JP2666952B2 - 電子ビーム描画装置 - Google Patents

電子ビーム描画装置

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JP2666952B2
JP2666952B2 JP6405188A JP6405188A JP2666952B2 JP 2666952 B2 JP2666952 B2 JP 2666952B2 JP 6405188 A JP6405188 A JP 6405188A JP 6405188 A JP6405188 A JP 6405188A JP 2666952 B2 JP2666952 B2 JP 2666952B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、可変成形ビームを用いた電子ビーム描画装
置に係わり、特に可変ビーム成形手段の改良をはかった
電子ビーム描画装置に関する。
(従来の技術) 従来、電子ビーム描画装置では描画スループットを上
げるため、電子ビームの形状及び寸法を可変制御する可
変成形ビーム方式が主流となっている。この装置は、第
1成形アパーチャ像を第2成形アパーチャ上に1個のレ
ンズで結像させ、可変寸法の矩形,3角形,更には平行四
辺形ビームを形成し、これらのビーム形状を選択して描
画するものである。また最近では、2段のレンズで第1
アパーチャの像を第2アパーチャ上に結像させ、この間
に設けた成形偏向器による偏向方向のねじれをなくすた
め、2つのレンズを磁極を逆にした装置も開発されてい
る。
ところで、1段のレンズで矩形と3角形のビームを発
生させようとすると、矩形ビームを形成する時と3角形
ビームを形成する時では、このレンズを通過するビーム
の位置が異なり、そのため両者で異なった磁場の影響を
受ける。その結果、第1成形アパーチャ像がレンズ磁場
により回転を受ける程度がビーム形状によって異なった
ものとなり、性格な矩形及び3角形等を形成することが
できない。
また、レンズ段数を2段とした場合、レンズを1段と
した場合に比較して成形アパーチャ間の距離を短くでき
る利点はあるが、レンズ段数が1段増えるため、レンズ
調整を行うのに長時間を必要とする。さらに、2つのレ
ンズの励磁条件が結像及びアパーチャ像回転に共に関係
するため、その調整方法・手順を誤ると正確なレンズ調
整を行うことが困難であった。
(発明が解決しようとする課題) このように従来、レンズ磁場による回転等のために、
正確な矩形と3角形ビームを形成することは困難であっ
た。また、成形アパーチャ間の2段のレンズを短時間に
高精度で調整することは困難であった。
本発明は、上記事情を考慮してなされたもので、その
目的とするところは、正確な矩形ビームと3角形ビーム
を形成することができ、且つ2段のレンズ調整を短時間
で高精度に行い得る電子ビーム描画装置を提供すること
にある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明の骨子は、成形アパーチャ間に2段のレンズを
配置すると共に、これらのレンズ励磁条件を最適化する
ことにある。
即ち本発明は、第1成形アパーチャの像を投影レンズ
系により第2成形アパーチャ上に結像すると共に、成形
偏向系により結像位置を可変し、可変成形ビームを形成
して試料上に所望パターンを描画する電子ビーム描画装
置において、前記レンズ系を2段構成とし、1段目のレ
ンズによる第1成形アパーチャ像の回転を2段目のレン
ズによって逆方向に回転させ、且つ2つのレンズへの軸
合わせは、レンズの励磁を変えたときのレンズから出る
ビームの方向が変化しないようにそれぞれ電流中心又は
電圧中心に設定するようにしたものである。前記電子ビ
ーム描画装置において、前記レンズ形を2段構成とし、
各レンズの励磁電流を、第1成形アパーチャ像が回転し
ない条件における各レンズ電流の関係を表わす第1の曲
線と、第1成形アパーチャ像が第2成形アパーチャ上に
結像するための各レンズ電流の関係を表わす第2の曲線
との交点に設定するようにしたものである。
(作 用) 本発明によれば、第1成形アパーチャを通過したビー
ムは、1段目の投影レンズで一定の回転を受ける。そし
て、2段目の投影レンズで大きさが等しく逆方向の回転
を受けるようにすれば、結果として第1成形アパーチャ
像は回転しないで第2成形アパーチャ上に結像される。
これにより、矩形も3角形も同一の回転条件でビーム形
