JP2558201Y2 - Overvoltage protection circuit - Google Patents

Overvoltage protection circuit

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JP2558201Y2
JP2558201Y2 JP1990403744U JP40374490U JP2558201Y2 JP 2558201 Y2 JP2558201 Y2 JP 2558201Y2 JP 1990403744 U JP1990403744 U JP 1990403744U JP 40374490 U JP40374490 U JP 40374490U JP 2558201 Y2 JP2558201 Y2 JP 2558201Y2
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、オペアンプの出力端子
に異常電圧が発生した際に素子を保護するための過電圧
保護回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an overvoltage protection circuit for protecting an element when an abnormal voltage is generated at an output terminal of an operational amplifier.

【0002】[0002]

【従来の技術】パワーオペアンプに適用された従来の過
電圧保護回路を図4に示す。この回路は、パワーオペア
ンプの出力段において、新たに設けた定電流トランジス
タQ1(ベースに固定電圧が印加される)に2個のダイ
オードD1、D2を接続して接続点Aの電圧を固定する
と共に、バイアス回路の電流源として働く抵抗R1と出
力端子1との間に減流用の抵抗R2を介してトランジス
タQ2、Q3を接続したものである。エミッタホロワの
トランジスタQ4、Q5は両エミッタが出力端子1に共
通接続されたSEPP回路を構成し、トランジスタQ7
はベースに信号を入力してそのSEPP回路を駆動し、
抵抗R1とベースに固定電圧が印加されるトランジスタ
Q6はそのトランジスタQ7にコレクタ電流を供給し、
ダイオードD3、D4はトランジスタQ4、Q5のベー
ス間を2VBEに保持して温度補償を行う。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows a conventional overvoltage protection circuit applied to a power operational amplifier. In this circuit, at the output stage of the power operational amplifier, two diodes D1 and D2 are connected to a newly provided constant current transistor Q1 (a fixed voltage is applied to the base) to fix the voltage at the connection point A and The transistors Q2 and Q3 are connected between the resistor R1 functioning as a current source of the bias circuit and the output terminal 1 via the resistor R2 for current reduction. The emitter follower transistors Q4 and Q5 form a SEPP circuit in which both emitters are commonly connected to the output terminal 1, and the transistor Q7
Drives the SEPP circuit by inputting a signal to the base,
A transistor Q6 having a fixed voltage applied to the resistor R1 and the base supplies a collector current to the transistor Q7,
The diodes D3 and D4 perform temperature compensation by maintaining the base between the transistors Q4 and Q5 at 2V BE .

【0003】この回路では、正電源端子2に正の電圧+
Vを印加し、負電源端子3に負電圧−Vを印加し、出力
端子1と接地4との間に負荷を接続すると、入力端子
(図示せず)に印加する信号に応じて、負荷に印加する
出力電圧Voが変化する。
In this circuit, a positive voltage +
When a negative voltage −V is applied to the negative power supply terminal 3 and a load is connected between the output terminal 1 and the ground 4, the load is applied to the load in accordance with a signal applied to the input terminal (not shown). The applied output voltage Vo changes.

【0004】ところが、その負荷としてモータやソレノ
イドを接続した場合、そのモータやソレノイドに発生す
る逆起電力によって、出力端子1の電圧Voが負電圧端
子3の電圧−Vよりも大幅に低くなり、トランジスタQ
4のエミッタ・コレクタ間が過電圧となって破壊の恐れ
が発生する。
However, when a motor or a solenoid is connected as the load, the voltage Vo at the output terminal 1 becomes significantly lower than the voltage -V at the negative voltage terminal 3 due to the back electromotive force generated in the motor or the solenoid. Transistor Q
4 causes an overvoltage between the emitter and the collector, which may cause destruction.

