各列、たとえば列２４０が選択された
ピクセルを活性化することによって対応するトレンド間
隔の間に取られた測定値の平均値を示す。平均値は利用
可能なディスプレイスクリーンの解像度による要求に応
じて最も近いピクセルにまとめられる。活性化されたピ
クセルの縦方向の位置は使用される範囲に依存してお
り、これはやはりバッファ内の最大値のものである。

【００２１】［２．不連続トレンド表示−−「グリッチ
捕捉」］トレンド表示の第４のタイプ、より特定的には
トレンド表示における最初の３つのタイプのうちいずれ
との組合せにおいても利用可能な付加的な特性は、「グ
リッチ捕捉」または不連続オプションである。現在好ま
しいとされる実施例では、このオプションは計器が抵抗
を測定している場合のみ利用可能である。グリッチ捕捉
は図１および２では示されていない。なぜなら、ここで
図示されている計器モードは交流電圧を測定しているか
らである。

【００２２】不連続トレンドまたは「グリッチ捕捉」特
性はトレンドデータにおいて不連続を捕捉しグラフィッ
ク的に表示することに備えたものである。より特定的に
は、この特性は入力端子において連続性の変化を検出す
る。それは高速な不連続、すなわち数マイクロ秒のオー
ダの持続時間における開回路から短絡回路への遷移、ま
たは逆に短絡回路から開回路への遷移を検出することが
できる。一方、この変化は必ずしも特に高速である必要
はない。開回路と短絡回路との間での遷移であれば、い
ずれも不連続と考えられる。この特性は、たとえば回路
基板の振動テストとの関連で特に有用である。基板は数
分または実に数時間もの間振動テストにさらされるかも
しれない。テスト計器はグリッチ捕捉を能動化された状
態で所望のテスト間隔の間トレンド表示モードにセット
アップされ得る。その時間の間に起こる不連続は、全く
ないかもしれないし、数回かもしれないし、何回でもあ
り得る。グリッチ捕捉特性は本質的にこれらの不連続を
記録し、それらを上述のようにグラフィック的にユーザ
に提示する。これにより、ユーザは不連続の表示を探し
て計器を常に監視していなくともよくなる。さらに、こ
れは不連続がいつ起こるかの表示を提供する（ただし単
一のトレンド間隔内における複数の不連続は単一アイコ
ンによってのみ示されるだろう）。不連続表示特性はト
レンド表示モードすなわちサンプル、平均、またはハイ
−ローのいずれのものとの関連でも用いることができ
る。

【００２３】図３は前述のテスト計器のフロントパネル
２０を表わす。ここでもトレンド表示モードが選択され
ており、計器は「トレンドタイプ」のサブメニューを表
示している。このサブメニューは図２を参照して説明さ
れたものと同じであるが、今回はソフトキー（４）上に
示されているように「グリッチ」オプションが利用可能
である点が異なっている。計器は、ディスプレイ２２の
頂部近くにおける最初の数字による表示で示されるよう
に、インピーダンスを測定するようにセットされている
ことが見て取れるであろう。ここでは値２３．５６Ωが
表示されている。ディスプレイ２２の右下部分の近くで
は、計器が３００Ωの範囲までセットされていることが
見て取れるだろう。

【００２４】「グリッチ捕捉」モードの動作では、グラ
フィックディスプレイウィンドウ３２は以前とはいくぶ
ん異なったように配列される。右側に沿って示されるよ
うに、グラフィックウィンドウの縦方向寸法のほぼ中央
に、０Ωレベルが位置する。したがって、波形４８はグ
ラフィックディスプレイウィンドウの上部に限定され
る。計数線４６は、前述のように、時間を示すように設
けられるが、ここではこの計数線はグラフィックウィン
ドウ３２の底部から間隔をあけられて位置付けられてい
る。グラフィックウィンドウにおける残りの下方の領域
４９は、「グリッチマーク」またはアイコン、たとえば
アイコン５０および５２のために予約されている。これ
らの短い縦線はその水平方向の位置によってテスト間隔
の開始に関して１またはそれ以上の不連続が発生した時
間を表示する。たとえば、図示されている１秒のトレン
ド間隔に基づき、アイコン５０はテスト間隔が開始され
てから約８９秒後に不連続が起こったことを示す。同様
に、アイコン５２はテスト間隔が開始されてから約９５
秒後にトレンド間隔内において不連続が起こったことを
示す。テスト間隔は、トレンド表示のタイプが選択され
たときに始まるものであって、かつ図１に示されるソフ
トキー（５）の使用によって再開始されてもよい。

【００２５】［３．ハードウェアの説明］図７および８
はともに、本発明に従う新しいテスト計器の簡略化され
たブロック図を形成する。この計器およびその動作は基
本的な測定またはデータ収集特性に関するデジタルマル
チメータと類似である。したがって、それは入力端子に
おいて測定データを収集するための測定回路を含む。シ
ステムにおけるこのような従来的な局面は必要に応じて
この発明を理解するために簡単に述べられるのみであ
る。

