JP2583631B2 - Circuit model generation method - Google Patents

Circuit model generation method

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JP2583631B2
JP2583631B2 JP2009849A JP984990A JP2583631B2 JP 2583631 B2 JP2583631 B2 JP 2583631B2 JP 2009849 A JP2009849 A JP 2009849A JP 984990 A JP984990 A JP 984990A JP 2583631 B2 JP2583631 B2 JP 2583631B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体集積回路の一部として使用するセ
ルのレイアウトデータ、及び論理検証、タイミング検
証、テスト生成等を行うCADツールを実行するためのデ
ータである回路モデルを生成する回路モデル生成方法に
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention is to execute a CAD tool for performing layout data of a cell used as a part of a semiconductor integrated circuit, logic verification, timing verification, test generation, and the like. And a circuit model generation method for generating a circuit model which is the data of (1).

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第4図は、従来のセル生成システムにおいてレイアウ
トデータ及び回路モデルを生成する回路モデル生成方法
の動作を説明するフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating the operation of a circuit model generation method for generating layout data and a circuit model in a conventional cell generation system.

次にこの回路モデル生成方法の動作について説明す
る。まず、回路モデルとして生成するセルの特徴を示す
パラメータ値を読み込み(ステップST1)、該読み込ま
れたパラメータ値に応じたセルのレイアウトデータを生
成する(ステップST2)。そして、該生成されたレイア
ウトデータから、セル内の各素子間の接続情報を抽出し
(ステップST3)、セルの回路モデルを生成している
(ステップST4)。なお、以上のように生成されたセル
の回路モデルが実際の回路全体の検証等を行うCADツー
ルの入力データとなる。
Next, the operation of the circuit model generating method will be described. First, a parameter value indicating a characteristic of a cell generated as a circuit model is read (step ST1), and cell layout data corresponding to the read parameter value is generated (step ST2). Then, connection information between the elements in the cell is extracted from the generated layout data (step ST3), and a circuit model of the cell is generated (step ST4). Note that the circuit model of the cell generated as described above is input data of a CAD tool for verifying an actual circuit as a whole.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

従来の回路モデル生成方法は以上のように構成されて
いるので、回路モデルとしてセルを構成する素子間の接
続関係を表した接続情報データは生成できるが、セルの
機能や動作を表した機能表現データは生成できず、接続
情報データを用いた論理検証より高速に実行できる機能
表現データを用いた機能レベルの論理検証が実行できな
いという課題があった。また、レイアウトデータを生成
した後でなければ回路モデルを生成することができない
ため、レイアウトデータを生成する前に回路の検証を行
いたい場合にも、一旦レイアウトデータを生成しなけれ
ばならず、余分な時間がかかるという課題があった。
Since the conventional circuit model generation method is configured as described above, connection information data representing a connection relationship between elements constituting a cell can be generated as a circuit model, but a functional expression representing a function or operation of the cell. There is a problem that data cannot be generated, and logic verification at a function level using function expression data that can be performed at higher speed than logic verification using connection information data cannot be performed. Also, since a circuit model cannot be generated until after layout data is generated, layout data must be generated once even when a circuit is to be verified before generating layout data. It took a long time.

この発明は上記のような課題を解消するためになされ
たもので、セルの回路モデルをレウアウトデータの生成
とは独立に、接続情報データ、機能表現データのどちら
でも回路モデルを生成するセル生成システムにおける回
路モデル生成方法を得ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and a cell generation method for generating a circuit model of connection information data or function expression data independently of generation of layout data, using a circuit model of a cell. An object of the present invention is to obtain a method for generating a circuit model in a system.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

この発明に係る回路モデル生成方法は、セルの回路モ
デルのうち、該セルの特徴を示すパラメータ値そのもの
と置き換えられる記号、該パラメータ値によって所定の
表現を生成する繰り返し回数を指定する記号、及び該パ
ラメータ値によって複数の表現の候補の中から取捨選択
を指定できる記号の回路モデルの表現形式に依存しない
記号からなる未定要素部分を含む回路モデル生成用デー
タとしての接続情報データ、及び機能表現データを予め
用意しておき、該回路モデル生成用データのうち、外部
から指示された接続情報データ、あるいは機能表現デー
タの未定要素部分と非未定要素部分とを切り分け、該未
定要素部分を読み込まれたパラメータ値そのもので置き
換える置換処理、該パラメータ値が指定された回数だけ
所定の表現を生成する繰り返し処理、あるいは予め用意
された複数の表現のうち、該パラメータ値により指示さ
れた表現を取捨選択する選択処理を行うことで編集し、
該読み込まれたパラメータ値に応じたセルの回路モデル
を生成するようにしたものである。
A circuit model generation method according to the present invention includes a symbol that is replaced with a parameter value itself indicating a characteristic of the cell, a symbol that specifies the number of repetitions for generating a predetermined expression by the parameter value, and Connection information data and function expression data as data for generating a circuit model including an undetermined element portion composed of a symbol that does not depend on the expression form of the circuit model of a symbol that can be selected from a plurality of expression candidates by parameter values. Prepared in advance, of the circuit model generation data, the connection information data instructed from outside, or the undefined element portion and the undetermined element portion of the function expression data are separated, and the parameter in which the undetermined element portion is read Replacement processing for replacing with the value itself, generating a predetermined expression the number of times the parameter value is specified Repeat the process, or among a plurality of expressions prepared in advance, edited by performing a selection process to sift the instructed represented by the parameter values,
The circuit model of the cell corresponding to the read parameter value is generated.

〔作 用〕(Operation)

この発明における回路モデル生成用データは、回路モ
デル中の未定要素部分として識別可能な表現形式で記述
した接続情報データ、及び機能表現データとして読め用
意されているレイアウトデータの生成とは独立に、ま
た、接続情報データ、機能表現データのどちらかでも未
定要素部分を編集してセルの回路モデルが生成できる。
The circuit model generation data in the present invention is independent of generation of connection information data described in an expression format that can be identified as an undetermined element portion in a circuit model, and layout data read and prepared as function expression data. A circuit model of a cell can be generated by editing an undetermined element portion in any of the connection information data and the function expression data.

〔実 施 例〕〔Example〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第
1図はこの発明の一実施例による回路モデル生成方法を
実現するハードウェア構成図であり、図において、1は
接続情報データ及び機能表現データを格納している回路
モデル生成用データ記憶手段、2は読み込まれたパラメ
ータ値を一旦格納するパラメータ値記憶手段、3は回路
モデル生成手段であり、前記回路モデル生成用データで
ある接続情報データ、あるいは機能表現データの未定要
素部分と非未定要素部分に切り分ける解析手段3a、該解
析手段3aにより切り分けられた未定要素部分を特定する
ために必要なパラメータ値を、前記パラメータ値記憶手
段2から抽出する必要パラメータ値抽出手段3b、及び前
記解析手段3aから得られる未定要素部分と非未定要素部
分、及び必要パラメータ値抽出手段3bから得られるパラ
メータ値から置換処理、繰り返し処理、選択処理を行い
編集する編集処理手段3cから構成されている。4は前記
回路モデル生成手段3により生成されたセルの回路モデ
ルを格納する回路モデル記憶手段である。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a hardware configuration diagram for realizing a circuit model generation method according to one embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 1 denotes a circuit model generation data storage unit that stores connection information data and function expression data; Reference numeral 2 denotes a parameter value storage unit for temporarily storing the read parameter values, and 3 denotes a circuit model generation unit. Connection information data, which is the circuit model generation data, or an undetermined element portion and an undetermined element portion of the function expression data. From the parameter value storage means 2 to extract necessary parameter values for specifying the undetermined element portion separated by the analysis means 3a, and from the analysis means 3a. Substitution processing is performed from the obtained undetermined element part and the undetermined element part, and the parameter value obtained from the necessary parameter value extracting means 3b. Editing processing means 3c for performing processing, repetition processing, selection processing and editing. Reference numeral 4 denotes circuit model storage means for storing the circuit model of the cell generated by the circuit model generation means 3.

第3図は第1図に示す構成において格納あるいは生成
されるデータの一例を示す図で、この実施例では乗算器
セルの回路モデルを生成する場合を示している。同図
(a)は前記回路モデル生成用データ記憶手段1に格納
される機能表現データの一部を示す図であり、図におい
て、1行目の“_MPYNAME"は利用者の指定するセル名と
置き換えられる記号、2行目の“_XNUM"と3行目の“_Y
NUM"は利用者の指定する数値(例えば、乗算器セルの場
合の乗数と被乗数のビット数に相当する)と置き換えら
れる記号、2行目の“_XIN〔i〕”と3行目の“_YIN
〔i〕”は利用者の設定する入力端子名と置き換えられ
る記号、4行目の“_IL"は入力ラッチを付ける場合に利
用者が値1を指定し付けない場合に値0を指定するフラ
グである。また、2行目の“_#1oop(i=_XNUM;i>
=1;−1)#〔…〕#”は、“i"の値を“_XNUM"の値か
ら1まで1ずつ減らしていき、その間“#〔”、“〕
#”内の記述を繰り返す記号、4行目の“_#if(…)
#〔…〕#”は、“(”、“)”内の値が1の場合“#
〔”、“〕#”の内の記述(表現)を選択する記号であ
る。また、同図(b)は読み込まれ、一旦パラメータ値
記憶手段2に格納される機能表現データを編集するため
のパラメータ値の一部を示す図、同図(c)は当該セル
生成システムにより編集された回路モデルの一部を示す
図、同図(d)は前記回路モデル生成用データ記憶手段
1に格納される接続情報データの一部を示す図、同図
(e)は読み込まれ、一旦パラメータ値記憶手段2に格
納される接続情報データを編集するためのパラメータ値
の一部を示す図、同図(f)は当該回路モデル生成方法
により編集された回路モデルの一部を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an example of data stored or generated in the configuration shown in FIG. 1. In this embodiment, a case where a circuit model of a multiplier cell is generated is shown. FIG. 2A shows a part of the function expression data stored in the circuit model generation data storage means 1. In the figure, "_MPYNAME" on the first line indicates a cell name designated by the user and Symbols to be replaced “_XNUM” on the second line and “_Y” on the third line
"NUM" is a symbol to be replaced with a numerical value specified by the user (e.g., corresponding to the number of bits of a multiplier and a multiplicand in the case of a multiplier cell), "_XIN [i]" on the second line and "_YIN" on the third line
"[I]" is a symbol to be replaced with the input terminal name set by the user. "_IL" on the fourth line is a flag for specifying the value 1 when the user does not specify the value 1 when attaching the input latch. In the second line, “_ # 1oop (i = _XNUM; i>
= 1; -1) # [...] # "decreases the value of" i "by 1 from the value of" _XNUM "to 1 while"#[","]
A symbol that repeats the description in “#”, “_ # if (...) on the fourth line
# [...] # "is"#"when the value in"(",")"is 1.
This symbol is used to select the description (expression) in [","] # ". Further, FIG. 2B is a diagram for editing the function expression data which is read and temporarily stored in the parameter value storage means 2. FIG. 4C shows a part of a parameter value, FIG. 4C shows a part of a circuit model edited by the cell generation system, and FIG. 5D is stored in the circuit model generation data storage means 1. FIG. 4E shows a part of the connection information data, and FIG. 4E shows a part of the parameter value for editing the connection information data which is read and temporarily stored in the parameter value storage means 2. (f) is a diagram showing a part of the circuit model edited by the circuit model generation method.

