JP2560655B2 - Maintenance test method - Google Patents
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は通信制御集積回路およ
びこれを含む通信システムの保守試験方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a communication control integrated circuit and a maintenance test method for a communication system including the same.
【０００２】[0002]
【従来の技術】端末装置、交換機等を通信回線を介して
接続してなる通信システムにおいて、システムを構成す
る各部の保守試験が実施される。図６および図７は従来
の通信システムの保守試験を示したもので、ＣＣＩＴＴ
（国際電信電話諮問委員会）勧告に基づくループバック
試験（折り返し試験）の実施態様が例示されている。図
６および図７において、１は端末装置（ＴＥ；Ｔermina
l Ｅquipment）であり、内蔵された通信制御集積回路
の制御により外部との通信を行う。この端末装置１は、
通信回線２を介して網終端装置（ＮＴ；Ｎetwork Ｔer
mination）３と接続される。そして、さらに網終端装置
３は通信回線を介して交換機へ接続される。2. Description of the Related Art In a communication system in which a terminal device, an exchange, etc. are connected via a communication line, a maintenance test of each part constituting the system is carried out. 6 and 7 show a maintenance test of a conventional communication system.
An embodiment of a loopback test (turnback test) based on (International Telegraph and Telephone Advisory Committee) recommendation is illustrated. 6 and 7, 1 is a terminal device (TE; Termina)
l Equipment), which communicates with the outside under the control of the built-in communication control integrated circuit. This terminal device 1
Network terminator (NT; Network Ter) via communication line 2
mination) 3 is connected. Then, the network terminating device 3 is further connected to the exchange through the communication line.
【０００３】図６および図７の通信システムは、時分割
多重通信システムであり、各通信ユニット（端末装置
１、網終端装置３等）は所定時間（フレーム）単位で同
期化されており、１フレーム２５０μｓ内を構成する４
８個のタイムスロットの中の空いているタイムスロット
を利用して他の通信ユニットとの通信を行う。The communication system shown in FIGS. 6 and 7 is a time division multiplex communication system, in which each communication unit (terminal device 1, network terminating device 3, etc.) is synchronized in units of a predetermined time (frame). 4 within the frame 250μs
Communication is performed with another communication unit by utilizing an empty time slot among the eight time slots.
【０００４】保守試験が開始されると、端末装置１は、
内部の信号経路が切り換えられ、図６に示すようにルー
プバック動作を行う。すなわち、交換機側から下り回線
２ａを介して信号Ｂ1、Ｂ2およびＤが送られ受信端１ａ
に入力されると、これらの信号はそのまま送信端１ｂか
ら出力され、上り回線２ｂを介して交換機側に折り返し
送信される。ここで、信号Ｂ1、Ｂ2およびＤの各名称
は、これらの信号が上記フレーム内において占有するタ
イムスロット位置（チャネル）に対応して付けたもので
ある。そして、交換機側では、端末装置１から送り返さ
れて来る信号が検出され、交換機側から端末装置１に至
る通信経路の障害の有無が判定される。When the maintenance test is started, the terminal device 1
The internal signal path is switched, and the loopback operation is performed as shown in FIG. That is, the signals B 1 , B 2 and D are sent from the exchange side through the downlink 2a, and the receiving end 1a
When these signals are input to, the signals are output from the transmitting end 1b as they are and are returned to the exchange side via the upstream line 2b. Here, the names of the signals B 1 , B 2 and D are given in correspondence with the time slot positions (channels) occupied by these signals in the frame. Then, on the exchange side, the signal returned from the terminal device 1 is detected, and it is determined whether or not there is a failure in the communication path from the exchange side to the terminal device 1.
【０００５】また、図７は、折り返し試験中、入力され
た信号Ｂ1、Ｂ2、Ｄに対して、通常モード時に行う信号
処理Ｌ１ａを実施し、その結果を確認するものであり、
この試験により信号処理Ｌ１ａに係る回路の障害の有無
が判定される。Further, FIG. 7 shows that the signal processing L1a performed in the normal mode is performed on the input signals B 1 , B 2 , and D during the folding test, and the result is confirmed.
By this test, it is determined whether or not there is a failure in the circuit related to the signal processing L1a.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来は、通
信システムにおいて、交換機側から端末装置１に至るま
での通信経路の保守試験あるいは端末装置１に信号が入
力されるか否かの保守試験は行われていたが、端末装置
１内部の障害の有無を判定する保守試験は行われていな
かった。このため、端末装置１内部に障害が発生した場
合に、その障害箇所を明確に診断することができないと
いう問題があった。By the way, conventionally, in a communication system, a maintenance test of a communication path from the exchange side to the terminal device 1 or a maintenance test of whether or not a signal is input to the terminal device 1 is performed. However, the maintenance test for determining the presence / absence of a failure inside the terminal device 1 has not been performed. Therefore, when a failure occurs inside the terminal device 1, there is a problem that the failure location cannot be clearly diagnosed.
【０００７】この発明は上述した事情に鑑みてなされた
もので、通信機能を司る集積回路を有する端末装置およ
びその端末装置を含む通信システムの障害箇所を明確に
診断することが可能な保守試験方法を提供することを目
的としている。The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and a maintenance test method capable of clearly diagnosing a failure point of a terminal device having an integrated circuit having a communication function and a communication system including the terminal device. Is intended to provide.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１記載の発明は、通信回線を介して外部との
通信を行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットに
おける処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回
路であって、通常モード時は、通信回線からの前記各階
層の処理に対応した受信信号を受信し、該受信信号を処
理すると共に、該受信信号に対する応答信号あるいは外
部への送信信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路
および該集積回路を含む通信システムの保守試験方法に
おいて、第１の保守試験モード時、前記集積回路の受信
信号をそのまま前記通信回線へ折り返し送信し、第２の
保守試験モード時、前記各階層の中の特定の階層につい
ては、前記受信信号の中の該階層と対応する信号を当該
回路によって信号処理して前記通信回線へ折り返し送信
し、他の処理階層については、前記通常モード時と同様
の処理を行うことを特徴としている。In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 is mounted in a communication unit for communicating with the outside through a communication line, and is provided in each layer of processing in the communication unit. An integrated circuit having a corresponding hierarchical structure, in a normal mode, receiving a reception signal corresponding to the processing of each layer from a communication line, processing the reception signal, and a response signal to the reception signal or In a maintenance test method of a communication control integrated circuit for outputting a transmission signal to the outside to a communication line and a communication system including the integrated circuit, a reception signal of the integrated circuit is returned to the communication line as it is in a first maintenance test mode. In the second maintenance test mode, the signal corresponding to the layer in the received signal is processed by the circuit in the second maintenance test mode. And then folded transmitted to the communication line for the other processing hierarchy is characterized by performing the same processing as the normal mode.
