JP2636096B2 - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

Info

Publication number
JP2636096B2
JP2636096B2 JP3182852A JP18285291A JP2636096B2 JP 2636096 B2 JP2636096 B2 JP 2636096B2 JP 3182852 A JP3182852 A JP 3182852A JP 18285291 A JP18285291 A JP 18285291A JP 2636096 B2 JP2636096 B2 JP 2636096B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output buffer
driving capability
semiconductor integrated
ground line
buffer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP3182852A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0529544A (ja
Inventor
満 細川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON DENKI AISHII MAIKON SHISUTEMU KK
Original Assignee
NIPPON DENKI AISHII MAIKON SHISUTEMU KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON DENKI AISHII MAIKON SHISUTEMU KK filed Critical NIPPON DENKI AISHII MAIKON SHISUTEMU KK
Priority to JP3182852A priority Critical patent/JP2636096B2/ja
Publication of JPH0529544A publication Critical patent/JPH0529544A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2636096B2 publication Critical patent/JP2636096B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体集積回路においては、その
入出力バッファ回路は、一例が図2に示されるように、
半導体集積回路10内において、内部回路11に対応し
て、パッド14を入力端子とする入力バッファ12と、
パッド15を出力端子とする出力バッファ13とを備え
て構成されており、且つ、これらの内部回路11、入力
バッファ12および出力バッファ13に対して“H”レ
ベルを供給する電源線104、および内部回路5、入力
バッファ6および出力バッファ7に対して“L”レベル
を供給する接地線105が設けられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の半導体
集積回路は、その電源線104および接地線105等を
も含むレイアウトにおいて、出力バッファ13の駆動能
力として、高い駆動能力の出力バッファを複数個用いて
同時にレベル変化させるような場合には、当該出力バッ
ファの貫通電流、および半導体集積回路の出力端子を形
成するパッド15における充放電電流を含む大電流が接
地線105に流入するため、当該接地線105の電圧が
上昇し、その電圧レベルが入力バッファ12のスレッシ
ュホールド・レベル以上になると、入力バッファ12お
よび内部回路11における“H”レベルおよび“L”レ
ベルの判定に狂いが生じ、結果的に半導体集積回路にお
ける誤動作を引起すという欠点がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
は、内部回路を含み、当該内部回路に対応する入出力バ
ッファ回路として、入力バッファ、低駆動能力の出力バ
ッファおよび高駆動能力の出力バッファを含む半導体集
積回路において、前記内部回路および入出力バッファ回
路に対して電源を供給する電源線と、前記内部回路、入
力バッファおよび低駆動能力の出力バッファに対する第
1の接地線と、前記高駆動能力の出力バッファに対する
第2の接地線と、前記第1および第2の接地線間に並列
接続され、当該2系統の接地線間の接続または非接続を
制御するトランジスタ群と、を備えて構成される。
【0005】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0006】図1は本発明の一実施例を示すブロック図
である。図1に示されるように、本実施例の半導体集積
回路1は、電源線101、第1の接地線102および第
2の接地線103に対応して、内部回路2と、入力バッ
ファ3と、低駆動能力の出力バッファ5および高駆動能
力の出力バッファ6を含む出力バッファ4と、第1の接
地線102と第2の接地線103との間に並列に接続さ
れる複数のPMOSトランジスタ7を含むPMOSトラ
ンジスタ群と、それぞれ入力バッファ3および出力バッ
ファ4に対応するパッド8および9とを備えて構成され
ている。なお、これらの内部回路2、入力バッファ3お
よび出力バッファ4に対しては、電源線101を介して
電源が供給され、内部回路2、入力バッファ3および低
駆動能力の出力バッファ5に対する接地線としては第1
の接地線102が対応し、高駆動能力の出力バッファ6
に対応する接地線としては、第2の接地線103が対応
している。
【0007】図1において、前記PMOSトランジスタ
群を形成する複数のPMOSトランジスタ7は、上述の
ように、ダイオード接続されて第1および第2の接地線
102および103の間に並列接続されている。今、高
駆動能力の出力バッファ6が複数個必要となり、その場
合において、高駆動能力の出力バッファ6の出力レベル
が同時に変化して、高駆動能力の出力バッファ6の貫通
電流および充放電電流が第2の接地線103に流入し、
この第2の接地線103の電位が、PMOSトランジス
タ群を形成する複数のPMOSトランジスタ7のスレッ
ショホールド・レベルに到達する状態に上昇した場合に
は、これらの各PMOSトランジスタ7は非導通状態と
なって、第1の接地線102と第2の接地線103との
間の接続が切断される。従って、高駆動能力の出力バッ
ファ6の貫通電流、および半導体集積回路の出力端子を
形成するパッド9における充放電電流を含む大電流が第
1の接地線101に流入することがない。
【0008】即ち、内部回路2および入力バッファ3に
対応する第1の接地線102は、第2の接地線よりは隔
離される状態となり、内部回路2および入力バッファ3
を含む半導体集積回路1のスレッショルド・レベルが、
高駆動能力の出力バッファ6の変化に伴ない影響を受け
て変動するということはなく、これにより、内部回路2
におけるレベル判定に誤動作を生ずることがない。
【0009】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、低駆動
能力の出力バッファと高駆動能力の出力バッファのそれ
ぞれに対応する第1および第2の接地線を設け、これら
の両接地線の間にPMOSトランジスタ群を接続するこ
とにより、前記高駆動能力の出力バッファによる第1の
接地線に対する影響を排除し、半導体集積回路の内部回
路におけるレベル誤判定を除去することができるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の回路配置を示すレイアウト
図である。
【図2】従来例の回路配置を示すレイアウト図である。
【符号の説明】
1、10 半導体集積回路 2、11 内部回路 3、12 入力バッファ 4、13 出力バッファ 5 低駆動能力の出力バッファ 6 高駆動能力の出録バッファ 7 PMOSトランジスタ 8、9、14、15 パッド

