JP2616163B2 - 回路部品のトリミング構造 - Google Patents
回路部品のトリミング構造Info
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- JP2616163B2 JP2616163B2 JP2171652A JP17165290A JP2616163B2 JP 2616163 B2 JP2616163 B2 JP 2616163B2 JP 2171652 A JP2171652 A JP 2171652A JP 17165290 A JP17165290 A JP 17165290A JP 2616163 B2 JP2616163 B2 JP 2616163B2
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- electrode
- trimming
- capacitor electrode
- circuit component
- capacitor
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えばLCフィルタ等の多層回路部品におい
て、コンデンサやコイルを構成する回路電極の一部をト
リミングすることにより所望の回路特性を得るようにし
た回路部品のトリミング構成に関し、特に回路電極が位
置ずれした場合のトリミング面積のばらつきを防止して
目標特性値が確実に得られるようにした構造に関する。
て、コンデンサやコイルを構成する回路電極の一部をト
リミングすることにより所望の回路特性を得るようにし
た回路部品のトリミング構成に関し、特に回路電極が位
置ずれした場合のトリミング面積のばらつきを防止して
目標特性値が確実に得られるようにした構造に関する。
従来、LCフィルタ等を構成する多層回路部品の一例と
して、第５図及び第６図にし示す構造のものがある。こ
の多層回路部品１は、回路素子２の内部にコンデンサや
コイルを構成する複数の内部電極３・・を埋設し、該各
内部電極３の端面3aを上記回路素子２の左，右側面2a,2
bに交互に導出するとともに、該各側面2a,2bに外部電極
4,4を形成し、該外部電極４に上記各内部電極３の端面3
aを接続した構造となっている。この多層回路部品１に
おいては、従来から、上記内部電極３をサンドブラスト
やレーザ等によりトリミングして容量値やインダクタン
ス値を変化させ、これにより所望の回路特性を得るよう
にしている。
して、第５図及び第６図にし示す構造のものがある。こ
の多層回路部品１は、回路素子２の内部にコンデンサや
コイルを構成する複数の内部電極３・・を埋設し、該各
内部電極３の端面3aを上記回路素子２の左，右側面2a,2
bに交互に導出するとともに、該各側面2a,2bに外部電極
4,4を形成し、該外部電極４に上記各内部電極３の端面3
aを接続した構造となっている。この多層回路部品１に
おいては、従来から、上記内部電極３をサンドブラスト
やレーザ等によりトリミングして容量値やインダクタン
ス値を変化させ、これにより所望の回路特性を得るよう
にしている。
上記内部電極３をトリミングする場合、作業時間をで
きるだけ短縮するために、従来、以下の手順で行われて
いる。まず、各多層回路部品１の特性を測定してそれぞ
れ目標特性値に応じたランク分けを行い、このランクに
応じて内部電極３を切り取るトリミング面積ａを決定す
る。そして、このトリミング面積ａが得られるよう内部
電極３のカット位置を設定し、回転素子２の表面部分に
レーザーカットによりカット溝５を形成する。これによ
り内部電極３は容量をもつ電極３′と、容量をもたない
トリミング電極６とに分断される。このトリミング作業
は、各ランクに応じたトリミング面積が得られるよう予
めカット位置を設定し、順次カットすることから、特性
を測定しながらトリミングする場合に比べて作業時間を
短縮できる。
きるだけ短縮するために、従来、以下の手順で行われて
いる。まず、各多層回路部品１の特性を測定してそれぞ
れ目標特性値に応じたランク分けを行い、このランクに
応じて内部電極３を切り取るトリミング面積ａを決定す
る。そして、このトリミング面積ａが得られるよう内部
電極３のカット位置を設定し、回転素子２の表面部分に
レーザーカットによりカット溝５を形成する。これによ
り内部電極３は容量をもつ電極３′と、容量をもたない
トリミング電極６とに分断される。このトリミング作業
は、各ランクに応じたトリミング面積が得られるよう予
めカット位置を設定し、順次カットすることから、特性
