JP2621231B2 - Mirror surface detection circuit - Google Patents

Mirror surface detection circuit

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JP2621231B2 JP24850887A JP24850887A JP2621231B2 JP 2621231 B2 JP2621231 B2 JP 2621231B2 JP 24850887 A JP24850887 A JP 24850887A JP 24850887 A JP24850887 A JP 24850887A JP 2621231 B2 JP2621231 B2 JP 2621231B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ディスクから光を検出媒体として検出
された高周波信号からミラー面を検出するミラー面検出
回路に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mirror surface detection circuit that detects a mirror surface from a high-frequency signal detected using light from an optical disk as a detection medium.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図は、CD(コンパクトディスク)などの光ディス
クに記録されている音楽情報などを再生する光ディスク
再生装置におけるトラック飛越し制御部を示す。
FIG. 3 shows a track jump control unit in an optical disc reproducing apparatus for reproducing music information and the like recorded on an optical disc such as a CD (compact disc).

光ディスク(以下CDという)2は、モータ4で回転さ
せ、モータ4は、図示していない線速度(CLV)サーボ
の制御出力DCLVで一定の線速度に制御される。
An optical disk (hereinafter referred to as a CD) 2 is rotated by a motor 4, and the motor 4 is controlled at a constant linear velocity by a control output DCLV of a linear velocity (CLV) servo (not shown).

ピックアップ6は、送りモータ8の回転によりアーム
10を通してCD2の直径方向の任意の位置に移動させるこ
とができ、レーザー光源12で発射させた検出媒体として
のレーザー光14を、ハーフミラー16や対物レンズ18など
からなる光学系を通過させて集束させることによりCD2
に照射し、CD2からの反射光20を受光素子22、24、26で
受光し、電気信号に変換する。そして、光学系は、フォ
ーカスコイル28によってレーザー光14の焦点を調整し、
トラッキングコイル30によってトラック上にレーザー光
14の焦点を結ばせる。
The pickup 6 is armed by the rotation of the feed motor 8.
The laser light 14 emitted from the laser light source 12 can be moved to an arbitrary position in the diameter direction of the CD 2 through the laser beam 10, and the laser light 14 as a detection medium is focused by passing through an optical system including a half mirror 16 and an objective lens 18. By letting CD2
, And the reflected light 20 from the CD 2 is received by the light receiving elements 22, 24, and 26, and is converted into an electric signal. Then, the optical system adjusts the focus of the laser light 14 by the focus coil 28,
Laser light on track by tracking coil 30
Make 14 focuses.

受光素子22はレーザー光14のメインビーム、受光素子
24、26はレーザー光14のサブビームの反射光20を電気信
号に変換するものであり、受光素子22でメインビームに
よる高周波(RF)信号が得られる。
The light receiving element 22 is a main beam of the laser light 14 and the light receiving element.
Reference numerals 24 and 26 convert the reflected light 20 of the sub-beam of the laser light 14 into an electric signal. The light receiving element 22 obtains a high-frequency (RF) signal by the main beam.

ところで、トラック飛越しでは、たとえば、第4図に
示すように、矢印Xで示す方向に回転するCD2に対して
メインビームによるスポット32を矢印Yで示す方向に走
査することになる。この場合、34はトラック上のピット
(非反射面)、36はミラー面を表す。
By the way, in the case of a track jump, for example, as shown in FIG. 4, a spot 32 of the main beam is scanned in a direction indicated by an arrow Y with respect to a CD 2 rotating in a direction indicated by an arrow X. In this case, 34 represents a pit (non-reflective surface) on the track, and 36 represents a mirror surface.

そして、受光素子22を通して電気信号に変換されて前
置増幅器38を通過させて得られるRF信号は、第5図のA
に示すように、トラック間を移動するため、トラック間
のミラー面36の通過を表すエンベロープ、すなわち、ミ
ラー面情報としての低周波信号成分Lfと、ピット34の通
過を表す高周波信号成分Hfとからなっている。
Then, the RF signal converted into an electric signal through the light receiving element 22 and obtained by passing through the preamplifier 38 is represented by A in FIG.
As shown in FIG. 5, the envelope representing the passage of the mirror surface 36 between the tracks, that is, the low frequency signal component Lf as the mirror surface information and the high frequency signal component Hf representing the passage of the pit 34, Has become.

