JP2564236Y2 - Automatic inspection position setting device - Google Patents

Automatic inspection position setting device

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JP2564236Y2
JP2564236Y2 JP423092U JP423092U JP2564236Y2 JP 2564236 Y2 JP2564236 Y2 JP 2564236Y2 JP 423092 U JP423092 U JP 423092U JP 423092 U JP423092 U JP 423092U JP 2564236 Y2 JP2564236 Y2 JP 2564236Y2
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Japan
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inspection
imaging device
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pattern
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Sekisui Chemical Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、撮像装置と画像処理装
置とを用いて被検査物(例えばライン上に搬送されてく
るシート状製品)の外観を検査するに際し、被検査物の
予め定めた検査位置に対し、撮像装置を自動設定する、
検査位置自動設定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a method for inspecting the appearance of an object to be inspected (for example, a sheet-like product conveyed on a line) using an image pickup device and an image processing device. Automatically setting the imaging device for the inspection position
The present invention relates to an inspection position automatic setting device.

【0002】[0002]

【従来の技術】製造ラインにおいては、色のみならず製
品幅までも異なる製品を同一の製造設備を用いて製造す
ることが少なくない。これは、例えばプラスチックフィ
ルムを押出成形する製造ラインであれば、金型を交換す
ることで容易に実現できる。
2. Description of the Related Art In a production line, products that differ not only in color but also in product width are often produced using the same production equipment. This can be easily realized, for example, by exchanging a mold in a production line for extruding a plastic film.

【0003】ところで、撮像装置と画像処理装置によっ
て製品の外観検査を実施するに当たり、予め欠陥が発生
する位置が自明な場合や検査内容によってはある特定の
検査位置だけを検査すれば良い場合がある。この検査位
置は、製品の幅が変わるとそれに応じて同時に変動する
ことになる。このとき、複数の撮像装置を用いることな
く、図3に示す如く、1台の撮像装置を一軸ロボット等
を用いて検査位置に移動させて用いる方法がある。
By the way, when a visual inspection of a product is performed by an imaging device and an image processing device, a position where a defect occurs is obvious in advance, or depending on the inspection content, only a specific inspection position needs to be inspected in some cases. . This inspection position will simultaneously change as the width of the product changes. At this time, there is a method in which one imaging device is moved to an inspection position using a single-axis robot or the like as shown in FIG. 3 without using a plurality of imaging devices.

【0004】即ち、図3の従来技術では、定められた工
程計画がホストコンピュータ1に入力される。そして、
ホストコンピュータ1にはある金型の交換が終了し製造
が再開されると製品切替信号が入力され、ホストコンピ
ュータ1は工程計画からこれから製造される製品の品種
を読み出し、設定されているテーブルを参照して品種に
応じた検査位置を決定し、ロボットコントローラ2へそ
の命令を出力し、一軸ロボット3を駆動することにて撮
像装置4を移動する。そして、撮像装置4と画像処理検
査装置5とを用いて製品検査を開始するのである。
That is, in the prior art shown in FIG. 3, a predetermined process plan is input to the host computer 1. And
When the exchange of a certain mold is completed and the production is resumed, a product switching signal is input to the host computer 1, and the host computer 1 reads out the kind of the product to be produced from the process plan and refers to the set table. Then, the inspection position corresponding to the type is determined, the command is output to the robot controller 2, and the imaging device 4 is moved by driving the uniaxial robot 3. Then, the product inspection is started using the imaging device 4 and the image processing inspection device 5.

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】然しながら、従来技術
には、以下の如くの問題点がある。即ち、突然に工程計
画が変更になった場合には、再度ホストコンピュータに
その計画を再入力する必要がある。また、将来的に新た
な品種が発生したときには、それに応じた検査位置を設
定してホストコンピュータのテーブルを再構成しなくて
はならない。
However, the prior art has the following problems. That is, when the process plan is suddenly changed, it is necessary to input the plan again to the host computer. Further, when a new product type is generated in the future, it is necessary to set an inspection position corresponding to the new product type and reconfigure the table of the host computer.

【0006】本考案は、突然の工程変更や品種の増加に
も影響されることなく、撮像装置を検査位置に対して自
動的に設定することを目的とする。
An object of the present invention is to automatically set an image pickup apparatus to an inspection position without being affected by a sudden change in a process or an increase in types.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本考案は、撮像装置と画
像処理装置とを用いて被検査物の外観を検査するに際
し、被検査物の予め定めた検査位置に対し、撮像装置を
自動設定する検査位置自動設定装置において、製品切替
信号を受信したことを条件に、撮像装置を被検査物の幅
方向に移動し該被検査物を最大製品幅で撮像し、この撮
像結果を予め定めておいた検査対象を含むパターンと比
較し、検査対象パターンと一致する部分を検査位置とし
て認識し、この検査位置に撮像装置を設定して検査を開
始するようにしたものである。
According to the present invention, when an external appearance of an object to be inspected is inspected using an image pickup apparatus and an image processing apparatus, the image pickup apparatus is automatically set to a predetermined inspection position of the object to be inspected. In the automatic inspection position setting device, on condition that the product switching signal is received, the imaging device is moved in the width direction of the inspection object to image the inspection object with the maximum product width, and the imaging result is determined in advance. The pattern is compared with the pattern including the inspection target set, a portion matching the pattern to be inspected is recognized as the inspection position, and the imaging device is set at the inspection position to start the inspection.

【0008】[0008]

【作用】本考案によれば、検査開始前に、撮像装置が撮
像したパターンを、予め定めてある検査対象パターンと
比較し、検査対象パターンと一致する部分を検査位置で
あるものと認識することができる。そして、撮像装置を
上述の検査位置に設定して検査を開始することとなる。
従って、突然の工程変更や品種の増加にも影響されるこ
となく、撮像装置を検査位置に対して自動的に設定する
ことができる。
According to the present invention, before an inspection is started, a pattern imaged by an imaging device is compared with a predetermined inspection target pattern, and a portion matching the inspection target pattern is recognized as an inspection position. Can be. Then, the imaging device is set to the inspection position described above and the inspection is started.
Therefore, the imaging device can be automatically set to the inspection position without being affected by a sudden process change or an increase in types.

【0009】[0009]

【実施例】図1は本考案の一実施例を示す模式図、図2
は予め定めてある、検査対象を含むパターンを示す模式
図、図3は従来例を示す模式図である。
1 is a schematic view showing an embodiment of the present invention, FIG.
Is a schematic diagram showing a predetermined pattern including an inspection target, and FIG. 3 is a schematic diagram showing a conventional example.

【0010】図1において、11はホストコンピュー
タ、12はロボットコントローラ、13は一軸ロボッ
ト、14は撮像装置(例えばCCDカメラ)、15は画
像処理検査装置である。
In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a host computer, 12 denotes a robot controller, 13 denotes a uniaxial robot, 14 denotes an image pickup device (for example, a CCD camera), and 15 denotes an image processing inspection device.

【0011】画像処理検査装置15は、撮像装置14の
撮像結果に基づいて、検査対象製品の外観を検査する。
このとき、検査対象は合わせガラス用シェイデットフィ
ルムであるが、これは表面に極めて微小な凹凸を有して
いるため半透明であり、また一部は着色されており、そ
の色が徐々に薄くなって無色になるという外観を呈す
る。検査位置はこの色推移部である(図2参照)。
The image processing inspection device 15 inspects the appearance of a product to be inspected on the basis of the image pickup result of the image pickup device 14.
At this time, the inspection target is a shaded film for laminated glass, which is translucent because it has extremely minute irregularities on the surface, and is partially colored, and its color is gradually lightened. It has the appearance of becoming colorless. The inspection position is the color transition section (see FIG. 2).

【0012】以下、本実施例の作業手順について説明す
る。製造が開始され、ホストコンピュータ11が製品切
替信号を受けると、ホストコンピュータ11はロボット
コントローラ12を介して一軸ロボット13を制御し、
撮像装置14が製品の最大幅を撮像できるように製造ラ
イン方向と直交する方向に該撮像装置14を移動する。
これにより、撮像装置14は、製造ライン上を搬送され
てくるシート状製品を、ある間隔で次々と撮像する。
The operation procedure of the embodiment will be described below. When the production is started and the host computer 11 receives the product switching signal, the host computer 11 controls the one-axis robot 13 via the robot controller 12,
The imaging device 14 is moved in a direction perpendicular to the production line direction so that the imaging device 14 can image the maximum width of the product.
Thereby, the imaging device 14 images the sheet-like products conveyed on the production line one after another at certain intervals.

【0013】画像処理検査装置15は、撮像装置14の
撮像結果を予め定めておいた検査対象を含むパターンと
比較する。図2は、本実施例におけるパターンである。
色推移部を検査対象としているため下部から照射された
透過光は着色部では濃度値が小さく、無色部では大きく
観測される。このように、パターンが変化する部分を撮
像装置14を移動することによって探索し、画像処理検
査装置15は撮像装置14の撮像結果が検査対象パター
ンと一致する部分を検査位置として認識し、その情報を
ホストコンピュータ11へ転送する。
The image processing / inspection device 15 compares the image pickup result of the image pickup device 14 with a predetermined pattern including an inspection object. FIG. 2 shows a pattern in the present embodiment.
Since the color transition portion is the inspection target, the transmitted light emitted from the lower portion has a small density value in the colored portion and is large in the colorless portion. As described above, a portion where the pattern changes is searched for by moving the imaging device 14, and the image processing / inspection device 15 recognizes, as the inspection position, a portion where the imaging result of the imaging device 14 matches the inspection target pattern. Is transferred to the host computer 11.

【0014】これにより、ホストコンピュータ11は、
ロボットコントローラ12を介して一軸ロボット13を
制御し、上述の検査位置に撮像装置14を設定せしめ
る。また、画像処理検査装置15は検査開始信号を受
け、撮像装置14の撮像結果に基づいて製品検査を開始
する。
As a result, the host computer 11
The single-axis robot 13 is controlled via the robot controller 12 to set the imaging device 14 at the inspection position described above. Further, the image processing inspection device 15 receives the inspection start signal, and starts the product inspection based on the imaging result of the imaging device 14.

【0015】本実施例によれば、検査開始前に、撮像装
置14が撮像したパターンを、予め定めてある検査対象
パターンと比較し、検査対象パターンと一致する部分を
検査位置であるものと認識することができる。そして、
撮像装置14を上述の検査位置に設定して検査を開始す
ることとなる。従って、突然の工程変更や品種の増加に
も影響されることなく、撮像装置14を検査位置に対し
て自動的に設定することができる。
According to the present embodiment, before the start of the inspection, the pattern imaged by the imaging device 14 is compared with a predetermined inspection target pattern, and a portion matching the inspection target pattern is recognized as the inspection position. can do. And
The inspection is started by setting the imaging device 14 at the inspection position described above. Therefore, the imaging device 14 can be automatically set to the inspection position without being affected by a sudden process change or an increase in types.

【0016】[0016]

【考案の効果】以上のように本考案によれば、突然の工
程変更や品種の増加にも影響されることなく、撮像装置
を検査位置に対して自動的に設定することができる。
As described above, according to the present invention, the imaging device can be automatically set to the inspection position without being affected by a sudden process change or an increase in types.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は本考案の一実施例を示す模式図である。FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment of the present invention.

【図2】図2は予め定めてある、検査対象を含むパター
ンを示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a predetermined pattern including an inspection target.

【図3】図3は従来例を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic view showing a conventional example.

【符号の説明】 11 ホストコンピュータ 12 ロボットコントローラ 13 一軸ロボット 14 撮像装置 15 画像処理検査装置[Description of Signs] 11 Host computer 12 Robot controller 13 Uniaxial robot 14 Imaging device 15 Image processing inspection device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06F 15/70 455B ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Agency reference number FI Technical display location G06F 15/70 455B

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 撮像装置と画像処理装置とを用いて被検
査物の外観を検査するに際し、被検査物の予め定めた検
査位置に対し、撮像装置を自動設定する検査位置自動設
定装置において、製品切替信号を受信したことを条件
に、撮像装置を被検査物の幅方向に移動し該被検査物を
最大製品幅で撮像し、この撮像結果を予め定めておいた
検査対象を含むパターンと比較し、検査対象パターンと
一致する部分を検査位置として認識し、この検査位置に
撮像装置を設定して検査を開始することを特徴とする検
査位置自動設定装置。
1. An inspection position automatic setting device for automatically setting an imaging device with respect to a predetermined inspection position of an inspection object when inspecting the appearance of the inspection object using an imaging device and an image processing device, Under the condition that the product switching signal is received, the imaging device is moved in the width direction of the inspection object to image the inspection object with the maximum product width, and the imaging result is a pattern including a predetermined inspection object. An automatic inspection position setting device, wherein a comparison is made, a part matching the pattern to be inspected is recognized as an inspection position, an imaging device is set at the inspection position, and the inspection is started.
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