【００２６】図７を参照して、テスト計器の「フロント
エンド」セクションは、従来のように適切なテストリー
ドまたはプローブを介して計器にテスト中の装置（図示
せず）を結合するための１対の端子１６０および１７０
を含む。たとえば、交流または直流電圧を測定するに
は、一つのリードが選択された回路ノードまたはＤＵＴ
に接続され、第２のリードが端子１７０と回路接地の間
またはＤＵＴの反対側に接続される。

【００２７】交流の測定には、端子１６０から発せられ
る入力信号が保護回路１７６を介して交流入力減衰回路
１８０に経路づけされる。減衰回路１８０の出力はＲＭ
Ｓコンバータ１８２を介してマルチプレクサ１８４に結
合される。交流メータの動作中、マルチプレクサ１８４
はＲＭＳ交流信号をＡ／Ｄコンバータ１８６に結合す
る。電流測定のためには、１つまたはそれ以上の付加的
な端子、たとえば（共通端子１７０よりもむしろ）端子
１７２が、第２のリードを電流スイッチング回路１７４
に接続するのに用いられる。入力減衰およびメータ動作
のさらなる説明は、本発明を理解するのには必要ではな
いため省略する。

【００２８】直流電圧の測定のためには、端子１６０に
提示された入力電圧が（高電圧または低電圧経路のいず
れかを介して）保護回路１７６を通過し、直流入力減衰
回路１９０に至る。計器が直流電圧メータとして動作す
るようセットされている場合、減衰された直流入力信号
は直流フィルタ１９２およびマルチプレクサ１８４を介
して、アナログ−デジタルコンバータＡ／Ｄ１８６まで
通り、デジタル形式に変換される。その結果得られたデ
ジタル値はＵＡＲＴ１９４を経由して図８に示されるマ
イクロプロセッサ２０２に送られる。

【００２９】ここで図８を参照して、テスト計器の全体
的な動作は、ＯＴＰ（一度だけプログラム可能な）ＲＯ
Ｍ２０８または他の不揮発性メモリ内にストアされマイ
クロプロセッサ２０２によって実行される適切なソフト
ウェアの制御下で管理される。マイクロプロセッサはア
ドレスバス２０４およびデータバス２０６に結合され
る。キーボードモジュール２１３がフロントパネルにお
けるキーボード制御にインタフェースする。収集メモリ
ＲＡＭ２１６も、アドレスおよびデータバスに結合され
る。収集ＲＡＭは、保持クロック信号によってクロック
されるデータ収集制御回路２１８の制御下で、ここでは
関係のない動作モードにおけるテストスキャンデータを
一時的にストアするために用いられる。収集ＲＡＭ内に
ストアされる選択されたデータは、データバス２０６を
介してシステムメモリＳＲＡＭ２１０へ転送されてもよ
い。

【００３０】アドレスおよびデータバスはまた、ステー
タスおよび制御レジスタ２２６にも結合される。ＥＥＰ
ＲＯＭ２１４が、セットアップデータ、較正データ、ユ
ーザによってストアされたデータ、およびパワーアップ
の際に読出されるべきパラメータをストアするのに用い
られる。ソフトウェアは、注目されるようにＲＯＭ２０
８内にストアされる。共通のアドレスおよびデータバス
２０４および２０６はまた、ＬＣＤ（液晶ディスプレ
イ）コントローラ２１２に結合されて、次に説明するＬ
ＣＤモジュール２２上でＳＲＡＭ内にストアされるデー
タを表示する。ＬＣＤモジュールは、図１〜３において
使用された状態で示されているディスプレイ２２を提供
するものである。

【００３１】広範かつさまざまな、ピクセルがアドレス
指定可能なディスプレイ装置を、既に述べた目的のため
に用いてもよい。現在好ましいとされる実施例では、デ
ィスプレイモジュールは液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）装
置を含んでおり、そのうちさまざまなものが、商業的に
入手可能である。ＬＣＤディスプレイには、他のディス
プレイ技術に対して耐久性があり、低コストであり、か
つ要求する電力が低いという利点がある。この応用に適
切なＬＣＤは、トランスフレクティブ（transflective
）でもよいし反射性でもよく、オプションとしてはバ
ックライトが設けられていてもよい。ポータブルテスト
計器におけるこの発明の商業的な一実施例では、ＬＣＤ
モジュール２２は併わせて２００ピクセル（縦）×２４
０ピクセル（横）を有する。使用の際には、図１〜５の
参照をして上述されたようにトレンドデータを表示する
ためのグラフィックディスプレイウィンドウとしてディ
スプレイの一部、たとえば６４ピクセル（縦）×１２０
ピクセル（横）の大きさになるものが用いられる。トレ
ンド表示には他のタイプおよびサイズのピクセルがアド
レス指定可能な表示装置を用いることができ、かつここ
に示される実施例と等価なものであると考えられるべき
である。