【０００９】また、請求項２記載の発明は、第１の保守
試験モード時、前記各階層の中の特定の階層について
は、前記受信信号の中の該階層と対応する信号を当該回
路によって信号処理して前記通信回線へ折り返し送信
し、また、他の処理階層については、前記通常モード時
と同様の処理を行い、第２の保守試験モード時、前記通
信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記通常モー
ドから保守試験モードに切り換えられると、前記通信回
線へ外部通信要求無信号を送出すると共に、前記集積回
路の内部回路を強制的にイネーブル状態とし、前記集積
回路の送信信号をその集積回路内部で受信信号として折
り返すループバック経路を形成し、通信テストデータを
発生し、この通信テストデータに対し、通常モード時に
送信データの信号処理を行う回路によって信号処理を行
った後、前記ループバック経路を介して、通常モード時
に受信信号の信号処理を行う回路へ伝送し、その信号処
理を行った結果得られる受信データと該通信テストデー
タとの比較試験を行い、さらに、前記信号処理に係わる
回路以外かつ試験に係わる回路に対して、前記試験実行
前に、テストデータを入力し、該テストデータに対する
出力応答を一貫して試験することを特徴としている。According to the second aspect of the present invention, in the first maintenance test mode, for a specific layer among the layers, a signal corresponding to the layer in the received signal is signaled by the circuit. Processing is performed and the data is returned to the communication line. Further, for the other processing layers, the same processing as in the normal mode is performed, and in the second maintenance test mode, the communication control integrated circuit responds to the mode signal. Then, when the normal mode is switched to the maintenance test mode, an external communication request no signal is sent to the communication line, the internal circuit of the integrated circuit is forcibly enabled, and the transmission signal of the integrated circuit is changed. A loopback path that folds back as a reception signal is formed inside the integrated circuit, communication test data is generated, and the signal processing of the transmission data in normal mode is performed on this communication test data. After the signal processing is performed by the circuit that performs the signal processing, the received signal is transmitted to the circuit that performs the signal processing of the received signal in the normal mode through the loopback path, and the received data obtained as a result of the signal processing and the communication test data The test data is input to the circuits other than the circuit related to the signal processing and circuits related to the test before the test is executed, and the output response to the test data is consistently tested. It has a feature.
【００１０】また、請求項３記載の発明は、第１の保守
試験モード時、前記各階層の中の特定の階層について
は、前記受信信号の中の該階層と対応する信号を当該回
路によって信号処理して前記通信回線へ折り返し送信
し、また、他の処理階層については、前記通常モード時
と同様の処理を行い、第２の保守試験モード時、前記通
信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記通常モー
ドから保守試験モードに切り換えられると、前記通信回
線へ外部通信要求無信号を送出すると共に、前記集積回
路の内部回路を強制的にイネーブル状態とし、前記集積
回路の各階層の送信信号をその集積回路内部で各階層の
受信信号として折り返すループバック経路を形成し、前
記各階層毎に、通信テストデータを発生し、これら各階
層の通信テストデータに対し、通常モード時に当該階層
の送信データの信号処理を行う回路によって信号処理を
行った後、前記ループバック経路を介して、通常モード
時に当該階層の受信信号の信号処理を行う回路へ伝送
し、その信号処理を行った結果得られる受信デ一タと該
通信テストデ一タとの比較試験を行い、さらに、前記信
号処理に係わる回路以外かつ試験に係わる回路に対し
て、前記試験実行前に、テストデータを入力し、該テス
トデータに対する出力応答を一貫して試験することを特
徴としている。Further, in the third aspect of the present invention, in the first maintenance test mode, for a specific layer among the layers, a signal corresponding to the layer in the received signal is signaled by the circuit. Processing is performed and the data is returned to the communication line. Further, for the other processing layers, the same processing as in the normal mode is performed, and in the second maintenance test mode, the communication control integrated circuit responds to the mode signal. Then, when the normal mode is switched to the maintenance test mode, an external communication request no signal is sent to the communication line, the internal circuit of the integrated circuit is forcibly enabled, and each layer of the integrated circuit is transmitted. A loopback path that folds back a signal inside the integrated circuit as a reception signal of each layer is formed, communication test data is generated for each layer, and communication test data of each layer is generated. On the other hand, after the signal processing is performed by the circuit that performs the signal processing of the transmission data of the hierarchy in the normal mode, the signal is transmitted to the circuit that performs the signal processing of the reception signal of the hierarchy in the normal mode through the loopback path. A comparison test is performed between the reception data obtained as a result of the signal processing and the communication test data, and further for circuits other than the circuit related to the signal processing and related to the test, before the test execution, It is characterized by inputting test data and consistently testing the output response to the test data.
【００１１】また、請求項４記載の発明は、第１の保守
試験モード時、前記集積回路の受信信号をそのまま前記
通信回線へ折り返し送信し、第２の保守試験モード時、
前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、他の処理階層に
ついては、前記通常モード時と同様の処理を行い、第３
の保守試験モード時、前記通信制御集積回路は、モード
信号に応じて、前記通常モードから保守試験モードに切
り換えられると、前記通信回線へ外部通信要求無信号を
送出すると共に、前記集積回路の内部回路を強制的にイ
ネーブル状態とし、前記集積回路の送信信号をその集積
回路内部で受信信号として折り返すループバック経路を
形成し、通信テストデータを発生し、この通信テストデ
ータに対し、通常モード時に送信データの信号処理を行
う回路によって信号処理を行った後、前記ループバック
経路を介して、通常モード時に受信信号の信号処理を行
う回路へ伝送し、その信号処理を行った結果得られる受
信データと該通信テストデータとの比較試験を行い、さ
らに、前記信号処理に係わる回路以外かつ試験に係わる
回路に対して、前記試験実行前に、テストデータを入力
し、該テストデータに対する出力応答を一貫して試験す
ることを特徴としている。According to a fourth aspect of the invention, in the first maintenance test mode, the received signal of the integrated circuit is sent back to the communication line as it is, and in the second maintenance test mode,
For a specific layer in each of the layers, a signal corresponding to the layer in the received signal is signal-processed by the circuit and transmitted back to the communication line. For other processing layers, the normal mode is used. Perform the same process as at time 3
In the maintenance test mode, when the communication control integrated circuit is switched from the normal mode to the maintenance test mode according to the mode signal, the communication control integrated circuit sends an external communication request no signal to the communication line, and the internal circuit of the integrated circuit. The circuit is forcibly enabled, a loopback path is formed in which the transmission signal of the integrated circuit is folded back as a reception signal inside the integrated circuit, communication test data is generated, and this communication test data is transmitted in the normal mode. After the signal processing is performed by the circuit that performs the signal processing of the data, the data is transmitted to the circuit that performs the signal processing of the received signal in the normal mode through the loopback path, and the received data obtained as a result of the signal processing is performed. A comparison test with the communication test data is performed, and a circuit other than the circuit related to the signal processing and a circuit related to the test are compared with each other. Before the test run, enter the test data, it is characterized by testing consistently output response to the test data.
