JP2627283B2 - Thermal head and method of manufacturing the same - Google Patents

Thermal head and method of manufacturing the same

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JP2627283B2 JP62280419A JP28041987A JP2627283B2 JP 2627283 B2 JP2627283 B2 JP 2627283B2 JP 62280419 A JP62280419 A JP 62280419A JP 28041987 A JP28041987 A JP 28041987A JP 2627283 B2 JP2627283 B2 JP 2627283B2
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貞純 白石
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、抵抗値表示機能を有したサーマルヘッド及
びその製造方法に関するものである。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thermal head having a resistance display function and a method of manufacturing the same.

〔発明の概要〕[Summary of the Invention]

本発明は、発熱抵抗体及び該発熱抵抗体に給電するた
めの電極を有し、上記発熱抵抗体を適正に駆動するため
の電圧やパルス幅を設定する行為を簡略化するために、
上記発熱抵抗体の抵抗値を表示する抵抗値表示回路を有
するサーマルヘッドにおいて、該抵抗値表示回路が発熱
体形成基板上に設けられ、少なくとも発熱抵抗体と同一
の材料から成る抵抗を上記抵抗値表示回路の構成要素と
すること。又、2進値等により抵抗値を表示するため
に、発熱抵抗体を抵抗値に応じて選択的に回路を切断す
る上で、該切断の箇所が上記回路内の抵抗であること。
又、上記切断の手段が、レーザー照射や、上記回路内の
抵抗への電圧印加により発生するジュール熱による抵抗
焼損であることを特徴としている。
The present invention has a heating resistor and an electrode for supplying power to the heating resistor, and in order to simplify the act of setting a voltage and a pulse width for appropriately driving the heating resistor,
In a thermal head having a resistance value display circuit for displaying a resistance value of the heating resistor, the resistance value display circuit is provided on a heating element forming substrate, and at least a resistance made of the same material as the heating resistor is set to the resistance value. Be a component of the display circuit. Further, in order to selectively cut off the circuit of the heating resistor in accordance with the resistance value in order to display the resistance value by a binary value or the like, the cut-off portion is a resistor in the circuit.
The cutting means is characterized by resistance burning due to Joule heat generated by laser irradiation or application of a voltage to a resistor in the circuit.

上記の構造,製造方法により、従来の構造による抵抗
値表示回路に較べ、製造上の煩雑さ、手間が大幅に簡略
化され、従って、安価で使い勝手の良いサーマルヘッド
を提供できるものである。
With the above structure and manufacturing method, the manufacturing complexity and labor are greatly simplified as compared with the resistance value display circuit having the conventional structure, and therefore, a low-cost and easy-to-use thermal head can be provided.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

サーマルヘッドにおいて、発熱抵抗体の抵抗値は、製
造上ある程度の個体間ばらつきを生じる。
In the thermal head, the resistance value of the heat generating resistor causes some variation between individuals in manufacturing.

一方、発熱抵抗体で発生させる熱量は、抵抗値によっ
て変化するので、上記熱量を一定に、つまり印字品位を
ばらつかせないために、抵抗値に応じて発熱抵抗体への
印加電圧や印加パルス幅をサーマルヘッドひとつずつ調
整することが必要である。
On the other hand, the amount of heat generated by the heating resistor changes depending on the resistance value. Therefore, in order to keep the above-mentioned heat amount constant, that is, to keep print quality from varying, the voltage or pulse applied to the heating resistor according to the resistance value is changed. It is necessary to adjust the width of each thermal head one by one.

従来、上記の調整作業を簡略化することを目的とし、
個々のサーマルヘッドの発熱抵抗体の平均抵抗値を2進
値で表示する方法として、第6図のように、発熱体形成
基板21に接続されたプリント回路基板23上に数ビットの
ビットスイッチ22を設け、上記発熱抵抗体の平均抵抗値
の高低を、上記ビットスイッチによりコード表示してい
た例がある。別の従来例としては、第7図に示すよう
に、発熱体形成基板41に接続されたフレキシブルプリン
ト回路42に設けられたコード識別用の配線43−1、43−
2をaあるいはbのラインで切断することにより、前記
ビットスイッチを用いた例と同様に発熱抵抗体の平均抵
抗値をコード表示する方法が開示されている。(例えば
特開昭62−90264) 〔発明が解決しようとする問題点〕 上述の従来の例においては、発熱抵抗体の抵抗値をコ
ード表示する抵抗値表示回路が、発熱体形成基板の外に
設けられているため、第6図や第7図に示すようなコー
ド表示が可能な状態までサーマルヘッドの製造工程をす
すめなければコード表示が不可能である。一般にサーマ
ルヘッドの発熱抵抗体の抵抗値の測定は、少なくとも発
熱体形成基板の状態で行われ、該抵抗値の測定から、抵
抗値のコード表示を行う工程の間には、他の複数の工程
が存在することになる。即ち、上記の抵抗値測定の結果
を上記コード表示に利用するならば、発熱体形成基板と
一対一の対応のとれた抵抗値の記録を行う必要が生じ
る。仮に該記録を実施したとしても、誤りなく記録と発
熱体形成基板の対応をとることは極めて煩雑な作業とな
る。又、ビットスイッチの設定作業や、フレキシブルプ
リント回路の切断は、その自動化が容易でないことは明
らかであろう。
Conventionally, for the purpose of simplifying the above adjustment work,
As a method of displaying the average resistance value of the heating resistor of each thermal head as a binary value, as shown in FIG. 6, a bit switch 22 of several bits is provided on a printed circuit board 23 connected to a heating element forming board 21. There is an example in which the height of the average resistance value of the heating resistor is indicated by a code using the bit switch. As another conventional example, as shown in FIG. 7, wirings 43-1 and 43- for code identification provided on a flexible printed circuit 42 connected to a heating element forming substrate 41 are provided.
Disclosed is a method of displaying the average resistance value of the heating resistor in a code by cutting 2 at the line a or b, similarly to the example using the bit switch. (For example, JP-A-62-90264) [Problems to be Solved by the Invention] In the above-described conventional example, a resistance value display circuit for displaying the code of the resistance value of the heating resistor is provided outside the heating element forming substrate. Therefore, the codes cannot be displayed unless the manufacturing process of the thermal head is advanced until the codes can be displayed as shown in FIGS. 6 and 7. Generally, the measurement of the resistance value of the heating resistor of the thermal head is performed at least in the state of the heating element forming substrate, and a plurality of other steps are performed between the measurement of the resistance value and the step of displaying the code of the resistance value. Will exist. That is, if the result of the resistance value measurement is used for the code display, it is necessary to record the resistance value corresponding to the heating element forming substrate on a one-to-one basis. Even if the recording is performed, it is an extremely complicated operation to make the correspondence between the recording and the heating element forming substrate without error. Further, it is apparent that the automation of the setting work of the bit switch and the cutting of the flexible printed circuit is not easy.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明は、発熱体形成基板上に発熱抵抗体の抵抗値を
コード表示する抵抗表示回路を設け、かつ上記発熱抵抗
体と同一の材料から成る抵抗を上記抵抗表示回路の構成
要素とし、該抵抗の選択的な切断によって発熱抵抗体抵
抗値のコード表示を行うものである。
According to the present invention, there is provided a resistance display circuit for displaying the resistance value of a heating resistor on a heating element forming substrate, and using a resistor made of the same material as the heating resistor as a component of the resistance display circuit. The code display of the resistance value of the heating resistor is performed by the selective cutting of.