【００３２】システムクロック、たとえば１９．２ＭＨ
ｚで水晶ベースの発振器（図示せず）がノード２２０に
与えられて周波数カウンタ２２２をクロックする。周波
数カウンタはテスト信号についての周波数情報を提供す
るために用いられる。結果として得られるカウントはス
テータスおよび制御レジスタ２２６に与えられる。シス
テムクロックは基準カウンタ２２４をもクロックする。
基準カウンタは、カウンタ２２２によって提供される値
からの入力信号の周波数を計算するために用いることの
できる予め定められた時間間隔にわたって既知の量を提
供する。周波数測定データはここで説明されるトレンド
表示特性を用いて表示することができる。周波数カウン
タ値は図示されるようにマイクロプロセッサの操作のた
めのソフトウェアにとってレジスタ２２６を介して利用
可能である。このカウンタのハードウェアは後に示すよ
うに不連続トレンド表示にも用いることができる。

【００３３】グリッチ捕捉のためには、１対の値がソフ
トウェアによって提供され、連続しきい値を確立する。
２つのしきい値はヒステリシスをもたらすのに用いられ
る。それらはたとえば３００Ωの範囲においておよそ２
から２５Ωの範囲内にある。しきい値は現在の範囲設定
に従って選択されてもよい。探索のために適切なしきい
値がＲＯＭ２０８にストアされる。デジタル形式でスト
アされている選択された１対のしきい値は、図７に示さ
れるようにノード「Ｂ」においてデジタル−アナログコ
ンバータＤＡＣ１９６に入力される。その結果得られる
ＤＣアナログ電圧レベルの対はまとめてコンパレータ１
９８と示される１対のアナログコンパレータそれぞれに
与えられる。低いほうのしきい値がコンパレータ（図示
せず）の一方における第１の入力に与えられて、ハイか
らローへのインピーダンス遷移を検出する。逆に、高い
ほうの値は他方のコンパレータ（図示せず）の第１の入
力に与えられて、ローからハイへのインピーダンス遷移
を検出する。各コンパレータはオーム測定動作の間に入
力保護回路１７６を経由して端子１６０からその第２の
入力においてテスト入力信号を受取る。コンパレータ出
力信号（２つの「信号ビット」）はＵＡＲＴ１９４を介
して通信され、後に説明するようにソフトウェアによっ
て検査される。代替的に、コンパレータ信号ビットは、
周波数カウントのための時間において使用されていなけ
ればカウンタ２２２においてカウントされ得るだろう。

【００３４】［４．動作］始めに、ユーザが上述のよう
に所望のトレンド間隔を選択していると仮定する。加え
て、ユーザはサブメニューを介してトレンドのタイプを
選択している。グリッチ捕捉特性を選択することができ
る。これらの選択はたとえばＳＲＡＭ２１０内にストア
されているので、システムソフトウェアにとって利用可
能である。

【００３５】（サンプリングされたトレンドデータ）ユ
ーザがトレンド表示モードを選択しており、さらにトレ
ンド表示におけるサンプルタイプを選択している場合、
測定データは各トレンド間隔の終わりにおいてサンプリ
ングおよびストアされる。周波数測定が選択されていな
いと仮定すると、測定データは上述のようにＡ／Ｄコン
バータ１８６から収集され、ＵＡＲＴを介してマイクロ
プロセッサに送信される。これらは「マイナーサイク
ル」または「マイナーカウント」データと称され、２５
ミリ秒（マイナーサイクル周期）ごとに更新される。平
滑化されたマイナーカウントデータは周期的に収集ＲＡ
Ｍ２１６内にストアされる。各トレンド間隔の終わりに
おいて、マイクロプロセッサは最も最近の平滑化された
値をＳＲＡＭ２１０内にストアする。トレンド間隔の終
わりは、ソフトウェアによって周期的にチェックされる
１０μ秒のソフトウェアクロックに基づいている。ＳＲ
ＡＭはソフトウェアによって循環バッファとしてアドレ
ス指定される。

【００３６】トレンドデータの表示は、そのタイミング
が今説明したデータ収集タイミングからは独立している
という意味において非同期に動作する。表示ソフトウェ
アは周期的に循環バッファからデータを収集する。各
「表示サイクル」は、バッファからの次の記録を「明ら
かにし」、データをスケーリングし（すなわちそれを循
環バッファ内の最大値によって決定される単一の範囲に
正規化し）、その後ディスプレイ内における選択された
ピクセルを選択して活性化する。（ストアされたデータ
も各測定データのための範囲データを含む。）各トレン
ド間隔のためのスケーリングされた値は、ディスプレイ
内の対応するピクセルを活性化する（ＯＮにする）こと
によってグラフィックディスプレイウィンドウの対応す
る列内に示される。さらに、グラフィックディスプレイ
は各表示サイクルについて左へ「シフト」するので、新
しいデータが右から入来し、最も最近のデータが常に見
えるようになっている。この特性を提供するため、効果
的にはバッファ内の各記録は各表示サイクルにおいて再
選択および再表示される。