【００１２】また、請求項５記載の発明は、第１の保守
試験モード時、前記集積回路の受信信号をそのまま前記
通信回線へ折り返し送信し、第２の保守試験モード時、
前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、他の処理階層に
ついては、前記通常モード時と同様の処理を行い、第３
の保守試験モード時、前記通信制御集積回路は、モード
信号に応じて、前記通常モードから保守試験モードに切
り換えられると、前記通信回線へ外部通信要求無信号を
送出すると共に、前記集積回路の内部回路を強制的にイ
ネーブル状態とし、前記集積回路の各階層の送信信号を
その集積回路内部で各階層の受信信号として折り返すル
ープバック経路を形成し、前記各階層毎に、通信テスト
データを発生し、これら各階層の通信テストデータに対
し、通常モード時に当該階層の送信データの信号処理を
行う回路によって信号処理を行った後、前記ループバッ
ク経路を介して、通常モード時に当該階層の受信信号の
信号処理を行う回路へ伝送し、その信号処理を行った結
果得られる受信デ一タと該通信テストデ一タとの比較試
験を行い、さらに、前記信号処理に係わる回路以外かつ
試験に係わる回路に対して、前記試験実行前に、テスト
データを入力し、該テストデータに対する出力応答を一
貫して試験することを特徴としている。According to a fifth aspect of the present invention, in the first maintenance test mode, the reception signal of the integrated circuit is sent back to the communication line as it is, and in the second maintenance test mode,
For a specific layer in each of the layers, a signal corresponding to the layer in the received signal is signal-processed by the circuit and transmitted back to the communication line. For other processing layers, the normal mode is used. Perform the same process as at time 3
In the maintenance test mode, when the communication control integrated circuit is switched from the normal mode to the maintenance test mode according to the mode signal, the communication control integrated circuit sends an external communication request no signal to the communication line, and the internal circuit of the integrated circuit. A circuit is forcibly enabled and a loopback path is formed in which the transmission signal of each layer of the integrated circuit is folded back as a reception signal of each layer within the integrated circuit, and communication test data is generated for each layer. , After performing signal processing on the communication test data of each of the layers by the circuit that performs signal processing of the transmission data of the layer in the normal mode, the received signal of the layer of the layer in the normal mode via the loopback path. It is transmitted to a circuit that performs signal processing, and a comparison test is performed between the reception data obtained as a result of the signal processing and the communication test data. The circuit according to and tested than circuitry relating to the signal processing, prior to the test run, enter the test data, is characterized by testing consistently output response to the test data.
【００１３】[0013]
【作用】請求項１記載の発明の保守試験方法によれば、
第１の保守試験モードにおいて、外部から通信制御集積
回路に至る通信経路の障害の有無が、この通信経路に接
続された外部の通信ユニットによって判定される。ま
た、第２の保守試験モードにおいて、特定の階層の受信
信号のみ信号処理されて外部へ折り返される。従って、
この通信制御集積回路の特定の処理階層に係る信号処理
の機能およびこの通信制御集積回路に至るまでの通信経
路が、外部の通信ユニットによって判定される。また、
他の階層の受信信号については、通常モード時と同じ処
理が行われる。According to the maintenance test method of the invention described in claim 1,
In the first maintenance test mode, the presence or absence of a failure in the communication path from the outside to the communication control integrated circuit is determined by the external communication unit connected to this communication path. Further, in the second maintenance test mode, only the reception signal of a specific layer is signal-processed and returned to the outside. Therefore,
The function of signal processing relating to a specific processing hierarchy of this communication control integrated circuit and the communication path to reach this communication control integrated circuit are determined by an external communication unit. Also,
The same processing as in the normal mode is performed on the received signals in the other layers.
【００１４】また、請求項２記載の発明の保守試験方法
によれば、第１の保守試験モードによって、外部から通
信制御集積回路に至る通信経路の障害の有無が判定され
る。また、第２の保守試験モードによって、通信制御集
積回路における受信信号の処理が正常に行われるか否か
が判定されると共に、その他の回路各部の機能が判定さ
れる。According to the maintenance test method of the second aspect of the invention, the presence or absence of a fault in the communication path from the outside to the communication control integrated circuit is determined in the first maintenance test mode. Further, in the second maintenance test mode, it is determined whether or not the processing of the received signal in the communication control integrated circuit is normally performed, and the functions of other circuit parts are determined.
【００１５】また、請求項３記載の発明の保守試験方法
によれば、第１の試験モードによって、外部から通信制
御集積回路に至る通信経路の障害の有無が判定され、第
２の保守試験モードによって、通信制御集積回路におけ
る受信信号の処理が正常に行われるか否かが各階層毎に
判定されると共に、その他の回路各部の機能が判定され
る。According to the maintenance test method of the third aspect of the present invention, the presence or absence of a failure in the communication path from the outside to the communication control integrated circuit is determined by the first test mode, and the second maintenance test mode is performed. Thus, whether or not the processing of the received signal in the communication control integrated circuit is normally performed is determined for each layer, and the functions of other circuit units are determined.
【００１６】また、請求項４記載の発明によれば、第１
の保守試験モードにおいて、外部から通信制御集積回路
に至る通信経路の障害の有無が、この通信経路に接続さ
れた外部の通信ユニットによって判定され、第２の保守
試験モードにおいて、特定の階層の受信信号のみ信号処
理されて外部へ折り返される。また、第３の試験モード
において、通信制御集積回路における受信信号の処理が
正常に行われるか否かが判定されると共に、その他の回
路各部の機能が判定される。According to the invention described in claim 4, the first
In the maintenance test mode, the presence or absence of a failure in the communication path from the outside to the communication control integrated circuit is determined by the external communication unit connected to this communication path, and in the second maintenance test mode, reception of a specific layer is performed. Only the signal is processed and returned to the outside. Further, in the third test mode, it is determined whether or not the processing of the received signal in the communication control integrated circuit is normally performed, and the functions of other circuit parts are determined.
【００１７】また、請求項５記載の発明によれば、第１
の保守試験モードにおいて、外部から通信制御集積回路
に至る通信経路の障害の有無が、この通信経路に接続さ
れた外部の通信ユニットによって判定され、第２の保守
試験モードにおいて、特定の階層の受信信号のみ信号処
理されて外部へ折り返される。また、第３の試験モード
において、各階層毎に信号処理機能が正常か否かが判定
されると共に、その他の回路各部の機能が判定される。According to the invention of claim 5, the first
In the maintenance test mode, the presence or absence of a failure in the communication path from the outside to the communication control integrated circuit is determined by the external communication unit connected to this communication path, and in the second maintenance test mode, reception of a specific layer is performed. Only the signal is processed and returned to the outside. In addition, in the third test mode, it is determined for each layer whether or not the signal processing function is normal, and the functions of other circuit parts are determined.
【００１８】[0018]
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。 〔実施例１〕図１はこの発明の第１の実施例による保守
試験方法を示す図である。この図において、１０は端末
装置１（図６および図７）に搭載された通信制御集積回
路を示す。以下、本実施例による集積回路１０の試験方
法を図２のフローチャートを参照して説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. [Embodiment 1] FIG. 1 is a diagram showing a maintenance test method according to a first embodiment of the present invention. In this figure, 10 indicates a communication control integrated circuit mounted on the terminal device 1 (FIGS. 6 and 7). The method of testing the integrated circuit 10 according to this embodiment will be described below with reference to the flowchart of FIG.
【００１９】この集積回路１０に対して上位の処理を司
る制御ユニットによって試験モードが起動されると、集
積回路１０内の信号経路が切り換えられ、下り回線２ａ
を介して信号Ｂ1、Ｂ2、Ｄが受信端１ａに入力されても
これらの信号を処理しないようにされる。また、上り回
線２ｂへは、集積回路１０から外部通信要求無信号ＥＣ
Ｒが送出される。これにより、集積回路１０は通信回線
２に接続された他の通信ユニットとの通信が断たれる
（ステップＳ１）。When the test mode is activated by the control unit that is in charge of higher-level processing for the integrated circuit 10, the signal path in the integrated circuit 10 is switched and the downlink 2a.
