JP2611248B2 - 網点形状測定方法 - Google Patents
網点形状測定方法Info
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- JP2611248B2 JP2611248B2 JP20247787A JP20247787A JP2611248B2 JP 2611248 B2 JP2611248 B2 JP 2611248B2 JP 20247787 A JP20247787 A JP 20247787A JP 20247787 A JP20247787 A JP 20247787A JP 2611248 B2 JP2611248 B2 JP 2611248B2
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- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、網点により再現された画像の網点の形状の
良さを示す評価値を測定する測定方法に関する。
良さを示す評価値を測定する測定方法に関する。
中間調を再現する画像出力装置の一つとして網点を使
用したものがある。例えば、電子写真方式のレーザプリ
ンタでは、原稿の濃度を網点の面積に変換してトナー等
の粒子を用紙に付着させることにより見掛け上、中間調
を再現するようにしている。
用したものがある。例えば、電子写真方式のレーザプリ
ンタでは、原稿の濃度を網点の面積に変換してトナー等
の粒子を用紙に付着させることにより見掛け上、中間調
を再現するようにしている。
このとき、中間調画像の品質は、画像の最小構成単位
である個々の網点の品質の影響を受ける。すなわち、各
網点において粒子がまとまって付着し、網点Aが第8図
(a)に斜線で示されるような形状となれば、鮮明で滑
らかな画像が得られる。しかし、同図(b)に示される
ように網点Aの形状が変形したり、更に、同図(c)に
示されるように粒子が飛散し網点Aが一点にまとまらな
い状態になると、画像がぼけると共に、画像がざらつい
た感じになり画質が劣化する。
である個々の網点の品質の影響を受ける。すなわち、各
網点において粒子がまとまって付着し、網点Aが第8図
(a)に斜線で示されるような形状となれば、鮮明で滑
らかな画像が得られる。しかし、同図(b)に示される
ように網点Aの形状が変形したり、更に、同図(c)に
示されるように粒子が飛散し網点Aが一点にまとまらな
い状態になると、画像がぼけると共に、画像がざらつい
た感じになり画質が劣化する。
したがって、この網点の品質を管理することは質の高
い画像を得るために重要である。なお、この網点の形状
は、例えば、電子写真方式のレーザプリンタにおいて
は、露光光学系,現像系,定着系,転写系等の条件によ
って変化する。
い画像を得るために重要である。なお、この網点の形状
は、例えば、電子写真方式のレーザプリンタにおいて
は、露光光学系,現像系,定着系,転写系等の条件によ
って変化する。
しかし、その網点品質を管理するために必要な個々の
網点品質の観客的,定量的な評価法は十分には確立され
ておらず、特に網点形状については、ルーペによる官能
評価が主流である。
網点品質の観客的,定量的な評価法は十分には確立され
ておらず、特に網点形状については、ルーペによる官能
評価が主流である。
この官能評価は、例えば、最悪の網点形状を0とし、
最良の網点形状を100とし評価値を割り当て、目視によ
り網点形状を評価するものである。
最良の網点形状を100とし評価値を割り当て、目視によ
り網点形状を評価するものである。
しかしながら、この目視による官能評価は、網点形状
をルーペで拡大して目視して、予め決められた各種の網
点形状のパターンと比較し、主観により網点形状の良さ
を評価するものであるから個人差によるばらつきが多
く、また、測定に時間がかかるという問題がある。
をルーペで拡大して目視して、予め決められた各種の網
点形状のパターンと比較し、主観により網点形状の良さ
を評価するものであるから個人差によるばらつきが多
く、また、測定に時間がかかるという問題がある。
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたもので
あり、網点形状のよさについて官能評価と相関の高い定
量的な評価法を提供することを目的とする。
あり、網点形状のよさについて官能評価と相関の高い定
量的な評価法を提供することを目的とする。
本発明は、画像入力装置により入力した網点画像に基
づいて、前記網点画像の網点を構成する粒子の周長の合
計ΣLと面積の合計ΣSとを測定し、前記周長の合計Σ
L及び前記面積の合計ΣSから下式の計算により網点形
状の評価値Eを求めることを特徴とする。
づいて、前記網点画像の網点を構成する粒子の周長の合
計ΣLと面積の合計ΣSとを測定し、前記周長の合計Σ
L及び前記面積の合計ΣSから下式の計算により網点形
状の評価値Eを求めることを特徴とする。
但し、0.5≦a≦0.8 〔作用〕 本発明は、網点形状の評価値が網点を構成する粒子の
周長の合計と粒子の面積の合計との関数になることに着
