JP2594495B2 - 電子部品の測定装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、トランジスタ，ＩＣ，
ディスクリートデバイス等の平行リードを有するモール
ド型電子部品の自動検査、選別装置などに使用される電
子部品の測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、トランジスタ，ＩＣ，ディスクリ
ートデバイス等の平行リードを有するモールド型電子部
品（以下これらを総称して電子部品と云う）の特性測定
を行う場合、測定位置に電子部品をセットし、そのリー
ドに測定子を接触させ、測定器から電流または電圧を印
加し、電子部品の抵抗等の電気的特性を測定している。

【０００３】測定子の構造としては従来から種々提案さ
れているが、図４および図５に示すリーフスプリング型
またはソケット型の測定子が最も一般的である。図４の
リーフスプリング型測定子１は、シングルコンタクトと
呼ばれ比較的小さい電子部品に対して用いられるもの
で、紙面と直交する方向に並設された複数個の帯状金属
片からなる測子２と、測子２の基部を共通に保持する保
持体３と、プッシャ４を備え、特性測定時に測子２がプ
ッシャ４によって押圧されて弾性変形し、その先端２ａ
が電子部品５のリード６に所定圧にて押し付けられるよ
うになっている。図５のソケット型測定子１０は、ソケ
ット本体１１と、ソケット本体１１の上面中央に対向し
て配設された測子２と、ソケット本体１１の一端部に軸
１２を介して開閉自在に配設され、特性測定時に閉じら
れることにより電子部品５のリード６を測子２に所定圧
にて押し付ける押圧部材１３と、押圧部材１３を閉位置
にロックするロックレバー１４およびロックレバー１４
にソケット本体１１と係合する方向の回動習性を付与す
るばね１５とで構成されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図４に
示した従来のリーフスプリング型測定子１により高周波
特性をもつ電子部品の特性測定を行う場合、測子２の長
さが長いほど表皮効果により抵抗が大きくなるため測定
誤差が大きくなり、高い精度の測定結果が得られなくな
るという問題があった。このような問題を解決する方法
として図５に示したソケット型測定子１０が開発された
が、この測定子１０においても帯状金属片からなる測子
２を用いているため、不十分であった。また、リーフス
プリング型測定子１、ソケット型測定子１０の何れにお
いても接触抵抗が大きいと、測定誤差が大きくなり、リ
ード６が測子２に急激に接触すると、リード６または測
子２が曲がり、特に測子２の曲がり量が大きいと曲げ疲
労により測子２の寿命が短くなるなどの問題があった。
さらに、測子２は消耗品であり、交換のし難いものは検
査、選別装置の稼動率を低下させるため、簡単に交換で
きるものが要望されている。

【０００５】したがって、本発明は上記したような従来
の問題点および要望に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、測子の短縮化と良好な接触抵抗を得る
ことができ、測定精度を向上させると共に、交換作業を
容易に行うことができるようにした電子部品の測定装置
を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するためになされたもので、導電材料によって形成され
上面に回動支点部を有する台と、この台上に前記回動支
点部を中心として揺動自在にかつ台と電気的に導通され
て配設され、上面一端部に電子部品のリードが圧接され
る小片状のコンタクトと、このコンタクトにリードとの
接触圧を強める方向の回動習性を付与する付勢手段とを
備えたものである。

【０００７】

【作用】本発明において、測子を構成するコンタクトは
小さな板状片に形成されることで、長さの短縮化を可能
にする。またコンタクトはリードが接触すると、台の回
動支点部を中心として回動し、リード接触時の衝撃を吸
収する。このとき付勢手段はコンタクトの急激な回動を
阻止する。リードの先端はコンタクトが回動すること
で、コンタクト上面を滑り、接触部の酸化皮膜を傷つ
け、接触抵抗を小さくする。

