JP2631766B2 - Gate pulse generation circuit of ultrasonic measurement equipment - Google Patents

Gate pulse generation circuit of ultrasonic measurement equipment

Info

Publication number
JP2631766B2
JP2631766B2 JP2332285A JP33228590A JP2631766B2 JP 2631766 B2 JP2631766 B2 JP 2631766B2 JP 2332285 A JP2332285 A JP 2332285A JP 33228590 A JP33228590 A JP 33228590A JP 2631766 B2 JP2631766 B2 JP 2631766B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
counter
clock
pulse
data
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2332285A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04198855A (en
Inventor
建 西塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP2332285A priority Critical patent/JP2631766B2/en
Publication of JPH04198855A publication Critical patent/JPH04198855A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2631766B2 publication Critical patent/JP2631766B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、超音波測定装置のゲートパルス発生回路
に関し、詳しくは、正確にかつ簡単にゲートパルスの発
生タイミングとそのパルス幅の設定ができ、ジッタが発
生し難いような超音波測定装置のゲートパルス発生回路
に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gate pulse generation circuit of an ultrasonic measuring device, and more specifically, it is possible to accurately and easily set a gate pulse generation timing and its pulse width. The present invention relates to a gate pulse generating circuit of an ultrasonic measuring apparatus in which jitter is hardly generated.

[従来の技術] 超音波測定装置の1つである超音波探傷装置は、エコ
ー受信信号(又はビデオ信号あるいはRF信号)の任意の
位置でゲートがかけられるようになっていて、例えば、
エコー受信信号の欠陥エコーにゲートをかけ、抽出した
エコー受信信号についてピークレベル等を得て、その値
の大きさで欠陥の良否を判定している。
[Related Art] An ultrasonic flaw detector, which is one of the ultrasonic measurement apparatuses, is configured such that a gate can be applied at an arbitrary position of an echo reception signal (or a video signal or an RF signal).
A gate is applied to the defect echo of the echo reception signal, a peak level or the like is obtained for the extracted echo reception signal, and the quality of the defect is determined based on the magnitude of the value.

この場合、エコー受信信号の任意の位置にゲートをか
けるためには、ゲートパルスを任意のタイミングで発生
させることが必要である。第3図は、このゲートパルス
発生の原理を説明する欠陥測定におけるAスコープ像と
そのゲートパルス発生タイミングとの関係の説明図であ
る。
In this case, in order to apply a gate to an arbitrary position of the echo reception signal, it is necessary to generate a gate pulse at an arbitrary timing. FIG. 3 is an explanatory diagram of the relationship between an A-scope image and the timing of gate pulse generation in defect measurement for explaining the principle of gate pulse generation.

第3図において、30は、水浸反射法で得られたAスコ
ープ像であって、Tは送信波、Sは表面エコー、Fは欠
陥エコー、Bは底面エコーである。33は、周期的な測定
に対応して発生する同期信号であり、この信号の後縁
(立上がり)でパルサを駆動し送信パルスを出力し、送
信パルス信号は、エコー受信信号30における送信波Tと
なって現れる。
In FIG. 3, reference numeral 30 denotes an A-scope image obtained by the water immersion reflection method, where T is a transmission wave, S is a surface echo, F is a defect echo, and B is a bottom echo. Reference numeral 33 denotes a synchronization signal generated in response to the periodic measurement, which drives a pulser at the trailing edge (rising edge) of the signal to output a transmission pulse. The transmission pulse signal is a transmission wave T in the echo reception signal 30. Appears as.

34は、所定の設定された時間に対応するパルス幅を持
つ遅延トリガパルスであり、前記同期信号33の前縁(立
下がり)を起点として発生する。
Reference numeral 34 denotes a delay trigger pulse having a pulse width corresponding to a predetermined set time, and is generated starting from the leading edge (falling edge) of the synchronization signal 33.

35は、前面エコー検出パルスであって、同期信号33の
前縁でセットされるフリップフロップ出力とエコー受信
信号30を受けるコンパレータ出力と遅延トリガパルス34
がなくなったときとの論理積出力として発生する。
A front echo detection pulse 35 is a flip-flop output set at the leading edge of the synchronization signal 33, a comparator output receiving the echo reception signal 30, and a delay trigger pulse 34.
Is generated as a logical product output with the time when is lost.

36は、ゲート位置パルスであって、表面エコー検出パ
ルス35を起点とし、設定された時間に対応するパルス幅
を持つパルスとして発生する。
A gate position pulse 36 is generated as a pulse having a pulse width corresponding to a set time, starting from the surface echo detection pulse 35.

37は、いわゆるゲートパルス(ゲート幅パルス)で前
記ゲート位置パルス36の後縁(立下がり)を起点に発生
し、設定された時間に対応するパルス幅を持つパルスで
ある。
Reference numeral 37 denotes a so-called gate pulse (gate width pulse) which is generated starting from the trailing edge (falling edge) of the gate position pulse 36 and has a pulse width corresponding to a set time.

このように、ゲート幅パルス37は、同期信号33の発生
に応じ、かつ表面エコーSの発生タイミングに同期し
て、設定された時間に設定された幅で発生する。
As described above, the gate width pulse 37 is generated with a set width at a set time according to the generation of the synchronization signal 33 and in synchronization with the generation timing of the surface echo S.

このような方式によるゲートパルスの発生は、一般に
表面エコー同期ゲートモードと呼ばれるものであって、
表面エコーSを基準にゲートをかけているので、プロー
ブと被検体までの距離(水距離という)が変化しても表
面エコーSからのゲート位置が変化しない特徴がある。
Generation of a gate pulse by such a method is generally called a surface echo synchronous gate mode,
Since the gate is applied based on the surface echo S, there is a characteristic that the gate position from the surface echo S does not change even when the distance between the probe and the subject (referred to as a water distance) changes.

なお、遅延トリガパルス34は、表面エコーSを検出す
る手段として用いるパルスであって、このパルスがLOW
レベル(以下“L")の期間は、表面エコーSが検出され
ない。このことで表面エコーSの検出までの不要信号の
検出が抑止される。
The delay trigger pulse 34 is a pulse used as a means for detecting the surface echo S, and this pulse is LOW.
During the period of the level (hereinafter “L”), the surface echo S is not detected. This suppresses the detection of unnecessary signals until the detection of the surface echo S.

一方、ゲートをかける方式には主同期ゲートモードと
呼ばれるもう一つの方式があって、これは、同期信号33
を基準としてゲートパルスを発生する方法である。すな
わち、ゲート位置パルス36は、同期信号33の前縁(立下
がり)を起点として発生し、ゲート幅パルス37は、前述
と同様にこのゲート位置パルス36の後縁を起点として発
生する。
On the other hand, there is another method called a main synchronous gate mode in which a gate signal is applied.
Is a method of generating a gate pulse on the basis of. That is, the gate position pulse 36 is generated starting from the leading edge (falling edge) of the synchronization signal 33, and the gate width pulse 37 is generated starting from the trailing edge of the gate position pulse 36 as described above.

以上のような2つのゲートモードは、選択できるよう
になっていて、遅延トリガパルス34、ゲート位置パルス
36、ゲート幅パルス37の値については、特に、規格等で
定められてはいないので超音波測定装置によってまちま
ちであるが、一例として挙げると、遅延トリガパルス
は、0.5〜400μs、ゲート位置パルスは、0.1〜300μ
s、ゲート幅パルスは、0.1〜800μsである。
The above two gate modes can be selected. The delay trigger pulse 34, the gate position pulse
36, the value of the gate width pulse 37 depends on the ultrasonic measurement device because it is not specified in the standard, etc., but as an example, the delay trigger pulse is 0.5 to 400 μs, and the gate position pulse is , 0.1-300μ
s, the gate width pulse is 0.1 to 800 μs.

