JP2574894B2 - マグネトロン用電源の運転方法 - Google Patents
マグネトロン用電源の運転方法Info
- Publication number
- JP2574894B2 JP2574894B2 JP1078268A JP7826889A JP2574894B2 JP 2574894 B2 JP2574894 B2 JP 2574894B2 JP 1078268 A JP1078268 A JP 1078268A JP 7826889 A JP7826889 A JP 7826889A JP 2574894 B2 JP2574894 B2 JP 2574894B2
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- filament
- power supply
- magnetron
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- Control Of High-Frequency Heating Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、マグネトロン用電源に関するものである。
従来、マグネトロン用電源としては、フィラメント用
電源およびアノード用高電圧電源に過電圧検出手段や過
電流検出手段が設けられたものが知られている。
電源およびアノード用高電圧電源に過電圧検出手段や過
電流検出手段が設けられたものが知られている。
なお、この種の電源として関連するものには、例え
ば、エヴィックス（株）発行の「マイクロ波発生装置」
カタログ等が挙げられる。
ば、エヴィックス（株）発行の「マイクロ波発生装置」
カタログ等が挙げられる。
〔発明が解決しようとする課題〕 マグネトロンのフィラメントに正常に電力が供給され
ない状態においては、マグネトロンのアノード・カソー
ド間のインピーダンスは非常に大きくなる。一般に、ア
ノード用高電圧電源は定電流制御されており、前記フィ
ラメント電力供給異常状態でアノード用電源をオンする
とマグネトロンのアノード・カソード間に異常な高電圧
を印加する。上記従来技術ではマグネトロンのアノード
・カソード間に異常な高電圧が印加されるまでマグネト
ロンの異常を検出することができない問題があった。
ない状態においては、マグネトロンのアノード・カソー
ド間のインピーダンスは非常に大きくなる。一般に、ア
ノード用高電圧電源は定電流制御されており、前記フィ
ラメント電力供給異常状態でアノード用電源をオンする
とマグネトロンのアノード・カソード間に異常な高電圧
を印加する。上記従来技術ではマグネトロンのアノード
・カソード間に異常な高電圧が印加されるまでマグネト
ロンの異常を検出することができない問題があった。
本発明の目的は、マグネトロンに高電圧が供給される
前に、異常な過電流，過電圧がマグネトロンに供給され
るのを防止し、マグネトロン用電源の保護およびマグネ
トロンの寿命を延長させることのできるマグネトロン用
電源の運転方法を提供することにある。
前に、異常な過電流，過電圧がマグネトロンに供給され
るのを防止し、マグネトロン用電源の保護およびマグネ
トロンの寿命を延長させることのできるマグネトロン用
電源の運転方法を提供することにある。
上記目的は、フィラメント用電源とアノード・カソー
ド間に高電圧を印加する高電圧電源とを有するマグネト
ロン電源の運転方法において、フィラメント用電源によ
る前記マグネロトンのフィラメントのプリヒーティング
を行い、該プリヒーティング時に、プリヒーティング回
路の電圧値と電流値とによってフィラメントの抵抗値を
求め、抵抗値の大きさによりフィラメントの異常を検知
し、フィラメントの異常を検知したときにマグネトロン
への高電圧供給前に該高電圧の供給を停止することによ
り、達成される。
ド間に高電圧を印加する高電圧電源とを有するマグネト
ロン電源の運転方法において、フィラメント用電源によ
る前記マグネロトンのフィラメントのプリヒーティング
を行い、該プリヒーティング時に、プリヒーティング回
路の電圧値と電流値とによってフィラメントの抵抗値を
求め、抵抗値の大きさによりフィラメントの異常を検知
し、フィラメントの異常を検知したときにマグネトロン
への高電圧供給前に該高電圧の供給を停止することによ
り、達成される。
フィラメント用電源によるマグネトロンのフィラメン
トのプリヒーティング時に、プリヒーティング回路の電
圧と電流からフィラメントの抵抗値を求め、フィラメン
トの異常を検知することによって、マグネトロンに高電
圧が供給される前に、異常な過電流，過電圧がマグネト
ロンに供給されるのを未然に防止できるので、マグネト
ロン用電源の保護およびマグネトロンの寿命を延長させ
ることができる。
トのプリヒーティング時に、プリヒーティング回路の電
圧と電流からフィラメントの抵抗値を求め、フィラメン
トの異常を検知することによって、マグネトロンに高電
