JP2616961B2 - 測定試験用接続ユニット - Google Patents
測定試験用接続ユニットInfo
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- JP2616961B2 JP2616961B2 JP12756088A JP12756088A JP2616961B2 JP 2616961 B2 JP2616961 B2 JP 2616961B2 JP 12756088 A JP12756088 A JP 12756088A JP 12756088 A JP12756088 A JP 12756088A JP 2616961 B2 JP2616961 B2 JP 2616961B2
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- low
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- connector
- switching
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、耐電圧試験や絶縁抵抗測定（メガ測定）、
層間耐圧試験、インパルス試験等に使用する測定試験用
接続ユニットに関する。
層間耐圧試験、インパルス試験等に使用する測定試験用
接続ユニットに関する。
耐電圧試験や絶縁抵抗測定（メガ測定）、層間耐圧試
験、インパルス試験等では、一般に高圧が印加されるた
め、感電防止等安全上の配慮が必要である。
験、インパルス試験等では、一般に高圧が印加されるた
め、感電防止等安全上の配慮が必要である。
例えばトランスの検査でも上記の各測定試験が行われ
るが、測定試験に応じて接続端子やそれぞれに印加され
る電圧も変化する。従って、このような切り換えを行う
ために端子を設けたものが多い。
るが、測定試験に応じて接続端子やそれぞれに印加され
る電圧も変化する。従って、このような切り換えを行う
ために端子を設けたものが多い。
しかしながら、従来よりいろいろな測定試験装置が提
案され使用されているが、安全性を配慮して構造的にも
堅牢で大型になり、重く持ち運びが不便である。また、
端子も多く、測定試験に応じてそれぞれの端子に被測定
試験機器の端子を接続している。従って、配線の数も多
くなり煩雑になる。
案され使用されているが、安全性を配慮して構造的にも
堅牢で大型になり、重く持ち運びが不便である。また、
端子も多く、測定試験に応じてそれぞれの端子に被測定
試験機器の端子を接続している。従って、配線の数も多
くなり煩雑になる。
本発明は、上記の課題を解決するものであって、コン
パクトに且つ安全性の高い測定試験用接続ユニットを提
供することを目的とするものである。
パクトに且つ安全性の高い測定試験用接続ユニットを提
供することを目的とするものである。
そのために本発明は、被測定試験機器からの配線を接
続する測定試験接続端子（１）と、高圧を供給する高圧
ライン及び低圧を供給する低圧ラインのそれぞれの供給
ラインに接続する高圧用コネクター（10）と、高圧切り
替え信号及び低圧切り替え信号のそれぞれの制御ライン
に接続する低圧用コネクター（11）と、前記低圧用コネ
クターの制御ラインに接続されて低圧切り替え信号によ
り前記高圧用コネクターの低圧ラインと前記測定試験接
続端子との間の接続／遮断切り替えを行う低圧切り替え
リレー（６）と、前記低圧用コネクターの制御ラインに
接続されて高圧切り替え信号により前記高圧用コネクタ
ーの高圧ラインと前記測定試験接続端子との間の接続／
遮断切り替えを行う高圧切り替えリレー（７）と、前記
低圧用コネクターの制御ラインに前記低圧切り替えリレ
ー及び高圧切り替えリレーとそれぞれ並列に接続する発
光素子（８、９）と、前記発光素子との間を光ファイバ
ーで接続して発光素子の点灯状態を表示する状態表示部
（２、３）とを備えたことを特徴とする。
続する測定試験接続端子（１）と、高圧を供給する高圧