[解決しようとする課題] 表面エコー同期モードでのゲートパルスの発生は、通
常、エコー受信信号を所定のスレショルド電圧とコンパ
レートしてスレショルドを越えた信号をコンパレータの
出力として得るが、実際には、この出力とクロックパル
スとを同期化させてクロックパルスのタイミングに合わ
せて発生させている。一方、表面エコーSは、時間カウ
ントをするクロックパルスに非同期に入力する。
[Problem to be Solved] In the generation of a gate pulse in the surface echo synchronization mode, normally, an echo reception signal is compared with a predetermined threshold voltage, and a signal exceeding the threshold is obtained as an output of a comparator. This output is synchronized with the clock pulse and generated in synchronization with the timing of the clock pulse. On the other hand, the surface echo S is input asynchronously to a clock pulse for counting time.

そこで、クロックパルスに同期化させて表面エコーS
を発生させると測定周期に対応してクロックパルス1周
期分のジッタを生じる問題がある。また、ゲートパルス
の開始タイミングは、表面エコーSの発生タイミング
が、1クロックの1周期内で変化しても変化しないこと
になるのでゲートパルスの位置が表面エコーSの位置に
対応して発生しなくなり、正確な位置にゲートパルスを
発生させることはできない。
Therefore, the surface echo S is synchronized with the clock pulse.
Is generated, there is a problem that a jitter of one clock pulse period is generated corresponding to the measurement period. Also, the start timing of the gate pulse does not change even if the generation timing of the surface echo S changes within one cycle of one clock, so that the position of the gate pulse is generated corresponding to the position of the surface echo S. Therefore, a gate pulse cannot be generated at an accurate position.

このような問題を解決するために、出願人は、表面エ
コー検出に合わせて時間計測の基準クロックを発生する
クロック発生回路とそのクロックとをカウントする第1
のカウンタとを同時に動作させてゲートパルスの発生タ
イミングを計測し、さらにゲート幅についても、前記の
クロック発生回路とそのクロックとをカウントする第2
のカウンタとを同時に動作させて計測することでジッタ
の生じないようなゲートパルス発生回路を提案し、それ
を特願平2-63358号として出願している。
In order to solve such a problem, the applicant has proposed a clock generation circuit for generating a reference clock for time measurement in accordance with surface echo detection, and a first circuit for counting the clock.
And the counters are simultaneously operated to measure the generation timing of the gate pulse.
A gate pulse generating circuit that does not cause jitter by simultaneously operating and measuring the counter of the present invention has been proposed and filed as Japanese Patent Application No. 2-63358.

このようなゲートパルス発生回路でゲートパルスを発
生させた場合には、基準クロックの周期ごとに設定時間
幅や発生タイミングを設定でき、増減できる。しかし、
その時間精度を上げるためにクロックの周期を短くする
とカウンタの動作速度やその制御回路等により安定な動
作ができなくなる欠点がある。これら回路に安定な動作
をさせるには、クロックを高速にすることは望ましくな
い。
When a gate pulse is generated by such a gate pulse generation circuit, the set time width and generation timing can be set for each cycle of the reference clock, and can be increased or decreased. But,
If the clock cycle is shortened to improve the time accuracy, there is a disadvantage that stable operation cannot be performed due to the operation speed of the counter and its control circuit. To make these circuits operate stably, it is not desirable to increase the clock speed.

一方、超音波計測での超音波受信信号の解析には、10
0MHz以上のRF信号の解析が必要であるため、10msec以下
の周期のクロックを発生させることが要求され、より精
度の高い解析を行うためにはゲートパルスの時間精度を
より高くする必要が生じ、それにはさらに短い周期のク
ロックの発生が要求される。
On the other hand, to analyze the ultrasonic reception signal in ultrasonic measurement, 10
Since it is necessary to analyze RF signals of 0 MHz or more, it is required to generate a clock with a period of 10 msec or less, and in order to perform more accurate analysis, it is necessary to increase the time accuracy of the gate pulse, This requires the generation of a clock with a shorter period.

この発明は、このような要請に応え、前記のような従
来技術の問題点を解決するものであって、ジッタの発生
を抑え、クロックの発生速度を高速にしなくても精度の
高いタイミングと幅でゲートパルスを発生させることが
できる超音波測定装置のゲートパルス発生回路を提供す
ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention addresses the above-mentioned demands and solves the above-mentioned problems of the prior art. The present invention suppresses the occurrence of jitter and achieves highly accurate timing and width without increasing the clock generation speed. It is an object of the present invention to provide a gate pulse generation circuit of an ultrasonic measurement device capable of generating a gate pulse by using the same.

[課題を解決するための手段] このような目的を達成するためのこの発明のゲートパ
ルス発生回路の構成は、一定の周期でクロックを発生す
るクロック発生回路と、クロックの周期を基準として表
面エコー検出からゲートパルス発生までの期間を示す第
1のデータが設定され、クロックを第1のデータ分カウ
ントする第1のカウンタと、クロックの周期を基準とし
てゲートパルスのパルス幅に対応する期間を示す第2の
データが設定され、クロックを第2のデータ分カウント
する第2のカウンタと、外部からデータが設定されこの
設定されたデータに応じて遅延時間が決定され第1また
は第2のカウンタの少なくともいずれかのカウント終了
信号を受けてこれを遅延させて出力する遅延回路と、表
面エコーの検出に応じて第1のカウンタとクロック発生
回路とを動作させ、第1のカウンタのカウント終了に応
じて、あるいは遅延回路により遅延された第1のカウン
タの終了信号に応じて第2のカウンタとクロック発生回
路とを動作させる制御回路とを備えていて、第2のカウ
ンタの動作に応じてゲートパルスを生成し、第2のカウ
ンタの動作までの時間又はゲートパルスの後縁を、クロ
ックの周期より短い時間の範囲で前記の外部から設定さ
れたデータに応じて第1又は第2のカウンタのカウント
終了信号を遅延させることにより調整するものである。
[Means for Solving the Problems] To achieve the above object, a gate pulse generating circuit according to the present invention comprises a clock generating circuit for generating a clock at a constant cycle, and a surface echo based on the clock cycle. First data indicating a period from detection to generation of a gate pulse is set, and a first counter that counts a clock for the first data and a period corresponding to the pulse width of the gate pulse with reference to the clock cycle are indicated. A second counter for setting the second data and counting the clock for the second data; a second counter for setting the data from outside and determining the delay time according to the set data; A delay circuit for receiving at least one of the count end signals and delaying and outputting the signal; a first counter and a clock in response to detection of a surface echo; A control circuit that operates the lock generation circuit and operates the second counter and the clock generation circuit in response to the end of the count of the first counter or in response to the end signal of the first counter delayed by the delay circuit A gate pulse is generated according to the operation of the second counter, and the time until the operation of the second counter or the trailing edge of the gate pulse is set within the range of time shorter than the clock cycle. The adjustment is performed by delaying the count end signal of the first or second counter in accordance with the data set from (1) to (4).