【００３７】（平均トレンドデータ）ユーザがトレンド
表示の平均タイプを選択している場合、マイナーサイク
ル測定データは各トレンド間隔にわたって平均化され
る。より特定的には、各マイナーサイクルの読取値はそ
の範囲に基づいて選択されたレジスタに加えられる。さ
らに、カウンタまたはレジスタが増分され、測定される
マイナーサイクルの数をカウントする。トレンド間隔が
（割込によってソフトウェアに信号で信頼されるであろ
うように）完了すると、累算された値は較正され、正規
化され、加算されその後マイナーサイクルの数によって
除算されて平均値が決定される。その結果は前と同じよ
うに範囲データとともに循環バッファ内にストアされ
る。次に加算レジスタとマイナーサイクルカウントレジ
スタがリセットされて、次のトレンド間隔のためのデー
タを累積し始める。表示ソフトウェアモジュールはデー
タをディスプレイコントローラ２１２に送信するための
循環バッファへのアクセスを制御する。テスト間隔より
も長い時間が経過した後では、新しいデータが以前に表
示されていたデータに重ね書きされるので、グラフィッ
クトレンド表示波形はディスプレイウィンドウを横切っ
て動き、新しいデータはウィンドウの右側から入来する
ように見えることに注意されたい。このようにして、デ
ィスプレイは常に最も最近のテスト間隔を表わしてい
る。この移動するウィンドウは適切にデータの書込およ
び読出を連続的に行なうため、循環バッファ２１０への
ポインタを制御するソフトウェアによって提供される。

【００３８】（ハイ／ロートレンドデータ）ユーザがト
レンド表示におけるハイ／ロータイプを選択している場
合、マイナーサイクル測定データは各トレンド間隔にわ
たって調べられ、各間隔につき最高値と最低値とが検出
され、ストアされ、ディスプレイモジュール上のピクセ
ルの対応する対を活性化することによって表示される。
より特定的には、各マイナーサイクル読取値はソフトウ
ェアによって以前のハイおよびローの読取値と比較され
る。新しい読取値が以前のハイの読取値よりも大きい
か、新しい読取値が以前のローの読取値よりも低けれ
ば、後にソフトウェアの説明でさらに説明するように、
新しい読取値が以前のハイまたはローの値のそれぞれに
取って代わる。ハイおよびロー値をストアするのに用い
られるレジスタは各トレンド間隔の始まりにおいてリセ
ットされる。

【００３９】（周波数トレンド表示）周波数の測定に
は、周波数カウンタ２２２および２２４が用いられて、
前述のように周波数データを提供する。計器上の最初の
数字による表示（図１の説明を参照）は、周波数、周期
またはデューティサイクルを表示するためにセットする
ことができる。トレンド表示モードが選択されている場
合、最初の数字による表示において示されているパラメ
ータはトレンド表示にも用いられる。

【００４０】［５．ソフトウェアの説明］図６はトレン
ド表示に関わるシステムソフトウェアの動作を説明する
データフロー図である。ソフトウェアはＯＴＰ ＲＯＭ
２０８（図８）内にストアして、マイクロプロセッサ２
０２および上述した関連のレジスタによって実行するこ
とができる。図６のデータフロー図では、各円がデータ
を使用する、または操作するプロセスを表わし、線はデ
ータフローを示す。プロセスの名称は一般にその機能を
説明するものである。各データフロー線の端の矢印は、
データフローの方向を示す。データは必ずしもデータフ
ローによって動かされなくともよい。単に必要に応じて
読出されてもよい。制御フローは図では点線で示され
る。プロセス活性化テーブルは濃い縦線で示される。平
行な横線の各対、たとえば「tmax＿data」１００は、デ
ータストア、すなわちソフトウェアによって変更されな
い限り、また変更されるまでは安定である１組のデー
タ、たとえばメモリ内にストアされるデータを示す。こ
れらのデータストアはハードウェアのレジスタまたはソ
フトウェアのバッファにおいて実現でき、以下の説明で
は適切なようにレジスタと称される。

【００４１】データフロー図の中央には循環データバッ
ファ１１２、すなわち「trend ＿reading ＿buffer」が
あり、これはソフトウェアの制御下でＳＲＡＭ２１０
（図８）内で実現される。このバッファはポインタを最
初と最後（「先頭」と「末尾」）の記録およびそれに加
えて実際のトレンドデータに保持する。トレンドモード
が「サンプリング」されると、「a2d ＿reading 」が現
在の「a2d ＿range 」とともにストアされる。トレンド
モードが「trend ＿averaged」の場合、実行中の全体的
なトレンドデータは各々の範囲の合計をスケーリングさ
れ、平均が計算される。この結果と「a2d ＿range 」と
がバッファ内にストアされ、表示される。トレンドタイ
プがハイ／ローまたはハイ／ローを伴なう不連続である
場合、最小データおよび最大データが、後にさらに説明
されるようにそれぞれの範囲とともにストアされる。図
６のデータフロー図は次のようにトレンド読取値バッフ
ァ内にデータを組立てるための計器の動作を示すもので
ある。