【0005】しかしこのとき、トランジスタQ3のベー
ス・コレクタ間のブレークダウン電圧を電源電圧+Vと
−Vの電位差に相当する電圧Vsに設定しておけば、出
力端子1の電圧Voと正電源端子2の電圧+Vとの電位
差が、その電圧Vs、トランジスタQ2のVBE、および
トランジスタQ1のVCEの合計値に達した時点でトラン
ジスタQ3がブレークダウンして、その出力端子1の電
圧が負電源端子3の電圧よりも、約0.7V(ダイオー
ドD1、D2の順方向電圧降下の合計2Vf=1.4V
からトランジスタQ2のベース・エミッタ間電圧VBE
0.7Vを減じた電圧値)だけ高い電圧にクランプされ
る。このときのブレークダウン電流は抵抗R1、R2、
トランジスタQ2、Q3を流れ、トランジスタQ6、Q
7が遮断し、トランジスタQ4、Q5も遮断して、それ
らが保護される。
However, at this time, if the breakdown voltage between the base and the collector of the transistor Q3 is set to the voltage Vs corresponding to the potential difference between the power supply voltages + V and -V, the voltage Vo of the output terminal 1 and the positive power supply terminal 2 When the potential difference from the voltage + V reaches the sum of the voltage Vs, the V BE of the transistor Q2, and the V CE of the transistor Q1, the transistor Q3 breaks down, and the voltage of the output terminal 1 becomes negative. 0.7 V (total 2 Vf of the forward voltage drops of the diodes D1 and D2 = 1.4 V).
From the base-emitter voltage V BE of the transistor Q2 =
It is clamped to a voltage higher by 0.7 V (a voltage value reduced by 0.7 V). The breakdown current at this time is represented by resistors R1, R2,
It flows through the transistors Q2 and Q3, and the transistors Q6 and Q
7 are turned off, and transistors Q4 and Q5 are also turned off to protect them.

【0006】[0006]

【考案が解決しようとする課題】しかしこの回路では、
トランジスタQ1〜Q3、抵抗R2、ダイオードD1、
D2の合計で6個という多数の素子が必要となり、レイ
アウト面積を多く占めるので、集積化に際して不利であ
った。
[Problem to be solved by the invention] However, in this circuit,
Transistors Q1-Q3, resistor R2, diode D1,
This requires a large number of elements, that is, a total of six D2s, and occupies a large layout area, which is disadvantageous in integration.

【0007】そこで本考案は、必要な素子数を大幅に減
少させて、レイアウト面積上での有利化を図った過電圧
保護回路を提供せんとするものである。
Accordingly, the present invention is to provide an overvoltage protection circuit which greatly reduces the required number of elements and improves the layout area.

【0008】[0008]

【考案が解決しようとする課題】本考案の過電圧保護回
路は、コレクタが正電源端子(2)に接続された第1の
NPNトランジスタ(Q4)とコレクタが負電源端子
(3)に接続された第1のPNPトランジスタ(Q5)
の両エミッタを出力端子(1)に共通接続してなるSE
PP回路と、信号を入力して該SEPP回路を駆動する
第2のNPNトランジスタ(Q7)と、該第2のNPN
トランジスタ(Q7)にコレクタ電流を供給する第2の
PNPトランジスタ(Q6)と、該第2のPNPトラン
ジスタ(Q6)と前記第2のNPNトランジスタ(Q
7)のコレクタ間に接続された2個のダイオード(D
3、D4)と、前記第2のPNPトランジスタ(Q6)
と前記正電源端子(2)との間に接続された第1の抵抗
(R1)とを有する出力段を具備するオペアンプにおい
て、コレクタを第2の抵抗(R3)を介して前記第2の
PNPトランジスタ(Q6)のエミッタに、エミッタを
前記出力端子(1)に各々接続すると共に、ベースを前
記負電源端子(3)に接続した第3のNPNトランジス
タ(Q8)を供え、該第3のNPNトランジスタ(Q
8)は、エミッタおよびコレクタを、P型サブストレー
トと該P型サブストレートに達するP型領域とによって
囲まれたN型エピタキシャル層で構成すると共に、前記
ベースを、前記エミッタおよびコレクタの間に形成さ
れ、前記P型サブストレートに接続する前記P型領域で
構成した。
The overvoltage protection circuit of the present invention has a first NPN transistor (Q4) having a collector connected to a positive power supply terminal (2) and a collector connected to a negative power supply terminal (3). First PNP transistor (Q5)
SE connected in common to both output terminals (1)
A PP circuit, a second NPN transistor (Q7) that inputs a signal to drive the SEPP circuit, and a second NPN transistor (Q7).
A second PNP transistor (Q6) for supplying a collector current to the transistor (Q7); the second PNP transistor (Q6); and the second NPN transistor (Q
7) two diodes (D
3, D4) and the second PNP transistor (Q6)
And an output stage having a first resistor (R1) connected between the first PNP terminal and the positive power supply terminal (2), wherein the collector is connected to the second PNP through a second resistor (R3). A third NPN transistor (Q8) having an emitter connected to the output terminal (1) and a base connected to the negative power supply terminal (3) is provided to the emitter of the transistor (Q6). Transistor (Q
8) The emitter and the collector are constituted by an N-type epitaxial layer surrounded by a P-type substrate and a P-type region reaching the P-type substrate, and the base is formed between the emitter and the collector. And the P-type region connected to the P-type substrate.