[作用] このように、表面エコー検出からゲートパルス発生ま
での期間をカウントするカウンタと発生ゲートパルスの
パルス幅に対応する期間をカウントするカウンタとの2
つのカウンタを設け、表面エコー検出に応じてこれらカ
ウンタとクロック発生回路とを同時に動作させて時間カ
ウントをするように制御しているので、表面エコーの検
出に応じてゲートパルス発生までの時間カウントが開始
される。さらにゲート幅についてゲートパルス発生のカ
ウントが終了した時点で改めてパルス幅のカウンタとク
ロック発生回路とを動作させるようにしているので、時
間カウントを行う基準となるクロックパルスに制限を受
けず、その連続性から開放される。
[Operation] As described above, the counter for counting the period from the detection of the surface echo to the generation of the gate pulse and the counter for counting the period corresponding to the pulse width of the generated gate pulse are two.
Two counters are provided, and these counters and the clock generation circuit are operated at the same time in response to surface echo detection to control time counting. Be started. Further, the pulse width counter and the clock generation circuit are operated again when the count of the gate pulse generation for the gate width is completed. Freed from sex.

また、遅延回路を挿入して時間計測の基準クロックの
周期以下の時間幅でゲートパルスの発生タイミングある
いは出力幅を調整できるようにしているので、時間計測
の基準となるクロックよりも高い精度で発生タイミング
やパルス幅を選択することができる。したがって、クロ
ックの周期をさほど高くしなくても、ジッタがほとんど
なく、安定した回路動作で高精度のタイミングやパルス
幅のゲートパルスを発生させることが可能になる。
In addition, a delay circuit is inserted so that the timing or output width of the gate pulse can be adjusted with a time width equal to or less than the period of the reference clock for time measurement, so that it is generated with higher accuracy than the clock used as the reference for time measurement. Timing and pulse width can be selected. Therefore, it is possible to generate a gate pulse with high precision timing and pulse width by stable circuit operation with almost no jitter without increasing the clock cycle so much.

[実施例] 以下、本発明の一実施例を図面を参照して詳細に説明
する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は、この発明の超音波測定装置のゲートパルス
発生回路を適用した一実施例のブロック図、第2図は、
そのクロック発生回路のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment to which a gate pulse generating circuit of an ultrasonic measuring apparatus according to the present invention is applied, and FIG.
FIG. 3 is a block diagram of the clock generation circuit.

第1図において、ラッチ回路1,2,3は、それぞれ第3
図に示す遅延トリガパルス34,ゲート位置パルス36,ゲー
ト幅パルス37の各パルス幅に対応する時間を設定するデ
ジタル値のデータをラッチする回路であって、これらの
データをそれぞれ入力端子1a,2a,3aに受ける。ラッチさ
れた各パルス幅の時間カウントデータは、その上位桁の
nビット(nは正の整数)が出力イネーブル信号に応じ
て各ラッチ回路に対応して設けられたプリセットカウン
タ4,5,6への入力データとして送出され、その下位のm
ビットが後述するデータセレクタ9aに送出され、クロッ
ク周期以下の短い時間幅を決める。つまり、このデータ
セレクタ9aと後述するディレーライン9bとが本願発明に
おける遅延回路の具体例を構成している。さらに、後述
するステータスカウンタ9とステータスデコーダ10と
は、本願発明における制御回路を構成している。
In FIG. 1, latch circuits 1, 2, and 3 are
A circuit for latching digital value data for setting a time corresponding to each pulse width of the delay trigger pulse 34, the gate position pulse 36, and the gate width pulse 37 shown in the figure, and these data are input to the input terminals 1a and 2a, respectively. , 3a. The latched time count data of each pulse width is transmitted to the preset counters 4, 5, and 6 provided for the respective latch circuits in accordance with the output enable signal, in which the upper n bits (n is a positive integer) are provided. Is transmitted as input data of
The bit is sent to the data selector 9a, which will be described later, and determines a short time width equal to or shorter than the clock cycle. That is, the data selector 9a and the delay line 9b described later constitute a specific example of the delay circuit in the present invention. Further, a status counter 9 and a status decoder 10, which will be described later, constitute a control circuit according to the present invention.

プリセットカウンタ4,5,6にセットされるそれぞれの
パルス幅のデータロードは、ロード信号19により行わ
れ、このロード信号19は初期設定信号発生回路22で発生
する。
Data loading of each pulse width set in the preset counters 4, 5, and 6 is performed by a load signal 19, and the load signal 19 is generated by an initial setting signal generating circuit 22.

初期設定信号発生回路22は、ワンショット回路で構成
され、1つ前の測定区間のゲート幅パルスが出力端子29
に発生することで、このゲート幅パルスにより同時にト
リガされて各カウンタがデータをロードし、ラッチ回路
7がデータをラッチする期間に合わせたパルス幅のLOW
レベル(以下“L")のパルス信号をロード信号19として
発生する。そして、この信号が次の測定周期に合わせて
各回路を初期設定する。なお、出力端子29に発生するゲ
ート幅パルスは、ここでは、ゲート幅パルス37(第3図
参照)に対応し、これを反転したパルス(後述する)で
ある。
The initial setting signal generating circuit 22 is constituted by a one-shot circuit, and outputs the gate width pulse of the immediately preceding measurement section to the output terminal 29.
Triggered simultaneously by this gate width pulse, each counter loads data, and the latch circuit 7 has a pulse width LOW corresponding to the period during which data is latched.
A level (hereinafter “L”) pulse signal is generated as the load signal 19. Then, this signal initializes each circuit in accordance with the next measurement cycle. Here, the gate width pulse generated at the output terminal 29 corresponds to the gate width pulse 37 (see FIG. 3), and is a pulse obtained by inverting the pulse (described later).

ステータスカウンタ9は、現在の制御ステータスを示
すプリセットカウンタであって、入力側の4桁の値(そ
のうち第1,第3,第4桁は、接地された信号線27,28によ
り“0"に設定されていて、第2桁のみモード選択スイッ
チ24に接続され、“0"又は“1"の選択が可能)がロード
信号19に応じて初期設定される。したがって、このプリ
セット値は、モード選択に応じて決定される。そして、
その2ビットの出力情報(QA,QB)により遅延トリガパ
ルス34,ゲート位置パルス36,ゲート幅パルス37のうちの
どのカウントを行うのかのステータスを決める。
The status counter 9 is a preset counter that indicates the current control status, and is a four-digit value on the input side (the first, third, and fourth digits are set to “0” by the grounded signal lines 27 and 28). In this case, only the second digit is connected to the mode selection switch 24, and “0” or “1” can be selected. Therefore, this preset value is determined according to the mode selection. And
The status of which of the delay trigger pulse 34, the gate position pulse 36, and the gate width pulse 37 to count is determined based on the two bits of output information (QA, QB).