従来、このRF信号を以てCD2のトラック飛越し時の通
過トラック数を計数する場合において、その基礎となる
トラックをトラック間のミラー面から検出するミラー面
検出回路40が設置されている。
Conventionally, a mirror surface detection circuit 40 for detecting a base track from a mirror surface between the tracks in the case of counting the number of passing tracks when the CD2 skips tracks using this RF signal is provided.

その場合、第5図のAに示すように、RF信号の上限レ
ベルであるピーク(Peak)レベルVPを検出するととも
に、下限レベルであるボトム(Bottom)レベルVBを検出
してRF信号のエンベロープの上限レベルおよび下限レベ
ルを抽出した後、その中間に基準レベルVMを基準レベル
設定回路42によって設定する。すなわち、RF信号のピー
クレベルVPを検出するピークレベル検出回路44は、npn
型トランジスタ48、定電流源50およびキャパシタ52を以
て構成し、キャパシタ52でピークレベルVPに対応した長
い時定数τが設定される。RF信号のボトムレベルVB
検出するボトムレベル検出回路46は、pnp型トランジス
タ54、定電流源56およびキャパシタ58を以て構成し、キ
ャパシタ58でボトムレベルVBに対応した短い時定数τ
(<τ)が設定される。そして、ピークレベル検出回
路44、ボトムレベル検出回路46の各出力レベルVP、VB
抵抗60、62の直列回路の両端側から加え、その中点から
抵抗60、62の比によって基準レベルVMが設定されるので
ある。
In that case, as shown in A of FIG. 5, detects the upper limit level is peak (Peak) level V P of the RF signal, the RF signal by detecting the which is the lower limit level bottom (Bottom) level V B after extracting the upper level and lower level of the envelope, set by the reference level setting circuit 42 to the reference level V M in the middle. That is, the peak level detection circuit 44 for detecting a peak level V P of the RF signal, npn
Type transistor 48 constitutes with a constant current source 50 and capacitor 52, constant tau P when long corresponding to the peak level V P in the capacitor 52 is set. Bottom level detection circuit for detecting a bottom level V B of the RF signal 46, pnp-type transistor 54 constitutes with a constant current source 56 and capacitor 58, constant tau B short time corresponding to the bottom level V B at the capacitor 58
(<Τ P ) is set. Then, the peak level detecting circuit 44, the output level V P of the bottom level detection circuit 46, added from both ends of the series circuit of the V B resistance 60 and 62, the reference level V from the midpoint by the ratio of resistors 60 and 62 M is set.

また、トラック間のミラー面36の通過を表す低周波信
号成分Lfを検出する低周波成分検出回路66が設置され、
この低周波成分検出回路66はpnp型トランジスタ68、定
電流源70およびキャパシタ72で構成され、キャパシタ72
でその低周波信号成分Lfに対応した時定数τ(ボトム
レベルVBに対応する時定数τより小さい)を設定す
る。
Further, a low-frequency component detection circuit 66 for detecting a low-frequency signal component Lf indicating passage of the mirror surface 36 between tracks is provided,
The low-frequency component detection circuit 66 includes a pnp transistor 68, a constant current source 70, and a capacitor 72.
Sets a time constant τ 0 (smaller than the time constant τ B corresponding to the bottom level V B ) corresponding to the low frequency signal component Lf.

このようにして得られた基準レベルVMと、低周波信号
成分Lfとを比較器74に加えて両者を比較し、第5図のB
に示すミラー面検出信号Vmrを得ている。
The reference level V M thus obtained and the low-frequency signal component Lf are added to a comparator 74 and compared with each other.
The mirror surface detection signal V mr shown in FIG.

