JP2606416B2 - Method of forming resistor layer on insulating substrate surface and metal organic resistor film - Google Patents
Method of forming resistor layer on insulating substrate surface and metal organic resistor filmInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 A.発明の目的 1) 産業上の利用分野 本発明は、絶縁基板表面に抵抗体層を形成する技術に
関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A. Object of the Invention 1) Industrial application field The present invention relates to a technique for forming a resistor layer on the surface of an insulating substrate.
従来、ハイブリッドIC、サーマルヘッド等の各種電子
部品においては、表面に抵抗体が形成された絶縁基板を
使用している。前記絶縁基板表面に抵抗体を形成する工
程の途中では、絶縁基板表面に抵抗体層が形成されてい
る。したがって、本発明の技術は、前記各種電子部品に
用いられる絶縁基板表面に抵抗体を形成する工程の途中
で使用される。2. Description of the Related Art Conventionally, in various electronic components such as a hybrid IC and a thermal head, an insulating substrate having a resistor formed on a surface is used. During the process of forming a resistor on the surface of the insulating substrate, a resistor layer is formed on the surface of the insulating substrate. Therefore, the technique of the present invention is used in the course of forming a resistor on the surface of an insulating substrate used for the various electronic components.
2) 従来の技術 従来、ハイブリッドIC、サーマルヘッド等の電子部品
の高性能化を図るためには、抵抗値のバラツキが小さく
しかもドット密度の高い抵抗体を絶縁基板表面に形成す
る必要がある。そして、前記絶縁基板表面の抵抗体は、
普通、絶縁基板表面に形成された抵抗体層から形成され
ているので、前記抵抗体の特性(抵抗値の均一性等)
は、前記抵抗体層の特性によって決定される。2) Conventional Technology Conventionally, in order to improve the performance of electronic components such as hybrid ICs and thermal heads, it is necessary to form a resistor having a small variation in resistance value and a high dot density on the surface of an insulating substrate. And the resistor on the surface of the insulating substrate,
Usually, since the resistor is formed from the resistor layer formed on the surface of the insulating substrate, the characteristics of the resistor (uniformity of resistance value, etc.)
Is determined by the characteristics of the resistor layer.
前記絶縁基板上に抵抗体層を形成する方法としては、
スクリーン印刷等の厚膜技術を用いる方式と、スパッタ
リング等の薄膜技術を用いる方法とが知られている。前
記厚膜技術は薄膜技術に比べて製造設備が安価で生産性
も高いので、厚膜技術で形成した抵抗体層から所望の特
性を有する抵抗体を形成することができれば好都合であ
る。したがって、低コストで特性のすぐれた抵抗体を得
るためには、絶縁基板表面に特性のすぐれた抵抗体層を
厚膜技術により形成する必要がある。As a method of forming a resistor layer on the insulating substrate,
There are known a method using a thick film technique such as screen printing and a method using a thin film technique such as sputtering. Since the thick film technology has lower production equipment and higher productivity than the thin film technology, it is advantageous if a resistor having desired characteristics can be formed from a resistor layer formed by the thick film technology. Therefore, in order to obtain a resistor having excellent characteristics at low cost, it is necessary to form a resistor layer having excellent characteristics on the surface of the insulating substrate by a thick film technique.
そこで、絶縁基板表面に特性のすぐれた抵抗体層を、
厚膜技術により形成するため、従来MOD(Metalo−Organ
ic Deposition)法(たとえば、特開平1−220402号公
報参照)が提案されている。Therefore, a resistor layer with excellent characteristics is provided on the insulating substrate surface.
Conventional MOD (Metalo-Organ)
ic deposition) method (see, for example, JP-A-1-220402).
