JP2668486B2 - 水素ガス利用率を用いた高炉操業方法 - Google Patents

水素ガス利用率を用いた高炉操業方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高炉シャフト部の水素ガ
ス利用率を用いた高炉操業法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】高炉操業において高炉々内に於ける塊状
帯部分の温度分布、特に塊状帯部分の高さ方向に於ける
500〜800℃の低温領域の長さを適正化すること
は、操業の安定化及び還元ガス利用率を向上させ燃料比
を低減する上で極めて重要である。つまり、500〜8
00℃の低温領域は炉内に装入された焼結鉱、塊鉱石等
の鉄源の還元粉化が最も発生し易い温度域であり、この
低温領域が長い程、還元粉化が助長され、高炉内通気性
悪化、炉況不調へと繋がっていくことから、前記低温領
域の長を検知し、その長を適正化する必要がある。
このため、従来、前記塊状帯部分に於ける前記低温領域
を検知する方法としては、例えば、垂直ゾンデにより直
接測定した炉高方向の温度分布から求める方法がある。
この垂直ゾンデによる温度分布測定には大がかりな設備
を要するため多大な設備投資、運転費及び労務費がかか
り、更に1回の測定に数時間を要するため日常の高炉操
業管理に使用することは実際上困難である。
【0003】そこで日常の高炉操業管理に使用するため
に、本発明者等は過去において、炉高方向の温度分布を
直接測定するのではなく、炉内における水素ガス利用率
を基に前記500〜800℃の低温領域の長さを推定す
る方法を提案した。これは、実公平1−27038号公
報に提案の高炉内反応シュミレーター(上部より鉱石を
充填すると共に下部より還元ガスを導通して、該還元ガ
スと鉱石を向流接触する炉芯管と、該炉芯管の一部を包
囲して前記還元ガス下流方向に移動自在に設けた加熱器
を有する装置)を用いて得た知見、即ち、上記充填層高
さ方向の500〜800℃の低温領域が長くなるに従い
水素ガス利用率ηH2 が低下するという現象を利用した
ものであって、例えば特公昭63−61366号公報、
特公平3−27604号公報の提案がある。
【0004】この特公昭63−61366号公報は高炉
々頂部に於ける高炉ガス組成を分析し、水素ガス利用率
を算定することにより前記塊状帯部分の前記低温領域を
推定する方法である。特公平3−27604号公報は高
炉シャフト部の上部からゾンデを挿入して、塊状帯部分
における高炉半径方向の複数点において炉内ガス組成を
分析し、水素ガス利用率または水素ガス利用率/COガ
ス利用率を算定することにより、上記各測定点における
高炉炉高方向の低温領域を推定する方法である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記特公昭6
3−61366号公報で提案の方法では、上記炉頂水素
ガス利用率が高炉全体の指標であるため、低温領域の長
さの異常部位が炉内の何れかの位置に存在することの検
知はできるが、その部位を特定することが出来ないもの
である。また、特公平3−27604号公報で提案の方
法では、ある特定の高さ位置における高炉半径方向の水
素ガス利用率を指標とするため、塊状帯より下方部位に
於ける水素ガス利用率の変化による外乱を避けられな
い。このため、水素ガス利用率の低下が塊状帯部分に起
因しているものか、塊状帯より下方部分に起因している
ものかを判定することが困難であった。
【0006】本発明は高炉々内の塊状帯部分での水素ガ
ス利用率の低下部位を精度良く推定することにより、該
塊状帯部分に於ける500〜800℃の低温領域の長さ
が異常である部位を求めて、炉頂装入物分布調整を行う
ことにより低温領域の長さを適正化し、高炉操業の安定
化及び還元ガス利用率を向上させ燃料比を低減すること
を課題とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するためになされたものであり、その手段は、高炉シャ
フトの塊状帯部分高さ方向における所定の複数箇所の夫
々において、高炉半径方向における所定の複数箇所で炉
内ガス中の水素ガス量を測定し、該測定値に基づいて
定位置毎に水素ガス利用率を算定し、そして、前記塊状
帯部分の高さ方向の下部位置における算定水素ガス利用