を測定しながらトリミングする場合に比べて作業時間を
短縮できる。
しかしながら、上記従来のトリミング構造は、例え
ば、第７図に示すように、パターン形成時に内部電極３
の位置が図示矢印方向にずれた場合、カット位置が同一
箇所であることからトリミング面積がａからａ′に変化
し、その結果目標の特性値が得られないという問題点が
ある。しかもこの場合、回路素子２内に内部電極３を埋
設した構造であるから、作業者パターンずれを確認する
ことができない。従って、このような場合、トリミング
機に位置きめ認識装置を付加したり、あるいは特性を測
定しながらトリミングしたりしなければならず、それだ
けコストが上昇するとともに作業時間が長くなる。
ば、第７図に示すように、パターン形成時に内部電極３
の位置が図示矢印方向にずれた場合、カット位置が同一
箇所であることからトリミング面積がａからａ′に変化
し、その結果目標の特性値が得られないという問題点が
ある。しかもこの場合、回路素子２内に内部電極３を埋
設した構造であるから、作業者パターンずれを確認する
ことができない。従って、このような場合、トリミング
機に位置きめ認識装置を付加したり、あるいは特性を測
定しながらトリミングしたりしなければならず、それだ
けコストが上昇するとともに作業時間が長くなる。
本発明は上記従来の問題点を解決するためになされた
もので、回路電極の位置ずれが生じても所定面積をトリ
ミングでき、目標特性値が確実に得られる回路部品のト
リミング構造を提供することを目的としている。
もので、回路電極の位置ずれが生じても所定面積をトリ
ミングでき、目標特性値が確実に得られる回路部品のト
リミング構造を提供することを目的としている。
そこで本発明は、回路素子11の表面又は内部に端子電
極13につながるコンデンサ電極12′を形成してなる回路
部品の上記コンデンサ電極12′が所望の回路特性が得ら
れるようにトリミングされた構造であって、上記コンデ
ンサ電極12′は単独又は端子電極13との組み合わせでル
ープ状に形成されており、該コンデンサ電極12′のルー
プに沿って所定ピッチｐだけ離れた個所のそれぞれにカ
ット溝17,18が形成され、該両カット溝17,18で挟まれた
コンデンサ電極部分Ａは残りのコンデンサ電極部分及び
上記端子電極13と電気的に分離され、上記残りのコンデ
ンサ電極部分は上記端子電極13に接続されていることを
特徴としている。
極13につながるコンデンサ電極12′を形成してなる回路
部品の上記コンデンサ電極12′が所望の回路特性が得ら
れるようにトリミングされた構造であって、上記コンデ
ンサ電極12′は単独又は端子電極13との組み合わせでル
ープ状に形成されており、該コンデンサ電極12′のルー
プに沿って所定ピッチｐだけ離れた個所のそれぞれにカ
ット溝17,18が形成され、該両カット溝17,18で挟まれた
コンデンサ電極部分Ａは残りのコンデンサ電極部分及び
上記端子電極13と電気的に分離され、上記残りのコンデ
ンサ電極部分は上記端子電極13に接続されていることを
特徴としている。
ここで上記コンデンサ電極12′におけるループ形状に
は各種の態様が採用できる。例えばコンデンサ電極12′
の端子電極13に接続された一端から他端近傍に伸びる帯
状のスリット15を形成することによって端子電極13とで
ループ状をなすようにする構造、あるいは上記コンデン
サ電極12′の中央部に帯状のスリットを形成することに
よってコンデンサ電極12′単独でループ状をなすように
する構造が採用できる。
は各種の態様が採用できる。例えばコンデンサ電極12′
の端子電極13に接続された一端から他端近傍に伸びる帯
状のスリット15を形成することによって端子電極13とで
ループ状をなすようにする構造、あるいは上記コンデン
サ電極12′の中央部に帯状のスリットを形成することに
よってコンデンサ電極12′単独でループ状をなすように
する構造が採用できる。
本発明に係る回路部品のトリミング構造によれば、コ
ンデンサ電極12′のループに沿って所定ピッチｐだけ離
れた個所のそれぞれにカット溝17,18を形成することに
より、該両カット溝17,18で囲まれたコンデンサ電極部
分Ａを残りのコンデンサ電極部分及び端子電極13から電
気的に分離し、上記残りのコンデサ電極部分を上記端子
電極13に接続したので、上記両カット溝17,18のピッチ
ｐを目標特性値に応じて設定することによりコンデンサ
電極12′の位置ずれが生じても常に一定の面積をトリミ
ングすることができ、各ランクに応じた目標特性値を確
実に得ることができる。その結果、従来装置のような位
置決め認識装置を付加する必要はなく、それだけコスト