3) 発明が解決しようとする課題 前記従来のMOD法においては、スクリーン印刷などの
厚膜技術により、抵抗体層形成用の金属有機物抵抗体材
料を絶縁基板上に直接塗布している。このような方法で
は、A4サイズ以上の長尺基板に金属有機物抵抗体材料を
均一に塗布することが困難であり、前記絶縁基板表面に
直接塗布した金属有機物抵抗体材料の厚さにムラが生じ
る(すなわち、絶縁基板の反り等により抵抗体層の厚さ
が不均一となる)場合があった。このような、厚さにム
ラのある金属有機物抵抗体材料層が形成された絶縁基板
を用いると、それから形成された抵抗体の抵抗値のバラ
ツキが大きくなってしまう。そして、表面に形成された
抵抗体の抵抗値のバラツキが大きな絶縁基板は、その絶
縁基板に電極等を形成した後の製品の検査段階で取り除
く必要がある。このように絶縁基板表面に電極等を形成
してからその絶縁基板を除去するのでは、それまでに行
った作業が無駄となってしまうので生産効率が悪くなる
という問題点があった。3) Problems to be Solved by the Invention In the conventional MOD method, a metal organic resistor material for forming a resistor layer is directly applied on an insulating substrate by a thick film technique such as screen printing. In such a method, it is difficult to uniformly apply the metal-organic resistor material to a long substrate of A4 size or more, and the thickness of the metal-organic resistor material directly applied to the insulating substrate surface causes unevenness. (That is, the thickness of the resistor layer becomes non-uniform due to warpage of the insulating substrate or the like). When an insulating substrate on which such a metal organic resistor material layer having unevenness in thickness is formed is used, the resistance value of a resistor formed therefrom varies greatly. The insulating substrate having a large variation in the resistance value of the resistor formed on the surface needs to be removed in a product inspection stage after the electrodes and the like are formed on the insulating substrate. When the electrodes and the like are formed on the surface of the insulating substrate and then the insulating substrate is removed, the work performed up to that point is wasted, and there is a problem that the production efficiency is deteriorated.
本発明は、前述の事情に鑑み、安価な生産性の高い厚
膜技術を用いて、絶縁基板表面に厚さの均一な抵抗体層
を形成できるようにすることを課題とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to make it possible to form a resistor layer having a uniform thickness on the surface of an insulating substrate by using an inexpensive and highly productive thick film technology.
B.発明の構成 1) 課題を解決するための手段 前記課題を解決するために本出願の第1発明の絶縁基
板への抵抗体層形成方法は、 フィルム体およびこのフィルム本体の表面に形成され
た金属有機物抵抗体層から構成される金属有機物抵抗体
フィルムを製作し、この金属有機物抵抗体フィルムの前
記金属有機物抵抗体層を絶縁基板表面に圧着した後、前
記フィルム本体を除去することにより前記絶縁基板表面
に抵抗体を形成することを特徴とする。B. Configuration of the Invention 1) Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, a method for forming a resistor layer on an insulating substrate according to a first invention of the present application is a method for forming a resistor on a film body and a surface of the film body. A metal-organic resistor film composed of a metal-organic resistor layer was produced, and the metal-organic resistor layer of the metal-organic resistor film was pressed against an insulating substrate surface, and then the film body was removed by removing the film body. A resistor is formed on the surface of the insulating substrate.
また、本出願の第2発明の金属有機物抵抗体フィルム
は、絶縁基板上に圧着される金属有機物抵抗体層と、前
記金属有機物抵抗体が表面に表示されたフィルム本体と
から構成され、前記フィルム本体は前記金属有機物抵抗
体層が絶縁基板上に圧着された後に除去される材料によ
り構成されたことを特徴とする。Further, the metal organic resistor film of the second invention of the present application is composed of a metal organic resistor layer pressed on an insulating substrate, and a film main body having the metal organic resistor displayed on the surface thereof, The main body is made of a material that is removed after the metal organic resistor layer is pressed on an insulating substrate.
2) 作用 本出願の第1発明の抵抗体形成方法は、フィルム本体
およびこのフィルム本体の表面に形成された金属有機物
抵抗体層から構成される金属有機物抵抗体フィルムを製
作している。このような金属有機物抵抗体フィルムは、
フィルム本体表面に液状またはペースト状の均一な金属
有機物抵抗体層を塗布して乾燥させることにより容易に
製作することができる。すなわち、たとえば搬送される
フィルム本体の片面に、金属有機物材料が表面に塗布さ
れたローラを一定圧力で押し付けることにより、前記フ
ィルム本体の片面に均一な金属有機物抵抗体材料を比較
的容易に塗布することができる。そして前記フィルム本
体片面に塗布された金属有機物抵抗体材料を乾燥させる
ことにより前記金属有機物抵抗体層が均一な前記金属有
機物抵抗体フィルムを容易に製作することができる。さ
らに、前記フィルム本体表面に液状またはペースト状の
均一な金属有機物抵抗体材料を塗布する際に、長尺の大
面積のフィルム本体を使用すれば、1回の塗布作業で多
量の金属有機物抵抗体層が得られる。また、前記製作さ
れた金属有機物抵抗体フィルムの金属有機物抵抗体層の
厚さまたは表面粗さ等を検査して厚さが均一でないもの
を取り除くことにより、前記有機物抵抗体層の厚さが均
一な金属有機物抵抗体フィルムのみを選別して使用する
ことができる。このようにして得られた金属有機物抵抗
体フィルムの均一な金属有機物抵抗体層を絶縁基板表面
に圧着した後、フィルム本体を除去すれば、前記絶縁基
板表面に厚さの均一な抵抗体層が形成される。2) Function In the resistor forming method of the first invention of the present application, a metal-organic resistor film composed of a film body and a metal-organic resistor layer formed on the surface of the film body is manufactured. Such a metal-organic resistor film,
It can be easily manufactured by applying a liquid or paste-like uniform metal organic material resistor layer on the surface of the film body and drying it. That is, for example, by pressing a roller coated with a metal-organic material on one surface of a conveyed film main body at a constant pressure, a uniform metal-organic resistor material is relatively easily coated on one surface of the film main body. be able to. By drying the metal organic resistor material applied to one surface of the film main body, the metal organic resistor film having a uniform metal organic resistor layer can be easily manufactured. Further, when a liquid or paste-like uniform metal-organic resistor material is applied to the surface of the film body, if a long, large-area film body is used, a large amount of the metal-organic resistor can be formed in one coating operation. A layer is obtained. In addition, the thickness of the organic resistor layer is made uniform by inspecting the thickness or surface roughness of the metal organic resistor layer of the manufactured metal organic resistor film and removing those having a non-uniform thickness. Only the metal organic resistor film can be selected and used. After pressing the uniform metal-organic resistor layer of the metal-organic resistor film thus obtained on the surface of the insulating substrate, and removing the film body, a resistor layer having a uniform thickness on the surface of the insulating substrate is obtained. It is formed.
