JP2580973B2 - Mold for semiconductor encapsulation and resin encapsulation method - Google Patents

Mold for semiconductor encapsulation and resin encapsulation method

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JP2580973B2
JP2580973B2 JP5230784A JP23078493A JP2580973B2 JP 2580973 B2 JP2580973 B2 JP 2580973B2 JP 5230784 A JP5230784 A JP 5230784A JP 23078493 A JP23078493 A JP 23078493A JP 2580973 B2 JP2580973 B2 JP 2580973B2
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    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は樹脂封止型半導体装置を
樹脂封止するための金型と、この金型を用いて半導体装
置を樹脂封止するための方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mold for resin-sealing a resin-sealed semiconductor device and a method for resin-sealing a semiconductor device using the mold.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に樹脂封止型の半導体装置は、半導
体素子を金型のキャビティ内に保持した上で、このキャ
ビティ内に樹脂を充填して成形を行うことで半導体素子
を樹脂封止している。例えば、図5はこの樹脂封止を行
うための従来の成形金型の一部の断面図である。図示の
ように、互いに対向する上金型1と下金型2から構成さ
れており、上金型1と下金型2の間にキャビティ3が設
けられている。そして、被封入物である半導体素子10
と、これを搭載したTABテープ11を上金型1と下金
型2間に挟み込んでキャビティ3内に位置させる。その
後、図示していないが金型に別に設けられたポット部か
ら封止樹脂Rが射出され、その封止樹脂Rはゲート5を
通ってキャビティ3に充填されることになる。しかる上
で、所定の封止樹脂の硬化時間を経過した後、上金型1
と下金型2の間を開き、樹脂封止の完了した半導体素子
10とTABテープ11を含む半導体装置を取り出すこ
とで樹脂封止工程が完了する。
2. Description of the Related Art In general, in a resin-sealed semiconductor device, a semiconductor element is held in a cavity of a mold, and the cavity is filled with a resin to perform molding. ing. For example, FIG. 5 is a sectional view of a part of a conventional molding die for performing this resin sealing. As shown, the upper mold 1 and the lower mold 2 are opposed to each other, and a cavity 3 is provided between the upper mold 1 and the lower mold 2. Then, the semiconductor element 10 to be encapsulated is
Then, the TAB tape 11 on which this is mounted is sandwiched between the upper mold 1 and the lower mold 2 and positioned in the cavity 3. Thereafter, although not shown, the sealing resin R is injected from a pot portion separately provided in the mold, and the sealing resin R is filled into the cavity 3 through the gate 5. Then, after a predetermined sealing resin curing time has elapsed, the upper mold 1
The resin sealing step is completed by opening the space between the mold and the lower mold 2 and taking out the semiconductor device including the semiconductor element 10 and the TAB tape 11 whose resin sealing has been completed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】この従来の成形金型で
は、図6に示すように、キャビティ3内へ封止樹脂Rが
充填される際に、その粘性によりキャビティ3内に保持
されている半導体素子10とTABテープ11を引きず
り、または押し動かすために、これらがキャビティ3内
の本来の位置からずれた位置へ移動してしまうことがあ
った。この変形が元に戻らない状態で樹脂の充填が完了
し、かつ樹脂が硬化されると、半導体素子10とTAB
テープ11が正しい位置に封止されなくなり、成形不良
が発生される。実際には、半導体素子10やTABテー
プ11にこのような変形や位置ずれが生じると、両者間
での断線が発生する等して半導体装置の信頼性が極端に
低下されることが判明している。
In this conventional molding die, as shown in FIG. 6, when the cavity 3 is filled with the sealing resin R, it is held in the cavity 3 due to its viscosity. In some cases, the semiconductor element 10 and the TAB tape 11 are moved to a position deviated from an original position in the cavity 3 in order to drag or push the TAB tape 11. When the filling of the resin is completed in a state where the deformation does not return to its original state and the resin is cured, the semiconductor element 10 and the TAB
The tape 11 is not sealed in a correct position, and molding failure occurs. In fact, it has been found that when such deformation or misalignment occurs in the semiconductor element 10 or the TAB tape 11, the reliability of the semiconductor device is extremely reduced due to disconnection between the two. I have.