次にこのセル生成システムの動作について第2図のフ
ローチャートを用いて説明する。まず、外部から利用者
により設定されたセル名、乗数と被乗数のビット数、入
力端子名、フラグの値等のパラメータ値を読み込み、パ
ラメータ値記憶手段2に格納しておく(ステップST
5)。さらに、利用者の指示がレイアウトデータの生成
か、あるいは回路モデルの生成かを判断し(ステップST
6)、もし、レイアウトデータ生成が指示されれば、指
示されたセルのレイアウトデータを生成し(ステップST
16)、編集を終了するが、このステップST6で回路モデ
ル生成が指示されると、まず、回路モデル生成用データ
として機能表現データと接続情報データのどちらが指示
されたかを判定し(ステップST7)、回路モデル生成用
データ記憶手段1から機能表現データ(第3図(a))
を取り出すか(ステップST8a)、あるいは接続情報デー
タ(第3図(d))を取り出す(ステップST8b)。そし
て、この取り出された回路モデル生成用データは解析手
段3aにより未定要素部分と非未定要素部分に切り分けら
れ(ステップST9)、この切り分けられた各部分1つ1
つについて未定要素か否かを判定し(ステップST10,ST1
1)、未定要素部分であれば、まず、必要パラメータ値
抽出手段3bによりパラメータ値(回路モデル生成用デー
タとして機能表現データが指示されていれば第3図
(b)に、接続情報データが指示されていれば第3図
(e)に示されている)を抽出して(ステップST12)、
編集処理手段3cにより該パラメータ値による編集を行い
(ステップST13)、該解析手段3aで切り分けられた全て
の部分について終了したことを確認すると(ステップST
14)、該パラメータ値で置換された未定要素部分、及び
非未定要素部分とを編集することでセルの回路モデルを
生成する(ステップST15)。なお、以上のように生成さ
れたセルの回路モデルが実際の回路全体の検証等を行う
CADツールの入力データとなる。
Next, the operation of the cell generation system will be described with reference to the flowchart of FIG. First, parameter values such as the cell name, the number of bits of the multiplier and the multiplicand, the input terminal name, the value of the flag, and the like set by the user from the outside are read and stored in the parameter value storage means 2 (step ST).
Five). Further, it is determined whether the user's instruction is to generate layout data or a circuit model (step ST).
6) If layout data generation is instructed, layout data of the instructed cell is generated (step ST
16), the editing is ended. When the circuit model generation is instructed in step ST6, first, it is determined which of the function expression data and the connection information data has been instructed as the circuit model generation data (step ST7). Function expression data from the circuit model generation data storage means 1 (FIG. 3A)
(Step ST8a) or connection information data (FIG. 3 (d)) (step ST8b). Then, the extracted circuit model generation data is divided into an undetermined element part and an undetermined element part by the analysis means 3a (step ST9), and each of the divided parts is determined one by one.
It is determined whether or not each element is an undetermined element (steps ST10 and ST1).
1) If it is an undetermined element portion, first, the necessary parameter value extraction means 3b indicates the parameter value (if the function expression data is specified as the circuit model generation data, the connection information data is specified in FIG. 3B). If it is done, it is extracted (shown in FIG. 3 (e)) (step ST12),
Editing by the parameter value is performed by the editing processing means 3c (step ST13), and when it is confirmed that the processing has been completed for all portions cut by the analysis means 3a (step ST13)
14), a circuit model of the cell is generated by editing the undetermined element portion and the undetermined element portion replaced with the parameter values (step ST15). The circuit model of the cell generated as described above verifies the actual circuit as a whole.
It becomes the input data of the CAD tool.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上のように、この発明によれば、回路モデル生成用
データとして読み込まれるパラメータ値に依存する未定
要素部分を含む機能表現データ及び接続情報データとを
予め用意しておき、該パラメータ値に応じて編集するこ
とでセルの回路モデルを生成するようにしたので、レイ
アウトデータの生成とは独立に、該機能表現データ、接
続情報データのどちらでも回路モデルを生成できる回路
モデル生成方法が得られる効果がある。
As described above, according to the present invention, the function expression data and the connection information data including the undetermined element portion depending on the parameter value read as the circuit model generation data are prepared in advance, and the Since the circuit model of the cell is generated by editing, it is possible to obtain a circuit model generation method capable of generating a circuit model using either the function expression data or the connection information data independently of the generation of the layout data. is there.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図はこの発明の一実施例による回路モデル生成方法
を実現するハードウェア構成図、第2図はこの発明の回
路モデル生成方法の動作を説明するフローチャート、第
3図はこの発明の回路モデル生成方法で格納あるいは生
成するデータの一例を示した図、第4図は従来の回路モ
デル生成方法の動作を説明するフローチャートである。 図において、1は回路モデル生成用データ記憶手段、2
はパラメータ値記憶手段、3は回路モデル生成手段、3a
は解析手段、3bは必要パラメータ値抽出手段、3cは編集
処理手段、4は回路モデル記憶手段である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a hardware configuration diagram for realizing a circuit model generating method according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation of the circuit model generating method of the present invention, and FIG. 3 is a circuit model of the present invention. FIG. 4 shows an example of data stored or generated by the generation method, and FIG. 4 is a flowchart for explaining the operation of the conventional circuit model generation method. In the figure, reference numeral 1 denotes a circuit model generation data storage unit;
Is a parameter value storage means, 3 is a circuit model generation means, 3a
Is an analyzing means, 3b is a necessary parameter value extracting means, 3c is an editing processing means, and 4 is a circuit model storing means. In the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】半導体集積回路の一部として使用するセル
の特徴を示すパラメータ値を読み込み、該パラメータ値
として読み込まれた特徴を持つセルのレイアウトデー
タ、及び前記半導体集積回路の検証、テスト生成を行う
CADツールを実行するためのデータである回路モデルを
生成する回路モデル生成方法において、前記回路モデル
のうち読み込むパラメータに依存する部分をこの回路モ
デルの表現形式に依存しない記号により前記回路モデル
中の未定要素部分として識別可能な表現形式で記述した
接続情報データ及び機能表現データからなる回路モデル
生成用データを用意し、前記回路モデル生成用データで
ある接続情報データ、あるいは機能表現データにおける
未定要素部分と非未定要素部分との切り分けを外部から
の指示に従って行い、前記切り分けられた未定要素部分
を前記読み込まれたパラメータ値により編集すること
で、該パラメータ値に応じた回路モデルを生成すること
を特徴とする回路モデル生成方法。
A parameter value indicating characteristics of a cell used as a part of a semiconductor integrated circuit is read, and layout data of a cell having the characteristic read as the parameter value, and verification and test generation of the semiconductor integrated circuit are performed. Do
In a circuit model generation method for generating a circuit model that is data for executing a CAD tool, a portion of the circuit model that depends on a parameter to be read is determined by a symbol that does not depend on an expression form of the circuit model. Prepare circuit model generation data consisting of connection information data and function expression data described in an expression format that can be identified as an element part, and connect the connection information data that is the circuit model generation data or the undetermined element part in the function expression data. Performing the separation from the undetermined element portion according to an external instruction, and editing the separated undetermined element portion with the read parameter value, thereby generating a circuit model corresponding to the parameter value. Circuit model generation method.
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