また、本出願の第2発明の金属有機物抵抗体フィルム
は、前記第1発明の金属有機物抵抗体形成方法を実施す
る際に使用される。The metal-organic resistor film of the second invention of the present application is used when performing the metal-organic resistor forming method of the first invention.
3) 実 施 例 以下、図面により本発明の絶縁基板への抵抗体形成方
法の一実施例をサーマルヘッドに適用した場合について
説明する。3) Embodiment Hereinafter, a case where an embodiment of a method for forming a resistor on an insulating substrate according to the present invention is applied to a thermal head will be described with reference to the drawings.
第1図は前記本発明を適用して得られるサーマルヘッ
ドの全体説明図、第2図はその要部の斜視図、第3図は
第2図の矢視III部分の拡大図、第4A図は同サーマルヘ
ッドの要部の平面図、第4B図および第4C図は第4A図のIV
B−IV B線およびIV C−IV C線断面図であり、第5〜第
12C図は同サーマルヘッドの製造方法に適用された本発
明の金属有機物抵抗体層形成方法の一実施例の説明図で
ある。FIG. 1 is an overall explanatory view of a thermal head obtained by applying the present invention, FIG. 2 is a perspective view of a main part thereof, FIG. 3 is an enlarged view of a part III in FIG. 2, and FIG. 4A. Is a plan view of a main part of the thermal head, and FIGS. 4B and 4C are IV views of FIG. 4A.
FIG. 5 is a sectional view taken along line B-IVB and line IVC-IVC,
FIG. 12C is an explanatory view of one embodiment of the metal organic resistor layer forming method of the present invention applied to the thermal head manufacturing method.
第1図に示すように、プラテンロールRの外周に沿っ
て搬送される感熱記録紙Pに熱記録を行うためのサーマ
ルヘッドHは、支持板1を備えている。この支持板1の
表面には、第1図中、右側部分に絶縁基板2が接着剤に
よって張付けられており、この絶縁基板2は、アルミナ
製本体2aとその表面に形成された約60μmの厚さのアン
ダーグレーズ層2bとから構成されている。そして、第3
図に示すように前記絶縁基板2の表面には、複数の発熱
抵抗体3が主走査方向Xに沿って島状に設けられてい
る。As shown in FIG. 1, a thermal head H for performing thermal recording on a thermosensitive recording paper P conveyed along the outer periphery of a platen roll R includes a support plate 1. An insulating substrate 2 is adhered to the surface of the support plate 1 on the right side in FIG. 1 with an adhesive, and the insulating substrate 2 has an alumina main body 2a and a thickness of about 60 μm formed on the surface thereof. And an underglaze layer 2b. And the third
As shown in the figure, a plurality of heating resistors 3 are provided on the surface of the insulating substrate 2 in an island shape along the main scanning direction X.
また、前記絶縁基板2表面上には、第3図に示すよう
な帯状の共通電極本体部4aとこの共通電極本体部4aから
櫛歯状に副走査方向Yに突出する多数の共通電極接続部
4bとから成る共通電極4と、前記多数の共通電極接続部
4bに対向する位置に所定の距離を置いてそれぞれ個別電
極5が形成されている。前記各共通電極接続部4bおよび
個別電極5は前記絶縁基板2表面上に主走査方向Xに沿
って配設された前記発熱抵抗体3に接続されている。ま
た、前記個別電極5の基端部(第1図中、左端部)は後
述の駆動用ICと接続するためのIC接続端子5aとして形成
されている。On the surface of the insulating substrate 2, a strip-shaped common electrode main body 4a as shown in FIG. 3 and a large number of common electrode connection parts protruding in the sub-scanning direction Y from the common electrode main body 4a in a comb-like manner.