を低減でき、また特性を測定しながらトリミングすると
いう非能率的な作業を不要にでき、それだけ作業時間を
短縮できる。
ンデンサ電極12′のループに沿って所定ピッチｐだけ離
れた個所のそれぞれにカット溝17,18を形成することに
より、該両カット溝17,18で囲まれたコンデンサ電極部
分Ａを残りのコンデンサ電極部分及び端子電極13から電
気的に分離し、上記残りのコンデサ電極部分を上記端子
電極13に接続したので、上記両カット溝17,18のピッチ
ｐを目標特性値に応じて設定することによりコンデンサ
電極12′の位置ずれが生じても常に一定の面積をトリミ
ングすることができ、各ランクに応じた目標特性値を確
実に得ることができる。その結果、従来装置のような位
置決め認識装置を付加する必要はなく、それだけコスト
を低減でき、また特性を測定しながらトリミングすると
いう非能率的な作業を不要にでき、それだけ作業時間を
短縮できる。
以下、本発明の実施例を図について説明する。
第１図ないし第４図は本発明の一実施例による回路部
品のトリミング構造を説明するための図である。本実施
例では、第４図にその等価回路を示すLCフィルタの容量
C1,C2の値を変化させることにより目標の周波数特性を
得るようにした場合を例にとって説明する。
品のトリミング構造を説明するための図である。本実施
例では、第４図にその等価回路を示すLCフィルタの容量
C1,C2の値を変化させることにより目標の周波数特性を
得るようにした場合を例にとって説明する。
本実施例の多層回路部品10は、セラミクスからなる直
方体状の回路素子11の内部にコンデンサ，コイルを構成
する内部電極12を埋設し、該各内部電極12の一端面12a
を上記回路素子11の両側面11a,11bに形成された外部電
極端子電極13,13に交互に接続してなり、基本的な構造
は従来と略同様である。
方体状の回路素子11の内部にコンデンサ，コイルを構成
する内部電極12を埋設し、該各内部電極12の一端面12a
を上記回路素子11の両側面11a,11bに形成された外部電
極端子電極13,13に交互に接続してなり、基本的な構造
は従来と略同様である。
そして、上記回路素子11の最上部の内部電極（コンデ
ンサ電極）12′には、これの一端面12aから他端面12bの
近傍に延びる帯状のスリット15が形成されており、これ
により上記内部電極12′は幅の狭い上側面16aと、これ
により幅の広い下側面16bとを他端面12b部分及び外部電
極13で接続してなるループ状となっている。
ンサ電極）12′には、これの一端面12aから他端面12bの
近傍に延びる帯状のスリット15が形成されており、これ
により上記内部電極12′は幅の狭い上側面16aと、これ
により幅の広い下側面16bとを他端面12b部分及び外部電
極13で接続してなるループ状となっている。
ここで、上記スリット15の幅は、内部電極12′の印刷
形成時の位置ずれを吸収するために、予想される位置ず
れ寸法より若干幅広に形成されており、具体的には200
〜500μｍとなっている。
形成時の位置ずれを吸収するために、予想される位置ず
れ寸法より若干幅広に形成されており、具体的には200
〜500μｍとなっている。
そして、上記内部電極（コンデンサ電極）12′の下側
面16bには、第１カット溝17,及び該第１カット溝17から
所定ピッチｐをあけて第２カット溝18が形成されてお
り、該両カット溝17,18により内部電極12′は該両カッ
ト溝17,18で囲まれたコンデンサ電極部分Ａと残りのコ
ンデンサ電極部分B1,B2に分断されている。上記コンデ
ンサ電極部分Ａは残りのコンデンサ電極部分B1,B2及び
上記外部電極（端子電極）13から電気的に分離され、残
りのコンデンサ電極部分B1,B2は端子電極13に接続され
ている。この第１カット溝17は上記回路素子11のコーナ
ー部に設けられたカット基準点ｃから図示左，右方向に
x,上下方向にｙの位置に設定されており、また上記ピッ
チｐは目標の周波数に応じて設定されている。これによ
り、上記第1,第２カット溝17,18と上記スリット15とで
囲まれた領域Ａがトリミングされており、所望の中心周
波数に調整されている。
面16bには、第１カット溝17,及び該第１カット溝17から
所定ピッチｐをあけて第２カット溝18が形成されてお
り、該両カット溝17,18により内部電極12′は該両カッ
ト溝17,18で囲まれたコンデンサ電極部分Ａと残りのコ
ンデンサ電極部分B1,B2に分断されている。上記コンデ
ンサ電極部分Ａは残りのコンデンサ電極部分B1,B2及び