Even if the signals B 1 , B 2 and D are input to the receiving end 1a via the, the signals are not processed. In addition, from the integrated circuit 10 to the upstream line 2b, no external communication request signal EC
R is sent out. As a result, the integrated circuit 10 is disconnected from the communication with other communication units connected to the communication line 2 (step S1).
【００２０】そして、集積回路１０内ではステップＳ２
〜Ｓ７に示す手順で内部ＲＡＭ（ランダムアクセスメモ
リ）の試験が行われる。まず、ステップＳ２では、内部
ＲＡＭに対してテストデータを書き込む。そして、ステ
ップＳ３で内部ＲＡＭからデータを読み出し、ステップ
Ｓ４でステップＳ２における書込データとステップＳ３
における読出データとを比較する。そして、この比較の
結果、両者が一致している場合はステップＳ５に進み、
不一致の場合はステップＳ７に進む。ステップＳ５で
は、内部ＲＡＭの全アドレスの試験が終わったか否かを
判断する。そして、判断結果が「ＮＯ」の場合は新たな
アドレスを設定してステップＳ２に戻り、「ＹＥＳ」の
場合はステップＳ６に進む。そして、ステップＳ６に進
むと、内部ＲＡＭの機能が正常であると判定する。一
方、ステップＳ７に進んだ場合は、内部ＲＡＭのいずれ
かのアドレスに異常があると判定する。Then, in the integrated circuit 10, step S2
The internal RAM (random access memory) is tested in the procedure shown in to S7. First, in step S2, test data is written in the internal RAM. Then, in step S3, the data is read from the internal RAM, and in step S4, the write data in step S2 and step S3 are read.
And the read data in. Then, as a result of this comparison, if they match, the process proceeds to step S5,
If they do not match, the process proceeds to step S7. In step S5, it is determined whether or not all addresses in the internal RAM have been tested. Then, if the determination result is "NO", a new address is set and the process returns to step S2, and if "YES", the process proceeds to step S6. Then, when the process proceeds to step S6, it is determined that the function of the internal RAM is normal. On the other hand, if the process proceeds to step S7, it is determined that any address in the internal RAM has an abnormality.
【００２１】次にステップＳ８〜Ｓ１４に示す手順で内
部ＲＯＭ（リードオンリメモリ）の試験を行う。ステッ
プＳ８では、内部ＲＯＭからデータを１ワード読み出
す。そして、ステップＳ９で、この読出データをワーク
レジスタに累積加算する。次にステップＳ１０に進む
と、ＲＯＭ内のすべての試験対象アドレスについて上記
処理を実施したか否かを判断する。そして、判断結果が
「ＹＥＳ」の場合はステップＳ１１に進み、「ＮＯ」の
場合はステップＳ８に戻る。ステップＳ１１に進むと、
ＲＯＭ内の最終アドレスからチェック用データＣheck
Ｓumを読み出す。ここで、データＣheck Ｓumとして
は、ＲＯＭ内の他のアドレスに格納されている全データ
の合計値が書き込まれている。そして、ステップＳ１２
に進むと、このデータＣheck Ｓumと、ワークレジスタ
の記憶データとが比較される。そして、比較の結果、両
者が一致した場合は内部ＲＯＭは正常であると判定し
（ステップＳ１３）、不一致の場合はＲＯＭ内のいずれ
かのアドレスに異常があると判定する（ステップＳ１
４）。Next, the internal ROM (read only memory) is tested in the procedure shown in steps S8 to S14. In step S8, one word of data is read from the internal ROM. Then, in step S9, the read data is cumulatively added to the work register. Next, in step S10, it is determined whether or not the above process has been executed for all the test target addresses in the ROM. Then, if the determination result is "YES", the process proceeds to step S11, and if "NO", the process returns to step S8. Going to step S11,
Check data from the last address in ROM Check
Read Sum. Here, as the data Check Sum, a total value of all data stored in other addresses in the ROM is written. Then, step S12
When the process advances to step, this data Check Sum is compared with the data stored in the work register. Then, as a result of the comparison, if the two match, it is determined that the internal ROM is normal (step S13), and if they do not match, it is determined that one of the addresses in the ROM is abnormal (step S1).
4).
【００２２】次にステップＳ１５〜Ｓ２１に示す手順に
従って、この集積回路１０の受信時における信号処理機
能Ｌ１ａおよび送信時における信号処理機能Ｌ１ｂ（共
に図１参照）の障害判定を行うループバック試験を実施
する。このループバック試験は、送信信号が上り回線２
ｂに出力される手前で折り返し、受信信号処理Ｌ１ａに
入力するループバックスイッチ機能を必要とする。Then, in accordance with the procedure shown in steps S15 to S21, a loopback test is carried out for determining a failure of the signal processing function L1a at the time of reception of the integrated circuit 10 and the signal processing function L1b at the time of transmission (both see FIG. 1). To do. In this loopback test, the transmission signal is uplink 2
A loopback switch function is required, which returns before being output to b and is input to the received signal processing L1a.
【００２３】図３はこのループバックスイッチ機能を実
現する具体的回路を示したものである。通常モード時、
下り回線２ａを介して受信された受信信号Ｂ1、Ｂ2、Ｄ
は、波形変換回路１１によってＡＭＩ（Ａlternate Ｍa
rk Ｉnversion）波形からＮＲＺ（Ｎon Ｒeturn to Ｚe
ro）波形に変換された後、セレクタ１２を介し、回路１
３に入力される。そして、信号処理Ｌ１ａが行われ、デ
ータＢ1ａ、Ｂ2ａおよびＤaとして受理される。一方、
送信データＢ1ｂ、Ｂ2ｂおよびＤｂは、信号処理回路１
４によって信号処理Ｌ１ｂが行われ、ＯＲゲート１５を
介し、波形変換回路１６に入力される。そして、この波
形変換回路１６によって、ＮＲＺ波形からＡＭＩ波形へ
変換され、送信信号Ｂ1、Ｂ2、Ｄとして上り回線２ｂに
送出される。FIG. 3 shows a concrete circuit for realizing the loopback switch function. In normal mode,
Received signals B 1 , B 2 , D received via the downlink 2a
Is converted by the waveform conversion circuit 11 into an AMI (Alternate Ma).
rk Inversion) Waveform to NRZ (Non Return to Ze)
ro) After being converted into a waveform, through the selector 12, the circuit 1
Input to 3. Then, the signal processing L1a is performed and received as the data B 1 a, B 2 a and D a . on the other hand,
The transmission data B 1 b, B 2 b and Db are transmitted to the signal processing circuit 1
The signal processing L1b is performed by 4 and is input to the waveform conversion circuit 16 via the OR gate 15. Then, the waveform conversion circuit 16 converts the NRZ waveform into an AMI waveform and sends it as the transmission signals B 1 , B 2 , and D to the uplink 2b.
【００２４】通常モードから試験モードになると、試験
モード指定信号ＴＥＳＴが“１”となる。この結果、Ｏ
Ｒゲート１７の出力が“１”となるので、ＯＲゲート１
５の出力が強制的に“１”とされる。これにより、以
後、“１”が時間的に連続した信号、すなわち、外部通
信要求無信号ＥＣＲが波形変換回路１６から上り回線２
ｂに送出される。このようにして、通信制御集積回路１
０は外部との通信が断たれる（前述ステップＳ１）。When the normal mode is changed to the test mode, the test mode designating signal TEST becomes "1". As a result, O
Since the output of the R gate 17 becomes "1", the OR gate 1
The output of 5 is forcibly set to "1". As a result, thereafter, a signal in which “1” is temporally continuous, that is, an external communication request no signal ECR is output from the waveform conversion circuit 16 to the uplink 2
b. In this way, the communication control integrated circuit 1
For 0, communication with the outside is cut off (step S1 described above).