【０００８】

【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて
詳細に説明する。図１は本発明に係る電子部品の測定装
置の一実施例を示す分解斜視図、図２は同装置の部分断
面図、図３は電子部品のリードをコンタクトに押し付け
た状態の要部拡大断面図である。これらの図において、
測定装置２０は台板２１上に配設された左右一対の台２
２および各台２２上にそれぞれ揺動自在に配設された複
数個のコンタクト２３とを備えている。

【０００９】前記台２２は、電子部品５のリード６と同
一ピッチで板厚方向に配列された銅等からなる複数枚の
薄い金属片２２ａと、これら金属片２２ａ間に介在され
た絶縁材とでチップまたはブロック状に形成されてお
り、金属片２２ａの上面中央にはＶ字状の突状体からな
る回動支点部２４が一体に突設されている。金属片２２
ａはリード６の本数と同じかこれより多く設けられてお
り、下面にはピン２５が一体に延設されている。そし
て、台２２は台板２１上の電子部品測定位置を挟んでそ
の両側に所定の間隔をおいて配設され、各金属片２２ａ
のピン２５が台板２１に形成された小孔２６に挿通さ
れ、かつテスター（図示せず）に接続されている。

【００１０】前記コンタクト２３は、台２２の金属片２
２ａと同一ピッチで板厚方向に配列された銅等からなる
複数枚の薄い金属片からなり、下面中央に前記回動支点
部２４が係合するＶ字状の凹部２８が形成されている。
コンタクト２３は、前記金属片２２ａと同数で、上面内
側端部、すなわち電子部品５側端部にはリード６との接
触部を構成する凸部２９が一体に突設されている。

【００１１】前記台板２１上にはさらにそれぞれ左右一
対からなるホルダー３０とプローブガイド３１が配設さ
れている。ホルダー３０は平面視凹型のプレートからな
り、凹部を対向させて複数個の止めねじ３２によって固
定されることにより、前記左右一対の台２２およびプロ
ーブガイド３１を取り囲んでいる。プローブガイド３１
は、両端部がホルダー３０上に止めねじ３３によって固
定されており、内側端面に前記コンタクト２３を収納す
る複数個のスリット３４が前記台２２の金属片２２ａに
対応して形成されている。スリット３４の溝幅は、コン
タクト２３の板厚と略等しいか若干大きく設定されてお
り、これによって特性測定時におけるコンタクト２３の
板厚方向の移動および曲がりを防止している。コンタク
ト２３の上部はスリット３４の上方に突出している。前
記ホルダー３０の上面中央には板ばね３５の一端部が押
え板３６によって固定されて配設されている。押え板３
６の両端は止めねじ３７によってホルダー３０に固定さ
れている。板ばね３５の自由端部は前記コンタクト２３
の上面外側端部、すなわち凸部２９側とは反対側端部に
圧接されることにより、凸部２９がリード６に当接する
方向の回動習性をコンタクト２３に付与している。な
お、板ばね３５は絶縁材料からなり、自由端部がコンタ
クト２３の動きに追従し易くするため櫛歯状に形成され
ている。

【００１２】このような構造からなる測定装置２０にお
いて、コンタクト２３は、プローブガイド３１のスリッ
ト３４内に挿入配置されることにより、台２２の金属片
２２ａの回動支点部２４上に揺動自在に載置されて前
後、左右方向の移動を規制されており、かつ板ばね３５
によって図２時計方向の回動習性を付与されることによ
り通常下面外側端部が台２２の上面に当接して略水平に
設定保持されている。このような状態において特性測定
時に不図示の可動シュートに保持されて未検査の電子部
品５が電子部品測定位置に送られてきて停止し、しかる
後可動シュートが下方に所定距離移動してリード６をコ
ンタクト２３の凸部２９上に押し付けると、リード６が
コンタクト２３および台２２の金属片２２ａを介してテ
スターに電気的に接続されるため、電子部品５の特性測
定を行うことができる。