〔作用〕[Action]

発熱体形成基板上に上記抵抗値表示回路を設けること
により、大半のウエハー上に複数のサーマルヘッドを作
り込むという一般的なサーマルヘッドの製造工程におい
て、上記ウエハーを分割して個々のサーマルヘッドに分
離独立させる以前に、発熱抵抗体の抵抗値をコード表示
し得る。つまり一般的に行われているウエハー状態での
抵抗値を測定作業に引き続き上記コード表示の作業を行
うことが可能となる。従って、従来煩雑であった発熱抵
抗体の抵抗値の測定結果の記録あるいは記憶と、個々の
サーマルヘッドとの対応は容易かつ誤りのないものとし
得る。
In a general thermal head manufacturing process in which a plurality of thermal heads are formed on most wafers by providing the resistance value display circuit on the heating element forming substrate, the wafer is divided into individual thermal heads. Before the separation, the resistance value of the heating resistor can be displayed in code. That is, it is possible to perform the above-described code display operation subsequent to the generally performed measurement operation of the resistance value in the wafer state. Therefore, it is possible to easily and without error to record or store the measurement result of the resistance value of the heating resistor, which is conventionally complicated, and to correspond to each thermal head.

一方、発熱体形成基板上に設けられた上記抵抗表示回
路の構成要素として、上記発熱抵抗体と同一の材料から
成る抵抗を備えることにより、コード表示のための回路
の切断作業が容易となる。即ち、発熱抵抗体は、一般に
光を吸収し易い暗系色材料が用いられ、結果的にレーザ
光等のエネルギー密度の高い光線によって容易に加熱切
断され得るものである。又、上記抵抗の両端に適宜電圧
を印加すれば、該抵抗において発生したジュール熱によ
る抵抗焼損、即ち切断を容易に実現できるものである。
On the other hand, by providing a resistor made of the same material as the heating resistor as a component of the resistance display circuit provided on the heating element forming substrate, it becomes easy to cut a circuit for code display. That is, the heating resistor is generally made of a dark color material that easily absorbs light, and as a result, can be easily heated and cut by a light beam having a high energy density such as a laser beam. Also, by appropriately applying a voltage to both ends of the resistor, resistance burning due to Joule heat generated in the resistor, that is, cutting can be easily realized.

尚、発熱体形成基板上に設けられた上記抵抗値表示回
路は、すべてサマールヘッドの不可要素である抵抗材料
と導体を構成要素としているため、他の特殊な材料や、
加工工程を必要としないため合理的である。
In addition, since the resistance value display circuit provided on the heating element forming substrate is composed of a resistive material and a conductor, which are all unacceptable elements of the Samar head, other special materials,
It is reasonable because no processing step is required.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の幾つかの実施例を図面に基づいて説明
する。
Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は、発熱抵抗体と電極がすでに形成されたシリ
アルサーマルヘッドの製造加工途中の要部平面図であっ
て、一般にはより大判、例えば100mm×200mmのウエハー
上に図示したサーマルヘッドのパターンが多数繰り返し
形成されている。発熱体形成基板1上には、発熱抵抗体
4−1〜4−6及び、該発熱抵抗体と接続して選択電極
3−1〜3−6と共通電極が、抵抗材料の蒸着やスパッ
タ、導体の蒸着やスパッタ等による膜づけと写真食刻等
によるパターニング工程を経て、あるいは、スクリーン
印刷法等を用いた製造工程を経て形成されている。
FIG. 1 is a plan view of a main part of a serial thermal head in which a heating resistor and an electrode have already been formed during a manufacturing process. Generally, a pattern of a thermal head illustrated on a larger-sized wafer, for example, a 100 mm × 200 mm wafer is shown. Are repeatedly formed. On the heating element forming substrate 1, the heating resistors 4-1 to 4-6 and the selection electrodes 3-1 to 3-6 connected to the heating resistors and the common electrode are formed by vapor deposition or sputtering of a resistance material. It is formed through a filming process by vapor deposition or sputtering of a conductor and a patterning process by photolithography or a manufacturing process using a screen printing method or the like.