【００２５】ところで、この集積回路１０は、外部との
通信を行う場合に、外部から処理開始信号ＲＵＮが入力
されることによって初めて通常の処理が可能となるよう
に構成されている。すなわち、処理開始信号ＲＵＮが入
力されると、検出信号ＲＲＵＮが“１”となり、これに
より通常の処理に係る各コントローラがイネーブルさ
れ、所定の動作が得られるようになっている。ところ
が、試験が開始されて外部に対して外部通信要求無信号
ＥＣＲが送出されると、外部から処理開始信号ＲＵＮが
入力されることがないので、通信機能がイネーブルされ
なくなってしまう。そこで、この集積回路１０では、テ
スト信号ＴＥＳＴが“１”となった場合は、ＯＲゲート
１８を介して強制的にイネーブル信号（“１”）を各コ
ントローラに送出し、各コントローラが通常モードの場
合と同様の動作をするようにしている。By the way, the integrated circuit 10 is constructed so that when the communication with the outside is performed, the normal processing can be performed only when the processing start signal RUN is inputted from the outside. That is, when the processing start signal RUN is input, the detection signal RRUN becomes "1", whereby each controller related to normal processing is enabled and a predetermined operation is obtained. However, when the test is started and the external communication request non-signal ECR is sent to the outside, the processing start signal RUN is not input from the outside, so that the communication function is not enabled. Therefore, in this integrated circuit 10, when the test signal TEST becomes "1", the enable signal ("1") is forcibly sent to each controller via the OR gate 18, and each controller is in the normal mode. The operation is similar to the case.
【００２６】ステップＳ１５において、ループバック指
定が行われると、通信テストデータが生成され、ループ
バック試験がスタンバイされる。この通信テストデータ
に対して、回路１４によって信号処理Ｌ１ｂが行われる
（ステップＳ１６）。そして、遅延回路１９によって遅
延され、セレクタ１２を介して回路１３に入力される。
そして、回路１３によって信号処理Ｌ１ａが行われ、受
信データとして受理される（ステップ１７）。In step S15, when the loopback is designated, communication test data is generated and the loopback test is put on standby. The circuit 14 performs signal processing L1b on the communication test data (step S16). Then, it is delayed by the delay circuit 19 and input to the circuit 13 via the selector 12.
Then, the circuit 13 performs signal processing L1a and accepts it as received data (step 17).
【００２７】ここで、遅延回路１９は、通信テストデー
タに対して信号処理Ｌ１ｂおよびＬ１ａを行った場合に
発生するビット位相のずれを補償するために設けられて
いる。すなわち、前述したＣＣＩＴＴ勧告の通信プロト
コルにおいて、端末装置１（図６および図７）が下り回
線２ａを介して信号を受信した場合、受信信号の位相よ
りも２ビット相当の時間位相を遅らせて上り回線２ｂに
信号を送出するように取り決められており、この通信制
御集積回路１０もそれに準拠した構成となっている。従
って、通信テストデータを信号処理Ｌ１ｂおよびＬ１ａ
を介した後、元のデータと比較すると、処理が正常であ
るにも拘わらず２ビットの位相ずれが生じてしまう。そ
こで、この集積回路１０では、ループバック試験時は遅
延回路１９によって通信テストデータを遅延させ、信号
処理の前後でデータの対応が取れるようにしている。Here, the delay circuit 19 is provided for compensating for the bit phase shift that occurs when the signal processing L1b and L1a is performed on the communication test data. That is, in the above-mentioned CCITT-recommended communication protocol, when the terminal device 1 (FIGS. 6 and 7) receives a signal via the downlink 2a, the time phase corresponding to 2 bits is delayed from the phase of the received signal before going up. It is arranged to send a signal to the line 2b, and this communication control integrated circuit 10 also has a configuration conforming to it. Therefore, the communication test data is processed by the signal processing L1b and L1a.
After passing through, when compared with the original data, a 2-bit phase shift occurs despite the normal processing. Therefore, in this integrated circuit 10, the communication test data is delayed by the delay circuit 19 during the loopback test so that the data can be matched before and after the signal processing.
【００２８】次にステップＳ１８に進むと、ステップＳ
１６において送信した通信テストデータＢ1ｂ、Ｂ2ｂお
よびＤｂとステップＳ１７において受信したデータＢ1
ａ、Ｂ2ａおよびＤａとの比較を行う。そして、比較の
結果、両者が一致した場合はステップＳ１９に進み、不
一致の場合はステップＳ２１に進む。Next, when the process proceeds to step S18, step S
Communication test data B 1 b, B 2 b and Db transmitted in step 16 and data B 1 received in step S17
Comparisons with a, B 2 a and Da are made. Then, as a result of the comparison, if they match, the process proceeds to step S19, and if they do not match, the process proceeds to step S21.
【００２９】次にステップＳ１９に進むと、通信テスト
データの全てについて上記試験を実施したか否かを判断
し、判断結果が「ＮＯ」の場合はステップＳ１６に戻
り、判断結果が「ＹＥＳ」の場合はステップＳ２０に進
む。そして、ステップＳ２０に進むと、信号処理機能Ｌ
１ｂおよびＬ１ａが正常であると判断する。一方、ステ
ップＳ２１に進んだ場合は、信号処理機能Ｌ１ｂおよび
Ｌ１ａのいずれかに障害があると判定する。Next, in step S19, it is determined whether or not the above test has been performed on all the communication test data. If the result of the determination is "NO", the process returns to step S16 and the result of the determination is "YES". In that case, the process proceeds to step S20. Then, when the process proceeds to step S20, the signal processing function L
It is determined that 1b and L1a are normal. On the other hand, if the process proceeds to step S21, it is determined that one of the signal processing functions L1b and L1a has a failure.
【００３０】〔実施例２〕図４はこの発明の第２の実施
例による保守試験方法を示すものである。通常モードに
おいて、通信回線２によって通信される信号Ｂ1、Ｂ2お
よびＤには、集積回路１０の下位階層の処理に対応する
信号と上位階層の処理に対応する信号とが含まれる。図
４において、処理Ｌ１ａおよびＬ１ｂは集積回路１０が
行う処理の内、下位階層の処理に属し、処理Ｌ２ｃおよ
びＬ２ｄは上位階層の処理に属する。本実施例では上位
／下位各々の信号処理について回路内に折り返し点を設
け、上位の信号処理機能と下位の信号処理機能とを各々
試験するものである。すなわち、本実施例では、図４に
示すように、Ｄチャネル信号処理については、通信テス
トデータＤｄに対して信号処理Ｌ２ｄを行った時点で折
り返し、信号処理Ｌ２ｃを行って応答Ｄｃを得て元のデ
ータを比較する。なお、このループバック試験の具体的
実施方法としては前述した第１実施例と同様の方法を用
いる。また、本実施例では、第１実施例と同様、内部Ｒ
ＡＭおよび内部ＲＯＭの試験を行う。[Second Embodiment] FIG. 4 shows a maintenance test method according to a second embodiment of the present invention. In the normal mode, the signals B 1 , B 2 and D communicated by the communication line 2 include a signal corresponding to the processing of the lower layer of the integrated circuit 10 and a signal corresponding to the processing of the upper layer. In FIG. 4, the processes L1a and L1b belong to the lower layer processes among the processes performed by the integrated circuit 10, and the processes L2c and L2d belong to the upper layer processes. In the present embodiment, a turning point is provided in the circuit for each of the upper and lower signal processing, and each of the upper signal processing function and the lower signal processing function is tested. That is, in the present embodiment, as shown in FIG. 4, for the D channel signal processing, the communication test data Dd is returned at the time when the signal processing L2d is performed, and the signal processing L2c is performed to obtain the response Dc. Compare the data in. Incidentally, as a concrete method for carrying out this loopback test, the same method as in the above-mentioned first embodiment is used. Further, in this embodiment, as in the first embodiment, the internal R
Test AM and internal ROM.