目し、これら両者の計算により網点形状の良さの評価値
を求める。すなわち、面積の合計が一定の場合、網点形
状が悪くなると周長の合計が増加する。また、周長の合
計が一定である場合は、網点形状が悪くなると面積の合
計は減少する。したがって、両者の計算から網点形状の
評価値を求めることができる。例えば、粒子の周長の合
計を、面積の合計を所定係数累乗したもので除すれば、
従来の官能評価との相関が高い測定値を得ることができ
る。
周長の合計と粒子の面積の合計との関数になることに着
目し、これら両者の計算により網点形状の良さの評価値
を求める。すなわち、面積の合計が一定の場合、網点形
状が悪くなると周長の合計が増加する。また、周長の合
計が一定である場合は、網点形状が悪くなると面積の合
計は減少する。したがって、両者の計算から網点形状の
評価値を求めることができる。例えば、粒子の周長の合
計を、面積の合計を所定係数累乗したもので除すれば、
従来の官能評価との相関が高い測定値を得ることができ
る。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて具体的に
説明する。
説明する。
第1図は本発明の網点形状測定方法の一例を示す概略
フローチャート、第2図は同網点形状測定方法を実施す
るための画像解析装置の例を示す正面図である。なお、
第2図(a)は画像解析装置の画像入力部を示し、同図
(b)は表示部を示す。また、第3図は画像解析装置の
ブロック回路図である。
フローチャート、第2図は同網点形状測定方法を実施す
るための画像解析装置の例を示す正面図である。なお、
第2図(a)は画像解析装置の画像入力部を示し、同図
(b)は表示部を示す。また、第3図は画像解析装置の
ブロック回路図である。
第2図(a)において、1は顕微鏡を示し、この顕微
鏡1に取り付けたテレビカメラ2により網点画像を入力
し、第3図に示される画像解析回路3に供給する。画像
解析回路3からは、コントローラ4からの指示に基づ
き、画像モニタ5にはテレビカメラ2から入力した網点
画像或いは所定の処理を行った後の網点画像が表示され
ると共に、操作用モニタ6にはキーボード等から入力さ
れた指示或いは画像解析回路3からの応答等が表示され
る。
鏡1に取り付けたテレビカメラ2により網点画像を入力
し、第3図に示される画像解析回路3に供給する。画像
解析回路3からは、コントローラ4からの指示に基づ
き、画像モニタ5にはテレビカメラ2から入力した網点
画像或いは所定の処理を行った後の網点画像が表示され
ると共に、操作用モニタ6にはキーボード等から入力さ
れた指示或いは画像解析回路3からの応答等が表示され
る。
第4図は網点により再現された網点画像の一例を示し
ており、この画像がテレビカメラ2により入力される。
ており、この画像がテレビカメラ2により入力される。
図において、破線は一つの網点により再現される領域
を示し、以下、これを網点基本格子Bと呼ぶ。図におい
ては左側が低濃度部分、右側が高濃度部分を示してお
り、網点基本格子B内の網点、すなわち、黒ドットCの
面積は濃度の増加に応じて広がる。そして、黒ドットC
の面積率が50%を越えると、隣接する黒ドットC同士が
繋がって白地部分がドット状となる。この部分のドット
を白ドットDと呼ぶ。
を示し、以下、これを網点基本格子Bと呼ぶ。図におい
ては左側が低濃度部分、右側が高濃度部分を示してお
り、網点基本格子B内の網点、すなわち、黒ドットCの
面積は濃度の増加に応じて広がる。そして、黒ドットC
の面積率が50%を越えると、隣接する黒ドットC同士が
繋がって白地部分がドット状となる。この部分のドット
を白ドットDと呼ぶ。
次に、画像解析回路3(第3図参照)において、所定
個数、例えば、9個の網点基本格子B内に含まれる粒子
の周長Lと面積Sを測定し、それぞれ合計する。なお、
ここでいう粒子とは、一つにまとまっている最小単位を
意味し、網点基本格子B内の粒子の数は第8図(a),
(b)に示されるように1個の場合もあるし、第8図
(c)に示されるように複数個の場合もある。
個数、例えば、9個の網点基本格子B内に含まれる粒子
の周長Lと面積Sを測定し、それぞれ合計する。なお、
ここでいう粒子とは、一つにまとまっている最小単位を
意味し、網点基本格子B内の粒子の数は第8図(a),
(b)に示されるように1個の場合もあるし、第8図
(c)に示されるように複数個の場合もある。
これらの粒子の周長Lと面積Sの測定は、例えば、次
のようにして行われる。
のようにして行われる。
まず、テレビカメラ2により入力された網点画像のう
ち、黒の部分、すなわち、粒子の部分に1を割り当て、
白の部分に0を割り当てて、第5図に示すようなビット
パターンを形成し、画像解析回路3内のメモリ等(図示
せず)に格納する。なお、ここでは簡単のため1個の網
点基本格子Bについてのみ図示している。
ち、黒の部分、すなわち、粒子の部分に1を割り当て、
白の部分に0を割り当てて、第5図に示すようなビット
パターンを形成し、画像解析回路3内のメモリ等(図示
せず)に格納する。なお、ここでは簡単のため1個の網
点基本格子Bについてのみ図示している。