【００４２】（サンプリングされたトレンド表示）各ト
レンド間隔の終わりで、プロセス１１０「update＿tren
d 」は現在の読取値を循環トレンド読取値バッファ１１
２内に書込む。より特定的には、現在の「a2d ＿readin
g 」は現在の範囲情報「a2d ＿range 」とともにストア
されている。メモリアドレスポインタは次のアドレス間
隔の準備の際に更新される。各トレンド間隔を処理する
ための制御は、プロセス活性化テーブル１１３で始ま
る。収集されたトレンドデータの表示を次に説明する。

【００４３】（平均トレンド表示）図６の右下の角を参
照して、新しい測定値または読取値「compensated ＿mi
nor ＿counts」が到来し、プロセス１２０が活性化され
てその現在の読取値を「tsum＿values」１２２と示され
るレジスタの合計値に加算する。プロセス１２０はま
た、レジスタ１２４内の値「tcount＿period」を増分し
て測定されるマイナーサイクルの数を追跡する。選択さ
れたトレンド間隔が完了すると、プロセス１１０「upda
te＿trend 」が活性化され、計器が平均モードになって
いるので、制御は「compute ＿trend ＿average 」と呼
ばれるプロセス１２６に進む。プロセス１２６はレジス
タ１２２内の合計値にアクセスし、それを較正し、正規
化して和を求め、次にその和をレジスタ１２４内にスト
アされるサイクルの数で除算する。その結果得られる平
均値はプロセス１１０によって「trend ＿reading ＿bu
ffer」内にストアされる。一旦それが行なわれると、プ
ロセス１１４「initiate＿trend ＿period records」が
レジスタ１２２および１２４をリセットして、次のトレ
ンド間隔が始まる。

【００４４】（ハイ／ロートレンド表示）トレンド動作
のハイ／ロータイプはデータフロー図において次のよう
に表わされる。補償されたマイナーカウントは「update
＿trend ＿max 」プロセス１０４によってアクセスさ
れ、このプロセス１０４はレジスタ「tmax＿data」１０
０内にストアされたトレンド最大値またはハイの値を更
新する。同様に、各マイナーサイクルのための「compen
sated ＿minor ＿counts」は「update＿trend ＿min」
プロセス１０６によってアクセスされ、このプロセス１
０６はレジスタ「tmin＿data」１０２内にストアされた
最小またはローの値を更新する。より特定的には、最大
値および最小値更新プロセス１０４および１０６は各々
現在の測定値をそれぞれ１００および１０２内に以前に
ストアされたデータと比較し、新しい値のほうが高いか
低いかした場合にはそれぞれストアされていた値と置き
換える。「a2d ＿range 」と表記される現在の測定範囲
データがプロセス１０４および１０６によってアクセス
されるので、最小値および最大値を決定しストアする際
に適正な範囲が考慮に入れられるのであるということが
見て取れるだろう。各トレンド間隔の終わりで、その間
隔のためのハイおよびロー値を表わすレジスタ１００お
よび１０２内にストアされた現在値は、トレンド更新プ
ロセス１１０によってトレンド読取値バッファ１１２内
にストアされる。対応する範囲値が同様にバッファ１１
２内にストアされる。レジスタ１００および１０２は次
にプロセス１１４によってリセットされ、次のトレンド
間隔が始まる。

【００４５】（不連続トレンド表示）図６のデータフロ
ー図の下部を参照して、トレンドモードとオーム機能と
グリッチ捕捉とを示す制御フローがプロセス活性化テー
ブル１３８に入力される。プロセス活性化テーブルは次
の一連のイベントを制御する。プロセス１４０「proces
s ＿continuity＿changes 」は「minor ＿logic ＿acti
vity」データを受取り、これは図７のアナログコンパレ
ータ１９８において始まり信号の不連続に至る２つの信
号ビットに対応する。プロセス１４０は「discontinuit
y ＿flag」レジスタ１４２を更新する。レジスタ１４２
は現在のトレンド間隔の間にグリッチが検出されたかど
うかを示す不連続フラグをストアするものである。（同
じトレンド間隔内での付加的なグリッチはフラグ１４２
のセッティングを繰返すのみである。代替的な実施例で
は、フラグはある間隔の間のグリッチの実際の数が累積
されストアされてもよいように、カウンタとすることが
できる。）トレンド間隔の終わりで、「update＿trend
」プロセス１１０が起こり、グリッチ捕捉オプション
が能動化されていれば、プロセス１１０は「discontinu
ity ＿flag」１４２にアクセスしてその情報を完了した
ばかりのトレンド間隔のためにそれが処理した他のデー
タとともに「trend ＿reading ＿buffer」１１２内にス
トアする。プロセス１１４は、ハイ／ローおよび平均デ
ータを０に合わせ、また「discontinuity ＿flag」１４
２をリセットするので、システムでは次のトレンド間隔
のための準備が整う。不連続ビットの表示は次に説明す
る。

【００４６】（表示プロセス）プロセス１３０は累積さ
れたトレンドデータのグラフィック表示をサポートす
る。ディスプレイがトレンド波形を表示するべき時間に
なると、循環バッファ１１２内にストアされたデータは
明らかにされてスケーリングされなければならない。プ
ロセス１３０はその循環バッファにアクセスし、明らか
にしてスケーリングを行なうプロセスを開始する。バッ
ファ内の各記録は上述したようにディスプレイの対応す
る列においてグラフィック的に表示される。