ライン及び低圧を供給する低圧ラインのそれぞれの供給
ラインに接続する高圧用コネクター（10）と、高圧切り
替え信号及び低圧切り替え信号のそれぞれの制御ライン
に接続する低圧用コネクター（11）と、前記低圧用コネ
クターの制御ラインに接続されて低圧切り替え信号によ
り前記高圧用コネクターの低圧ラインと前記測定試験接
続端子との間の接続／遮断切り替えを行う低圧切り替え
リレー（６）と、前記低圧用コネクターの制御ラインに
接続されて高圧切り替え信号により前記高圧用コネクタ
ーの高圧ラインと前記測定試験接続端子との間の接続／
遮断切り替えを行う高圧切り替えリレー（７）と、前記
低圧用コネクターの制御ラインに前記低圧切り替えリレ
ー及び高圧切り替えリレーとそれぞれ並列に接続する発
光素子（８、９）と、前記発光素子との間を光ファイバ
ーで接続して発光素子の点灯状態を表示する状態表示部
（２、３）とを備えたことを特徴とする。
本発明の測定試験用接続ユニットでは、測定試験接続
端子と測定試験コネクターとの間に接続される切り換え
リレーを基板上に配置すると共に、該切り換えリレーと
並列に発光素子を接続するので、切り換えリレーの動作
状態を発光素子の動作により確認することができる。し
かも、光ファイバーを介して前面パネルに表示すること
により高圧と絶縁した動作状態の表示が可能になる。
端子と測定試験コネクターとの間に接続される切り換え
リレーを基板上に配置すると共に、該切り換えリレーと
並列に発光素子を接続するので、切り換えリレーの動作
状態を発光素子の動作により確認することができる。し
かも、光ファイバーを介して前面パネルに表示すること
により高圧と絶縁した動作状態の表示が可能になる。
以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
第１図は本発明に係る測定試験用接続ユニットの１実
施例構成を示す図、第２図は第１図に示す測定試験用接
続ユニットの回路構成例を示す図、第３図は複合ユニッ
トの配置構成例を示す図、第４図は複合ユニットの回路
構成例を示す図である。
施例構成を示す図、第２図は第１図に示す測定試験用接
続ユニットの回路構成例を示す図、第３図は複合ユニッ
トの配置構成例を示す図、第４図は複合ユニットの回路
構成例を示す図である。
第１図において、１は測定試験接続端子、２と３は状
態表示部、４と５は光ファイバー、６と７は切り換えリ
レー、８と９は発光ダイオード、10と11はコネクター、
12は前面カバー、13は基板を示す。前面カバー12は、透
明の合成樹脂やガラス等の透明部材例えばアクリル樹脂
を用いたカバーであって、図示左側を前面として基板13
からＬ字状に立ち上がり、被測定試験機器に接続する測
定試験接続端子１及び状態表示部２、３が配置される。
また、基板13上には高圧と低圧の２つの切り換えリレー
６、７及び発光ダイオード８、９が配置される。そし
て、発光ダイオード８、９と状態表示部２、３との間が
光ファイバー４、５により接続される。切り換えリレー
６、７の接点は、高圧ラインＨと低圧ラインＬとの間に
直列に接続され、その直列接続点が測定試験接続端子１
に接続され、高圧ラインＨと低圧ラインＬは、背面側の
高圧用コネクター10に接続される。また、切り換えリレ
ー６、７の励磁コイルは、背面側の低圧用コネクター11
に接続され、各励磁コイルと並列に切り替えリレー６、
７の動作状態をモニタする発光ダイオード８、９が接続
される。第１図に示す配置構成を回路図により示したの
が第２図である。
態表示部、４と５は光ファイバー、６と７は切り換えリ
レー、８と９は発光ダイオード、10と11はコネクター、
12は前面カバー、13は基板を示す。前面カバー12は、透
明の合成樹脂やガラス等の透明部材例えばアクリル樹脂
を用いたカバーであって、図示左側を前面として基板13
からＬ字状に立ち上がり、被測定試験機器に接続する測
定試験接続端子１及び状態表示部２、３が配置される。
また、基板13上には高圧と低圧の２つの切り換えリレー
６、７及び発光ダイオード８、９が配置される。そし