圧が供給される前に、異常な過電流，過電圧がマグネト
ロンに供給されるのを未然に防止できるので、マグネト
ロン用電源の保護およびマグネトロンの寿命を延長させ
ることができる。
以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。
第１図は、カソード11のＫ端子アノード12とフィラメ
ント13が接続されたFA端子、フィラメント13の他方の端
子Ｆ端子を有するマグネトロン１と、アノード用高電圧
電源10と、フィラメント用直流電源20と、フィラメント
抵抗検出回路100から成るマグネトロン用電源２であ
る。
ント13が接続されたFA端子、フィラメント13の他方の端
子Ｆ端子を有するマグネトロン１と、アノード用高電圧
電源10と、フィラメント用直流電源20と、フィラメント
抵抗検出回路100から成るマグネトロン用電源２であ
る。
フィラメント抵抗値検出回路100は、フィラメント抵
抗値測定用電圧電源110と、フィラメント電源20オン時
にフィラメント両端電圧上昇によりフィラメント抵抗値
測定回路へ電流が逆流することを防止する逆流防止ダイ
オード101と、抵抗値ｒ「Ω」のフィラメント電流測定
抵抗Ｒと、Ｒの両端電圧があらかじめ定められた上限と
下限の電圧の範囲内にあるかどうかを検出し、Ｒの両端
電圧が前記上限と下限の範囲外にあるときにフィラメン
ト抵抗値異常信号を出力するウインドウコンパレータIC
1と、前記フィラメント抵抗値異常信号がある一定時間
異常継続するとフィラメント抵抗正常検出リレーR2をオ
フするディレーIC2と、フィラメント抵抗値が正常時リ
レーR2のコイルが励磁され、異常時オフするフィラメン
ト正常検出リレーR2から成る。また、ディレーIC2は、
クリア端子を有し、クリア端子にクリア信号が入力され
ている期間はフィラメント正常検出リレーR2を励磁する
機能を有する。前記クリア端子にはフィラメント電源が
オンのとき接点を閉じるクリア信号105を接続する。
抗値測定用電圧電源110と、フィラメント電源20オン時
にフィラメント両端電圧上昇によりフィラメント抵抗値
測定回路へ電流が逆流することを防止する逆流防止ダイ
オード101と、抵抗値ｒ「Ω」のフィラメント電流測定
抵抗Ｒと、Ｒの両端電圧があらかじめ定められた上限と
下限の電圧の範囲内にあるかどうかを検出し、Ｒの両端
電圧が前記上限と下限の範囲外にあるときにフィラメン
ト抵抗値異常信号を出力するウインドウコンパレータIC
1と、前記フィラメント抵抗値異常信号がある一定時間
異常継続するとフィラメント抵抗正常検出リレーR2をオ
フするディレーIC2と、フィラメント抵抗値が正常時リ
レーR2のコイルが励磁され、異常時オフするフィラメン
ト正常検出リレーR2から成る。また、ディレーIC2は、
クリア端子を有し、クリア端子にクリア信号が入力され
ている期間はフィラメント正常検出リレーR2を励磁する
機能を有する。前記クリア端子にはフィラメント電源が
オンのとき接点を閉じるクリア信号105を接続する。
アノード用高電圧電源10とフィラメント用直流電源20
は、電源供給リレーR1接点を介して電源が供給される。
は、電源供給リレーR1接点を介して電源が供給される。
以下、フィラメント抵抗値測定回路について説明す
る。第１図で、フィラメント抵抗値測定用定電圧電源11
0よりV1の定電圧がダイオードD1フィラメント電流測定
抵抗Ｒを介してフィラメント13に印加される。このとき
の電流値がI1とするとフィラメント電流測定抵抗Ｒの両
端にはｒ×I1〔Ｖ〕の電位差が生じる。ｒ×I1〔Ｖ〕の
電位差はウインドウコンパレータIC1に入力され、あら
かじめ定められた範囲にあるかどうか判定される。
る。第１図で、フィラメント抵抗値測定用定電圧電源11
0よりV1の定電圧がダイオードD1フィラメント電流測定
抵抗Ｒを介してフィラメント13に印加される。このとき
の電流値がI1とするとフィラメント電流測定抵抗Ｒの両
端にはｒ×I1〔Ｖ〕の電位差が生じる。ｒ×I1〔Ｖ〕の
電位差はウインドウコンパレータIC1に入力され、あら
かじめ定められた範囲にあるかどうか判定される。
フィラメント13が正常なとき、前記ｒ×I1〔Ｖ〕はウ
インドウコンパレータIC1にあらかじめ定められた範囲
に入り、フィラメント抵抗値正常検出リレーR2のコイル
は励磁された状態となる。R2のコイルが励磁されるとR2
のリレー接点が閉じ、電源供給リレーR1のコイルが励磁
される。R1のコイルが励磁されるとR1のリレー接点が閉
じ、アノード用高電圧電源10とフィラメント用直流電源
20に電源が供給されマグネトロン１への電力供給が可能
となる。
インドウコンパレータIC1にあらかじめ定められた範囲
に入り、フィラメント抵抗値正常検出リレーR2のコイル
は励磁された状態となる。R2のコイルが励磁されるとR2
のリレー接点が閉じ、電源供給リレーR1のコイルが励磁
される。R1のコイルが励磁されるとR1のリレー接点が閉