上記外部電極（端子電極）13から電気的に分離され、残
りのコンデンサ電極部分B1,B2は端子電極13に接続され
ている。この第１カット溝17は上記回路素子11のコーナ
ー部に設けられたカット基準点ｃから図示左，右方向に
x,上下方向にｙの位置に設定されており、また上記ピッ
チｐは目標の周波数に応じて設定されている。これによ
り、上記第1,第２カット溝17,18と上記スリット15とで
囲まれた領域Ａがトリミングされており、所望の中心周
波数に調整されている。
次に、本実施例の多層回路部品10をトリミングする手
順について説明する。
順について説明する。
まず、多数の多層回路部品10の各中心周波数を測定
し、それぞれ目標の周波数が得られるようランク分け
し、この各ランクに応じたトリミング面積が得られるよ
うにピッチｐを決定する。次に、回路素子11の内部電極
12′にレーザーにより第１カット溝17を形成する。この
場合、上記内部電極12′は回路素子11内に埋設されて確
認できないことから、該第１カット溝17は回路素子11の
カット基準点ｃからx,yの位置に設定する。続いて第１
カット溝17からピッチｐをあけて第２カット溝18を形成
する。これにより上記第1,第２カット溝17,18とスリッ
ト15とで囲まれた領域Ａがトリミングされ、この領域Ａ
分だけ容量C1,C2が減少し、目標周波数が得られる。
し、それぞれ目標の周波数が得られるようランク分け
し、この各ランクに応じたトリミング面積が得られるよ
うにピッチｐを決定する。次に、回路素子11の内部電極
12′にレーザーにより第１カット溝17を形成する。この
場合、上記内部電極12′は回路素子11内に埋設されて確
認できないことから、該第１カット溝17は回路素子11の
カット基準点ｃからx,yの位置に設定する。続いて第１
カット溝17からピッチｐをあけて第２カット溝18を形成
する。これにより上記第1,第２カット溝17,18とスリッ
ト15とで囲まれた領域Ａがトリミングされ、この領域Ａ
分だけ容量C1,C2が減少し、目標周波数が得られる。
ここで、上記内部電極12′のパターンずれが生じた場
合（第２図に一点鎖線で示す）、上記第1,第２カット溝
17,18を同一位置に形成しても、ピッチｐが同一である
とともに、スリット15の幅が多少のパターンずれを吸収
することから、上記と同一の領域Ａがトリミングでき
る。
合（第２図に一点鎖線で示す）、上記第1,第２カット溝
17,18を同一位置に形成しても、ピッチｐが同一である
とともに、スリット15の幅が多少のパターンずれを吸収
することから、上記と同一の領域Ａがトリミングでき
る。
このように本実施例によれば、内部電極12′をスリッ
ト15によりループ状に形成し、該内部電極12′の下側面
16bに目標周波数に応じたピッチｐをあけて第1,第２カ
ット溝17,18を形成したので、内部電極12′の形成位置
がずれても同一の領域Ａを高精度にトリミングすること
ができ、各ランクに応じた目標特性値を確実に得ること
ができる。その結果、従来の位置決め認識装置を不要に
できるとともに、特性を測定しながらトリミングすると
いう時間のかかる作業を省略でき、それだけコストを低
減でき、かつ作業の高速化が図れる。
ト15によりループ状に形成し、該内部電極12′の下側面
16bに目標周波数に応じたピッチｐをあけて第1,第２カ
ット溝17,18を形成したので、内部電極12′の形成位置
がずれても同一の領域Ａを高精度にトリミングすること
ができ、各ランクに応じた目標特性値を確実に得ること
ができる。その結果、従来の位置決め認識装置を不要に
できるとともに、特性を測定しながらトリミングすると
いう時間のかかる作業を省略でき、それだけコストを低
減でき、かつ作業の高速化が図れる。
なお、上記実施例では、内部電極12′を回路素子11内
に埋設した場合を例にとって説明したが、本発明は回路
素子の表面にトリミング用電極を形成し、該電極をトリ
ミングする場合にも勿論適用できる。
に埋設した場合を例にとって説明したが、本発明は回路
素子の表面にトリミング用電極を形成し、該電極をトリ
ミングする場合にも勿論適用できる。
以上のように本発明に係る回路部品のトリミング構造
によれば、ループ状のコンデンサ電極のループに沿って
所定ピッチだけ離れた個所のそれぞれにカット溝を形成
し、該両カット溝で囲まれた領域をトリミングするよう
にしたので、コンデンサ電極の形成位置がずれても同一
の面積をトリミングすることができ、目標特性値を確実
に得ることができる効果がある。
によれば、ループ状のコンデンサ電極のループに沿って