ステータスデコーダ10は、この2ビットのステータデ
ータとして“00"から“01",“10",“11"までの値を受け
てデコードし、4桁で負論理の出力“1110"から“110
1",“1011",“0111"のいずれかを発生する。このいずれ
かの出力値に応じてプリセットカウンタ4,5,6のいずれ
か1つを選択して動作させ、あるいは負論理ANDゲート2
1を制御する。また、ステータスデコーダ10は、前記の
プリセットカウンタ4,5,6のいずれか1つの選択と同時
にラッチ回路1,2,3のいずれかのうち選択されたプリセ
ットカウンタに対応するラッチ回路に出力イネーブル信
号を加えてその下位桁のmビット、例えば、3ビット程
度をデータセレクタ9aに送出させる。さらに、カウンタ
を選択したときには同時にクロック発生回路11も動作さ
せてプリセットされた時間データ分のデータを選択され
たカウンタにカウントさせる。なお、その上位桁のnビ
ットのデータは、ロード信号19によりこれより以前にす
でにプリセットカウンタにロードされている。
The status decoder 10 receives and decodes the 2-bit status data from "00" to "01", "10", and "11", and outputs 4-digit negative logic output "1110" to "110".
Either 1 "," 1011 ", or" 0111 "is generated. One of the preset counters 4, 5, and 6 is selected and operated according to the output value, or a negative logic AND gate is operated. Two
Control one. The status decoder 10 outputs an output enable signal to the latch circuit corresponding to the preset counter selected from any of the latch circuits 1, 2, and 3 simultaneously with the selection of any one of the preset counters 4, 5, and 6. , And the lower order m bits, for example, about 3 bits, are transmitted to the data selector 9a. Further, when the counter is selected, the clock generation circuit 11 is also operated at the same time, and the data for the preset time data is counted by the selected counter. Note that the upper-order n-bit data has already been loaded into the preset counter before this by the load signal 19.

データセレクタ9aは、ORゲート20からの出力を受ける
とともに、この出力をディレーライン9bにより遅延さ
せ、ディレーライン9bからそれぞれ異なる遅延時間の複
数の出力を受けてこれら出力のうちから1つの出力をラ
ッチ回路1,2,3のいずれかの下位ビットの出力データに
応じて選択してステータスカウンタ9に送出する。ここ
で、ディレーライン9bが出力する信号に与える複数の遅
延時間は、クロック発生回路11のクロック周期より短い
時間の範囲であって、例えば、数n secから35n sec程度
の範囲の時間をほぼ等しく分割し、各分割時間を順次加
算して求められる遅延時間である。
The data selector 9a receives the output from the OR gate 20, delays the output by the delay line 9b, receives a plurality of outputs with different delay times from the delay line 9b, and latches one of the outputs. The data is selected according to the output data of one of the lower bits of the circuits 1, 2, and 3 and sent to the status counter 9. Here, the plurality of delay times given to the signal output by the delay line 9b are in a range of time shorter than the clock cycle of the clock generation circuit 11, and for example, a time in a range of about several nsec to about 35 nsec is substantially equal. This is a delay time obtained by dividing and sequentially adding each divided time.

そこで、データセレクタ9aの入力を選択することでス
テータスカウンタ9が次のステータスに移る時間をORゲ
ート20の出力タイミングを基準にしてそれと同時か、デ
ィレーライン9bの遅延出力に応じた時間分だけ遅延させ
るかを調整することができる。そして、この場合のデー
タセレクタ9aの入力の選択は、ラッチ回路1,2,3に記憶
されている下位桁の値により行われる。
Therefore, by selecting the input of the data selector 9a, the time when the status counter 9 shifts to the next status is delayed at the same time based on the output timing of the OR gate 20 or by the time corresponding to the delay output of the delay line 9b. Can be adjusted. The input of the data selector 9a in this case is selected based on the value of the lower digit stored in the latch circuits 1, 2, and 3.

さて、その全体的な動作としては、まず、ステータス
カウンタ9の入力側の第2桁目にモード選択スイッチ24
からの信号が供給されている。これにより表面エコー周
期ゲートモードか主同期ゲートモードかの状態をカウン
タのプリセット値として与える。すなわち、モード選択
スイッチ24により端子24a側が選択され、これにより表
面エコー同期ゲートモードに設定されると、ステータス
カウンタ9の第2桁目の入力値が“0"となり、他の4つ
の入力が“0"に設定されているのでこのカウンタの初期
値はオール“0"となる。その結果、ステータスカウンタ
9の入力線27,28は、全て“L"となり、第1の桁目の出
力QA,第2の桁目の出力QBはともに“L"となる。
The overall operation is as follows. First, the mode selection switch 24 is set at the second digit on the input side of the status counter 9.
Is supplied. Thus, the state of the surface echo periodic gate mode or the main synchronous gate mode is given as a preset value of the counter. That is, when the terminal 24a is selected by the mode selection switch 24 and the surface echo synchronous gate mode is set, the input value of the second digit of the status counter 9 becomes "0" and the other four inputs become "0". Since it is set to "0", the initial value of this counter is all "0". As a result, the input lines 27 and 28 of the status counter 9 all become "L", and the output QA of the first digit and the output QB of the second digit both become "L".

ステータスカウンタ9の下位2桁目がこの初期値“0
0"で始まる表面エコー同期ゲートモードの動作は、パル
サーの送信パルス駆動信号に同期し、測定周期の開始を
示す同期信号(第3図の同期信号33に対応)がラッチ回
路7の入力端子7aに供給され、この端子が“L"となるこ
とで開始される。このときラッチ回路7は、初期設定信
号発生回路22によりロード信号19を受けていてアクティ
ブになっている。そこで、入力信号をラッチして“L"と
なる。ラッチ回路7のこの出力は、イネーブル信号とし
てステータスデコーダ10に供給され、これによりステー
タスデコーダ10がアクテイブになる。このとき、ステー
タスカウンタ9の出力QA,QBは、ともに“L"(又は“0
0")となっているので、ステータスデコーダ10の出力Y0
(信号16)が“L"(出力は“1110")となり、これがプ
リセットカウンタ4とラッチ回路1に加えられ、プリセ
ットカウンタ4はアクテイブになる。同時に出力Y0
“L"がNORゲート23に加えられ、その出力信号23aが“L"
となって、クロック発生回路11がアクテイブになり、ク
ロックパルス11aを発生する。その結果、プリセットカ
ウンタ4にロードされた上位nビットのプリセット値が
クロックパルス11aによりデクリメントされ、設定され
た遅延時間だけクロックパルス11aがカウントされる。
この時間カウントが終了した時点でプリセットカウンタ
4の出力が負論理のORゲート20に加えられる。このと
き、プリセットカウンタ4は、セットされた遅延トリガ
パルスデータに応じたカウントを行って、そのカウント
終了時の最後のクロックパルス11aのカウントで、その
出力13が立下り、それがステータスカウンタ9のステー
タスを勧めるクロックパルスになる。
The second least significant digit of the status counter 9 is the initial value “0”.
The operation in the surface echo synchronization gate mode starting with "0" is synchronized with the transmission pulse drive signal of the pulser, and a synchronization signal (corresponding to the synchronization signal 33 in FIG. 3) indicating the start of the measurement period is input to the input terminal 7a of the latch circuit 7. The latch circuit 7 is activated by receiving the load signal 19 from the initial setting signal generating circuit 22. At this time, the input signal is changed to "L". The output of the latch circuit 7 is supplied to the status decoder 10 as an enable signal, thereby activating the status decoder 10. At this time, the outputs QA and QB of the status counter 9 become Both are “L” (or “0”
0 "), the output Y 0 of the status decoder 10
(Signal 16) becomes “L” (output is “1110”), which is applied to the preset counter 4 and the latch circuit 1, and the preset counter 4 becomes active. "L" output Y 0 is applied to the NOR gate 23 simultaneously, the output signal 23a is "L"
As a result, the clock generation circuit 11 becomes active and generates a clock pulse 11a. As a result, the preset value of the upper n bits loaded in the preset counter 4 is decremented by the clock pulse 11a, and the clock pulse 11a is counted for the set delay time.
At the end of this time counting, the output of the preset counter 4 is applied to the OR gate 20 of negative logic. At this time, the preset counter 4 counts according to the set delay trigger pulse data, and the output 13 falls at the count of the last clock pulse 11a at the end of the count, which is the count of the status counter 9. It becomes a clock pulse that recommends the status.