4b, and the plurality of common electrode connection portions
The individual electrodes 5 are formed at predetermined positions at positions opposed to 4b. The common electrode connection portions 4b and the individual electrodes 5 are connected to the heating resistors 3 arranged on the surface of the insulating substrate 2 along the main scanning direction X. A base end (the left end in FIG. 1) of the individual electrode 5 is formed as an IC connection terminal 5a for connecting to a driving IC described later.
前記支持板1の表面には、第1図中、左側部分にプリ
ント配線板6が接着剤によって張付けられており、この
プリント配線板6表面には外部接続用配線7が形成され
ている。この外部接続用配線7はその入力端側(第1図
中、左側)において前記プリント配線板6を貫通するコ
ネクタピン8を介して、駆動信号入力端子としてのソケ
ット9に接続されている。プリント配線板6の前記絶縁
基板2に近い部分には駆動用ICが配設されており、この
駆動用ICはボンディングワイヤ10および11によって前記
個別電極5のIC接続端子5aおよび外部接続用配線7と接
続されている。A printed wiring board 6 is adhered to the surface of the support plate 1 on the left side in FIG. 1 with an adhesive, and external connection wiring 7 is formed on the surface of the printed wiring board 6. The external connection wiring 7 is connected to a socket 9 as a drive signal input terminal via a connector pin 8 penetrating the printed wiring board 6 on the input end side (the left side in FIG. 1). A driving IC is provided on a portion of the printed wiring board 6 close to the insulating substrate 2. The driving IC is connected to the IC connection terminal 5 a of the individual electrode 5 and the external connection wiring 7 by bonding wires 10 and 11. Is connected to
前記ICおよびボンディングワイヤ10,11は、保護樹脂1
2によって被覆されており、前記発熱抵抗体3、共通電
極4、および個別電極5等は耐摩耗層13(第1,3,4A,4B,
4C図参照)によって被覆されている。さらに、前記保護
樹脂12はアルミ製のカバー14によって保護されている。The IC and the bonding wires 10 and 11 are
2, the heating resistor 3, the common electrode 4, the individual electrode 5 and the like are provided with a wear-resistant layer 13 (first, third, fourth A, fourth B,
4C). Further, the protective resin 12 is protected by an aluminum cover 14.
そして、前記サーマルヘッドHは、前記符号1〜14で
示された構成要素および前記駆動用ICから構成されてい
る。The thermal head H includes the components indicated by the reference numerals 1 to 14 and the driving IC.
次に、第5〜12C図により、前記第4A〜4C図に示され
る構成を備えたサーマルヘッドHの製造方法を説明す
る。Next, a method for manufacturing the thermal head H having the configuration shown in FIGS. 4A to 4C will be described with reference to FIGS. 5 to 12C.
(イ)金属有機物抵抗体フィルム製作工程(第5図参
照) 第5図に示すようにデップコータ20を用いて、フィル
ム本体21の片面に金属有機物抵抗体材料22を塗布する。(A) Metal organic resistor film manufacturing process (see FIG. 5) As shown in FIG. 5, a metal organic resistor material 22 is applied to one surface of a film body 21 using a dip coater 20.
なお、前記金属有機物抵抗体材料22としては、たとえ
ば、エンゲルハード社のメタルレジネート(商品名)の
下記の番号の各溶液を混合して使用する。As the metal organic resistor material 22, for example, a mixture of the following solutions of a metal resinate (trade name) of Engelhard Co., Ltd. is used.
A−1123(Ir有機物材料) #28−FC(Si有機物材料) #8365(Bi有機物材料) L207−A(Pb有機物材料) #118B(Sn有機物材料) A3808(Al有機物材料) #11−A(B有機物材料) #9428(Ti有機物材料) #5437(Zr有機物材料) 40B(Ca有機物材料) #137−C(Ba有機物材料) すなわち、上記各溶液を焼成後の原子数比が、Ir:Bi:
Si=1:1:1となるような割合で混合し、さらに、トルエ
ン、メチルクロロフォルム、α−ターピオネール、ブチ
ルカルビトールアセテート等の溶剤を使用して粘度を数
10cpsに調整する。A-1123 (Ir organic material) # 28-FC (Si organic material) # 8365 (Bi organic material) L207-A (Pb organic material) # 118B (Sn organic material) A3808 (Al organic material) # 11-A ( B organic material) # 9428 (Ti organic material) # 5437 (Zr organic material) 40B (Ca organic material) # 137-C (Ba organic material) That is, the atomic ratio after firing each of the above solutions is Ir: Bi :
Si was mixed at a ratio such that Si = 1: 1: 1, and the viscosity was further measured using a solvent such as toluene, methyl chloroform, α-terpioneol, or butyl carbitol acetate.
