JP2644098B2 - 分光測定装置 - Google Patents
分光測定装置Info
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- JP2644098B2 JP2644098B2 JP7766791A JP7766791A JP2644098B2 JP 2644098 B2 JP2644098 B2 JP 2644098B2 JP 7766791 A JP7766791 A JP 7766791A JP 7766791 A JP7766791 A JP 7766791A JP 2644098 B2 JP2644098 B2 JP 2644098B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、支持装置に支持された
試料に測定用の光線束を照射する投光部と、前記試料を
透過する透過光線束を受光する受光部を設けてある分光
測定装置に関する。
試料に測定用の光線束を照射する投光部と、前記試料を
透過する透過光線束を受光する受光部を設けてある分光
測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の分光測定装置としては、前記支
持装置を、例えば乾燥、粉砕した後の穀物を試料として
載置する載置部のみ設けたものがあり（特公平１−４９
８９０号公報記載）、蛋白・アミロースの含有量と食味
に高相関関係が認められる米の近赤外分光技術による成
分分析に用いられている。
持装置を、例えば乾燥、粉砕した後の穀物を試料として
載置する載置部のみ設けたものがあり（特公平１−４９
８９０号公報記載）、蛋白・アミロースの含有量と食味
に高相関関係が認められる米の近赤外分光技術による成
分分析に用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の従来技
術では、試料の作成に時間がかかるばかりでなく、分析
結果も生の穀物に対する結果としては試料の厚みや密度
のばらつきに起因して正確さに欠けるものであるという
欠点があった。例えば米の成分分析に際しては、試料の
作成に、籾米を乾燥、籾摺、精白、粉砕という多工程
と、３０時間以上の長時間を要するものであったため、
作業が煩雑であるという欠点があり、しかも乾燥工程を
経るものであるので水分含有量が正確に検出できないと
いう欠点もあった。一方、消費者の嗜好の多様化、良食
味米の要求に応えるためには、乾燥工程に入る前に、収
穫後集荷される生籾を直ちに品質に応じて分類すること
が必要である。生籾は収穫後１日以内に乾燥しないと品
質が急速に劣化するからである。しかし、籾米に対して
籾殻を介して分光分析すると透過光量が低下して正確に
分析できず、そのような短時間の分類を可能にするよう
な短時間の成分分析を可能とする測定装置がないため、
それを可能にする装置が望まれていた。本発明の目的は
上述した従来欠点を解消する点にある。
術では、試料の作成に時間がかかるばかりでなく、分析
結果も生の穀物に対する結果としては試料の厚みや密度
のばらつきに起因して正確さに欠けるものであるという
欠点があった。例えば米の成分分析に際しては、試料の
作成に、籾米を乾燥、籾摺、精白、粉砕という多工程
と、３０時間以上の長時間を要するものであったため、
作業が煩雑であるという欠点があり、しかも乾燥工程を
経るものであるので水分含有量が正確に検出できないと
いう欠点もあった。一方、消費者の嗜好の多様化、良食
味米の要求に応えるためには、乾燥工程に入る前に、収
穫後集荷される生籾を直ちに品質に応じて分類すること
が必要である。生籾は収穫後１日以内に乾燥しないと品
質が急速に劣化するからである。しかし、籾米に対して
籾殻を介して分光分析すると透過光量が低下して正確に
分析できず、そのような短時間の分類を可能にするよう
な短時間の成分分析を可能とする測定装置がないため、
それを可能にする装置が望まれていた。本発明の目的は
上述した従来欠点を解消する点にある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明による分光測定装置の特徴構成は、支持装置
に支持された試料に測定用の光線束を照射する投光部
と、前記試料を透過する透過光線束を受光する受光部を
設けてある分光測定装置であって、前記支持装置を、複
数の試料を各別に分離載置する載置部と、前記載置部へ
の載置状態で前記載置部に沿った横方向移動により前記
試料の上下端を切断する上下一対の刃と、前記刃により
切断された上下の切断片を同じく横方向移動により排除
する排除部で構成して、前記投光部を前記載置部の上方
に配置し、前記受光部を前記載置部の底部それぞれに配
置してあることにある。
め、本発明による分光測定装置の特徴構成は、支持装置
に支持された試料に測定用の光線束を照射する投光部
と、前記試料を透過する透過光線束を受光する受光部を
設けてある分光測定装置であって、前記支持装置を、複
数の試料を各別に分離載置する載置部と、前記載置部へ
の載置状態で前記載置部に沿った横方向移動により前記
試料の上下端を切断する上下一対の刃と、前記刃により
切断された上下の切断片を同じく横方向移動により排除
する排除部で構成して、前記投光部を前記載置部の上方
に配置し、前記受光部を前記載置部の底部それぞれに配
置してあることにある。
【０００５】
【作用】載置部に各別に分離載置された試料は、上下一
対の刃の載置部に沿った横方向移動により上下端が切断
される。上下の切断片は、刃と同様に排除部の載置部に
沿った横方向移動により載置部から除去され、載置部上
には上下端が切断された試料が残る。この試料に対し
て、載置部上方の投光部から測定用の光線束を各試料に
照射して、試料を透過した光線束を、載置部の底部に各
別に設けてある受光部で受けるのである。
対の刃の載置部に沿った横方向移動により上下端が切断
される。上下の切断片は、刃と同様に排除部の載置部に
沿った横方向移動により載置部から除去され、載置部上
には上下端が切断された試料が残る。この試料に対し
て、載置部上方の投光部から測定用の光線束を各試料に
照射して、試料を透過した光線束を、載置部の底部に各
別に設けてある受光部で受けるのである。
【０００６】
【発明の効果】従って、本発明によれば収穫後の試料に
対して、何ら加工工程を経ることなく直に成分分析でき
るので、作業工程が簡素化され、短い作業時間で正確な
測定がができる分光測定装置を提供することができるよ
うになったばかりでなく、消費者の嗜好の多様化、良食
味米の要求に応えるため、乾燥工程に入る前に、収穫後
集荷される生籾を直ちに品質に応じて分類することを可
能とする測定装置を提供できるようになった。
対して、何ら加工工程を経ることなく直に成分分析でき
るので、作業工程が簡素化され、短い作業時間で正確な
測定がができる分光測定装置を提供することができるよ
うになったばかりでなく、消費者の嗜好の多様化、良食
味米の要求に応えるため、乾燥工程に入る前に、収穫後
集荷される生籾を直ちに品質に応じて分類することを可
能とする測定装置を提供できるようになった。
【０００７】
【実施例】以下に本発明の一実施例である籾米を試料Ｓ
とする分光測定装置について説明する。分光測定装置
は、図１、図２及び図３に示すように、試料Ｓを支持す
る支持装置１と、支持装置１の上方から試料Ｓに測定用
の光線束を照射する投光部２と、試料Ｓを透過した光線
束を支持装置１の下方から集光する受光部としての光フ
ァイバ３と、試料Ｓを透過する光線束に基づき試料Ｓの
成分を分析出力する分光装置４と、分光結果を統計処理
する計算機５等で構成してある。
とする分光測定装置について説明する。分光測定装置
は、図１、図２及び図３に示すように、試料Ｓを支持す
る支持装置１と、支持装置１の上方から試料Ｓに測定用
の光線束を照射する投光部２と、試料Ｓを透過した光線
束を支持装置１の下方から集光する受光部としての光フ
ァイバ３と、試料Ｓを透過する光線束に基づき試料Ｓの
成分を分析出力する分光装置４と、分光結果を統計処理
する計算機５等で構成してある。
【０００８】前記支持装置１は、試料Ｓを一粒ずつ分離
載置する載置部９と、前記載置部への載置状態で前記載
置部９に沿った横方向移動により前記試料Ｓの上下端を
切断する上下一対の刃１０Ｃ，１１Ｃと、前記刃１０
Ｃ，１１Ｃにより切断された上下の切断片Ｓ’を同じく
横方向移動により排除する排除部１０Ｄ，１１Ｄで構成
してある。
載置する載置部９と、前記載置部への載置状態で前記載
置部９に沿った横方向移動により前記試料Ｓの上下端を
切断する上下一対の刃１０Ｃ，１１Ｃと、前記刃１０
Ｃ，１１Ｃにより切断された上下の切断片Ｓ’を同じく
横方向移動により排除する排除部１０Ｄ，１１Ｄで構成
してある。
【０００９】詳述すると、試料Ｓを一粒ずつ分離するた
めの複数の投入用開孔６Ａを形成してある上板６と、投
入用開孔６Ａに対応する位置に試料Ｓの横方向移動を阻
止する保持用開孔７Ａ及び保持用開孔７Ａに隣接して試
料Ｓの上側の切断片Ｓ’を落下除去する除去用開孔７Ｂ
を形成してある中板７と、除去用開孔７Ｂに対応する位
置に試料Ｓの上下両切断片Ｓ’を落下除去する除去用開
孔８Ｂを形成してある底板８を重ねて載置部９を構成し
てあり、上板６と中板７の間、及び中板７と底板８の間
にそれら間を横方向に往復移動自在の摺動板１０，１１
を配置してある。前記摺動板１０，１１には、前記投入
用開孔６Ａに対応する位置にそれぞれ開孔１０Ａ，１１
Ａを形成してあり、それら開孔１０Ａ，１１Ａのうち復
動側の周部１０Ｃ，１１Ｃに鋭利な刃部を設けてある。
前記刃部１０Ｃ，１１Ｃの復動側には前記刃部１０Ｃ，
１１Ｃで切断された試料Ｓの切断片Ｓ’を落下除去する
開孔１０Ｂ，１１Ｂを形成してあり、さらにその復動側
には前記摺動板１０，１１の往動に伴い前記刃部１０
Ｃ，１１Ｃで切断された試料Ｓの切断片Ｓ’を開孔１０