このミラー面検出信号Vmrは、トラックの計数情報と
して制御部76に加えられ、設定された必要なトラック数
に到達したか否かを判断する。制御部76から出力された
トラック飛越しの制御信号が駆動部78に加えられて必要
なトラック数に移行するまで、送りモータ8の回転が行
われ、所定のトラック上にピックアップ6の検出点が設
定されるのである。
This mirror surface detection signal V mr is added to the control unit 76 as track count information, and determines whether or not the set required number of tracks has been reached. The rotation of the feed motor 8 is performed until the control signal for skipping tracks output from the control unit 76 is applied to the drive unit 78 and the required number of tracks is reached, and the detection point of the pickup 6 is located on a predetermined track. It is set.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

ところで、このようなミラー面検出回路40において、
低周波成分検出回路66に設定される時定数τを特定の
値にしてピックアップ6のトラック飛越し速度を高める
(高速アクセス)と、第6図のAに示すように、ミラー
面情報を表す信号としての低周波信号成分Lfの周波数が
高くなるのに対し、時定数τが一定であるため、比較
器74から得られるミラー面検出信号Vmrが本来のミラー
面36より時間的に遅れて生じ(位相の遅れ)たり、その
パルス幅が非常に狭くなってミラー面36の検出が困難に
なったりするおそれがある。
By the way, in such a mirror surface detection circuit 40,
When the time constant τ 0 set in the low-frequency component detection circuit 66 is set to a specific value to increase the track jump speed of the pickup 6 (high-speed access), the mirror surface information is displayed as shown in FIG. 6A. Since the time constant τ 0 is constant while the frequency of the low-frequency signal component Lf as a signal is high, the mirror surface detection signal V mr obtained from the comparator 74 is temporally delayed from the original mirror surface 36. (Delay of phase), or the pulse width may be so narrow that detection of the mirror surface 36 becomes difficult.

また、上記の速度に追従させるために、低周波成分検
出回路66の時定数τを短くした場合、ピックアップ6
のトラック飛越し速度を遅くすると、11Tの長さを持つ
最長ピットによる影響が問題になる。たとえば、第7図
のAにおいて、1トラック内におけるS1、S2等のノイズ
によるエンベロープが低周波信号成分Lfとして現れ、第
7図のBに示すように、S1、S2による低周波信号成分Lf
がミラー面検出信号Vmrとして検出され、ミラー面36の
検出に誤差(チャタリング)を生ずることになる。
When the time constant τ 0 of the low frequency component detection circuit 66 is shortened in order to follow the above speed, the pickup 6
When the track jump speed is slow, the effect of the longest pit having a length of 11T becomes a problem. For example, in FIG. 7 of the A, appears as S 1, the envelope by S 2, etc. noise low-frequency signal component Lf within one track, as shown in B of FIG. 7, the low frequency by S 1, S 2 Signal component Lf
Is detected as the mirror surface detection signal V mr , and an error (chattering) occurs in the detection of the mirror surface 36.

そこで、この発明は、高速アクセス時においても、正
確にミラー面36を検出できるようにしたものである。
Thus, the present invention is designed to accurately detect the mirror surface 36 even during high-speed access.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