Adjust to 10 cps.
また、前記フィルム本体21としてはたとえばポリエチ
レンテレフタレート(PET)フィルム等のポリマーフィ
ルムを使用する。そして、前記混合溶液との接着性が良
くなるように、前記フィルム本体21の表面に、コーティ
ング技術として従来から知られている物理的(機械的)
または化学的処理を施す。さらに、前記フィルム本体21
の表面に、コーティング材料によって耐溶剤性の処理を
行う。As the film body 21, a polymer film such as a polyethylene terephthalate (PET) film is used. Then, a physical (mechanical) conventionally known as a coating technique is applied to the surface of the film main body 21 so that the adhesiveness with the mixed solution is improved.
Or perform a chemical treatment. Further, the film body 21
Is subjected to a solvent-resistant treatment with a coating material.
前記第5図に示すディップコータ20により、前記フィ
ルム本体21に前記金属有機物抵抗体材料22を塗布する
際、その塗布膜の厚さは、前記金属有機物抵抗体材料22
の粘度、ディップコータの20ロール20a,20bの回転数に
よって調整される。なお、フィルム本体21のエッジ部に
おいて前記塗布膜の膜厚がばらついてその部分は使用で
きないので、その部分を後で除去して使用しなければな
らない。そこで、前記エッジ部の除去する部分も含め
て、前記フィルム本体21には巾が20mm以上のものを使用
する。When the metal organic resistor material 22 is applied to the film body 21 by the dip coater 20 shown in FIG. 5, the thickness of the applied film is determined by the metal organic resistor material 22.
And the rotation speed of the 20 rolls 20a and 20b of the dip coater. Since the thickness of the coating film varies at the edge of the film body 21 and the portion cannot be used, the portion must be removed and used later. Therefore, the film body 21 having a width of 20 mm or more is used, including the part to be removed from the edge portion.
前記金属有機物抵抗体材料22が塗布された前記フィル
ム本体21はそのまま、第5図に示す70℃に保たれた乾燥
機23中で約15分間乾燥される。このとき、前記金属有機
物抵抗体材料22は固化されてフィルム本体21表面に金属
有機物抵抗体層22′が形成される。このようにして製作
される金属有機物抵抗体フィルムFは、前記フィルム本
体21とその表面に形成された前記金属有機物抵抗体層2
2′とから構成されている。The film main body 21 coated with the metal organic resistor material 22 is dried for about 15 minutes in a drier 23 maintained at 70 ° C. as shown in FIG. At this time, the metal-organic resistor material 22 is solidified to form a metal-organic resistor layer 22 ′ on the surface of the film body 21. The metal organic resistor film F manufactured in this manner includes the film main body 21 and the metal organic resistor layer 2 formed on the surface thereof.
2 '.
前記金属有機物抵抗体フィルムFは前記絶縁基板2の
大きさに合わせてパンチングまたはナイフ等で適当な大
きさに切断される。The metal organic resistor film F is cut into an appropriate size by punching or a knife according to the size of the insulating substrate 2.
(ロ)絶縁基板2表面に抵抗体層を形成する工程(第6,
7A,7B図参照) 第6図において、前記適当な大きさに切断された金属
有機物抵抗体フィルムFをその金属有機物抵抗体層22′
が前記絶縁基板2表面に接するように配置する。そし
て、約120℃に温められたヒータヘッド24により、前記
金属有機物抵抗体フィルムFを絶縁基板2表面に押圧す
る。このとき、前記金属有機物抵抗体フィルムFの前記
金属有機物抵抗体層22′は少し軟化し、絶縁基板2表面
に圧着される。この金属有機物抵抗体フィルムFが接着
された絶縁基板2を図示しない赤外線焼成炉で、800℃
のピーク温度で約10分間焼成する。そうすると、前記金
属有機物抵抗体フィルムFの前記フィルム本体21は焼成
炉中でバーンオフして、絶縁基板2表面に第7A,B,C図に
示す抵抗体層3Lが形成される。(B) forming a resistor layer on the surface of the insulating substrate 2 (sixth,
(See FIGS. 7A and 7B.) In FIG. 6, the metal organic resistor film F cut into an appropriate size is placed on the metal organic resistor layer 22 '.