Ｂ，１１Ｂ及び除去用開孔７Ｂ，８Ｂから落下するよう
に切断片Ｓ’を往動側に押し出す排除部１０Ｄ，１１Ｄ
としての突起を形成してある。前記底板８のうち前記投
入用開孔６Ａ及び保持用開孔７Ａに対応する位置の中央
部には試料Ｓを透過した光線束の集光用の単数又は複数
本の光ファイバ３を設けてあり、この光ファイバ３の他
端は他の光ファイバ３とで束ねられて光ファイババンド
ルとして前記分光装置４に導かれる。即ち、本分光測定
装置は一粒ずつ分離載置された試料Ｓの平均の成分分析
を一度に行うことになる。
めの複数の投入用開孔６Ａを形成してある上板６と、投
入用開孔６Ａに対応する位置に試料Ｓの横方向移動を阻
止する保持用開孔７Ａ及び保持用開孔７Ａに隣接して試
料Ｓの上側の切断片Ｓ’を落下除去する除去用開孔７Ｂ
を形成してある中板７と、除去用開孔７Ｂに対応する位
置に試料Ｓの上下両切断片Ｓ’を落下除去する除去用開
孔８Ｂを形成してある底板８を重ねて載置部９を構成し
てあり、上板６と中板７の間、及び中板７と底板８の間
にそれら間を横方向に往復移動自在の摺動板１０，１１
を配置してある。前記摺動板１０，１１には、前記投入
用開孔６Ａに対応する位置にそれぞれ開孔１０Ａ，１１
Ａを形成してあり、それら開孔１０Ａ，１１Ａのうち復
動側の周部１０Ｃ，１１Ｃに鋭利な刃部を設けてある。
前記刃部１０Ｃ，１１Ｃの復動側には前記刃部１０Ｃ，
１１Ｃで切断された試料Ｓの切断片Ｓ’を落下除去する
開孔１０Ｂ，１１Ｂを形成してあり、さらにその復動側
には前記摺動板１０，１１の往動に伴い前記刃部１０
Ｃ，１１Ｃで切断された試料Ｓの切断片Ｓ’を開孔１０
Ｂ，１１Ｂ及び除去用開孔７Ｂ，８Ｂから落下するよう
に切断片Ｓ’を往動側に押し出す排除部１０Ｄ，１１Ｄ
としての突起を形成してある。前記底板８のうち前記投
入用開孔６Ａ及び保持用開孔７Ａに対応する位置の中央
部には試料Ｓを透過した光線束の集光用の単数又は複数
本の光ファイバ３を設けてあり、この光ファイバ３の他
端は他の光ファイバ３とで束ねられて光ファイババンド
ルとして前記分光装置４に導かれる。即ち、本分光測定
装置は一粒ずつ分離載置された試料Ｓの平均の成分分析
を一度に行うことになる。
【００１０】前記分光装置４は透過光線束を分光して胚
乳部の水分、蛋白、アミロース等の成分に対応する特定
波長毎の強度を検出するもので、その検出出力を前記計
算機５に入力してさらに平均化処理等を行うことで、各
ロットの平均的品質を同定する。
乳部の水分、蛋白、アミロース等の成分に対応する特定
波長毎の強度を検出するもので、その検出出力を前記計
算機５に入力してさらに平均化処理等を行うことで、各
ロットの平均的品質を同定する。
【００１１】以下、本発明の別実施例を説明する。先の
実施例では試料として籾米を対象とするものを説明した
が、試料は籾米に限定するものではなく、任意の穀物と
することができる。試料Ｓを一粒ずつ分離載置するため
の支持装置１における試料Ｓの配置は先の実施例に限定
するものではなく任意であり、Ｍ行Ｎ列のマトリックス
や千鳥状に配置してもよい。先の実施例では支持装置と
して水平方向に配置された載置部に複数の試料を載置す
るものについて説明したが、鉛直方向に配置された保持
部に複数の試料を保持するものであってもよい。分光装
置４として、近赤外の波長を対象とするものを用いてい
るが、特に限定するものではなく任意の波長を対象とす
るものであってよい。また、分光装置４の構成も限定す
るものではなく、プリズムを用いたものや回折格子を用
いたもの等任意である。尚、特許請求の範囲の項に図面
との対照を便利にする為に符号を記すが、該記入により
本発明は添付図面の構成に限定されるものではない。
実施例では試料として籾米を対象とするものを説明した
が、試料は籾米に限定するものではなく、任意の穀物と
することができる。試料Ｓを一粒ずつ分離載置するため
の支持装置１における試料Ｓの配置は先の実施例に限定
するものではなく任意であり、Ｍ行Ｎ列のマトリックス
や千鳥状に配置してもよい。先の実施例では支持装置と
して水平方向に配置された載置部に複数の試料を載置す
るものについて説明したが、鉛直方向に配置された保持
部に複数の試料を保持するものであってもよい。分光装
置４として、近赤外の波長を対象とするものを用いてい
るが、特に限定するものではなく任意の波長を対象とす
るものであってよい。また、分光装置４の構成も限定す
るものではなく、プリズムを用いたものや回折格子を用
いたもの等任意である。尚、特許請求の範囲の項に図面
との対照を便利にする為に符号を記すが、該記入により
本発明は添付図面の構成に限定されるものではない。
【図１】分光測定装置の測定前の概略構成図
【図２】分光測定装置の測定時の概略構成図
【図３】支持装置の分解斜視図
１ 支持装置 ２ 投光部 ３ 受光部 ９ 載置部 １０Ｃ 刃 １１Ｃ 刃 １０Ｄ 排除部 １１Ｄ 排除部 Ｓ 試料 Ｓ’ 切断片