そして、9個の網点基本格子B内のビットパターンに
おいて、1と0との境界を判別し、水平又は垂直方向に
境界が存在する個所をカウントすることにより粒子の周
長Lを求めることができる。
おいて、1と0との境界を判別し、水平又は垂直方向に
境界が存在する個所をカウントすることにより粒子の周
長Lを求めることができる。
また、9個の網点基本格子B内の1の数をカウントす
ることにより粒子の面積Sを求めることができる。
ることにより粒子の面積Sを求めることができる。
次に、9個の網点基本格子B内で求めた各粒子の周長
L及び面積Sを合計して、周長の合計ΣL及び面積の合
計ΣSを求める。
L及び面積Sを合計して、周長の合計ΣL及び面積の合
計ΣSを求める。
なお、網点が黒ドットCから白ドットDへ反転する場
合は、白ドットDの周長及び面積を測定する。
合は、白ドットDの周長及び面積を測定する。
また、黒,白両ドットが混在する場合は、黒,白両ド
ットの測定値のうちの粒子個々の測定値の標準偏差の小
さい方の測定値を選択する。
ットの測定値のうちの粒子個々の測定値の標準偏差の小
さい方の測定値を選択する。
次に、これらの測定値から以下に示す式(1)による
計算を行うことにより、網点形状の評価値Eが求められ
る。
計算を行うことにより、網点形状の評価値Eが求められ
る。
但し、0.5≦a≦0.8 この式(1)は官能評価との相関関係が高くなるよう
に選定されたものであって、面積の合計ΣSが一定であ
れば、網点形状が悪い、すなわち、粒子がまとまってい
ないほど、周長の合計ΣLが大きくなり、また、周長の
合計が一定である場合は、網点形状が悪くなると面積の
合計は減少することに着目して求められている。すなわ
ち、評価値Eの値は網点形状が悪くなるにつれて大きく
なるという負の相関関係がある。
に選定されたものであって、面積の合計ΣSが一定であ
れば、網点形状が悪い、すなわち、粒子がまとまってい
ないほど、周長の合計ΣLが大きくなり、また、周長の
合計が一定である場合は、網点形状が悪くなると面積の
合計は減少することに着目して求められている。すなわ
ち、評価値Eの値は網点形状が悪くなるにつれて大きく
なるという負の相関関係がある。
この式(1)によれば、第6図に示されるように、0.
5≦a≦0.8の範囲では相関係数γが0.93以上、最大値で
0.97となり非常に高い相関値が得られた。
5≦a≦0.8の範囲では相関係数γが0.93以上、最大値で
0.97となり非常に高い相関値が得られた。
また、形状の良さの心理量と網点形状の評価値Eとは
直線関係にあるので、従来の官能評価値と対応させるた
めには、網点形状の良さの評価値をHSF(halftone shap
e factor)とし、網点形状の最も悪いものがHSF=0、
網点形状の最もよいものがHSF=100となるように、次式
により網点形状の良さの評価値HSFを求めればよい。
直線関係にあるので、従来の官能評価値と対応させるた
めには、網点形状の良さの評価値をHSF(halftone shap
e factor)とし、網点形状の最も悪いものがHSF=0、
網点形状の最もよいものがHSF=100となるように、次式
により網点形状の良さの評価値HSFを求めればよい。
すなわち、式(2)は周長の合計ΣLが増加し、ま
た、面積の合計Sが減少すると網点形状の良さの評価値
HSFが低下することを示している。なお、各係数は、網
点基本格子の数が9であるときに、上記ΣL/(ΣS)
0.6の計算結果が、0から100の範囲に対応するように選
定した係数である。
た、面積の合計Sが減少すると網点形状の良さの評価値
HSFが低下することを示している。なお、各係数は、網
点基本格子の数が9であるときに、上記ΣL/(ΣS)
0.6の計算結果が、0から100の範囲に対応するように選
定した係数である。
この実施例で測定したHSF値と従来の方法により求め
た網点形状の良さの評価値との相関を第7図に示す。こ
のグラフから分かるように、本実施例によれば相関係数
γ=0.95以上の高い相関を得ることができ、計算により
網点形状の良さの評価値を求めた場合でも、十分実用に
なる。
た網点形状の良さの評価値との相関を第7図に示す。こ
のグラフから分かるように、本実施例によれば相関係数
γ=0.95以上の高い相関を得ることができ、計算により
網点形状の良さの評価値を求めた場合でも、十分実用に
なる。
また、網点基本格子の数がNであるときは、 とすることにより高い相関を得ることができた。
上述の周長Lと面積Sの測定及び網点形状の良さの評
価値の計算は、例えば、コンピュータのプログラミング
によりソフトウェア的に行うことができ自動化が可能で
ある。
価値の計算は、例えば、コンピュータのプログラミング
によりソフトウェア的に行うことができ自動化が可能で
ある。
また、周長Lと面積Sの測定方法は上述のものに限ら
ず、他の方法を採用してもよい。
ず、他の方法を採用してもよい。
更に、本実施例においては、テレビカメラを使用して
画像を入力したが、これに限定されるものではなく、ス
キャナーやミクロフォトメータなどから入力してもよ
い。
画像を入力したが、これに限定されるものではなく、ス