【００３１】〔実施例３〕次に、この発明の第３の実施
例を説明する。本実施例では、第１の保守試験モード
時、図６に示すように、下り回線２ａを介して入力され
た信号をそのまま上り回線に折り返し送出する。これに
より、交換機側において、端末装置１に至るまでの通信
経路の障害の有無が判定される。そして、第２の保守試
験モードでは、図５に示すように、受信信号に対して信
号処理Ｌ１ａを行うことによって信号Ｂ1ａ、Ｂ2ａ、Ｄ
ａが得られると、信号Ｂ1ａ、Ｂ2ａについては、信号処
理Ｌ１ｂを行って上り回線２ｂに折り返す。これによ
り、交換機側によって、集積回路１０における信号処理
機能Ｌ１ａおよびＬ１ｂの障害診断が行われる。一方、
信号Ｄａについては通常モード時と同様に処理され、そ
の結果得られる信号Ｄｂに対して信号処理Ｌ１ｂが行わ
れ、上り回線２ｂに送出される。従って、本試験モード
では、信号Ｄによる通信は通常モード時と同様に支障な
く行われる。[Third Embodiment] Next, a third embodiment of the present invention will be described. In this embodiment, in the first maintenance test mode, as shown in FIG. 6, the signal input via the downlink 2a is sent back to the uplink as it is. As a result, the exchange side determines whether or not there is a failure in the communication path leading to the terminal device 1. Then, in the second maintenance test mode, as shown in FIG. 5, by performing signal processing L1a on the received signal, signals B 1 a, B 2 a, D
When a is obtained, the signals B 1 a and B 2 a are subjected to signal processing L1b and are returned to the uplink 2b. As a result, the exchange performs fault diagnosis of the signal processing functions L1a and L1b in the integrated circuit 10. on the other hand,
The signal Da is processed in the same manner as in the normal mode, the signal Db obtained as a result is subjected to signal processing L1b, and is sent to the uplink 2b. Therefore, in this test mode, communication using the signal D is performed without any trouble as in the normal mode.
【００３２】〔実施例４〕次に本発明の第４実施例を説
明する。本実施例では、第１の保守試験モード時、前述
の第３実施例における図５に示すループバック試験が行
われ、集積回路１０の送受信機能あるいは集積回路１０
に至るまでの通信経路に障害があった場合にそれが検出
される。また、第２の保守試験モード時は前述の第１実
施例と同等の試験が行われ、集積回路１０内の信号処理
機能の障害が診断されると共に、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のそ
の他の回路の障害が診断される。Fourth Embodiment Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, in the first maintenance test mode, the loopback test shown in FIG. 5 in the above-described third embodiment is performed, and the transmission / reception function of the integrated circuit 10 or the integrated circuit 10 is performed.
If there is a failure in the communication path leading up to, the failure is detected. In the second maintenance test mode, a test similar to that of the first embodiment is performed to diagnose a failure of the signal processing function in the integrated circuit 10 and a failure of other circuits such as RAM and ROM. Is diagnosed.
【００３３】〔実施例５〕次に本発明の第５実施例を説
明する。本実施例では、第１の保守試験モード時、前述
の第３実施例における図５に示すループバック試験が行
われ、集積回路１０の送受信機能あるいは集積回路１０
に至るまでの通信経路に障害があった場合にそれが検出
される。また、第２の保守試験モード時は前述の第２実
施例と同等の試験が行われ、集積回路１０内の信号処理
機能の障害が処理の階層別に診断されると共に、ＲＡ
Ｍ、ＲＯＭ等のその他の回路の障害が診断される。[Fifth Embodiment] Next, a fifth embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, in the first maintenance test mode, the loopback test shown in FIG. 5 in the above-described third embodiment is performed, and the transmission / reception function of the integrated circuit 10 or the integrated circuit 10 is performed.
If there is a failure in the communication path leading up to, the failure is detected. In the second maintenance test mode, the same test as in the second embodiment described above is performed, and the fault of the signal processing function in the integrated circuit 10 is diagnosed for each processing layer, and RA
Faults in other circuits such as M and ROM are diagnosed.
【００３４】〔実施例６〕次に本発明の第６実施例を説
明する。本実施例では、第１の保守試験モード時、前述
の第３実施例で説明した図６に示すループバック試験が
行われ、次いで第２の保守試験モード時、図５に示すル
ープバック試験が行われる。そして、各試験によって、
集積回路１０に至るまでの通信経路の障害診断および集
積回路１０の送受信機能の障害診断が行われる。また、
第３の保守試験モード時は前述の第１実施例と同等の試
験が行われ、集積回路１０内の信号処理機能の障害が診
断されると共に、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のその他の回路の障
害が診断される。[Sixth Embodiment] Next, a sixth embodiment of the present invention will be described. In this embodiment, in the first maintenance test mode, the loopback test shown in FIG. 6 described in the third embodiment is performed, and then in the second maintenance test mode, the loopback test shown in FIG. 5 is performed. Done. And by each test,
Fault diagnosis of the communication path to the integrated circuit 10 and fault diagnosis of the transmission / reception function of the integrated circuit 10 are performed. Also,
In the third maintenance test mode, the same test as in the first embodiment described above is performed to diagnose the failure of the signal processing function in the integrated circuit 10 and the failure of other circuits such as RAM and ROM. To be done.
【００３５】〔実施例７〕次に本発明の第７実施例を説
明する。本実施例では、第１の保守試験モード時、前述
の第３実施例で説明した図６に示すループバック試験が
行われ、次いで第２の保守試験モード時、図５に示すル
ープバック試験が行われる。そして、各試験によって、
集積回路１０に至るまでの通信経路の障害診断および集
積回路１０の送受信機能の障害診断が行われる。また、
第３の保守試験モード時は前述の第２実施例と同等の試
験が行われ、集積回路１０内の信号処理機能の障害が処
理の階層別に診断されると共に、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のそ
の他の回路の障害が診断される。[Seventh Embodiment] Next, a seventh embodiment of the present invention will be described. In this embodiment, in the first maintenance test mode, the loopback test shown in FIG. 6 described in the third embodiment is performed, and then in the second maintenance test mode, the loopback test shown in FIG. 5 is performed. Done. And by each test,
Fault diagnosis of the communication path to the integrated circuit 10 and fault diagnosis of the transmission / reception function of the integrated circuit 10 are performed. Also,
In the third maintenance test mode, the same test as in the second embodiment described above is performed, and the failure of the signal processing function in the integrated circuit 10 is diagnosed for each processing hierarchy, and other circuits such as RAM and ROM are also provided. Disorders are diagnosed.