6−1,6−2及び5−1,5−2は本発明に係わる抵抗値
表示回路を構成する抵抗及び導体路であって、上記共通
電極2と共に抵抗値表示回路を構成しており、上記2つ
の抵抗6−1,6−2は上記共通電極2に対し並列接続さ
れ、該共通電極2と相対する側でそれぞれ導体路5−1,
5−2と接続されている。
Reference numerals 6-1 and 6-2 and 5-1 and 5-2 denote resistors and conductor paths that constitute the resistance value display circuit according to the present invention, and constitute a resistance value display circuit together with the common electrode 2. The two resistors 6-1 and 6-2 are connected in parallel to the common electrode 2, and conductor paths 5-1 and 5-1 are provided on the side facing the common electrode 2, respectively.
Connected to 5-2.

上記発熱抵抗体を成す材料は、薄膜であれば一般にTa
−N,Ta−Si,Ta−SiO2等であって、該薄膜の厚みは300Å
〜4000Åである。厚膜であればRu−O等の抵抗材料が5
〜30μmの厚みをもって発熱抵抗体を形成している。
又、上記共通電極及び選択電極を成す材料として、一般
に0.5〜3μmの厚みのAu,Cu,Alが用いられ、必要に応
じて該金属層の下にNi−CrやCrの層が設けられている。
The material of the heating resistor is generally Ta if it is a thin film.
-N, a Ta-Si, Ta-SiO 2 or the like, the thickness of the thin film 300Å
~ 4000Å. For a thick film, use 5 resistive materials such as Ru-O.
The heating resistor is formed with a thickness of about 30 μm.
Further, as a material for the common electrode and the selection electrode, generally, Au, Cu, Al having a thickness of 0.5 to 3 μm is used, and a Ni—Cr or Cr layer is provided below the metal layer as necessary. I have.

上記抵抗表示回路を共通電極と共に構成している抵抗
6−1,6−2及び導体路5−1,5−2はそれぞれ上記発熱
抵抗体と同一の材料、上記電極と同一の材料から成って
おり、それぞれ発熱抵抗体のパターニング形成あるいは
印刷形成と同時に、上記電極のパターニング形成あるい
は印刷形成と同時に形成される。発熱抵抗体や電極のパ
ターン形成に用いるフォトマスクやスクリーンマスク
に、上記抵抗や導体路のパターンをあらかじめ設けてお
けば、上記の同時形成が可能である。
The resistors 6-1 and 6-2 and the conductor paths 5-1 and 5-2 which constitute the resistance display circuit together with the common electrode are made of the same material as the heating resistor and the same material as the electrode, respectively. The electrodes are formed simultaneously with the patterning or printing of the heating resistor and simultaneously with the patterning or printing of the electrodes. The above-described simultaneous formation is possible by providing a pattern of the resistor or the conductor path in advance on a photomask or a screen mask used for forming a pattern of the heating resistor or the electrode.

第1図(a)では、発熱抵抗体4−1〜4−6を含む
回路と抵抗値表示回路とは共通電極2で結ばれている
が、第1図(b)のように上記2つの回路は分離形成さ
れていてもかまわない。この場合、抵抗表示回路には、
共通導体路7が形成される。
In FIG. 1A, the circuit including the heating resistors 4-1 to 4-6 and the resistance value display circuit are connected by the common electrode 2. However, as shown in FIG. The circuit may be formed separately. In this case, the resistance display circuit
A common conductor track 7 is formed.

上述のサーマルヘッドにおいて、発熱抵抗体4−1〜
4−6の平均抵抗値の製品規格が90Ω以上110Ω以下で
あるとする。該サーマルヘッドによる印字の濃度の個体
差を少なくするために、プリンターにおいては、平均抵
抗値に応じて発熱抵抗体で消費するエネルギーの調整を
行うのであるが、本実施例のようなサーマルヘッドで
は、該サーマルヘッドの上記平均抵抗値を製品規格内で
3〜4程度のランク分類をし、あらかじめプリンターの
サーマルヘッド駆動回路側で上記ランク分類に対応した
エネルギー調整を行うのが通常である。本実施例におい
て、明細書第11頁に表示される表(以下、第1表と言
う)に示すように平均抵抗値をA〜Dランクに4分類す
るものとすると、2ビットコートで該ランクを表現でき
る。該ランクのコード表示は、前記抵抗値表示回路にお
いて、第1表のように抵抗6−1,6−2を発熱抵抗体の
平均抵抗値に応じて選択切断すればよい。例えば、103
Ωの平均抵抗値を有するサーマルヘッド個体では、第2
図に示すような抵抗値表示回路とすれば良い。
In the above-described thermal head, the heating resistors 4-1 to 4-1
It is assumed that the product standard of the average resistance value of 4-6 is 90Ω or more and 110Ω or less. In order to reduce individual differences in the density of printing by the thermal head, in the printer, the energy consumed by the heating resistor is adjusted according to the average resistance value. Usually, the average resistance value of the thermal head is classified into ranks of about 3 to 4 within the product standard, and energy adjustment corresponding to the rank classification is performed in advance on the thermal head driving circuit side of the printer. In this embodiment, assuming that the average resistance value is classified into four ranks A to D as shown in a table (hereinafter, referred to as Table 1) shown on page 11 of the specification, the rank is determined by 2-bit coating. Can be expressed. In order to display the code of the rank, the resistors 6-1 and 6-2 may be selectively cut off in the resistance value display circuit according to the average resistance value of the heating resistor as shown in Table 1. For example, 103
In a thermal head having an average resistance of Ω, the second
What is necessary is just to make the resistance value display circuit as shown in the figure.

次に、上記抵抗値表示回路の切断手段の実施例につい
て説明する。
Next, an embodiment of the cutting means of the resistance value display circuit will be described.