【0009】本考案では、上記第3のNPNトランジス
タのエミッタおよびコレクタをエピタキシャル層表面部
分に形成したエミッタ拡散のポケット構造とし、ベース
を上記エミッタと上記コレクタの中間に形成したアイソ
レーション構造とすることができる。
In the present invention, the emitter and the collector of the third NPN transistor have a pocket structure for emitter diffusion formed on the surface of the epitaxial layer, and the base has an isolation structure formed between the emitter and the collector. Can be.

【0010】NPNトランジスタ(Q8)が導通するこ
とにより、出力端子(1)と負電源端子(3)との間の
電位差がそのトランジスタ(Q8)のVBEにクランプ
され、過剰電圧が出力トランジスタ(Q4、Q5)に印
加することが防止される。特に、出力端子(1)に流れ
る電流はNPNトランジスタ(Q8)のコレクタから供
給され、そのトランジスタ(Q8)のベース・エミッタ
間を流れる電流は僅かであるので、出力端子に流れる電
流によってVBEは大きな影響を受けずにその過電圧保
護が行われる。そして、保護のために必要な素子はNP
Nトランジスタ(Q8)と抵抗(R3)のみであり、レ
イアウト面積が大幅に減少する。
[0010] By NPN transistor (Q8) is turned on, the potential difference is clamped to V BE of the transistor (Q8) between the output terminal (1) and the negative power supply terminal (3), the excess voltage output transistor ( Q4, Q5) is prevented. In particular, the current flowing through the output terminal (1) is supplied from the collector of the NPN transistor (Q8), so that current flowing between the base and the emitter of the transistor (Q8) is slightly, V BE is the current flowing through the output terminal Its overvoltage protection is provided without significant influence. The element required for protection is NP
With only the N transistor (Q8) and the resistor (R3), the layout area is greatly reduced.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本考案の実施例について説明する。図
1はその一実施例の過電圧保護回路を示す図である。こ
こで、前記した図4におけるものと同一のものには同一
の符合を付した。本実施例では、電流源抵抗R1と出力
端子1との間に、減流用の抵抗R3を介して保護用のN
PNトランジスタQ8を接続している。このトランジス
タQ8のベースは電源端子3に接続している。
Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 is a diagram showing an overvoltage protection circuit according to one embodiment. Here, the same components as those in FIG. 4 described above are denoted by the same reference numerals. In the present embodiment, a protection N is provided between the current source resistance R1 and the output terminal 1 via a current reduction resistor R3.
The PN transistor Q8 is connected. The base of the transistor Q8 is connected to the power supply terminal 3.