【００３６】[0036]
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、通信制御集積回路あるいはこの集積回路を含む通信
システムにおいて障害が発生した場合に、障害箇所およ
びその内容がより明確に診断されるという効果が得ら
れ、さらに、通常モードおよび保守試験モードの状態切
換を効率よく行うことができるという効果も得られる。As described above, according to the present invention, when a failure occurs in the communication control integrated circuit or the communication system including this integrated circuit, the failure location and its contents are more clearly diagnosed. The effect is obtained, and further, the effect that the state switching between the normal mode and the maintenance test mode can be efficiently performed is also obtained.
【図１】 この発明の第１、第４および第６の実施例に
おいて用いられる保守試験方法を説明する図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a maintenance test method used in first, fourth and sixth embodiments of the present invention.
【図２】 図１に示す実施例の実施手順を示すフローチ
ャートである。FIG. 2 is a flowchart showing an implementation procedure of the embodiment shown in FIG.
【図３】 図１に示す実施例におけるループバックスイ
ッチ機能を実現する具体的回路の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of a specific circuit that realizes a loopback switch function in the embodiment shown in FIG.
【図４】 この発明の第２、第５および第７の実施例に
おいて用いられる保守試験方法を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a maintenance test method used in second, fifth and seventh embodiments of the present invention.
【図５】 この発明の第３〜第７の実施例において用い
られる保守試験方法を説明する図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a maintenance test method used in the third to seventh embodiments of the present invention.
【図６】 従来から用いられている通信システムの保守
試験方法であり、かつ、本発明の第３、第６および第７
の実施例において用いられる保守試験方法を説明する図
である。FIG. 6 is a maintenance test method for a communication system that has been conventionally used, and is the third, sixth, and seventh aspects of the present invention.
It is a figure explaining the maintenance test method used in the Example of this.
【図７】 従来周知の通信システムの保守試験方法を説
明する図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a maintenance test method for a conventionally known communication system.
２……通信回線、１０……通信制御集積回路、Ｌ１ａお
よびＬ１ｂならびにＬ２ｃおよびＬ２ｄ……信号処理。2 ... Communication line, 10 ... Communication control integrated circuit, L1a and L1b and L2c and L2d ... Signal processing.
Claims (5)
信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける処理の
各階層に対応した階層構造を有する集積回路であって、
通常モード時は、通信回線からの前記各階層の処理に対
応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると共
に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送信
信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該集
積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記集積回路の受信信号をそのまま前記通信回線へ折り
返し送信し、 第２の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、 他の処理階層については、前記通常モード時と同様の処
理を行うことを特徴とする保守試験方法。1. An integrated circuit which is mounted on a communication unit for communicating with the outside via a communication line and has a hierarchical structure corresponding to each hierarchy of processing in the communication unit,
In the normal mode, communication that receives a reception signal corresponding to the processing of each layer from the communication line, processes the reception signal, and outputs a response signal to the reception signal or a transmission signal to the outside to the communication line In a maintenance test method of a control integrated circuit and a communication system including the integrated circuit, in a first maintenance test mode, a received signal of the integrated circuit is sent back to the communication line as it is, in a second maintenance test mode, For a specific layer in each layer, a signal corresponding to the layer in the received signal is signal processed by the circuit and sent back to the communication line, and for other processing layers, in the normal mode. A maintenance test method characterized by performing the same processing as.
信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける処理の
各階層に対応した階層構造を有する集積回路であって、
通常モード時は、通信回線からの前記各階層の処理に対
応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると共
に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送信
信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該集
積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行
い、 第２の保守試験モード時、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記通
常モードから保守試験モードに切り換えられると、前記
通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共に、前記
集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態とし、前
記集積回路の送信信号をその集積回路内部で受信信号と
して折り返すループバック経路を形成し、通信テストデ
ータを発生し、この通信テストデータに対し、通常モー
ド時に送信データの信号処理を行う回路によって信号処
理を行った後、前記ループバック経路を介して、通常モ
ード時に受信信号の信号処理を行う回路へ伝送し、その
信号処理を行った結果得られる受信データと該通信テス
トデータとの比較試験を行い、さらに、前記信号処理に
係わる回路以外かつ試験に係わる回路に対して、前記試
験実行前に、テストデータを入力し、該テストデータに
対する出力応答を一貫して試験することを特徴とする保
守試験方法。2. An integrated circuit which is mounted on a communication unit for communicating with the outside via a communication line and has a hierarchical structure corresponding to each hierarchy of processing in the communication unit,
In the normal mode, communication that receives a reception signal corresponding to the processing of each layer from the communication line, processes the reception signal, and outputs a response signal to the reception signal or a transmission signal to the outside to the communication line In a maintenance test method for a control integrated circuit and a communication system including the integrated circuit, in a first maintenance test mode, a signal corresponding to the layer in the received signal is received for a specific layer in each layer. In the second maintenance test mode, the communication control integrated circuit performs signal processing by the circuit and transmits back to the communication line, and performs processing similar to that in the normal mode for other processing layers. When the normal mode is switched to the maintenance test mode according to the mode signal, an external communication request no signal is sent to the communication line and the internal circuit of the integrated circuit is also sent. Is forcibly enabled, a loopback path is formed in which the transmission signal of the integrated circuit is folded back as a reception signal inside the integrated circuit, and communication test data is generated. After the signal processing is performed by the circuit that performs the signal processing, the signal is transmitted to the circuit that performs the signal processing of the reception signal in the normal mode through the loopback path, and the reception data obtained as a result of the signal processing and the Performs a comparison test with communication test data, and further inputs the test data to a circuit other than the circuit related to the signal processing and a circuit related to the test before performing the test and consistently outputs an output response to the test data. A maintenance test method characterized by testing.
信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける処理の
各階層に対応した階層構造を有する集積回路であって、
通常モード時は、通信回線からの前記各階層の処理に対
応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると共
に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送信
信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該集
積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行
い、 第２の保守試験モード時、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記通
常モードから保守試験モードに切り換えられると、前記
通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共に、前記
集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態とし、前
記集積回路の各階層の送信信号をその集積回路内部で各
階層の受信信号として折り返すループバック経路を形成
し、前記各階層毎に、通信テストデータを発生し、これ
ら各階層の通信テストデータに対し、通常モード時に当
該階層の送信データの信号処理を行う回路によって信号
処理を行った後、前記ループバック経路を介して、通常
モード時に当該階層の受信信号の信号処理を行う回路へ
伝送し、その信号処理を行った結果得られる受信デ一タ
と該通信テストデ一タとの比較試験を行い、さらに、前
記信号処理に係わる回路以外かつ試験に係わる回路に対
して、前記試験実行前に、テストデータを入力し、該テ
ストデータに対する出力応答を一貫して試験することを
特徴とする保守試験方法。3. An integrated circuit which is mounted on a communication unit for communicating with the outside via a communication line and has a hierarchical structure corresponding to each hierarchy of processing in the communication unit,
In the normal mode, communication that receives a reception signal corresponding to the processing of each layer from the communication line, processes the reception signal, and outputs a response signal to the reception signal or a transmission signal to the outside to the communication line In a maintenance test method for a control integrated circuit and a communication system including the integrated circuit, in a first maintenance test mode, a signal corresponding to the layer in the received signal is received for a specific layer in each layer. In the second maintenance test mode, the communication control integrated circuit performs signal processing by the circuit and transmits back to the communication line, and performs processing similar to that in the normal mode for other processing layers. When the normal mode is switched to the maintenance test mode according to the mode signal, an external communication request no signal is sent to the communication line and the internal circuit of the integrated circuit is also sent. Is forcibly enabled to form a loopback path that folds back a transmission signal of each layer of the integrated circuit as a reception signal of each layer inside the integrated circuit, and generates communication test data for each layer. After performing signal processing on the communication test data of each layer by a circuit that performs signal processing of transmission data of the layer in the normal mode, the signal of the reception signal of the layer in the normal mode is passed through the loopback path. It is transmitted to a circuit for processing, a comparison test is performed between the reception data obtained as a result of the signal processing and the communication test data, and further, for circuits other than the circuits related to the signal processing and circuits related to the test. Then, before the test execution, test data is input, and the output response to the test data is consistently tested, which is a maintenance test method.