第4図は、第1図に示したサーマルヘッドが複数形成
されたウエハーであって、ウエハー面方向に運動するX
−Yテーブルに真空吸着されている。該テーブル上方に
はYAGなどのレーザー発振源があり、上記テーブルの移
動によりウエハーのあらゆる箇所にレーザー照射するこ
とが可能である。このようなレーザー照射装置を用い
て、第8図に示すフローチャートの手順で、抵抗値測定
から抵抗表示回路におけるコード表示加工が行われる。
即ち、ウエハー状態で、該ウエハー状の各サーマルヘッ
ドの個々の発熱抵抗体の抵抗値をオートプロービング機
能を有する抵抗測定装置等で一通り測定する。該測定装
置の演算器により上記各サーマルヘッドの平均抵抗値が
算出される。次に上記ウエハーはレーザー照射装置に移
動し、ウエハーを吸着しているX−Yテーブルの運動に
より各サーマルヘッドの抵抗値表示回路を構成する抵抗
をウエハー角から順にアクセスし、上記平均抵抗値をも
とに分類されたA〜Dのランクに対応した01コードに基
づき、上記抵抗部にレーザーをパルス照射・非照射を実
行していく。レーザーを照射された抵抗は第2図に示し
た抵抗6−2のように切断される。
FIG. 4 shows a wafer on which a plurality of thermal heads shown in FIG. 1 are formed.
-Vacuum adsorbed on Y table. Above the table, there is a laser oscillation source such as YAG, and it is possible to irradiate the laser on any part of the wafer by moving the table. Using such a laser irradiation apparatus, code display processing in the resistance display circuit is performed from the resistance value measurement in the procedure of the flowchart shown in FIG.
That is, in the wafer state, the resistance values of the individual heating resistors of each wafer-shaped thermal head are measured by a resistance measuring device having an auto-probing function. The arithmetic unit of the measuring device calculates the average resistance value of each of the thermal heads. Next, the wafer is moved to a laser irradiator, and the resistance constituting the resistance value display circuit of each thermal head is sequentially accessed from the wafer angle by the movement of the XY table holding the wafer, and the average resistance value is calculated. Based on the 01 code corresponding to the ranks A to D that were originally classified, laser irradiation and non-irradiation of the laser to the resistance unit are performed. The resistor irradiated with the laser is cut like a resistor 6-2 shown in FIG.

前記発熱抵抗体の材料として用いられるTa−N,Ta−S
i,Ta−SiO2,Ru−O等は暗系色の材料であって可視光波
長域の反射率は高々10%程度であるため、電極材料とし
て用いられるAu,Al,Cu等の反射率の高い材料に較べ、レ
ーザー照射による加熱効率がはるかに高く、素材の融点
の差があるにしても蒸発すなわち切断し易い。例えば10
00Åの厚みをもつTa−N薄膜と同様の厚みをもつCu薄膜
で較べた場合、φ200μmのビーム径をもつYAGレーザー
で0.8KWのパワーを1msec出力させた場合、Ta−N薄膜は
ほぼビーム径で100%蒸発が確認されたが、Cu薄膜では
全くその痕跡が確認されなかった。仮に抵抗値表示回路
をすべて電極材料で構成したなら、上述の蒸発させにく
さに加え、電極としての厚みが薄膜でも0.5〜3μm程
度あることから、極めて大出力のレーザー装置でなくし
ては切断は困難と思われる。
Ta-N, Ta-S used as a material of the heating resistor
i, since Ta-SiO 2, Ru-O, etc. reflectance of a material of a dark based color visible light wavelength region is at most about 10%, Au used as the electrode material, Al, reflectance such as Cu As compared with a material having a high melting point, the heating efficiency by laser irradiation is much higher, and even if there is a difference in the melting point of the material, evaporation or cutting is easy. For example, 10
When compared with a Ta-N thin film having a thickness of 00 mm and a Cu thin film having the same thickness, when a 0.8 KW power is output for 1 msec with a YAG laser having a beam diameter of 200 μm, the Ta-N thin film has almost a beam diameter. Showed 100% evaporation, but no trace was observed on the Cu thin film. If the resistance value display circuit is composed entirely of electrode materials, in addition to the above-mentioned difficult to evaporate, since the thickness as an electrode is about 0.5 to 3 μm even in a thin film, cutting is not possible unless a laser device with extremely high output is used. Seems difficult.

上記レーザー照射による抵抗の切断においては、該切
断を確実に行うために上記抵抗の形状を小さくすること
が望ましい。小型のレーザー装置を用いるなら、レーザ
ーのビーム径はφ200μm程度以下に絞ることが望まし
く、より好ましくはφ100μm程度であろう。しかし、
ここでビーム径の絞り込みを行う場合、レンズ系を用い
た絞り込みはレンズ系の焦点深度の関係であまり極端に
行うべきではない。ウエハーの反りや装置の機械的精度
により上記レンズ系と上記レーザー照射すべきウエハー
面との距離がばらつき得るからである。さて、上記抵抗
を一度のレーザー照射で確実に切断しようとするのであ
れば、上記レーザーのビームが上記抵抗を横切るもので
なければならない。φ100μmのビーム径であれば、そ
れ以下の幅をもつ抵抗が必要である。さらには、上記レ
ーザービームと上記ウエハーの相対位置精度は、前記レ
ーザー装置の機械的再現精度、及び上記ウエハー内のサ
ーマルヘッドパターンの繰り返し面づけ精度、及び上記
レーザー装置上に上記ウエハーを位置決めする時の位置
決め精度により、±30μm程度のバラツキをあらかじめ
考慮しておくべきであろう。即ち、上記抵抗幅を数十μ
m以下とすべきである。一方、上記抵抗幅を数μm以下
まで細かく加工しようとするならば、該加工時点でオー
プン等の不良を発生する機会が増すため好ましくはな
い。従って、現実的な上記抵抗幅は数十μmであり、上
記相対位置精度を考慮してレーザービーム径を設定すべ
きであって、該ビーム径はφ100μm程度あるいはそれ
以上となろう。
In cutting the resistor by the laser irradiation, it is desirable to reduce the shape of the resistor in order to perform the cutting reliably. If a small laser device is used, it is desirable that the laser beam diameter be reduced to about 200 μm or less, and more preferably about 100 μm. But,
When narrowing down the beam diameter here, narrowing down using a lens system should not be performed too much due to the depth of focus of the lens system. This is because the distance between the lens system and the surface of the wafer to be irradiated with the laser beam may vary due to the warpage of the wafer or the mechanical accuracy of the apparatus. By the way, if it is intended to reliably cut the resistor by a single laser irradiation, the laser beam must cross the resistor. If the beam diameter is φ100 μm, a resistor having a width smaller than that is required. Further, the relative position accuracy between the laser beam and the wafer is determined by the mechanical reproduction accuracy of the laser device, the repetitive imposition accuracy of the thermal head pattern in the wafer, and the positioning of the wafer on the laser device. Due to the positioning accuracy described above, a variation of about ± 30 μm should be considered in advance. That is, the resistance width is set to several tens μ
m. On the other hand, if the resistance width is to be finely processed to several μm or less, it is not preferable because chances of occurrence of defects such as open at the time of the processing increase. Therefore, the actual resistance width is several tens of μm, and the laser beam diameter should be set in consideration of the relative positional accuracy, and the beam diameter will be about φ100 μm or more.

次に、前記抵抗値表示回路の第2の切断手段の実施例
について説明する。
Next, an embodiment of the second cutting means of the resistance value display circuit will be described.

発熱抵抗体の抵抗測定は、一般には第1図に示した共
通電極2と各選択電極3−1〜3−6の端子部にプロー
ビピンを当て、微小電流を上記両電極間に流し測定す
る。このような抵抗値測定方法において、第3図に示し
たように、上記抵抗値測定に必要なプローブ12−1〜12
−6及び共通プローブ13の他に、抵抗値表示回路の導体
路に接触するプローブ10−1,10−2を設けておく。上記
プローブ側には電流をオン,オフできるスイッチ11−1,
11−2及び該スイッチのオンにより抵抗6−1,6−2に
電圧印加できる電源14が設けられている。
In general, the resistance of the heating resistor is measured by applying probe pins to the terminals of the common electrode 2 and the selection electrodes 3-1 to 3-6 shown in FIG. 1, and applying a small current between the two electrodes. In such a resistance value measuring method, as shown in FIG. 3, the probes 12-1 to 12-12 required for the above-described resistance value measurement are used.
In addition to -6 and the common probe 13, probes 10-1 and 10-2 that are in contact with conductor paths of the resistance value display circuit are provided. On the probe side, a switch 11-1, which can turn on and off the current,
11-2 and a power supply 14 capable of applying a voltage to the resistors 6-1 and 6-2 by turning on the switch.

第3図に示したプロービング状態において上記スイッ
チ11−1又は11−2をオンすると上記抵抗6−1又は6
−2においてジュール熱が発生する。上記電源14の電圧
を適宜高くすれば、上記ジュール熱によって抵抗は焼
損、即ち切断される。
Turning on the switch 11-1 or 11-2 in the probing state shown in FIG.
At -2, Joule heat is generated. If the voltage of the power supply 14 is appropriately increased, the resistor is burned, that is, cut off by the Joule heat.

上記のような切断原理を用いれば、第3図に示したよ
うな1回のプロービング動作で、発熱抵抗体の抵抗値測
定、該測定に基づく平均抵抗値の算出、A〜Dのランク
分類と該ランクの2ビットコード化、該コードに基づく
スイッチ11−1,11−2の選択的なオン動作即ち、抵抗6
−1,6−2の選択的な切断といった一連の作業を連続し
て実施することが可能となる。
Using the above-described cutting principle, in one probing operation as shown in FIG. 3, measurement of the resistance value of the heating resistor, calculation of the average resistance value based on the measurement, rank classification of A to D, and 2-bit encoding of the rank, selective ON operation of switches 11-1 and 11-2 based on the code, that is, resistor 6
A series of operations such as selective cutting of -1, 6-2 can be continuously performed.

上記スイッチ11−1,11−2のオンによる抵抗6−1,6
−2の焼損は、10msec以内の時間で確実に行える条件が
存在し得、発熱抵抗体の平均抵抗値のコード表示のビッ
ト数が増えても、同時に各ビットに対応する抵抗切断が
可能であるため、抵抗値測定作業そのものを煩わしいも
のとすることは全くない。
Resistances 6-1 and 6 by turning on the switches 11-1 and 11-2
There may be conditions under which the burnout of -2 can be reliably performed within a time of 10 msec or less, and even if the number of bits of the code display of the average resistance value of the heating resistor increases, the resistance cutting corresponding to each bit can be performed at the same time. Therefore, the work of measuring the resistance value itself is not complicated at all.

上記抵抗焼損のためには、該抵抗の形状,大きさ,抵
抗値,印加電圧,電圧印加時間を適宜定めればよいもの
であり、第1図に示したような抵抗6−1,6−2の形状
では、該抵抗の面積で1mm2当たり200Wの電力を与える様
な電圧を5msec印加すると100%確実に抵抗焼損を実現で
きる。例えば上記抵抗が1000ÅのTa−Nで形成され、該
抵抗形状を長さ100μm幅25μmとすると、該抵抗の長
さ方向の抵抗値は約100Ωとなる。該抵抗の長さ方向に7
Vの電圧を印加した結果、3msec以上の印加では上記抵抗
の中央部にて100%断線状態となった。さらに第5図に
示したように、抵抗16−1,16−2に17,18のような切り
かき状のパターンを加えた形状においては、抵抗のくび
れた部分17,18において電流集中が生じる結果、上述例
の場合の半分の電圧印加時間で断線状態を実現できた。
In order to burn out the resistor, the shape, size, resistance value, applied voltage, and voltage application time of the resistor may be appropriately determined. The resistors 6-1 and 6- as shown in FIG. In the shape of No. 2, when a voltage that gives a power of 200 W per 1 mm 2 in the area of the resistor is applied for 5 msec, 100% sure resistance burnout can be realized. For example, if the resistor is formed of 1000 ° Ta-N and the resistor shape is 100 μm in length and 25 μm in width, the resistance value in the length direction of the resistor is about 100Ω. 7 in the length direction of the resistor
As a result of applying a voltage of V, a voltage of 3 msec or more resulted in a 100% disconnection state at the center of the resistor. Further, as shown in FIG. 5, in the shape obtained by adding a cut-out pattern such as 17, 18 to the resistors 16-1, 16-2, current concentration occurs at the constricted portions 17, 18 of the resistors. As a result, the disconnection state could be realized with a voltage application time that is half that of the above-described example.

シート抵抗の高い抵抗膜を用いたサーマルヘッドにお
いては、同じ電力密度を得るのに、より高い電圧を必要
とするため、上述のように抵抗の形状をくびれた形状と
することは、より低い電圧での抵抗切断が可能となり、
切断回路設計上望ましい。
In a thermal head using a resistive film having a high sheet resistance, a higher voltage is required to obtain the same power density. Resistance cutting at
Desirable for cutting circuit design.

以上のような、ジュール熱を用いた、前記抵抗値表示
回路の切断方法であれば、発熱抵抗体の抵抗値測定にお
けるスループットにほとんど影響なく平均抵抗値のコー
ド表示を行えるものであり、又極めて単純な機構の回路
を抵抗測定装置に付加すれば容易に実現できる。
As described above, if the method of cutting the resistance value display circuit using Joule heat is used, the code display of the average resistance value can be performed with almost no influence on the throughput in the measurement of the resistance value of the heating resistor. It can be easily realized by adding a circuit having a simple mechanism to the resistance measuring device.

次に、前述のレーザー照射による抵抗切断の方法、及
び上述のジュール熱による抵抗切断の方法において、共
通して切断効率を上げる方法に関して説明する。
Next, a description will be given of a method of increasing the cutting efficiency in common with the above-described resistance cutting method using laser irradiation and the above-described resistance cutting method using Joule heat.

サーマルヘッドは、一般に熱伝導性の良好なアルミナ
セラミクス基板上に、熱的不良導体であるグレーズ層を
約50μmの厚みで形成したグレーズドセラミクス基板を
用いる。シリアル型のサーマルヘッドでは上記グレーズ
層は、第9図の30に示すように発熱抵抗体4−1〜4−
6の下層及びその周辺近傍に設けられた部分グレーズが
一般的である。近年では感熱式ファクシミリ等で用いら
れているラインサーマルヘッドにおいても上記部分グレ
ーズが採用されてきている。上記部分グレーズが設けら
れた部分以外の基板面はセラミクスの地が出ており、電
極は該セラミクス地の上に直接形成されている。
The thermal head generally uses a glazed ceramics substrate in which a glaze layer, which is a thermally defective conductor, is formed with a thickness of about 50 μm on an alumina ceramics substrate having good thermal conductivity. In the serial type thermal head, the glaze layer is formed by the heating resistors 4-1 to 4--4 as shown in FIG.
Generally, a partial glaze provided in the lower layer of 6 and in the vicinity thereof is provided. In recent years, the partial glaze has been adopted in a line thermal head used in a thermal facsimile or the like. The substrate surface other than the portion where the partial glaze is provided has a ceramic ground, and the electrodes are formed directly on the ceramic ground.

前記抵抗値表示回路を構成する抵抗6−1,6−2が上
記セラミクス地の上に直接形成された場合と、島状グレ
ーズ31上に形成された場合とでは、前述の抵抗切断の2
種の手段、即ちレーザー照射による切断、ジュール熱に
よる切断の双方において切断効率の異なることが判っ
た。
When the resistors 6-1 and 6-2 constituting the resistance value display circuit are formed directly on the ceramic ground and when they are formed on the island-like glaze 31, two of the above-described resistance cutting are performed.
It was found that the cutting efficiency was different in both kinds of means, namely, cutting by laser irradiation and cutting by Joule heat.

レーザー照射による抵抗切断の場合、セラミクス地の
ポーラスな面の影響により、ミクロ的にレーザー入射角
が小さくなる部分が多数生じ、乱反射であるがその反射
率が高くなり、抵抗蒸発のための熱エネルギーへの変換
効率が落ち、又、熱に変換されたエネルギーも、熱伝導
の良いセラミクス基板側へ拡散してしまう。しかしなが
ら、第9図に示した島状グレーズ31上に切断すべき抵抗
6−1,6−2が形成されている場合は、レーザー光は上
記抵抗に対しほぼ垂直に入射し得、又、上記島状グレー
ズが熱の拡散バリアとなるため、レーザー光の出力エネ
ルギーに対し、レーザーの照射された上記抵抗の蒸発効
率は高くなる。上記島状グレーズを設けることにより、
設けない場合に較べ、3〜5割の切断エネルギー効率の
向上が確認された。
In the case of resistance cutting by laser irradiation, there are many parts where the laser incident angle becomes small microscopically due to the influence of the porous surface of the ceramics ground, and although the reflection is irregular, the reflectance increases and the thermal energy for resistance evaporation The conversion efficiency to heat is reduced, and the energy converted to heat is also diffused to the ceramic substrate having good heat conduction. However, when the resistors 6-1 and 6-2 to be cut are formed on the island-shaped glaze 31 shown in FIG. 9, the laser beam can be incident almost perpendicularly to the resistors. Since the island-like glaze serves as a diffusion barrier for heat, the evaporation efficiency of the resistor irradiated with the laser increases with respect to the output energy of the laser light. By providing the island glaze,
It was confirmed that the cutting energy efficiency was improved by 30 to 50% as compared with the case where no provision was made.