【0012】この結果、この回路では、出力端子1の電
圧Voが負電源端子3の電圧−Vよりも、トランジスタ
Q8のVBE分だけ低くなると、そのトランジスタQ8
が導通して、トランジスタQ6、Q7を遮断させ、トラ
ンジスタQ4、Q5を遮断して保護する。このとき、出
力端子4の電圧は負電源端子3の電圧−Vよりもトラン
ジスタQ8のVBEだけ低い電圧にクランプされる。ま
た、この出力端子に流れる電流はトランジスタQ8のコ
レクタから供給され、トランジスタQ8のベース・エミ
ッタ間を流れる電流は僅かであるので、出力端子1に瞬
間的に大きな電流が流れた場合であっても、そのクラン
プ電圧VBEが大きく変化することはない。
[0012] Consequently, in this circuit, than the voltage -V voltage Vo at the output terminal 1 is the negative power supply terminal 3 becomes lower by V BE of the transistor Q8, the transistor Q8
Conducts to shut off the transistors Q6 and Q7 and shut off and protect the transistors Q4 and Q5. At this time, the voltage of the output terminal 4 is clamped at a lower voltage by V BE of the transistor Q8 than the voltage -V of the negative power supply terminal 3. Further, the current flowing through the output terminal is supplied from the collector of the transistor Q8, and the current flowing between the base and the emitter of the transistor Q8 is very small. , Does not greatly change its clamp voltage VBE .

【0013】上記したトランジスタQ8は、通常のNP
Nトランジスタ(ブレークダウン電圧が6.5V程度)
の構造ではなく、図2、図3に示すように、P型のサブ
ストレート31の上のN型のエピタキシャル層32に高
濃度N型のエミッタ33とコレクタ34をエミッタ拡散
のポケット構造とで形成し、ベース35はアイソレーシ
ョン構造としたものである。この結果ブレークダウン電
圧は充分高くなる。また、パターン的には極めて単純で
レイアウト面積は大幅に少なくなる。
The above-described transistor Q8 is a conventional NP
N transistor (breakdown voltage is about 6.5V)
2 and 3, a high-concentration N-type emitter 33 and a collector 34 are formed in an N-type epitaxial layer 32 on a P-type substrate 31 with a pocket structure for emitter diffusion. The base 35 has an isolation structure. As a result, the breakdown voltage becomes sufficiently high. Moreover, the layout is extremely simple and the layout area is greatly reduced.

【0014】以上から本考案によれば、オペアンプに抵
抗(R3)とトランジスタ(Q8)の2個の素子を加え
るのみで、有効な過電圧保護を行うことができ、また、
このトランジスタ(Q8)に流れるベース電流は過電圧
印加時のみであり、通常は流れないので、電流が無駄に
消費されることはない。また、本考案では、過電圧印加
時に出力端子に流れる電流はトランジスタ(Q8)のコ
レクタから供給され、トランジスタのベース・エミッタ
間を流れる電流は僅かであるので、クランプ電圧が大き
く変化することはなく、過電圧保護機能が損なわれるこ
とはない。また、本考案では、第3のNPNトランジス
タ(Q8)のレイアウトは、P型サブストレートとその
上に形成されたN型エピタキシャル層に形成するもので
ある。つまり、P型サブストレートに達する、いわゆる
アイソレーション構造と呼ばれるP型領域に囲まれたN
型エピタキシャル層をエミッタおよびコレクタ領域と
し、エミッタ領域とコレクタ領域の間のアイソレーショ
ン領域をベース領域として利用している。この構造は、
このトランジスタを形成するための特別な領域を形成し
なくても、通常の半導体装置上に形成されるアイソレー
ション領域およびエピタキシャル層で形成することがで
きる。つまり、素子面積を増やすことなく、半導体装置
を構成することができるのである。したがって、半導体
集積回路を形成する上で非常に有利となる。
As described above, according to the present invention, effective overvoltage protection can be performed only by adding two elements, a resistor (R3) and a transistor (Q8), to an operational amplifier.
The base current flowing through the transistor (Q8) is only when an overvoltage is applied, and does not normally flow, so that the current is not wasted. Further, in the present invention, the current flowing to the output terminal when an overvoltage is applied is supplied from the collector of the transistor (Q8), and the current flowing between the base and the emitter of the transistor is very small. Therefore, the clamp voltage does not greatly change. The overvoltage protection function is not impaired. In the present invention, the layout of the third NPN transistor (Q8) is formed on a P-type substrate and an N-type epitaxial layer formed thereon. In other words, N surrounded by a P-type region called a so-called isolation structure reaching the P-type substrate
The type epitaxial layer is used as an emitter and a collector region, and an isolation region between the emitter region and the collector region is used as a base region. This structure
Even without forming a special region for forming the transistor, the transistor can be formed by an isolation region and an epitaxial layer formed on a normal semiconductor device. That is, a semiconductor device can be configured without increasing the element area. Therefore, it is very advantageous in forming a semiconductor integrated circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】パワーオペアンプの出力段に適用した本考案の
一実施例の過電圧保護回路の回路図。
FIG. 1 is a circuit diagram of an overvoltage protection circuit according to an embodiment of the present invention applied to an output stage of a power operational amplifier.

