JP2543901Y2 - Ｉｃ選別装置のｉｃ詰まり解除機構 - Google Patents
Ｉｃ選別装置のｉｃ詰まり解除機構Info
- Publication number
- JP2543901Y2 JP2543901Y2 JP1467391U JP1467391U JP2543901Y2 JP 2543901 Y2 JP2543901 Y2 JP 2543901Y2 JP 1467391 U JP1467391 U JP 1467391U JP 1467391 U JP1467391 U JP 1467391U JP 2543901 Y2 JP2543901 Y2 JP 2543901Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rail
- knock pin
- lever
- guide
- clogging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Pivots And Pivotal Connections (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、ＩＣ選別装置（オー
トハンドラ）のコンタクト部におけるＩＣの詰まり解除
機構についてのものである。
トハンドラ）のコンタクト部におけるＩＣの詰まり解除
機構についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術によるＩＣの詰まり解除
機構を図６により説明する。図６の１はＩＣガイド、２
はレール、３はリードプッシャ、８はピン、１０はＩＣ
である。通常、ＩＣ１０はＩＣガイド１とレール２の間
を滑走する。リードプッシャ３はＩＣ１０のリードに接
触し、ＩＣ１０の電気的特性を測定するためのものであ
る。ＩＣ１０がＩＣガイド１とレール２の間に詰まる
と、外部から細長いピン８でＩＣ１０のリード部分を突
いてＩＣ１０の詰まりを解除する。
機構を図６により説明する。図６の１はＩＣガイド、２
はレール、３はリードプッシャ、８はピン、１０はＩＣ
である。通常、ＩＣ１０はＩＣガイド１とレール２の間
を滑走する。リードプッシャ３はＩＣ１０のリードに接
触し、ＩＣ１０の電気的特性を測定するためのものであ
る。ＩＣ１０がＩＣガイド１とレール２の間に詰まる
と、外部から細長いピン８でＩＣ１０のリード部分を突
いてＩＣ１０の詰まりを解除する。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】図６では、ＩＣ１０が
薄くて小さいので、リードプッシャ３とＩＣガイド１の
隙間から詰まったＩＣ１０を確認するのが困難であり、
またピン８でＩＣ１０のリードを突くので、ＩＣ１０の
リードを曲げたり傷つけたりすることがある。
薄くて小さいので、リードプッシャ３とＩＣガイド１の
隙間から詰まったＩＣ１０を確認するのが困難であり、
またピン８でＩＣ１０のリードを突くので、ＩＣ１０の
リードを曲げたり傷つけたりすることがある。
【０００４】この考案は、レバーを回転させることによ
り、レール２内に挿入したノックピンを移動させ、ノッ
クピンがＩＣ１０のモールド部分を押して、ＩＣ１０に
振動を与え、ＩＣ１０の詰まりを解除させるＩＣの詰ま
り解除機構の提供を目的とする。
り、レール２内に挿入したノックピンを移動させ、ノッ
クピンがＩＣ１０のモールド部分を押して、ＩＣ１０に
振動を与え、ＩＣ１０の詰まりを解除させるＩＣの詰ま
り解除機構の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この考案では、ＩＣガイド１とレール２の間をＩＣ
１０が滑走するＩＣ選別装置において、ＩＣガイド１に
向けてレール２内を貫通する穴２Ａをあけ、穴２Ａに挿
入されるノックピン４と、レール２とノックピン４の間
に挿入されるばね５と、ヒンジ６を支点に回転し、端部
がノックピン４の頭部に接触するレバー７とを備え、レ
バー７を回転することにより、ノックピン４がばね５を
圧縮して穴２Ａ内を移動し、ＩＣガイド１とレール２の
間のＩＣ１０にノックピン４が接触し、ＩＣ１０の詰ま
りを解除する。
め、この考案では、ＩＣガイド１とレール２の間をＩＣ
１０が滑走するＩＣ選別装置において、ＩＣガイド１に
向けてレール２内を貫通する穴２Ａをあけ、穴２Ａに挿
入されるノックピン４と、レール２とノックピン４の間
に挿入されるばね５と、ヒンジ６を支点に回転し、端部
がノックピン４の頭部に接触するレバー７とを備え、レ
バー７を回転することにより、ノックピン４がばね５を
圧縮して穴２Ａ内を移動し、ＩＣガイド１とレール２の
間のＩＣ１０にノックピン４が接触し、ＩＣ１０の詰ま
りを解除する。
【０００６】
【作用】次に、この考案によるＩＣの詰まり解除機構を
図１により説明する。図１の２Ａは穴、４はノックピ
ン、５はばね、６はヒンジ、７はレバーであり、その他
の部分は図６と同じものである。図２は図１のＩＣガイ
ド１を除いた斜視図である。
図１により説明する。図１の２Ａは穴、４はノックピ
ン、５はばね、６はヒンジ、７はレバーであり、その他
の部分は図６と同じものである。図２は図１のＩＣガイ
ド１を除いた斜視図である。
【０００７】穴２ＡはＩＣガイド１に向けてレール２内
を貫通してあけられ、ノックピン４は穴２Ａに挿入され
る。ばね５はレール２とノックピン４の間に挿入され、
常時はノックピン４がＩＣ１０に接触しないようにノッ
クピン４を保持する。レバー７はヒンジ６を支点に回転
し、レバーの端部はノックピン４の頭部に接触する。図
１はレバー７を回転前の状態図である。
を貫通してあけられ、ノックピン４は穴２Ａに挿入され
る。ばね５はレール２とノックピン４の間に挿入され、
常時はノックピン４がＩＣ１０に接触しないようにノッ
クピン４を保持する。レバー７はヒンジ６を支点に回転