成され、正確な矩形及び3角形ビームが形成できること
になる。
また、成形アパーチャ間の2段のレンズを同一の焦点
距離とし、励磁を逆方向とし、且つクロスオーバ像を成
形偏向器の偏向中心に結像させれば、ビーム寸法を変化
させた場合のクロスオーバ像のX,Y方向への移動がな
く、正しいビーム調整ができる。しかしながら、2つの
レンズの焦点距離を等しくする調整方法は従来報告され
ていない。レンズ磁極の工作加工精度,組立加工精度或
いはコイル巻数精度の極僅かな誤差のために、励磁電流
の絶対値を等しく、磁場の方向を逆にするのみでは不十
分であることが実験的に判明している。従って、何等か
の別のレンズ調整方法が求められていた。
その方法の一つとして、第1成形アパーチャを通過し
たビームがレンズで受けた回転量をレンズで逆方向に戻
されて、結果的に第2成形アパーチャ上で回転しない条
件にすればよい。この条件設定により、2段のレンズの
励磁条件を最適に設定することが可能となる。
(実施例) 以下、本発明の詳細を図示の実施例によって説明す
る。
第1図は本発明の一実施例に係わる電子ビーム描画装
置を示す概略構成図である。図中1は電子銃であり、こ
の電子銃1から放出された電子ビームはコンデンサレン
ズ2で集束され、第1成形アパーチャ3を照射する。ア
パーチャ3を通過したビームは2段の投影レンズ4,5で
集束され、第2成形アパーチャ6上に接像される。そし
て、アパーチャ6を通過したビーム、つまり形状及び寸
法の制御されたビームが、縮小レンズ7及び対物レンズ
8により縮小されてターゲット14に結像される。
なお、成形アパーチャ3.6間には、成形偏向器15が配
置されている。この成形偏向器15は、第2成形アパーチ
ャ6上における第1成形アパーチャ3の像位置を可変す
るものであり、この偏向器に印加する電圧によりビーム
形状及び寸法が可変制御される。また、図中9はクロス
オーバの結像線を示している。
第1成形アパーチャ3の開口形状は図中16に示す如く
矩形であり、第2成形アパーチャ6の開口形状は図中17
に示す如く多角形となっている。第1成形アパーチャ3
の各部を出たビームはクロスオーバ19では同じ場所を通
るが、レンズ4の位置では10,11に示したようにレンズ
4の異なった位置を通る。ここで、レンズの磁場強度分
布は完全にはフラットではないので、レンズ4の中心を
通るビームと周辺を通るビームとで受ける回転量が異な
る。このため、レンズ4を通ったビームの形状には歪み
が生じている。
そこで本実施例では、2段のレンズ4,5により、10で
受けた回転量と13で受けた回転量は等しく反対符号、11
で受けた回転量と12で受ける回転量は等しく反対符号と
なるようにしている。このため、レンズ4によるビーム
の歪みとレンズ5によるビームの歪みとが相殺されるこ
とになり、第2成形アパーチャ6上における第1成形ア
パーチャ4の像の回転は防止されることになる。
さらに、アパーチャの中心部から出たビームがレンズ
の中心を通る条件にしないと、今述べた条件が満たされ
なくなり、歪みが発生する。従って、ビーム寸法を変化
させる成形偏向器15に印加する電圧を0Vにした状態で、
しかも16の像が18の位置に来るように軸合わせをした状
態で、レンズ4及びレンズ5の軸合わせを電流中心を取
る方法で行った。即ち、レンズ4,5の励磁を変えた時の
レンズから出るビームの方向が変化しないように調整し
た。その結果、矩形及び4種類の直角2等辺3角形ビー
ムを得ることができた。
かくして本実施例によれば、成形アパーチャ3,6間に
2段のレンズ4,5を設置し、これらの励磁条件を最適に
設定することにより、矩形及び3角形のビームを正確に
形成することができる。このため、可変変形ビーム方式
の描画において、パターン描画精度の向上をはかり得
る。なお、本発明者等の実験によれば、1段レンズの場
合、矩形が正しく形成される条件のとき3角形ビームが
直下2等辺3角形からのずれが0.2μm(2μm角の最
大ビーム)であった。これに対し、本実施例のように2
段レンズにすることにより、上記ずれが0.02μm以下に
なることが判明した。
次に、本発明の他の実施例について説明する。この実
施例は電子ビーム描画装置の基本構成は第1図と同様で
あり、成形アパーチャ間のレンズの励磁電流設定を改良
したものである。
まず、ビーム成形アパーチャ3,6を組み立てたブロッ
クの状態で全体の組立てる前に、平行光線を軸方向に入
射させ、成形アパーチャ3,6の各辺の平行度を正確に調
