JP2621230B2 - Mirror surface detection circuit - Google Patents

Mirror surface detection circuit

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JP2621230B2
JP2621230B2 JP24850787A JP24850787A JP2621230B2 JP 2621230 B2 JP2621230 B2 JP 2621230B2 JP 24850787 A JP24850787 A JP 24850787A JP 24850787 A JP24850787 A JP 24850787A JP 2621230 B2 JP2621230 B2 JP 2621230B2
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  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ディスクから光を検出媒体として検出
された高周波信号からミラー面を検出するミラー面検出
回路に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mirror surface detection circuit that detects a mirror surface from a high-frequency signal detected using light from an optical disk as a detection medium.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図は、CD(コンパクトディスク)などの光ディス
クに記録されている音楽情報などを再生する光ディスク
再生装置におけるピックアップ部およびミラー面検出回
路を示す。
FIG. 3 shows a pickup unit and a mirror surface detection circuit in an optical disc reproducing apparatus for reproducing music information and the like recorded on an optical disc such as a CD (compact disc).

光ディスク(以下CDという)2は、モータ4で回転さ
せ、モータ4は、図示していない線速度(CLV)サーボ
の制御出力DCLVで一定の線速度に制御される。
An optical disk (hereinafter referred to as a CD) 2 is rotated by a motor 4, and the motor 4 is controlled at a constant linear velocity by a control output DCLV of a linear velocity (CLV) servo (not shown).

ピックアップ6は、送りモータ8の回転によりアーム
10を通してCD2の直径方向の任意の位置に移動させるこ
とができ、レーザー光源12で発射させた検出媒体として
のレーザー光14を、ハーフミラー16や対物レンズ18など
からなる光学系を通過させて集束させることによりCD2
に照射し、CD2からの反射光20を受光素子22、24、26で
受光し、電気信号に変換する。そして、光学系は、フォ
ーカスコイル28によってレーザー光14の焦点を調整し、
トラッキングコイル30によってトラック上にレーザー光
14の焦点を結ばせる。
The pickup 6 is armed by the rotation of the feed motor 8.
The laser light 14 emitted from the laser light source 12 can be moved to an arbitrary position in the diameter direction of the CD 2 through the laser beam 10, and the laser light 14 as a detection medium is focused by passing through an optical system including a half mirror 16 and an objective lens 18. By letting CD2
, And the reflected light 20 from the CD 2 is received by the light receiving elements 22, 24, and 26, and is converted into an electric signal. Then, the optical system adjusts the focus of the laser light 14 by the focus coil 28,
Laser light on track by tracking coil 30
Make 14 focuses.

受光素子22はレーザー光14のメインビーム、受光素子
24、26はレーザー光14のサブビームの反射光20を電気信
号に変換するものであり、受光素子22でメインビームに
よる高周波(RF)信号が得られる。
The light receiving element 22 is a main beam of the laser light 14 and the light receiving element.
Reference numerals 24 and 26 convert the reflected light 20 of the sub-beam of the laser light 14 into an electric signal. The light receiving element 22 obtains a high-frequency (RF) signal by the main beam.

ところで、トラック飛越しでは、たとえば、第4図に
示すように、矢印Xで示す方向に回転するCD2に対して
メインビームMBおよびサブビームSB1、SB2の各スポット
を矢印Yで示す方向に走査することになる。この場合、
34はトラック上のピット(非反射面)、36はミラー面を
表す。
By the way, in the track jump, for example, as shown in FIG. 4, each spot of the main beam MB and the sub beams SB 1 and SB 2 is scanned in the direction shown by the arrow Y with respect to the CD 2 rotating in the direction shown by the arrow X. Will do. in this case,
34 represents a pit (non-reflective surface) on the track, and 36 represents a mirror surface.

そして、受光素子22を通して電気信号に変換されて前
置増幅器38を通過させて得られるRF信号は、第5図のA
に示すように、トラック間を移動するため、トラック間
のミラー面36の通過を表すエンベロープ、すなわち、ミ
ラー面情報としての低周波信号成分Lfと、ピット34の通
過を表す高周波信号成分Hfとからなっている。
Then, the RF signal converted into an electric signal through the light receiving element 22 and obtained by passing through the preamplifier 38 is represented by A in FIG.
As shown in FIG. 5, the envelope representing the passage of the mirror surface 36 between the tracks, that is, the low frequency signal component Lf as the mirror surface information and the high frequency signal component Hf representing the passage of the pit 34, Has become.