Are arranged in contact with the surface of the insulating substrate 2. Then, the metal organic resistor film F is pressed against the surface of the insulating substrate 2 by the heater head 24 heated to about 120 ° C. At this time, the metal-organic resistor layer 22 ′ of the metal-organic resistor film F is slightly softened and pressed on the surface of the insulating substrate 2. The insulating substrate 2 to which the metal-organic resistor film F was bonded was heated at 800 ° C. in an infrared firing furnace (not shown).
Bake at peak temperature for about 10 minutes. Then, the film body 21 of the metal organic resistor film F is burned off in a firing furnace, and a resistor layer 3L shown in FIGS. 7A, 7B, and 7C is formed on the surface of the insulating substrate 2.
(ハ)個別抵抗体形成工程(第8A,8B図参照) 次に、前記抵抗体層3L上にレジスト層R1を形成してか
らその上に露光用のマスクM1を重ねて露光、現像を行
う。そうすると、第9A,9B図に示すような発熱抵抗体形
成用のレジストパターンRpが得られる。(C) Individual resistor formation step (see FIGS. 8A and 8B) Next, after forming a resist layer R1 on the resistor layer 3L, an exposure mask M1 is overlaid thereon to perform exposure and development. . Then, a resist pattern Rp for forming a heating resistor as shown in FIGS. 9A and 9B is obtained.
次に、エッチング液(フッ硝酸)を用いてエッチング
を行うと、第10A,10B図に示す多数の発熱抵抗体3が得
られる。Next, when etching is performed using an etching solution (hydrofluoric nitric acid), a large number of heating resistors 3 shown in FIGS. 10A and 10B are obtained.
(ニ)電極形成工程(第11A〜12C図参照) 次に、前記発熱抵抗体3が形成された絶縁基板2表面
にノリタケ株式会社製のメタロオーガニック金ペースト
D27をベタ印刷して焼成し、金膜4Lを形成する。(D) Electrode forming step (see FIGS. 11A to 12C) Next, a metallo-organic gold paste manufactured by Noritake Co., Ltd. is applied to the surface of the insulating substrate 2 on which the heating resistor 3 is formed.
D27 is solid printed and fired to form a gold film 4L.
次に第11A,11B図に示すように、前記金属膜4L上にレ
ジスト層R2を形成してから、マスクM2を重ね、露光、現
像を行って電極形成用のレジストパターンを得る。次
に、エッチング液(ヨウ素−ヨウ化カリウム溶液)を用
いてエッチングを行い、前記金属4Lから第12A,12B,12C
図に示すような共通電極4および個別電極5を形成す
る。Next, as shown in FIGS. 11A and 11B, after forming a resist layer R2 on the metal film 4L, a mask M2 is overlaid, and exposure and development are performed to obtain a resist pattern for electrode formation. Next, etching was performed using an etching solution (iodine-potassium iodide solution) to remove the 12th, 12th, 12th, 12th, 12th,
The common electrode 4 and the individual electrode 5 as shown in the figure are formed.
(ホ)耐摩耗層形成工程 次に、前述の発熱抵抗体3、共通電極4および個別電
極5が形成された絶縁基板2表面上に、耐摩耗層形成用
の金属有機物材料をスクリーン印刷によりベタ印刷す
る。このスクリーン印刷された絶縁基板2を、乾燥させ
てから赤外線ベルト焼成炉において800℃程度で焼成し
てオーバコート層を形成する。このオーバコート層は必
要に応じて多層に形成する。(E) Wear-Resistant-Layer-Forming Step Next, a metal-organic material for forming a wear-resistant layer is screen-printed on the surface of the insulating substrate 2 on which the heating resistor 3, the common electrode 4, and the individual electrode 5 are formed. Print. The screen-printed insulating substrate 2 is dried and fired at about 800 ° C. in an infrared belt firing furnace to form an overcoat layer. This overcoat layer is formed in multiple layers as needed.
このようにして、前記第4A〜4C図に示した構成要素3,
4,5,13等を表面に形成された絶縁基板2が得られる。In this way, the components 3, 4 shown in FIGS.
The insulating substrate 2 having 4, 5, 13 and the like formed on the surface is obtained.
以上、本発明による絶縁基板への抵抗体層形成方法の
実施例を詳述したが、本発明は、前記実施例に限定され
るものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の
要旨の範囲内で、種々の小設計変更を行うことが可能で
ある。As described above, the embodiment of the method for forming a resistor layer on an insulating substrate according to the present invention has been described in detail. However, the present invention is not limited to the above embodiment, and the gist of the present invention described in the appended claims Various small design changes can be made within the range.