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部回路を含み、当該内部回路に対応す
    る入出力バッファ回路として、入力バッファ、低駆動能
    力の出力バッファおよび高駆動能力の出力バッファを含
    む半導体集積回路において、 前記内部回路および入出力バッファ回路に対して電源を
    供給する電源線と、 前記内部回路、入力バッファおよび低駆動能力の出力バ
    ッファに対する第1の接地線と、 前記高駆動能力の出力バッファに対する第2の接地線
    と、 前記第1および第2の接地線間に並列接続され、当該2
    系統の接地線間の接続または非接続を制御するトランジ
    スタ群と、 を備えることを特徴とする半導体集積回路。
JP3182852A 1991-07-24 1991-07-24 半導体集積回路 Expired - Lifetime JP2636096B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3182852A JP2636096B2 (ja) 1991-07-24 1991-07-24 半導体集積回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3182852A JP2636096B2 (ja) 1991-07-24 1991-07-24 半導体集積回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0529544A JPH0529544A (ja) 1993-02-05
JP2636096B2 true JP2636096B2 (ja) 1997-07-30

Family

ID=16125586

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3182852A Expired - Lifetime JP2636096B2 (ja) 1991-07-24 1991-07-24 半導体集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2636096B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0529544A (ja) 1993-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4825099A (en) Feedback-controlled current output driver having reduced current surge
US4947063A (en) Method and apparatus for reducing transient noise in integrated circuits
USRE39374E1 (en) Constant voltage power supply with normal and standby modes
US5994950A (en) Regulator built-in semiconductor integrated circuit
EP0426351A2 (en) CMOS power-on reset circuit
US4275312A (en) MOS decoder logic circuit having reduced power consumption
US5559451A (en) Bicmos push-pull type logic apparatus with voltage clamp circuit and clamp releasing circuit
US5239211A (en) Output buffer circuit
US4937469A (en) Switched current mode driver in CMOS with short circuit protection
JPH07118947B2 (ja) 半導体装置
EP0419902A2 (en) Rush current prevention circuit
US6621329B2 (en) Semiconductor device
JP3400294B2 (ja) プル・アップ回路及び半導体装置
US5126603A (en) Circuit utilizes N-channel mos transistors having reduced area dimension for effectively detecting output current of a H-bridge circuit
JP2917222B2 (ja) Ttlコンパチブルcmos入力回路
US4894558A (en) Power saving input buffer for use with a gate array
JPH01200819A (ja) メモリ集積回路
US4081699A (en) Depletion mode coupling device for a memory line driving circuit
JP2636096B2 (ja) 半導体集積回路
JPH0456491B2 (ja)
US6563342B1 (en) CMOS ECL output buffer
US5430398A (en) BiCMOS buffer circuit
US6433594B1 (en) Semiconductor integrated circuit and semiconductor integrated circuit system
JPH03183159A (ja) 半導体集積回路装置
JP2697024B2 (ja) 出力回路

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19970225