従来、このRF信号を以てCD2のトラック飛越し時の通
過トラック数を計数する場合において、その基礎となる
トラックをトラック間のミラー面から検出するミラー面
検出回路40が設置されている。
Conventionally, a mirror surface detection circuit 40 for detecting a base track from a mirror surface between the tracks in the case of counting the number of passing tracks when the CD2 skips tracks using this RF signal is provided.

その場合、第5図のAに示すように、RF信号の上限レ
ベルであるピーク(Peak)レベルVPを検出するととも
に、下限レベルであるボトム(Bottom)レベルVBを検出
してRF信号のエンベロープの上限レベルおよび下限レベ
ルを抽出した後、その中間に基準レベルVMを基準レベル
設定回路42によって設定する。すなわち、RF信号のピー
クレベルVPを検出するピークレベル検出回路44は、npn
型トランジスタ48、定電流源50およびキャパシタ52を以
て構成し、キャパシタ52でピークレベルVPに対応した長
い時定数τが設定される。RF信号のボトムレベルVB
検出するボトムレベル検出回路46は、pnp型トランジス
タ54、定電流源56およびキャパシタ58を以て構成し、キ
ャパシタ58でボトムレベルVBに対応した短い時定数τ
が設定される。そして、ピークレベル検出回路44、ボト
ムレベル検出回路46の各出力レベルVP、VBを抵抗60、62
の直列回路の両端側から加え、その中点から抵抗60、62
の比によって基準レベルVMが設定されるのである。
In that case, as shown in A of FIG. 5, detects the upper limit level is peak (Peak) level V P of the RF signal, the RF signal by detecting the which is the lower limit level bottom (Bottom) level V B after extracting the upper level and lower level of the envelope, set by the reference level setting circuit 42 to the reference level V M in the middle. That is, the peak level detection circuit 44 for detecting a peak level V P of the RF signal, npn
Type transistor 48 constitutes with a constant current source 50 and capacitor 52, constant tau P when long corresponding to the peak level V P in the capacitor 52 is set. Bottom level detection circuit for detecting a bottom level V B of the RF signal 46, pnp-type transistor 54 constitutes with a constant current source 56 and capacitor 58, constant tau B short time corresponding to the bottom level V B at the capacitor 58
Is set. Then, the peak level detecting circuit 44, the output level V P of the bottom level detection circuit 46, resistor V B 60, 62
From both ends of the series circuit, and resistors 60 and 62
Than is the reference level V M is set by the ratio of.

また、トラック間のミラー面36の通過を表す低周波信
号成分Lfを検出する低周波成分検出回路66が設置され、
この低周波成分検出回路66はpnp型トランジスタ68、定
電流源70およびキャパシタ72で構成され、キャパシタ72
でその低周波信号成分Lfに対応した時定数τ(ボトム
レベルVBに対応する時定数τより小さい)を設定す
る。
Further, a low-frequency component detection circuit 66 for detecting a low-frequency signal component Lf indicating passage of the mirror surface 36 between tracks is provided,
The low-frequency component detection circuit 66 includes a pnp transistor 68, a constant current source 70, and a capacitor 72.
Sets a time constant τ 0 (smaller than the time constant τ B corresponding to the bottom level V B ) corresponding to the low frequency signal component Lf.

このようにして得られた基準レベルVMと、低周波信号
成分Lfとを比較器74に加えて両者を比較し、第5図のB
に示すミラー面検出信号Vmrを得ている。
The reference level V M thus obtained and the low-frequency signal component Lf are added to a comparator 74 and compared with each other.
The mirror surface detection signal V mr shown in FIG.

一方、サブビームSB1、SB2による反射光20の受光によ
って受光素子24、26から得られた検出信号は、第4図に
示すように、比較器76に加えて比較することにより、第
5図のCに示すトラッキングエラー信号TEが得られ、こ
のトラッキングエラー信号TEと基準ゼロクロスレベルV
thとを比較器78で比較することにより、第5図のDに示
すゼロクロス信号TZCが得られる。
On the other hand, the detection signals obtained from the light receiving elements 24 and 26 by the reception of the reflected light 20 by the sub beams SB 1 and SB 2 are added to a comparator 76 as shown in FIG. The tracking error signal TE shown in C of FIG.
By comparing th with a comparator 78, a zero-cross signal TZC shown in FIG. 5D is obtained.