例えば、前記金属有機物抵抗体フィルムFに使用する
フィルム本体21としては、ポリマーフィルム以外の適当
な材質のフィルムを使用することが可能であり、焼成時
にバーンオフしないフィルム本体を使用する場合には、
フィルム本体表面にワックス層を形成してから金属有機
物抵抗体層を形成し、ヒータヘッドの加熱時にフィルム
本体が剥がれるようにすることも可能である。また、フ
ィルム本体に金属有機物抵抗体材料を塗布する方法とし
ては、ディップコート法の代わりに、エアドクタコー
ト、ロールコータ、ロッドコータ等の塗布手段を採用す
ることが可能であり、さらに、粘度が高い金属有機物抵
抗体材料を使用する際には、ホットメルトコータを採用
することが可能である。さらにまた、種々の成分の混合
溶液によって構成される金属有機物抵抗体材料22の成分
も実施例で示した以外の種々成分とすることが可能であ
る。そしてさらに、絶縁基板2表面に抵抗体層を形成し
た後で電極を形成する代わりに、電極を形成した絶縁基
板2表面に抵抗体層を形成することも可能である。For example, as the film body 21 used for the metal organic resistor film F, it is possible to use a film of an appropriate material other than the polymer film, and when using a film body that does not burn off during firing,
It is also possible to form a metal organic resistor layer after forming a wax layer on the surface of the film main body so that the film main body is peeled off when the heater head is heated. In addition, as a method of applying the metal organic resistor material to the film body, it is possible to adopt an application means such as an air doctor coat, a roll coater, and a rod coater instead of the dip coating method. When using a high metal organic resistor material, a hot melt coater can be employed. Furthermore, the components of the metal-organic resistor material 22 composed of a mixed solution of various components can be various components other than those shown in the embodiments. Further, instead of forming the electrodes after forming the resistor layer on the surface of the insulating substrate 2, it is also possible to form the resistor layer on the surface of the insulating substrate 2 on which the electrodes are formed.
C.発明の効果 前述の本出願の第1発明の抵抗体層形成方法は、フィ
ルム本体およびこのフィルム本体の表面に形成された金
属有機物抵抗体層から構成される金属有機物抵抗体フィ
ルムを製作し、この金属有機物抵抗体フィルムの前記金
属有機物抵抗体層を絶縁基板表面に圧着した後、前記フ
ィルム本体を除去することにより前記絶縁基板表面に抵
抗体層を形成している。したがって、前記金属有機物抵
抗体フィルムは、その金属有機物抵抗体層を絶縁基板に
圧着する前に、その厚さムラまたはピンホールの有無等
を検査して不良品を取り除くことができる。したがっ
て、多数の絶縁基板表面に個別に直接金属有機物抵抗体
層を形成してから不良品を取り除く場合に比較して作業
性が良い。また、不良品は再び溶剤に溶かして再利用す
ることも可能であり、材料の無駄を少なくすることも可
能である。C. Effects of the Invention The above-described method for forming a resistor layer according to the first invention of the present application produces a metal-organic resistor film composed of a film body and a metal-organic resistor layer formed on the surface of the film body. After the metal organic resistor layer of the metal organic resistor film is pressed against the surface of the insulating substrate, the film body is removed to form a resistor layer on the surface of the insulating substrate. Therefore, before the metal organic resistor film is pressed against the insulating substrate, the metal organic resistor film can be inspected for thickness unevenness or the presence or absence of pinholes to remove defective products. Therefore, the workability is better than in the case where the metal-organic resistor layers are individually formed directly on the surfaces of a large number of insulating substrates and then defective products are removed. Defective products can also be dissolved in a solvent again and reused, and material waste can be reduced.
さらに、フィルム本体に金属有機物抵抗体材料を塗布
して金属有機物抵抗体フィルムを製作する作業は、長尺
で大面積のフィルム本体を使用することにより一度に多
量の金属有機物抵抗体層が得られる。そして、金属有機
物抵抗体フィルムを適当な大きさに切断して絶縁基板表
面に圧着する作業は簡単で自動化も容易である。したが
って、絶縁基板表面に均一な抵抗体層を製作する再の作
業性も良好である。さらにまた、金属有機物抵抗体フィ
ルムを適当な大きさに切断して絶縁基板表面に圧着する
本発明は、水平でない平面や曲面を有する絶縁基板表面
に容易に均一な抵抗体層を形成することができる。Furthermore, in the operation of manufacturing a metal organic resistor film by applying a metal organic resistor material to a film body, a large amount of metal organic resistor layers can be obtained at once by using a long, large-area film body. . Then, the operation of cutting the metal organic resistor film into an appropriate size and pressing it on the surface of the insulating substrate is simple and easy to automate. Therefore, the workability of producing a uniform resistor layer on the surface of the insulating substrate is also good. Furthermore, the present invention, in which the metal organic resistor film is cut into an appropriate size and pressure-bonded to the surface of the insulating substrate, can easily form a uniform resistor layer on the surface of the insulating substrate having a non-horizontal flat surface or a curved surface. it can.