信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける処理の
各階層に対応した階層構造を有する集積回路であって、
通常モード時は、通信回線からの前記各階層の処理に対
応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると共
に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送信
信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該集
積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記集積回路の受信信号をそのまま前記通信回線へ折り
返し送信し、 第２の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、他の処理階層に
ついては、前記通常モード時と同様の処理を行い、 第３の保守試験モード時、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記通
常モードから保守試験モードに切り換えられると、前記
通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共に、前記
集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態とし、前
記集積回路の送信信号をその集積回路内部で受信信号と
して折り返すループバック経路を形成し、通信テストデ
ータを発生し、この通信テストデータに対し、通常モー
ド時に送信データの信号処理を行う回路によって信号処
理を行った後、前記ループバック経路を介して、通常モ
ード時に受信信号の信号処理を行う回路へ伝送し、その
信号処理を行った結果得られる受信データと該通信テス
トデータとの比較試験を行い、さらに、前記信号処理に
係わる回路以外かつ試験に係わる回路に対して、前記試
験実行前に、テストデータを入力し、該テストデータに
対する出力応答を一貫して試験すること、 を特徴とする保守試験方法。4. An integrated circuit, which is mounted on a communication unit for communicating with the outside via a communication line and has a hierarchical structure corresponding to each hierarchy of processing in the communication unit,
In the normal mode, communication that receives a reception signal corresponding to the processing of each layer from the communication line, processes the reception signal, and outputs a response signal to the reception signal or a transmission signal to the outside to the communication line In a maintenance test method of a control integrated circuit and a communication system including the integrated circuit, in a first maintenance test mode, a received signal of the integrated circuit is sent back to the communication line as it is, in a second maintenance test mode, For a specific layer in each layer, a signal corresponding to the layer in the received signal is signal-processed by the circuit and sent back to the communication line, and other processing layers are in the normal mode. In the third maintenance test mode, the communication control integrated circuit switches from the normal mode to the maintenance test mode according to a mode signal. Then, a loopback path that sends an external communication request no signal to the communication line, forcibly enables the internal circuit of the integrated circuit, and loops back the transmission signal of the integrated circuit as a reception signal inside the integrated circuit. To generate the communication test data, and the communication test data is subjected to signal processing by a circuit that performs signal processing of the transmission data in the normal mode, and then received signal in the normal mode via the loopback path. To a circuit that performs signal processing, performs a comparison test between the reception data obtained as a result of the signal processing and the communication test data, and further to a circuit other than the circuit related to the signal processing and a circuit related to the test. Inputting test data and testing output response to the test data consistently before the test execution. Test methods.
信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける処理の
各階層に対応した階層構造を有する集積回路であって、
通常モード時は、通信回線からの前記各階層の処理に対
応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると共
に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送信
信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該集
積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記集積回路の受信信号をそのまま前記通信回線へ折り
返し送信し、 第２の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、他の処理階層に
ついては、前記通常モード時と同様の処理を行い、 第３の保守試験モード時、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記通
常モードから保守試験モードに切り換えられると、前記
通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共に、前記
集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態とし、前
記集積回路の各階層の送信信号をその集積回路内部で各
階層の受信信号として折り返すループバック経路を形成
し、前記各階層毎に、通信テストデータを発生し、これ
ら各階層の通信テストデータに対し、通常モード時に当
該階層の送信データの信号処理を行う回路によって信号
処理を行った後、前記ループバック経路を介して、通常
モード時に当該階層の受信信号の信号処理を行う回路へ
伝送し、その信号処理を行った結果得られる受信デ一タ
と該通信テストデ一タとの比較試験を行い、さらに、前
記信号処理に係わる回路以外かつ試験に係わる回路に対
して、前記試験実行前に、テストデータを入力し、該テ
ストデータに対する出力応答を一貫して試験すること、 を特徴とする保守試験方法。5. An integrated circuit which is mounted on a communication unit for communicating with the outside via a communication line and has a hierarchical structure corresponding to each hierarchy of processing in the communication unit,
In the normal mode, communication that receives a reception signal corresponding to the processing of each layer from the communication line, processes the reception signal, and outputs a response signal to the reception signal or a transmission signal to the outside to the communication line In a maintenance test method of a control integrated circuit and a communication system including the integrated circuit, in a first maintenance test mode, a received signal of the integrated circuit is sent back to the communication line as it is, in a second maintenance test mode, For a specific layer in each layer, a signal corresponding to the layer in the received signal is signal-processed by the circuit and sent back to the communication line, and other processing layers are in the normal mode. In the third maintenance test mode, the communication control integrated circuit switches from the normal mode to the maintenance test mode according to a mode signal. Then, the external communication request no signal is sent to the communication line, the internal circuit of the integrated circuit is forcibly enabled, and the transmission signal of each layer of the integrated circuit is received by each layer within the integrated circuit. A loopback path that folds back as a signal is formed, communication test data is generated for each of the layers, and signal processing is performed on the communication test data of each layer by a circuit that performs signal processing of transmission data of the layer in the normal mode. After that, the signal is transmitted via the loopback path to the circuit that performs signal processing of the received signal of the layer in the normal mode, and the received data obtained as a result of the signal processing and the communication test data are obtained. And a test for inputting test data to a circuit other than the circuit related to the signal processing and a circuit related to the test before the test is executed. It is consistently tested output response to data, maintenance test method according to claim.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7078024A JP2560655B2 (en) | 1995-04-03 | 1995-04-03 | Maintenance test method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7078024A JP2560655B2 (en) | 1995-04-03 | 1995-04-03 | Maintenance test method |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63307568A Division JP2635733B2 (en) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | Maintenance test method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0837549A JPH0837549A (en) | 1996-02-06 |
| JP2560655B2 true JP2560655B2 (en) | 1996-12-04 |
Family
ID=13650249
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7078024A Expired - Lifetime JP2560655B2 (en) | 1995-04-03 | 1995-04-03 | Maintenance test method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2560655B2 (en) |
-
1995
- 1995-04-03 JP JP7078024A patent/JP2560655B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0837549A (en) | 1996-02-06 |
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