し、レバーの端部はノックピン４の頭部に接触する。図
１はレバー７を回転前の状態図である。
【０００８】次に、図１からレバー７を回転した状態を
図３により説明する。レバー７を回転すると、ノックピ
ン４がばね５を圧縮して穴２Ａ内を移動し、ＩＣガイド
１とレール２の間のＩＣ１０にノックピン４が接触し、
ＩＣ１０に振動を与えて、ＩＣ１０の詰まりを解除す
る。
図３により説明する。レバー７を回転すると、ノックピ
ン４がばね５を圧縮して穴２Ａ内を移動し、ＩＣガイド
１とレール２の間のＩＣ１０にノックピン４が接触し、
ＩＣ１０に振動を与えて、ＩＣ１０の詰まりを解除す
る。
【０００９】次に、図１のＩＣ１０付近の部分拡大図を
図４により説明する。図４はレバー７を回転前であり、
ノックピン４はレール２の穴２Ａ内を図４の上部に保持
される。したがって、図４ではＩＣガイド１とレール２
で形成される滑走面をＩＣ１０が滑走する。滑走面はＩ
Ｃ１０のモールド厚より広く形成される。
図４により説明する。図４はレバー７を回転前であり、
ノックピン４はレール２の穴２Ａ内を図４の上部に保持
される。したがって、図４ではＩＣガイド１とレール２
で形成される滑走面をＩＣ１０が滑走する。滑走面はＩ
Ｃ１０のモールド厚より広く形成される。
【００１０】次に、図３のＩＣ１０付近の部分拡大図を
図５により説明する。図５はレバー７を回転後であり、
ノックピン４はレバー７で押されてレール２の穴２Ａ内
を移動し、レール２の滑走面から突出し、ＩＣ１０をＩ
Ｃガイド１側へ押し、ＩＣ１０に振動を与えてＩＣ１０
の詰まりを解除する。
図５により説明する。図５はレバー７を回転後であり、
ノックピン４はレバー７で押されてレール２の穴２Ａ内
を移動し、レール２の滑走面から突出し、ＩＣ１０をＩ
Ｃガイド１側へ押し、ＩＣ１０に振動を与えてＩＣ１０
の詰まりを解除する。
【００１１】ＩＣ１０の詰まりを解除後、レバー７を離
すと、ノックピン４はばね５の弾性により図４の位置ま
で戻される。
すと、ノックピン４はばね５の弾性により図４の位置ま
で戻される。
【００１２】
【考案の効果】この考案によれば、ＩＣガイドに向けて
レール内を貫通する穴をあけ、穴に挿入されるノックピ
ンと、レールとノックピンの間に挿入されるばねと、ヒ
ンジを支点に回転し、端部がノックピンの頭部に接触す
るレバーとを備えているので、ＩＣの確認が困難な場所
でＩＣの詰まりをノックピンの振動で解除することがで
きる。
レール内を貫通する穴をあけ、穴に挿入されるノックピ
ンと、レールとノックピンの間に挿入されるばねと、ヒ
ンジを支点に回転し、端部がノックピンの頭部に接触す
るレバーとを備えているので、ＩＣの確認が困難な場所
でＩＣの詰まりをノックピンの振動で解除することがで
きる。
【図１】この考案によるＩＣの詰まり解除機構の構成図
である。
である。
【図２】図１のＩＣガイド１を除いた斜視図である。
【図３】図１からレバー７を回転した状態図である。
【図４】図１のＩＣ１０付近の部分拡大図である。
【図５】図３のＩＣ１０付近の部分拡大図である。
【図６】従来技術によるＩＣの詰まり解除機構の構成図
である。
である。
１ ＩＣガイド ２ レール ３ リードプッシャ ４ ノックピン ５ ばね ６ ヒンジ ７ レバー
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣガイド(1) とレール(2) の間をＩＣ
(10)が滑走するＩＣ選別装置において、ＩＣガイド(1)
に向けてレール(2) 内を貫通する穴(2A)をあけ、穴(2A)
に挿入されるノックピン(4) と、レール(2) とノックピ
ン(4) の間に挿入されるばね(5) と、ヒンジ(6) を支点
に回転し、端部がノックピン(4) の頭部に接触するレバ
ー(7) とを備え、レバー(7) を回転することにより、ノ
ックピン(4) がばね(5) を圧縮して穴(2A)内を移動し、
ＩＣガイド(1) とレール(2) の間のＩＣ(10)にノックピ
ン(4) が接触し、ＩＣ(10)の詰まりを解除することを特
徴とするＩＣ選別装置のＩＣ詰まり解除機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1467391U JP2543901Y2 (ja) | 1991-02-21 | 1991-02-21 | Ｉｃ選別装置のｉｃ詰まり解除機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1467391U JP2543901Y2 (ja) | 1991-02-21 | 1991-02-21 | Ｉｃ選別装置のｉｃ詰まり解除機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04105542U JPH04105542U (ja) | 1992-09-10 |
| JP2543901Y2 true JP2543901Y2 (ja) | 1997-08-13 |
Family
ID=31902114
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1467391U Expired - Lifetime JP2543901Y2 (ja) | 1991-02-21 | 1991-02-21 | Ｉｃ選別装置のｉｃ詰まり解除機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2543901Y2 (ja) |
-
1991
- 1991-02-21 JP JP1467391U patent/JP2543901Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04105542U (ja) | 1992-09-10 |
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