一方、ジュール熱による抵抗切断の場合、やはり上記
島状グレーズがジュール熱の拡散バリアとなるため、上
記島状グレーズを設けない場合に較べ、3〜5割の切断
エネルギー効率の向上が確認されている。特に、より長
い時間ジュール熱を発生させて抵抗切断しようとする場
合、上記切断エネルギー効率の違いは顕著となった。こ
れは熱拡散時定数の差による違いである。
On the other hand, in the case of resistance cutting by Joule heat, since the island glaze also serves as a diffusion barrier of Joule heat, an improvement in cutting energy efficiency of 30 to 50% has been confirmed as compared with the case where the island glaze is not provided. I have. In particular, when the resistance cutting is performed by generating the Joule heat for a longer time, the difference in the cutting energy efficiency becomes remarkable. This is due to the difference in the thermal diffusion time constant.

尚、付け加えるならば、前述の2種の切断手段双方に
おいて、切断されるべき抵抗は、サーマルヘッドの表面
保護層がコートされる前に切断を実施するか、又は、上
記表面保護層がコートされた後に切断を実施しようとす
るのであれば、上記切断されるべき抵抗の表面には上記
表面保護層をコートしないことが望ましい。
In addition, in addition, in both of the two types of cutting means described above, the resistance to be cut may be determined by cutting before the surface protective layer of the thermal head is coated, or by coating the surface protective layer. If cutting is to be performed after cutting, it is preferable that the surface of the resistor to be cut is not coated with the surface protective layer.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上述べてきたような方法によって製造されたサーマ
ルヘッドの例として、第10図にフレキシブルプリント回
路33を接続したシリアルサーマルヘッド32を示す。上記
接続は従来のコード表示のなかったサーマルヘッドと全
く同様の半田熱圧着等の方法で行うことができ、何ら他
の特別の工程を介さずとも、抵抗値表示回路34のコード
情報をフレキシブルプリント回路より引き出すことが可
能である。
As an example of a thermal head manufactured by the method described above, FIG. 10 shows a serial thermal head 32 to which a flexible printed circuit 33 is connected. The above connection can be made by the same method of soldering thermocompression bonding etc. as with a conventional thermal head without a code display, and the code information of the resistance value display circuit 34 can be flexibly printed without any special process. It can be extracted from the circuit.

第11図は、ラインヘッドに本発明を適用して製造され
たサーマルヘッドの例であり、発熱体形成基板35の空き
スペースに抵抗値表示回路37を設け、プリント基板36を
介して当該サーマルヘッドの平均抵抗値を表現したコー
ド情報をとり出している。上記サーマルヘッドにおいて
も何ら従来のコード表示のなかったサーマルヘッドと同
様の組み立て工程のみで、上記抵抗値表示回路37のコー
ド情報を引き出すことが可能である。
FIG. 11 shows an example of a thermal head manufactured by applying the present invention to a line head, in which a resistance value display circuit 37 is provided in an empty space of a heating element forming substrate 35, and the thermal head is connected via a printed circuit board 36. The code information expressing the average resistance value is extracted. Also in the above thermal head, the code information of the resistance value display circuit 37 can be extracted only by the same assembling process as that of the conventional thermal head having no code display.

本発明の製造方法によれば、発熱抵抗体の抵抗値を略
表示する抵抗値表示回路を持ち、該抵抗値表示回路によ
りコード表示されたサーマルヘッド固有の平均抵抗値情
報によって、発熱抵抗体に印加するエネルギーの調整を
容易に行えるサーマルヘッドを、従来のコード表示機能
を有していたサーマルヘッドに較べ、極めて容易にコー
ド表示機能を有していないサーマルヘッドとほぼ同等の
加工工程、加工時間で製造できるものである。
According to the manufacturing method of the present invention, the heating resistor is provided with a resistance value display circuit that approximately displays the resistance value of the heating resistor. The thermal head, which can easily adjust the applied energy, has almost the same processing steps and processing time as a thermal head that does not have a code display function, compared to a thermal head that has a conventional code display function. It can be manufactured with.