所定ピッチだけ離れた個所のそれぞれにカット溝を形成
し、該両カット溝で囲まれた領域をトリミングするよう
にしたので、コンデンサ電極の形成位置がずれても同一
の面積をトリミングすることができ、目標特性値を確実
に得ることができる効果がある。
第１図ないし第４図は本発明の一実施例による多層回路
部品のトリミング構造を説明するための図であり、第１
図はその多層回路部品の内部電極を露出させた状態の断
面平面図、第２図はその内部電極をトリミングする手順
を示す断面平面図、第３図はその断面側面図、第４図は
その等価回路図、第５図及び第６図はそれぞれ従来のト
リミング構造を示す断面図，平面図、第７図はその問題
点を示す平面図である。 図において、10は多層回路部品、11は回路素子、12は内
部電極、15はスリット、17,18はカット溝、ｐは所定ピ
ッチ、Ａはトリミング領域である。
部品のトリミング構造を説明するための図であり、第１
図はその多層回路部品の内部電極を露出させた状態の断
面平面図、第２図はその内部電極をトリミングする手順
を示す断面平面図、第３図はその断面側面図、第４図は
その等価回路図、第５図及び第６図はそれぞれ従来のト
リミング構造を示す断面図，平面図、第７図はその問題
点を示す平面図である。 図において、10は多層回路部品、11は回路素子、12は内
部電極、15はスリット、17,18はカット溝、ｐは所定ピ
ッチ、Ａはトリミング領域である。
Claims (1)
- 【請求項１】回路素子の表面又は内部に端子電極につな
がるコンデンサ電極を形成してなる回路部品の、上記コ
ンデンサ電極が所望の回路特性が得られるようにトリミ
ングされた構造であって、上記コンデンサ電極は単独又
は端子電極との組み合わせでループ状に形成されてお
り、該コンデンサ電極のループに沿って所定ピッチだけ
離れた個所のそれぞれにカット溝が形成され、該両カッ
ト溝で挟まれたコンデンサ電極部分は残りのコンデンサ
電極部分及び上記端子電極と電気的に分離され、上記残
りのコンデンサ電極部分は上記端子電極に接続されてい
ることを特徴とする回路部品のトリミング構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2171652A JP2616163B2 (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | 回路部品のトリミング構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2171652A JP2616163B2 (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | 回路部品のトリミング構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0461368A JPH0461368A (ja) | 1992-02-27 |
| JP2616163B2 true JP2616163B2 (ja) | 1997-06-04 |
Family
ID=15927186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2171652A Expired - Lifetime JP2616163B2 (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | 回路部品のトリミング構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2616163B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4714813B2 (ja) * | 2004-04-07 | 2011-06-29 | 株式会社高尾 | 弾球遊技機 |
| JP3111119U (ja) * | 2004-04-07 | 2005-07-07 | 株式会社高尾 | 弾球遊技機 |
-
1990
- 1990-06-29 JP JP2171652A patent/JP2616163B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0461368A (ja) | 1992-02-27 |
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Legal Events
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