【００４７】グリッチ捕捉が能動化されると、ユーザイ
ンタフェースのセクションで説明されたように、ソフト
ウェアはこの不連続ビットをトレンド波形の下に表示す
るための付加的なウィンドウを出す。不連続ビットは、
対応するトレンド間隔の列において１つ以上のピクセ
ル、好ましくはおよそ３つのピクセルをオンにして短い
縦方向のバーを形成することによって表示される。この
バーはディスプレイにおける同じ列内でハイ／ロー、平
均、またはサンプリングされたデータと整列される。し
たがって、不連続ビットは他のトレンドデータと同じイ
ンデックスに整列されたトレンド読取値バッファ内にス
トアされる。

【００４８】オプションのＲＳ２３２出力特性が能動化
されると、これは図の下部に示される「trend ＿outpu
t」制御フローによってそう示される。この制御によ
り、「handle＿trend ＿timer 」プロセス１３４はバッ
ファ１１２内にストアされている最後の値にアクセス
し、これを（適切なフォーマットを行なった後で）ＲＳ
２３２ポートに送信する。ＲＳ２３２ポートを介しての
送信の準備の際にトレンド読取値バッファ内のトレンド
データにアクセスするのには、２つのプロセス１３２Ａ
および１３２Ｂが用いられる。２つのプロセスが提供さ
れるのは、ハイ／ロータイプの動作中には２つの値、す
なわちハイおよびローがバッファから読出されなければ
ならないからである。この動作は計器上のグラフィック
表示からは独立している。

【００４９】本願発明者によるこの発明の原理をその好
ましい実施例において図解し、説明してきたが、当業者
にはこの発明はそのような原理から逸脱することなくそ
の配列および細部において変形され得ることが容易に明
らかとなるはずである。たとえば、ハードウェア対ソフ
トウェア、またはその逆、もしくは図解された実施例と
は異なるこの２つの何らかの組合せにおける特定の機能
の実現は、単に工学技術の設計上の選択であって、等価
なものとして考えられるべきである。発明者はすべての
変形を、前掲の特許請求の範囲の精神および範囲内に入
るものとして請求するものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】トレンド表示モードの動作においてサンプルタ
イプで動作するテスト計器のフロントパネルの一部を示
す図である。

【図２】トレンド表示モードの動作において平均タイプ
で動作する図１の計器を示す図である。

【図３】グリッチ捕捉特性が能動化された状態でトレン
ド表示モードの動作において平均タイプで動作する図１
の計器を示す図である。

【図４】トレンド表示のサンプルタイプを示す、図１の
計器のフロントパネルの部分拡大図である。

【図５】トレンド表示のハイ−ロータイプを示す、図１
の計器のフロントパネルの部分拡大図である。

【図６】本発明に従うトレンドデータの処理のための図
１のテスト計器におけるマイクロプロセッサの動作を表
わす図である。

【図７】図１のテスト計器に関係のある部分の簡略化さ
れたブロック図である。

【図８】図１のテスト計器に関係のある部分の簡略化さ
れたブロック図である。

【図９】トレンド表示における平均タイプを示す、図１
の計器のフロントパネルの部分拡大図である。

【符号の説明】

２２ ＬＣＤモジュール ２０２ マイクロプロセッサ ２０８ ＯＴＰ ＲＯＭ ２１０ ＳＲＡＭ ２１２ ＬＣＤコントローラ ２１３ キーボードモジュール

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｒ 13/02 Ｇ０６Ｆ 3/14 ３２０Ｄ Ｇ０６Ｆ 3/14 ３２０ Ｇ０１Ｄ 3/02 Ｒ

