JP2644099B2 - 分光測定装置 - Google Patents

分光測定装置

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JP2644099B2
JP2644099B2 JP7766891A JP7766891A JP2644099B2 JP 2644099 B2 JP2644099 B2 JP 2644099B2 JP 7766891 A JP7766891 A JP 7766891A JP 7766891 A JP7766891 A JP 7766891A JP 2644099 B2 JP2644099 B2 JP 2644099B2
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仁志 石橋
雅隆 七里
正明 土本
良治 鈴木
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば穀物の成分分析
に用いる分光測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の分光測定装置としては、乾燥、
粉砕した後の穀物を試料として用いるものがあり(特公
平1−49890号公報記載)、例えば、蛋白・アミロ
ースの含有量と食味に高相関関係が認められる米の近赤
外分光技術による成分分析に用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】1しかし、上述の従来
技術では、試料の作成に時間がかかるばかりでなく、分
析結果も生の穀物に対する結果としては正確さに欠ける
ものであるという欠点があった。例えば米の成分分析に
際して、試料の作成に、白米を乾燥、籾摺、精白、粉砕
という多工程と、30時間以上の長時間を要するもので
あったため、作業が煩雑であるという欠点があり、しか
も乾燥工程を経るものであるので水分含有量が正確に検
出できないという欠点もあった。一方、消費者の嗜好の
多様化、良食味米の要求に応えるためには、乾燥工程に
入る前に、収穫後集荷される生籾を直ちに品質に応じて
分類することが必要である。生籾は収穫後1日以内に乾
燥しないと品質が急速に劣化するからである。しかし、
籾米に対して籾を介して分光分析すると透過光量が低下
して正確に分析できず、そのような短時間の分類を可能
にするような短時間の成分分析を可能とする測定装置が
ないため、それを可能にする装置が望まれていた。本発
明の目的は上述した従来欠点を解消する点にある。
【0004】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明による分光測定装置の特徴構成は、支持装置
に支持された試料に測定用の光線束を照射する投光部
と、前記試料を透過する透過光線束を受光する受光部を
設けてある分光測定装置であって、前記支持装置を、前
記試料の中間部を挟持する保持部と、その保持部により
保持された前記試料の両端部を平行又はほぼ平行に切断
する一対の刃と、その一対の刃を前記切断方向に移動自
在に支持する支持部で構成して、前記支持部に、両端部
が切断された前記試料の一方の切断面へ測定用の光線束
を照射する前記投光部と前記試料の他方の切断面から出
てくる透過光線束を受光する前記受光部とを互いに対向
させて設けてあることにある。さらに、前記一対の刃と
前記投光部及び前記受光部とを、切断する前記試料に対
する相対移動方向に並べて配置してあることが好まし
い。
【0005】
【作用】保持部により中間部を挟持された生の試料に対
して、支持部に支持された一対の刃でその試料の左右両
端部を切断した作用状態で、その支持部のうち前記試料
の一方の切断面に対応する位置に設けられた投光部から
その切断面へ測定用の光線束を照射し、同じくその支持
部のうち前記試料の他方の切断面に対応する位置に設け
られた受光部で前記試料を透過する透過光線束を受光す
る。照射光線束と透過光線束とから試料の成分分析を行
う。
【0006】
【発明の効果】従って、本発明によれば収穫後の試料に
対して、何ら加工工程を経ることなく直に成分分析でき
るので、作業工程が簡素化され、短い作業時間で正確な
測定がができる分光測定装置を提供することができるよ
うになったばかりでなく、消費者の嗜好の多様化、良食
味米の要求に応えるため、乾燥工程に入る前に、収穫後
集荷される生籾を直ちに品質に応じて分類することを可
能とする測定装置を提供できるようになった。
【0007】
【実施例】以下に本発明の一実施例である籾米を試料S
とする分光測定装置について説明する。分光測定装置
は、図1及び図2に示すように、試料Sの支持装置6
と、支持装置6に試料Sを一粒ずつ整列搬送する搬送装
置1と、支持装置6内の試料Sに測定用光線束を照射す
るための光源Lと、試料Sを透過する光線束に基づき試
料Sの成分を分析出力する近赤外の分光装置11と、分
光結果を統計処理する計算機12等で構成してある。
【0008】前記搬送装置1は、試料Sを投入するホッ
パー2と、ホッパー2下端部より落下する試料Sを一粒
ずつ前記支持装置6に向けて整列搬送するコンベア3と
で構成してある。前記コンベア3の搬送面4には、試料
Sの長手方向を搬送方向と直行する姿勢で一粒ずつ保持
する凹部5を形成してあり、その凹部5のうち後述の刃
8A,8Bに対応する位置に刃8A,8Bを逃がす切り
欠き5A,5Bを形成してある。