すなわち、ORゲート20の出力は、ディレーライン9bを
介してデータセレクタ9aに、あるいは直後データセレク
タ9aに出力され、このデータセレクタ9aを介してこれに
より選択された信号がステータスカウンタ9のクロック
端子(CK)に入力される。そこで、ステータスカウンタ
9は、データセレクタ9aの選択に応じた時間だけ遅延調
整された後に“00"から“01"にそのステータスを更新し
て、その出力QA,QBがそれぞれ“H",“L"となる。その結
果、ステータスデコーダ10の出力信号Y1(信号12)が
“L"(出力は“1101")に変化する。なお、データセレ
クタ9aが直接あるいはどの遅延時間を選択するかは、こ
のときラッチ回路1から供給される下位桁の3ビットの
内容に応じて決められる。
That is, the output of the OR gate 20 is output to the data selector 9a via the delay line 9b or to the data selector 9a immediately after, and the signal selected by the data selector 9a is supplied to the clock terminal of the status counter 9 via the data selector 9a. CK). Therefore, the status counter 9 updates its status from "00" to "01" after the delay adjustment by the time according to the selection of the data selector 9a, and outputs QA and QB thereof become "H" and "L", respectively. " As a result, the output signal Y 1 (signal 12) of the status decoder 10 changes to “L” (the output is “1101”). Whether the data selector 9a selects the delay time directly or which time is determined according to the contents of the lower three bits supplied from the latch circuit 1 at this time.

ステータスデコーダ10の出力信号Y1の“L"の信号は、
負論理のANDゲート21に加えられ、このゲート信号にさ
れる。ここで、ANDゲート21の入力の1つはモード選択
スイッチ24の端子24aに接続されていて、“L"の信号が
加えられている。そこで、出力信号Y1の“L"でANDゲー
ト21が開き、コンパレータ8の出力を受入れる。
The “L” signal of the output signal Y 1 of the status decoder 10 is
The gate signal is applied to the negative logic AND gate 21 and converted to a gate signal. Here, one of the inputs of the AND gate 21 is connected to the terminal 24a of the mode selection switch 24, to which an “L” signal is applied. Then, the AND gate 21 opens with the “L” of the output signal Y 1 and receives the output of the comparator 8.

コンパレータ8は、表面エコーSの検出回路であっ
て、その入力端子8aに表面エコーSが加えられたとき
に、コンパレータ8がそれをそのスレショルドにより表
面エコー受信信号を検出して、その検出信号“L"を発生
する。これが負論理でANDゲート21を経てORゲート20を
介し、ステータスカウンタ9へクロックパルスとして入
力される。
The comparator 8 is a detection circuit for the surface echo S. When the surface echo S is applied to the input terminal 8a of the comparator 8, the comparator 8 detects the surface echo reception signal based on the threshold and detects the detection signal " L "occurs. This is input as a clock pulse to the status counter 9 via the AND gate 21 and the OR gate 20 in negative logic.

その結果、ステータスカウンタ9は、このとき“01"
から“10"に更新され、その出力QA,QBはそれぞれ“L",
“H"となる。これを受けてステータスデコーダ10の出力
Y2(信号17)が“L"となり、これがプリセットカウンタ
5とラッチ回路2に加えられてプリセットカウンタ5に
はラッチ回路2からの上位桁nビットがセットされて、
かつこれがアクテイブになる。このとき同時に、ラッチ
回路2の下位桁の3ビットはデータセレクタ9aに送出さ
れ、これにより次に遅延調整する時間が選択される。
As a result, the status counter 9 indicates “01” at this time.
To “10”, and the outputs QA, QB are “L”,
It becomes “H”. In response, the output of the status decoder 10
Y 2 (signal 17) becomes “L”, which is added to the preset counter 5 and the latch circuit 2, and the upper digit n bits from the latch circuit 2 are set in the preset counter 5;
And this becomes active. At this time, at the same time, the lower three bits of the latch circuit 2 are sent to the data selector 9a, thereby selecting the next time for delay adjustment.

そして、前記と同様にNORゲート23の出力信号23aが
“H"となって、クロック発生回路11が動作し、表面エコ
ーSの入力に同期してプリセットカウンタ5の値がクロ
ックパルス11aによりデクリメントされ、設定されたゲ
ート位置パルスのカウント値だけカウントダウンされ
る。このカウント終了時の最後のクロックパルス11aの
カウントで、プリセットカウント5の出力14が立下り、
前記と同一の経過でそれがディレーライン9b,データセ
レクタ9a(又は直接データセレクタ9a)を介してこれに
より選択された信号がステータスカウンタ9にクロック
パルスとして加えられる。
Then, similarly to the above, the output signal 23a of the NOR gate 23 becomes "H", the clock generation circuit 11 operates, and the value of the preset counter 5 is decremented by the clock pulse 11a in synchronization with the input of the surface echo S. The countdown is performed by the set value of the gate position pulse. At the count of the last clock pulse 11a at the end of this count, the output 14 of the preset count 5 falls,
In the same manner as above, the signal selected thereby is applied as a clock pulse to the status counter 9 via the delay line 9b and the data selector 9a (or the direct data selector 9a).

その結果、ラッチ回路2の下位3ビットに応じてステ
ータスカウンタ9のステータスの状態更新時間が調整さ
れた後に、今度は、ステータスカウンタ9が“11"にな
る。その出力QA,QBはそれぞれ“H",“H"になる。これを
受けてステータスデコーダ10の出力Y3(信号18)が“L"
になって、ラッチ回路3から上位nビットおよび下位3
ビットが出力され、プリセットカウンタ6がアクテイブ
となる。同時にこの出力Y3は、前記と同様にクロック発
生回路11の動作信号とされ、さらにそれが出力端子29に
加えられる。このとき同時に、ラッチ回路3の下位桁の
3ビットはデータセレクタ9aに送出され、次に遅延調整
する時間(ゲートパルスのパルス幅の調整に対応)が選
択される。
As a result, after the status update time of the status of the status counter 9 is adjusted according to the lower three bits of the latch circuit 2, the status counter 9 becomes "11". The outputs QA and QB become "H" and "H", respectively. In response, the output Y 3 (signal 18) of the status decoder 10 becomes “L”
From the latch circuit 3 to the upper n bits and lower 3 bits.
The bit is output, and the preset counter 6 is activated. The output Y 3 simultaneously, the a is an operation signal of the clock generating circuit 11 as well, added to further it output terminal 29. At the same time, the lower three bits of the latch circuit 3 are sent to the data selector 9a, and the time for the next delay adjustment (corresponding to the adjustment of the pulse width of the gate pulse) is selected.