この発明のミラー面検出回路は、第1図に示すよう
に、光ディスク2から光(レーザー光14)を媒体として
検出された高周波信号(RF)の上限レベル(ピークレベ
ルVP)と下限レベル(ボトムレベルVB)とを検出し、両
者の中間レベルを基準レベルVMに設定する基準レベル設
定手段(基準レベル設定回路42)と、高周波信号の下限
レベルを起点として特定の時定数τを以て低周波信号
成分Lfを得る低周波成分検出手段(低周波成分検出回路
66)と、低周波成分検出手段を通過させた低周波信号成
分Lfと基準レベルVMとを比較する比較手段(比較器74)
とを備えてミラー面36を表すミラー面検出信号Vmrを得
るミラー面検出回路40において、低周波成分検出手段の
出力側にミラー面情報を表す信号から高周波成分を除く
低域通過フィルタ80を設置し、この低域通過フィルタ80
を通過した低周波信号成分Lf0を比較手段に加えるよう
にしたものである。
As shown in FIG. 1, the mirror surface detection circuit according to the present invention uses an upper limit level (peak level VP ) and a lower limit level (peak level VP) of a high-frequency signal (RF) detected from the optical disk 2 using light (laser light 14) as a medium. detecting a bottom level V B) and a reference level setting means for setting an intermediate level of both the reference level V M (the reference level setting circuit 42), with a constant tau 0 at a specific time as a starting point the lower limit level of the high-frequency signal Low frequency component detection means for obtaining low frequency signal component Lf (low frequency component detection circuit
And 66), comparing means for comparing the low-frequency signal component Lf and the reference level V M having passed through the low-frequency component detecting unit (comparator 74)
In the mirror surface detection circuit 40 that obtains a mirror surface detection signal V mr representing the mirror surface 36, a low-pass filter 80 that removes high frequency components from the signal representing mirror surface information is provided on the output side of the low frequency component detection means. Install this low pass filter 80
The low-frequency signal component Lf 0 that has passed through is added to the comparison means.

〔作用〕 このように構成したことによって、低周波成分検出手
段の時定数τは、高速アクセス速度に対応する値に設
定し、その場合に、低周波成分検出手段の出力側に現れ
るミラー面情報を表す信号中のミラー面検出上不要な高
周波帯域における成分を低域通過フィルタ80によって遮
断することができ、正確なミラー面検出を実現したので
ある。
[Operation] With this configuration, the time constant τ 0 of the low-frequency component detecting means is set to a value corresponding to the high-speed access speed. In this case, the mirror surface appearing on the output side of the low-frequency component detecting means is set. The components in the high-frequency band unnecessary for the mirror surface detection in the signal representing the information can be cut off by the low-pass filter 80, thereby realizing the accurate mirror surface detection.

〔実 施 例〕〔Example〕

第1図は、この発明のミラー面検出回路の実施例を示
す。
FIG. 1 shows an embodiment of a mirror surface detecting circuit according to the present invention.

このミラー面検出回路40において、基準レベル設定回
路42の構成は、第3図に示したミラー面検出回路40と同
様であり、低周波成分検出回路66について、キャパシタ
72で高速アクセスが可能な時定数τを設定している。
低周波成分検出回路66をnpn型トランジスタ68、定電流
源70およびキャパシタ72で構成し、キャパシタ72でその
低周波信号成分Lfに対応した時定数τ(ボトムレベル
VBに対応する時定数τより小さい)を設定する。
In this mirror surface detection circuit 40, the configuration of the reference level setting circuit 42 is the same as that of the mirror surface detection circuit 40 shown in FIG.
At 72, a time constant τ 0 enabling high-speed access is set.
The low-frequency component detection circuit 66 includes an npn-type transistor 68, a constant current source 70, and a capacitor 72, and the capacitor 72 has a time constant τ 0 (bottom level) corresponding to the low-frequency signal component Lf.
V B is smaller than the time constant τ B corresponding to V B ).

そして、この低周波成分検出回路66の出力側にミラー
面検出上不要な高周波帯域における信号成分を遮断する
とともに、必要な低周波信号成分Lfを抽出するための低
域通過フィルタ(LPF)80を設置したものである。
A low-pass filter (LPF) 80 for cutting off a signal component in a high-frequency band unnecessary for detecting a mirror surface and extracting a necessary low-frequency signal component Lf is provided on the output side of the low-frequency component detection circuit 66. It was installed.

このLPF80は、たとえば、抵抗およびキャパシタから
なる回路や、適当な時定数に調整可能なプログラムブル
ローパスフィルタで構成する。
The LPF 80 is configured by, for example, a circuit including a resistor and a capacitor, or a programmable low-pass filter that can be adjusted to an appropriate time constant.