キャナーやミクロフォトメータなどから入力してもよ
い。
なお、上記実施例においては、トナーにより粒子を形
成する電子写真法を例に挙げて説明したが、これに限ら
ず、インクジェットプリンタ,サーマルプリンタ等の画
像出力装置により形成された網点画像に対しても適用で
きる。
成する電子写真法を例に挙げて説明したが、これに限ら
ず、インクジェットプリンタ,サーマルプリンタ等の画
像出力装置により形成された網点画像に対しても適用で
きる。
以上述べたように、本発明によれば、画像入力装置に
より入力された網点画像から、網点を構成する各粒子の
周長の合計と面積の合計とを求め、両者の計算により網
点形状の評価値を求めている。したがって、網点形状の
状態を計算により数値的に表現することができ、個人差
がない客観的な評価データを迅速に得ることができる。
より入力された網点画像から、網点を構成する各粒子の
周長の合計と面積の合計とを求め、両者の計算により網
点形状の評価値を求めている。したがって、網点形状の
状態を計算により数値的に表現することができ、個人差
がない客観的な評価データを迅速に得ることができる。
第1図は本発明の網点形状測定方法の概略を示すフロー
チャート、第2図は同網点形状測定方法を実施するため
の画像解析装置の正面図、第3図は同画像解析装置のブ
ロック回路図、第4図は網点画像の一例を示す説明図、
第5図は入力された網点画像のビットパターンを示す説
明図、第6図は係数aと相関係数γとの関係を示すグラ
フ、第7図は本発明により測定したHSF値と従来の官能
評価により求めた網点形状の良さの評価値との相関関係
を示すグラフ、第8図は網点形状の良否を示す説明図で
ある。 1:顕微鏡、2:テレビカメラ 3:画像解析回路、4:コントローラ 5:画像モニタ、6:操作用モニタ A:網点、B:網点基本格子 C:黒ドット、D:白ドット
チャート、第2図は同網点形状測定方法を実施するため
の画像解析装置の正面図、第3図は同画像解析装置のブ
ロック回路図、第4図は網点画像の一例を示す説明図、
第5図は入力された網点画像のビットパターンを示す説
明図、第6図は係数aと相関係数γとの関係を示すグラ
フ、第7図は本発明により測定したHSF値と従来の官能
評価により求めた網点形状の良さの評価値との相関関係
を示すグラフ、第8図は網点形状の良否を示す説明図で
ある。 1:顕微鏡、2:テレビカメラ 3:画像解析回路、4:コントローラ 5:画像モニタ、6:操作用モニタ A:網点、B:網点基本格子 C:黒ドット、D:白ドット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−205683(JP,A) 特開 昭62−235957(JP,A) 特開 昭58−222451(JP,A)
Claims (1)
- 【請求項1】画像入力装置により入力した網点画像に基
づいて、前記網点画像の網点を構成する粒子の周長の合
計ΣLと面積の合計ΣSとを測定し、前記周長の合計Σ
L及び前記面積の合計ΣSから下式の計算により網点形
状の評価値Eを求めることを特徴とする網点形状測定方
法。 但し、0.5≦a≦0.8
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20247787A JP2611248B2 (ja) | 1987-08-12 | 1987-08-12 | 網点形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20247787A JP2611248B2 (ja) | 1987-08-12 | 1987-08-12 | 網点形状測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6444583A JPS6444583A (en) | 1989-02-16 |
JP2611248B2 true JP2611248B2 (ja) | 1997-05-21 |
Family
ID=16458162
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20247787A Expired - Fee Related JP2611248B2 (ja) | 1987-08-12 | 1987-08-12 | 網点形状測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2611248B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60205683A (ja) * | 1984-03-29 | 1985-10-17 | Toshiba Corp | 外観判別方法及びその装置 |
-
1987
- 1987-08-12 JP JP20247787A patent/JP2611248B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6444583A (en) | 1989-02-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |