JP2550048B2 - Etching liquid - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の概要〕 硝酸第2セリウムアンモニウムと硝酸アンモニウムと
ヘキサメタリン酸ナトリウム水溶液からなるエッチング
液を提供する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary of the Invention] An etching solution comprising cerium ammonium nitrate, ammonium nitrate and an aqueous solution of sodium hexametaphosphate is provided.
本発明はクロム又はクロム化合物等をエッチングする
ためのエッチング液に関するものである。The present invention relates to an etching solution for etching chromium or chromium compounds.
従来、クロム、クロム化合物等をエッチングするエッ
チング液として硝酸第2セリウムアンモニウム((N
H4)2Ce(NO3)6)、過塩素酸(HClO4)を含有する水
溶液(以下エッチング液Aと記す)が用いられている。
このエッチング液Aはエッチング速度が速く、浸漬処理
でのエッチングコントロールが困難である。Conventionally, as an etching solution for etching chromium, chromium compounds, etc., ceric ammonium nitrate ((N
An aqueous solution containing H 4 ) 2 Ce (NO 3 ) 6 ) and perchloric acid (HClO 4 ) (hereinafter referred to as etching solution A) is used.
This etching solution A has a high etching rate, and it is difficult to control etching in the dipping process.
そこで、過塩素酸に代えて、エッチング速度コントロ
ール性のある酢酸アンモニウム(CH3COONH4)を加え、
又、エッチング表面での濡れ性を良くするため、界面活
性剤としてヘキサメタリン酸ナトリウム((NaP
O3)6)を加えた水溶液(以下エッチング液Bと記す)
が考えられる。なお、ヘキサメタリン酸ナトリウムはエ
ッチング速度を遅らせる効果もある。So, instead of perchloric acid, add ammonium acetate (CH 3 COONH 4 ) which has etching rate controllability,
Also, in order to improve the wettability on the etching surface, sodium hexametaphosphate ((NaP
Aqueous solution containing O 3 ) 6 ) (hereinafter referred to as etching solution B)
Can be considered. Note that sodium hexametaphosphate also has the effect of slowing the etching rate.
しかしながら上記エッチング液Bは(約25℃以上で液
中の硝酸第2セリウムアンモニウムのNO3 -根と、酢酸ア
ンモニウムのCH3COO-又はOH-根が置換され、CeIV(N
O3 -)n(OH-)m(CH3COO-)lの沈澱が25℃以上で約6
0日間で生じ、エッチング液の劣化が認められる。However, the above-mentioned etching solution B (when approximately 25 ° C. or higher, NO 3 − roots of cerium ammonium nitrate in the solution and CH 3 COO − or OH − roots of ammonium acetate are substituted, and Ce IV (N
O 3 -) n (OH - ) m (CH 3 COO -) about 6 precipitation of l is 25 ° C. or higher
It occurs in 0 days and deterioration of the etching solution is observed.
そこで本発明はエッチング速度のコントロール性と液
の濡れ性を良くし、しかも25℃以上でも沈澱を生じない
新しいエッチング液を提供することを目的とする。Therefore, it is an object of the present invention to provide a new etching solution which improves the controllability of the etching rate and the wettability of the solution and does not cause precipitation even at 25 ° C or higher.
上記問題点は本発明によれば、硝酸第2セリウムアン
モニウムと硝酸アンモニウム(NH4NO3)、ヘキサメタリ
ン酸ナトリウム(商品名:カルゴン)とを含有すること
を特徴とするエッチング液によって解決される。According to the present invention, the above problem is solved by an etching solution containing cerium ammonium nitrate, ammonium nitrate (NH 4 NO 3 ) and sodium hexametaphosphate (trade name: Calgon).
本発明によれば、硝酸アンモニウムは5.0〜7.5重量%
含有することがエッチング液の劣化防止から好ましく、
またヘキサメタリン酸ナトリウムは0.1重量%以下含有
することが液の濡れ性及びエッチング特性に有効であ
る。According to the invention, ammonium nitrate is 5.0-7.5% by weight.
It is preferable to contain from the viewpoint of preventing deterioration of the etching solution,
Further, it is effective for the wettability of the liquid and the etching characteristics to contain sodium hexametaphosphate in an amount of 0.1% by weight or less.
前述の通り、エッチング液Bは沈澱を生じるが沈澱物
が硝酸(HNO3)に溶解することや、沈澱生成時に同時に
硝酸アンモニウム(NH4NO3)を生じることから、エッチ
ング液BにNH4NO3を加えると、液の劣化を防止できると
発明者は考察した。As described above, and it is the etchant B results in a precipitate which precipitate is dissolved in nitric acid (HNO 3), since it produces a simultaneous ammonium nitrate during precipitation (NH 4 NO 3), NH 4 NO 3 in the etching solution B The inventor considered that the deterioration of the liquid can be prevented by adding.
そこでまずエッチング液Bに硝酸アンモニウムをそれ
ぞれ約1.5,3.0及び7.5重量%を加え高温保管調査とエッ
チング特性調査を行った結果、液の劣化防止効果が得ら
れ、更に第1図及び第2図に示すようにエッチング速度
コントロール性も得られた。Therefore, as a result of conducting a high temperature storage investigation and an etching characteristic investigation by adding about 1.5, 3.0 and 7.5 wt% of ammonium nitrate to the etching solution B, respectively, the effect of preventing deterioration of the solution was obtained, and further shown in FIGS. 1 and 2. Thus, the etching rate controllability was also obtained.
すなわち第1図は例えば金属クロムのパターンを形成
するためのエッチング速度を示したもので1はエッチン
グ液Bのみ(データは・)、2はエッチング液BにNH4N
O3を1.5%添加したもの(データは×)、3はエッチン
グ液BにNH4NO3を3.0%を添加したもの そして4はエッチング液BにNH4NO3を7.5%添加したも
の のそれぞれの結果を示す。第1図からエッチング液Bに
NH4NO3を多く添加した方がエッチング速度を小さくする
ことがわかる。That is, FIG. 1 shows an etching rate for forming a pattern of metallic chromium, for example, 1 is only the etching solution B (data is), 2 is NH 4 N in the etching solution B.
Addition of 1.5% O 3 (data is x), 3 is etching solution B with addition of 3.0% NH 4 NO 3. And 4 is the one in which 7.5% of NH 4 NO 3 is added to the etching solution B. The results are shown below. From FIG. 1 to etching solution B
It can be seen that the etching rate becomes smaller when more NH 4 NO 3 is added.
第2図は第1図に示したクロムパターン形成後のサイ
ドエッチング速度を示したものである。エッチング液及
び添加液は第1図の場合と同様のものを使用した。第2
図においても第1図と同様にエッチング液BにNH4OH3を
多く添加した方がエッチング速度を小さくすることがわ
かる。FIG. 2 shows the side etching rate after forming the chromium pattern shown in FIG. The same etchant and additive were used as in the case of FIG. Second
Also in the figure, as in FIG. 1, it can be seen that the etching rate is decreased by adding more NH 4 OH 3 to the etching solution B.
これらのことからエッチング液B中の酢酸アンモニウ
ムが液劣化の原因と考えられ、又、硝酸アンモニウムに
もエッチング速度コントロール性があることがわかっ
た。この結果から、エッチング液B中の酢酸アンモニウ
ムと硝酸アンモニウムを置換することにより液劣化防止
効果があり、エッチング液B同様のエッチングコントロ
ール性を有することが考えられる。From these facts, it was found that ammonium acetate in the etching solution B is the cause of the deterioration of the solution, and that ammonium nitrate also has an etching rate controllability. From this result, it is considered that the substitution of ammonium acetate and ammonium nitrate in the etching solution B has the effect of preventing the deterioration of the solution and has the same etching controllability as the etching solution B.
以下本発明の実施例を説明する。 Examples of the present invention will be described below.
硝酸第2セリウムアンモニウム約17.0重量%と硝酸ア
ンモニウム約6.5重量%、カルゴン約0.035重量%と残部
水のエッチング液C−1を作成した。なお、上記組成中
硝酸アンモニウムを約7.5重量%としたエッチング液C
−2も同様に作成した。An etching solution C-1 containing about 17.0% by weight of ceric ammonium nitrate, about 6.5% by weight of ammonium nitrate, about 0.035% by weight of calgon and the balance of water was prepared. Etching solution C containing about 7.5% by weight of ammonium nitrate in the above composition
-2 was similarly created.
第3図に上記エッチング液B、エッチング液C−1、
エッチング液C−2をそれぞれ使用して得られたクロム
のエッチング速度を示したものである。図中5がエッチ
ング液B 6がエッチング液C−1(データ×)そして7がエッチ
ング液C−2(データ△)の結果を示す。第3図に示す
ようにエッチング速度はエッチングBとエッチング液C
−1、エッチング液C−2の場合ほゞ同一レベルのエッ
チング特性を有した。また 第4図は第3図に示したクロムパターン形成後のサイ
ドエッチング速度を示したものである。In FIG. 3, the etching solution B, the etching solution C-1,
It shows the etching rate of chromium obtained by using each of the etching solutions C-2. In the figure, 5 is the etching solution B 6 shows the results of the etching solution C-1 (data x) and 7 shows the results of the etching solution C-2 (data Δ). As shown in FIG. 3, the etching rates are etching B and etching solution C.