プリセットカウンタ6の発生パルス幅に対応する上位
nビットのプリセット値は、クロックパルス11aにより
デクリメントされ、ゲート幅パルスデータに応じたカウ
ントが行われて、そのカウント終了時の最後のクロック
パルス11aのカウントで、プリセットカウント6の出力1
5が立下る。その結果、前記と同一の経過で、ディレー
ライン9b,データセレクタ9a(又は直接データセレクタ9
a)を介してこれにより選択された信号がステータスデ
コーダ10の入力に加えられる。
The preset value of the upper n bits corresponding to the pulse width generated by the preset counter 6 is decremented by the clock pulse 11a, the count is performed according to the gate width pulse data, and the count of the last clock pulse 11a at the end of the count is performed. Output 1 of preset count 6
5 falls. As a result, the delay line 9b and the data selector 9a (or the direct data
The signal thus selected is applied to the input of the status decoder 10 via a).

その結果、ラッチ回路3の下位3ビットに応じてステ
ータスカウンタ9のステータス状態更新時間が調整され
た後に、今度は、ステータスカウンタ9が“00"にな
り、その出力QA,QBはそれぞれ“L",“H"になる。その出
力Y3(信号18)は、“L"から“H"に戻る。そこで、第3
図のゲート幅パルス37を反転した、プリセットカウント
6に設定した時間幅+データセレクタ9aにより選択され
た調整時間(遅延時間あるいは遅延なしの時間)のゲー
ト幅パルスが出力端子29から取出される。
As a result, after the status state update time of the status counter 9 is adjusted in accordance with the lower three bits of the latch circuit 3, the status counter 9 becomes "00" and its outputs QA and QB become "L". , “H”. The output Y 3 (signal 18) returns from “L” to “H”. Therefore, the third
A gate width pulse obtained by inverting the gate width pulse 37 shown in the figure and having the time width set in the preset count 6 + the adjustment time (delay time or no delay time) selected by the data selector 9a is extracted from the output terminal 29.

なお、この場合ステータスカウンタ9が“00"にな
り、ステータスデコーダ10にこの出力が加えられるが、
このとき後述するように初期設定信号発生回路22の動作
に応じてステータスデコーダ10はデイセーブルされるこ
とになるのでY0の出力は発生しない。
In this case, the status counter 9 becomes "00" and this output is added to the status decoder 10.
Since the status decoder 10 will be Day disabled in response to operation of the initial setting signal generating circuit 22 as will be described later this time, the output of the Y 0 is not generated.

すなわち、出力Y3の“L"から“H"の変化で初期設定信
号発生回路22がトリガされて、所定の時間幅“L"となる
ロード信号19が発生する。このロード信号19は、各プリ
セットカウンタ4,5,6とラッチ回路7、そしてステータ
スカウンタ9のそれぞれのロード端子に加えられてこれ
により各カウンタに初期値が設定される。ステータスカ
ンタ9は、これにより表面エコー同期ゲートモードの初
期値“00"に設定されて、前記と同様な動作が繰り返さ
れる。また、ラッチ回路7は、ロード信号19によりクリ
アされてその出力信号7bが“H"に戻り、次のデータのロ
ード状態になる。これによりステータスデコーダ10はデ
イセーブルされる。その結果、次の同期信号が、その入
力端子7aに加わるまで、ステータスデコーダ10は動作し
ない。
That is, the initial setting signal generating circuit 22 in the change of "H" to "L" output Y 3 is triggered, the load signal 19 which is a predetermined time width "L" is generated. This load signal 19 is applied to each load terminal of each of the preset counters 4, 5, 6 and the latch circuit 7, and the status counter 9, whereby an initial value is set in each counter. The status counter 9 is thereby set to the initial value "00" of the surface echo synchronization gate mode, and the same operation as described above is repeated. Further, the latch circuit 7 is cleared by the load signal 19, the output signal 7b returns to "H", and enters the next data load state. As a result, the status decoder 10 is disabled. As a result, the status decoder 10 does not operate until the next synchronization signal is applied to its input terminal 7a.

さて、以上の動作では、ディレーライン9bの時間をデ
ータセレクタ9aで選択することにより遅延トリガパルス
34のパルス幅と表面エコー検出時点からのゲート位置パ
ルス36のパルス幅及びゲート幅パルス37のパルス幅をそ
れぞれクロック周期以下の単位で延長してその微調整が
できる。
In the above operation, the delay trigger pulse is selected by selecting the time of the delay line 9b by the data selector 9a.
The pulse width of the pulse 34 and the pulse width of the gate position pulse 36 and the pulse width of the gate width pulse 37 from the point of time when the surface echo is detected can be extended by a unit equal to or less than the clock cycle, and finely adjusted.

ところで、クロック発生回路11は、第2図にその一例
を示している。まず、入力端子11bの入力が“L"の場
合、NANDゲート25の出力端子25aは“H"となり、ディレ
ーライン26により20ns遅れた出力が入力端子25bに加え
られ、20ns後れてこれが“H"になる。インバータ26a
は、出力端子25aの出力を反転してそれを出力端子11cに
クロックパルス11aとして発生し、出力端子25aが“H"に
維持されているので“L"となる。
FIG. 2 shows an example of the clock generation circuit 11. First, when the input of the input terminal 11b is "L", the output terminal 25a of the NAND gate 25 becomes "H", an output delayed by 20ns is applied to the input terminal 25b by the delay line 26, and after 20ns, the output becomes "H". "become. Inverter 26a
Generates the clock pulse 11a at the output terminal 11c by inverting the output of the output terminal 25a, and becomes "L" since the output terminal 25a is maintained at "H".

次に、出力端子11bが“H"とされると、入力端子25bは
“H"であることからNANDゲート25の出力25aは“L"とな
り、ディレーライン26により20ns遅れて入力端子25bが
“L"となる。そこで、出力端子25aは“H"に戻る。この2
5aの“H"信号は、再び20ns遅れて入力端子25bに現れ、
出力端子25aは“L"になる。この繰返しにより、11aには
約周期40nsのクロックパルスが出力される。
Next, when the output terminal 11b is set to “H”, since the input terminal 25b is “H”, the output 25a of the NAND gate 25 becomes “L”, and the input terminal 25b is set to “L” with a delay of 20 ns by the delay line 26. L ". Then, the output terminal 25a returns to "H". This 2
The “H” signal of 5a appears again at the input terminal 25b with a delay of 20 ns,
The output terminal 25a becomes "L". By this repetition, a clock pulse of about 40 ns is output to 11a.

次に入力端子11bが“L"となると、入力端子25aは“H"
となって、出力端子11cは“L"となって、クロックパル
ス11aは出力を停止する。この周期クロック発生回路11
により、入力端子11bの信号に同期して開始するクロッ
クパルス11aを得ることができる。
Next, when the input terminal 11b becomes “L”, the input terminal 25a becomes “H”.
As a result, the output terminal 11c becomes "L", and the output of the clock pulse 11a stops. This periodic clock generation circuit 11
Thereby, the clock pulse 11a which starts in synchronization with the signal of the input terminal 11b can be obtained.

このような発振回路により、クロック発生回路11を構
成すると、そのクロックパルスの周期は、40nsと比較的
短い周期となっているが、この周期がステータスデコー
ダ10の出力の切換え動作期間よりも長い場合には、クロ
ック発生回路11は、連続的に起動されるので、クロック
パルスが連続的に発生する。しかし、このクロックパル
スの周期がさらに短くなれば、ステータスデコーダ10の
出力の切換え動作期間がそれより長くなるのでそれに応
じて一旦クロックパルスの発生が停止して再起動される
ことになる。したがって、このような制御回路(ステー
タスカウンタ9とステータスデコーダ10からなる制御回
路)では、5nsやそれ以下というようにクロックパルス
の周期が短くなればなるほど有効になる。
When the clock generation circuit 11 is configured by such an oscillation circuit, the cycle of the clock pulse is a relatively short cycle of 40 ns, but this cycle is longer than the switching operation period of the output of the status decoder 10. In this case, since the clock generation circuit 11 is continuously activated, clock pulses are continuously generated. However, if the cycle of the clock pulse is further shortened, the output switching operation period of the status decoder 10 becomes longer, so that the generation of the clock pulse is temporarily stopped and restarted accordingly. Therefore, in such a control circuit (control circuit including the status counter 9 and the status decoder 10), the more effective the shorter the cycle of the clock pulse, such as 5 ns or less.

なお、基本的には、この発明は、このようにクロック
パルスの発生を各プリセットカウンタ4,5,6のカウント
終了に応じて停止させ、これらカウンタの起動に応じて
同時に起動させるものであるが、クロックパルス11aの
周期が前記のように長い場合には、表面エコーSの検出
時点を除いては連続的にクロックパルス11aはクロック
発生回路11から出力されている。これでもこの発明の効
果は達成される。しかし、クロックの周期が長い場合に
も、カウンタのカウント終了と同時にクロックの発生を
停止させるには、各プリセットカウンタ4,5,6の出力を
クロック発生回路11に動作停止信号として直接加えるよ
うにすればよい。
Basically, the present invention stops the generation of the clock pulse in accordance with the end of the count of each of the preset counters 4, 5, and 6, and simultaneously starts the generation in response to the activation of these counters. When the cycle of the clock pulse 11a is long as described above, the clock pulse 11a is continuously output from the clock generation circuit 11 except for the time point at which the surface echo S is detected. Even with this, the effect of the present invention is achieved. However, even if the clock cycle is long, in order to stop the clock generation at the same time when the counter count ends, the outputs of the preset counters 4, 5, and 6 should be directly applied to the clock generation circuit 11 as an operation stop signal. do it.

次に、モード選択スイッチ24が端子24b側に選択され
た主同期ゲートモードについて説明する。
Next, the main synchronous gate mode in which the mode selection switch 24 is selected on the terminal 24b side will be described.

ステータスカウンタ9の入力端子のうち信号27の入力
端子は、前記の選択により“H"となり、接地された入力
信号29の入力端子は、全て“L"となる。そこで、ステー
タスカウンタ9にセットされる初期値は“10"となり、
第1桁目の出力QAは“L",第2桁目の出力QBは“H"とな
る。
The input terminal of the signal 27 among the input terminals of the status counter 9 becomes “H” by the above selection, and the input terminals of the grounded input signal 29 all become “L”. Therefore, the initial value set in the status counter 9 is "10",
The output QA of the first digit is "L" and the output QB of the second digit is "H".

この状態で入力端子7aに同期信号が入力されると、ス
テータスデコーダ10の出力Y2(信号17)が“L"となり、
まず、プリセットカウンタ5が動作してゲート幅パルス
発生までの期間のクロックパルス11aのカウントが行わ
れる。この場合には、プリセットカウンタ5に同期信号
発生時点からの期間がカウントデータの初期値として設
定される。そして、以後のゲート幅パルスの発生は、次
にプリセットカウンタ6が選択されて動作し、表面エコ
ー同期モードの動作の場合と同様である。
When a synchronization signal is input to the input terminal 7a in this state, the output Y 2 (signal 17) of the status decoder 10 becomes “L”,
First, the preset counter 5 operates to count the clock pulse 11a until the gate width pulse is generated. In this case, the period from the time of generation of the synchronization signal is set in the preset counter 5 as the initial value of the count data. Then, the subsequent generation of the gate width pulse is performed in the same manner as in the case of the operation in the surface echo synchronous mode, with the preset counter 6 being selected and operated.

以上説明してきたが、実施例では、カウンタの設定デ
ータとデータセレクタの遅延時間選択データとをラッチ
回路にセットされたデータのうちの上位ビットと下位ビ
ットに分割して割当てているが、これは、カウンタ側の
ラッチ回路とデータセレクタ側のラッチ回路とを分離
し、それぞれ異なるラッチ回路にデータをセットするよ
うにしてもよい。この場合には、ゲートパルス発生まで
の時間とゲートパルス幅の両者を調整する必要はなく、
ゲートパルス発生までの時間だけ、あるいはゲートパル
スの発生タイミングだけをディレーラインにより遅延調
整するようにしてもよい。
As described above, in the embodiment, the setting data of the counter and the delay time selection data of the data selector are divided and assigned to the upper bit and the lower bit of the data set in the latch circuit. Alternatively, the latch circuit on the counter side and the latch circuit on the data selector side may be separated, and data may be set in different latch circuits. In this case, it is not necessary to adjust both the time until the gate pulse is generated and the gate pulse width.
Only the time until the generation of the gate pulse or only the generation timing of the gate pulse may be adjusted by the delay line.

また、実施例では、ステータスカウンタとステータス
デコーダの組み合わせでプリセットカウンタとクロック
発生回路とを選択して動作させる制御信号を発生してい
るが、これは、他の回路で構成される制御回路であって
もよいことはもちろんである。
In the embodiment, the control signal for operating the preset counter and the clock generation circuit by selecting the preset counter and the clock generation circuit by the combination of the status counter and the status decoder is generated. However, this is a control circuit composed of other circuits. Of course, it is possible.

[発明の効果] 以上の説明から理解できるように、この発明にあって
は、表面エコー検出からゲートパルス発生までの期間を
カウントするカウンタと発生ゲートパルスのパルス幅に
対応する期間をカウントするカウンタとの2つのカウン
タを設け、表面エコー検出に応じてこれらカウンタとク
ロック発生回路とを同時に動作させて時間カウントをす
るように制御しているので、表面エコーの検出に応じて
ゲートパルス発生までの時間カウントが開始される。さ
らにゲート幅についてゲートパルス発生のカウントが終
了した時点で改めてパルス幅のカウンタとクロック発生
回路とを動作させるようにしているので、時間カウント
を行う基準となるクロックパルスに制限を受けず、その
連続性から開放される。
[Effects of the Invention] As can be understood from the above description, according to the present invention, a counter that counts a period from detection of a surface echo to generation of a gate pulse and a counter that counts a period corresponding to the pulse width of a generated gate pulse. Are controlled so that the counter and the clock generation circuit are operated simultaneously to count the time in response to the detection of the surface echo. Time counting starts. Further, the pulse width counter and the clock generation circuit are operated again when the count of the gate pulse generation for the gate width is completed. Freed from sex.