じ、アノード用高電圧電源10とフィラメント用直流電源
20に電源が供給されマグネトロン１への電力供給が可能
となる。
その後フィラメント用直流電源20をオンするとタイマ
ーIC2にクリア信号が入力されR2のコイルは励磁された
状態となる。
ーIC2にクリア信号が入力されR2のコイルは励磁された
状態となる。
フィラメント13が異常なとき、前記ｒ×I1〔Ｖ〕はウ
インドウコンパレータIC1にあらかじめ定められた範囲
からはずれフィラメント抵抗異常信号が出力されフィラ
メント抵抗正常検出リレーR2のコイルが無励磁となる。
その結果、電源供給リレーR1の接点が開となりアノード
用高電圧電源10とフィラメント用直流電源20への電源供
給が停止する。このとき、アノード用高電圧電源10とフ
ィラメント用直流電源は出力禁止状態となり、不必要な
電力供給を防止することができる。
インドウコンパレータIC1にあらかじめ定められた範囲
からはずれフィラメント抵抗異常信号が出力されフィラ
メント抵抗正常検出リレーR2のコイルが無励磁となる。
その結果、電源供給リレーR1の接点が開となりアノード
用高電圧電源10とフィラメント用直流電源20への電源供
給が停止する。このとき、アノード用高電圧電源10とフ
ィラメント用直流電源は出力禁止状態となり、不必要な
電力供給を防止することができる。
本実施例によればマグネトロンのフィラメントに異常
が有る場合、高電圧をマグネトロンに印加することを未
然に防止することができる。
が有る場合、高電圧をマグネトロンに印加することを未
然に防止することができる。
なお、フィラメント電源とマグネトロンのＦ・FA間を
接続するケーブルに異常（短絡，断線）が生じた場合、
フィラメント抵抗値の異常として同様に検出することが
できる。
接続するケーブルに異常（短絡，断線）が生じた場合、
フィラメント抵抗値の異常として同様に検出することが
できる。
このように、本実施例では、マグネトロンのフィラメ
ントおよびフィラメント電源とフィラメントを接続する
電線に異常が生じた場合、実際にマグネトロンに電力を
供給することなしに異常を検知できるので安全性を高め
る効果がある。また、異常な過電流，過電圧をマグネト
ロンへ供給することを防止することができるので、マグ
ネトロン用電源の保護および、マグネトロンの寿命延長
の効果を有する。
ントおよびフィラメント電源とフィラメントを接続する
電線に異常が生じた場合、実際にマグネトロンに電力を
供給することなしに異常を検知できるので安全性を高め
る効果がある。また、異常な過電流，過電圧をマグネト
ロンへ供給することを防止することができるので、マグ
ネトロン用電源の保護および、マグネトロンの寿命延長
の効果を有する。
また、この他に、フィラメント抵抗値測定用電源の供
給電力を多少大きめにすることによりフィラメントのプ
リヒーティングを行うこともできる。また、フィラメン
ト抵抗値検出回路の機能をフィラメント用直流電源に持
たせてフィラメントオフ時はフィラメント抵抗値検出を
行い、フィラメントオン時はフィラメントに電力を供給
するように構成することも容易に可能である。
給電力を多少大きめにすることによりフィラメントのプ
リヒーティングを行うこともできる。また、フィラメン
ト抵抗値検出回路の機能をフィラメント用直流電源に持
たせてフィラメントオフ時はフィラメント抵抗値検出を
行い、フィラメントオン時はフィラメントに電力を供給
するように構成することも容易に可能である。
本発明によれば、マグネトロンに高電圧が供給される
前に、異常な過電流，過電圧がマグネトロンに供給され
るのを防止でき、マグネトロン用電源の保護およびマグ
ネトロンの寿命を延長させることができるという効果が
ある。
前に、異常な過電流，過電圧がマグネトロンに供給され
るのを防止でき、マグネトロン用電源の保護およびマグ
ネトロンの寿命を延長させることができるという効果が
ある。
第１図は、本発明の一実施例のマグネトロン用電源の回
路構成図である。 １……マグネトロン、２……マグネトロン用電源、10…
…アノード用高電圧電源、20……フィラメント用直流電
源、100……フィラメント抵抗値検出回路、R2……フィ
ラメント抵抗正常検出リレー
路構成図である。 １……マグネトロン、２……マグネトロン用電源、10…
…アノード用高電圧電源、20……フィラメント用直流電
源、100……フィラメント抵抗値検出回路、R2……フィ
ラメント抵抗正常検出リレー
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭52−119060（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−27930（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−117162（ＪＰ，Ａ) 実公 昭41−8331（ＪＰ，Ｙ１) 米国特許3641428（ＵＳ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】アノード，カソードおよびフィラメントを