この場合、前置増幅器38を通して得られるRF信号につ
いて、直流(DC)から400Hzの周波数帯域で基準レベル
設定回路42の基準レベルVMおよびエンベロープの変動が
生じ、400Hzから20kHzの周波数帯域でトラック情報が保
存され、190kHzを越える周波数帯域ではピット情報のみ
となることから、このような周波数帯域と必要な成分と
の関係からLPF80には、たとえば、ミラー面36を表す低
周波信号(20kHz)に対して大幅な位相遅れを生じな
い。160kHz(20kHzの4倍)以上を禁止域に設定する。
In this case, the RF signal obtained through the preamplifier 38, a DC fluctuation of the reference level V M and the envelope of the reference level setting circuit 42 from the (DC) at 400Hz frequency band occurs, the track information in a frequency band of 20kHz from 400Hz Is stored, and only pit information is contained in a frequency band exceeding 190 kHz. From the relationship between such a frequency band and necessary components, for example, the LPF 80 has a low frequency signal (20 kHz) representing the mirror surface 36. And no significant phase delay occurs. Set 160kHz (4 times 20kHz) or higher as the prohibited area.

そして、基準レベル設定回路42では、ピークレベル検
出回路44がnpn型トランジスタ48、定電流源50およびキ
ャパシタ52を以て、キャパシタ52でピークレベルVPに対
応して設定された長い時定数τにより、RF信号の上限
レベルであるピークレベルVPを検出し、また、ボトムレ
ベル検出回路46が、pnp型トランジスタ54、定電流源56
およびキャパシタ58を以て、キャパシタ58でボトムレベ
ルVBに対応して設定された短い時定数τにより、下限
レベルであるボトムレベルVBを検出する。このようにし
てRF信号のエンベロープの上限レベルおよび下限レベル
を抽出した後、ピークレベル検出回路44、ボトムレベル
検出回路46の各出力レベルVP、VBを抵抗60、62の直列回
路の両端側から加え、その中点から抵抗60、62の比によ
って基準レベルVMが設定される。
Then, the reference level setting circuit 42, a peak level detecting circuit 44 is an npn transistor 48, with a constant current source 50 and capacitor 52, the constant tau P when long set corresponding to the peak level V P at the capacitor 52, detecting a peak level V P is the upper limit level of the RF signal and the bottom level detection circuit 46, pnp-type transistor 54, a constant current source 56
And with a capacitor 58, the constant tau B short time set corresponding to the bottom level V B a capacitor 58, to detect the bottom level V B is the lower limit level. After extracting the upper and lower levels of the envelope of the RF signal in this manner, the output levels V P and V B of the peak level detection circuit 44 and the bottom level detection circuit 46 are changed to both ends of the series circuit of the resistors 60 and 62. in addition the reference level V M is set from the midpoint by the ratio of resistors 60 and 62.

このようにして得られた基準レベルVMと、不要な信号
成分をLPF80で除去した低周波信号成分Lf0とを比較器74
に加えて両者を比較し、ミラー面検出信号Vmrを得るこ
とができる。
Thus the reference level V M obtained, and a low-frequency signal component Lf 0 removing the unwanted signal components in LPF80 comparator 74
Can be compared with each other to obtain a mirror surface detection signal V mr .

したがって、低周波成分検出回路66の出力側にミラー
面情報を表す信号からミラー面36の検出上不要な信号成
分を除去するLPF80を設置したので、第2図に図示する
ように不要な信号成分によるミラー面36の誤検出の防止
ができるとともに、位相遅れを防止することができる。
特に、従来の回路で生じた最長ピットの影響を回避で
き、高速アクセス時の位相遅れやミラー面検出信号Vmr
の検出ミスを防止できるとともに、低速アクセスについ
てもチャタリングを防止することができる。
Therefore, an LPF 80 is provided at the output side of the low-frequency component detection circuit 66 for removing unnecessary signal components for the detection of the mirror surface 36 from the signal representing the mirror surface information, and as shown in FIG. As a result, erroneous detection of the mirror surface 36 can be prevented, and a phase delay can be prevented.
In particular, the effect of the longest pit generated in the conventional circuit can be avoided, and the phase lag during high-speed access and the mirror surface detection signal V mr
Can be prevented, and chattering can be prevented even in low-speed access.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