また、遅延回路を挿入して時間計測の基準クロックの
周期以下の時間幅でゲートパルスの発生タイミングある
いは出力幅とを調整できるようにしているので、時間計
測の基準となるクロックよりも高い精度で発生タイミン
グやパルス幅を選択することができる。したがって、ク
ロックの周期をさほど高くしなくても、ジッタがほとん
どなく、安定した回路動作で高精度のタイミングやパル
ス幅のゲートパルスを発生させることが可能になる。
In addition, since a delay circuit is inserted to adjust the generation timing or the output width of the gate pulse with a time width equal to or less than the period of the reference clock for time measurement, the accuracy is higher than the clock used as the reference for time measurement. Generation timing and pulse width can be selected. Therefore, it is possible to generate a gate pulse with high precision timing and pulse width by stable circuit operation with almost no jitter without increasing the clock cycle so much.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、この発明の超音波測定装置のゲートパルス発
生回路を適用した一実施例のブロック図、第2図は、そ
のクロック発生回路のブロック図、第3図は、超音波測
定における一般的なゲートパルス発生のタイミングの説
明図である。 1,2,3,7……ラッチ回路、4,5,6……プリセットカウン
タ、7……ラッチ回路、8……コンパレータ、9……ス
テータスカウンタ、10……ステータスデコーダ、11……
クロック発生回路、22……初期値設定信号発生回路。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment to which a gate pulse generating circuit of an ultrasonic measuring apparatus according to the present invention is applied, FIG. 2 is a block diagram of a clock generating circuit thereof, and FIG. FIG. 4 is an explanatory diagram of typical gate pulse generation timing. 1,2,3,7 ... Latch circuit, 4,5,6 ... Preset counter, 7 ... Latch circuit, 8 ... Comparator, 9 ... Status counter, 10 ... Status decoder, 11 ...
Clock generation circuit, 22... Initial value setting signal generation circuit.

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】一定の周期でクロックを発生するクロック
発生回路と、前記クロックの周期を基準として表面エコ
ー検出からゲートパルス発生までの期間を示す第1のデ
ータが設定され、前記クロックを第1のデータ分カウン
トする第1のカウンタと、前記クロックの周期を基準と
して前記ゲートパルスのパルス幅に対応する期間を示す
第2のデータが設定され、前記クロックを第2のデータ
分カウントする第2のカウンタと、外部からデータが設
定されこの設定されたデータに応じて遅延時間が決定さ
れ前記第1または第2のカウンタの少なくともいずれか
のカウント終了信号を受けてこれを遅延させて出力する
遅延回路と、前記表面エコーの検出に応じて第1のカウ
ンタと前記クロック発生回路とを動作させ、前記第1の
カウンタのカウント終了に応じて、あるいは前記遅延回
路により遅延された前記第1のカウンタの終了信号に応
じて前記第2のカウンタと前記クロック発生回路とを動
作させる制御回路とを備え、前記第2のカウンタの動作
に応じて前記ゲートパルスを生成し、前記第2のカウン
タの動作までの時間又は前記ゲートパルスの後縁を、前
記クロックの周期より短い時間の範囲で前記外部から設
定されたデータに応じて前記第1又は第2のカウンタの
カウント終了信号を遅延させることにより調整すること
を特徴とする超音波測定装置のゲートパルス発生回路。
1. A clock generating circuit for generating a clock at a constant cycle, and first data indicating a period from detection of a surface echo to generation of a gate pulse based on the cycle of the clock are set, and the clock is set to a first data. And a second data indicating a period corresponding to the pulse width of the gate pulse with reference to the cycle of the clock, and a second counter for counting the clock by the second data. And a delay in which data is set from the outside and a delay time is determined according to the set data, and a count end signal of at least one of the first and second counters is received and delayed and output. Operating the first counter and the clock generation circuit in response to the detection of the surface echo, and counting the first counter. A control circuit for operating the second counter and the clock generation circuit in response to termination or in response to a termination signal of the first counter delayed by the delay circuit; The gate pulse is generated in accordance with an operation, and the time until the operation of the second counter or the trailing edge of the gate pulse is set in accordance with the data set from the outside in a range of time shorter than the cycle of the clock. A gate pulse generating circuit for an ultrasonic measuring device, wherein the adjustment is performed by delaying a count end signal of the first or second counter.
【請求項2】前記外部から設定されたデータは、前記第
1のデータあるいは前記第2のデータとともに行われ、
前記第1又は第2のデータが上位桁とされ、前記外部か
ら設定されたデータが下位桁とされることを特徴とする
請求項1記載の超音波測定装置のゲートパルス発生回
路。
2. The externally set data is performed together with the first data or the second data,
2. The gate pulse generation circuit according to claim 1, wherein the first or second data is set to an upper digit, and the data set from the outside is set to a lower digit.
【請求項3】前記制御回路が前記第1のカウンタのカウ
ント終了から次にクロック発生回路を動作させる期間よ
りもクロックの周期が長いものであって、前記制御回路
が表面エコーの検出に応じて前記第1のカウンタと前記
クロック発生回路とを動作させ、前記第1のカウンタの
カウント終了に応じて直接又は前記遅延回路により時間
調整をして前記第2のカウンタを動作させ、前記第1の
カウンタのカウント終了に応じて直接前記第2のカウン
タを動作させたときには前記第2のカウンタのカウント
終了信号を前記遅延回路により遅延させることを特徴と
する請求項1又は2記載の超音波測定装置のゲートパル
ス発生回路。
3. The control circuit according to claim 1, wherein a period of a clock is longer than a period after the count of the first counter is completed and a clock generator is operated next, and the control circuit responds to the detection of a surface echo by detecting the surface echo. Operating the first counter and the clock generation circuit, adjusting the time directly by the delay circuit in response to the end of the count of the first counter or adjusting the time by the delay circuit, operating the second counter, 3. The ultrasonic measurement apparatus according to claim 1, wherein when the second counter is directly operated in response to the end of the count, the count end signal of the second counter is delayed by the delay circuit. Gate pulse generation circuit.
JP2332285A 1990-11-29 1990-11-29 Gate pulse generation circuit of ultrasonic measurement equipment Expired - Lifetime JP2631766B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2332285A JP2631766B2 (en) 1990-11-29 1990-11-29 Gate pulse generation circuit of ultrasonic measurement equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2332285A JP2631766B2 (en) 1990-11-29 1990-11-29 Gate pulse generation circuit of ultrasonic measurement equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04198855A JPH04198855A (en) 1992-07-20
JP2631766B2 true JP2631766B2 (en) 1997-07-16

Family

ID=18253245

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2332285A Expired - Lifetime JP2631766B2 (en) 1990-11-29 1990-11-29 Gate pulse generation circuit of ultrasonic measurement equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2631766B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04198855A (en) 1992-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2539600B2 (en) Timing generator
US4845390A (en) Delay control circuit
US4150432A (en) Frequency counter and method
EP2026469A1 (en) Circuit device and method of measuring clock jitter
GB1588779A (en) Clock circuitry for computers
JP2003513249A (en) Apparatus for measuring the spacing between signal edges
US6215345B1 (en) Semiconductor device for setting delay time
US7046094B2 (en) Method and ring oscillator circuit for measuring circuit delays over a wide operating range
US5744992A (en) Digital phase shifter
US4168467A (en) Measurement of pulse duration
US4250454A (en) Electronic trigger for a radio frequency source
JP2631766B2 (en) Gate pulse generation circuit of ultrasonic measurement equipment
US4926115A (en) Unique phase difference measuring circuit
JP2544673B2 (en) Gate pulse generation circuit for ultrasonic measurement equipment
JPS6199415A (en) Frequency counter device
JPS62147371A (en) Pulse width meter
US6646956B2 (en) One-shot signal generating circuit
SU1417173A2 (en) Pulsed phase discriminator
SU1626247A1 (en) Transient duration meter
JP2591849B2 (en) Test circuit
US5668983A (en) Precise stopping of a high speed microprocessor clock
SU1589052A1 (en) Ultrasonic echo-pulse thickness gauge
JP3080480B2 (en) Signal delay time measuring device
JP2824844B2 (en) Time measurement circuit of ultrasonic measuring device
KR940009815B1 (en) Frequency detecting apparatus and method using directport of microcomputer