【００１３】ここで、本発明においては台２２上に揺動
自在に配設された小片状のコンタクト２３が測子を構成
するため、リード先端からコンタクト２３、台２２の先
端までの距離を図４および図５に示した従来装置に比べ
て短縮することができ、またコンタクト２３自体はプロ
ーブガイド３１のスリット３４内に挿入配置されている
ので、電子部品５の押圧時に板厚方向に動いたり曲がっ
たりすることがない。またコンタクト２３を揺動自在に
配設しリード６をコンタクト２３の凸部２９上面に押し
付けると、コンタクト２３は回動支点部２４を中心とし
て板ばね３５に抗して図３反時計方向に回動し、リード
接触時の衝撃を吸収する。この時、板ばね３５はコンタ
クト２３が回動することで弾性変形され、コンタクト２
３に対する弾撥力が増大することで、コンタクト２３の
急激な回動を阻止する。また、板ばね３５の弾撥力は電
子部品５の押圧力と釣合状態を保つことで、凸部２９を
リード６に押し付け、これら両者間の接触抵抗を小さく
する。さらに、コンタクト２３が回動すると、凸部２９
の上面はリード６によって擦られるため、酸化皮膜が傷
つき、一層接触抵抗を小さくする。加えて、コンタクト
２３はスリッ３４によって位置決めされて台２２上に揺
動自在に載置されているだけで、固定されていないため
板ばね３５をホルダー３０から取り外すと、簡単に交換
することができる。

【００１４】なお、上記実施例は台２２の回動支点部２
４をＶ字状の突起で構成したが、これに限らずＶ字状の
凹部であってもよく、その場合はコンタクト２３側にＶ
字状の突起を設ければよい。また、上記実施例はコンタ
クト２３の付勢手段として板ばね３４を用いたが、線ば
ね等であってもよい。

【００１５】

【発明の効果】以上説明したように本発明に係る電子部
品の測定装置は、台上に小片状のコンタクトを揺動自在
に配設し、これらを導電材料で形成することにより互い
に電気的に導通させ、かつコンタクトを付勢手段によっ
てリードとの接触圧が強まる方向に付勢し、特性測定時
に電子部品のリードをコンタクトに前記付勢手段に抗し
て押し付けるように構成したので、従来の測子に比べて
コンタクトの長さを短くすることが可能で、したがっ
て、測定誤差が少なく、特に高周波特性をもつ電子部品
の特性測定に用いて好適である。また、コンタクトはリ
ードが当たったとき曲がったりすることが殆どなく、ま
たリード当接に伴う回動により衝撃を効果的に吸収する
と共に付勢手段の作用により急激な回動を阻止される。
また、コンタクトは付勢手段によりリードに圧接される
ことで、リードとの接触抵抗が小さく、さらに回動によ
りリードとの接触部がリードによって擦られるため、酸
化皮膜が傷つき、一層接触抵を小さくする。また、コン
タクトは単に台上に揺動自在に配設されるものであるた
め、交換作業が著しく簡単かつ容易で、交換作業に要す
る時間を大幅に短縮することができ、検査、選別装置の
稼動率を向上させることができるなど、その効果は非常
に大である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る電子部品の測定装置の一実施例を
示す分解斜視図である。

【図２】同装置の部分断面図である。

【図３】電子部品のリードをコンタクトに押し付けた状
態の要部拡大断面図である。

【図４】従来の測定子の一例を示す正面図である。

【図５】測定子の他の従来例を示す断面図である。

【符号の説明】

２ 測子 ５ 電子部品 ６ リード ２１ 台板 ２２ 台 ２３ コンタクト ２４ 回動支点部 ２５ ピン ３０ ホルダー ３１ プローブガイド ３４ スリット ３５ 板ばね

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 導電材料によって形成され上面に回動支
   点部を有する台と、この台上に前記回動支点部を中心と
   して揺動自在にかつ台と電気的に導通されて配設され、
   上面一端部に電子部品のリードが圧接される小片状のコ
   ンタクトと、このコンタクトにリードとの接触圧を強め
   る方向の回動習性を付与する付勢手段とを備えたことを
   特徴とする電子部品の測定装置。