この発明によれば、低周波成分検出手段の出力側に低
周波成分検出手段が出力するミラー面情報を表す信号中
に含まれるミラー面検出上の不要な高周波成分を遮断す
る低域通過フィルタを設置したので、不要な高周波成分
による検出誤差や位相遅れなどを防止でき、高速アクセ
スから低速アクセスまで信頼性の高いミラー面の検出を
実現することができる。
According to the present invention, a low-pass filter that cuts off unnecessary high-frequency components on mirror surface detection included in a signal representing mirror surface information output by the low-frequency component detection unit is provided on the output side of the low-frequency component detection unit. Since the detector is installed, it is possible to prevent a detection error and a phase delay due to unnecessary high frequency components, and to realize a highly reliable mirror surface detection from high-speed access to low-speed access.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明のミラー面検出回路の実施例を示す回
路図、第2図は第1図に示したミラー面検出回路におけ
る低周波成分検出回路の位相補償を示す図、第3図は従
来の光ディスク再生装置におけるトラック飛越し制御部
を示す回路図、第4図はトラック飛越しを示す図、第5
図ないし第7図は第3図に示したトラック飛越し制御部
におけるミラー面検出回路の動作を示す図である。 2……光ディスク 14……レーザー光(光) 36……ミラー面 40……ミラー面検出回路 42……基準レベル設定回路(基準レベル設定手段) 66……低周波成分検出回路(低周波成分検出手段) 74……比較器(比較手段) 80……低域通過フィルタ
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a mirror surface detection circuit according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing phase compensation of a low frequency component detection circuit in the mirror surface detection circuit shown in FIG. 1, and FIG. FIG. 4 is a circuit diagram showing a track skipping control unit in a conventional optical disc reproducing apparatus, FIG.
FIG. 7 to FIG. 7 are diagrams showing the operation of the mirror surface detection circuit in the track jump control unit shown in FIG. 2 Optical disk 14 Laser light (light) 36 Mirror surface 40 Mirror surface detection circuit 42 Reference level setting circuit (reference level setting means) 66 Low frequency component detection circuit (Low frequency component detection) Means) 74 Comparator (Comparison means) 80 Low-pass filter

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】光ディスクから光を媒体として検出された
高周波信号の上限レベルと下限レベルとを検出し、両者
の中間レベルを基準レベルに設定する基準レベル設定手
段と、 前記高周波信号の下限レベルを起点として特定の時定数
を以て低周波信号成分を得る低周波成分検出手段と、 低周波成分検出手段を通過させた低周波信号成分と基準
レベルとを比較する比較手段とを備えてミラー面を表す
ミラー面検出信号を得るミラー面検出回路において、 前記低周波成分検出手段の出力側にミラー面情報を表す
信号から高周波成分を除く低域通過フィルタを設置し、
この低域通過フィルタを通過した低周波信号成分を前記
比較手段に加えるミラー面検出回路。
1. A reference level setting means for detecting an upper limit level and a lower limit level of a high-frequency signal detected using light from an optical disc as a medium, and setting an intermediate level between the upper and lower levels as a reference level; The mirror surface includes low-frequency component detection means for obtaining a low-frequency signal component with a specific time constant as a starting point, and comparison means for comparing the low-frequency signal component passed through the low-frequency component detection means with a reference level. In a mirror surface detection circuit that obtains a mirror surface detection signal, a low-pass filter that removes high-frequency components from a signal representing mirror surface information is provided on the output side of the low-frequency component detection means,
A mirror surface detection circuit for adding the low-frequency signal component passed through the low-pass filter to the comparison means;
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JPH0191325A (en) 1989-04-11

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