有するマグネトロンの前記フィラメントに接続されたフ
ィラメント用電源と、前記アノード・カソード間に高電
圧を印加する高電圧電源とを有するマグネトロン用電源
の運転方法において、 フィラメント抵抗値検出回路を有しマグネトロンのフィ
ラメントに接続された前記フィラメント用電源の回路を
用い、前記フィラメントのプリヒーティング時に前記フ
ィラメント抵抗値検出回路の機能を作動させ、前記フィ
ラメント用電源のオン時は前記フィラメント抵抗値検出
回路の機能を停止させ、前記フィラメント用電源の停止
時は再び前記フィラメント抵抗値検出回路を機能させる
ようにし、前記フィラメント抵抗値検出回路の電圧値と
電流値とによって前記フィラメントの抵抗値を求め、前
記抵抗値の大きさにより前記フィラメントの異常を検知
し、前記フィラメントの異常を検知したときに前記マグ
ネトロンへの高電圧供給前に該高電圧の供給を停止する
ことを特徴とするマグネトロン用電源の運転方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1078268A JP2574894B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | マグネトロン用電源の運転方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1078268A JP2574894B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | マグネトロン用電源の運転方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02260332A JPH02260332A (ja) | 1990-10-23 |
| JP2574894B2 true JP2574894B2 (ja) | 1997-01-22 |
Family
ID=13657234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1078268A Expired - Lifetime JP2574894B2 (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | マグネトロン用電源の運転方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2574894B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB201204876D0 (en) * | 2012-03-20 | 2012-05-02 | Kbo Dynamics Internat Ltd | Thermionic valve tester |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3641428A (en) | 1969-11-21 | 1972-02-08 | Us Navy | Klystron automatic tube tester |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4041374A (en) * | 1976-03-15 | 1977-08-09 | Rca Corporation | Interelectrode open and short circuit tester |
| JPS5527930A (en) * | 1978-08-17 | 1980-02-28 | Nec Home Electronics Ltd | Method of inspecting magnetron |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP1078268A patent/JP2574894B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3641428A (en) | 1969-11-21 | 1972-02-08 | Us Navy | Klystron automatic tube tester |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02260332A (ja) | 1990-10-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071024 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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