て、発光ダイオード８、９と状態表示部２、３との間が
光ファイバー４、５により接続される。切り換えリレー
６、７の接点は、高圧ラインＨと低圧ラインＬとの間に
直列に接続され、その直列接続点が測定試験接続端子１
に接続され、高圧ラインＨと低圧ラインＬは、背面側の
高圧用コネクター10に接続される。また、切り換えリレ
ー６、７の励磁コイルは、背面側の低圧用コネクター11
に接続され、各励磁コイルと並列に切り替えリレー６、
７の動作状態をモニタする発光ダイオード８、９が接続
される。第１図に示す配置構成を回路図により示したの
が第２図である。
第１図に示す測定試験用接続ユニットは、背面側にコ
ネクター10、11の受けがあり、この受けに高圧と低圧の
供給ライン及び制御ラインが接続される。コネクター11
には例えばCPUで構成する測定試験のコントローラが接
続される。従って、測定試験用接続ユニットは、コネク
ター10、11を受けに差し込み、測定試験接続端子１に被
測定試験機器の端子からの配線を接続することによって
測定試験回路をつくるものである。なお、第１図及び第
２図は単位ユニットを示したものであって、実際の測定
試験回路では、複数の単位ユニットが使用される。
ネクター10、11の受けがあり、この受けに高圧と低圧の
供給ライン及び制御ラインが接続される。コネクター11
には例えばCPUで構成する測定試験のコントローラが接
続される。従って、測定試験用接続ユニットは、コネク
ター10、11を受けに差し込み、測定試験接続端子１に被
測定試験機器の端子からの配線を接続することによって
測定試験回路をつくるものである。なお、第１図及び第
２図は単位ユニットを示したものであって、実際の測定
試験回路では、複数の単位ユニットが使用される。
次に上記測定試験用接続ユニットの使用方法を説明す
る。
る。
第１図において、測定試験用接続ユニットの差し込み
コネクター10、11をそれぞれ高圧と低圧の供給ライン及
び制御ラインが接続すると共に、測定試験接続端子１に
被測定試験機器の端子からの配線を接続する。そして、
図示しないがコネクター11の制御ラインにコントローラ
から制御信号を入力する。この制御信号は、高圧側の切
り換えリレー７をオンにする信号と低圧側の切り換えリ
レー６をオンにする信号である。高圧側の切り換えリレ
ー７のオン信号によりコネクター11のｃとｈとの間に電
圧が印加されると、切り換えリレー７がオンすると同時
に切り替えリレー７の動作状態をモニタする発光ダイオ
ード９が点灯する。従って、コネクター10の高圧ライン
Ｈと被測定試験機器の端子が切り換えリレー７、測定試
験接続端子１を介して接続され、高圧ラインに接続され
ていることが状態表示部３に表示される。同様に低圧側
の切り換えリレー６のオン信号によりコネクター11のｃ
とｌとの間に電圧が印加されると、コネクター10の低圧
ラインＬと被測定試験機器の端子が切り換えリレー７、
測定試験接続端子１を介して接続され、低圧ラインに接
続されていることが状態表示部２に表示される。例えば
発光ダイオード８に緑色の素子を、発光ダイオード９に
赤色の素子を使用すると、状態表示部２、３では、高圧
ラインに接続された場合に赤表示、低圧ラインに接続さ
れた場合に緑表示となり、高圧／低圧が色で識別でき
る。
コネクター10、11をそれぞれ高圧と低圧の供給ライン及
び制御ラインが接続すると共に、測定試験接続端子１に
被測定試験機器の端子からの配線を接続する。そして、
図示しないがコネクター11の制御ラインにコントローラ
から制御信号を入力する。この制御信号は、高圧側の切
り換えリレー７をオンにする信号と低圧側の切り換えリ
レー６をオンにする信号である。高圧側の切り換えリレ
ー７のオン信号によりコネクター11のｃとｈとの間に電
圧が印加されると、切り換えリレー７がオンすると同時
に切り替えリレー７の動作状態をモニタする発光ダイオ
ード９が点灯する。従って、コネクター10の高圧ライン
Ｈと被測定試験機器の端子が切り換えリレー７、測定試