また、前述の本出願の第2発明の金属有機物抵抗体フ
ィルムは前記第1発明を実施する際に使用することがで
きる。Further, the metal-organic resistor film of the second invention of the present application described above can be used when carrying out the first invention.
第1図は本発明の抵抗体層形成方法の一実施例を適用し
たサーマルヘッドの全体説明図、第2図は同サーマルヘ
ッドの要部の斜視図、第3図は第2図の矢視3部分の拡
大図、第4A図は同サーマルヘッドの要部の平面図、第4B
図は第4A図のIV B−IV B線断面図、第4C図は第4A図のIV
C−IV C線断面図、第5図は金属有機物抵抗体フィルム
の製作方法の説明図、第6図は前記金属有機物抵抗体フ
ィルムを用いて絶縁基板表面に抵抗体層を形成する方法
の説明図、第7A〜12C図は前記第4A〜4C図に示した部分
の製造方法の説明図、である。 2……絶縁基板、3……発熱抵抗体、4……共通電極、
4a……共通電極本体部、4b……共通電極接続部、5……
個別電極、13……オーバコート層FIG. 1 is an overall explanatory view of a thermal head to which an embodiment of a method of forming a resistor layer according to the present invention is applied, FIG. 2 is a perspective view of a main portion of the thermal head, and FIG. Fig. 4A is an enlarged view of three parts, Fig. 4A is a plan view of a main part of the thermal head, and Fig. 4B.
FIG. 4A is a cross-sectional view taken along the line IV B-IV B of FIG. 4A, and FIG.
FIG. 5 is an explanatory view of a method of manufacturing a metal-organic resistor film, and FIG. 6 is an explanatory view of a method of forming a resistor layer on the surface of an insulating substrate using the metal-organic resistor film. 7A to 12C are explanatory diagrams of a method of manufacturing the portion shown in FIGS. 4A to 4C. 2 ... insulating substrate, 3 ... heating resistor, 4 ... common electrode,
4a: Common electrode body, 4b: Common electrode connection, 5 ...
Individual electrode, 13 ... overcoat layer
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−36049(JP,A) 特開 昭63−166554(JP,A) 特開 昭62−116164(JP,A) 特開 平2−72970(JP,A) 特開 平1−307291(JP,A) 特開 昭63−77754(JP,A) 特開 昭63−74660(JP,A) 特開 平1−220402(JP,A) 実開 昭62−23476(JP,U) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-3-36049 (JP, A) JP-A-63-166554 (JP, A) JP-A-62-116164 (JP, A) JP-A-2- 72970 (JP, A) JP-A-1-307291 (JP, A) JP-A-63-77754 (JP, A) JP-A-63-74660 (JP, A) JP-A-1-220402 (JP, A) Actual opening 1962-23476 (JP, U)
Claims (2)
面に形成された金属有機物抵抗体層から構成される金属
有機物抵抗体フィルムを製作し、この金属有機物抵抗体
フィルムの前記金属有機物抵抗体層を絶縁基板表面に圧
着した後、前記フィルム本体を除去することにより前記
絶縁基板表面に抵抗体を形成することを特徴とする絶縁
基板表面への抵抗体層形成方法。1. A metal organic resistor film comprising a film main body and a metal organic resistor layer formed on the surface of the film main body is manufactured, and the metal organic resistor layer of the metal organic resistor film is insulated. A method of forming a resistor layer on the surface of an insulating substrate, comprising: forming a resistor on the surface of the insulating substrate by removing the film main body after pressing the film on the surface of the substrate.
層と、前記金属有機物抵抗体が表面に形成されたフィル
ム本体とから構成され、前記フィルム本体は前記金属有
機物抵抗体層が絶縁基板上に圧着された後に除去される
材料により構成された金属有機物抵抗体フィルム。2. A metal organic resistor layer pressed on an insulating substrate, and a film main body having the metal organic resistor formed on a surface thereof, wherein the film main body is formed of the metal organic resistor layer on the insulating substrate. A metal organic resistor film made of a material that is removed after being crimped thereon.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2187731A JP2606416B2 (en) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | Method of forming resistor layer on insulating substrate surface and metal organic resistor film |
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JPH0473164A JPH0473164A (en) | 1992-03-09 |
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