率から上部位置における算定水素ガス利用率を差引いて
その差を求め、この水素ガス利用率の差が−5%を下回
る位置があるか否かを判定し、−5%を下回る位置があ
る場合には炉内装入物分布調整を行って、その位置の炉
内装入物の(鉱石量)/(コークス量)を低減して前記
差が−5%を下回る位置がないようにすることを特徴と
する水素ガス利用率を用いた高炉操業方法である。
【0008】前記、該高炉々径方向の装入物分布調整は
公知の方式、例えば、ベル式高炉においてはアーマープ
レートの調整、ベルレス高炉においては炉内旋回シュー
トの旋回速度の調整が最も効果的であるが、その他、装
入物の性状の変更、装入物の装入量の変更等を各々単
独、或いはいずれかを組み合わせて行ってもよい。又、
水素ガス利用率の算定は下記(1)式、又は、特公平3
−27604号公報で記載のように各シャフトゾンデ
8,9で測定した水分濃度、水素濃度を使用したH2
%/(H2 %+H2 O%)で算定してもよいが、本発明
はこれに限定されるものではなく、公知の方式のいずれ
の算定方式でもよい。
【0009】 100 −(100−炉頂水素ガス利用率)×(各部位における水素濃度)/ (炉頂ガス中水素濃度)[%]・・・(1) 但し、 (a)炉頂水素ガス利用率は(供給水素量−炉頂ガス中
水素濃度)×100/供給水素量〔%〕で算定した値で
ある。 (b)炉頂水素ガス利用率は炉頂に設けたガス分析計1
0で測定した炉頂ガス中の水素濃度である。 (c)供給水素量は装入物中の水素量、羽口から吹込む
熱風中の水素量及び微粉炭中の水素量等の高炉々内に供
給される水素量の合計である。
【0010】
【作用】本発明の作用を図1から図4を参照して説明す
る。図1中に示す実機高炉に設置した剛体型垂直ゾンデ
7を用いて測定した高炉高さ方向の500℃から800
℃領域の長さと、塊状帯6の上部に当たるシャフト上部
より挿入したゾンデ(以下、単にシャフト上部ゾンデと
称す)8及び塊状帯6の下部に当たるシャフト中部より
挿入したゾンデ(以下、単にシャフト中部ゾンデと称
す)9を用いて測定した炉内ガス組成から求めたシャフ
ト中部ゾンデ位置とシャフト上部ゾンデ位置間の{(水
素分圧PH×二酸化炭素分圧PCO)/(水分分圧
PHO×一酸化炭素分圧PCO)}の関係を図2に示
す。この図は、高炉高さ方向、つまり、炉内ガス流れ方
向に500℃から800℃の低温領域が発達して長くな
る程、炉内ガス中の水分と一酸化炭素が反応する水性ガ
スシフト反応(HO+CO=CO+H)が進行す
ることを示す。そして、この水性ガスシフト反応が進行
するにつれて、高炉ガス中の水素濃度が順次濃くなって
水素ガス利用率が低下する。
【0011】従って、本発明は炉内ガスの組成を測定
し、これを基にして塊状帯部分での水素ガス利用率を演
算し、この演算水素ガス利用率と予め求めておいた目標
とする所定範囲値と比較し、500〜800℃の低温領
域長さの異常(基準長さ範囲内に有るか否か)を判定す
るものである。この塊状帯部分に於ける炉高方向の温度
分布を推定する手段として、高炉シャフト上部、中部に
設置した2種のゾンデ8、9を用いて高炉半径方向複数
位置の水素ガス利用率を測定し、その差を求めること
より、ゾンデ9より下方における水素ガス利用率の変動
による外乱を除外して、推定精度を向上することが可能
になる。つまり、高炉シャフト上部ゾンデ8により高炉
半径方向7点について水素ガス利用率ηH2−8を測定
した例を図3に示す。図中の上部ゾンデ位置における水
素ガス利用率ηH2−8のみを考慮すると、該水素ガス
利用率ηH2−8の最低部位が無次元半径(炉中心から
測定位置までの距離/高炉半径)0.4付近にある。
【0012】しかし、これは前記のように、融着帯又は
それより下方部の影響が含まれていることがあり、これ
を排除するため、シャフト中部からゾンデ9を挿入し、
このシャフト中部位置の無次元半径0.4〜1.0の範
囲における7点の炉内ガス組成を測定し、これを基に水
素ガス利用率ηH2−9を求め、これを図3に示す。そ
して、この炉内ガス流れに対応した所定位置間、つま
り、同一無次元半径位置の水素ガス利用率との差(ηH
2−9−ηH2−8ΔηH )、即ち、ゾンデ8、9
間の塊状帯部分における水素ガス利用率を算出した結果
を図4に示す。尚、このシャフト中部位置の水素ガス利
用率ηH2−8とシャフト上部位置の水素ガス利用率η
2−9の差を求める位置を同一無次元半径位置とする
のは、炉下部から上昇する炉内ガスの内で、シャフト中
部位置で測定した炉内ガスと同一のガスをシャフト上部
位置で測定するためである。
【0013】前記図3より塊状帯において高炉炉径方向
で中部ゾンデ位置から上部ゾンデ位置にかけて水素ガス
利用率の差ΔηH2 が最も大きい、つまり、水素ガス利
用率が最も低下している部位は無次元半径0.6付近に
あることが判別できる。このようにシャフト上部ゾンデ
8のみで判断した水素ガス利用率が炉下部(融着帯、又
は、これより下方)における外乱を含む場合において
も、シャフト中部ゾンデ9で検知した水素ガス利用率と
の差を求めることによって塊状帯部分に於ける水素ガス
利用率を精度良く判別することができる。
【0014】かくして、上記のようにして求めた、高炉
半径方向での何れかにおける部位の水素ガス利用率の差
ΔηH−5%以下になる、即ち、前記500〜80
0℃の低温領域が所定長さ以上となると、その部位の通
気性が悪化する事から、装入物の分布調整を行って通気
性を改善し、高炉半径方向での温度分布を調整して、前
記低温領域の長さを所定長さ以上になる事を防止する。
このような操業アクションを行うことによって高炉内の
低温領域の長さを適正に保ち安定した操業を継続するも
のである。
【0015】
【実施例】次に、本発明の一実施例を図1、3、4を参
照して詳細に説明する。図1中、1は大ベル、2は大ベ
ル上の装入物、4はアーマープレート、5は高炉の側壁
に設けた鉱石受け金物、6は炉内に堆積した装入物の塊
状帯、8は装入物のストックラインから4.5m下方に
設けた上部ゾンデ、9は上部ゾンデ8から7m下方に設
けた中部ゾンデである。そして、この高炉は内容積:5
245m、送風量:8100Nm/分、送風湿分:
41g/Nm、酸素付加量:15000Nm/時
間、微分炭吹込み量:80kg/t−pig、出銑量:
12000トン/日、装入物の装入モード:C(コーク
ス)C(コークス)O(鉱石)O(鉱石)である。更
に、この高炉の水素ガス利用率の差の目標とするは−
5%以上であり、これは過去の操業データー等を解析し
て求めた値である。
【0016】実施例1 アーマープレート4のモードを(0000)<前記装入
物の装入モードのCCOOに対応してアーマープレート
4の各ノッチ数を示す値であり、その値が大きくなる
程、これで蹴られて装入される装入物の落下位置は炉中
心に近くなるで高炉操業している際、炉況が不安定に
なった。この状態における上部ゾンデ8とガス分析計1
0で測定して求めた炉径方向の水素ガス利用率ηH
2−8、中部ゾンデ9とガス分析計10で測定して求め
た炉径方向の水素ガス利用率ηH2−9を図3に示し、
その差(ηH2−9−ηH2−8ΔηH )を図4の
a曲線で示す。この図4のa曲線から分かるように、水
素ガス利用率のΔηH が最も小さいのは無次元半径
0.6付近で、その値は−16%で、水素ガス利用率の
差の所定範囲値ηH20(−5%以上)外である。この
ためアーマープレート4の使用モードを(1204)と
(0009)の併用(使用度合は2:1)して、炉中心
部へのコークス及び鉱石の蹴り量を促進した。
【0017】この結果、無次元半径0.6付近における
鉱石/コークスが相対的に低下して通気性が良好になっ
て、通気改善効果が現れ数時間後、中部ゾンデ9とガス
分析計10で高炉ガス中の水素濃度を測定し、上記
(1)式で演算した水素ガス利用率ηH2−9、上部ゾ
ンデ8とガス分析計10で高炉ガス中の水素濃度測定
し、上記(1)式で測定演算した水素ガス利用率ηH
2−8の差(ηH2−9−ηH2−8ΔηH )を図
4のb曲線で示す。この図4のb曲線から分かるように
無次元半径0.6付近で−4%程度となり、上記目標値
ηH02内(−5%以上)となり炉況が安定し、燃料比
は498kg/t−pigから487kg/t−pig
に低減した。
【0018】実施例2 アーマープレート4のモードを(1204)と(000
9)を併用(使用度合は2:1)しつつ長期の間操業し
ていると、再び、炉況が不安定になりつつあった。この
状態で、上部ゾンデ8とガス分析計10で高炉ガス中の
水素濃度を測定して求めた炉径方向の水素ガス利用率η
2−8、中部ゾンデ9ガス分析計10で高炉ガス中の
水素濃度を測定して求めた炉径方向の水素ガス利用率η
2−9を各々図5に示し、その差(ηH2−9−ηH
2−8ΔηH )を図6のc曲線で示す。この図6