験接続端子１を介して接続され、高圧ラインに接続され
ていることが状態表示部３に表示される。同様に低圧側
の切り換えリレー６のオン信号によりコネクター11のｃ
とｌとの間に電圧が印加されると、コネクター10の低圧
ラインＬと被測定試験機器の端子が切り換えリレー７、
測定試験接続端子１を介して接続され、低圧ラインに接
続されていることが状態表示部２に表示される。例えば
発光ダイオード８に緑色の素子を、発光ダイオード９に
赤色の素子を使用すると、状態表示部２、３では、高圧
ラインに接続された場合に赤表示、低圧ラインに接続さ
れた場合に緑表示となり、高圧／低圧が色で識別でき
る。
例えばトランスの検査をする場合には、上記単位ユニ
ットをトランスの端子の数に対応して用意し、各端子に
単位ユニットの測定試験接続端子１を接続すればよい。
１基板上に上記単位ユニットを複数配置した構成例を示
したのが第３図である。
ットをトランスの端子の数に対応して用意し、各端子に
単位ユニットの測定試験接続端子１を接続すればよい。
１基板上に上記単位ユニットを複数配置した構成例を示
したのが第３図である。
第３図において、21は基板、22は前面パネル、23と24
はコネクター、25−１〜21−５は測定試験接続端子、26
−１〜26−５は低圧側切り換えリレー、27−１〜27−５
は高圧側切り換えリレー、28−１〜28−５と29−１〜29
−５は状態表示部を示す。
はコネクター、25−１〜21−５は測定試験接続端子、26
−１〜26−５は低圧側切り換えリレー、27−１〜27−５
は高圧側切り換えリレー、28−１〜28−５と29−１〜29
−５は状態表示部を示す。
第３図に示す例は、第１図及び第２図により説明した
単位ユニットを基板21上に複数個配置したものであり、
Ａ〜Ｅの５単位ユニットからなる。例えば単位ユニット
Ａは、測定試験接続端子25−１と低圧側切り換えリレー
26−１と高圧側切り換えリレー27−１と状態表示部28−
１、29−１より構成している。そして、コネクター23が
高圧／低圧ライン接続用であり、コネクター24がコント
ローラ接続用である。このように切り換えリレー26−
１、27−１を単位ユニットごとに奥行き方向に直線配列
し、状態表示部28−１、29−１も同図（ｂ）に示すよう
に縦配列することにより配置スペース効率を上げること
ができ、ユニットとしてコンパクトな構成を実現してい
る。また、前面パネル22にアクリル樹脂等の透明部材を
使用することにより、基板21に搭載された各単位ユニッ
トの切り換えリレーも見ることができるので、切り換え
リレーの接点の動作状態が放電光等により外側から確認
できるタイプの場合には、切り換えリレーの動作状態を
前面パネル22を通して目視確認することもできる。
単位ユニットを基板21上に複数個配置したものであり、
Ａ〜Ｅの５単位ユニットからなる。例えば単位ユニット
Ａは、測定試験接続端子25−１と低圧側切り換えリレー
26−１と高圧側切り換えリレー27−１と状態表示部28−
１、29−１より構成している。そして、コネクター23が
高圧／低圧ライン接続用であり、コネクター24がコント
ローラ接続用である。このように切り換えリレー26−
１、27−１を単位ユニットごとに奥行き方向に直線配列
し、状態表示部28−１、29−１も同図（ｂ）に示すよう
に縦配列することにより配置スペース効率を上げること
ができ、ユニットとしてコンパクトな構成を実現してい
る。また、前面パネル22にアクリル樹脂等の透明部材を
使用することにより、基板21に搭載された各単位ユニッ
トの切り換えリレーも見ることができるので、切り換え
リレーの接点の動作状態が放電光等により外側から確認
できるタイプの場合には、切り換えリレーの動作状態を
前面パネル22を通して目視確認することもできる。
第３図に示す構成のユニットは、さらに上下に積層す
ることにより高い集積密度で単位ユニットを配置するこ
とができる。そして、背面のコネクターを通してコント
ローラにより切り換えリレーを制御することにより複合
ユニットをシーケンシャルな測定試験も簡便に行うこと
ができる。このような複合ユニットの回路構成例を示し
たのが第４図であり、31と32はコネクター部、33は測定
試験接続端子部、34はコントローラ、35と35′は切り換
え接点、Rla、Rha〜Rld、Rhdは切り換えリレー、Dla、D
ha〜Dld、Dhdは状態表示用の発光ダイオード、RXは負荷
抵抗を示す。
ることにより高い集積密度で単位ユニットを配置するこ
とができる。そして、背面のコネクターを通してコント
ローラにより切り換えリレーを制御することにより複合
ユニットをシーケンシャルな測定試験も簡便に行うこと
ができる。このような複合ユニットの回路構成例を示し
たのが第４図であり、31と32はコネクター部、33は測定
試験接続端子部、34はコントローラ、35と35′は切り換
え接点、Rla、Rha〜Rld、Rhdは切り換えリレー、Dla、D
ha〜Dld、Dhdは状態表示用の発光ダイオード、RXは負荷
抵抗を示す。
第４図に示す例は、H1/L1とH2/L2からなる２組の高圧
／低圧ラインと、４組の単位ユニット（Ａ〜Ｄ）を備え
た回路であり、コントローラ34は、各単位ユニットの切
り換えリレーを制御している。この回路は、端子ＡとＢ
がH2/L2の高圧／低圧ラインに、端子ＣとＤがH1/L1の高
圧／低圧ラインにそれぞれ切り換え接続でき、ケルビン
法（４端子測定）による抵抗測定、インピーダンス測定
が可能となるように構成されている。従って、４端子測
定時には、端子ＡとＣ、端子ＢとＤがペア端子となり、
負荷抵抗RXは、このペア端子間に接続される。例えば直
流抵抗試験器として使用する場合には、H1/L1のバスラ
インに電流源を接続すると共にH2/L2のバスラインに電
圧計を接続し、切り換えリレーRha、Rhc、Rlb、Rldをオ
ンにして、端子ＣとＤとの間をソース端子、端子ＡとＢ
との間をセンス端子とする。また、２端子測定も可能で
あり、H1、L1、H2、L2のバスラインでH1とH2を短絡する
切り換え接点35、L1とL2を短絡する切り換え接点35′が
接続され、耐電圧、絶縁抵抗試験を行う場合にはこの接
点を閉じることによって行われる。
／低圧ラインと、４組の単位ユニット（Ａ〜Ｄ）を備え
た回路であり、コントローラ34は、各単位ユニットの切
り換えリレーを制御している。この回路は、端子ＡとＢ
がH2/L2の高圧／低圧ラインに、端子ＣとＤがH1/L1の高
圧／低圧ラインにそれぞれ切り換え接続でき、ケルビン
法（４端子測定）による抵抗測定、インピーダンス測定
が可能となるように構成されている。従って、４端子測
定時には、端子ＡとＣ、端子ＢとＤがペア端子となり、
負荷抵抗RXは、このペア端子間に接続される。例えば直
流抵抗試験器として使用する場合には、H1/L1のバスラ
インに電流源を接続すると共にH2/L2のバスラインに電
圧計を接続し、切り換えリレーRha、Rhc、Rlb、Rldをオ
ンにして、端子ＣとＤとの間をソース端子、端子ＡとＢ
との間をセンス端子とする。また、２端子測定も可能で
あり、H1、L1、H2、L2のバスラインでH1とH2を短絡する
切り換え接点35、L1とL2を短絡する切り換え接点35′が
接続され、耐電圧、絶縁抵抗試験を行う場合にはこの接
点を閉じることによって行われる。
さらに、例えば測定試験接続端子部33の端子ＢとＣに
被測定試験機器の端子を接続すると、その被測定試験機
器の端子は、切り換えリレーRlb、Rhb、Rlc、Rhcのいず
れかを選択的にオンすることにより、高圧／低圧ライン
H1、L1、H2、L2のいずれかのレベルに接続することがき
る。低圧ラインL2を浮かせておくと、切り換えリレーRl
aとRlbをオンにすることにより、測定試験接続端子部33
の端子Ａ、Ｂ間の接続を行うことができる。
被測定試験機器の端子を接続すると、その被測定試験機
器の端子は、切り換えリレーRlb、Rhb、Rlc、Rhcのいず
れかを選択的にオンすることにより、高圧／低圧ライン
H1、L1、H2、L2のいずれかのレベルに接続することがき
る。低圧ラインL2を浮かせておくと、切り換えリレーRl
aとRlbをオンにすることにより、測定試験接続端子部33
の端子Ａ、Ｂ間の接続を行うことができる。
なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものでは
なく、種々の変形が可能である。例えば上記の実施例で
は、高圧側と低圧側でそれぞれ別個に状態表示部を構成
したが、赤と緑の発光ダイオードが一体に組み込まれた
所謂コンビネーションLEDを使用することにより、１個
所の表示部で赤と緑を切り換え表示するように構成して
もよい。また、高圧と低圧との切り換え回路の例を示し
たが、２つの高圧と低圧、高圧と２つの低圧、高圧と中
間と低圧のように２以上の切り換え回路で構成してもよ
い。
なく、種々の変形が可能である。例えば上記の実施例で
は、高圧側と低圧側でそれぞれ別個に状態表示部を構成
したが、赤と緑の発光ダイオードが一体に組み込まれた
所謂コンビネーションLEDを使用することにより、１個
所の表示部で赤と緑を切り換え表示するように構成して
もよい。また、高圧と低圧との切り換え回路の例を示し
たが、２つの高圧と低圧、高圧と２つの低圧、高圧と中
間と低圧のように２以上の切り換え回路で構成してもよ
い。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、次
のような種々の効果が期待できる。
のような種々の効果が期待できる。
、測定試験接続端子の高圧／低圧状態が色別で表示さ
れ一目でわかるので、安全性の向上を図ることができ
る。
れ一目でわかるので、安全性の向上を図ることができ
る。
、高圧と低圧との切り換えリレーの制御信号により発
光ダイオードを動作させ、光ファイバーによりその発光
信号を前面パネルに表示するので、端子と発光ダイオー
ドの耐電圧を十分確保しつつ、簡単な実装方法で高圧／
低圧状態を前面に表示できる。
光ダイオードを動作させ、光ファイバーによりその発光
信号を前面パネルに表示するので、端子と発光ダイオー
ドの耐電圧を十分確保しつつ、簡単な実装方法で高圧／
低圧状態を前面に表示できる。
、試験測定ラインと制御ラインとをコネクターで分け
ているので、高圧ラインと制御ラインの配線を基板の片
面で区分したり、上面と裏面で区分する等柔軟に対応す
ることができる。
ているので、高圧ラインと制御ラインの配線を基板の片
面で区分したり、上面と裏面で区分する等柔軟に対応す
ることができる。
、前面パネルを透明樹脂で構成することにより内部リ
レーの動作状態を見ることができ、光ファイバーによる
表示と併せて高圧／低圧状態の確認を容易にすることが
できる。
レーの動作状態を見ることができ、光ファイバーによる
表示と併せて高圧／低圧状態の確認を容易にすることが
できる。
、単位ユニットごとに切り換えリレーを奥行き方向に
配列し、各単位ユニットを横に配列することにより、配
置密度を高めスペース効率を高めることができる。
配列し、各単位ユニットを横に配列することにより、配
置密度を高めスペース効率を高めることができる。
第１図は本発明に係る測定試験用接続ユニットの１実施
例構成を示す図、第２図は第１図に示す測定試験用接続
ユニットの回路構成例を示す図、第３図は複合ユニット
の配置構成例を示す図、第４図は複合ユニットの回路構
成例を示す図である。 １……測定試験接続端子、２と３……状態表示部、４と
５……光ファイバー、６と７……切り換えリレー、８と
９……発光ダイオード、10と11……コネクター、12……
前面カバー、13……基板。
例構成を示す図、第２図は第１図に示す測定試験用接続
ユニットの回路構成例を示す図、第３図は複合ユニット
の配置構成例を示す図、第４図は複合ユニットの回路構
成例を示す図である。 １……測定試験接続端子、２と３……状態表示部、４と
５……光ファイバー、６と７……切り換えリレー、８と
９……発光ダイオード、10と11……コネクター、12……
前面カバー、13……基板。
Claims (4)
- 【請求項１】被測定試験機器からの配線を接続する測定
試験接続端子（１）と、高圧を供給する高圧ライン及び
低圧を供給する低圧ラインのそれぞれの供給ラインに接
続する高圧用コネクター（10）と、 高圧切り替え信号及び低圧切り替え信号のそれぞれの制
御ラインに接続する低圧用コネクター（11）と、 前記低圧用コネクターの制御ラインに接続されて低圧切
り替え信号により前記高圧用コネクターの低圧ラインと
前記測定試験接続端子との間の接続／遮断切り替えを行
う低圧切り替えリレー（６）と、 前記低圧用コネクターの制御ラインに接続されて高圧切
り替え信号により前記高圧用コネクターの高圧ラインと
前記測定試験接続端子との間の接続／遮断切り替えを行
う高圧切り替えリレー（７）と、 前記低圧用コネクターの制御ラインに前記低圧切り替え
リレー及び高圧切り替えリレーとそれぞれ並列に接続す
る発光素子（８、９）と、 前記発光素子との間を光ファイバーで接続して発光素子
の点灯状態を表示する状態表示部（２、３）と を備えたことを特徴とする測定試験用接続ユニット。 - 【請求項２】基板に高圧切り替えリレーと低圧切り替え
リレーと発光素子とを取り付けると共に前面パネルと後
面パネルとを設け、前面パネルに測定試験接続端子と光
ファイバーによる状態表示部とを取り付け、後面パネル
に測定試験コネクターと制御コネクターとを取り付けた
ことを特徴とする請求項１記載の測定試験用接続ユニッ
ト。 - 【請求項３】前面パネルに透明の部材を用いたことを特
徴とする請求項２記載の測定試験用接続ユニット。 - 【請求項４】複数の測定試験接続端子を設け、各測定試
験接続端子に対応する複数の切り替えリレーを奥行き方
向に直線配置したことを特徴とする請求項２記載の測定
試験用接続ユニット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12756088A JP2616961B2 (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | 測定試験用接続ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12756088A JP2616961B2 (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | 測定試験用接続ユニット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01296175A JPH01296175A (ja) | 1989-11-29 |
| JP2616961B2 true JP2616961B2 (ja) | 1997-06-04 |
Family
ID=14963046
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12756088A Expired - Lifetime JP2616961B2 (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | 測定試験用接続ユニット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2616961B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100816501B1 (ko) * | 2001-09-28 | 2008-03-24 | 주식회사 케이티 | 지능형 광케이블 분배 및 절체 시스템 |
-
1988
- 1988-05-24 JP JP12756088A patent/JP2616961B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01296175A (ja) | 1989-11-29 |
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