-1, the etching solution C-2 had almost the same level of etching characteristics. Further, FIG. 4 shows the side etching rate after forming the chromium pattern shown in FIG.
第4図においても第3図の結果と同様にエッチング液
Bのサイドエッチング速度とエッチング液C−1、エッ
チング液C−2のそれとはほゞ同一のレベルであった。In FIG. 4 as well, similar to the result of FIG. 3, the side etching rate of the etching solution B and that of the etching solutions C-1 and C-2 were almost at the same level.
しかもエッチング液C−1及びエッチング液C−2は
35℃の高温保管で90日間以上経過しても沈澱は生成せず
液の劣化はほとんど認められなかった。Moreover, the etching liquid C-1 and the etching liquid C-2 are
No deposit was formed and deterioration of the liquid was hardly observed even after 90 days of storage at high temperature of 35 ° C.
以上説明したように本発明に係るエッチング液Cは25
℃以上の温度でも液の劣化を生せず、エッチング速度を
コントロールする効果を有する。As described above, the etching solution C according to the present invention is 25
It does not cause deterioration of the liquid even at a temperature of ℃ or more, and has the effect of controlling the etching rate.
第1図及び第2図はエッチング液Bと、エッチング液B
に硝酸アンモニウムを3種類添加したエッチング液につ
いてのそれぞれクロムのエッチング速度及びサイドエッ
チング速度を示し、第3図及び第4図はエッチング液B
とエッチング液C−1,C−2についてもクロムのエッチ
ング速度及びサイドエッチング速度を示したものであ
る。1 and 2 show an etching solution B and an etching solution B.
The etching rate of chromium and the side etching rate of each of the etching solutions obtained by adding three kinds of ammonium nitrate to the above are shown in FIGS. 3 and 4, respectively.
The etching rates of chromium and the side etching rates are also shown for the etching solutions C-1 and C-2.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 廣瀬 実 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 佐野 光彦 兵庫県龍野市龍野町中井236番地 ナガ セ化成工業株式会社内 (72)発明者 堀内 良昭 兵庫県龍野市龍野町中井236番地 ナガ セ化成工業株式会社内 (72)発明者 倉橋 瑞代 兵庫県龍野市龍野町中井236番地 ナガ セ化成工業株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Minor Hirose 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture, Fujitsu Limited (72) Inventor, Mitsuhiko Sano 236, Nakai, Tatsuno-cho, Tatsuno-shi, Hyogo Nagase Chemical Industry Co., Ltd. (72) Inventor Yoshiaki Horiuchi 236 Nakai, Tatsuno-cho, Tatsuno-shi, Hyogo Nagase Chemical Industry Co., Ltd. (72) Inventor Mizuyo Kurahashi 236 Nakai, Tatsuno-cho, Tatsuno-shi, Hyogo Nagase Chemical Industry Co., Ltd.
Claims (3)
モニウムとヘキサメタリン酸ナトリウムを含有すること
を特徴とするエッチング液。1. An etching solution containing cerium ammonium nitrate, ammonium nitrate and sodium hexametaphosphate.
有することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のエ
ッチング液。2. The etching solution according to claim 1, containing 5.0 to 7.5% by weight of the ammonium nitrate.
量%以下含有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のエッチング液。3. The method according to claim 1, wherein the content of sodium hexametaphosphate is 0.1% by weight or less.
The etching solution according to the item.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62036892A JP2550048B2 (en) | 1987-02-21 | 1987-02-21 | Etching liquid |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62036892A JP2550048B2 (en) | 1987-02-21 | 1987-02-21 | Etching liquid |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63206483A JPS63206483A (en) | 1988-08-25 |
JP2550048B2 true JP2550048B2 (en) | 1996-10-30 |
Family
ID=12482426
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62036892A Expired - Lifetime JP2550048B2 (en) | 1987-02-21 | 1987-02-21 | Etching liquid |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2550048B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100813005B1 (en) * | 2001-12-12 | 2008-03-14 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 1-step Etching Method for Cu/Mo line having inner Mo barrier layer by Mo |
CN105297018A (en) * | 2015-11-16 | 2016-02-03 | 无锡英普林纳米科技有限公司 | Preparation method of etching fluid for liquid crystal displayers |
-
1987
- 1987-02-21 JP JP62036892A patent/JP2550048B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63206483A (en) | 1988-08-25 |
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