【0009】前記支持装置6は、試料Sに対して上方か
ら遠近自在に移動して前記コンベア3の凹部5との間で
試料Sの長手方向中間部を挟持する保持部としての押さ
え具7と、前記押さえ具7の両端側で同じく試料Sに対
して上方から遠近自在に前記押さえ具7とは独立して移
動して挟持状態にある前記試料Sの両端部を切断する刃
8A,8Bを先端部に備えた支持部8とで構成してあ
る。前記支持部8には、前記試料Sの切断状態で前記試
料Sの一方の切断面S1へ測定用の光線束を照射する投
光部としての投光用光ファイバ9と前記試料Sの他方の
切断面S2から透過光線束を受光する受光部としての受
光用光ファイバ10とを設けてある。前記投光用光ファ
イバ9は前記光源Lからの光線束を試料Sに導く光路を
構成してあり、前記受光用光ファイバ10は前記分光装
置11に光線束を導く光路を構成してある。
【0010】つまり、前記搬送装置1は、前記支持装置
6の位置する箇所に試料Sが到達すると停止する。図2
及び図3に示すように、前記支持装置6の押さえ具7が
上方から近づき前記コンベア3との間で試料Sを挟持す
る。前記支持部8が上方から下降して先端部に設けた一
対の刃8A,8Bで試料の両端部を切断する。切断状態
で、前記投光用光ファイバ9を介して試料Sにその断面
S1から測定用の光線束を照射し、前記受光用光ファイ
バ10を介して試料Sを透過した光線束を集光して前記
分光装置11で測定する。
【0011】前記分光装置11は透過光線束を分光して
胚乳部の水分、蛋白、アミロース等の成分に対応する特
定波長毎の強度を検出するもので、その検出出力を前記
計算機12に入力して平均化処理等を行うことで、各ロ
ットの平均的品質を同定する。
【0012】〔別実施例〕以下、本発明の別実施例を説
明する。先の実施例では投光部及び受光部に光ファイバ
を用いたものを説明したが、投光部として前記支持部に
直接に光源を設けてもよく、受光部として前記支持部に
直接に受光素子を設けて構成してもよいし、それらを適
宜組み合わせてもよい。先の実施例では試料として籾米
を対象とするものを説明したが、試料は籾米に限定する
ものではなく、任意の穀物とすることができる。先の実
施例では試料Sの長手方向を搬送方向と直行する姿勢で
一粒ずつ保持搬送しているが、搬送姿勢はこれに限定す
るものではなく、長手方向が搬送面に垂直な姿勢でもよ
く、試料Sの長手方向を搬送方向と平行な姿勢で搬送し
てもよい。そして、この場合には支持装置の刃8A,8
Bの取付け位置等をそれに合わせればよい。本分光測定
装置を用いて稲穂1本内の籾の各成分の割合の頻度分布
を求めることにより、登熟度合いの判定や品種改良等の
研究に役立てることができる。分光装置11として、近
赤外の波長を対象とするものを用いているが、特に限定
するものではなく任意の波長を対象とするものであって
よい。また、分光装置11の構成も限定するものではな
く、プリズムを用いたものや回折格子を用いたもの等任
意である。尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を便
利にする為に符号を記すが、該記入により本発明は添付
図面の構成に限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【図1】分光測定装置の概略構成図
【図2】支持装置の測定前の断面図
【図3】支持装置の測定時の断面図
【符号の説明】
6 支持装置 7 保持部 8 支持部 8A 刃 8B 刃 9 投光部 10 受光部 S 試料
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 良治 兵庫県尼崎市浜1丁目1番1号 株式会 社クボタ 技術開発研究所内 (56)参考文献 特開 平4−310848(JP,A) 特開 昭63−30740(JP,A) 特開 昭55−57130(JP,A) 実開 平2−19494(JP,U) 実開 昭56−9039(JP,U)

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 支持装置(6)に支持された試料(S)
    に測定用の光線束を照射する投光部(9)と、前記試料
    (S)を透過する透過光線束を受光する受光部(10)
    を設けてある分光測定装置であって、前記支持装置
    (6)を、前記試料(S)の中間部を挟持する保持部
    (7)と、その保持部(7)により保持された前記試料
    (S)の両端部を平行又はほぼ平行に切断する一対の刃
    (8A),(8B)と、その一対の刃(8A),(8B)を
    前記切断方向に移動自在に支持する支持部(8)で構成
    して、前記支持部(8)に、両端部が切断された前記試
    料(S)の一方の切断面(S1)へ測定用の光線束を照
    射する前記投光部(9)と前記試料(S)の他方の切断
    面(S2)から出てくる透過光線束を受光する前記受光
    部(10)とを互いに対向させて設けてある分光測定装
    置。
  2. 【請求項2】 前記一対の刃(8A),(8B)と前記投
    光部(9)及び前記受光部(10)とを、切断する前記
    試料(S)に対する相対移動方向に並べて配置してある
    請求項1記載の分光測定装置。
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