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 土本 正明 兵庫県尼崎市浜１丁目１番１号 株式会 社クボタ 技術開発研究所内 (56)参考文献 特開 平４−310849（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−30740（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−57130（ＪＰ，Ａ) 実開 平２−19494（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭56−9039（ＪＰ，Ｕ)
Claims (3)
- 【請求項１】 支持装置（１）に支持された試料（Ｓ）
に測定用の光線束を照射する投光部（２）と、前記試料
（Ｓ）を透過する透過光線束を受光する受光部（３）を
設けてある分光測定装置であって、前記支持装置（１）
を、複数の試料（Ｓ）を各別に分離載置する載置部
（９）と、前記載置部（９）への載置状態で前記載置部
（９）に沿った横方向移動により前記試料（Ｓ）の上下
端を切断する上下一対の刃（１０Ｃ),（１１Ｃ）と、前
記刃（１０Ｃ),（１１Ｃ）により切断された上下の切断
片（Ｓ')を同じく横方向移動により排除する排除部（１
０Ｄ),（１１Ｄ）で構成して、前記投光部（２）を前記
載置部（９）の上方に配置し、前記受光部（３）を前記
載置部（９）の底部それぞれに配置してある分光測定装
置。 - 【請求項２】 支持装置（１）に支持された試料（Ｓ）
に測定用の光線束を照射する投光部（２）と、前記試料
（Ｓ）を透過する透過光線束を受光する受光部（３）を
設けてある分光測定装置であって、前記支持装置（１）
を、複数の試料（Ｓ）を各別に分離保持する保持部
（９）と、前記保持部（９）への保持状態で前記保持部
（９）に沿った方向への移動により前記試料（Ｓ）の両
端部を切断する刃（１０Ｃ),（１１Ｃ）と、前記刃（１
０Ｃ),（１１Ｃ）により切断された切断片（Ｓ')を同じ
く前記保持部（９）に沿った方向への移動により排除す
る排除部（１０Ｄ),（１１Ｄ）で構成して、前記投光部
（２）を前記保持部（９）の一方側に配置し、前記受光
部（３）を前記載置部（９）の他方側にそれぞれに配置
してある分光測定装置。 - 【請求項３】 前記試料（Ｓ）が穀物である請求項１又
は２記載の分光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7766791A JP2644098B2 (ja) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | 分光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7766791A JP2644098B2 (ja) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | 分光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04310848A JPH04310848A (ja) | 1992-11-02 |
| JP2644098B2 true JP2644098B2 (ja) | 1997-08-25 |
Family
ID=13640234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7766791A Expired - Lifetime JP2644098B2 (ja) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | 分光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2644098B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005055175A (ja) * | 1999-09-07 | 2005-03-03 | National Agriculture & Bio-Oriented Research Organization | 試料調製方法および装置 |
| US10073031B2 (en) | 2013-11-14 | 2018-09-11 | Grainsense Oy | Optical analyzer, optical analyzing method and sample preparation device |
-
1991
- 1991-04-10 JP JP7766791A patent/JP2644098B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04310848A (ja) | 1992-11-02 |
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