整する。そのご、全体を組立ててビーム出しを行う。
次いで、第1成形アパーチャ3の像と第2成形アパー
チャ6との関係を、第2図に示す如く幅が狭く長さが長
い状態になるように、成形偏向器15で設定する。そし
て、各々の平行度をチェックしながら、レンズ4,5の励
磁条件を変えて、平行になる条件を調べる。具体的には
レンズ4の励磁電流を徐々に増加し、各電流値に対して
平行度が維持されるレンズ5の励磁電流を測定する。そ
の結果を、第3図のにプロットして示す。
次いで、クロスオーバ像が縮小レンズ7のアパーチャ
20上に結像される条件を測定し、第3図にそのときの各
レンズ4,5の励磁電流をにプロットする。の交点
が求めるレンズ条件である。そして、このレンズ条件
では、アパーチャの平行度が保たれ、且つクロスオーバ
の結像条件となるのである。
かくして本実施例によれば、第1及び第2成形アパー
チャによるビーム辺の平行度を調整するという非常に簡
単な方法でビーム調整が可能になり、レンズの自動調整
が短時間で行えるようになった。さらに、の測定は
独立して行うことができ、それぞれの交点が最適点とな
るので、レンズ自動調整が簡単になると共に、レンズ調
整の精度が著しく向上した。
なお、本発明は上述した各実施例に限定されるもので
はなく、その要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実
施することができる。
[発明の効果] 以上詳述したように本発明によれば、成形アパーチャ
間に2段のレンズを配置し、これらのレンズ条件を最適
化することにより、正確な矩形ビームと3角形ビームを
形成することができる。また、結像を維持するための条
件と回転をなくすための条件とを独立に測定し、これら
の交点を選択することにより、2段のレンズ調整を短時
間で高精度に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係わる電子ビーム描画装置
を示す概略構成図、第2図及び第3図はそれぞれ本発明
の他の実施例を説明するためのもので、第2図はアパー
チャ重なり状態を示す模式図、第3図は結像条件及び平
行条件を満たすための2つのレンズ電流関係を示す特性
図である。 1……電子銃、2……コンデンサレンズ、3……第1成
形アパーチャ、4……第1投影レンズ、5……第2投影
レンズ、6……第2成形アパーチャ、7……縮小レン
ズ、8……対物レンズ、14……ターゲット、15……成形
偏向器。

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1成形アパーチャの像を投影レンズ系に
    より第2成形アパーチャ上に結像すると共に、成形偏向
    系により結像位置を可変し、可変成形ビームを形成して
    試料上に所望パターンを描画する電子ビーム描画装置に
    おいて、前記レンズ系を2段構成とし、1段目のレンズ
    による第1成形アパーチャ像の回転を2段目のレンズに
    よって逆方向に回転させ、且つ2つのレンズへの軸合わ
    せは、レンズの励磁を変えたときのレンズから出るビー
    ムの方向が変化しないようにそれぞれ電流中心又は電圧
    中心に設定したことを特徴とする電子ビーム描画装置。
  2. 【請求項2】前記電流中心に設定する手段は、第2成形
    アパーチャで遮るビーム量が最も少ない条件で行うこと
    を特徴とする請求項1記載の電子ビーム描画装置。
  3. 【請求項3】第1成形アパーチャの像を投影レンズ系に
    より第2成形アパーチャ上に結像すると共に、成形偏向
    系により結像位置を可変し、可変成形ビームを形成して
    試料上に所望パターンを描画する電子ビーム描画装置に
    おいて、前記レンズ系を2段構成とし、各レンズの励磁
    電流を、第1成形アパーチャ像が回転しない条件におけ
    る各レンズ電流の関係を表わす第1の曲線と、第1成形
    アパーチャ像が第2成形アパーチャ上に結像するための
    各レンズ電流の関係を表わす第2の曲線との交点に設定
    したことを特徴とする電子ビーム描画装置。
  4. 【請求項4】前記第1成形アパーチャ像が回転しない条
    件として、第1成形アパーチャ像と第2成形アパーチャ
    との平行度を保持することを特徴とする請求項3記載の
    電子ビーム描画装置。
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