【図2】過電圧保護回路を構成する素子のレイアウトの
平面図。
FIG. 2 is a plan view of a layout of elements constituting an overvoltage protection circuit.

【図3】過電圧保護回路を構成する素子のレイアウトの
断面図。
FIG. 3 is a cross-sectional view of a layout of elements constituting an overvoltage protection circuit.

【図4】パワーオペアンプの出力段に適用した従来の過
電圧保護回路の回路図。
FIG. 4 is a circuit diagram of a conventional overvoltage protection circuit applied to an output stage of a power operational amplifier.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:出力端子、2:正電源端子、3:負電源端子 1: output terminal, 2: positive power supply terminal, 3: negative power supply terminal

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 コレクタが正電源端子(2)に接続され
た第1のNPNトランジスタ(Q4)とコレクタが負電
源端子(3)に接続された第1のPNPトランジスタ
(Q5)の両エミッタを出力端子(1)に共通接続して
なるSEPP回路と、信号を入力して該SEPP回路を
駆動する第2のNPNトランジスタ(Q7)と、該第2
のNPNトランジスタ(Q7)にコレクタ電流を供給す
る第2のPNPトランジスタ(Q6)と、該第2のPN
Pトランジスタ(Q6)と前記第2のNPNトランジス
タ(Q7)のコレクタ間に接続された2個のダイオード
(D3、D4)と、前記第2のPNPトランジスタ(Q
6)と前記正電源端子(2)との間に接続された第1の
抵抗(R1)とを有する出力段を具備するオペアンプに
おいて、 コレクタを第2の抵抗(R3)を介して前記第2のPN
Pトランジスタ(Q6)のエミッタに、エミッタを前記
出力端子(1)に各々接続すると共に、ベースを前記負
電源端子(3)に接続した第3のNPNトランジスタ
(Q8)を供え、 該第3のNPNトランジスタ(Q8)は、エミッタおよ
びコレクタを、P型サブストレートと該P型サブストレ
ートに達するP型領域とによって囲まれたN型エピタキ
シャル層で構成すると共に、前記ベースを、前記エミッ
タおよびコレクタの間に形成され、前記P型サブストレ
ートに接続する前記P型領域で構成したことを特徴とす
る過電圧保護回路。
An emitter of a first NPN transistor (Q4) having a collector connected to a positive power supply terminal (2) and an emitter of a first PNP transistor (Q5) having a collector connected to a negative power supply terminal (3). An SEPP circuit commonly connected to the output terminal (1); a second NPN transistor (Q7) for inputting a signal to drive the SEPP circuit;
A second PNP transistor (Q6) for supplying a collector current to the NPN transistor (Q7) of the second
Two diodes (D3, D4) connected between the P transistor (Q6) and the collector of the second NPN transistor (Q7), and the second PNP transistor (Q
6) and an operational amplifier having an output stage having a first resistor (R1) connected between the positive power supply terminal (2) and a collector connected to the second resistor via a second resistor (R3). PN
A third NPN transistor (Q8) having an emitter connected to the output terminal (1) and a base connected to the negative power supply terminal (3) is provided to the emitter of the P transistor (Q6). In the NPN transistor (Q8), the emitter and the collector are formed of an N-type epitaxial layer surrounded by a P-type substrate and a P-type region reaching the P-type substrate, and the base is formed of the emitter and the collector. An overvoltage protection circuit formed between the P-type regions and connected to the P-type substrate.
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