Claims (18)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入力端子において電気的測定データを収
   集するための測定回路を有する電子テスト計器におい
   て、ユーザに対し測定データを表示する方法であって、 テスト計器内にピクセルがアドレス指定可能なディスプ
   レイモジュールを設けるステップと、 トレンド間隔を選択するステップと、 入力端子において選択された電気的パラメータを周期的
   に測定して測定データを収集するステップとを含み、測
   定データは一連の測定読取値を含み、かつトレンド間隔
   １つにつき少なくとも１つの読取値を含み、さらに 各トレンド間隔の終わりを検出するステップと、 ディスプレイモジュール上にトレンド表示を形成するス
   テップとを含み、トレンド表示は一連のピクセルの列を
   含み、各ピクセルの列はトレンド間隔のそれぞれ１つに
   対応しており、各ピクセルの列は１つまたはそれ以上の
   ピクセルを活性化されて対応するトレンド間隔の間に収
   集された測定データを表わし、 前記測定データを収集するステップはあるトレンド間隔
   の間に周期的に測定データをサンプリングするステップ
   と、 トレンド間隔の間にサンプリングされた測定データのハ
   イの値を決定するステップと、 トレンド間隔の間にサンプリングされた測定データのロ
   ーの値を決定するステップと、 トレンド間隔の終局において、トレンド間隔のためのハ
   イの値をストアするステップと、 トレンド間隔の終局において、トレンド間隔のためのロ
   ーの値をストアするステップと、 前記サンプリングするステップと、ハイの値を決定する
   ステップと、ローの値を決定するステップと、ハイの値
   をストアするステップと、ローの値をストアするステッ
   プとを複数個のトレンド間隔データ収集サイクルにわた
   って繰返し、一連のストアされたハイ／ロー値の対を形
   成するステップとを含み、 前記トレンド表示を形成するステップは、ストアされた
   各ハイ／ロー値の対について、 ディスプレイモジュールの対応する列において第１のピ
   クセルを選択するステップを含み、第１の選択されたピ
   クセルは対応するトレンド間隔のためのストアされたハ
   イの値を示す縦方向の位置を有し、前記トレンド表示を
   形成するステップはさらにディスプレイモジュールの対
   応する列において第２のピクセルを選択するステップを
   含み、選択された第２のピクセルは対応するトレンド間
   隔のためのストアされたローの値を示す縦方向の位置を
   有し、前記トレンド表示を形成するステップはさらに選
   択された第１および第２のピクセルおよび中間のピクセ
   ルを活性化するステップと、 前記第１のピクセルを選択するステップと、第２のピク
   セルを選択するステップと、活性化を行なうステップと
   を複数個のトレンド間隔にわたって繰返し、それにより
   テスト計器上にハイ／ロートレンド表示を形成するステ
   ップとを含む、ユーザに対し測定データを表示する方
   法。
2. 【請求項２】 ディスプレイモジュール上にグラフィッ
   クディスプレイウィンドウを形成するステップと、 グラフィックディスプレイウィンドウ内にトレンド表示
   を形成するステップと、 グラフィックディスプレイウィンドウに隣接してディス
   プレイモジュール上に数字による測定情報を表示するス
   テップとをさらに含む、請求項１に記載の方法。
3. 【請求項３】 トレンド間隔はおよそ１秒から１５分の
   範囲内で選択され、かつトレンド間隔をピクセルの列の
   数によって決定されるディスプレイの幅にわたって分割
   するステップをさらに含む、請求項１に記載の方法。
4. 【請求項４】 トレンド間隔を選択するステップは、予
   め定められた一連の選択肢を提供するステップを含み、
   選択肢はおよそ１秒から１５分の範囲内のトレンド間隔
   を含み、各間隔は整数個の列に対応する、請求項１に記
   載の方法。
5. 【請求項５】 テスト計器上に１つまたは複数個のソフ
   トキーを設け、そのソフトキーをトレンド間隔の選択肢
   の間での選択を行なうために配列するステップをさらに
   含む、請求項１に記載の方法。
6. 【請求項６】 各トレンド間隔の終わりで測定データを
   サンプリングするステップと、 各トレンド間隔について、ディスプレイモジュールの対
   応する列におけるピクセルを選択するステップとを含
   み、選択されたピクセルは対応するトレンド間隔の終わ
   りにおいて測定読取値の値を示す縦方向の位置を有し、
   さらに ディスプレイモジュールの各列について、対応する選択
   されたピクセルを活性化し、それによりテスト計器上に
   サンプリングされたトレンド表示を形成するステップを
   さらに含む、請求項１に記載の方法。
7. 【請求項７】 あるトレンド間隔の間に周期的に測定デ
   ータをサンプリングするステップと、 サンプリングされた測定データを平均化してトレンド間
   隔のための平均値を決定するステップと、 トレンド間隔のための平均値をストアするステップと、 前記サンプリング、平均化、およびストアのステップを
   複数個のトレンド間隔データ収集サイクルにわたって繰
   返し、一連のストアされた平均値を形成するステップと
   をさらに含み、 前記トレンド表示を形成するステップは、ストアされた
   各平均値について、ストアされた値をスケーリングし、
   その後ディスプレイモジュールの対応する列におけるピ
   クセルを選択し活性化するステップを含み、選択された
   ピクセルは対応するトレンド間隔のストアされた平均値
   を示す縦方向の位置を有しており、それによりテスト計
   器上に平均トレンド表示を形成する、請求項１に記載の
   方法。
8. 【請求項８】 入力端子において連続性の変化を検出す
   るステップと、 前記連続性の変化の検出に応答して、連続性変化データ