これらゼロクロス信号TZCおよびミラー面検出信号Vmr
は、トラック飛越し情報として用いられる。
These zero cross signal TZC and mirror surface detection signal V mr
Is used as track skip information.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

ところで、このようなミラー面検出回路40において、
低周波成分検出回路66に設定される時定数τを特定の
値にしてピックアップ6のトラック飛越し速度を高める
(高速アクセス)と、第6図のAに示すように、ミラー
面情報を表す信号としての低周波信号成分Lfの周波数が
高くなるのに対し、時定数τが一定であるため、比較
器74から得られるミラー面検出信号Vmrが本来のミラー
面36より時間的に遅れて生じ(位相の遅れ)たり、その
パルス幅が非常に狭くなってミラー面36の検出が困難に
なったりするおそれがある。
By the way, in such a mirror surface detection circuit 40,
When the time constant τ 0 set in the low-frequency component detection circuit 66 is set to a specific value to increase the track jump speed of the pickup 6 (high-speed access), the mirror surface information is displayed as shown in FIG. 6A. Since the time constant τ 0 is constant while the frequency of the low-frequency signal component Lf as a signal is high, the mirror surface detection signal V mr obtained from the comparator 74 is temporally delayed from the original mirror surface 36. (Delay of phase), or the pulse width may be so narrow that detection of the mirror surface 36 becomes difficult.

また、上記の速度に追従させるために、低周波成分検
出回路66の時定数τを短くした場合、ピックアップ6
のトラック飛越し速度を遅くすると、そのトラック飛越
し操作に時間を要するとともに、11Tの長さを持つ最長
ピットによる影響が問題になる。たとえば、第7図のA
において、1トラック内におけるS1、S2等のノイズによ
るエンベロープが低周波信号成分Lfとして現れ、第7図
のBに示すように、S1、S2による低周波信号成分Lfがミ
ラー面検出信号Vmrとして検出され、ミラー面36の検出
に誤差(チャタリング)を生ずることになる。
When the time constant τ 0 of the low frequency component detection circuit 66 is shortened in order to follow the above speed, the pickup 6
If the speed of skipping the track is reduced, the time required for the track skipping operation becomes longer, and the influence of the longest pit having a length of 11T becomes a problem. For example, in FIG.
In FIG. 7, an envelope due to noise such as S 1 and S 2 in one track appears as a low-frequency signal component Lf, and as shown in FIG. 7B, the low-frequency signal component Lf due to S 1 and S 2 is detected as a mirror surface. The signal V mr is detected, and an error (chattering) occurs in the detection of the mirror surface 36.

そこで、この発明は、高速アクセス時から低速アクセ
ス時まで正確にミラー面を検出できるようにしたもので
ある。
Therefore, the present invention is designed to accurately detect the mirror surface from high-speed access to low-speed access.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

この発明のミラー面検出回路は、第1図に示すよう
に、光ディスク2から光(レーザー光14)を媒体として
検出された高周波信号(RF)の上限レベル(ピークレベ
ルVP)と下限レベル(ボトムレベルVB)とを検出し、両
者の中間レベルを基準レベルVMに設定する基準レベル設
定手段(基準レベル設定回路42)と、高周波信号の下限
レベルを起点として特定の時定数τを以て低周波信号
成分Lfを得る低周波成分検出手段(低周波成分検出回路
66)と、低周波成分検出手段を通過させた低周波信号成
分Lfと基準レベルVMとを比較する比較手段(比較器74)
とを備えてミラー面36を表すミラー面検出信号Vmrを得
るミラー面検出回路40において、比較手段が出力するミ
ラー面検出信号Vmrの時間幅が一定幅を越えたとき、正
規のミラー面検出信号Vmrと判定する信号判定手段(カ
ウンタ80、比較部82および係数設定器84)を設置したも
のである。
As shown in FIG. 1, the mirror surface detection circuit according to the present invention uses an upper limit level (peak level VP ) and a lower limit level (peak level VP) of a high-frequency signal (RF) detected from the optical disk 2 using light (laser light 14) as a medium. detecting a bottom level V B) and a reference level setting means for setting an intermediate level of both the reference level V M (the reference level setting circuit 42), with a constant tau 0 at a specific time as a starting point the lower limit level of the high-frequency signal Low frequency component detection means for obtaining low frequency signal component Lf (low frequency component detection circuit
And 66), comparing means for comparing the low-frequency signal component Lf and the reference level V M having passed through the low-frequency component detecting unit (comparator 74)
In the mirror surface detection circuit 40 that obtains the mirror surface detection signal V mr representing the mirror surface 36, when the time width of the mirror surface detection signal V mr output by the comparing means exceeds a certain width, the normal mirror surface A signal determining means (a counter 80, a comparing unit 82, and a coefficient setting unit 84) for determining the detection signal V mr is provided.

〔作用〕[Action]

光ディスク再生装置において、トラック飛越し制御で
は、ミラー面検出信号Vmrとトラッキングエラー信号TE
のゼロクロス信号TZCとの位相関係が問題になるので、
チャタリングによる誤動作を防止するには、チャタリン
グによる不要信号を除去すればよい。このチャタリング
による不要信号は、時間幅の狭いパルスであることに着
目し、正規のミラー面36を表す最低限度の時間幅との大
小関係に基づいて、信号判定手段(カウンタ80、比較器
82および係数設定器84)で正規のミラー面検出信号Vmr
か否かを判定し、不要な信号を除去するとともに、正規
のミラー面検出信号Vmrのみを取り出すのである。
In the optical disc reproducing apparatus, in the track jump control, the mirror surface detection signal V mr and the tracking error signal TE
Since the phase relationship with the zero-cross signal TZC becomes a problem,
To prevent malfunction due to chattering, unnecessary signals due to chattering may be removed. Focusing on the unnecessary signal due to the chattering being a pulse having a narrow time width, based on the magnitude relationship with the minimum time width representing the normal mirror surface 36, the signal determination means (counter 80, comparator
The normal mirror surface detection signal V mr is set by the
It is determined whether or not this is the case, unnecessary signals are removed, and only the regular mirror surface detection signal V mr is extracted.

〔実 施 例〕〔Example〕

第1図は、この発明のミラー面検出回路の実施例を示
す。
FIG. 1 shows an embodiment of a mirror surface detecting circuit according to the present invention.

前置増幅器38から第2図のAに示すRF信号が基準レベ
ル設定回路42および低周波成分検出回路66に加えられ
る。基準レベル設定回路42ではRF信号の上限レベルとし
てのピークレベルVPと、下限レベルとしてのボトムレベ
ルVBとの中間レベルを基準レベルVMに設定する。また、
低周波成分検出回路66は、RF信号のエンベロープである
低周波成分がミラー面36を表すので、その低周波信号成
分Lfを検出する。
The RF signal shown in FIG. 2A is applied from the preamplifier 38 to the reference level setting circuit 42 and the low frequency component detecting circuit 66. A peak level V P of the upper limit level of the reference level setting circuit 42, RF signal, sets the intermediate level to the reference level V M of the bottom level V B as a lower limit level. Also,
The low-frequency component detection circuit 66 detects the low-frequency signal component Lf because the low-frequency component that is the envelope of the RF signal represents the mirror surface 36.

基準レベルVMおよび低周波信号成分Lfは、比較器74に
加えられて比較され、この場合、基準レベルVMを越える
区間を高(H)レベル、他を低(L)レベルとする第2
図のBに示すミラー面検出信号Vmrを発生する。
Reference level V M and the low-frequency signal component Lf, the comparator is added to 74 are compared, in this case, the second to the section exceeding the reference level V M high (H) level, the other a low (L) level
A mirror surface detection signal V mr shown in FIG.

このミラー面検出信号Vmrは、正規のミラー面検出信
号Vmrを判定するために、その時間幅を計測する手段と
して設置されたカウンタ80に加えられ、ミラー面検出信
号Vmrの立上りを計数開始点、その降下を計数終了とし
てクロックパルスCKを計数し、クロックパルスCKを単位
としてミラー面検出信号VmrのHレベル区間が計測され
る。
This mirror surface detection signal V mr is added to a counter 80 provided as a means for measuring the time width of the mirror surface detection signal V mr in order to determine the regular mirror surface detection signal V mr , and the rising of the mirror surface detection signal V mr is counted. The clock pulse CK is counted with the start point and the drop thereof as the counting end, and the H level section of the mirror surface detection signal V mr is measured in units of the clock pulse CK.

そして、このカウンタ80で得られたミラー面検出信号
Vmrを表す計数データNは、ミラー面検出信号Vmrが必要
な信号成分であるか否かを判定する信号判定手段として
配置された比較部82に加えられ、係数設定器84に設定さ
れている不要信号とみなす時間幅τを表す値Nτと比較
される。この比較部82は、N<NτのときにL出力、N
>Nτのときに正規のミラー面検出信号Vmrを表すH出
力を生じる。
Then, the mirror surface detection signal obtained by the counter 80
Count data N representing the V mr is the mirror surface detection signal V mr is applied to the comparison unit 82 which is arranged as a determining signal determining means for determining whether or not a signal component required, is set to the coefficient setter 84 Is compared with a value Nτ representing a time width τ considered as an unnecessary signal. This comparison unit 82 outputs L when N <Nτ,
When N> N, an H output representing the normal mirror surface detection signal V mr is generated.

この比較部82の出力は、ラッチ回路86に加えられて保
持され、比較器74がL出力に降下するとき、そのラッチ
が解除される。
The output of the comparing section 82 is applied to and held by the latch circuit 86, and when the comparator 74 falls to the L output, the latch is released.

このラッチ回路86のラッチ出力は、トラック飛越しを
行うための制御部90に加えられる。ミラー面信号MRは、
不要信号とみなされる時間幅τを越えるミラー面検出信
号Vmrであり、不要信号が除かれた正規のミラー面検出
信号Vmrを表すものである。
The latch output of the latch circuit 86 is applied to a control unit 90 for skipping tracks. The mirror surface signal MR is
This is a mirror surface detection signal V mr exceeding the time width τ considered as an unnecessary signal, and represents a normal mirror surface detection signal V mr from which the unnecessary signal has been removed.

また、受光素子24、26から得られた受光信号を比較器
76に加えることにより、第2図のCに示すトラッキング
エラー信号TEが得られ、このトラッキングエラー信号TE
と基準ゼロクロスレベルVthとを比較器78で比較するこ
とにより、第2図のDに示すゼロクロス信号TZCが得ら
れ、制御部90に加えられる。
Also, the light receiving signals obtained from the light receiving elements 24 and 26 are compared with a comparator.
76, a tracking error signal TE shown in FIG. 2C is obtained.
The reference 78 is compared with the reference zero-cross level Vth by the comparator 78 to obtain a zero-cross signal TZC shown in FIG.

そして、トラック飛越し制御では、ミラー面検出信号
Vmrとゼロクロス信号TZCとの位相差をミラー面36を表す
信号として取り扱うので、制御部90では、ミラー面信号
MR(正規のミラー面検出信号Vmr)の降下(バックエッ
ジ)の検出によって得られた第2図のEに示すバックエ
ッジ検出信号Mと、ゼロクロス信号TZCの降下(バック
エッジ)の検出によって得られた第2図のFに示すバッ
クエッジ検出信号Zとの位相差φをミラー面情報として
捉え、そのミラー面情報からトラック飛越し制御信号VC
を出力する。このトラック飛越し制御信号VCによって、
第3図に示す送りモータ8の回転が制御され、ピックア
ップ6のトラック検出点がCD2の所望のトラック上に設
定される。
And, in the track jump control, the mirror surface detection signal
The phase difference between V mr and the zero-cross signal TZC is handled as a signal representing the mirror surface 36.
The back edge detection signal M shown in FIG. 2E obtained by detecting the drop (back edge) of MR (regular mirror surface detection signal V mr ) and the drop (back edge) of the zero cross signal TZC are obtained. The phase difference φ from the back edge detection signal Z shown in F of FIG. 2 is taken as mirror surface information, and the track jump control signal VC is obtained from the mirror surface information.
Is output. By this track jump control signal VC,
The rotation of the feed motor 8 shown in FIG. 3 is controlled, and the track detection point of the pickup 6 is set on a desired track of CD2.

以上説明したように、このトラック飛越し制御では、
ミラー面検出信号Vmrに含まれるチャタリングなどによ
る不要信号を正規の信号との大小関係から判別し、第8
図に図示するように正規の信号成分のみを抽出してミラ
ー面情報とするので、精度の高い信頼性のあるミラー面
の検出によって、高速アクセスから低速アクセスまで精
度の高いトラック飛越し制御を行うことができる。
As described above, in this truck jump control,
Unnecessary signals due to chattering and the like included in the mirror surface detection signal V mr are determined from the magnitude relationship with the normal signal, and the eighth signal is determined.
As shown in the figure, since only normal signal components are extracted and used as mirror surface information, highly accurate track jump control from high-speed access to low-speed access is performed by detecting a highly accurate and reliable mirror surface. be able to.

なお、実施例では、トラック飛越し制御を例にとって
説明したが、この発明のミラー面の検出は、トラッキン
グ制御など、その他の制御にも用いることができる。
In the embodiment, the track jump control is described as an example. However, the detection of the mirror surface according to the present invention can be used for other control such as tracking control.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

この発明によれば、ミラー面検出信号に含まれるチャ
タリングなどによる不要信号を時間幅の大小関係から判
別し、有用な信号のみを取り出すので、不要な高周波成
分による検出誤差や位相遅れなどを防止でき、高速アク
セスから低速アクセスまで信頼の高いミラー面の検出を
実現することができる。
According to the present invention, unnecessary signals due to chattering and the like included in the mirror surface detection signal are discriminated from the magnitude relationship of the time width, and only useful signals are extracted, so that a detection error and a phase delay due to unnecessary high frequency components can be prevented. In addition, highly reliable detection of a mirror surface can be realized from high-speed access to low-speed access.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明のミラー面検出回路の実施例を示す回
路図、第2図は第1図に示したミラー面検出回路の動作
を示す図、第3図は従来の光ディスク再生装置における
ピックアップ部およびミラー面検出回路を示す回路図、
第4図はトラック飛越しを示す図、第5図ないし第8図
は第3図に示したミラー面検出回路の動作を示す図であ
る。 2……光ディスク 14……レーザー光(光) 36……ミラー面 40……ミラー面検出回路 42……基準レベル設定回路(基準レベル設定手段) 66……低周波成分検出回路(低周波成分検出手段) 74……比較器(比較手段) 80……カウンタ(信号判定手段) 82……比較部(信号判定手段) 84……係数設定器(信号判定手段)
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a mirror surface detecting circuit of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing the operation of the mirror surface detecting circuit shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a pickup in a conventional optical disk reproducing apparatus. Circuit diagram showing a section and a mirror surface detection circuit,
FIG. 4 is a diagram showing the jump of a track, and FIGS. 5 to 8 are diagrams showing the operation of the mirror surface detecting circuit shown in FIG. 2 Optical disk 14 Laser light (light) 36 Mirror surface 40 Mirror surface detection circuit 42 Reference level setting circuit (reference level setting means) 66 Low frequency component detection circuit (Low frequency component detection) Means 74 74 Comparator (comparison means) 80 Counter (signal determination means) 82 Comparison section (signal determination means) 84 Coefficient setter (signal determination means)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】光ディスクから光を媒体として検出された
高周波信号の上限レベルと下限レベルとを検出し、両者
の中間レベルを基準レベルに設定する基準レベル設定手
段と、 前記高周波信号の下限レベルを起点として特定の時定数
を以て低周波信号成分を得る低周波成分検出手段と、 低周波成分検出手段を通過させた低周波信号成分と基準
レベルとを比較する比較手段とを備えてミラー面を表す
ミラー面検出信号を得るミラー面検出回路において、 前記比較手段が出力するミラー面検出信号の時間幅が一
定幅を越えたとき、正規のミラー面検出信号と判定する
信号判定手段を設置したミラー面検出回路。
1. A reference level setting means for detecting an upper limit level and a lower limit level of a high-frequency signal detected using light from an optical disc as a medium, and setting an intermediate level between the upper and lower levels as a reference level; The mirror surface includes low-frequency component detection means for obtaining a low-frequency signal component with a specific time constant as a starting point, and comparison means for comparing the low-frequency signal component passed through the low-frequency component detection means with a reference level. In a mirror surface detection circuit for obtaining a mirror surface detection signal, a mirror surface provided with signal determination means for determining a normal mirror surface detection signal when the time width of the mirror surface detection signal output by the comparing means exceeds a certain width. Detection circuit.
JP24850787A 1987-10-01 1987-10-01 Mirror surface detection circuit Expired - Lifetime JP2621230B2 (en)

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