【0004】このようなことから、従来では図7の断面
図に示すように、上金型1と下金型2の両方からキャビ
ティ3内に進退可能な支持棒14を設け、キャビティ3
内に保持される半導体素子10とTABテープ11をこ
れら支持棒14により上下から挟んで定位置に保持し、
その上で樹脂を充填する構成がとられている。例えば、
特開平1−169936号公報に開示されている。しか
しながら、このように上下の各金型1,2のそれぞれに
進退可能な支持棒14を設けることは、金型の構造を複
雑なものにしてしまうことになる。特に、金型は一方を
固定型、他方の可動型として構成することが多いが、可
動型にもこの種の支持棒を設けることは、支持棒を進退
移動させるための駆動機構も必要とされるために、その
構造が極めて複雑なものになる。
For this reason, as shown in the sectional view of FIG. 7, conventionally, a support rod 14 which can be advanced and retracted into the cavity 3 from both the upper mold 1 and the lower mold 2 is provided.
The semiconductor element 10 and the TAB tape 11 held therein are held in place by sandwiching the TAB tape 11 from above and below with the support rods 14,
Then, a configuration in which a resin is filled thereon is adopted. For example,
It is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-169936. However, providing the support rods 14 that can move forward and backward in each of the upper and lower molds 1 and 2 complicates the structure of the molds. In particular, one mold is often configured as a fixed mold and the other as a movable mold, but providing a movable rod with this type of support rod also requires a drive mechanism for moving the support rod forward and backward. Therefore, the structure becomes extremely complicated.

【0005】また、この金型では、キャビティ3内に充
填される樹脂が少なくとも半導体素子10とTABテー
プ11を包囲するまでは支持棒14をキャビティ3内に
進出させておき、ある程度の充填が完了した後に支持棒
14を退避させているが、この際に支持棒14によって
キャビティ3内における封止樹脂Rの流動に乱れが発生
し易く、ボイドが発生し易くなる。これらの問題は近年
半導体装置の薄型化に伴って顕著となり、その対策が望
まれている。本発明の目的は、樹脂封止する半導体素子
等の位置ずれ等を防止するとともに、封止樹脂における
ボイドの発生を防止した半導体封止用成形金型を提供す
ることにある。また、本発明の他の目的は、半導体素子
等の位置ずれ等を防止し、かつボイドを発生することな
く樹脂封止を可能にした樹脂封止方法を提供することに
ある。
Further, in this mold, the support rod 14 is advanced into the cavity 3 until the resin filling the cavity 3 at least surrounds the semiconductor element 10 and the TAB tape 11, and a certain amount of filling is completed. After this, the support rod 14 is retracted. At this time, the flow of the sealing resin R in the cavity 3 is easily disturbed by the support rod 14, and a void is easily generated. These problems have recently become remarkable as semiconductor devices have become thinner, and countermeasures have been desired. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a molding die for semiconductor encapsulation that prevents displacement of a semiconductor element or the like to be encapsulated with a resin and prevents generation of voids in an encapsulating resin. Another object of the present invention is to provide a resin sealing method capable of preventing a displacement or the like of a semiconductor element or the like and enabling resin sealing without generating a void.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の成形金型は、半
導体素子等を樹脂封止成形するためのキャビティを構成
する一対の金型のいずれか一方に、キャビティ内に対し
て進退でき、かつ進出されたときに半導体素子等をキャ
ビティ内の所定位置に支持させる支持棒と、この一方の
金型のゲートを開閉させるゲートシャッタを設けてい
る。また、これらのゲートシャッタと支持棒をそれぞれ
独立に駆動させる駆動機構を有しており、ゲートシャッ
タを開く直前に支持棒を退避させるように構成する。更
に、半導体素子等に当接される支持棒の先端にクッショ
ンを設けることが好ましい。また、本発明の半導体の樹
脂封止方法は、一対の金型で構成されるキャビティ内に
半導体素子等を配置する工程と、一方の金型に設けた支
持棒の先端を半導体素子等に当接させてこの半導体素子
等を支持する工程と、他方の金型のゲートから該金型の
キャビティ内に樹脂を充填する工程と、支持棒をキャビ
ティから退避させるとともに、一方の金型のゲートシャ
ッタを開き、このゲートから該金型のキャビティ内に樹
脂を充填する工程とを備えている。例えば、半導体素子
及びこれを搭載したTABテープを樹脂封止する場合に
は、このTABテープの半導体素子の搭載面が他方の金
型に向けられるように一対の金型で構成されるキャビテ
ィ内に配置することが好ましい。
According to the present invention, a molding die can be moved into or out of a cavity in one of a pair of dies forming a cavity for resin-sealing and molding a semiconductor element or the like. In addition, a support rod for supporting a semiconductor element or the like at a predetermined position in the cavity when it is advanced, and a gate shutter for opening and closing the gate of one of the molds are provided. In addition, a drive mechanism for independently driving the gate shutter and the support rod is provided, and the support rod is retracted immediately before the gate shutter is opened. Further, it is preferable to provide a cushion at the tip of the support rod which comes into contact with the semiconductor element or the like. In addition, according to the semiconductor resin sealing method of the present invention, a step of arranging a semiconductor element or the like in a cavity formed by a pair of molds and a step of applying a tip of a support rod provided in one of the molds to the semiconductor element or the like. A step of contacting and supporting the semiconductor element and the like; a step of filling the cavity of the mold with a resin from the gate of the other mold; a step of retracting the support rod from the cavity and a gate shutter of one mold. And filling the resin from the gate into the cavity of the mold. For example, when a semiconductor element and a TAB tape on which the semiconductor element is mounted are sealed with a resin, the semiconductor element mounting surface of the TAB tape is placed in a cavity formed by a pair of molds so as to face the other mold. It is preferable to arrange them.

【0007】[0007]

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の実施例1の成形金型の断面図であ
る。上金型1と下金型2とを相対移動可能に設け、両金
型1,2で樹脂成形する半導体装置のパッケージ形状に
等しい形状のキャビティ3を形成する。この実施例では
下金型2を固定金型として構成し、上金型1をこの下金
型2に対して上下移動できるように構成する。また、各
金型1,2にはそれぞれキャビティ3につながるゲート
4,5が開設されるが、一方の金型、この実施例では下
金型2には、自身のゲート5を開閉動作させるゲートシ
ャッタ6が設けられる。また、この下金型2の底面から
キャビティ3内に対して進退可能な複数本の支持棒7が
設けられる。なお、前記ゲートシャッタ6とこれら複数
本の支持棒7はそれぞれカム機構やリンク機構等により
構成される駆動機構8,9によって上下方向に進退動作
される。これらの駆動機構8,9は後述するように樹脂
成形の動作タイミングに同期して動作されるように構成
される。
Next, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view of a molding die according to Example 1 of the present invention. The upper mold 1 and the lower mold 2 are provided so as to be relatively movable, and the cavity 3 having the same shape as the package shape of the semiconductor device to be resin-molded by the two molds 1 and 2 is formed. In this embodiment, the lower die 2 is configured as a fixed die, and the upper die 1 is configured to be able to move up and down with respect to the lower die 2. Gates 4 and 5 connected to the cavity 3 are opened in each of the molds 1 and 2, respectively. In one of the molds, in this embodiment, the lower mold 2 has a gate for opening and closing its own gate 5. A shutter 6 is provided. Further, a plurality of support rods 7 are provided which can be advanced and retracted into the cavity 3 from the bottom surface of the lower mold 2. The gate shutter 6 and the plurality of support rods 7 are moved up and down by driving mechanisms 8 and 9 including a cam mechanism and a link mechanism, respectively. These drive mechanisms 8 and 9 are configured to operate in synchronization with the operation timing of resin molding, as described later.

【0008】この成形金型を用いて半導体樹脂封止を行
う動作を図2に基づいて説明する。図2(a)のよう
に、上金型1が上動位置にあるときに下金型2上に樹脂
封止する半導体素子10を搭載したTABテープ11を
載置する。半導体素子10は表面を上側に向け、その複
数箇所に設けたバンプ12をTABテープ11の下面に
形成した回路パターン(図示せず)にボンディングした
構成がとられている。そして、上金型1を下動させるこ
とで、両金型1,2間にTABテープ11を挟持させ、
半導体素子10及びTABテープ11をキャビティ3内
の所定位置に保持させる。このとき、下金型2から複数
本の支持棒7が上方に進出されており、各支持棒7の先
端が半導体素子10やTABテープ11の下面に当接さ
れる。また、このとき、下金型2のゲートシャッタ6は
閉塞される。
The operation of sealing the semiconductor resin using the molding die will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 2A, a TAB tape 11 on which a semiconductor element 10 to be resin-sealed is mounted on the lower mold 2 when the upper mold 1 is at the upper movement position. The semiconductor element 10 has a structure in which bumps 12 provided at a plurality of positions are bonded to a circuit pattern (not shown) formed on the lower surface of the TAB tape 11 with the front surface facing upward. Then, by moving the upper mold 1 downward, the TAB tape 11 is held between the two molds 1 and 2,
The semiconductor element 10 and the TAB tape 11 are held at predetermined positions in the cavity 3. At this time, the plurality of support rods 7 have been advanced upward from the lower mold 2, and the tips of the support rods 7 are in contact with the lower surfaces of the semiconductor element 10 and the TAB tape 11. At this time, the gate shutter 6 of the lower mold 2 is closed.

【0009】次いで、図2(b)のように、開いている
上金型1のゲート4から封止樹脂R1を充填させる。封
止樹脂R1はその粘性によりTABテープ11及び半導
体素子10の上面に沿って流動され、キャビティ3の上
半部3a内に充填される。しかる後、図2(c)のよう
に、図1に示した駆動機構8を動作させて下金型2のゲ
ートシャッタ6を開き、下金型2のゲート5からも封止
樹脂R2をキャビティ3内に充填させる。また、これと
同時に駆動機構9により各支持棒7をキャビティ3内か
ら退避させる。これにより、図2(d)のように、封止
樹脂R2はキャビティ3の下半部3b内にスムーズに流
動されながら充填される。封止樹脂R2をキャビティ3
内に充填した後、所定の時間が経過して樹脂R1,R2
が硬化した後、上金型1を上方に移動させ、成形された
樹脂封止半導体装置を下金型2から取り出すことで、半
導体装置の樹脂封止が完成される。
Next, as shown in FIG. 2B, the sealing resin R1 is filled from the gate 4 of the open upper mold 1. Due to its viscosity, the sealing resin R1 flows along the upper surfaces of the TAB tape 11 and the semiconductor element 10, and fills the upper half 3a of the cavity 3. Thereafter, as shown in FIG. 2C, the drive mechanism 8 shown in FIG. 1 is operated to open the gate shutter 6 of the lower mold 2, and the sealing resin R2 is also removed from the gate 5 of the lower mold 2. 3 is filled. At the same time, the support rods 7 are retracted from the inside of the cavity 3 by the drive mechanism 9. Thereby, as shown in FIG. 2D, the sealing resin R2 fills the lower half 3b of the cavity 3 while flowing smoothly. Cavity 3 with sealing resin R2
After a predetermined time elapses after filling the inside of the resin R1, R2
After the resin is cured, the upper mold 1 is moved upward, and the molded resin-encapsulated semiconductor device is removed from the lower mold 2 to complete the resin encapsulation of the semiconductor device.

【0010】したがって、この実施例1においては、樹
脂封止する半導体素子10とTABテープ11の下側を
支持棒7により保持した状態で、キャビティ3の上半部
3aに樹脂R1を充填するので、この樹脂R1の粘性に
よっても半導体素子10の位置が移動されたり、TAB
テープ11が曲げられる等の不具合が生じることはな
い。そして、キャビティ3の上半部3aに樹脂R1が充
填された後に、下半部3bに樹脂R2を充填するが、こ
のとき支持棒7をキャビティ3から退避させても、半導
体素子10とTABテープ11は、既にキャビティ3の
上半部3aに充填されている樹脂R1によってその位置
ずれや曲げが防止されることになる。また、キャビティ
3の上半部3aに樹脂R1を充填するときはもとよりの
こと、キャビティ3の下半部3bに樹脂R2を充填する
ときには、その前に複数本の支持棒7は下金型2に退避
されているため、封止樹脂の流動に乱れが生じることは
なく、ボイドが発生することはない。
Therefore, in the first embodiment, the resin R1 is filled in the upper half 3a of the cavity 3 with the semiconductor element 10 to be resin-sealed and the lower side of the TAB tape 11 held by the support rod 7. Depending on the viscosity of the resin R1, the position of the semiconductor element 10 may be shifted,
Problems such as bending of the tape 11 do not occur. After the upper half 3a of the cavity 3 is filled with the resin R1, the lower half 3b is filled with the resin R2. At this time, even if the support rod 7 is retracted from the cavity 3, the semiconductor element 10 and the TAB tape are not filled. 11 is prevented from being displaced or bent by the resin R1 already filled in the upper half 3a of the cavity 3. In addition, when the upper half 3a of the cavity 3 is filled with the resin R1, when the lower half 3b of the cavity 3 is filled with the resin R2, a plurality of the support rods 7 are connected to the lower mold 2 before the resin R2. As a result, the flow of the sealing resin is not disturbed, and no void is generated.

【0011】図3は本発明の実施例2の成形金型の断面
図である。この実施例では半導体素子10とTABテー
プ11を保持するためにキャビティ3内に進退可能な複
数本の支持棒7を上金型1に設けており、かつこれら支
持棒7の先端には半導体素子10やTABテープ11の
表面を保護するために緩衝用のクッション13を設けて
ある。クッション13の材質は耐熱製があるものでシリ
コンゴム等が使用できる。また、これに対応して、ここ
では上金型1のゲート4にゲートシャッタ6を設けて開
閉可能な構成としている。なお、ゲートシャッタ6や支
持棒7の駆動機構は図示を省略している。
FIG. 3 is a sectional view of a molding die according to a second embodiment of the present invention. In this embodiment, a plurality of support rods 7 which can advance and retreat in the cavity 3 for holding the semiconductor element 10 and the TAB tape 11 are provided in the upper mold 1, and the tip of the support rod 7 is provided with a semiconductor element. In order to protect the surface of the TAB tape 10 and the TAB tape 11, a cushion 13 for cushioning is provided. The cushion 13 is made of a material having heat resistance, such as silicone rubber. In response to this, a gate shutter 6 is provided at the gate 4 of the upper mold 1 so that the gate can be opened and closed. The drive mechanism of the gate shutter 6 and the support rod 7 is not shown.

【0012】この実施例においては、図4に示すよう
に、先にキャビティ3の下半部3bに樹脂R1を充填す
る。次いで、下半部3bに樹脂R1が充填された後に、
上金型1のゲートシャッタ6を開き、キャビティ3の上
半部3aに樹脂R2を充填して樹脂成形を完了させる。
このとき、支持棒7を退避させることは実施例1と同じ
である。したがって、キャビティ3の下半部3bに樹脂
R1を充填する際には支持棒7により半導体素子10の
位置ずれやTABテープ11の曲げ等を防止し、しかる
上で今度は下半部3bに充填されている樹脂R1で位置
ずれや曲げ等を防止しながら上半部3aに樹脂R2の充
填を行うことができる。また、上半部3aへの樹脂R2
の充填に際しては、その直前に支持棒7を退避させるた
め、ボイドが発生しないことも同じである。
In this embodiment, as shown in FIG. 4, the lower half 3b of the cavity 3 is first filled with the resin R1. Next, after the lower half 3b is filled with the resin R1,
The gate shutter 6 of the upper mold 1 is opened, and the upper half 3a of the cavity 3 is filled with the resin R2 to complete the resin molding.
At this time, retracting the support bar 7 is the same as in the first embodiment. Therefore, when filling the lower half 3b of the cavity 3 with the resin R1, the displacement of the semiconductor element 10 and the bending of the TAB tape 11 are prevented by the support rod 7, and then the lower half 3b is filled. The upper half 3a can be filled with the resin R2 while preventing the resin R1 from being displaced or bent. Also, the resin R2 is applied to the upper half 3a.
At the time of filling, the support rod 7 is retracted immediately before the filling, so that no void is generated.

【0013】なお、この実施例2は支持棒7を上金型1
に設けているため、上金型1を固定型とし、下金型2を
可動型とする場合に好ましい。また、図示のようにTA
Bテープ11の下面に半導体素子10が搭載されている
ような場合は、下半部3bへの樹脂R1の充填に際して
は半導体素子10の角部によって位置ずれや曲げ等が生
じ易いものとなるため、この際に支持棒7により支持を
行ないながら下半部3bに樹脂R1を充填するこの実施
例2の構成が好ましいものとなる。また、支持棒7の先
端にクッション13を設けているため、半導体素子10
やTABテープ11に接触される際の衝撃を緩和でき、
半導体素子10やTABテープ11の破損を防止するこ
とも可能である。
In the second embodiment, the support bar 7 is connected to the upper mold 1.
Is preferable when the upper mold 1 is a fixed mold and the lower mold 2 is a movable mold. Also, as shown in FIG.
In the case where the semiconductor element 10 is mounted on the lower surface of the B tape 11, when the lower half 3b is filled with the resin R1, misalignment, bending, and the like are likely to occur due to the corners of the semiconductor element 10. In this case, the configuration of the second embodiment in which the lower half 3b is filled with the resin R1 while being supported by the support rod 7 is preferable. Further, since the cushion 13 is provided at the tip of the support rod 7, the semiconductor element 10
And the impact when contacting the TAB tape 11 can be reduced,
It is also possible to prevent the semiconductor element 10 and the TAB tape 11 from being damaged.

【0014】ここで、前記実施例1及び実施例2のいず
れにおいても、実際には最後に充填する樹脂R2の圧力
や粘性によって半導体素子10やTABテープ11に微
小な位置ずれや曲げが発生することは避けられないが、
実施例2では最後に上半部3aに樹脂R2が充填される
ため、半導体素子10の位置ずれやTABテープ11の
曲げは主に設計値より下方向となる。このため、TAB
テープ11の下面に搭載した半導体素子10の肩部とT
ABリード11の回路パターンとが直接に接触されてし
まうエッジタッチ発生率を低減することが可能となり、
半導体装置の信頼性が向上できる。
Here, in both the first embodiment and the second embodiment, a slight displacement or bending occurs in the semiconductor element 10 or the TAB tape 11 due to the pressure or viscosity of the resin R2 to be filled last. Although inevitable,
In the second embodiment, the upper half 3a is finally filled with the resin R2, so that the displacement of the semiconductor element 10 and the bending of the TAB tape 11 are mainly lower than the design values. For this reason, TAB
The shoulder of the semiconductor element 10 mounted on the lower surface of the tape 11 and T
It is possible to reduce an edge touch occurrence rate at which the circuit pattern of the AB lead 11 is directly contacted,
The reliability of the semiconductor device can be improved.

【0015】表1は従来例と実施例を比較評価した結果
である。n= 100個の平均値で半導体素子の変形(傾
き,上下位置ずれ)を示し、n= 100個の外部ボイド発
生率及び半導体素子とTABテープ上リードのエッジタ
ッチ発生率を示す。
Table 1 shows the results of comparative evaluation of the conventional example and the embodiment. The average (n = 100) indicates the deformation (tilt, vertical displacement) of the semiconductor element, and the external void generation rate and the edge touch generation rate of the semiconductor element and the lead on the TAB tape for n = 100.

【表1】 [Table 1]

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、半導体素
子等を樹脂封止するためのキャビティを構成する一対の
金型のいずれか一方に、半導体素子等をキャビティ内の
所定位置に支持させる支持棒と、この一方の金型のゲー
トを開閉させるゲートシャッタを設けているので、キャ
ビティ内に樹脂を充填する際には支持棒で半導体素子等
を支持させることができ、半導体素子等の位置ずれや曲
がり等を防止し、樹脂封止の信頼性を高めることが可能
となる。また、ゲートシャッタと支持棒をそれぞれ駆動
機構により独立して動作させることができるので、ゲー
トシャッタを開く直前に支持棒を退避させることで、キ
ャビティに充填される樹脂の流動を乱すことがなく、ボ
イドの発生を防止することができる。更に、支持棒の先
端にクッションを設けることで、支持棒が半導体素子等
に当接される際の衝撃を緩和して半導体素子等の変形や
破損を防止する。
As described above, according to the present invention, a semiconductor element or the like is supported at a predetermined position in the cavity by one of a pair of molds forming a cavity for sealing a semiconductor element or the like with a resin. Since the support rod and the gate shutter for opening and closing the gate of one of the molds are provided, the semiconductor element and the like can be supported by the support rod when the resin is filled in the cavity, and the position of the semiconductor element and the like can be set. It is possible to prevent displacement, bending, and the like, and increase the reliability of resin sealing. Further, since the gate shutter and the support rod can be operated independently by the drive mechanism, the support rod is retracted immediately before the gate shutter is opened, so that the flow of the resin filled in the cavity is not disturbed. The generation of voids can be prevented. Further, by providing a cushion at the tip of the support rod, an impact when the support rod is brought into contact with the semiconductor element or the like is reduced, thereby preventing the semiconductor element or the like from being deformed or damaged.

【0017】また、一方の金型に設けた支持棒により半
導体素子等を支持しながら、他方の金型のキャビティ内
に樹脂を充填し、その後に支持棒をキャビティから退避
させた上で一方の金型のキャビティ内に樹脂を充填して
いるので、先の樹脂充填時には支持棒により半導体素子
等の位置ずれや曲げを防止し、後の樹脂充填時には先に
充填された樹脂により半導体素子等の位置ずれや曲げを
抑制することができ、かつ支持棒を退避させることでボ
イドの発生を防止することが可能となる。更に、半導体
素子及びこれを搭載したTABテープを、このTABテ
ープの半導体素子の搭載面が他方の金型に向くようにキ
ャビティ内に配置することで、後の樹脂充填によって半
導体素子をTABテープから離れる方向に付勢でき、T
ABテープと半導体素子のエッジタッチの発生を防止す
ることができる。
Further, while supporting a semiconductor element or the like by a support rod provided in one mold, a resin is filled in a cavity of the other mold, and then the support rod is retracted from the cavity, and then one of the molds is retreated. Since the resin is filled in the cavity of the mold, the misalignment and bending of the semiconductor element and the like are prevented by the support rod at the time of the previous resin filling, and the semiconductor element and the like are prevented by the previously filled resin at the time of the later resin filling. Displacement and bending can be suppressed, and voids can be prevented by retracting the support rod. Furthermore, by arranging the semiconductor element and the TAB tape on which the semiconductor element is mounted in the cavity so that the mounting surface of the semiconductor element of the TAB tape faces the other mold, the semiconductor element is removed from the TAB tape by resin filling later. Can be urged away, T
Edge touch between the AB tape and the semiconductor element can be prevented from occurring.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1の成形金型の断面図である。FIG. 1 is a sectional view of a molding die according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の成形金型による半導体装置の樹脂封止方
法を工程順に説明するための図である。
FIG. 2 is a view for explaining a method of resin sealing a semiconductor device using a molding die of FIG. 1 in the order of steps.

【図3】本発明の実施例2の成形金型の断面図である。FIG. 3 is a sectional view of a molding die according to a second embodiment of the present invention.

【図4】図3の成形金型による樹脂封止方法の工程一部
の断面図である。
4 is a sectional view of a part of a process of a resin sealing method using a molding die in FIG. 3;

【図5】従来における樹脂封止の成形金型の断面図であ
る。
FIG. 5 is a sectional view of a conventional resin-sealed molding die.

【図6】従来の成形金型における問題点を説明するため
の断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view for explaining a problem in a conventional molding die.

【図7】従来の改良された成形金型の断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view of a conventional improved molding die.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 上金型 2 下金型 3 キャビティ 4,5 ゲート 6 ゲートシャッタ 7 支持棒 8,9 駆動機構 10 半導体素子 11 TABテープ 13 クッション DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Upper mold 2 Lower mold 3 Cavity 4,5 Gate 6 Gate shutter 7 Support rod 8,9 Drive mechanism 10 Semiconductor element 11 TAB tape 13 Cushion

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // B29L 31:34 Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Agency reference number FI Technical indication // B29L 31:34

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 一対の金型でキャビティを構成し、これ
ら金型間に半導体素子等を挟持させ、各金型に設けたゲ
ートを通してキャビティ内に樹脂を充填して前記半導体
素子等を樹脂封止する半導体封止用成形金型において、
前記一対の金型のいずれか一方に、前記キャビティ内に
対して進退でき、かつ進出されたときに前記半導体素子
等をキャビティ内の所定位置に支持させる支持棒と、こ
の一方の金型のゲートを開閉させるゲートシャッタを設
けたことを特徴とする半導体封止用成形金型。
1. A cavity is constituted by a pair of molds, a semiconductor element or the like is sandwiched between these molds, and a resin is filled in the cavity through a gate provided in each mold to seal the semiconductor element or the like with a resin. In the mold for semiconductor encapsulation to stop,
A support rod that can move into or out of the cavity in one of the pair of molds, and that supports the semiconductor element or the like at a predetermined position in the cavity when the mold advances, and a gate of one of the molds A molding die for encapsulating a semiconductor, provided with a gate shutter for opening and closing the semiconductor device.
【請求項2】 ゲートシャッタと支持棒をそれぞれ独立
に駆動させる駆動機構を有し、ゲートシャッタを開く直
前に支持棒を退避させるように構成してなる請求項1の
半導体封止用成形金型。
2. The molding die for semiconductor sealing according to claim 1, further comprising a drive mechanism for independently driving the gate shutter and the support rod, and retracting the support rod immediately before opening the gate shutter. .
【請求項3】 半導体素子等に当接される支持棒の先端
にクッションを設けてなる請求項1又は2の半導体封止
用成形金型。
3. The molding die for semiconductor encapsulation according to claim 1, wherein a cushion is provided at a tip of a support rod abutting on a semiconductor element or the like.
【請求項4】 一対の金型で構成されるキャビティ内に
半導体素子等を配置する工程と、一方の金型に設けた支
持棒の先端を前記半導体素子等に当接させてこの半導体
素子等を支持する工程と、他方の金型のゲートから該金
型のキャビティ内に樹脂を充填する工程と、前記支持棒
を前記キャビティから退避させるとともに、前記一方の
金型のゲートシャッタを開き、このゲートから該金型の
キャビティ内に樹脂を充填する工程とを備えることを特
徴とする半導体の樹脂封止方法。
4. A step of arranging a semiconductor element or the like in a cavity formed by a pair of molds, and the step of bringing a tip of a support rod provided in one of the molds into contact with the semiconductor element or the like. Supporting the resin, filling the cavity of the mold with resin from the gate of the other mold, retracting the support rod from the cavity, and opening the gate shutter of the one mold, Filling the cavity of the mold with a resin from a gate.
【請求項5】 半導体素子及びこれを搭載したTABテ
ープを、このTABテープの半導体素子の搭載面が前記
他方の金型に向くように前記一対の金型で構成されるキ
ャビティ内に配置する請求項4の半導体の樹脂封止方
法。
5. A semiconductor device and a TAB tape on which the semiconductor device is mounted are arranged in a cavity formed by the pair of molds such that a mounting surface of the TAB tape on which the semiconductor device is mounted faces the other mold. Item 5. A resin sealing method for a semiconductor according to Item 4.
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