   を更新するステップと、 トレンド間隔の終局において、更新された連続性変化デ
   ータを前記トレンド間隔との関連でストアするステップ
   とをさらに含む、請求項１に記載の方法。
9. 【請求項９】 ピクセルの列に隣接するディスプレイ上
   の予め定められた領域を指定して不連続アイコンを表示
   するステップと、 連続性の変化が検出されストアされた各トレンド間隔に
   ついて、ディスプレイの前記予め定められた領域内にあ
   りかつ対応するピクセルの列に隣接する１つまたはそれ
   以上のピクセルを活性化して、連続性の変化がその間に
   検出されストアされたトレンド間隔をその位置によって
   グラフィック的に識別する不連続アイコンを形成するス
   テップとをさらに含む、請求項８に記載の方法。
10. 【請求項１０】 前記連続性の変化を検出するステップ
    は、 ハイおよびローの予め定められたしきい値を提供するス
    テップと、 入力端子においてインピーダンスを測定し、対応する値
    を形成するステップと、 前記値をローおよびハイのしきい値と比較するステップ
    と、 前記値がローのしきい値を下回る値からローのしきい値
    を上回る値へ遷移したときにはいつも不連続を検出しそ
    れを示すステップと、 前記値がハイのしきい値を上回る値からハイのしきい値
    を下回る値へ遷移したときにはいつも不連続を検出しそ
    れを示すステップと、 前記不連続の表示の各々に応答して前記連続性変化デー
    タを更新するステップとを含む、請求項８に記載の方
    法。
11. 【請求項１１】 ポータブルテスト計器であって、 テストされている装置を計器に結合するための入力手段
    と、 入力手段に結合されて複数個のユーザによって選択可能
    な電気的パラメータを一度に１つずつ測定するための測
    定手段とを含み、選択可能なパラメータは測定値を形成
    するために少なくとも電圧および電流を含み、さらに 測定手段に結合されて予め定められたテスト間隔にわた
    り一連の前記測定値を収集するためのデータ収集手段
    と、 データ収集手段に結合されるピクセルがアドレス指定可
    能なディスプレイ手段と、 ディスプレイ手段を制御し、テスト間隔にわたって収集
    される一連の測定値のグラフィック表現を提示するステ
    ップとを含み、 前記テスト間隔は複数個のトレンド間隔を含み、 ディスプレイ手段は一連のピクセルの列を含み、 データ収集手段は、一連の測定値の各々がトレンド間隔
    のそれぞれにわたってハイの値とローの値とを含むよう
    に、各トレンド間隔にわたって収集された測定データの
    間でハイの値とローの値とを決定するための手段を含
    み、 制御手段は一連の測定値の対応する１つに応答して各ピ
    クセルの列を活性化するよう配列されており、それによ
    りグラフィック表現はトレンド表示のハイ／ロータイプ
    を形成する、ポータブルテスト計器。
12. 【請求項１２】 テスト間隔は複数個のトレンド間隔を
    含み、 ディスプレイ手段は一連のピクセルの列を含み、 制御手段はトレンド間隔における対応するものの間に収
    集された測定値のそれぞれの部分に応答して各ピクセル
    の列を活性化するよう配列される、請求項１１に記載の
    ポータブルテスト計器。
13. 【請求項１３】 制御手段は、測定値のグラフィック表
    現がある時間にわたって収集された測定値における変化
    に応答して移動する波形を形成するようにディスプレイ
    手段を更新するための手段を含む、請求項１１に記載の
    ポータブルテスト計器。
14. 【請求項１４】 所望のテスト間隔を選択し、それによ
    りディスプレイ手段上にグラフィック的に表現される時
    間の長さを決定するためのユーザによって選択可能な手
    段をさらに含む、請求項１１に記載のポータブルテスト
    計器。
15. 【請求項１５】 テスト間隔は複数個のトレンド間隔を
    含み、 ディスプレイ手段は一連のピクセルの列を含み、 データ収集手段は、一連の測定値の各々がトレンド間隔
    のそれぞれの終局において収集されるように配列され、 ディスプレイ制御手段は一連の測定値の対応する１つに
    応答して各ピクセルの列を活性化するように配列されて
    おり、それによりグラフィック表現はトレンド表示のサ
    ンプリングされたタイプを形成する、請求項１１に記載
    のポータブルテスト計器。
16. 【請求項１６】 テスト間隔は複数個のトレンド間隔を
    含み、 ディスプレイ手段は一連のピクセルの列を含み、 データ収集手段は、一連の測定値の各々がトレンド間隔
    のそれぞれにわたって平均値を含むように各トレンド間
    隔にわたって収集された測定値を平均化するための手段
    を含み、 ディスプレイ制御手段は一連の測定値の対応する１つに
    応答して各ピクセルの列を活性化するよう配列されてお
    り、それによりグラフィック表現はトレンド表示の平均
    タイプを形成する、請求項１１に記載のポータブルテス
    ト計器。
17. 【請求項１７】 テスト間隔は複数個のトレンド間隔を
    含み、さらに入力手段における連続性の変化を検出する
    ための手段と、ユーザに連続性の変化がその間に検出さ
    れたトレンド間隔を認識させるための手段とを含む、請
    求項１１に記載のポータブルテスト計器。
18. 【請求項１８】 ディスプレイ手段は一連のピクセルの
    列を含み、 制御手段は一連の測定値の対応する１つに応答して各ピ
    クセルの列を活性化するよう配列されており、それによ
    りグラフィック表現は各ピクセルの列がトレンド間隔の
    それぞれに対応するトレンド表示を形成し、さらに 連続性の変化がその間に検出されたトレンド間隔を認識
    させるための方法は、対応するピクセルの列に隣接する
    ディスプレイ手段上の不連続アイコンを表示する手段を
    含む、請求項１７に記載のポータブルテスト計器。