上記容易性を具体的に述べるなら 1.サーマルヘッドを複数作り込んだウエハー状態でコー
ド表示のための加工をすることが可能 2.抵抗値測定工程とコード表示のための加工工程を連続
的あるいは同時的に設けることが可能 3.小型のレーザー照射装置、あるいは簡単な通電回路に
よりコード表示の加工が可能 4.抵抗値表示回路の作り込みが、通常の発熱抵抗体及び
電極形成と同時に行うことが可能 等の利点があり、上記利点は、従来見られたような工程
の煩雑さを無くし、コード表示の誤りを無くすことに役
立つ。従って、コード表示機能のないサーマルヘッドと
同等のコストで、サーマルヘッドの印加エネルギー調整
作業を無くすことの可能なサーマルヘッドを提供できる
ものである。
If the above easiness is specifically stated, 1. It is possible to perform processing for code display in the state of a wafer with multiple thermal heads. 2. Continuously perform the resistance measurement process and the processing process for code display. Can be provided simultaneously. 3. Code display processing is possible with a small laser irradiation device or a simple energizing circuit. 4. Creation of a resistance value display circuit must be performed at the same time as normal heating resistor and electrode formation. The above advantage is useful for eliminating the complexity of the steps and the error in the code display as seen conventionally. Therefore, it is possible to provide a thermal head capable of eliminating the operation of adjusting the applied energy of the thermal head at the same cost as a thermal head without a code display function.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図(a),(b)、第2図は本発明の製造方法にお
けるサーマルヘッド例の要部平面図、第3図,第4図,
第5図は本発明の製造方法における抵抗切断に係わる実
施例を示す説明図、第6図,第7図は従来のサーマルヘ
ッドを示す斜視図、第8図は本発明の製造方法における
抵抗切断工程の実施例を表す工程フローチャート、第9
図は本発明の製造方法におけるサーマルヘッド例の要部
平面図、第10図,第11図は本発明の方法により製造され
たサーマルヘッド完成体例の平面図である。 1,21,32,35……発熱体形成基板 4−1〜4−6……発熱抵抗体 5−1,5−2……導体路 6−1,6−2,16−1,16−2……抵抗 7……共通導体路 10−1,10−2,13……プローブ 11−1,11−2……スイッチ 17,18……抵抗のくびれ 31……グレーズ 34,37……抵抗値表示回路
1 (a), 1 (b) and 2 are plan views of essential parts of an example of a thermal head in the manufacturing method of the present invention, and FIGS.
5 is an explanatory view showing an embodiment relating to resistance cutting in the manufacturing method of the present invention, FIGS. 6 and 7 are perspective views showing a conventional thermal head, and FIG. 8 is resistance cutting in the manufacturing method of the present invention. Process flow chart illustrating an example of the process, ninth process
The figures are plan views of essential parts of an example of a thermal head in the manufacturing method of the present invention, and FIGS. 10 and 11 are plan views of an example of a completed thermal head manufactured by the method of the present invention. 1, 21, 32, 35 ... heating element forming substrate 4-1 to 4-6 ... heating resistor 5-1, 5-2 ... conductor path 6-1, 6-2, 16-1, 16- 2 ... resistance 7 ... common conductor path 10-1, 10-2, 13 ... probe 11-1, 11-2 ... switch 17, 18 ... constriction of resistance 31 ... glaze 34, 37 ... resistance Value display circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−137860(JP,A) 特開 昭62−184865(JP,A) 特開 昭59−115871(JP,A) 特開 昭58−89386(JP,A) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-63-137860 (JP, A) JP-A-62-184865 (JP, A) JP-A-59-115871 (JP, A) JP-A-58-158 89386 (JP, A)

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】発熱抵抗体と該発熱抵抗体に給電するため
の電極とが形成された基板上に、前記発熱抵抗体の抵抗
値のランクを略表示する抵抗値表示回路を備えるサーマ
ルヘッドであって、 前記抵抗値表示回路は前記発熱抵抗体と同一材料で形成
された抵抗を備えるとともに、前記抵抗を選択的に切断
してコード化することにより前記発熱抵抗体の抵抗値の
ランクを表すことを特徴とするサーマルヘッド。
1. A thermal head comprising a resistance value display circuit for substantially displaying a rank of a resistance value of a heating resistor on a substrate on which a heating resistor and an electrode for supplying power to the heating resistor are formed. The resistance value display circuit includes a resistor formed of the same material as the heating resistor, and represents a rank of the resistance value of the heating resistor by selectively cutting and coding the resistor. A thermal head, characterized in that:
【請求項2】発熱抵抗体と該発熱抵抗体に給電するため
の電極とが形成された基板上に、前記発熱抵抗体の抵抗
値のランクをコードにより略表示する抵抗値表示回路を
有するサーマルヘッドの製造方法において、 前記抵抗値表示回路の少なくとも一部に前記発熱抵抗体
と同一の材料で抵抗を形成する工程と、 前記発熱抵抗体の抵抗値に応じて、前記抵抗表示回路の
抵抗を選択的に切断する工程と、を含むことを特徴とす
るサーマルヘッドの製造方法。
2. A thermal circuit having a resistance value display circuit on a substrate on which a heating resistor and an electrode for supplying power to the heating resistor are formed, the resistance value of the heating resistor being roughly displayed by a code. In the method for manufacturing a head, a step of forming a resistor in at least a part of the resistance value display circuit using the same material as the heating resistor; and, in accordance with a resistance value of the heating resistor, changing a resistance of the resistance display circuit. Selectively cutting, and a method for manufacturing a thermal head.
【請求項3】前記抵抗表示回路の抵抗を選択的に切断す
る工程において、レーザーなどの集光加熱により抵抗を
蒸発させて切断することを特徴とする請求項2に記載の
サーマルヘッドの製造方法。
3. The method of manufacturing a thermal head according to claim 2, wherein in the step of selectively cutting the resistance of the resistance display circuit, the resistance is evaporated by condensing heating such as a laser to cut the resistance. .
【請求項4】前記抵抗表示回路の抵抗を選択的に切断す
る工程において、前記抵抗の両端に電圧を印加すること
で抵抗に生じるジュール熱により抵抗を焼損させて切断
することを特徴とする請求項2に記載のサーマルヘッド
の製造方法。
4. The step of selectively cutting the resistance of the resistance display circuit, wherein the resistance is burned by Joule heat generated by applying a voltage to both ends of the resistance, and the resistance is cut. Item 3. A method for manufacturing a thermal head according to Item 2.
【請求項5】前記抵抗表示回路の抵抗が、前記基板上に
形成されたグレーズ層上に形成されることを特徴とする
請求項2、3、4のいずれか1項に記載のサーマルヘッ
ドの製造方法。
5. The thermal head according to claim 2, wherein the resistance of the resistance display circuit is formed on a glaze layer formed on the substrate. Production method.
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