c曲線から分かるように、水素ガス利用率の差ΔηH
が最も小さいのは無次元半径0.4付近で、その値は−
8%で、水素ガス利用率の差の目標値ηH02(−5%
以上)外である。このためアーマープレート4の使用モ
ードを(2406)と(00011)の併用(使用度合
は2:1)して、炉中心部へのコークス及び鉱石の蹴り
量を促進した。
【0019】この結果、無次元半径0.4付近である炉
中間部の鉱石/コークスが相対的に一段と低下して通気
性が良好になって、通気改善効果が現れ数時間後、中部
ゾンデ9とガス分析計10で高炉ガス中の水素濃度を測
定し、上記(1)式で演算した水素ガス利用率ηH
2−9、上部ゾンデ8とガス分析計10で高炉ガス中の
水素濃度を測定し、上記(1)式で演算した水素ガス利
用率ηH2−8は図7に示すようになり、その差(ηH
2−9−ηH2−8ΔηH )を図6のd曲線で
す。この図6のd曲線から水素ガス利用率の差ΔηH
は0〜−4%となり上記目標値ηH20内(−5%以
上)となり炉況が安定し、燃料比を487kg/t−p
igから483kg/t−pigに低減出来た。
【0020】尚、本実施例では、高炉シャフト上部と中
部に各々ゾンデ8、9を挿入して、炉内ガス組成を測定
するようにしたが、本発明はこれに限ることなく、シャ
フト上部ゾンデ8とシャフト中部ゾンデ9との間に、更
に、中間ゾンデを挿入し、シャフト上部ゾンデ8と中間
ゾンデ、シャフト中間ゾンデ9と中間ゾンデの組み合わ
せにより、上記同様に水素ガス利用率の差を求め、この
2つから塊状帯での500〜800℃の低温領域の長さ
を推定することが、推定精度が向上して好ましい。
【0021】
【発明の効果】本発明は、塊状帯部分の高炉高さ方向に
おける水素ガス利用率の差が−5%以上になるように装
入物の分布調整を行い、該に塊状帯部分に形成される5
00〜800℃の低温領域を適正範囲に保つことが可能
となり、低燃料比で安定した高炉操業を継続して行うこ
とができる等の多大な効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を実施するための高炉の縦断面図、
【図2】塊状帯で500〜800℃領域の長さと{(水
素分圧PH2 ×二酸化炭素分圧PCO2 )/(水分分圧
PH2 O×一酸化炭素分圧PCO)}の関係を示す図、
【図3】高炉の無次元半径と水素ガス利用率の関係を示
す図、
【図4】高炉の無次元半径と水素ガス利用率の差の関係
を示す図、
【図5】高炉の他の実施例による無次元半径と水素ガス
利用率の関係を示す図、
【図6】高炉の他の実施例による無次元半径と水素ガス
利用率の差の関係を示す図、
【図7】高炉の更に他の実施例による無次元半径と水素
ガス利用率の関係を示す図である。
【符号の説明】
1 大ベル 2 大ベル上の装入物 3 融着帯 4 アーマープレート 5 鉱石受け金物 6 塊状帯 7 剛体型垂直ゾンデ 8 上部ゾンデ 9 中部ゾンデ 10 ガス分析計
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内藤 誠章 千葉県富津市新富20−1 新日本製鐵株 式会社 技術開発本部内 (56)参考文献 特開 平2−236210(JP,A) 特公 平3−27604(JP,B2) 特公 昭63−61366(JP,B2)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高炉シャフトの塊状帯部分高さ方向にお
    ける所定の複数箇所の夫々において、高炉半径方向にお
    ける所定の複数箇所で炉内ガス中の水素ガス量を測定
    し、該測定値に基づいて測定位置毎に水素ガス利用率を
    算定し、そして、前記塊状帯部分の高さ方向の下部位置
    における算定水素ガス利用率から上部位置における算定
    水素ガス利用率を差引いてその差を求め、この水素ガス
    利用率の差が−5%を下回る位置があるか否かを判定
    し、−5%を下回る位置がある場合には炉内装入物分布
    調整を行って、その位置の炉内装入物の(鉱石量)/
    (コークス量)を低減して前記差が−5%を下回る位置
    がないようにすることを特徴とする水素ガス利用率を用
    いた高炉操業方法。
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